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ESCUELA
POLITÉCNICA
NACIONAL
REGISTROS DE RESISTIVIDAD
CONVENSIONALES Y ENFOCADOS
[ EVALUACIÓN DE FORMACIONES I]
GRUPO N° 5
INTEGRANTES:
CONSTANTE JORGE
GALARRAGA DIEGO
GONZALEZ SAUL
PÉREZ VERONICA
SIMBAÑA LUIS
TORRES HENRY
TOTAL
INTEGRANTES EXPOSICIÓN PREGUNTAS PROMEDIO
EXPOSICIÓN
CONSTANTE JORGE
GALARRAGA DIEGO
GONZALEZ SAUL
PÉREZ VERONICA
SIMBAÑA LUIS
TORRES HENRY
PRESENTACIÓN
CONTENIDO
CONCLUSIONES-RECOMENDACIONES
TOTAL
Contenido
INTRODUCCIÓN..................................................................................................................................4
PERFIL ELÉCTRICO CONVENCIONAL...................................................................................................5
Curva Lateral..................................................................................................................................5
Principio De Funcionamiento.....................................................................................................5
Curvas Normales............................................................................................................................5
Principio De Funcionamiento.....................................................................................................6
Curva Del Potencial Espontaneo....................................................................................................6
Origen Del Potencial Espontaneo...............................................................................................7
PERFIL DE INDUCCIÓN........................................................................................................................8
Factor Geométrico.........................................................................................................................9
Factores Pseudogeométricos.......................................................................................................10
Corrección De Capas Vecinas.......................................................................................................12
Corrección Por Invasión...............................................................................................................13
REGISTRO CON ELECTRODOS DE ENFOQUE.....................................................................................17
Laterolog 7...................................................................................................................................18
Corrección por Pozo y Revoque...................................................................................................21
Corrección por el Espesor de la Capa...........................................................................................22
Corrección por invasión................................................................................................................22
PERFIL ESFÉRICO ENFOCADO...........................................................................................................23
Fundamentos De Medición..........................................................................................................23
Correcciones Ambientales............................................................................................................24
SISTEMA DOBLE LATEROLOG RXO......................................................................................................25
Herramienta DLL..........................................................................................................................26
HERRAMIENTA DUAL LATEROLOG (DLLT) –HALLIBURTON...........................................................28
AZIMUTHAL RESISTIVITY IMAGER (SCHLUMBERGER)...................................................................29
Efecto Delaware...........................................................................................................................31
Efecto De Groningen....................................................................................................................32
Escalas..........................................................................................................................................32
MEDICIONES DE INDUCCIÓN CONTRA LAS DE LATEROLOG............................................................34
CONCLUSIONES................................................................................................................................38
BIBLIOGRAFÍA...................................................................................................................................38
INTRODUCCIÓN
La resistividad de la formación es un parámetro clave para determinar la saturación de
hidrocarburos. La electricidad puede pasar a través de una formación sólo debido al agua
conductiva que contenga dicha formación. Por lo tanto, las formaciones subterráneas
tienen resistividades mensurables y finitas debido al agua dentro de sus poros o al agua
intersticial absorbida por una arcilla.
Los registros de resistividad proporcionan evidencias del contenido de fluidos en las rocas.
Si los poros de una formación contienen agua salada presentará alta conductividad y por
lo tanto la resistividad será baja, pero si están llenos de petróleo o gas presentará baja
conductividad y por lo tanto la resistividad será alta.
Objetivos:
Curva lateral
Curva normal larga
Curva normal corta
Curva del potencial espontáneo (SP)
Curva Lateral
Es la presentacion de las mediciones hecha por un dispositivo lateral que está compuesta
de cuatro electrodos como se observa en la ilustracion 1.
