5.2.1.2 USO DE LA TABLA DODGE-ROMING En estas tablas se incluyen planes para el muestreo sencillo y para el doble.

Permiten una proteccin, ya sea por el lmite PCF o por el porcentaje dedefectuosos tolerables en el lote (TPDL). El TPDL proporciona el nivel decalidad lmite (NCL) como enfoque de ndice para las tablas.Estas tablas estn basadas en dos de los ndices de calidad para planes demuestreo, los cuales son:El nivel de calidad lmite (NCL) o el porcentaje defectivo tolerado en el lote,PDTL.El lmite de la calidad de salida promedio, LCSP o AOQL. PLANES NCL (LTPD) Estn diseados para que los lotes que tengan un porcentaje de artculosdefectuosos igual al NCL tengan una probabilidad de aceptacin de 0.10, deaqu el riesgo del consumidor, , de que se acepta la mala calidad es de 0.10.Para usar las tablas NCL DODGE-ROMING, primero se decide si se va autilizar el muestreo simple o doble, y despus de ello se aplican los siguientespasos:Seleccionar el NCL apropiado.Determinar el tamao del lote.Determinar la proporcin promedio del artculos defectuosos del proceso, p.Con los datos anteriores elegir la tabla apropiada para obtener loscomponentes bsicos del plan de muestreo. PLANES LCSP (AOQL) Los planes basados en lmites de la calidad de salida promedio tienen comopropsito asegurar que despus de todo el muestreo y de haber inspeccionadoal 100% los lotes rechazados, la calidad promedio de muchos lotes o la calidada la larga no sern mayores que el LCSP fijado.Estos planes no estn inspirados en protegerse de la calidad especfica de loslotes, sino de la calidad a la larga.Para usar las tablas LCSP de DODGE-ROAMING, primero se decide si se va autilizar el muestreo simple o doble. Despus de ello se aplican los siguientespasos:Seleccionar el LCSP apropiado.Determinar el tamao del lote.Determinar la proporcin promedio de artculos defectuosos del proceso, p.Con los datos anteriores elegir la tabla apropiada para obtener loscomponentes bsicos del plan de muestreo.Para el uso de las tablas por medio del LPCF es necesario conocer:El tamao del lote que se presenta a inspeccinLa proteccin por LPCF que se desea para el material de que se trateLa calidad promedio o promedio del proceso del material presentado ainspeccin.La tabla del LPCF que se deba de usar, indicar el tamao de la muestra quese necesita y el nmero de defectuosos que se pueden permitir en esamuestra.Si la muestra no contiene ms defectuosos de los que se permiten, se aceptael lote.

Si la muestra contiene mayor nmero de defectuosos que los que se puedenpermitir, el lote pasa a una revisin 100% y las unidades defectuosas se debenreponer o reparar.Esta tabla especifica el riesgo del consumidor que se considera en cada caso,as como otros datos pertinentes al muestreo. Contienen la cantidad mnima deinspeccin que se requiere, con el grado de proteccin deseado, para unmaterial con determinado promedio del proceso.Los planes LCSP DODGEROMING estn diseados para minimizar lainspeccin total promedio que se necesita parar valores especficos del LCSP yde p.Los planes DODGE-ROMING slo se aplican a programas de muestreo deaceptacin en los que los lotes rechazados se inspeccionan al 100% y losartculos

defectuosos encontrados en ellos son sustituidos por unidadesbuenas.Para disear los planes es necesario conocer el promedio del proceso, que esigual a la proporcin promedio de artculos defectuosos de los productos a laentrada del muestreo.Se toma una muestra aleatoria del lote y a cada unidad de la muestra se lemide una caracterstica de calidad de tipo continuo (longitud, peso, espesor,etc.).Su objetivo no es clasificar a cada unidad como defectuosa, sino simplementeregistrar la medicin de cada pieza.Despus de ello, y con base en estas mediciones, se calcula un ndice que deacuerdo con su valor se aceptar o rechazar todo el lote.Por lo general, el ndice toma en cuenta la informacin muestral (media,desviacin estndar) as como las especificaciones de las caractersticas decalidad.Su ventaja principal es que el tamao de la muestra es considerablementemenor que en el muestreo por atributos.Este tamao de muestra es menor cuando los niveles aceptables de calidadson muy pequeos.Adems utilizar la muestra por variables proporciona ms informacin acercadel proceso, y tambin se pueden utilizar para tomar decisiones y mejorar lacalidad.Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los cuales controlan laproporcin de unidades que no cumplen con las especificaciones y planes quecontrolan un parmetro del lote o proceso (usualmente la media).Para disear un plan de muestreo por variables para el control de la proporcinde artculos que no cumplen con especificaciones, es necesario que la variableo caracterstica de calidad con que se mide el producto tenga especificacionesque debe cumplir.Una caracterstica de calidad puede ser de uno de los siguientes tres tipos: Entre ms pequea, mejor. Entre ms grande, mejor. El valor nominal es el mejor.Se muestra una caracterstica de la calidad X con distribucin normal conmedia () y desviacin estndar (); que debe estar entre las especificacionesinferior y la superior, (EI) y (ES). El rea bajo la curva a la izquierda de EIrepresenta la proporcin de artculos, pI, que tienen un valor menor que EI;

mientras que ps es la proporcin de unidades que exceden la ES. La magnitudde la proporcin total de artculos defectuosos, p = pI + ps, depende de lamedia del proceso y de su desviacin estndar.Lo que se hace para controlar la proporcin de artculos defectuosos es estimar en funcin de una muestra de n artculos, la proporcin de stos que nocumplen con las estimaciones. Si el valor estimado de p excede un mximovalor M especificado, el lote es rechazado; de otra forma, el lote es aceptado.Existen diferentes formas y variantes de estimar p, que van desde si se conocela desviacin estndar, del proceso y la forma de estimar en caso deconocerla, hasta si es una caracterstica de calidad con una o con dobleespecificacin.

