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FUNDACIN CENTRO INTERNACIONAL DE HIDROLOGA SUBTERRNEA
REA DE GEOFSICA APLICADA (IAG, UGR) - 15 -
- PRINCIPIO DE EQUIVALENCIA
El principio de equivalencia se presenta en dos casos:
1- Cuando una capa es mucho ms resistiva que las suprayacentes y su espesor no es muy grande
(menor conductancia S). Entonces, puede dividirse su espesor y multiplicarse su resistividad por
un mismo nmero (>1) sin que el corte se modifique apreciablemente (equivalencia en T).
2- Cuando una capa es mucho menos resistiva que la de las capas suprayacentes, pueden
multiplicarse su espesor y su resistividad por un mismo nmero (>1) sin que el corte se modifique
apreciablemente (equivalencia en S)
HH R
~
2R
H/2
Equivalencia en T
R H R H
~
2R 2H
Equivalencia en S
Figura 2.4. Esquema del principio de equivalencia S y T en prospeccin elctrica. A partir de las curvas
de campo no pueden discriminarse estas dos situaciones.
La consecuencia principal del principio de equivalencia es que a diferentes cortes geolctricos le
pueden corresponder curvas experimentales muy semejantes entre s; y aunque no sean exactamente
iguales pueden considerarse como equivalentes dentro de la precisin alcanzable en la prctica.
- PROBLEMA INVERSO
Este concepto constituye una tcnica matemtica muy usada en el tratamiento de la mayora de los
datos geofsicos. Consiste en calcular el modelo geofsico del subsuelo a partir de los datos
experimentales realizando un proceso de clculo iterativo hasta encontrar el modelo que mejor ajusta.
En el esquema siguiente se explica a modo general en que consiste y en la Figura 11 se presenta un
ejemplo del clculo por inversin. - Este concepto, el clculo del modelo inverso, ir apareciendo a lo
largo de todos los apuntes -.
2
Datos experimentales
PROBLEMA DIRECTO
Teora fsica
+
mtodos
PROBLEMA INVERSO
Modelo del subsuelo
AD < c
Datos tericos
Modelo final del subsuelo
(el ms ajustado)
1
3
n+1 n (proceso iterativo)
4
n
f
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Esquema de resolucin del problema inverso para datos geofsicos. A grandes rasgos consiste en
calcular el modelo terico del subsuelo que mejor ajusta los datos experimentales. Se parte (1) por
generar un primer modelo terico muy simple y calcular (a partir de la teora fsica) los datos de campo
que este modelo generara (2). A continuacin (3) se comparan estos datos tericos con los datos
experimentales y si la diferencia entre ellos (RMS) es mayor que un umbral preestablecido, se pasa a
modificar el modelo inicial (4) y vuelven a calcularse otros datos tericos que son nuevamente
comparados con los experimentales. Este proceso iterativo (comparacin-modificacin del modelo) va
repitindose hasta que la diferencia entre los datos tericos y los experimentales sea menor que el
umbral establecido. Entonces se valida el ltimo modelo calculado ya que es el que ajusta mejor los
datos de campo. Nota: el proceso por el cual se calculan los datos tericos a partir de un modelo del
subsuelo se llama problema directo.
En el caso de una prospeccin elctrica el problema directo consiste en (1) aplicar las leyes del campo
elctrico y un determinado dispositivo electrdico (teora fsica) a un determinado modelo del terreno que
tiene una distribucin de resistividades reales para obtener (2) las resistividades aparentes del subsuelo
(datos tericos). Estos datos tericos son la solucin del problema directo. Entonces se empieza a
proceder con el problema inverso (o inversin): (3) se comparan los datos tericos con las resistividades
aparentes obtenidas en el campo (datos experimentales) y si las diferencias entre estos dos conjuntos son
significativas, (4) se pasa a modificar ligeramente el modelo del subsuelo a fin de obtener una nueva
curva de resistividades aparentes, que a su vez volver a compararse con los datos experimentales. El
proceso, llamado proceso iterativo, finaliza cuando la diferencia entre los puntos experimentales y los
tericos es menor que un valor fijado como el valor mnimo aceptable. O sea, que al final de todo el
clculo puede afirmarse que el modelo de resistividades calculado es el que ajusta mejor los datos
tericos con los experimentales y, por tanto la solucin obtenida es, de entre las posibles, la ms fiable.
