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Medicin de resistividades y efecto piel Mtodo de cuatro puntas. Laboratorio 5 UBA - S.

Gil 1
Actividad xx Determinacin de resistividades
Efecto piel en conductores.
Mtodo de las cuatro puntas o mtodo de Kelvin

Objetivo
Determinacin experimental de la resistividad (o conductividad) de diversas
muestras en distintas geometras. Introduccin a la tcnica de cuatro puntas para medir
resistividades. Estudio experimental del efecto piel (skin effect) en conductores de
corrientes, este efecto produce que cuando por un conductor circula una corriente alterna
la densidad de corriente no es uniforme, sino que es mayor el los bordes del mismo.
Introduccin
La determinacin de la resistividad o conductividad de una muestra es de gran
utilidad en muchos experimentos. Generalmente estamos interesados en investigar como
varia la conductividad en funcin de algn otro parmetro, por ejemplo la temperatura, la
frecuencia, etc. Para medir una resistencia de valores intermedio (entre unas decenas de
Ohms () a unos pocos M, tal vez lo ms simple es usar un multmetro (Ohmetro) y
conectar como se indica en la figura xx.1.







Figura xx.1 Determinacin de la resistencia de una muestra usando un Ohmetro o
Multmetro. La resistencia de inters es R sin embargo lo que mide el Ohmetro es
R+R
cable
+R
cable
.

La resistencia de inters es R, pero lo que mide el Ohmetro es la suma de:
R+R
cable
+R
cable
R solo si R>> R
cable
+R
cable
. Desde luego, esta situacin slo se da en los
casos ms simples. En general para medir una resistencia, ser necesario tener en cuenta
tanto las resistencias de los cables como los potenciales de contacto que pueden estar
presentes al poner en contacto dos metales distintos. Estos potenciales de contactos son
comunes en las uniones. Este mtodo de medicin de resistencia se denomina mtodo a
dos puntas.

Mtodo de las cuatro puntas o mtodo de Kelvin
Este mtodo, ilustrado esquemticamente en la figura xx.2, hace uso de dos circuitos
vinculados. Por un circuito se hace circular la corriente (circuito exterior en la figura).
Como los voltmetros modernos tienen altas resistencias internas, por el circuito de
medicin de la tensin (circuito interior de la figura) prcticamente no circula corriente.
La tensin medida ser en este caso:
Ohmetro
R
cable

R
cable

R
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B A
R I V + =
+ +
(xx.1)
El superndice (+) indica que la corriente circula como se indica en la figura (xx.2).
Usamos el superndice (-) cuando la direccin de la corriente se invierte, invirtiendo la
fuente, pero sin alterar el resto del circuito. En este caso la tensin medida por el
voltmetro ser:
B A
R I V =

(xx.2)
















Figura xx.2 Determinacin de la resistencia de una muestra usando el mtodo de
las cuatro puntas. Ntese que como los voltmetros en general tiene alta resistencia
(R
voltmetro
>10 M) prcticamente toda la corriente circula por el circuito exterior y
no hay cada de tensin en R
cable
.

Restando las ecuaciones (xx.1) y (xx.2) tenemos:

| | R I I V V + =
+ +
. (xx.3)
Por lo tanto, invirtiendo el sentido de circulacin de la corriente y tomando la diferencia
de los potenciales medidos, podemos anular el efecto de los potenciales de contacto. Ms
especficamente tenemos:

+
+
+

=
I I
V V
R . (xx. 4)

Vemos as que el mtodo de las cuatro puntas nos permite eliminar simultneamente el
efecto de las resistencias de los cables y contactos como as tambin los potenciales de
contacto. Al aplicar la expresin (29.12) a un caso concreto, analice crticamente los
signos que utiliza para I

y V

. En el caso de las Ec.(xx.1) y (xx.2) hemos supuesto que el


signo de I

es siempre positivo, de all el cambio de signo en los trmino que contienen I

,
pero que el valor de V

si cambia en las Ec.(xx.1) y (xx.2).

