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 精密量具及機件檢驗
技專校院用書‧升二技寶典

謝 宏 榮 編 著

印行

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 序

高科技工業的發展日新月異，尖端技術的突破和品質的保證，大都需
要建立正確的量測技術，所謂「工欲善其事，必先利其器」，量測人員首
先需具備的就是能充分瞭解量具，進而善用量具。現今科技工業已進入錙
銖必較的時代，對於能求得小數點以下幾位數不得馬虎，否則就會產生像
這樣的問題：一個手拿游標卡尺測量工件長度的人，其答案竟能和以手掌
比劃後說出的答案相當，例如都是大約 15cm。這樣的問題不禁令人懷疑，
使用游標卡尺與否似乎不重要？…不！量測者除了需具備量測能力和瞭解
各式量具之外，對於精度的要求更需重視，尤其是在迎接奈米級時代的來
臨，更應徹底清除精密量測上的差不多先生。
本書採教學與升學兩者並重的原則撰寫，各章節後面都附有技專院校
的歷屆相關試題以及最新採用的統一入學測驗試題，並將部份試題改以計
算題、是非題或填充題出現，以加強觀念的融會貫通；各章內容力求淺顯
易懂，內容係筆者於技術學院任教精密量具與機件檢驗課程十餘年來之心
血結晶，除了蒐集整理各類精密量測書籍的重點之外，亦加入了筆者多年
來的教學心得，非常適合在技專院校選修精密量測相關課程的學生使用，
亦可作為升學考試、工程人員和品檢人員的參考用書。
全書共分成十一章，內容包含精密量測概論、精度觀念、長度測量、
光學平鏡、投影比較儀、螺紋測量、角度測量、齒輪測量、輪廓測量、真
圓度測量、其他量測（表面測量、三次元測量、動平衡測量、雷射掃瞄
儀）等單元，各單元後面並附上相關的實驗內容，使讀者能學以致用，加
深印象。

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 精密量具及機件檢驗

全書所使用的實驗儀器與部份說明，主要是購自於新勁、伍宗、三
豐、高級等公司，感謝多年來這些公司對實驗設備維護所作的努力。
筆者才疏學淺，錯誤之處在所難免，尚祈各方先進不吝指正，以便下
次得以改正，使本書能更臻完善，以利學習。

謝宏榮 謹識於台北
2002.1.1

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 目 錄

目 錄

第 章 概 念 1

1-1 量測與檢驗的定義 3
1-2 量測分類 4
1-3 環境要求 8
1-4 測量誤差 11
1-5 校正週期 14
1-6 精密度和準確度 16
1-7 平台（板） 18
1-8 防震桌 22
1-9 保養和維護 24

第 章 長度測量 29

2-1 卡鉗（卡氏規） 31
2-2 游標卡尺 32
2-3 高度規 37
2-4 分厘卡（測微器） 38

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 精密量具及機件檢驗

2-5 量錶 46
2-6 其他量具 53

第 章 光學平鏡 61

3-1 光學平鏡的用途 63
3-2 光學平鏡的操作組合 65
3-3 光學平鏡的干涉原理 66
3-4 光學平鏡實驗的干涉條紋現象 70
3-5 光學平鏡的使用要領 76
3-6 光學平鏡的用途 79
實驗名稱：光學平鏡 84

第 章 投影比較儀 89

4-1 投影比較儀的原理 91
4-2 投影比較儀的種類 94
4-3 投影比較儀的測量方法 97
實驗名稱：光纖投影比較儀 153

第 章 螺紋測量 157

5-1 螺紋名稱 159

5-2 螺紋種類 161
5-3 螺紋測量 167
5-4 三線測量原理 171
5-5 工具顯微鏡 175
實驗名稱：三線測量 186

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 目 錄

第 章 角度測量 195

6-1 角度單位換算 197

6-2 角度測量的種類 198
實驗名稱：正弦桿角度測量 220

第 章 齒輪測量 225

7-1 齒輪種類 227

7-2 齒輪各部名稱 229
7-3 齒輪齒廓線之形狀 234
7-4 齒輪之標註 236
7-5 齒輪測量 237
7-6 齒輪轉動測量儀 247
實驗名稱：齒輪轉動測量儀 262
附 錄：齒輪轉動測量儀程式介紹 266