Nota: En la Figura 2.12 se presenta el resultado del clculo por inversin (Pg. 23).
2.4 DISPOSITIVOS ELCTRICOS APLICADOS A LA PROSPECCIN
HIDROGEOLGICA
En hidrologa los dispositivos ms utilizados son dos:
1) El clsico sondeo elctrico vertical (SEV) simtrico Schlumberger que se utiliza para inspeccionar el
subsuelo ms profundo (Figura 2.5).
B
A
M
N
O
V
I
A
B
R
R
1
1 2
2
2
1
A
0.1 1 10 100
10
100
1000
4
10
SEV-15B
AB/2 (m)
(a) (b)
Figura 2.5. (a) Configuracin electrdica de un Sondeo Elctrico Vertical de dispositivo Shulmberger
simtrico. (b) Curva de resistividad aparente del terreno, modelo 1D calculado (electro capas
del subsuelo) y curva terica genrada por el modelo. En este caso, el modelo del subuelo bajo
el punto O (en rojo) est formado por 4 electrocapas de resistividades y profunidades: 45 O.m-
1m / 1300 O.m-8 m / 700 O.m-22 m / 1400 O.m - 33 m/ que se asientan sobre un medio semi-
infito conductor de 18 O.m (ltima capa detectada).
Puntos del campo
Curva terica de
resistividad aparente
Electrocapa
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Un Sondeo Elctrico Vertical (SEV)
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de dispositivo Schulmberger simtrico, consiste en emplazar los
elctrodos M N de medida del potencial elctrico (V) a una distancia de un punto central O (origen) al
que se van a referir todas las medidas. A continuacin se emplazan los electrdos AB por donde se
inyecta la corriente. Para cada posicin AB se mide la corriente inyectada, el potencial recibido en MN y
se calcula la resistividad aparente. A continuacin se desplazan simtricamente los electrdos AB a otra
posicin y se realiza una nueva medicin (Figura 5a).
El resultado es una grfica de puntos experimentales (Figura 2.5b) llamada curva de resistividad
aparente del terreno, donde la profundidad de investigacin depende de la distancia entre los puntos A B
(en la nomenclatura apertura de ala), de modo que las lneas de corriente penetran ms en el subsuelo
cuanto mayor sea el ala AB. Dado que es un dispositivo simtrico los datos se representan un grfico
cuyo eje de las abcisas es la distancia de semi-ala (AB/2, en m) y el de las ordenadas las resistividades (en
O.m). -Normalmente se grafica en escala bilogartmica-. Los datos se procesan aplicando el mtodo
inverso y el resultado es un modelo del terreno (1D) formado por una serie de electrocapas horizontales
bajo el punto O. Cada electrocapa est definida por un valor de resistividad y una profundidad que suele
presentarse en el mismo grfico (vase recta quebrada roja en la Figura 2.5b); juntas producen la curva de
resistividad aparente terica (Figura 2.5b). Cuanto ms se adapte esta curva a los puntos de resistividad
aparente del campo, ms fiable es el modelo.
Cuando en una misma zona se realizan varios SEV, stos se correlacionan entre s para obtener el
llamado corte geo-elctrico del subsuelo (Figura 2.6).