En muchos casos de inters prctico, la fuente de alimentacin del circuito (externo) es
alterna (AC). En este caso es conveniente realizar la medicin de tensin usando un
instrumento que filtre las componentes de continua (DC). Muchos instrumentos poseen la
opcin de activar este modo de medicin, por ejemplo los osciloscpios, multmetros,
Lock-in Amplifiers, etc. Si se mide la tensin en modo AC, la ecuacin (xx.1) se
transforma en:

r
2
I
I
V
Voltmetro
R
cable

R
R
cable

Ampermetro


AA
r
1 I
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R I V
AC AC
= , (xx.5)
ya que en este modo los potenciales de contacto (DC) son filtrados automticamente por el
instrumento medidor. Por lo tanto en este caso es posible simplificar el mtodo de
medicin a cuatro puntas.

Muestra unidimensional

En este caso imaginamos un alambre de rea transversal A. La diferencia de potencial
entre dos puntos separados una distancia s ser:


A
s
I V = , (xx.6)
empleando Ecs. (xx.4) y (xx.5) tenemos:
AC
AC
I
V
s A
I I
V V
s A s A =

= =
+
+
) / ( ) / ( ) I V ( ) / ( , (xx.7)
segn se use una fuente DC o AC respectivamente. En cualquier caso, es importante que
la geometra del alambre sea bien conocida, es decir que los valores de A y L se puedan
medir con incertidumbres pequeas.

En este caso, la distancia s entre los electrodos de medicin y el rea transversal A del
alambre son importantes.

Figura xx.3 Ilustracin de los mtodos de medicin de resistencia a dos y cuatro
puntas respectivamente. Ntese que slo algunos instrumentos especiales poseen un
arreglo para medir a cuatro puntas directamente (cuadro de la derecha). Sin embargo,
siempre es posible disear un arreglo con instrumentos convencionales, como se
ilustra en la figura xx.2, para realizar la medicin a cuatro puntas.


Determinacin de la resistividad de una muestra bidimensional

Imaginemos una muestra de material conductor plana, de extensin infinita, cuyo espesor
es t y su resistividad es como se indica en la figura xx.4. Supongamos que en un punto
de la muestra se inyecta una corriente I. Por simetra podemos imaginar que la corriente se
distribuye uniformemente en todas las direcciones de la muestra, para terminar en el
Mtodo e medicin a dos puntas
Mtodo e medicin a cuatro puntas
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infinito. De este modo la diferencia de potencial entre dos puntos separados una distancia
dr sobre el borde, y a una distancia r del punto de inyeccin ser:

r
dr
t
I R I dV

= =

2
' . (xx.8)


















Figura xx.4 Variacin del potencial en una muestra plana de extensin infinita y
espesor t, por la que se inyecta una corriente I por un punto. dV representa la
diferencia de potencial entre dos puntos separados una distancia dr, debido slo a la
corriente inyectada I. V(r) es el potencial generado por la corriente inyectada
solamente.


La diferencia de potencial entre dos puntos que estn a una distancia a y b respectivamente
del punto de inyeccin ser:

) ln(
2
) , (
a
b
t
I b a V

. (xx.9)
Si las distancias entre el punto de inyeccin y los puntos de medicin son las mismas,
como se muestra en la figura xx.5, o sea si: a=s y b=2s, entonces b/a=2. Si adems por un
segundo punto de la muestra distanciado del punto de inyeccin por una distancia 3s como
se ilustra en la figura xx.4, se extrae la misma corriente I, por el principio de superposicin
tenemos:

) 2 ln( ) , (

t
I b a V . (xx.10)










Figura xx.5 Cuatro electrodos separados por la misma distancia s sobre una muestra
plana de espesor t, con s>>t.