第 章 輪廓測量 275

8-1 概念 277
8-2 輪廓測量儀 277
實驗名稱：輪廓測量 302

第 章 真圓度測量 307

9-1 概念 309
9-2 真圓度的表示法 313

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9-3 真圓度測量儀 319

實驗名稱：真圓度測量 349

第 章 表面粗糙度測量 353

10-1 概念 355
10-2 機械製圖上的符號表示 356
10-3 粗糙度表示法 360
10-4 表面粗糙度測量儀 372
實驗名稱：表面粗糙度測量 379

第 章 其他量測設備介紹 383

11-1 動平衡試驗 385

實驗名稱：動平衡試驗 399
11-2 雷射掃瞄儀 402
實驗名稱：雷射掃瞄測量 429
11-3 三次元座標測量儀（CMM） 432

例題解答 487

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 CHAPTER 1
概 念

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 第1章 概 念

「工欲善其事，必先利其器」這句話用在精密量測上來說，是再恰當也不
過的事。當我們用微觀的方式來看這個世界，我們所觀注的焦點會改變，好比
是觀察一隻毛毛蟲標本，吾人所注意的焦點將從原先的整體造型移至細微組
織，而這都要歸功於精密儀器的發明。因此，我們可以想像，像「算及錙銖」
或「吹毛求疵」這類的話用在對精密量測的要求上，是一件相當合理的現象，
也就是說，小數點以下能保留幾位數字代表的意義是卓越和領先的指標。

1-1
量測與檢驗的定義

現今科技產品的趨勢為輕、薄、短、小，產品的種類繁多但生命週期短。
工廠為了趕在第一時間出貨，常常需要藉助於自動化生產設備，當然，為了確
保顧客滿意度與產品品質，量測設備更是不可短少。身為一個量測人員，瞭解
量測設備的原理與熟練其操作步驟，是相當重要的事情。「量測」與「檢驗」
大體上而言都是屬於品質管制的一環，進一步的區分可以這樣認為：量測是定
量的方式，利用量具量出實際工件的尺寸大小，如游標卡尺、分厘卡、直尺
等；檢驗是以定性的方式，利用量具檢查工件的規格符合與否，不需量出實際
尺寸，如柱規、塞規等。

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1-2
量測分類

量具依照其使用的性質與目的，可以依計算測量值方式、測量空間度或接
觸方式作區分（圖 1-1）。

(a)游標卡（直接測量，一次元量具，接觸式）

(b)分厘卡（直接測量，一次元量具，接觸式）
圖 1-1 量具分類圖例

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 第1章 概 念

(c)量錶（直接測量，一次元量具，接觸式）

(d)工具顯微鏡（直接測量，二次元量具，非接觸式）

(e)光學投影機或投影比較儀（直接測量，二次元量具，非接觸式）
圖 1-1 量具分類圖例（續）

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一、依計算測量值方式

直接測量：直接在量具上可讀出測量值者，如游標卡尺、分厘卡、螺紋
分厘卡、量錶等。
間接測量：無法直接在量具上讀出測量值者，但可經由轉移或公式計算
而得到測量值，如正弦桿、三線規等。間接測量中，若不經轉移或公式
計算，純粹只是比較其規格是否合格者，又稱為比較測量，可用來判斷
一些「Go」和「No Go」的問題，如內卡鉗、外卡鉗、伸縮規、空氣量
規等。
絕對測量：要使量具達到絕對測量，則對量具本身和其周遭條件要求相
當嚴格，必須定期實施環境校正和追溯（即與國家標準作比較）。

二、依測量空間度

一次元量具：相當於數學上的「線」，即僅測量工件的一維尺寸者，
如：游標卡尺、分厘卡、空氣量規、量錶。
二次元量具：相當於數學上的「面」，可測量出工件的二維尺寸，如光
學投影機、工具顯微鏡、輪廓測量儀等。
三次元量具：相當於數學上的「3D 物體」，可測量出工件的三維尺寸，
如三次元座標測量儀（CMM）。

