Dissertacao - Pedro Xavier - Analisador de Qualidade de Energia Baseado em DSP v2.0

Analisador da Qualidade de Energia Baseado em
DSP

PEDRO EDUARDO DE ALMEIDA XAVIER

Dissertao para obteno do Grau de Mestre em
ENGENHARIA ELECTRNICA

Jri
Presidente: Prof. Maria Beatriz Mendes Batalha Vieira Vieira Borges
Orientador: Prof. Pedro Miguel Pinto Ramos
Vogal: Prof. Gil Domingos Marques

Abril 2011

i
Agradecimentos
As minhas primeiras palavras de agradecimento so para a Marta, para a minha me, para o
meu pai e para o meu irmo, sendo que so as figuras de maior importncia na minha vida e a quem
agradeo pela infinita pacincia, apoio incondicional e disponibilidade fsica, emocional e econmica
que me permitiu levar o curso e esta dissertao avante.
Tambm gostaria de agradecer ao professor Pedro Ramos pela oportunidade que me foi dada
e pela sua orientao, pacincia e dedicao a este trabalho. O seu imenso conhecimento e
capacidade de motivar foram extremamente teis no evoluir deste projecto, assim como o seu sentido
de humor, mesmo nos momentos menos bons. Sinceramente no esperava ter melhor orientao.
Uma palavra de agradecimento a Tom Radil, do Instituto de Telecomunicaes, pela sua
disponibilidade em ajudar em algumas situaes referentes ao uso do processador digital de sinal e
tambm a Joo Pina dos Santos, do Instituto Superior Tcnico Taguspark, pela sua imensa
disponibilidade, pacincia e conselhos tcnicos, sem os quais este trabalho no teria avanado to
rapidamente.
Tambm gostaria deixar uma palavra aos meus amigos, por todo o apoio, amizade e conselhos
que me deram relativamente elaborao de uma tese de mestrado e tambm aos meus amigos e
colegas de curso Helena Rosa, Ins Sousa, Nuno Santos, Pedro Agulha, Joo Cavaleiro e Lus
Rosado pelo conhecimento extra, amizade, boa disposio e por serem os melhores colegas de
sempre.
Um profundo Obrigado a todos os mencionados e a todos os restantes prximos de mim que,
na sua forma singular, contriburam para o desenvolvimento desta dissertao.

ii

iii
Resumo
Nos ltimos anos tm surgido cada vez mais desafios na rea da energia para os produtores,
distribuidores e consumidores de energia elctrica. A crescente preocupao com o meio ambiente,
com a poupana energtica e, sobretudo, com a poupana monetria, criou nos consumidores de
energia a necessidade de novos sistemas modernos, eficientes e inteligentes, que visassem a
melhoria da qualidade de energia e da sua gesto.
A monitorizao da rede elctrica permite aos fornecedores detectar anomalias e,
posteriormente, determinar as suas causas. Assim, prestado um melhor servio de energia
comunidade, poupando inmeros prejuzos recorrentes dos efeitos das perturbaes. Entre estes
encontram-se prejuzos materiais avolumados, deteriorao do tempo de vida dos equipamentos,
perda de informao, etc.
O objectivo desta dissertao passa por desenvolver, implementar e caracterizar um dispositivo
para monitorizao de energia na rede elctrica monofsica em baixa tenso. O prottipo
desenvolvido teve por base um kit de desenvolvimento com um processador digital de sinal (DSP) e
uma placa de circuito impresso com circuitos adicionais. No DSP foram programados os algoritmos
necessrios para deteco e classificao de vrias perturbaes que costumam ocorrer na rede
elctrica. Foi tambm implementada uma fonte de alimentao para alimentar todo o sistema.

Palavras-Chave:
Monitorizao da qualidade de energia, Processador de sinal digital, Deteco e
classificao de perturbaes, Operao morfolgica de fecho, Adaptao de sinusides.
iv
Abstract
In recent years, multiple challenges appeared in the area of energy for producers, electricity
distributors and consumers. The growing concern with environment, energy and financial savings lead
energy consumers to the urgent need for modern, efficient and intelligent systems to monitor the
electrical grid and improve power quality and its management.
A network monitoring system enables providers to detect electrical anomalies (and their causes)
and thus provide a better energy service to the community, saving countless recurring losses from the
effects of disturbances. Among these are material damages, deterioration of the lifetime of the
equipment, loss of information, etc.
The aim of this thesis is to develop, implement and characterize a device for monitoring the grid
in a low voltage single-phase power system. The prototype was developed based on a development
kit with a digital signal processor (DSP) and printed circuit boards with additional circuitry. The
algorithms required for detection and classification of some disturbances were programmed in the
DSP. A power supply was also implemented to feed this prototype.

