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USO DE MQUINAS DE MEDIO POR COORDENADAS COM USO DE APALPADORES DO TIPO TOUCH TRIGGER E APLICAO DE NURBS PARA MODELAGEM

DE CURVAS E SUPERFCIES DE FORMAS LIVRES


Esly Csar Marinho da Silva1, Joo Bosco de Aquino Silva 2, Jos Carlos de Lima Jnior3 e Igor Lucena Andrezza4
Instituto Federal da Bahia, Simes Filho - BA, Brasil, eslymarinho@ifba.edu.br 2 Universidade Federal da Paraba, Joo Pessoa, Brasil, jbosco@ct.ufpb.br 3 Universidade Federal da Paraba, Joo Pessoa, Brasil, limajrcarlos@hotmail.com 4 Universidade Federal da Paraba, Joo Pessoa, Brasil, igorlucena@di.ufpb.br
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Sumrio: Este trabalho tem como objetivo apresentar uma reviso bibliogrfica dos principais mtodos, hoje, empregados para inspeo de geometrias complexas, dando nfase a uma anlise comparativa entre as tcnicas de medio com e sem contato aplicado tanto ao controle dimensional quanto a aplicao em engenharia reversa. Palavras-chave: medio de peas com geometrias complexas, medio com contato, medio sem contato, engenharia reversa. 1. INTRODUO Com o avano de novas tecnologias principalmente na rea industrial, novas exigncias so impostas para a garantia da confiabilidade e qualidade dos produtos. Uma forma de cumprir satisfatoriamente as exigncias do mercado realizando medies mais eficazes, de modo a tornar o processo produtivo mais rpido, com menor custo e maior qualidade. A realizao de medies pode ser realizada atravs de equipamentos que utilizem contato direto com a pea a ser medida e medies sem contato. A medio por coordenadas evoluiu nas ltimas trs dcadas e hoje a tecnologia que melhor atende aos requisitos da manufatura moderna atravs das Mquinas de Medies por Coordenadas [1]. Considera-se superfcie complexa, o formato apresentado pela pea, e esta no tem as caractersticas de geometrias conhecidas dentro da anlise matemticas, e sim definidas por pontos de controle atravs de tcnicas Blzier, b-spline, superfcies NURBS, etc., [2]. 2. IMPORTNCIA DO ESTUDO DAS MEDIES DE SUPERFCIES COMPLEXAS PARA INSPEO DE PRODUTOS E ENGENHARIA REVERSA A operao de inspeo de peas e produtos nas indstrias em geral tornaram-se indispensveis para a garantia da sua qualidade e confiabilidade.

Hoje em dia a necessidade de inspees mais rigorosas e exatas necessria, principalmente, quando se trata de peas para uso no uso de indstrias aeronuticas, espaciais, medicina, etc., e por isso, considera-se um grande aliado para realizar inspees de superfcies complexas, as Mquinas de Medio por Coordenadas (MMCs). Um exemplo de um esquema de sistema de medio apresentado por [2].

Fig. 1: Sistema de medio para realizar inspees, [2].

Mas, apenas o uso de equipamentos sofisticados de medio, no significa que o retorno por parte das empresas sero garantidas. Recomendaes para uma utilizao eficiente e confivel da medio por coordenada apresentada [3] e trata de aspectos como: a seleo do tipo de mquina mais apropriada, a influncia do meio em que o equipamento est operando, o problema da experincia dos operadores, a definio dos procedimentos e estratgias de medio e a necessidade de calibrao das mquinas. As estratgias de medio e avaliao tambm uma maneira para obteno de sucessos em procedimentos com as mquinas de medio. Recentemente [4] desenvolveu um mtodo inteligente para inspecionar superfcies de formas complexas, onde trs algoritmos so capazes de realizar amostragens dentro de uma rea especfica, selecionando pontos fundamentais para descrever curvas Gaussianas e assim determinar num menor tempo e com um nmero mximo de pontos, mudanas de sees e de formatos. Mas, no s para o uso de inspeo so utilizadas as mquinas de medio. A engenharia reversa que consiste em