三、依接觸與否

接觸式：如游標卡尺、分厘卡、量錶、直尺、內外卡鉗等。
非接觸式：如氣壓測微器、工具顯微鏡等。

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 第1章 概 念

例 1
下列量具屬於幾次元測量儀器？（85 二技）
投影機： 次元
座標測量儀： 次元
分厘卡： 次元
工具顯微鏡： 次元

例 2
（ ）下列何者屬於二次元量具?（84 二技）
(A)CMM (B)投影機 (C)空氣量規 (D)游標尺

例 3
（ ）座標測量儀（CMM, coordinate measuring machine）亦稱三次元測量
儀，乃因此種儀器可同時測量三個方向 X、Y、Z 及五個面，而具有
三次元測量性能，故而稱之。就測量技巧與圖面而言，下列圖面何
者無法量測到呢？
(A)上視圖 (B)下視圖 (C)前視圖 (D)側視圖（82 二技）

例 4
（ ）空氣量規可作比較測量（81 二技）

例 5
下列量具為接觸式或非接觸式測量儀器?（82 二技）
電子測微器：
氣壓測微器：
直尺：
卡鉗：

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例 6
空氣量規是屬於 測量

例 7
游標卡尺是屬於 測量

例 8
是非題
（ ） 檢驗是一種定量測量，可測出尺寸大小
（ ） 量測無法測得實際尺寸大小
（ ） 正弦桿為利用直接測量方式求得角度
（ ） 「Go 和 No Go」屬於比較測量
（ ） 分厘卡屬於直接測量

1-3
環境要求

精密量測對其所處的周遭環境條件可分為三級：
第一級（AA 級）：國家標準。
第二級（A 級）：學校或研究單位之實驗室，又稱檢驗級。
（B 級）：可用來校驗第三級。
第三級（C 級）：適用於工廠生產線。
測量時影響其精度的因素有許多種，如溫度、濕度、噪音、塵埃、照明
等。測量長度之環境因素及其條件控制如表 1-1 所示。

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 第1章 概 念

表 1-1 長度測量之環境因素及其條件
第一級 第二級 第三級
環境因素
（AA） （A） （B） （C）
溫度（℃） 20±0.2 20±0.5 20±1 20±3
濕度（%RH） 35～45 40～50 40～60 35～65
氣壓（atm） 1
塵埃數（0.5 m ） 10 粒／ ft （塵粒徑<50 m）
6 3

振 動 設置防震桌，振幅儘量小於 5 m
電 壓 規定值±1%
照明（流明） 1000
接地（ ） 小於 10 小於 10 小於 100 小於 100
噪音（dB） 45 以下
註：所謂「防震桌」，並非是完全防震，而是可依照需求，讓振動干擾減至最低

從表 1-1 可知，從事精密量測所需注意事項相當多，近來我國在半導體高
科技工業日新又新，為了滿足上述條件，通常會在其廠內設置「無塵室」，然
而「無塵室」如「防震桌」一般，它並非是擁有一間完全沒有灰塵的實驗室，
而是在此一密閉空間中，吾人可以控制其所含的塵埃數目。
表 1-2 所示為質量測量之環境因素及其條件，由表可知，其對溫度條件的
要求較長度測量來得低。

表 1-2 質量測量之環境因素及其條件
第一級 第二級 第三級
環境因素
（AA） （A） （B） （C）
溫度（℃） 23±0.5 23±1 23±2 23±5
濕度（%RH） 35～45 40～50 40～60 35～75
氣壓（atm） 1
塵埃數 入口裝濾塵器，出口裝集塵器
振 動 設置防震桌
電 壓 規定值±1%
照明（流明） 1000
接地（ ） 小於 10 小於 10 小於 100 小於 100
噪音（dB） 50 以下 50 以下 不干擾作業 不干擾作業
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例 1
長度測量時，其環境要求為：
溫度：AA 級 ℃
A級 ℃
C級 ℃
濕度：AA 級 %
A級 %
B級 %
C級 %
照明 流明
長度測量時，噪音須小於 dB