Keywords:
Power quality monitoring, Digital signal processor, Disturbance detection and classification,
Closing morphological operation, Sine-fitting.
v
ndice
Lista de Figuras ................................................................................................................................... vii
Lista de Tabelas ..................................................................................................................................... x
Lista de Acrnimos .............................................................................................................................. xi
Captulo 1 - Introduo ......................................................................................................................... 1
1.1 Motivao ................................................................................................................................................ 1
1.2 Objectivos ................................................................................................................................................ 2
1.3 Plataforma de Desenvolvimento SHARC ADSP-21369........................................................................... 3
1.4 Contribuies Originais ............................................................................................................................ 4
1.5 Estrutura do Relatrio .............................................................................................................................. 4
Captulo 2 - Qualidade de Energia ....................................................................................................... 7
2.1 Factores para a Falta de Qualidade na Energia Elctrica ....................................................................... 8
2.1.1 Degradao introduzida pelas linhas de transmisso ............................................................................................ 8
2.1.2 Degradao introduzida pelos sistemas de distribuio ......................................................................................... 9
2.1.3 Degradao introduzida pelas cargas .................................................................................................................... 9
2.2 Perturbaes na Qualidade de Energia ................................................................................................. 10
2.2.1 Transitrios (transients) ....................................................................................................................................... 10
2.2.2 Variaes de RMS: interrupes (interruptions) ................................................................................................... 11
2.2.3 Variaes de RMS: sobretenses e subtenses.................................................................................................. 12
2.2.4 Distoro das formas de onda ............................................................................................................................. 13
2.3 Prejuzos Resultantes da Falta de Qualidade de Energia ..................................................................... 15
2.3.1 Prejuzos devido a distores harmnicas ........................................................................................................... 16
2.3.2 Prejuzos devido a apages ................................................................................................................................ 16
2.3.3 Prejuzos devido a cavas ..................................................................................................................................... 17
2.3.4 Prejuzos devido a transitrios ............................................................................................................................. 18
2.3.5 Contabilizao de custos ..................................................................................................................................... 18
2.3.6 Resumo ............................................................................................................................................................... 19
2.4 Requisitos Principais da Norma EN 50160 ............................................................................................ 19
2.5 Qualidade de Servio ............................................................................................................................ 21
2.6 Estado da Arte ....................................................................................................................................... 22
2.6.1 Mtodos para a deteco de perturbaes .......................................................................................................... 22
2.6.2 Uma breve apresentao do mtodo usado neste trabalho ................................................................................. 23
2.6.3 Alguns analisadores da qualidade de energia no mercado .................................................................................. 24
Captulo 3 - Arquitectura do Sistema ................................................................................................ 25
3.1 Funcionamento Geral ............................................................................................................................ 25
3.2 Sensor de Tenso Baseado no Efeito de Hall ....................................................................................... 26
3.2.1 Efeito de Hall ....................................................................................................................................................... 27
3.2.2 Sensor de tenso LEM LV 25-P e dimensionamento ........................................................................................... 27
3.2.3 Resultados observados ....................................................................................................................................... 29
3.3 Circuito de Condicionamento de Sinal ................................................................................................... 30
3.3.1 Dimensionamento das resistncias ..................................................................................................................... 31
3.3.2 Resultados observados ....................................................................................................................................... 32
3.4 Conversor Analgico Digital (ADC)........................................................................................................ 32
3.4.1 Esquema elctrico ............................................................................................................................................... 33
3.4.2 Modo de funcionamento ...................................................................................................................................... 35
3.5 Memria Externa ................................................................................................................................... 36
vi
3.6 Relgio em Tempo Real ........................................................................................................................ 37
3.7 DSP ....................................................................................................................................................... 37
3.8 Comunicao ......................................................................................................................................... 38
3.9 Fonte de Alimentao Redundante ....................................................................................................... 40
3.9.1 Mdulo de gesto de energia .............................................................................................................................. 40
3.9.2 Conversores DC/DC e reguladores de tenso ..................................................................................................... 41
3.10 Montagem do Sistema ........................................................................................................................... 41
Captulo 4 - Algoritmos ....................................................................................................................... 43
4.1 Mtodo Geral para Detectar e Classificar as Perturbaes ................................................................... 44
4.2 Aquisio e Normalizao das Amostras Adquiridas ............................................................................ 45
4.2.1 Amostragem do sinal: configurao dos sinais de controlo .................................................................................. 45
4.2.2 Normalizao do sinal adquirido .......................................................................................................................... 47
4.3 Algoritmos para a Determinao da Frequncia ................................................................................... 49
4.3.1 Transformada Discreta de Fourier (DFT) ............................................................................................................. 49
4.3.2 Transformada Discreta de Fourier Interpolada (IpDFT) ....................................................................................... 50
4.3.3 Teste da FFT e da IpDFT .................................................................................................................................... 52
4.4 Algoritmos de Adaptao de Sinusides ............................................................................................... 54
4.4.1 Algoritmo de 3 parmetros modificado ................................................................................................................ 54
4.4.2 Algoritmo de 4-parmetros modificado ................................................................................................................ 56
4.4.3 Teste aos algoritmos de adaptao de sinusides .............................................................................................. 59
4.5 Processamento: Mtodo da Operao de Fecho .................................................................................. 60
4.5.1 Dilatao ............................................................................................................................................................. 61
4.5.2 Eroso ................................................................................................................................................................. 64
4.5.3 Teste ao algoritmo de fecho ................................................................................................................................ 64
4.6 Processamento: Mtodo do Valor Eficaz ............................................................................................... 66
4.7 Deteco e Classificao de Perturbaes ........................................................................................... 67
4.7.1 Classificao de transitrios e distores ............................................................................................................ 67
4.7.2 Classificao de interrupes, subtenses e sobretenses ................................................................................. 70
Captulo 5 - Testes e Resultados ....................................................................................................... 73
5.1 Fonte de Alimentao ............................................................................................................................ 73
5.2 Calibrao ............................................................................................................................................. 76
5.3 Acesso Memria Externa .................................................................................................................... 79
5.4 Testes e Resultados .............................................................................................................................. 79
5.5 Interface Grfica para o Utilizador ......................................................................................................... 85
Captulo 6 - Concluses e Trabalho Futuro ...................................................................................... 89
6.1 Concluses ............................................................................................................................................ 89
6.2 Trabalho Futuro ..................................................................................................................................... 91
Bibliografia ........................................................................................................................................... 95
Anexo A - Desenvolvimento em Hardware .......................................................................................... I
A.1 Sensor de Tenso e Interface com a Rede Elctrica ............................................................................... I
A.2 Condicionamento e Aquisio de Sinal, SDRAM e RTC ........................................................................ III
A.3 Fonte de Alimentao Redundante ...................................................................................................... VII
Anexo B - Sine-Fitting Multiharmnico .............................................................................................. XI
Anexo C - Lista de Material ..............................................................................................................XVII