478
E
1172
135
20
W
SEV-16 SEV-1 SEV-26 SEV-2
1017
107
929
254
10
5856
393
374
1286
1300
17
69
0
100
200
300
400
500
600
Escala H: 1/25000
V: 1/10000
0 25 50 75 100 125 150 175 200 225 250 275 300 325 350 375 400 425 450 475 500
-20
-15
-10
-5
0
-20
-15
-10
-5
0 13
645
17
4.8
166
462
43
250
10
187
97
390
90
4
42
95
17
SEV-4 SEV-3
SEV-1
SEV-10
SONDE0-20
(projectado 10 m/Sur perpendi cularment)
Longitud (m)
P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d
(
m
)
Arenas y gravas saturadas
Arcillas
Material saturado con agua salobre
Marguas yesferas
Margas
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En nomenclatura anglosajona EVS (Electric Vertical Sounding).
(a)
(b)
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Figura 2.6. (a) El corte geoelctrico proporciona una imagen del subsuelo en trminos de electrocapas, a
partir de stas y con la informacin geolgica de la zona se puede realizar su interpretacin
litolgica (b). Nota: El corte interpretado (b) no tiene nada que ver con el corte geoelctrico (a).
Existen otro tipo de configuraciones de electrodos (dispositivo wenner, dipolares, etc.) que se utilizan
segn sea el objetivo y las condiciones de la prospeccin. En todas ellas la variacin del espaciado y la
geometra de los electrodos conllevan a reformular el clculo de la resistividad ya que se vara la
constante geomtrica del dispositivo.
En el Anexo 2 (&2.1) se incorpora un artculo de deteccin de la cua de intrusin salina utilizando SEV
2) Los perfiles de tomografa elctrica. Tcnica de reciente implantacin que se aplica mayoritariamente
para inspeccionar las capas ms superficiales; se suele llegar a un mximo de 120 m de profundidad.
La tomografa elctrica aunque utiliza el mismo principio fsico que el SEV, proporciona una imagen
muy detallada del subsuelo, ya que los electrodos suelen colocarse ms juntos. Los datos de campo
obtenidos son resistividades aparentes del terreno situadas en una malla geomtrica, las cuales deben
invertirse para obtener el perfil de resistividad real del terreno (Figura 2.7).
Como ejemplo de la tcnica (Anejo3) se realizar una prctica de tomografa elctrica.
Figura 2.7. Configuracin multielectrdica para la tomografa elctrica. Se van tomando medidas para
diferentes combinaciones entre electrodos de corriente y de potencial proporcionando una
distribucin de resistividades aparentes en los diferentes puntos del subsuelo. (a) Secuencia
de medidas para obtener una pseudoseccin de tomografa elctrica. (b) Geometra de la
distribucin de resistividades aparentes (cruces) y divisin en bloques (rectngulos) del
(a)
(b)
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subsuelo donde se van asignando los valores de resistividad para el clculo del modelo
inverso.
Figura 2.8. Resultado de un perfil de tomografa elctrica superficial en donde se detecta una cavidad
caracterizada por su elevada resistividad (aire).
3) Otros equipos. En la actualidad la mayora de los equipos de prospeccin elctrica (Figura 2.9) que se
estn diseando estn orientados a optimizar la obtencin de datos. Sobre todo en el aspecto de la rapidez
para poder as prospectar grandes reas, y en tiempo real para tener una imagen inmediata del subsuelo.
Pero, de momento, los equipos rpidos poseen poca penetracin (mximo de 20 m de profundidad) de
forma que pueden ser muy tiles en arqueologa, en edafologa y para contaminacin superficial, pero son
de escasa aplicacin a la hidrologa ms profunda (deteccin de zonas superficiales contaminadas,
direcciones de escorrenta, etc.).
Figura 2.9. El Ohm-maper es un dispositivo que permite adquirir rpidamente perfiles elctricos y as
facilitar la obtencin de imgenes tridimensionales (3D).
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2.5 EJEMPLOS DE APLICACIN
1) Prospeccin con potencial espontneo.
Es un mtodo que se utiliza des de hace tiempo, principalmente para detectar fugas de flujo superficial
y consiste en ir midiendo el potencial natural del terreno. En la mayora de los casos las variaciones de
potencial que se generan de forma natural son debidas a fenmenos de polarizacin electroqumica: se
genera una diferencia de potencial como consecuencia de la circulacin de un fluido (por ejemplo el agua,
con unas determinadas caractersticas elctricas) a travs de los poros (fisuras, contactos, oquedades, etc.)
de un determinado material.
