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CONTROL
ESTADISTICO DE
PROCESOS ( CEP )
CEP
! Se define como la aplicacin de mtodos
estadsticos para la medicin y anlisis de la
variacin en un proceso. Esta tcnica se aplica
tanto a los parmetros dentro del proceso como a
los del final de ste (producto).
VENTAJAS CEP
Existe un estado del control estadstico en el que slo hay causas comunes de
variacin en un proceso. Esta condicin presenta diversas ventajas importantes:
puede ocultar el efecto de los cambios introducidos para lograr una mejora.
La eliminacin de ciertas causas especiales y la consiguiente rediagramacin
de las grficas de control tambin puede revelar que an existen causas
especiales ocultas anteriormente.
2. GRFICO
N( X ,
)
R
N
(
R
,
X
R)
R
X
d2 n
d3
d3
R
d2
LC X
3
d2 n
A2 R
LCS X
A2 R
LCI X
A2 R
LC R
R 3
d
R 3 3 R
d2
d
(1 3 3 ) R
d2
LCS R
D4 R
LCI R
D3 R
los valores A2, D3, y D4 tambin dependen del tamao de la muestra (ver
tabla siguiente.)
10
d2
1.128
1.693
2.059
2.326
2.534
2.704
2.847
2.970
3.078
d3
0.853
0.888
0.880
0.864
0.848
0.833
0.820
0.808
0.797
A2
1.880
1.023
0.729
0.577
0.483
0.419
0.373
0.337
0.308
D3
0.076
0.136
0.184
0.223
D4
3.267
2.575
2.282
2.115
2.004
1.924
1.864
1.816
1.777
2.659
1.772
1.457
1.289
1.183
1.109
1.053
1.010
0.974
0.779
0.749
0.728
0.712
0.700
0.690
0.680
0.673
0.666
A3
2.660
1.950
1.630
1.430
1.290
1.180
1.100
1.030
0.980
B3
0.030
0.120
0.190
0.240
0.280
B4
3.270
2.570
2.270
2.090
1.970
1.880
1.820
1.760
1.750
LVN
R
d2
LR
Condicin 1:
LVNS
LR
LVNI
LR
LVN
LT
R )
Cuando todos los puntos estn muy cerca de la lnea central, sobre
1,5 * , no indican que estemos con un buen control, sino que
estamos mezclando informacin lo que nos da unos mrgenes muy
amplios, entonces ha de revisarse la manera de hacer los subgrupos.
001
10.440 10.500 10.450 10.440 10.520
10.440 10.500 10.450 10.440 10.520
002
10.640 10.530 10.600 10.520 10.510
10.640 10.530 10.600 10.520 10.510
003
10.550 10.510 10.470 10.450 10.420
10.550 10.510 10.470 10.450 10.420
004
10.530 10.520 10.560 10.590 10.600
10.530 10.520 10.560 10.590 10.600
005
10.520 10.430 10.440 10.460 10.500
10.520 10.430 10.440 10.460 10.500
006
10.450 10.460 10.610 10.480 10.550
10.450 10.460 10.610 10.480 10.550
007
10.530 10.610 10.480 10.400 10.480
10.530 10.610 10.480 10.400 10.480
008
10.450 10.500 10.450 10.530 10.470
10.450 10.500 10.450 10.530 10.470
009
10.520 10.560 10.530 10.580 10.660
10.520 10.560 10.530 10.580 10.660
010
10.560 10.500 10.400 10.510 10.640
10.560 10.500 10.400 10.510 10.640
011
10.530 10.480 10.560 10.550 10.580
10.530 10.480 10.560 10.550 10.580
012
10.560 10.430 10.430 10.420 10.510
10.560 10.430 10.430 10.420 10.510
013
10.500 10.720 10.480 10.450 10.500
10.500 10.720 10.480 10.450 10.500
014
10.470 10.530 10.560 10.520 10.470
10.470 10.530 10.560 10.520 10.470
015
10.530 10.560 10.600 10.690 10.550
10.530 10.560 10.600 10.690 10.550
016
10.510 10.630 10.620 10.590 10.610
10.510 10.630 10.620 10.590 10.610
017
10.500 10.510 10.400 10.520 10.520
10.500 10.510 10.400 10.520 10.520
018
10.540 10.460 10.490 10.450 10.460
10.540 10.460 10.490 10.450 10.460
019
10.490 10.550 10.510 10.560 10.490
10.490 10.550 10.510 10.560 10.490
020
10.620 10.500 10.600 10.610 10.620
10.620 10.500 10.600 10.610 10.620
021
10.540 10.590 10.630 10.580 10.560
10.540 10.590 10.630 10.580 10.560
022
10.420 10.550 10.480 10.500 10.500
10.420 10.550 10.480 10.500 10.500
023
10.520 10.600 10.510 10.520 10.500
10.520 10.600 10.510 10.520 10.500
024
10.570 10.720 10.640 10.730 10.590
10.570 10.720 10.640 10.730 10.590
025
10.600 10.570 10.600 10.480 10.500
10.600 10.570 10.600 10.480 10.500
Con la tabla inicial de datos los grficos que se obtienen son los
siguientes:
GRAFICO X
GRAFICO R
10,65
0,3
10,6
0,25
10,55
0,2
10,5
0,15
10,45
0,1
10,4
0,05
10,35
1
11 13 15 17 19 21 23 25
0
1
11 13 15 17 19 21 23 25
Ri
3,15
0,126
n de muestras 25
1
Los limites de control para los rangos vienen dados por las
expresiones en funcin de D4 y D3:
LCSR = D4 * R = 2,115 x 0,126 = 0,266
LCIR = D3 * R = 0 x 0,126 = 0
Siendo los valores de D3 y D4 los correspondientes a la tabla
anterior para un tamao de muestra, n, igual a 5.