vii
Lista de Figuras
Figura 1 Linhas de transmisso de energia elctrica a 400 kV. ........................................................................... 9
Figura 2 Exemplo da corrente resultante da queda de um raio que poder dar origem a transitrios do
tipo impulsivo (fonte [8]). .................................................................................................................... 11
Figura 3 Exemplo de um transitrio oscilatrio na corrente devido comutao de condensadores (fonte
[8])...................................................................................................................................................... 11
Figura 4 Exemplo de uma interrupo (fonte [10]). ............................................................................................ 12
Figura 5 Exemplos de uma sobretenso de curta durao (a) e de uma cava (b) devido a falha SLG
(fonte [8]). .......................................................................................................................................... 13
Figura 6 Exemplo de uma distoro da forma de onda devido presena de harmnicas (fonte [10]). ............ 14
Figura 7 Exemplo de notching de tenso (fonte [8]). .......................................................................................... 15
Figura 8 Curva ITIC com as tolerncias permitidas para a flutuao nos nveis de tenso disponibilizada
pelas redes de distribuio (fonte [7]). ............................................................................................... 17
Figura 9 O analisador FLUKE 430 (a) e o analisador PQ1 (b). .......................................................................... 24
Figura 10 Diagrama de blocos representativo do analisador de qualidade de energia e fonte de
alimentao. ...................................................................................................................................... 26
Figura 11 Ilustrao representativa do Efeito de Hall (fonte [39]). ...................................................................... 27
Figura 12 Transdutor de tenso LEM
LV 25-P (fonte[40]). ............................................................................... 28