produzir novas peas, produtos ou ferramentas a partir de modelos ou componentes j existentes, [5] tambm outra rea que utilizam das MMCs. A engenharia reversa empregada em ambientes industriais, desde a concepo de projetos at a produo do objeto propriamente dito, na medicina auxiliando em processos de restaurao de peas anatmicas e, nas artes, com o objetivo de fazer reparos atravs de obras j existentes, bem como, a criao de novos trabalhos, [5]. Estudos de casos com engenharia reversa e prototipagem rpida, alm de aplicaes na rea industrial, a utilizao em reas bem distintas como medicina, arte e educao, so apresentados por [6], alm da combinao da prototipagem rpida e as tecnologias CAD/CAM que so as responsveis pelo intercmbio dessas reas. Mas, sem dvida, a engenharia reversa est mais voltada para a rea industrial, sendo assim suas aplicaes mais direcionadas a criao de novos produtos, cpia de modelos j existentes, correo e melhoria de modelos, inspeo e documentao de produtos. A seguir apresentado atravs da Fig. 2 um exemplo, de aplicao na indstria automotiva, de um processo utilizando tcnica de medio sem contato para fins de engenharia reversa.

sistema, seleo dos pontos, exatido, eficincia e robustez dos pontos amostrados para escaneamento, alm de uma breve discusso sobre os principais pacotes de softwares comerciais. Vrias so as propostas com o objetivo de se determinar a seleo dos melhores pontos ou amostragem para determinao das curvas caractersticas das mais diversas formas. Seja, desde a localizao e comparao automtica de pontos selecionados, para inspeo de superfcies de formas complexas, [9], seja, no maior nmero de pontos selecionados no menor tempo, atravs de desenvolvimento de algoritmos de melhor escolha (Best-Fitting),[9]. Com o intuito de minimizar problemas de amostragem, [4], criou um mtodo de amostragem inteligente para inspeo de superfcies complexas. Entre os mtodos de medio por contato, [10] realizaram um trabalho mostrando as tendncias e desafios, as interaes entre vrios subsistemas e uso de novos softwares. [11]. Diante de vrios pontos a serem estudados, apresentado na Fig. 3 as principais tcnicas de medio com contato e sem contato.
Tcnicas de Medies Medies sem contato
Fotogrametria Interferometria

Deteco de Ecos

Medio por Moire

Tcnicas baseadas na intensidade da luz

Triangulao Laser

Fig. 2: Processo utilizado na engenharia reversa (Metris, 2009)

Um estudo especfico realizado com o propsito de contribuir na rea de sade foi tratado por [7], onde ele utilizou a engenharia reversa e o CAD como ferramentas de auxlio na fabricao de cartuchos para prteses ortopdicas. Diante de tantas aplicaes no uso das mquinas de medio por coordenadas, que tantas pesquisas surgiram, esto sendo aprimoradas e outras aparecero como o intuito de melhorar tcnicas de medio com o uso de apalpadores ou no. 3. REVISO DE TCNICAS DE MEDIO DE FORMAS COMPLEXAS PARA USOS EM INSPEO E ENGENHARIA REVERSA A medio de superfcies de formatos complexos ou livres tornou-se motivo de preocupao no mbito industrial devido s dificuldades apresentadas para coletar os dados, tempo de execuo, qualidade e custos da operao. Um importante estudo que tambm apresenta uma reviso bibliogrfica apresentado por [2] onde so apresentadas as principais tcnicas de inspeo de superfcies de formas livres. Naquele trabalho foi realizada uma discrio dos principais mtodos de aquisio de dados, modelagem do

Medies com contato Sistema com apalpadores Sistema com escaneamento contnuo

Fig. 3: Classificao das principais tcnicas de medies com contato e sem contato de peas com geometrias complexas.