Los lugares donde suelen detectarse bien variaciones de potencial espontneo suelen ser: manantiales
de agua caliente, presas con rocas fisuradas, alrededores de pozos con bombeo de agua, zonas de relieve
topogrfico importante. La variacin del voltaje registrado es como mximo de centenares de milivoltios.
En este caso el equipo de trabajo consiste nicamente de dos electrodos inpolarizables, un
microvoltmetro, y los necesarios cables elctricos de conexin. Y hay que tener en cuenta que al
planificar las mediciones es necesario que se efecten alejadas de lneas de conduccin de corriente,
vallas metlicas, pozos entubados y objetos artificiales enterrados (hormign, bidones), ya que suelen
generar grandes anomalas negativas.
Generalmente, la interpretacin del mtodo del potencial espontneo es nicamente cualitativa; si bien
ltimamente se estn desarrollando tcnicas de interpretacin semicuantitativa y/o cuantitativa.
Habitualmente, la interpretacin cualitativa se lleva a cabo mediante un mapa de contorno de lneas de
equipotencial elctrico.
V
Electrodo
fijo Electrodos
mviles
1 2 3 4 5
(a)
V V V V V
(b)
Figura 2.10. Para el trabajo con el potencial espontneo pueden configurarse dos tipos de dispositivo: a)
Dispositivo de base fija. El dispositivo consiste en la colocacin de un electrodo en un punto fijo
y variar la colocacin del otro a lo largo de un de perfil. En cada punto se efecta una medicin
de la diferencia de potencial. b) Dispositivo dipolar o de gradiente. El dispositivo consiste en ir
desplazando los dos electrodos a lo largo de un perfil de tal manera que la posicin del borne
negativo de la medida anterior coincida con la siguiente posicin del borne positivo. El primer
dispositivo tiene la ventaja de producir menor error en la lectura ya que no es acumulativo
como en el caso del segundo dispositivo. Sin embargo, tiene la desventaja que es necesario
acarrear un cable de conexin entre los electrodos, lo que puede ser harto engorroso
especialmente en grandes superficies o de difcil accesibilidad.
Ejemplo 1. Deteccin de fugas de agua con potencial espntneo
En una presa de Armenia se detectaron prdidas de agua debido a la fisuracin de los materiales, a fin
de localizarlas se midi el potencial espontneo provocado por estas corrientes. En la Figura 2.11 se
muestra un perfil realizado longitudinalmente a la presa y su interpretacin.
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V (mV) U (mm/s)
T (C)
T
U
V
(m) 0
10
-10
20
10
20
10
11
12
0 10 20 30 40
Ejemplo de perfil de potencial espontneo (V), medido junto con un perfil de temperatura (T)
y de flujo de agua (U), medidos en un pantano en Armenia
V (mV)
0
10
-10
20
0 10 20 30 40
2.2
32.1
x
1 / 2
Figura 2.11 Una estimacin rpida de la profundidad de la zona consiste en ajustar, visual o
matemticamente, una parbola. Se puede suponer que la profundidad (d) cumple: d
x
=
1 2
3
/
Ejemplo 2. Interpretacin cualitativa de un SEV
Los SEV se emplean mucho para caracterizar las capas potencialmente acuferas (potencias de gravas
en cuaternarios, tramos de calizas, etc.). La curva experimental obtenida en un SEV est constituida por
las diferentes resistividades aparentes medidas en el terreno para cada distancia AB/2. Cualitativamente,
la variacin de los puntos de inflexin de una curva experimental indica el nmero de electrocapas que
pueden interpretarse y el trazo de una curva imaginaria con tendencia asinttica la resistividad real
(aproximada); tambin la proyeccin de estos puntos de inflexin sobre el eje X (AB/2) proporciona una
estima (poco fiable) de la profundidad de la electrocapa en cuestin. En el libro de Orellana (ver
bibliografa) se expone con todo detalle el porqu de esta burda aproximacin y se presentan los bacos
correspondientes para el clculo cuantitativo-.