I
r
dV=I. R
=I. .dr/(2t.r)
V(r) I.( / 2t).ln(1/r)
dr
r
t
I
I
V
s s s
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Por lo tanto, en una geometra plana y con electrodos equidistantes y separados una
distancia s>>t, como se ilustra en la figura xx.5, la resistividad de la muestra puede
extraerse de la medicin de la corriente de inyeccin I y la medicin de la diferencia de
potencial V, como | | ( ) I V t = ) 2 ln( . Ntese que la distancia s no interviene en el
clculo de , aunque debe cumplirse que s>>t para que valga la suposicin de geometra
plana. Otra condicin implcita en este mtodo es que las dimensiones de la paca plana,
caracterizada por la longitud d, sea mucho mayor que la distancia entre los electrodos. Si
no se cumple con d>>s, debe usarse un coeficiente de correccin por dimensin finita.
1,2,3
En este caso la resistividad se calcula por:

I
b a V
t f
) , (
) 2 ln(
1

=

. (xx.11)

Con el coeficiente de correccin f
1
dado por el siguiente grfico.
1,2
Similarmente, si la
muestra no es muy delgada, es decir si no se cumple s>>t es necesario introducir una correccin
anloga.
1




Figura xx.6 Coeficiente de correccin por muestra finita, cuando no se cumple que la
dimensin d de la muestra es mucho mayor que la distancia entre electrodos s.
1,2


Muestra tridimensional grande (Bulk sample)

El mtodo de las cuatro puntas tambin puede usarse para estimar la resistividad de una
muestra tridimensional grande. Este es el caso en que las dimensiones de la muestra son
mucho mayor de la separacin entre los electrodos. Un ejemplo sera la medicin de la
conductividad de una regin del suelo. Para justificar las expresiones a utilizar,
consideramos primero el caso de una corriente I que se inyecta a una muestra
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tridimensional, similar al caso ilustrado en la figura xx.6. En estas condiciones, dado el
carcter tridimensional del problema, la diferencia de potencial entre dos puntos
adyacentes y separados una distancia infinitesimal dr ser:


2
2
'
r
dr
I R I dV = =

, (xx.12)














Figura xx.7 Variacin del potencial en una muestra tridimensional semi-infinita, por
la que se inyecta una corriente I por un punto de su superficie. dV representa la
diferencia de potencial en dos puntos separados una distancia dr, debido slo a la
corriente inyectada I.

de nuevo el tilde (prima) indica la diferencia de potencial debida slo a la corriente
inyectada. La diferencia de potencial entre dos electrodos a distancias a=s y b=2s
respectivamente del punto de inyeccin, similar al caso de la figura xx.6 ser:

s
I
b a
I b a V
1
4
)
1 1
(
2
) , ( ' = =

. (xx.13)

Si de nuevo usamos una geometra para los electrodos, similar al de la figura xx.6, es decir
los cuatro electrodos alineados y separados por una distancia s. Usando superposicin
tenemos:

s
I V
1
2
=

, o bien ) ( 2 I V s = . (xx.14)

este arreglo para medir resistividades tambin se conoce como el mtodo de Wenner de
los cuatro electrodos.
4
(four-electrode Wenner array). Este tipo de mtodo se usa en
experiencia de geofsica para medir la resistividad de la Tierra y conocer a que
profundidad se encuentra una capa diferente por ejemplo agua.
4



Mtodo de las cuatro puntas de van der Pauw- Transresistencias

En muchos caso de inters prctico no es til o posible usar una distribucin de electrodos
equidistantes como se discuti anteriormente. Consideremos el caso de una muestra plana
semi-infinita como se ilustra en la figura xx.8.
Segn vimos antes, la diferencia de potencial entre los puntos B y C se puede escribir
como:
5

I
r
dr
dV=I. R
=I. .dr/(2.r
2
)
V(r) I.( / 2)(1/r)
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(

+ +

=
=
)
`

|
.
|

\
|

|
.
|

\
|
+

|
.
|

\
|
+

|
.
|

\
|

=
c a
c b b a
t
I
c b c b a a t
I C B V
AD
AD
.
) )( (
ln
1
ln
1
ln
1
ln
1
ln ) , (

, (xx.14)












Figura xx.8 A) Variacin del potencial en una muestra plana semi-infinita de espesor
t, por la que se inyecta una corriente I por el punto A y se extrae la misma corriente
desde el punto D. Los electrodos de medicin se conectan a los punto B y C. B) Por
una transformacin conforme
6
, la regin semi-infinita de la izquierda se transforma en
la regin cerrada de la derecha.