Principio De Funcionamiento
Ilustración 1
Curvas Normales
Principio De Funcionamiento
Es el mismo que el dispositivo lateral, sólo que la disposición de los electrodos son
diferentes. La distancia AM se denomina espaciamiento y está relacionada con la
profundidad de investigación del dipositivo, a mayor espaciamiento mayor profundidad de
investigacion. Los espaciamientos más comunes son 16’’ para la normal corta y 64’’ para la
normal larga.
El perfil eléctrico convencional está fuera de uso desde los años sesenta, la curva lateral y
las normales tienen muchas limitaciones, requieren de muchos procesos de corrección
para determinar la resistividad verdadera de la formación (Rt) y la resistividad de la zona
lavada (Rxo). Sin embargo, la curva del potencial espontáneo (SP) sigue proporcionando
todavía muchas aplicaciones importantes, aún se corre acompañado de otras curvas de
los dispositivos actuales.
Ilustración 2
PERFIL DE INDUCCIÓN
Fundamento De Medición
Los valores de este voltaje inducido en la bobina receptora se representan como una
curva continua de conductividad, en el perfil de Inducción, Como la resistividad es la
unidad más comúnmente usada, la conductividad es reciproca electrónicamente y se
representa también en el perfil bajo la forma de una curva de resistividad.
Factor Geométrico
No toda la formación que rodea al dispositivo contribuye por igual a la señal total
aceptada por el dispositivo de Inducción por lo tanto, es usual dividir la formación en
anillos separados, o sea, secciones de la formación que son circulares y concéntricos con
respecto al eje del dispositivo y tratar la señal registrada como la suma de las
contribuciones de los anillos individuales. La contribución de cualquier anillo, como
resultado de su ubicación con respecto a las bobinas, es el llamado factor geométrico de
tal anillo. La intensidad de la corriente en cualquiera de estos anillos depende de su
conductividad.
Entonces la señal de cada anillo es el producto del factor geométrico por la conductividad
de cada anillo y la respuesta total del dispositivo es la suma de las señales provenientes de
todos los anillos de la formación. Si se divide la formación en cilindros coaxiales con la
sonda que corresponden a la columna de lodo, capas adyacentes, zona lavada y zona
virgen, la señal total registrada por el dispositivo de Inducción, CIL, puede expresarse de la
siguiente manera:
CIL=Gm C m +Gs C s+G xo C xo +Gt C t
G m +G s +G xo =1
G es el factor geométrico y C es la conductividad de cada región definida. Para calcular la
resistividad de la zona virgen de la formación, R t a partir de esta ecuación, se debe
sustraerle a la lectura del perfil de Inducción RJL, las demás contribuciones. En otras
palabras, es necesario efectuar correcciones por efectos del pozo, por capas vecinas y por
invasión.
Factores Pseudogeométricos
Se presenta una carta de esta clase de corrección del estrato en hombro Laterolog
7 en la figura, en donde los factores pseudogeométricos integrados de cilindros
progresivamente grandes se grafican en función de los diámetros de los cilindros.
Las señales provenientes del lodo en el pozo pueden evaluarse mediante el efecto del
pozo el uso de la figura mostrada. Las líneas rectas discontinuas de trabajo ilustran el uso
de la grafica en el caso de una sonda 6FF40 con un distanciamiento (Standoff) de 1.5
pulgadas en un pozo de 14.6 pulgadas de diámetro y una R m = 0.35 Ω-m. Se obtuvo la
señal del pozo de 5.5 mmhos/m.
El valor corregido de CIL es entonces (50-55) = 44.5 mmhos/m y RIL (corr) = 1000/44.5=22.4
Ω-m (más o menos 10%) la corrección es despreciable.
Sin embargo, si el lodo fuera salino, la corrección puede ser muy importante. Por ejemplo,
si Rm=0.1 Ω-m, la señal del pozo sería (según la grafica) de 20 mmhos/m y el valor de la
resistividad corregida RIL (corr)=1000/(50-20) = 33 Ω-m (más o menos 40%). Basado en esto,
se puede establecer que el perfil de Inducción no es recomendable para pozos perforados
con lodos salinos ya que sus lecturas están muy afectadas por los efectos de pozo.