85
Capa 1
Capa 2
Capa 3
Capa 4
AB/2 (m)
RESISTIVIDAD REAL (ohm-m)
1000
1000
100
100
1 10
10
1000 10
1
100
0.1
100
10
SEV-30
TRMINO MUNICIPAL:
INSTITUT CARTOGRFIC DE CATALUNYA Sondeo:
CLIENTE:
Trabajo: Fecha:
Azimut:
En la curva experimental de este SEV pueden interpretarse de forma intuitiva 4 capas, dos de ellas
(capas 2 y 4) bastante resistivas y una intermedia (capa 3) conductora. A la izquierda se presenta el
modelo calculado con la aplicacin del mtodo inverso y en punteado los posibles modelos equivalentes.
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Ejemplo 3. Tomografa elctrica
Se propuso una tomografa elctrica para caracterizar el contacto entre el acufero superficial de una
terraza fluvial compuesta por gravas y arenas, y los materiales terciarios subyacentes compuestos por
limos y arcillas que actan como un acuitardo. Para su realizacin se utiliz una de 3 m entre electrodos y
un dispositivo simtrico Schlumberger. Con los datos obtenidos se llev a cabo el proceso de inversin
para obtener el modelo de resistividades reales del subsuelo.
La imagen obtenida (Figura 2.12) muestra la geometra de un paleocanal con eje a los 55 m de
longitud, caracterizado por una morfologa cncava. El acufero superficial est representado por
resistividades superiores a 100 O.m, donde los mximos se refieren a zonas secas y con mayor
acumulacin de gravas (lentejas); mientras que las bajas resistividades se asimilaran a las arcillas
trisicas. En el contacto entre el permeable y el acuitardo se distingue un tramo que es ms potente bajo el
paleocanal donde la resistividad es ligeramente inferior a su entorno (azul claro), este hecho se ha
interpretado como la parte de material que est saturada (nivel fretico) por el agua contaminada. Si bien
a igual de otros factores, la resistividad aumenta con el tamao del grano; a igualdad de los otros
parmetros, la resistividad disminuye con la salinidad del agua. En este caso, el agua salinizada embasada
en el paleocanal hace descender la resistividad.
Datos procedentes de un estudio del Dpto. de Geologa de Universidad de Alcal de Henares. Miguel
Martn -Loeches y T. Teixid 2009.
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Longitud (m)
P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d
(
m
)
Resistividad (Ohm.m)
A igualdad de otros factores, en depsitos cuaternarios
la resistividad aumenta con el tamao de grano
Lutitas
C
o
n
g
l
o
m
e
r
a
d
o
s
A
u
m
e
n
t
o
d
e
l
t
a
m
a
o
d
e
g
r
a
n
o
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 120
-24
-22
-20
-18
-16
-14
-12
-10
-8
-6
-4
-2
0
S N
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
1100
1200
1300
1400
1500
1600
1700
1800
1900
2000
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
-20
-15
-10
-5
0
P
s
e
u
d
o
-
P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d
(
m
)
Longitud (m)
MODELO TERICO - RESISTIVIDADES REALES DEL TERRENO
RESISTIVIDAD APARENTE OBTENIDA EN CAMPO
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
-20
-15
-10
-5
0
P
s
e
u
d
o
-
P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d
(
m
)
Longitud (m)
RESISTIVIDAD APARENTE OBTENIDA POR EL MODELO TERICO
Modelo resultante de la iteracin nmero 7
Bondad del ajuste netre resistividades aparentes de campo y las calculadas a partir del modelo: 2.4%
Figura 2.12
Ejemplo de clculo del problema inverso
cuando se aplica a la tomografa
elctrica.