De modo similar, la diferencia de potencial entre D y C, debida a la corriente que pasa
entre A y B ser:

(

+ +
+ +

=
) (
) )( (
ln ) , (
c b a b
c b b a
t
I C D V
AB

. (xx.15)
Si la corriente se inyecta entre los puntos B y C, la diferencia de potencial entre D y A
ser:


(

+ +

=
a c
c b b a
t
I A D V
BC
.
) )( (
ln ) , (

. (xx.16)
Se definen la transresitencia R
AB,CD
como el cociente entre la diferencia de tensin CD y la
corriente que circula por los puntos AB. Por lo tanto de (xx.15) y (xx.16) tenemos:

(

+ +
+ +

=
) (
) )( (
ln
) , (
,
c b a b
c b b a
t I
C D V
R
AB
CD AB

y
(

+ +

=
c a
c b b a
t
R
DA BC
.
) )( (
ln
,

(xx.17)

Es fcil probar que se cumple:
7
) ( ) ( ) ( c b b a ca c b a a + + = + + + . Otra forma de
interpretar R
AB,CD
es como la diferencia de potencial entre los puntos C y D cuando por los
puntos A y B para una corriente unitaria. Se puede probar que:
7


AB CD CD AB
R R
, ,
= ,
BC DA DA BC
R R
, ,
= ,
AC BD BD AC
R R
, ,
= , y 0
, , ,
= + +
BD AC DA BC CD AB
R R R . (xx.18)

Si combinamos las dos expresiones (xx.17) de modo de eliminar todas las distancias,
obtenemos:
5,7

| | | | 1 exp exp
, ,
= +
DA BC CD AB
R t R t . (xx.19)

I
A
A
Transformacin
Conforme
B
B C
C
D
D
I
I
I
b
a
c
B)
A)
Medicin de resistividades y efecto piel Mtodo de cuatro puntas. Laboratorio 5 UBA - S. Gil 8
Esta expresin la obtuvimos para un borde recto de una regin semi-infinita como el de la
figura xx.8A). Ntese sin embargo que las relaciones (xx.18) y (xx.17) no dependen de las
dimensiones geomtricas de la muestra, sino solo de las transresistencias (diferencias de
potenciales), el espesor de la muestra y la resistividad del medio. Van der Pauw, usando
las tcnicas de transformacin conforme,
6,7
prob que esta expresin es vlida para
cualquier regin plana en forma de disco, como la que se muestra en la figura xx.8B).
Esta expresin es de mucha utilidad prctica para determinar resistividades.

Un argumento heurstico que hace plausible estas relaciones se basa en el hecho que
siempre es posible, mediante una transformacin conforme, establecer una conexin
biunvoca entre un semi-plano como el ilustrado a la izquierda de la figura xx.8 y la
regin cerrada a la derecha de dicha figura. Como sabemos, una transformacin conforme
preserva la solucin de Laplace y las condiciones de borde para una regin bi-
dimensional. Por lo tanto es de esperar que las relaciones asociada al potencial, que vales
en el problema del semi-plano superior de la figura xx.8, sigan valiendo en la solucin
obtenida despus de la transformacin. Por lo tanto es razonable esperar que las relaciones
(xx.17) y (xx.18) sean vlidas para una regin plana compacta general.
7


Proyecto 1.- Determinacin de la resistividad de una muestra de
cobre o aluminio

Equipamiento recomendado: Muestras metlicas planas de Cu, Al, o algn otro metal
puro de inters. Dos multmetros, una fuente de tensin o corriente DC y otra AC.

Para este proyecto se requieren muestras de algunos metales puros ( 99% de pureza) de
modo de comparar fcilmente los valores medidos con los tabulados para el mismo
material. Construya un circuito similar al indicado en la figura xx.2.

Recorte la muestra de modo que se cumplan las hiptesis del mtodo desarrollado
para muestras planas.
Conecte los electrodos de inyeccin de corriente y de medicin de tensin
alineados y equidistantes.
Use una fuente de DC con una resistencia limitadora de corriente en serie, 50
@ 5 W puede ser adecuado, de este modo se podr hacer circular una corriente
de hasta 100 mA. Si la resistencia entre los puntos de medicin es de alguno m,
esperamos medir tensiones del orden de unas centenas de V. Por lo tanto elija el
rango apropiado en su multmetro para medir estas tensiones y las corrientes
correspondientes.
Vare el sentido de la corriente e investigue si la tensin medida cambie
significativamente. Explique sus resultados.
Conociendo el espesor de la muestra, determine el valor de la resistividad del
material y estime sus errores.
Discuta el grado de acuerdo encontrado con los valores de tablas
correspondientes.