例 2
是非題
（ ） 防震桌可將振動干擾完全隔離
（ ） 無塵室內仍留有一些塵埃，無法完全除塵

例 3
用來作為工廠生產線之作業環境屬於 級

例 4
學校實驗室之環境要求為 級，又稱為

例 5
解釋名詞
防震桌
無塵室

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 第1章 概 念

例 6
（ ）下列關於標準精密量測實驗室環境的敘述，何者錯誤？
(A)標準溫度為 20℃ (B)振動位移應小於 5 m (C)相對濕度應保
持在 75～85% (D)塵粒大於 50 m 不存在（88 二技）

1-4
測量誤差

測量所產生的誤差，可分為下列四種：
視差：眼睛未能與刻度液水平，由觀察所引起之誤差。例如水銀溫度計
使用時，眼睛位置若比水銀之最高點（尖端為上凸之曲面）低，則讀值
將小於正確值；反之，眼睛位置比水銀最高點高，則讀值將大於正確
值；正確的位置為眼睛與水銀最高點同高，如圖 1-2 所示。

（讀值變大）

（正確）
水銀
（讀值變小）

圖 1-2 視差

測量壓力差：壓力過大或過小會影響讀值的差異，同時也容易使量具故
障，一般以適當測量壓力為原則。例如，使用分厘卡測量工件時，當活
動砧與固定砧微微接觸工件表面時，此時使用棘輪旋轉 3～5 響，即為
適當測量壓力；使用游標卡尺測量工件時，為獲得正確的適當壓力感

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 精密量具及機件檢驗

覺，可用精密塊規做模擬，當讀值與塊規厚度一致時的壓力，即為適當
壓力，如圖 1-3 所示。

工件

棘輪

塊規

圖 1-3 適當測量壓力

幾何誤差：測量時，量具與工件間因幾何相對位置所引起的誤差，稱為
幾何誤差。此型誤差的典型代表為阿貝誤差，阿貝原理是指工件最正確
的尺寸，是工件測量軸與量具測量軸平行或重合時，若不符合此一原
理，即稱為阿貝誤差。游標卡尺若使用不當，容易造成主尺與副尺之間
的滑動間隙不一，此時就會非常容易引起阿貝（Abbe）誤差，如圖 1-4
所示。

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 第1章 概 念

量具測量軸

測爪
工件測量軸
工件

圖 1-4 阿貝誤差

偶發誤差：由無法預知的因素所產生的誤差，如地震等。

例 1
（ ）下列長度測量儀何者有最嚴重的阿貝原理誤差，故使用時應特別注
意防範？
(A)測微器（micrometer） (B)氣壓量規 (C)游標卡尺 (D)樣規
（82 二技）

例 2
游標卡尺的副尺與主尺間的相對滑動部份，發生磨損之後，在量測圓棒外
徑時，最容易發生的誤差是 誤差（83 二技）

例 3
試說明下列儀器之適當壓力
游標卡尺
分厘卡

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1-5
校正週期

量具實施定期校正，是為了確保量測的精密度與可靠度。各種量具的校正
週期如表 1-3 所示，應定期實施且保存記錄。

表 1-3 量具校正週期
量具名稱 校正週期
厚薄規 半年
卡規 半年
孔徑規 半年
螺紋樣規 半年
環規 1年
游標卡尺 半年
游標高度規 半年
內徑分厘卡 半年
外徑分厘卡 半年
針盤指示器 半年
槓桿式量錶 半年
缸徑規 半年
測厚度量錶 半年
測深度量錶 半年
電子式天平 1年
砝碼 1年
光學儀器 1年
AA 級塊規 1年
A 級塊規 1年
B 級塊規 6月

