ndices de Miller Notacin empleada para localizar direcciones y planos en una celda unitaria

Coordenadas Celda Unitaria : se pueden localizar puntos en una celda estableciendo un sistema de coordenadas, con un eje 0,0,0 que sirva de referencia. Un punto cualquiera se designa (x,y,z).

ndices de Miller: direcciones cristalogrficas

Direcin cristalogrfica: vector que une dos puntos de la red cristalina. Procedimento para determinacin de los ndices de Miller de una direcin cristalogrfica: Transladar el vector direccin de manera que pase por el origen del sistema de coordenadas. Determinar la proyeccin del vetor en cada uno de los tres ejes coordenados. Esas proyecciones deben ser medidas en terminos de los parmetros de red (a,b,c) Multiplicar o dividir esos tres nmeros por un fator comun, de tal forma tal que los tres nmeros resultantes sean los menores enteros posibles. Representar la direcin escriviendo los tres nmeros entre corchetes: [u v w].

Direcciones cristalogrficas : ejemplo

x
proyecciones en trminos de a,b y c proyecciones reducin a mnimos interos xa 1

y
1xb 1 2

z
0xc 0 0

notacin

[120]

Nota: una famlia de direcciones, por ejemplo [100], [100], [010], [010], [001] y [001] es representada por <100>

ndices de Miller: Planos Cristalogrficos

Determinacin de los ndices de Miller de un plano cristalogrfico:

Determinar los interceptos del plano con los ejes del sistema de coordenadas en trminos de los parmetros de red a,b y c. Si el plano pasa por el origen, se debe transladar el plano a una nueva posicin en el sistema de coordenadas. Obtener los recprocos de esos tres interceptos. Si el plano es paralelo a uno de los ejes, el intercepto se considera en el infinito y el su recproco ser cero. Representar los ndices de Miller en la forma ( h k l ) Nota: A veces es necesrio multiplicar o dividir esos tres recprocos por un factor comn, tal que los tres nmeros resultantes sean los menores enteros posibles.

Planos cristalogrficos

Nota: una famlia de planos, como por ejemplo (111), (111), (111), (111), (111), (111), (111) y (111) es representada por {111}

ndices de Miller para una celda HCP.

Los planos en esta celda se identifican con cuatro ndices en vez de tres, llamados ndices MillerBravais, y representados por las letras h, k, i, l encerrados entre parntesis (h, k, i, l). Estos ndices hexagonales estn basados en un sistema coordenado de cuatro ejes, tres ejes bsicos a1,a2,a3 que forman 120 entre s, el cuarto eje o eje c es el eje vertical y est localizado en el centro de la celdilla unidad. Los ndices de esta celda se obtienen igual de forma que para las celdas cbicas, donde los recprocos de las intersecciones que un plano determina con los ejes a1,a2,a3 proporcionan los ndices h, k e i mientras que el reciproco de la interseccin con el eje c da el ndice l.

Espaciado interplanar

En ocasiones es til conocer la distancia interplanar de una misma familia de planos, esta distancia se halla as: Estructuras cbicas.
d= a h2 + k 2 + l 2

1 4 h 2 + hk + k 2 l 2 + 2 Estructura hexagonal. 2 = 2 c d 3 a

SISTEMAS DE DESLIZAMIENTO Un sistema de deslizamiento es la combinacin de un plano y una direccin que se halla sobre el plano a lo largo del cual se produce el deslizamiento. El Mecanismo de deslizamiento puede definirse como el movimiento paralelo de dos regiones cristalinas adyacentes, una respecto a la otra, a travs de algn plano (o planos). Los cristales FCC poseen 12 sistemas de deslizamiento debido a que tienen cuatro grupos {111} y con tres direcciones <110> en cada una.