Además, el lodo salino también magnifica la influencia de la invasión sobre las lecturas del
perfil de Inducción.
El dispositivo de Inducción tiene una resolución vertical teórica de 4 pies por lo tanto esta
corrección es generalmente ignorada. Sin embargo Sin embargo, bajo algunas
condiciones, ésta puede llegar a ser significativa. Las ilustraciones 3-6 y 3-7 proporcionan
los medios para efectuar las correcciones por este efecto. La última generación de este
dispositivo, el Inducción Phasor o Inducción de Alta Resolución, ha minimizado
significativamente los efectos de las capas vecinas en sus lecturas.
FIGURA 3-6: Corrección del perfil de FIGURA 3-7: Corrección del perfil de
Inducción por espesor de la capa 6FF40 y Inducción por espesor de la capa 1LM de
6FF28. Reproducido de “Log Interpretation acuerdo al:”Log interpretation Charts” de
Charts” de Schlumberger. Schlumberger
Si las correcciones por hoyo y por capas vecinas se efectúan por separados, entonces
quedarán solamente los efectos por la invasión. Tomando en cuenta esto, la ecuación de
las contribuciones a la lectura del Inducción, mostrada anteriormente, queda en esta
forma:
Condiciones Desfavorables
El perfil de Inducción, no debe ser recomendado en pozos donde existen las siguientes
condiciones:
Lodos salinos.
Pozos con diámetro mayor que 12 pulgadas.
Formaciones de interés con espesores muy pequeños (capas finas).
Formaciones de muy alta resistividad, mayor a 200 Ω-m
Dispositivos Actuales
Se usa todavía la primera versión de este dispositivo que es el Inducción simple o IEL, así
como también el Doble Inducción que es la combinación de dos dispositivos de diferentes
profundidades de investigación, el 1LD de profunda investigación y el 1LM de investigación
mediana.
(SCHLUMBERGER)
La herramienta AIT (Array Induction Imager Tool) tiene una distribución de ocho conjuntos
de tres bobinas las cuales se encuentran asociadas con una bobina que transmite una
frecuencia fija, por lo tanto cada uno de esos 8 conjuntos posee una bobina receptora y
una bobina secundaria. Las bobinas se encuentran distribuidas a lo largo de la
herramienta, por ello se obtiene una onda corta y compacta. Entre sus características
generales dicha herramienta puede adquirir 28 mediciones de inducción diferentes, en
intervalos de 3 pulgadas. La gran cantidad de mediciones hechas por la herramienta AIT
permite la generación de imágenes profundas de la resistividad de la formación en 2
dimensiones, mostrando así las capas y los efectos de invasión como su atractivo principal.
AIT produce cinco curvas y profundidades de investigación de 10, 20, 30, 60 y 90 pulgadas
a partir del centro del hoyo con la finalidad de tener una resolución vertical de 12
pulgadas (1pie) lo cual permite observar capas finas con una alta precisión. Las diversas
señales se combinan para producir respuestas a 1, 2 y 4 pies de resolución vertical, para
hacer análisis de corrección.
EL AIT permite calcular los siguientes parámetros:
la resistividad de la zona virgen.
resistividad de la zona lavada.
y tres parámetros de invasión (el límite radial de la zona lavada (Rt), límite
radial de la invasión (Re) y el volumen del filtrado de lodo).
APLICACIONES
PARÁMETROS MEDIDOS
ESPECIFICACIONES TÉCNICAS
minimizan por medio de una familia de herramientas de resistividad que utiliza corrientes
de enfoque para controlar la trayectoria que sigue la corriente de medición. Electrodos
especiales en las sondas emiten dichas corrientes.
Los dispositivos que usan este principio, tienen como aplicaciones cuantitativas
determinar Rt y Rxo.