4. MEDIO POR CONTATO Nos processos de medio por contato, percebem-se caractersticas como: coliso entre a sonda e a pea, pontos de amostragem, estratgias, avaliao e desempenho das medies, sendo esses pontos os principais fatores que influenciam no tempo de processo e preciso dos sistemas. Baseado nisso, todos os pontos citados anteriormente, consiste em potenciais reas para novas pesquisas e aprimoramento das j existentes. Normalmente, a fim de minimizar fontes de erros provenientes do sistema computacional, utiliza-se de algoritmos baseados em geometria euclidiana, mtodo dos mnimos quadrados, mtodo da zona mnima, etc., para determinar parmetros geomtricos de geometrias substitutas,

ou seja, criar algoritmos que representem de maneira precisa as formas geomtricas ou no. Uma metodologia baseada na tcnica de Redes Neurais Artificiais (RNAs) para determinar os parmetros de geometrias substitutas usadas nas Mquinas de Medio por Coordenadas (MMCs) foi desenvolvida por [12], que permitiram determinar geometrias no espao tridimensional 3D, como determinao da distncia entre pontos, cilindricidade e conicidade. Outro estudo nessa rea foi realizado por [13], onde atravs de um algoritmo para determinao de geometrias substitutas possvel realizar comparao com o modelo CAD. Um algoritmo inovador atravs de amostragem estatstica para seleo de pontos para a orientao da sonda em processos de medio de superfcies complexas para fins de inspeo e engenharia reversa foi desenvolvido por [14]. Naquele trabalho a tcnica de estatstica utilizada para calcular o nmero mnimo de pontos amostrados que correspondam ao necessrio para determinar as formas das superfcies. Foi utilizada uma MMC com multi-eixos como apresentado na Fig. 4 abaixo.

trabalho intitulado por Desempenho Metrolgico de Mquinas de Medio por Coordenadas no mbito Industrial, apresenta a influncia do efeito do prdeslocamento do apalpador, no momento em que a haste do sensor sofre uma significativa flexo, [3].

Fig. 5: Princpio de funcionamento de um apalpador comutador e que modela a flexo do mesmo, [3]

A Fig. 5 mostra o efeito produzido em um sistema com apalpador num processo de inspeo. O modelo de anlise das influncias que envolvem a flexo no sensor pode ser bem representado como sendo o deslocamento de uma viga engastada com carregamento esttico concentrado na extremidade livre. Um trabalho com mquina de medio com contato, onde utilizou-se para esta medio, a rotao e inclinao da sonda foi apresentado por [17]. Este tipo de equipamento trabalha com at cinco graus de liberdade, o que facilita manipular o apalpador com movimentos em diferentes orientaes simultaneamente. 2.6.2. Sistemas com Escaneamento Contnuo Nos sistemas por varredura ou escaneamento, o sensor permanece em contato com a superfcie da pea e se desloca em uma direo pr-determinada. Durante essa trajetria, as coordenadas do centro do sensor so adquiridas seqencialmente e conseqentemente, as coordenadas dos pontos de contato sensor-pea so obtidas por correo do raio do sensor na direo espacial apropriada, [15]. Uma tcnica para inspecionar engrenagens de alta complexidade, onde a anlise feita atravs de dentes na forma de espirais e devido a forma complexa, no vivel o uso da medio sem contato, e na inspeo ponto a ponto levaria um tempo maior na coleta das informaes, sendo indicado, portanto, o escaneameto por contato foi desenvolvida por [17]. A Fig. 6 mostra as formas como os apalpadores podem ser posicionados para realizar o escaneamento de peas.