Figura 13 Esquema elctrico com o sensor de tenso e ligao rede elctrica. ............................................. 28
Figura 14 Forma de onda da tenso sada do sensor LV 25-P (na figura direita em escala maior). ............ 30
Figura 15 Esquema elctrico do circuito condicionador do sinal proveniente do sensor de tenso. .................. 30
Figura 16 Formas de onda medidas entrada do circuito condicionador de sinal (CH1) e sua sada
(CH2). ................................................................................................................................................ 32
Figura 17 Diagrama ilustrativo do AD7980 com as respectivas entradas e sada. ............................................. 33
Figura 18 Esquema elctrico com ADC, componentes e ligaes ao DSP. ....................................................... 33
Figura 19 Funo de Transferncia Ideal do ADC. ............................................................................................ 34
Figura 20 Funcionamento com 3 terminais, em modo CS, com SDI = HIGH (fonte [43]). .................................. 35
Figura 21 Ligaes entre o DSP e a memria externa. ...................................................................................... 36
Figura 22 Ligaes entre o RTC M41T81S e o DSP. ......................................................................................... 37
Figura 23 Diagrama de blocos simplificado e ilustrativo da relao entre o sinal de relgio gerado por um
cristal e os restantes sinais de relgio usados pelo processador, perifricos e memria. ................. 38
Figura 24 Diagrama de blocos da fonte de alimentao redundante. ................................................................ 40
Figura 25 Diagrama de blocos ilustrativo dos conversores e reguladores de tenso que constituem a
fonte de alimentao e respectivas descries e modo de aplicao. .............................................. 41
Figura 26 Montagem do prottipo ilustrado pelo diagrama da Figura 10. .......................................................... 42
Figura 27 Diagrama de blocos ilustrativo do processo de deteco e classificao de perturbaes. ............... 44
Figura 28 Sinais de relgio gerados para o ADC. .............................................................................................. 46
Figura 29 Exemplo de sinais gerados pelo DSP (a) para controlo do ADC e a resposta deste em (b). ............. 47
Figura 30 Sinal depois de adquirido pelo ADC e antes de ser normalizado. ...................................................... 47
Figura 31 Sinal entrada do ADC. ..................................................................................................................... 48
Figura 32 Sinal (normalizado) com a mesma amplitude que o sinal gerado. ..................................................... 48
viii
Figura 33 As quatro situaes possveis para determinar o maior vizinho. ........................................................ 51
Figura 34 Espectro da DFT do sinal de tenso amostrado. ............................................................................... 52
Figura 35 Determinao da frequncia atravs dos algoritmos de FFT e IpDFT, durante 60 s. ........................ 53
Figura 36 Variao da frequncia (pormenor) num intervalo de 10 s. ................................................................ 53
Figura 37 Distribuio dos pontos de frequncia ao longo de 60 s, valor mdio e desvio padro. .................... 54
Figura 38 Fluxograma demonstrativo do algoritmo de 3 parmetros modificado. .............................................. 56
Figura 39 Fluxograma ilustrativo do algoritmo de 4 parmetros modificado. ..................................................... 58
Figura 40 Diagrama de blocos ilustrativo do algoritmo de fecho. ....................................................................... 61
Figura 41 Criao de n vectores de resduos Data, de dimenso SLENGHT. ........................................................ 61
Figura 42 As duas primeiras iteraes da construo do vector h quando Data1 processado. ....................... 62
Figura 43 As duas primeiras iteraes da construo do vector g. .................................................................... 62
Figura 44 As duas primeiras e a ltima iterao da equao (63). ..................................................................... 63
Figura 45 Movimentao do mximo do vector g para vector outDATA. ............................................................... 63
Figura 46 Sinal adquirido, a vermelho, e valor absoluto dos resduos (|u|), a azul. ........................................... 64
Figura 47 Valor absoluto dos resduos (pormenor). ........................................................................................... 64
Figura 48 Resduos em valor absoluto (azul) e resultado da operao de fecho, uMORPH, com
SLENGHT = 1280. .................................................................................................................................. 65
Figura 49 Resduos em valor absoluto (azul) e resultado da operao de fecho, uMORPH, com
SLENGHT = 102. .................................................................................................................................... 65
Figura 50 Exemplo do clculo RMS de meio em meio perodo durante 4 perodos. .......................................... 66
Figura 51 Diagrama de blocos ilustrativo do processo de deteco e classificao de perturbaes. ............... 67
Figura 52 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao das perturbaes: transitrios e
distores harmnicas ou distores inter-harmnicas. .................................................................... 68
Figura 53 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao de perturbaes: transitrios e distores
harmnicas ou distores inter-harmnicas (completo)..................................................................... 70
Figura 54 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao de perturbaes: interrupes,
sobretenses de curta e longa durao e subtenses de curta e longa durao. ............................. 70
Figura 55 Parmetros tpicos das perturbaes de curta e de longa durao. .................................................. 71
Figura 56 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do conversor DC-DC MAX1703. ............................. 74
Figura 57 - Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do inversor DC-DC TPS60401. ............................... 74
Figura 58 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador ADP1715-2,5V. .................................. 74
Figura 59 - Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador ADP1715-3,3V. ................................... 75
Figura 60 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (+15 V). ............................... 75
Figura 61 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (-15 V). ................................ 75
Figura 62 Esquema de ligaes para a calibrao do sensor de tenso. .......................................................... 76
Figura 63 Resultado do varrimento em tenso, de 1 V a 460 V, para frequncia constante igual a 50 Hz. ....... 76
Figura 64 Caracterstica medida e regresso linear estimada (tracejado). ........................................................ 77
Figura 65 Resultado do varrimento em frequncia, de 10 Hz a 100 kHz, para a tenso alternada eficaz
V = 15 V. ............................................................................................................................................ 78
Figura 66 Exemplo de uma interrupo detectada pelo analisador. ................................................................... 80
Figura 67 Exemplo de uma sobretenso de curta durao detectada pelo analisador. ..................................... 81
Figura 68 - Exemplo de uma subtenso de curta durao, ou cava, detectada pelo analisador. .......................... 82
Figura 69 Sinal com uma distoro harmnica no sinal de tenso ( esquerda) e os resduos ( direita). ........ 83
Figura 70 Pormenor da Figura 69. ...................................................................................................................... 83
Figura 71 Resduos (em valor absoluto) e invlucro resultante da operao de fecho. ..................................... 84
ix
Figura 72 Sinal com uma distoro harmnica no sinal de tenso ( esquerda) e os resduos ( direita). ........ 84
Figura 73 - Resduos (em valor absoluto) e invlucro resultante da operao de fecho. ...................................... 84
Figura 74 Transitrio impulsivo. .......................................................................................................................... 85
Figura 75 Painel frontal da interface grfica desenvolvida em LabVIEW
. ........................................................ 86
Figura 76 Campos em destaque do painel frontal. ............................................................................................. 86
Figura 77 Interface grfica avisando o utilizador de que tudo est a funcionar correctamente. ......................... 87
Figura 78 Abertura de um ficheiro no painel frontal. ........................................................................................... 88
Figura 79 Depois de aberto o ficheiro. ................................................................................................................ 88
Figura 80 Diagrama de blocos ilustrativo do analisador de qualidade de energia e proposta para trabalho
futuro.................................................................................................................................................. 92
Figura 81 Esquema elctrico do sensor de tenso, resistncias e conectores. .................................................... I
Figura 82 Vista do topo da placa de circuito impresso com o circuito da Figura 81 (A Conector com
fase e neutro; B Conector de alimentaes +15 V, -15 V e GND; C Sensor de tenso LEM
LV25-P; D Resistncia R0; E Resistncia RM; F Conector BNC (para interface com o
circuito de condicionamento de sinal). .................................................................................................. I
Figura 83 Vista da base da placa de circuito impresso com o circuito da Figura 81. ........................................... II
Figura 84 Vistas laterais da placa de circuito impresso com o circuito da Figura 81. ........................................... II
Figura 85 Circuito condicionador de sinal e aquisio do mesmo pelo ADC. ...................................................... III
Figura 86 Regulador de tenso ADR366. ............................................................................................................ III
Figura 87 Circuito elctrico do integrado M41T81S. ............................................................................................ IV
Figura 88 Esquema elctrico da memria SDRAM. ............................................................................................ IV
Figura 89 Vista do topo da PCB com: A memria SDRAM, B ADC, C RTC, D Ampop, E
Conectores de tenso contnua (alimentao), F Suporte para pilha e G Entrada BNC do
sinal proveniente da sada do sensor de tenso. ................................................................................. V
Figura 90 Footprint da placa de circuito impresso da Figura 89 (vista do topo). .................................................. V
Figura 91 - Footprint da placa de circuito impresso da Figura 89 (vista de base). .................................................. V
Figura 92 Fonte de alimentao redundante: o integrado bq24070 e respectivas ligaes elctricas ............... VII
Figura 93 Fonte de alimentao redundante: integrado MAX1703 e respectivas ligaes elctricas. .............. VIII
Figura 94 Fonte de alimentao redundante: integrado TPS60401 e respectivas ligaes elctricas. ............. VIII
Figura 95 Fonte de alimentao redundante: integrado MAX743 e respectivas ligaes elctricas. .................. IX
Figura 96 Fonte de alimentao redundante: integrados ADP1715 e respectivas ligaes elctricas. ............... IX
Figura 97 Fonte de alimentao redundante: LEDs e conectores. ...................................................................... IX
Figura 98 Vista da base da fonte de alimentao (A Circuito integrado BQ24070, outros elementos e
ligaes da Figura 92; B Circuito integrado MAX1703, outros elementos e ligaes da
Figura 93; C - Circuito integrado MAX743, outros elementos e ligaes da Figura 95; D, F
Circuito Integrado ADP1715, outros elementos e ligaes da Figura 96; E TPS60401 e
ligaes da Figura 94; G Resistncias e LEDS (Figura 97)). ............................................................ X
Figura 99 Vista do topo da fonte de alimentao redundante (A Pilha de Ies-Ltio; B - Conector para
adaptador AC/DC; C e D Sadas de tenso contnua). ..................................................................... X
Figura 100 Modo de preenchimento da matriz D
T
D............................................................................................ XII
Figura 101 Cpia dos valores calculados para a outra metade da matriz D
T
D. ................................................. XII
Figura 102 Organizao dos ndices da matriz D
T
D. ......................................................................................... XIII
Figura 103 Contedo das clulas da matriz D
T
D seguintes s posies na diagonal. ...................................... XIII
Figura 104 Contedo das posies da matriz nas linhas pares. ....................................................................... XIV
Figura 105 Contedo das posies da matriz nas linhas mpares. .................................................................... XV
x
Lista de Tabelas
Tabela 1 Comparao entre os requisitos da norma EN 50160 e as normas EMC EN 61000 (fonte [15]). ....... 20
Tabela 2 Valor individual das tenses harmnicas dadas em percentagem da tenso nominal do sistema
(fonte [15]). ........................................................................................................................................ 21
Tabela 3 Cdigo de sada para entradas de tenso ideais. ............................................................................... 35
Tabela 4 Gama de endereos e dimenso dos bancos de memria. ................................................................. 36
Tabela 5 Valores de tenso e corrente na entrada e na sada suportados pelo integrado BQ24070................. 41
Tabela 6 Categorias de perturbaes e os seus parmetros mais tpicos segundo [8]. ..................................... 43
Tabela 7 Parmetros necessrios para o clculo da frequncia e clculo da frequncia. ................................. 53
Tabela 8 Resposta do algoritmo de 3 parmetros modificado a vrios sinais de entrada. ................................. 59
Tabela 9 Resposta do algoritmo de 4 parmetros modificado a vrios sinais de entrada. ................................. 59
Tabela 10 Clculo do valor RMS para vrios sinais de entrada. ........................................................................ 66
Tabela 11 Valores de tenso da rede elctrica e respectiva correspondncia para unidades p.u. .................... 78
Tabela 12 Estado de carregamento da bateria indicado pelos LEDs de estado. ............................................... VII
Tabela 13 Componentes do circuito com o sensor de tenso (Anexo A.1). ..................................................... XVII
Tabela 14 Componentes do circuito com ADC, AMPOP, SDRAM e RTC (Anexo A.2). ................................... XVII
Tabela 15 Componentes da fonte de alimentao (Anexo A.3) ...................................................................... XVIII
Tabela 16 Soma dos totais das tabelas de componentes. .............................................................................. XVIII