3,15 0,27
24
0,12
X
LCSX = + A2 *
LCIX = - A2 *
R
R
Xi
24
252,73
10,53
24
252,73 10,65
10,525
23
LVNI = X
- L
Vemos, pues, que los LVN son ms estrechos que los lmites de
tolerancia, LT, especificados por la oficina tcnica, que, de acuerdo
con la ficha de control, valen:
LT = 10,5 0,2
es decir:
LTS = 10,5 + 0,2 = 10,7
LTI = 10,5 - 0,2 = 10,3
GRAFICO R
10,65
0,3
10,6
0,25
0,2
10,55
0,15
10,5
0,1
10,45
10,4
1
0,05
10
13
16
19
22
0
1
10
13
16
19
22
10,525
0,12
10,456; 10,594
0 0,12 0
N piezas defectuosas.
N defectos.
n= Cte.
np
c
n= Var.
p
u
4. 1. GRFICO "np".
Este grfico controla en cada punto correspondiente a una extraccin
muestral, el nmero de unidades defectuosas correspondientes a esa
muestra.
Las expresiones del valor central y de los lmites de control para este
grfico son:
N
VC
np
i 1
LC np 3 np(1 p)
Es obvio que el valor de los lmites de control es constante, pero
depende del tamao muestral elegido.
501
20,04
25
de donde:
p
np
n
20,04
250
0,08
y por lo tanto:
fraccindefectuosamuestra"i"
n uds.defectuosas en muestra"i"
ni
i 1
N
i 1
ni
LCi
p(1 p)
p 3
ni
EJEMPLO DE GRFICO P
La empresa Electra, S. A., trata de controlar el proceso de fabricacin
de determinados aparatos elctricos mediante la implantacin de un
grfico p con el que observar la evolucin de la fraccin defectuosa.
Para ello, se comienza en el mes de febrero de 1980, examinando un
50 por 100 de la produccin mediante muestras de tamao variable e
igual a la mitad de la produccin diaria.
Como valor central de la fraccin defectuosa se adopta, en un
principio, el obtenido de experiencias similares en el pasado, igual a
un 2,5 por 100 de productos defectuosos por muestra. Este valor (p =
0,025) ser revisado mensualmente y sustituido por otro si la
evolucin de la calidad as lo aconseja.
pi
n uds.defectuosas en muestradetectadas
fraccindefectuosamuestra"i"
Nmerototalde unidadesinspeccionadas
RESOLUCIN:
A partir de los datos de la tabla se ha dibujado el grfico p. De su
observacin se desprende que, a partir de la muestra 7, la calidad
ha ido empeorndose progresivamente hasta llegar a una muestra,
la 17, que queda fuera de control. A partir de ella se han aplicado
medidas correctoras que han trado consigo una mejora en la
fraccin defectuosa.
A la luz de la informacin brindada por el grfico p parece
aconsejable revisar el valor central empleado, utilizndose para ello
el promedio de p durante el mes transcurrido, y excluyendo, claro
est, el valor correspondiente a la muestra que result fuera de
control. As pues, el nuevo VC a aplicar el mes de marzo ser:
285
12.144
LCS
p ' (1 p ' )
p' 3
n
LCI
p' 3
p ' (1 p ' )
n
0,025(1 0,025)
0,025 3
507
0,046
0,025(1 0,025)
507
0,004
0,025 3
LCS
p' 3
p' (1 p' )
n
LCI
p' 3
p' (1 p' )
n
0,0235 3
0,0235 3
0,0235(1 0,0235)
506
0,0235(1 0,0235)
506
0,0437
0,033
ci
n defectosen la muestra"i"
las expresiones del valor central y de los lmites de control para este grfico
sern:
N
n defectosen muestra"i"
VC c media defectos por muestra i 1
N
LC c 3 c
EJEMPLO DE GRFICO C
Para realizar el control de calidad en la fabricacin de un cierto tipo de
artculo, la empresa Maolar decide implantar un grfico c, en el que se
representa el nmero de defectos por muestra. Dado que cada unidad a
controlar puede presentar hasta 200 defectos diferentes, se va a tomar un
tamao de muestra pequeo. As pues, se utilizarn 25 muestras de 6
unidades cada una.
Los datos procedentes de la inspeccin aparecen en la parte superior de la
figura siguiente. Puede observarse que, en este caso, los distintos defectos
se han clasificado en tres grupos. A, B y C, por orden de importancia y a
efectos de tener una mayor informacin.
Suponiendo probabilidad constante de aparicin de un defecto cualquiera,
se desea obtener el grfico c para el control futuro del proceso.
RESOLUCIN:
A partir de los datos registrados pueden obtenerse el valor central y los limites
de control de acuerdo con las expresiones anteriores, tenemos:
n Total de defectos detectados
585
LCS
c 3 c
LCI c 3 c
25
23,4 3 23,4
8,9
n defectos
en muestra
ni
" i" (c i )
las expresiones del valor central y de los lmites de control para este grfico
sern:
N
VC u n mediodefectospor unidad
n defectosen muestra"i"
i 1
N
ni
i 1
LCi
u 3
u
ni
i 1
N
ni
834
5,64
148
i 1
LCS
u 3
u
ni
5,64 3
5,64
148 / 25
8,57
LCS
u 3
u
ni
5,64 3
5,64
148 / 25
2,71
Esto ltimo es factible debido a que las variaciones de n no son demasiado importantes.
De la representacin del grfico u (Fig. 18.8), se deduce que todas las muestras
inspeccionadas estn bajo control, por lo que los LC y VC pueden ser adoptados como
definitivos en tanto la evolucin real de la calidad no aconseje otra cosa.