PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

w. 8 Bramki logiczne
1. Cel wiczenia

Celem wiczenia jest zapoznanie si z podstawowymi bramkami logicznymi, poznanie ich rodzajw oraz najwaniejszych parametrw opisujcych ich wasnoci elektryczne. Nastpnym etapem jest zapoznanie si z zastosowaniem bramek do budowy cyfrowych ukadw kombinacyjnych oraz minimalizacja funkcji logicznych.

2.

Wymagane informacje

Sygnay cyfrowe, stany logiczne, rodzaje bramek logicznych i zasada ich dziaania.

3.

Wprowadzenie teoretyczne

Bramki logiczne stanowi podstawowe elementy w elektronice cyfrowej. Za ich pomoc moliwe jest praktyczne realizowanie bardziej skomplikowanych funkcji logicznych. Podstawowe funkcje logiczne to: - negacja (zaprzeczenie - NOT), - alternatywa (suma - OR), - koniunkcja (iloczyn - AND). Rzeczywiste bramki logiczne maj skoczony czas reakcji. Oznacza to, e na wyjciu ukadu odpowied nie pojawi si od razu, lecz po pewnym czasie. Konieczne jest wic zdefiniowanie kilku przedziaw czasu charakteryzujcych dziaanie danej bramki: - tP czas propagacji, okrela odstp czasu pomidzy pojawieniem si wymuszenia na wejciu bramki a pojawieniem si odpowiedzi na jej wyjciu (czasem rozrnia si czas propagacji przy zmianie ze stanu niskiego na wysoki tPLH i na odwrt tPHL), - tR czas narastania, okrela odstp czasu pomidzy zmian stanu na wyjciu ukadu ze stanu niskiego na wysoki, - tF czas opadania, okrela odstp czasu pomidzy zmian stanu na wyjciu ukadu ze stanu wysokiego na niski. Charakterystyczne czasy dla przykadowej bramki zaznaczono na Rys.1.

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH

STRONA 1

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

Wejcie

Wyjcie

tR tF tPLH tPHL Rys.1. Definicja czasw propagacji, narastania i opadania.

4.

Wykonanie wiczenia

4.1. Badanie dziaania inwertera Ukad z Rys.2. suy do zbadania dziaania inwertera (np. ukadu 7404N). Przecznik na wejciu pozwala na zmian stanu wejcia bramki na wysoki (zasilanie) lub niski (masa). Diody pozwalaj na obserwacj wyjcia bramki. wiecenie diody oznacza stan wysoki (1), natomiast jego brak stan niski (0).

Rys.2. Ukad do badania inwertera.

Zmieniajc stan wejcia i obserwujc zachowanie wyjcia naley uzupeni tabel analogiczn do poniszej i umieci j w sprawozdaniu. Wejcie Wyjcie 0 1 Naley wyjani jak funkcj logiczn realizuje badana bramka. 4.2. Badanie czasu propagacji inwertera. W celu pomiaru czasu propagacji inwertera naley zmodyfikowa poprzedni ukad wg Rys.3. Generator funkcyjny naley ustawi na generacj fali
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH STRONA 2

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

prostoktnej o czstotliwoci 5 MHZ, amplitudzie 2,5 V, skadowej staej 2,5 V i wypenieniu 50%. Po uruchomieniu symulacji naley na oscyloskopie obserwowa zachowanie ukadu i zmierzy czasy propagacji tPLH i tPHL. Wynik obserwacji zamieci w sprawozdaniu.

Rys.3. Ukad do badania czasu propagacji inwertera.

4.3. Pomiar charakterystyki przejciowej inwertera W tej czci wiczenia naley wykorzysta schemat z poprzedniego punktu. W celu dokonania pomiaru charakterystyki przejciowej naley jedynie zmieni ustawienia generatora i oscyloskopu. Naley przeczy generator w tryb generacji fali trjktnej ustawiajc czstotliwo na 1 kHz oraz amplitud i offset na 2,5 V. Oscyloskop naley przeczy w tryb pracy B/A oraz tak dobra wzmocnienia kanau A i B aby zaobserwowa dan charakterystyk (wzmocnienia obu kanaw powinny by takie same). Zaobserwowan charakterystyk naley umieci w sprawozdaniu wyjaniajc jak naley interpretowa jej ksztat. 4.4. Badanie dziaania bramki AND. Wykorzystujc ukad pomiarowy z pierwszej czci wiczenia naley zbudowa ukad wg Rys.4 z wykorzystaniem bramki AND (np. 7408N). Naley skonstruowa dla tej bramki tabel analogiczn do tej z punktu 4.1 a nastpnie zmieniajc stan przecznikw i obserwujc diody wypeni j i zamieci w sprawozdaniu. Naley rwnie wyjani jak funkcj logiczn realizuje ta bramka.