xi
Lista de Acrnimos
AC Corrente Alternada (Alternating Current)
ADC Conversor Analgico Digital (Analog-to-Digital Converter)
AT Alta Tenso
BT Baixa Tenso
DC Corrente Contnua (Direct Current)
DFT Transformada Discreta de Fourier (Discrete Fourier Transform)
DMA Direct Memory Access
DPI Digital Peripheral Interface
DSP Processador de Sinal Digital (Digital Signal Processor)
EMC Compatibilidade Electromagntica (Electromagnetic Compability)
ERSE Entidade Reguladora dos Servios Energticos
ESR Equivalent Series Resistance
FAC Fonte de Alimentao Comutada
FFT Transformada Rpida de Fourier (Fast Fourier Transform)
f
s
Frequncia de Amostragem (Frequency Sampling)
FSR Full Scale Range
GPIB General Purpose Interface Bus
IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers
IpDFT Transformada Discreta de Fourier Interpolada (Interpolated Discrete Fourier Transform)
LSB Bit Menos Significativo (Least Significant Bit)
MAT Muito Alta Tenso
MSB Bit Mais Significativo (Most Significant Bit)
MT Mdia Tenso
PWM Modulao de Largura de Impulso (Pulse Width Modulation)
QoS Qualidade de Servio (Quality of Service)
RMS Valor Eficaz (Root Mean Square)
RS232 Recommended Standard 232
RTC Real-Time Clock
SHARC Super Harvard Architecture Single-Chip Computer
SPI Serial Peripheral Interface
SPORT Serial Port
THD Distoro Harmnica Total (Total Harmonic Distortion)
TDW Transformada Discreta de Wavelet
TW Transformada de Wavelet
UART Universal Asynchronous Receiver Transmitter
USB Universal Serial Bus