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Proyecto 2.- Variacin de la resistencia de un alambre con la
frecuencia usando un Lock-in Amplifier

Equipamiento recomendado: Un alambre de cobre de 1 a 3 mm de dimetro y unos 30 a 40 cm
de largo. Un osciloscopio de dos canales de 20Mhz o ms rpido. Un generador de funciones y un
amplificador Lock-in

Este proyecto se pretende estudiar experimentalmente la variacin de la resistencia de un
alambre conductor por el que circula una corriente alterna de frecuencia variable.

Consideraciones tericas: Las ecuaciones de Maxwell para un medio material nos
permiten escribir la ecuacin de onda para medio conductor como:
8,9,10

0
2
2
0 0 0
2
=


t
E
K
t
E
E
r r
, (xx.20)
donde es conductividad del medio y K su constante dielctrica. Para el caso de campos
alternos de la forma:

) exp( ) ( ) , ( t j r E t r E = (xx.21)

las expresin (xx.20) se reduce a:
0 ) (
2
) (
2 2
2
=
|
|
.
|

\
|
+ + r E j
K 4
r E
r
2


(xx.22)
con

r 0
2
2

= en SI y

r
c
0
2
2
2
= en CGS. (xx.23)
En esta seccin usaremos 1 = j , para no confundir la unidad compleja con la
corriente. El parmetro tiene dimensiones de longitud y se conoce como longitud de
penetracin. En la ecuacin (xx.22), el primer trmino dentro del parntesis es
consecuencia de la corriente de desplazamiento, mientras que el segundo est relacionado
con las corrientes de conduccin. Si consideramos el caso cuasiestacionario, es decir el
caso en que las dimensiones del sistema de inters son tales que su longitud caracterstica
l es mucho menos que la longitud de onda del campo electromagntico, es decir:

l >> =

c 2
, (xx.24)

tenemos que el primer trmino dentro del parntesis de la ecuacin (xx.22), asociado con
la corriente de desplazamiento es despreciable frente al trmino asociado a la corriente de
conduccin, por lo tanto la expresin (xx.22) se reduce a:
0 ) (
2
) (
2
2
= + r E j r E

. (xx.25)
Usando la ecuacin constitutiva: E J = , donde J es la densidad de corriente, tenemos
que:
0 ) (
2
) (
2
2
= + r J j r J

. (xx.26)
Estas ecuaciones, junto a las condiciones de contorno:
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2 1 n n
B B = ,
2 2 1 1
/ /
r t r t
B B = (xx.27)
y
0
,
,
= =
conductor
conductor n
conductor n
J
E

, (xx.28)
donde los subndices t y n representan las componentes tangenciales y normales a la
superficie del metal. El subndice (2) hace referencia al material conductor y el subndice
(1) al aire o vaco. Las ecuaciones (xx.25) y (xx.26) son el punto de partida para encontrar
los campos electromagnticos en una gran cantidad de casos de inters. La expresin
(xx.28) est asociada al hecho que las corrientes, por continuidad, no puede tener
componente perpendicular al conductor, ya que al ser el medio circundante (aire o vaco)
no conductor (
1
=0), no hay corrientes en el mismo.
Para campos electromagnticos de frecuencias de 1 Mhz, la longitud de onda es 300m.
Por lo tanto para sistemas cuyas dimensiones son del orden del metro, la aproximacin
cuasiestacionaria es en general adecuada para campos de frecuencias iguales o menores
que algunos Mhz.
Consideremos un conductor cilndrico homogneo de radio a y longitud L>>a, por el que
circula una corriente:
t j
e I t i

=
0
) ( (xx.29)
En este caso suponemos el cilindro orientado en la direccin z como muestra la Figura
xx.8. De este modo, la densidad de corriente en el mismo tendr solo componente z, es
decir k r J J

) ( =
r
, donde suponemos que la componente z de la corriente puede tener
una dependencia en r, por la simetra del problema esta es la nica dependencia esperada,
ya que el problema tiene simetra cilndrica (a lo largo de z) .


