You are on page 1of 1

Toni Kus Indratno. 2011.

Efek Lapisan Konduktif Ag untuk Memperbaiki Kinerja Kaki Probe pada Alat Probe Empat Titik. Skripsi. Yogyakarta : Universitas Ahmad Dahlan.

INTISARI Perbaikan kinerja kaki alat probe empat titik telah dilakukan dengan cara melapisi kaki probe menggunakan bahan konduktif perak (Ag). Pelapisan yang dilakukan menggunakan teknik elektroplating (penyepuhan). Penelitian ini bertujuan untuk menemukan tegangan optimum pada proses penyepuhan terhadap kualitas hasil penyepuhan, selain itu dalam penelitian ini juga memberikan informasi mengenai pengaruh penyepuhan yang dilakukan pada kaki probe terhadap kinerja alat probe empat titik. Penyepuhan pertama kali dilakukan pada pelat tembaga dengan parameter yang dikenakan berupa variasi tegangan operasi penyepuhan, yaitu 1 s.d 5 volt. Penyepuhan dilakukan pada suhu 70 oC dengan konsentrasi larutan KCN 30,2 gr/liter selama 180 detik. Setelah dilakukan penyepuhan, nilai risistivitas kelima pelat ini dihitung untuk mencari pada tegangan operasional mana diperoleh nilai resistivitas keping terkecil. Untuk mengetahui struktur kristal dilakukan dengan uji difraksi sinarX (XRD). Hasil dari penelitian ini didapatkan tegangan optimum untuk melakukan penyepuhan yaitu pada 3 volt, karena terbukti pada tegangan operasional ini diperoleh nilai resistivitas terkecil dan struktur kristal yang cukup teratur. Kinerja alat probe empat titik setelah kakinya disepuh pada keadaan yang sama dengan pelat (3 volt, 70 o C dan 30,2 gr/liter) mengalami peningkatan sekitar 4,39%. Terbukti sebelum disepuh alat ini digunakan untuk mengukur lapisan tipis NiFe mendapatkan hasil = (36 ,177 0,0235 ) /, tetapi setelah disepuh digunakan untuk mengukur sampel yang sama mendapatkan nilai = (34 ,585 0,035 ) /

Kata kunci : resistivitas keping, probe empat titik, penyepuhan.