xii

1
Captulo 1 -
Introduo

Neste captulo so apresentados os objectivos para esta dissertao assim como a motivao
e o contexto que a originou. ainda feita uma breve apresentao ao processador escolhido no qual
foram implementados os algoritmos desenvolvidos neste trabalho. Por ltimo, apresentada a
estrutura deste relatrio.
1.1 Motivao
Os produtores e distribuidores de energia elctrica enfrentam actualmente novos desafios na
rea da energia. Muitos desses desafios tm provenincia na crescente preocupao ambiental e
tambm nas novas exigncias dos consumidores relativamente poupana energtica. No entanto, a
maior e mais importante preocupao, tambm comum ao utilizador da rede elctrica, reside no bom
funcionamento dos equipamentos elctricos, quer sejam de grande porte (industriais), quer sejam
aqueles que ficam nas habitaes. Para que os equipamentos continuem a funcionar correctamente,
os distribuidores de energia tm de fornecer energia com qualidade, uma vez que esta deve cumprir
os requisitos mnimos de diversas normas nacionais e internacionais. A falta de qualidade de energia
pode trazer inmeros prejuzos sendo o mais grave a danificao permanente dos equipamentos.
O aumento do uso de equipamento electrnico que causa e , ao mesmo tempo, susceptvel
aos mais variados fenmenos electromagnticos, levou ao incremento do interesse na qualidade de
energia por parte dos fornecedores da rede elctrica e pelos fabricantes de equipamento elctrico.
expresso qualidade de energia (do ingls power quality) ou, mais correctamente, falta de
qualidade de energia, est associada uma enorme variedade de fenmenos electromagnticos que
caracterizam a tenso e a corrente num determinado instante de tempo. Devido recente
modernizao da rede elctrica, principalmente devido s novas possibilidades oferecidas pela
produo descentralizada e pela electrnica de potncia, foram estabelecidas formas de distribuio
de energia mais eficientes, com menos perdas e com maior segurana. Apesar destes benefcios,
continuam a ocorrer perturbaes na qualidade de energia. Desta forma, a qualidade de energia
2
continua a ser uma questo de extrema importncia no s para os engenheiros da rea de energia
como tambm para os engenheiros nos mais variados ramos da indstria.
Tendo isto em considerao, foram criadas condies para o desenvolvimento de sistemas
modernos, inteligentes, eficientes e de baixo custo, para realizar a monitorizao da qualidade de
energia. Os sistemas de monitorizao fornecem informaes aos fornecedores de energia acerca da
sua qualidade (ou da falta dela), detectando as perturbaes caso estas ocorram. Assim sendo,
atravs de um sistema que realize a monitorizao da energia elctrica, conhecido como analisador
de qualidade, que apresentada capacidade de resposta s exigncias dos fornecedores e clientes
da rede elctrica. Estes equipamentos visam:
A deteco e classificao quase instantnea das diversas perturbaes da rede elctrica;
O armazenamento de informaes sobre as perturbaes que ocorreram (tipo, durao,
data da ocorrncia, amplitude, etc.);
Ter capacidade de transmisso da informao armazenada via USB, RS232 ou Ethernet, e
Monitorizar a rede de forma a ajudar a serem garantidos os nveis de qualidade de servio
(QoS) impostos pela Entidade Reguladora dos Servios Energticos (ERSE)[1].
1.2 Objectivos
No mbito dos trabalhos desenvolvidos pelo Grupo de Instrumentao e Medidas do Instituto
de Telecomunicaes e na rea cientfica de Electrnica do IST, a monitorizao da qualidade de
energia uma rea actual de investigao e desenvolvimento. O objectivo deste projecto passa por
desenvolver, implementar e caracterizar um dispositivo com a funcionalidade de analisador da
qualidade de energia numa rede monofsica para uso em baixa tenso (BT). Este dispositivo dever
funcionar autonomamente, sem recurso a qualquer plataforma externa (por exemplo, um
computador), e ainda ser alimentado por uma fonte de alimentao redundante. Caso haja
interrupo de energia na rede elctrica, a fonte de alimentao recorre a uma bateria de ies-ltio
para fornecer energia ao analisador enquanto a energia no reposta.
Pretende-se que, com o desenvolvimento deste prottipo, sejam dados os primeiros passos
para a criao de um produto cuja instalao dever ser feita nas estaes elctricas de rua, apenas
acedidas por funcionrios da(s) distribuidora(s) de energia, para analisar a qualidade da mesma. Para
tal, o analisador realiza um acompanhamento pormenorizado do sinal de tenso da rede elctrica, em
tempo-real, e das perturbaes envolvidas durante essa monitorizao. Essas perturbaes devem
ser classificadas consoante a sua natureza e durao. A deteco e classificao das perturbaes
deve ser fivel, quer no tempo, quer na amplitude, para que possam ser identificadas as causas que
lhes do origem.