Fig. 4: Simulao do processo de medio para um ngulo de inclinao de 37,5o e rotao de -82,5o, [14]

Baseado nos vrios estudos desenvolvidos com as mquinas de medio por contato pode-se ainda dividir a forma como esses dados so coletados. Existem basicamente dois tipos de aquisio de informaes obtidas a partir das MMCs com contato: utilizando tcnica ponto a ponto com os apalpadores ou atravs de varredura ou escanamento do apalpador sobre a superfcie medida. 2.6.1. Sistemas com Apalpadores A forma com que se capturam os pontos de uma pea pode ser realizada atravs do contato fsico, com um elemento conhecido por probe ou apalpador que tem o objetivo de tocar no produto e dar cpia ao perfil, [6]. Medir com mquinas que possuem apalpadores, no uma situao das mais fceis, e muita das vezes necessria empregar procedimentos para se ter uma boa confiabilidade e preciso dos resultados das medies. Os sistemas com apalpadores so do tipo que fazem a coleta dos pontos amostrados ponto a ponto. As coordenadas do ponto de contato sensor-pea so obtidas por correo do raio do sensor esfrico, a partir das coordenadas adquiridas do centro, [15]. As mquinas de medies com contato ponto a ponto, normalmente introduz uma parcela de erro nas operaes de inspeo, sendo tanto erros sistemticos quanto aleatrios. O

5.1. Principais Tcnicas de Medio sem Contato 5.1.1. Sistema Fotogramtrico A fotogrametria consiste na tcnica de medio por coordenadas 3D que usa as fotografias como base para a metrologia, desta forma, a fotografia descreve os princpios fotogrficos envolvidos na fotogrametria, enquanto que a metrologia descreve as tcnicas para produzir coordenadas tridimensionais a partir de fotografias bidimensionais, [6]. H diversos sistemas pticos comercialmente para medio de peas de mdio e grande porte [15]. Uma das tcnicas de medio ponto a ponto que vem crescendo no meio industrial a fotogrametria, apresentada na Fig. 7, onde esta tcnica pode ser definida como sendo a cincia, e arte, de determinar o tamanho e a forma de objetos atravs da anlise de duas ou mais imagens bidimensionais gravadas em uma pelcula ou em meios eletrnicos.

Fig. 6: (a) Posicionamento do apalpador com eixo paralelo; (b) Posicionamento intermedirio do apalpador: (c) Posio perpendicular do apalpador com a superfcie (Baixa repetibilidade), [17].

No trabalho, [17], a tcnica desenvolvida consistiu na formulao de um algoritmo que permite a reorientao do apalpador, com base na variao dos ngulos. Muitos outros estudos tm sido desenvolvido por tcnicas de medio com contato, seja o uso da inspeo ponto a ponto, ou por escaneamento. Citou-se anteriormente, alguns estudos desenvolvidos por essas tcnicas. Mas, to importante ou mais, so os estudos desenvolvidos por tcnicas de medio sem contato.

5. MEDIO SEM CONTATO


Fig. 7: Processamento das imagens 2D gerando uma reconstruo 3D, [15]

O sistema de medio sem contato tem como principal objetivo, tal como o sistema por contato, a aquisio de coordenadas de um ponto localizado numa superfcie da qual se pretende obter medies, [18]. Normalmente o uso de tcnicas de medio sem contato freqentemente usada como uma alternativa a tcnicas que utilizam apalpadores. Ainda pouco difundida no Brasil, a Metrologia ptica ocupa um espao cada vez maior nos pases mais desenvolvidos, onde se utiliza de princpios pticos na construo de diversos sensores destinados a medir as principais grandezas fsicas e qumicas, e mais especfico na metrologia mais uma ferramenta para a inspeo e controle de qualidade, [19]. Ao longo dos ltimos anos, tem-se assistido ao desenvolvimento de vrias tcnicas de aquisio de informao tridimensional sem contato, que direta ou indiretamente, determinam as coordenadas tridimensionais de pontos, seja de uma foto ou de um objeto, obtendo as medidas dos mesmos, [20]. Diante do exposto acima, que se tm os motivos, para os crescentes estudos sobre aprimoramento, melhoramento e surgimento de tcnicas pticas, voltadas principalmente para uso de fins de inspeo na indstria, bem nos projetos de engenharia reversa. A seguir apresentam-se as principais tcnicas de medio sem contato, em forma de uma breve reviso bibliogrfica sobre alguns dos trabalhos desenvolvidos nessas respectivas reas, bem como um estudo mais especfico sobre as tcnicas que utilizam o laser como ferramenta no uso das medies.