Planes de Muestreo Dodge-Roming. Un procedimiento para muestreo por atributos que incluye considerar los efectos de la inspeccin detallada del producto rechazado debe ser escogido por la persona encargada del procedimiento de muestreo y para esto debe tomar en cuenta dos cosas: el Sampling Inspection Tables por Dodge y Romig, y Sampling Inspection por el SRG de Columbia University. Las tablas de Dodge y Romig fueron utilizadas primeramente para uso interno en Bell Telephone System para reducir al mnimo la cantidad total de inspeccin, tomando en cuenta la inspeccin para muestreo y la inspeccin para seleccin de los lotes rechazados. Dodge-Romig contiene cuatro grupos de tablas: I. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo sencillo.II. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo doble.III. Tablas de AOQL para muestreo sencillo.IV. Tablas de AOQL para muestreo doble.

Planes de Muestreo Dodge-Roming. En el grupo I todos los planes de muestreo en esta tabla tienen el mismo porcentaje de defectivo tolerable en el lote. Pero los planes tienen diferentes valores de AOQL, los cuales se presentan en la tabla para cada uno. La tabla tiene seis columnas, cada una para un valor diferente de porcentaje promedio de defectivos en el proceso. La finalidad de estas tres columnas diferentes es indicar el plan que incluya la inspeccin total mnima, al considerar tanto la inspeccin de las muestras y la inspeccin de 100% de los lotes rechazados. En el grupo II sera bsicamente como el del grupo I, pero para diferenciarlos es necesario hacer una comparacin en cualquier plan de muestreo sencillo con uno doble del mismo lote y el promedio del proceso que produzca la misma proteccin de la calidad para el lote. La primera muestra del doble es ms pequea que la muestra nica en un sencillo. Dodge-Romig muestra en su obra un diagrama el cual compara la inspeccin con muestreo sencillo y doble para diversos tamaos de lotes y relaciones entre promedio del proceso y fraccin de defectivos tolerables en el lote. Una caracterstica de todos los planes de muestreo doble es que C2 es siempre de uno o ms, lo cual significa que no se rechaza ningn lote se rechazar si tiene una sola pieza defectiva.

Planes de Muestreo Dodge-Roming. En el grupo III al contrario de que todos los planes para muestreo sencillo tuvieron el mismo LTPD, todos los planes tienen el mismo AOQL, adems se presenta el porcentaje de defectivos tolerables en el lote para cada plan. Cuanto mayor son el tamao de la muestra y el nmero de aceptacin para un AOQL determinado, menor ser el LPTD. Hay columnas para los promedios de los diversos procesos; el plan que hay en cada columna es el que da la inspeccin mnima total para el promedio del proceso que se cita en la cabeza de la columna. Por tanto, todos los planes en cualquier lnea de la tabla son iguales en proteccin de calidad y slo difieren en la cantidad total de inspeccin requerida. Si no hay base para estimar el promedio del proceso, el plan de muestreo se debe escoger en la columna derecha de la tabla. En el grupo IV las tablas que incluyen conceptos y muestreo sencillo y doble han estado disponibles

en el sistema Bell para aplicarlos a todos los tipos de inspeccin. Se necesita que Dodge-Romig confirmen que las tablas AOQL para muestreo doble son las ms tiles de todas.

Determinacin del promedio del proceso en la inspeccin de Dodge-Romig La minimizacin de la inspeccin total depende de efectuar una estimacin correcta del promedio del proceso como base para la seleccin del plan de muestreo. Es ventajoso emplear en forma sistemtica los resultados de la inspeccin de muestreo a fin de determinar el promedio del proceso. Un formato impreso es para registrar los nmeros inspeccionados y los nmeros de defectivos en los muestreos de lote por lote en un trabajo dado de inspeccin durante una semana y se separan los resultados de las primeras y segundas muestras en el muestreo doble. Se cuenta con columnas para mostrar el nmero de defectos de cada tipo, descubiertos en las primeras muestras. Otro formato impreso es un resumen semanal de los resultados de la inspeccin. Un lado de este formato es una grfica de control dep en la cual se trazan los porcentajes semanales de defectivos en las primeras muestras. En esta grfica se emplean lmites de 2-sigmas. Cuando se utilice muestreo doble, el promedio del proceso se debe calcular slo con las primeras muestras.

Leer ms: http://www.monografias.com/trabajos97/muestreo-aceptacion-tecnicas/muestreoaceptacion-tecnicas.shtml#ixzz2jlvMcoL7