Segn (xx.24), usando coordenadas cilndricas, J(r) satisface la ecuacin:

0 ) (
2
)) ( (
1
) (
2
) (
2 2
2
= + = + r J j r rJ
dr
d
r
r J j r J

. (xx.30)
o bien:
0 ) (
1
2
2
2
=
|
|
.
|

\
|
+ + r J k
dr
d
r dr
d
con
2
2
2
2
m j j k = =

(xx.31)
con:
=
0
2
m . y m j k
2 / 1
= (xx.32)
La solucin J(r)debe satisfacer la condicin:

=
=
=
a r
r
dr r r J I
0
2
0
) ( 2 . (xx.33)
La ecuacin (xx.31) es una ecuacin diferencial de Bessel cuya solucin, con la condicin
de ser regular en el origen es:
) ( ) (
0
kr J A r J = (xx.34)




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Figura xx.9. Alambre cilndrico alineado en la direccin del eje z.

Aplicando la condicin (xx.33) podemos determinar A, la solucin es:
8,9,10,11,12

A
m j
ma j aJ
I =
2 / 3
2 / 3
1
0
) ( 2
(xx.35)
de modo que:
) (
) ( 2
) (
2 / 1
0
2 / 3
1
0
mr j J
ma j J a
I
r J

(xx.36)

En el caso lmite de bajas frecuencias, o sea cuando vale a/<<1, se pude probar que:
(
(

+
|
.
|

\
|
+ ...
2
1 ) (
4

r
Constante r J . (xx.37)
En el limite de altas frecuencias tenemos (a/ >>1) y vale:
(

|
.
|

\
|

r
Exp Constante r J ) ( . (xx.38)
En ambos casos vemos que la corriente se incrementa a medida que nos acercamos a la
superficie (efecto piel). La distancia de penetracin esta dada precisamente por el
parmetro . A partir de estas relaciones es posible obtener la resistencia del alambre
como funcin de la frecuencia, el resultado para lmite de bajas frecuencias: a/<<1 es:
12

(
(

|
.
|

\
|
+ =
(

+ |
.
|

\
|

4
2 2
2
2 3
1
1
192
1 ) (

a
R
a
L
R
o
(xx.39)
y
(

|
.
|

\
|

134
1
8
) (
2 2
0

L
L (xx.40)
donde =
0
a
2
y L() es la componente imaginaria de la impedancia compleja asociada al
alambre conductor.
Una aproximacin mejor de R() se puede obtener tomando ms trminos del desarrollo
completo, un resultado til que extiende el de la expresin (xx.39) es:
11
r
i
y
x
z
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| |

+ +
< < +

+
=
10 si
64
3
4
1
10 1.5 si 277 . 0 997 . 0
1 si
3
1
) (
4

o
R R
, (xx.41)
con =a/2 o bien 4
0
2 2

r
a = .

















Figura xx.10. Circuito para determinar la variacin de la resistencia compleja de un alambre
conductor

Experimento:
Usando el circuito descripto en la Figura xx.10, estudie experimentalmente la
variacin de la impedancia compleja Z()=R()+jL() en funcin de la frecuencia
aplicada.
Construya un grfico del R() , (R()R
0
)/R
0
y L() como funcin de la frecuencia
en escala lineal y logartmica. En los mismos grficos incluya las predicciones del
modelo (xx.39), (xx.40) y (xx.41).
Qu puede concluir respecto de la bondad del modelo propuesto? Discuta el
comportamiento del modelo para bajas (a/<<1) y altas frecuencias (a/ >1). Cmo
explica cualitativamente el comportamiento a altas frecuencias?
Bibliografa

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Technical Journal, Pag.711-718, may 1958.
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technique Am.J. Phys. 72(2) 149-153, 2004
Cilindro de
cobre
Lock-in amplifier
a b
R
Generador de
Funciones
Cables de
contacto
retorcidos
Input
Ref
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