De acordo com [21] a fotogrametria pode ser divida em dois tipos: Interpretativa e Mtrica. A primeira objetiva principalmente o reconhecimento e identificao de objetos e o julgamento do seu significado, a partir de uma anlise sistemtica e cuidadosa de fotografias, enquanto que a segunda tcnica consiste na feitura de medies de fotos e outras fontes de informao para determinar de um modo geral, o posicionamento relativo de pontos. Um trabalho desenvolvido na rea de inspeo utilizando esta tcnica foi realizado por [22], onde foi analisado a corroso em estruturas metlicas utilizando tcnica de fotogrametria digital a curta distncia. 5.1.2. Sistema Interferomtrico A interferometria laser uma tcnica de medio de alta preciso. Atravs dela possvel obter medidas de deslocamentos desde picmetros at milmetros, [23] e incertezas de poucos nanmetros so atingidas em ambiente de laboratrio na medio de superfcies de preciso, [19]. A interferometria ptica uma das mais interessantes tcnicas para a metrologia absoluta de comprimento, onde sem qualquer deslocamento dos espelhos que definem os braos do interfermetro, so obtidas medies sem ambigidade, atravs da utilizao de um comprimento de onda sinttico resultante de um varrimento na freqncia ptica, ou seja, mtodo denominado Interferometria de

Varrimento de Frequncia (IVF). A Fig. 8 apresenta a configurao dessa tcnica, [24].

pequena fonte de energia emitida at ser detectada, [20]. importante frisar que o resultado desse mtodo tambm est sujeito rudos oriundos de diferentes orientaes de ondas refletidas ou emitidas e a no interceptao dessas no tempo correto, afetando diretamente o nmero de dados coletados durante a amostragem, bem como a no localizao correta da superfcie avaliada. A seguir apresenta-se atravs da Fig. 10 (a) e (b) tcnicas baseadas nos princpios de deteco por ecos.

Fig. 8: Configurao ptica do sensor baseado em IVF, [24]

Essa tcnica alm de muito utilizada na metrologia tem seu nas reas de inspeo para ensaios no destrutivos, [25], na indstria de laminao, [26] e muitas outras reas da engenharia. 5.1.3. Sistema de Medio por Moir O sistema de medio atravs da tcnica de Moir indicado para medies de superfcies complexas ou formas livres. Alm do grande nmero de aplicaes na rea industrial, tambm bastante utilizada nas reas de engenharia civil, medicina, etc. O padro Moir um padro de interferncia de baixa freqncia formado pela sobre-posio de duas grelhas com padres regularmente espaados de freqncia espacial mais elevada, conseqentemente, o resultado um padro constitudo por franjas alternadamente brilhantes e escuras, chamadas franjas de Moir, [20]. As franjas produzidas so chamadas de padres ou franjas de moir, so apresentadas na Fig. 9.

(a)
(b)
Fig. 10: (a) Tcnica de deteco de ecos utilizando medio de distncia pelo mtodo de tempo de percurso; (b) diferena de fase, [20]

5.1.5. Sistemas de Medio por Triangulao a Laser Hoje em dia muito comum o uso do laser em equipamentos de medio. Ao invs do uso de apalpadores para determinar as coordenadas, um plano com raio laser projetado sobre uma superfcie, e uma cmera digital esta localizada de modo que capte a interseo entre a superfcie em contato e o raio laser. As coordenadas dos pontos na superfcie medida so determinados por triangulao. O trabalho desenvolvido por [18] apresentou um teste para a performance do escaneamento a laser em mquinas de medio por coordenadas. A Fig. 11 apresenta os princpios do escaneamento a laser.