Dichas herramientas son muy superiores a los instrumentos ES, en el caso de valores
grandes de Rt/Rm (lodos salinos y/o formaciones de alta resistividad) y en contrastes de
alta resistividad con capas (Rt/Rs o Rs/Rt). También son más adecuados para la resolución
de capas con espesor delgado.
El laterolog 7.
El laterolog 3.
El laterolog profundo del registro doble laterolog DLL.
Laterolog 7
El instrumento LL7 comprende un electrodo central, Ao, y tres pares de electrodos: M1 y
M2; M1’ y M2’; y A1 y A2 (Fig. 7-10). Los electrodos de cada par están simétricamente
localizados con respecto a Ao y eléctricamente conectados unos con otros por medio de
un cable de corto circuito.
Ao emite una corriente constante io. Se emite una corriente ajustable a través de de
electrodos compensadores A1 yA2; la intensidad de corriente compensadora se ajusta de
manera automática para llevar los dos pares de electrodos de supervisión, M1 y M2 y M1’
y M2’ al mismo potencial. La caída de potencial se mide entre uno de los electrodos de
supervisión y el electrodo de la superficie (esto es, al infinito). Con una corriente
constante io, este potencial varía directamente con la resistividad de la formación.
Ya que la diferencia de potencial entre el par M1-M2 y el de M1’-M2’ se mantiene en cero,
no fluye corriente de Ao en el agujero entre M1 y M1’ o entre M2 y M2’. Por lo tanto, la
corriente de Ao debe penetrar las formaciones de manera horizontal.
ESCUELA POLITÉCNICA NACIONAL | INTRODUCCIÓN 18
[EVALUACIÓN DE FORMACIONES I] 25 de mayo de 2011
La fig 7-10 muestra la distribución de las líneas de corriente cuando la sonda esta en un
medio homogéneo; el “haz” de corriente io retiene un espesor bastante constante hasta
una distancia del agujero un poco mayor que la longitud total A1A2 de la sonda. Varios
experimentos han demostrado que el haz de corriente io retiene en su mayor parte la
misma forma que muestra frente a capas de resistividad delgadas.
El espesor del haz de corriente io es de aproximadamente 32 pulg, (distancia O1O2 en fig
7-10) y la longitud A1A2 de la sonda es de 80 pulg.
La fig 7-11 compara las curvas obtenidas de manera experimental, frente a una capa de
resistividad delgada y por medio de instrumentos convencionales (normal de 16 y 64 pulg,
y lateral de 18 pies 8 pulg) con el registro correspondiente LL7. Los instrumentos
convencionales dan resultados deficientes; la curva LL7, a pesar de las condiciones difíciles
(Rt/Rm es 5000), muestra la capa claramente y da una lectura cercana a Rt.
La corrección por el efecto de la invasión en los laterolog es muy importante y debe ser
tomada muy en cuenta. Basado en la ilustración 3-11, si las contribuciones del lodo y del
revoque son mínimas o pueden ser sustraídas en forma separadas, entonces quedarían
solamente las resistividades de la zona invadida y de la zona virgen. Incorporando el
concepto del factor pseudogeométrico a esto, se puede decir que la lectura del laterolog
es:
Fundamentos De Medición
Este dispositivo es semejante a los de latero perfil. Una corriente de medición I 0 fluye
desde el electrodo central A 0. Por su parte una corriente variable de enfoque Ia fluye entre
A0 y ambos electrodos auxiliares A1 y A’1 los cuales están interconectados.
El sistema SFL difiere de los anteriores instrumentos con los electrodos de enfoque.
Mientras los sistemas LL-7 y LL8 intentan enfocar la corriente en discos planos el Sistema
SFL establece en esencia esferas de potencial constante alrededor del electrodo de
corriente. El SFL puede preservar la distribución de potencial esférico en la formación a
pesar de una gran cantidad de variables del pozo. Para lograr esto el instrumento SFL se
compone de dos sistemas de corrientes separados y más o menos independientes. El
sistema de corriente compensadora sirve para tapar el agujero y establecer esferas
equipotenciales. El sistema de rastreo de corriente I 0 provoca una corriente de rastreo
independiente fluya a través del volumen de investigación. La intensidad de dicha
corriente es proporcional a la conductividad de la formación.