3
1.3 Plataforma de Desenvolvimento SHARC ADSP-21369
O analisador de qualidade de energia dever, tal como j foi dito, ser capaz de detectar
perturbaes na rede elctrica e, ao mesmo tempo, no consumir elevados recursos computacionais.
Para isso, os mtodos de anlise da qualidade de energia (apresentados no Captulo 4) sero
implementados num processador de sinal digital (DSP) para monitorizao da rede em tempo real. O
DSP pr-seleccionado o ADSP-21369 [2], com processador SHARC (Super Harvard Architecture
Single-Chip Computer [3]), da Analog Devices
. Este DSP est inserido num kit de desenvolvimento

da mesma marca com diversos perifricos.
O processador SHARC faz parte de uma famlia de processadores de 32-bit baseados na
arquitectura Super Harvard. Esta arquitectura acrescenta uma unidade de processamento de I/O e os
respectivos barramentos ao conceito de se ter os dados separados da memria (arquitectura Harvard
tpica). A unidade de I/O serve de interface entre o exterior e o ncleo e os chips de memria do DSP.
Esta unidade inclui o controlador de acesso directo memria (DMA), a interface digital para
perifricos (DPI) e possui um mdulo que realiza a sua gesto (SPI, UART, DTCP) enviando um
conjunto dos terminais para o exterior do chip. S este facto permite que o custo dos processadores
SHARC seja diminudo pois, se cada perifrico tivesse os respectivos terminais disponveis para o
exterior individualmente, a complexidade e o custo de fabrico aumentariam. Desta forma, possvel
que o processador SHARC tenha diferentes tipos de perifricos adequados a cada aplicao,
escolha do utilizador e a baixo custo [4].
O processador SHARC utilizado neste trabalho tem um ncleo cujo ritmo de processamento de
instrues que pode ir at 400 MHz. Conjugando o elevado ritmo de processamento com a integrao
em memria e a largura de banda de I/O, tem-se um processador de elevada performance para
aplicaes em tempo real. Ademais, o facto de ser um processador de vrgula flutuante de 32-bit leva
a que haja uma reduo dos erros de quantificao e a um aumento da exactido e da gama
dinmica. Desta forma, os algoritmos so processados mais rapidamente e h ainda a possibilidade
de serem implementados algoritmos mais complexos.
Uma vez que necessrio realizar a monitorizao da rede elctrica, detectar e classificar com
preciso as perturbaes ocorridas consoante a sua natureza, amplitude e durao, o processador
SHARC ADSP-21369 enquadra-se perfeitamente nestas condies como um processador robusto e
adequado para realizar as tarefas pretendidas.