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 第1章 概 念

例 1
A 級塊規校正週期為 年

例 2
游標卡尺校正週期為 年

例 3
分厘卡校正週期為 年

例 4
量錶校正週期為 年

例 5
環規校正週期為 年

例 6
厚薄規校正週期為 年

例 7
光學儀器校正週期為 年

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 精密量具及機件檢驗

1-6
精密度和準確度

精密度（Precision）

精密度是指加工時，機件正確尺寸的上下差異程度，差異愈小表示加工愈
細，精密度愈好，此種觀念與國中理化所談述的最小刻度異曲同工，操作者能
辨識的刻度愈小，表示其精密度愈好。例如，某生甲、乙、丙、丁四人實施打
靶練習，假設每個人分配三顆子彈，中彈情形如圖 1-5 所示，由圖中可知，甲
生和丙生的精密度最好，因為三顆子彈彈著點相當集中，乙生和丁生由於三顆
子彈彈著點彼此間距大，精密度較差。

甲 乙 丙 丁
圖 1-5 彈著點分佈圖

準確度（Accuracy）

準確度是指機件加工時，測量值和真實值間的差異程度，差異愈小表示加
工愈準確，準確度良好。例如，以圖 1-5 之三顆子彈彈著點分佈圖為例，三顆
子彈的平均彈著點離中心愈近者表示愈準確，愈遠者表示愈不準確，因此，

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 第1章 概 念

甲、乙、丙、丁四人當中，以乙生和丙生的準確度最好，甲生和丁生的準確度
差。由圖亦可知，同時具備良好的精密度和準確度者為丙生，精密度和準確度
均差者為丁生。圖 1-5 的分佈圖若以統計學的觀點來看，甲、乙、丙、丁四人
的常態分佈圖對照如圖 1-6 所示

2 0 2 2 0 2 2 0 2 2 0 2
圖 1-6 甲、乙、丙、丁四人彈著情形的常態分配圖
註： 為標準偏差，其中
± ：68%
±2 ：95.45%
±3 ：99.73%

例 1
試由下列常態分佈圖形，說明精密度和準確度的好壞

0 0 0 0

精密度 ，準確度
精密度 ，準確度
精密度 ，準確度
精密度 ，準確度

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 精密量具及機件檢驗

例 2
承上題，若每一個分佈圖形表示 5 顆子彈的命中情形，試繪出其彈著分佈

例 3
解釋名詞
精密度
準確度

1-7
平台（板）

精密量測所需使用的儀器均屬精度極高之設備，為確保其量測的品質，必
須使用一參考面作為基準平面，此一參考面即為平台。平台的種類及其優缺點
如下所述：

鑄鐵平台（圖 1-7）

優點： 耐磨。
吸震。
潤滑性佳。
易成型。
價廉。
可吸附磁力座。
缺點： 受到撞擊時，撞擊點周遭易形成凹凸曲面。
易生鏽。
易受溫度影響產生變形。
穩定性差。

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 第1章 概 念

圖 1-7 鑄鐵平台

花崗岩平台（圖 1-8）

圖 1-8 花崗岩平台

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 精密量具及機件檢驗

優點： 耐磨性比鑄鐵平台更佳。
防蝕。
受到撞擊時，撞擊點周遭仍為平面。
對溫度變化不敏感。
硬度佳。
不起毛邊。
缺點： 價格較貴。
無磁力作用，無法吸附磁力座。
平台的好壞取決於平面度的大小，一般可分類成四級，各級適用場所如下
所述：
AA 級：最高精度要求實驗室。
A 級：量具檢驗室必備。
B 級：現場的工具室。
C 級：現場作業。
平台的應用範圍如下所述：
平面度檢驗：可利用水平儀、塊規、量錶和以紅丹試磨平台等輔助工具
作檢驗。
平行度檢驗。
劃線。
利用紅丹作切(銼)削檢驗。

例 1
平板精度可分成 等四級（85 二技）

例 2
現場作業中的平台精度等級為 級

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 國家圖書館出版品預行編目資料

精密量具及機件檢驗／謝宏榮編著 . －－初版 .
－－臺北市 五南 , 2001 民 90
面； 公分

ISBN 957-11-2683-7（平裝）

1. 測定儀器 2. 計測工學

440.121 90020654

5F39

精密量具及機件檢驗
作 者 謝宏榮（397.2）
編 輯 李香吟

出版者
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版 刷 2002 年 2 月 初版一刷

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