Professional Documents
Culture Documents
sistemas electrnicos
tolerantes a fallas
Introduccin
Resumen
Resumen
Clculo de la Confiabilidad
de confiabilidad
Confiabilidad
Un poco de historia
Intuitivamente:
Funcin de Confiabilidad
Derivacin de la Funcin de
Confiabilidad
NO (t )
NO (t )
R (t ) =
=
N
NO (t )+ N F (t )
10
Interpretacin
NO (t )
R (t ) =
NO (t )+ N F (t )
11
de Malfuncionamiento.
Los eventos
Componente
Componente
mentarios:
12
N F (t )
Q (t ) =
NO (t )+ N F (t )
13
14
dN F (t )
dR(t )
= ( N )
dt
dt
15
N dR(t )
1 dN F (t )
z (t ) =
=
N O (t ) dt
N O (t ) dt
16
dR(t )
dt
z (t ) =
R(t )
17
Frmula matemtica de la
Confiabilidad
z (t )dt = ln R (t )
0
R (t ) = exp z (t )dt
0
18
19
z(t)
Curva en forma
de Tina de
bao
Tasa de
Fallas
Constante
Fase de
Mortalidad
Infantil
T1
Fase Senil
T2
Tiempo
20
Tasa de Dao
21
Tiempo de Misin
23
24
Periodo de Asentamiento
25
26
27
28
Ambiental
Elctrico
Mecnico
(temperatura, humedad)
(voltaje, corriente)
(vibraciones, golpes).
30
Burn-in
32
33
Como consecuencia:
34
Periodo de Desgaste
35
Daos Seniles
36
Ejemplo
37
38
39
1/
t
40
Medidas de Confiabilidad
41
42
MTTF = e dt = 1
0
43
R(t)
MTTF
0.368
MTTF / 10
0.905
MTTF / 20
0.951
MTTF / 100
0.990
MTTF / 1000
0.999
R(t)
1
1/=MTTF
44
Consecuencias (I)
45
Consecuencias (II)
46
47
48
Modelado de un Sistema
Funcionante (up)
En reparacin (down).
50
Disponibilidad
MTTF
A=
MTTF +MTTR
53
Ejemplo
A = 886/911 = 0.972
54
Resumen
55
Calculo de la Confiabilidad de un
Sistema
Problema
56
Modelo de Previsin de
Confiabilidad
57
58
59
Condiciones Habituales de
Funcionamiento
60
Condiciones No Habituales de
funcionamiento
61
62
Manuales
MIL-HDBK-217: Departamento de la
Defensa a partir de 1962
RDF: CNET Francia 1974
HRD: British Telecom UK 1974
RPP: Bell Core USA 1984
AT&T: USA 1990
IRPH93: Italtel, CNET e BT EU - 1993
63
MIL-HDBK-217
MIL-HDBK-217: Objetivo
65
MIL-HDBK-217
Presenta 2 mtodos:
66
Componentes independientes.
Tasa de dao constante.
67
p = b Q E A
p: Tasa de dao de la componente
b: Tasa de dao base
i : Factores que modifican la tasa de dao
base en funcin de los parmetros que
pueden influenciar la confiabilidad de la
parte.
68
69
de la tecnologa.
T: Factor de Temperatura.
E: Factor de Aplicacin
R: Factor de Potencia
S: Factor de Esfuerzo Elctrico
C: Factor de Construccin del Contacto
S: Factor de Funcin.
70
MIL-HDBK-217: Ejemplo
p = (c1 T + c2 E) Q L
71
Protegido climatizado
No protegido
Mvil
E = 0
E = 2.5
E = 4
72
Informacin necesaria:
= N i (G Q )i
n
i =1
73
Estimacin de la Confiabilidad de un
Sistema
75
Diagrama de eventos
Muestra como el dao de cualquier
componente influenciara el desempeo del
sistema.
Un sistema subdividido en unidades lo
suficientemente pequeas para poder
calcular la confiabilidad.
76
Esquema de Confiabilidad
78
Ejemplo
in
c1
c2
c3
c4
c5
out
79
R2
R3
80
81
s = i
Rs = Ri
82
Ejemplo 1
Rs = e
-(10^4 10^-7) t
=e
- t / 1000
Ejemplo 2 (I)
4 transistores de silicio,
10 diodos de silicio
20 resistencias de aglomerado.
10 condensadores cermicos.
84
Ejemplo 2 (II)
85
Ejemplo 2 (III)
diodos:
transistores:
resistencias:
condesasdores:
d
t
r
c
=
=
=
=
0.000002
0.00001
0.000001
0.000002
86
Ejemplos 2 (IV)
s = 10 d + 4 t + 20 r + 10 c
s = 0.0001
MTTF = 1 / s = 10.000 horas
87
R1
R2
88
89
Qp(t) = [1 - e
-1 t
] [1 - e
-2 t
] [1 - e
-3 t
]
90
Ejemplo
Qs = ( 1 - e
Rs = 1 Qs
-t/1000
)(1-e
-t/1000
91
Duplicacin
En un sistema duplicado:
Q (t) = [1 - e - t ]2 = 1 - 2 e - t + e
R(t) = 1 - Q (t) = 2 e - t - e 2 t
2 t
92
M1
Redundancia 2-de-3
M2
M3
93
Cut Set
2
4
3
Tie Set
2
4
3
Redundancia (I)
Redundancia (II)
97
Caso de studio
A2
98
99
100
Esquema de Confiabilidad
Esquema de Confiabilidad
El esquema de Confiabilidad es el
siguiente:
1
2
1
s
cs
102
Ejercicio
103
Ejercicio
(continuacin)
104
Solucin (I)
Sistema no tolerante:
s
c1
d1
d2
d3
c2
d4
d5
d6
c3
d7
d8
d9
s = S + 3 C + 9 D =
4*10-5 + 6*10-6 + 4.5*10-5 = 9.1*10-5
MTTF = 1 / s = 1098 horas
105
Solucin (II)
Sistema tolerante:
d4
d1
c1
d2
c2
d5
d6
d3
d10
d7
c2
d8
d9
c4
d11
d12
s = S + 4 C + 4*6/5 D + =
4*10-5 + 8*10-6 + 2.4*10-5 = 7.2*10-5 = 1388 horas
106