Estructura

Direccin de Deslizamiento <110>

Planos de Deslizamiento {111}

Ejemplos

FCC

Cu, Al, Ni, Pb, Au, Ag, Fe

BCC

<111>

{110}

Fe, W, Mo, Latn, Nb, Ta

BCC

<111>

{210}

Fe, Mo, W, Na

BCC

<111>

{321}

Fe, K

HCP

<1120> <1120>

(0001) {1010}

Cd, Zn, Mg, Ti, Be, Co Ti, Mg, Zr, Be

HCP

HCP

<1120>

{1011}

Ti, Mg

Observaciones generales de gran importancia en sistemas de deslizamiento:

1.Las direcciones de deslizamiento se presentan siempre en la direccin de empaquetamiento compacto. Existen excepciones, por ejemplo, mercurio slido. 2.El deslizamiento ocurre usualmente sobre la mayora de los planos compactos. Esta observacin esta relacionada con el hecho de que los planos empaquetados ms densamente tambin son el grupo de planos (hkl) ocupados, que tienen el espaciamiento ms amplio. 3.El deslizamiento se produce primero sobre el sistema de deslizamiento que tiene el mayor esfuerzo de corte a lo largo de su direccin de deslizamiento.

Definiciones
Polimorfismo: fenmeno en el cual un slido (metlico o no metlico) puede presentar ms de una estructura cristalina, dependiendo de la temperatura y de la presin (por ejemplo, Al2O3 como alumina- y alumina-). Alotropa: polimorfismo en elementos puros. ejemplo: el diamante y el grafito son constitudos por atmos de carbono organizados en diferentes estructuras cristalinas. Anisotropa: Cuando las propiedades de un material dependen de la direcin en que son medidas. Isotropa: Cuando las propiedades de un material NO dependen de la direcin en que son medidas.

Diamante

Grafito

Definiciones de densidad

1. Densidad volumtrica. Relacin entre la masa de un cuerpo con respecto a su volumen. Basados en una celda unitaria, la densidad de un material puede ser hallada como: No tomos por celda x peso molecular = volumen de la celda x No Avogradro 2. Densidad Planar. Relacin entre el numero de tomos completos contenidos en un plano y el rea del plano

p =

No tomos por plano cristalino rea del plano

3. Densidad Lineal. Relacin entre el numero de tomos completos contenidos en una cierta direccin y la longitud de la direccin

p =

No tomos contenidos en una direccin cristalina Longitud de la direccin

Materiales monocristalinos y policristalinos Materiales monocristalinos Monocristalinos: presentam la misma estructura cristalina en toda la extensin del material sin interrupciones.

Materiales policristalinos

Policristalinos: constitudos de varios cristales o granos.

Material policristalino

Los lmites de grano son regiones que separan cristales de diferentes orientaciones en un material policristalino.

Difraccin de rayos X
El fenmeno de difracin ocurre cuando una onda encuentra una serie de obstculos espaciados regularmente, que: (1) son capaces de dispersar la onda y (2) el espaciado entre ellos es comparable en magnitud a la longitud de onda.

Difraccin de rayos X

Interferencia construtiva

Interferencia destrutiva

Difraccin de rayos X

n = SQ + QT

n = 2d hkl sen

n = d hkl sen + d hkl sen = 2d hkl sen

(Ley de Bragg)

Difratograma esquemtico de un slido cristalino.

Grfico de intensidad de rayos X en funcin de la variacin de 2 para un slido amorfo o para un lquido.

Grfico de intensidade de rayos X en funcin de la variacin de 2 para un gas monoatmico.

Reglas para la determinacin de los planos de difraccin hkl en cristales cbicos Redes de Bravais BCC CFC Reflexiones presentes (h+k+l)= pares (h+k+l) todas pares o todas impares Reflexiones ausentes (h+k+l)= impares (h+k+l) no todas pares ni todas impares

2 2 2 sen 2 A hA + k A + k A = 2 2 2 2 sen B hB + k B + k B

Donde A y B son dos ngulos de difraccin asociados con los planos principales de difraccin {hAkAlA} y {hBkBlB} respectivamente
sen 2 A = 0.75 2 sen B

sen A = 0.5 2 sen B

2

BCC

CFC