Correcciones Ambientales
Sin embargo es bueno mencionar que todas las curvas de resistividad someras tienden a
dar lecturas de resistividad bajas cuando el pozo es muy grande.
Comparación de las
Debido a estos fundamentos se creó la herramienta Doble Laterolog DLL Micro SFL, con
mediciones simultáneas.
Herramienta DLL
Ambos usan los mismos electrodos y tienen el mismo espesor de haz de corriente, pero
tienen un tipo de enfoque diferente para proporcionar sus distintas características sobre
profundidad de investigación.
La respuesta de la herramienta DLL es de 0.2 a 40.000 ohm.m; rango mucho más amplio
que los instrumentos laterolog anteriores.
La medición del laterolog somero(LLS) tiene la misma resolución vertical del instrumento
laterolog profundo (2 pies), pero responde de manera más pronunciada a la región
alrededor del agujero afectado por la invasión. Utiliza un tipo de enfoque llamado “
pseudolaterolog” por el cual la corriente de enfoque regresa a los electrodos cercanos en
lugar de los electrodos remotos. Esto provoca que la corriente de medición se disperse
más rápidamente una vez que ha entrado a las formaciones. Así, se produce una
profundidad de investigación relativamente somera.
- Correlacionar formaciones.
Parámetros Medidos
Especificaciones Técnicas
ARI es una herramienta de nueva generación del laterolog, hace medidas direccionales
profundas alrededor de la perforación con una resolución vertical alta. Una medida
auxiliar muy baja se incorpora para corregir completamente las resistencias acimutales
para el efecto de la perforación. Durante la perforación, la formación se representa como
imagen de la resistividad acimutal.
• Saturación de la formación:
• Fracturas:
La respuesta de cada uno de los 12 registros de resistividad ARI está muy influenciadas por
las fracturas conductivas llenas de fluidos. Además, cada traza del registro queda
modificada según su posición y orientación con relación a la fracturas. Las fracturas
profundas pueden ser identificadas claramente y se diferencian de las grietas superficiales
inducidas por la perforación a las cuales la herramienta es insensible .
• Heterogeneidad de la formación :
Efecto Delaware
Si los electrodos B y N se colocan en el agujero, las lecturas de LLD pueden exhibir un
“efecto de Delaware” ( o gradiente) en secciones localizados justo debajo de capas
espesas y no conductivas como la de la Anhidrita. Este efecto se presenta como una
resistividad anormalmente alta durante más o menos 80 pies bajo la capa resistiva.
Efecto De Groningen
En efecto similar fue observado posteriormente en la curva LLD. Se conoce como el efecto
de “Groningen” por el gran yacimiento holandés de gas donde se observó por primera
vez. Este efecto de Groningen se presenta durante aproximadamente 100 pies debajo de
una capa de gran espesor y de alta resistividad. Como la corriente de medición y de
compensación no puede fluir con facilidad a través de la capa altamente resistiva, regresa
por la columna de lodo y crea un potencial negativo en la zona de referencia nula. Si se ha
instalado el revestimiento en la zona resistiva, éste hace corto circuito y el efecto de
Groningen se hace más pronunciado. Se recomienda llevar a cabo un registro de inducción
para una evaluación seria de información en el caso de estas capas conductivas.
Escalas
Hace algunos años la mayoría de los laterolog se graduaban a una escala lineal, pero
debido al amplio rango de resistividades ésta escala era insensible. De hecho, las lecturas
muy bajas sean de resistividad o de conductividad, eran prácticamente imposibles de leer.
Se introdujeron curvas de apoyo con mayor sensibilidad, pero eran difíciles de leer y
aglomeraban los registros en formaciones de alto contraste.