Fig. 9: Franja de Moir produzida pela superposio de duas grades, [20]

Um trabalho de levantamento tridimensional da forma de corpos simtricos como cubos, cilindros e esferas, com o uso da tcnica de Moir, validando esse mtodo com medies via paqumetros e aplicando essa tcnica a corpos de geometria irregular, [27]. 5.1.4. Sistema de Medio por Deteco de Ecos Os sistemas de medio por deteco de ecos, normalmente, so utilizados para medio de volume e distncias em estruturas com dificuldade no acesso, como em reservatrios, estruturas de concreto, etc. A tcnica de deteco de ecos consiste na determinao de distncia a partir do tempo de percurso desde uma

Fig.11: Princpio do escaneamento a laser, [28].

6. VANTAGENS E DESVANTAGENS DOS SISTEMAS DE MEDIO COM CONTATO E SEM CONTATO Diante das mais variadas tcnicas de medio de contato e sem contato citadas anteriormente, para inspeo de superfcies complexas. As principais vantagens e

desvantagens apresentadas pelos sistemas de medio com o uso de apalpadores so apresentadas a seguir na Tabela 1. Tabela 1: Vantagens e Desvantagens apresentadas pelos sistemas de medio com contato

industrial, trata-se da tcnica de medio sem contato em uso em outras reas como medicina, artes, e crescente avanos nas reas de inspeo e engenharia reversa. REFERNCIAS
[1] Lima Junior, J. C., Determinao de Planeza de Superfcies Metrolgicas Assistida por Computador. Dissertao de Mestrado. UFPB. 2003. Li, G. & Gu, P., Free form surface inspection techniques state of the art review. Computer aided design, pp 1395-1417, Canada. 2004. Sousa, A.R., Shneider, C. A., Maas, G. A., Recomendaes para uma utilizao eficiente e confivel da medio por coordenadas. Revista Mquinas e Metais. 2001. Obeidat, S. M. & Raman, S., An intelligent sampling method for inspecting free form surfaces. Int J Adv Manuf Technol, pp 1125-1136. March 2008. Varaday, T., Martin, R.R. & Coxt, J., Reverse Engineering of Geometric Models An Introduction. Computer-Aided Design. Elsevier Science Ltd. Vol. 29, No. 4, pp 255-268. Abril, 1997. Lima, C. B., Engenharia Reversa e Prototipagem Rpida: Estudos de Caso. Dissertao de Mestrado. UNICAMP. 2003. Ferneda, A. B., Integrao Metrologia, CAD e CAM: Uma contribuio ao Estudo da Engenharia Reversa. Dissertao de Mestrado. USP. 1999. Li G. & GU, P., Free form surface inspection techniques state of the art review. Computer aided design, pp 1395-1417, Canada. 2004. Ristic, M. & Brujic, D., A framework for non-contact measurement and analysis of NURBS surfaces. Int J Adv Manuf Technol, pp 210-219. 1997.

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As principais vantagens e desvantagens apresentadas pelos sistemas de medio sem contato so apresentadas a seguir na Tabela 2. Tabela 2: Vantagens e Desvantagens apresentadas pelos sistemas de medio sem contato

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7. CONCLUSO Neste trabalho foi apresentado um resumo bibliogrfico das principais tcnicas de medio de superfcies com contato e sem contato de peas de formas livres e/ou complexas. A literatura apresentada mostra as mais variadas tcnicas para o uso das Mquinas de Medio por Coordenadas para fins de inspeo e engenharia reversa, alm dos principais estudos realizados na rea, tanto no Brasil e em outros pases. Dentre todas as tcnicas apresentadas, o estudo foi finalizado com o uso do laser, uma vez que este, alm do seu crescente uso, aprimoramento e aperfeioamento no campo

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