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH

STRONA 3

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

Rys.4. Ukad do badania bramki AND.

4.5. Badanie bramki OR Naley skonstruowa ukad wg Rys.5 z wykorzystaniem bramki OR (np. 7432N) i wykona czynnoci pomiarowe analogiczne do poprzedniego punktu.

Rys.5. Ukad do badania bramki OR.

4.6. Badanie bramki NAND Naley skonstruowa ukad wg Rys.6 z wykorzystaniem bramki NAND (np. 7400N) i wykona czynnoci pomiarowe analogiczne do poprzedniego punktu.

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH

STRONA 4

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

Rys.6. Ukad do badania bramki NAND.

4.7. Badanie bramki NOR Naley skonstruowa ukad wg Rys.7 z wykorzystaniem bramki NOR (np. 7402N) i wykona czynnoci pomiarowe analogiczne do poprzedniego punktu.

Rys.7. Ukad do badania bramki NOR.

4.8. Badanie czasw narastania dla inwertera CMOS Bramki logiczne w zalenoci od technologii wytwarzania budowane s z rnych rodzajw tranzystorw. Powszechnie stosowan obecnie technologi jest technologia CMOS wykorzystujca unipolarne tranzystory typu MOSFET posiadajce trzy kocwki: rdo (S), bramk (G) i dren (D). Dla uproszczenia mona je potraktowa jako klucze wczone przewodz prd (midzy drenem
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH STRONA 5

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

a rdem), wyczone nie. Istniej dwa rodzaje tego typu tranzystorw (Rys. 8). Tranzystor NMOS przewodzi prd z drenu do rda, gdy na bramk poda si wysokie napicie, natomiast tranzystor PMOS gdy niskie.
NMOS PMOS

Rys.8. Symbole tranzystorw NMOS i PMOS.

W celu wykonania tej czci wiczenia naley zbudowa inwerter przedstawiony na Rys. 9. Pozwoli to na zaobserwowanie zjawisk wystpujcych w rzeczywistych (nieidealnych) bramkach logicznych.

Rys.9. Schemat do badania inwertera CMOS.

Generator funkcyjny XFG1 naley przeczy w tryb generacji przebiegu prostoktnego o czstotliwoci 100 MHz, amplitudzie 5 V i offsecie 5 V. Zmieni czas narastania i opadania sygnau z generatora (rise/fall time) na warto 100 ps. Tak dobra nastawy oscyloskopu, aby na ekranie zaobserwowa okoo dwa okresy przebiegu wejciowego i wyjciowego (pozwoli to na dokadniejszy pomiar czasw). Za pomoc oscyloskopu (wykorzysta kursory) naley zmierzy czasy opnie sygnau wyjciowego wzgldem wejciowego w przypadku zmiany stanu wejciowego z 0 na 1 i z 1 na 0.

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH

STRONA 6

PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

W.8. BRAMKI LOGICZNE

W sprawozdaniu naley zamieci wyniki pomiarw czasw opnie oraz oscylogramy wykorzystane do tych pomiarw. 4.9. Badanie bramki EXOR zadanie projektowe Naley za pomoc poznanych bramek logicznych zrealizowa bramk EXOR realizujc funkcj:

Y = AB + A B
Nastpnie naley sporzdzi tabel analogiczn jak w poprzednich punktach i zaproponowa zastosowanie takiej funkcji.

5.

Opracowanie wynikw
W sprawozdaniu z wiczenia powinny si znale: schematy badanych ukadw, zebrane przebiegi czasowe, zebrane tabele prawdy badanych bramek, wnioski.

6.
[1] [2]

Literatura
U. Tietze, Ch. Schenk Ukady pprzewodnikowe, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1996, Rozdzia 9.1-9.3 (s. 215-224) P. Horowitz, W. Hill Sztuka elektroniki. Cz 2., Wydawnictwa Komunikacji i cznoci, Warszawa 1995, Rozdziay 8.01-8.07 (s. 11-23)

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH

STRONA 7