Durante un largo tiempo se utilizo la escala híbrida, utilizada por primera vez en la
herramienta LL3. Presentaba la resistividad lineal en la primera mitad de la pista del
registro, y la conductividad lineal en la segunda. De este modo, un galvanómetro podía
grabar todas las resistividades desde cero al infinito.
Aunque un poco difícil de utilizar debido a sus extrañas graduaciones, la escala híbrida
suministraba una sensibilidad aceptable en formaciones de baja conductividad y
resistividad.
Inclusive éste rango no es suficiente a veces para las mediciones de DLL-R xo. Si se requiere
se utiliza una curva repuesto para cubrir el intervalo de 20.00 hasta 40.000 ohm –m.
Existe cierta superposición de las áreas de aplicación, a continuación se muestra una carta
para casos promedios donde di (diámetro de invasión) varia de 0 a 80 pulg. La carta es
solo una guía. En condiciones diferentes a las dadas, las áreas de aplicación pueden
variar.
Pude describirse la naturaleza de las dos herramientas solo con decir que los dispositivos
laterolog “ven” las zonas más resistivas; los dispositivos de inducción “ven” las zonas más
ESCUELA POLITÉCNICA NACIONAL | INTRODUCCIÓN 35
[EVALUACIÓN DE FORMACIONES I] 25 de mayo de 2011
Los resultados de este método se muestran en la figura 2. El pozo perforado con lodo
salino se registro con la herramienta de inducción Phasor y con la DLL. Primero se corrigió
el efecto de capa adyacente en el registro ID por medio del algoritmo Phasor; enseguida
se corrigió el efecto de agujero. El pico de resistividad que aparece a 3067 pies en la
medición ID sin corregir se debe a la señal del agujero; los picos a 3112 y 3123 se deben al
efecto de cavidad. El registro ID sin corregir no resulta muy útil. Una vez corregido se
acerca mucho más a la curva LLD. A pesar de que se prefiere las herramientas laterolog
bajo esas condiciones, el registro de inducción proporciona resultados aceptables con el
procesamiento Phasor en una caso extremo.
Los registros de inducción (6FF40, ID, IM, IDPH) dan una resolución aceptable de capas
delgadas, lo que posibilita una evaluación confiable de la formación en capas hasta de 5
pies de espesor ( 3 ½ para 6FF28). Los instrumentos laterolog exhiben incluso una
resolución mejor en capas delgadas. Con la excepción de capas con una resistividad muy
alta, es posible obtener una evaluación confiable de la formación en capas con un espesor
de 3 pies.
El agujero y las capas adyacentes afectan las mediciones de inducción y laterolog. Inclusive
capas relativamente espesas pueden influir en cierto modo dichas mediciones. Debería
corregirse el efecto del agujero y de las capas adyacentes en ambos dispositivos. Aunque
las correcciones son pequeñas en general, es aconsejable practicarlas para asegurarse de
no omitirlas en los pocos casos en que sean importantes.
Para corregir los efectos de invasión en las mediciones LLD o ID, se requieren por lo menos
tres mediciones de resistividad con diferentes grados de profundidad. Por lo tanto se
recomienda que el registro incluya al menos tres mediciones de resistividad. En el caso del
sistema laterolog este podría componerse del registro DLL-Rxo (LLD, LLS y micro SFL). E l
sistema de inducción podría consistir del DIL-SFL (ID, IM y SFL) o lo que es mejor de la
herramienta de inducción Phasor (IDPH, IMPH y SFL).
CONCLUSIONES
La herramienta Doble Laterolog (DLL) ofrece un mayor rango de resistividades en
que la herramienta Laterolog simple.
Las lecturas de resistividades se realizan con diferentes arreglos y a diferentes
profundidades de investigación.
La escala logarítmica es la más exacta para leer tanto resistividad como
conductividad, por su amplio rango de apreciación.
BIBLIOGRAFÍA
Schlumberger, Principios/Aplicaciones de la Interpretación de Registros
Manual Registros de Pozos CIED-PDVSA_003
Halliburton. Registros Convencionales