4
1.4 Contribuies Originais
Diversos algoritmos de adaptao multi-harmnica de mnimos quadrados (Multiharmonic
Least-Squares Fitting) tm sido aplicados em vrias reas de instrumentao e medidas. Nestas
esto includas a medio de impedncias, estimativa da fase, medies da qualidade de energia,
rdio receiver unbalance e ultrasonic ranging. No entanto, com o aumentar do nmero de harmnicas
o tamanho das matrizes necessrias para descrever a relao entre o sinal amostrado e o modelo
multi-harmnico aumentou consideravelmente.
Os algoritmos de adaptao multi-harmnicos estimam as amplitudes e as fases das
harmnicas de um sinal. Assim como no algoritmo de adaptao de sinusides original existem duas
verses para a situao multi-harmnica. A primeira estima a componente DC, as amplitudes e fases
das harmnicas. Este conhecido como o algoritmo 2H+1 para H componentes na frequncia
(fundamental e harmnicas) e um mtodo de regresso mltipla dos mnimos quadrados cuja
resoluo passa por determinar a matriz pseudo-inversa que relaciona as amostras do domnio do
tempo e os parmetros do modelo.
A segunda verso tambm estima a frequncia do sinal e conhecida como o algoritmo 2H+2.
No entanto, a estimativa da frequncia torna-a uma regresso no linear visto que no possvel
obter uma relao separvel do sinal adquirido e dos parmetros do modelo. Isto significa que o
algoritmo iterativo. Assim sendo, requer boas estimativas iniciais para melhorar a convergncia do
algoritmo e, mesmo assim, a convergncia depende fortemente da decomposio harmnica do sinal.
Para a determinao das componentes harmnicas do sinal de tenso e posterior clculo da
Distoro Harmnica Total (THD) foi desenvolvida, neste trabalho, uma nova implementao do
algoritmo de adaptao multi-harmnico (Multiharmonic Sine-Fitting). Este novo mtodo mais
eficiente e requer menos recursos computacionais que o mtodo 2H+2.
1.5 Estrutura do Relatrio
Esta dissertao est organizada em captulos, incluindo este primeiro onde feita a
introduo ao trabalho a desenvolver.
No Captulo 2 introduzido o conceito de qualidade de energia e as razes para a sua
deteriorao. feita a descrio das perturbaes mais conhecidas numa rede monofsica, assim
como so apresentadas as suas caractersticas, causas e efeitos nefastos da sua ocorrncia. So
ainda destacadas as consequncias financeiras que as perturbaes provocam juntamente com
solues que poderiam ser adoptadas para prevenir as mesmas. No final do captulo so
apresentados os mtodos mais utilizados (estado da arte) para detectar perturbaes na tenso
assim como o mtodo implementado neste trabalho.
5
No terceiro captulo apresentado o prottipo implementado, na vertente de hardware,
juntamente com as suas funcionalidades. So realizadas consideraes acerca de todas as opes
de projecto tomadas em relao aos componentes escolhidos, assim como so apresentados
diagramas ilustrativos das ligaes entre os vrios componentes. O dimensionamento dos vrios
elementos justificado atravs de clculos, so abordados os protocolos de comunicao utilizados
e, por fim, apresentada a fonte de alimentao redundante, para alimentar todo o circuito.
Justifica-se o uso de diagramas de blocos, no s para facilitar a leitura, mas tambm para
representar esquemas elctricos que ocupariam mais de uma pgina. No entanto, so apresentados
esses mesmos esquemas em Anexo A, juntamente com imagens do prottipo realizado.
No Captulo 4 so focados, tambm por equaes e fluxogramas, no s os algoritmos
implementados no DSP para deteco de perturbaes mas tambm todos os outros utilizados. Para
a deteco de perturbaes so essencialmente usados os algoritmos baseados na adaptao de
sinusides (sine-fitting), no clculo do valor eficaz (RMS) e na operao morfolgica de fecho
(closing). Para alm destes recorre-se aos algoritmos baseados na Transformada Rpida de Fourier
(FFT) e na Transformada Discreta de Fourier Interpolada (IpDFT). Foram realizados testes a cada um
destes algoritmos, sendo apresentados os respectivos resultados. A nova implementao do mtodo
de adaptao multi-harmnica apresentada e posteriormente desenvolvida no Anexo B.
O Captulo 5 est centrado na metodologia dos testes que foram realizados a todo o sistema
segundo uma determinada configurao: frequncia de amostragem, nmero de amostras adquiridas
pelo ADC, velocidade de processamento do DSP, velocidade de acesso memria, etc. Os
resultados da deteco de algumas perturbaes so, por ltimo, apresentados e comentados.
O Captulo 6 encerra o corpo principal deste relatrio com as Concluses e o Trabalho Futuro.

6

7
Captulo 2 -
Qualidade de Energia

O estudo da qualidade de energia da rede elctrica pode ser resumido pela anlise da forma
de onda de tenso (e seus parmetros) e pela deteco, identificao e classificao de eventuais
perturbaes que possam ocorrer durante essa anlise. As perturbaes detectadas so
classificadas e as suas caractersticas (amplitude, durao, etc.) devem ser guardadas em
dispositivos de memria para posterior transmisso e/ou consulta, ou visualizadas em interfaces
grficas. A deteco das perturbaes tem de ser um processo suficientemente exacto, no tempo e
na amplitude, para se poder determinar posteriormente a sua causa. Sabendo as causas,
encontram-se as solues e evitam-se prejuzos que podem ser avolumados. Desta forma, surge a
necessidade um sistema de deteco e classificao, em monitorizao contnua, que seja robusto o
suficiente para tratar toda a informao. A deteco e classificao das perturbaes efectuada
segundo normas que regulam a qualidade de energia e a forma como essa qualidade medida.
Este captulo inicia com uma abordagem aos factores que degeneram a qualidade da energia,
desde o ponto de origem at s cargas em instalaes domsticas ou complexos industriais. dada
especial ateno s perturbaes de energia mais frequentes e consequentes prejuzos da sua
ocorrncia, sendo que cada uma ser descrita, caracterizada e, sempre que possvel, exemplificada
atravs de uma figura ilustrativa.
O captulo conclui com uma pequena ateno dada norma europeia NP EN 50160 [5] (os
seus requisitos e diferenas para outras normas) e, por ltimo, o estado da arte. neste ponto que:
1) so apresentados os mtodos actualmente mais utilizados para detectar perturbaes na energia,
justamente com as suas vantagens e desvantagens; 2) apresentado, de forma resumida, o mtodo
de deteco e classificao de perturbaes na anlise de energia desta dissertao; 3) so dados a
conhecer alguns analisadores da qualidade energia da actualidade.
.
8
2.1 Factores para a Falta de Qualidade na Energia Elctrica
A energia elctrica um produto e, tal como qualquer outro produto, deve satisfazer e
proporcionar aos consumidores os requisitos mnimos de qualidade. A qualidade relativa energia
elctrica pode definir-se pela ausncia de perturbaes ou desvios na tenso, corrente ou frequncia
que possam provocar o mau funcionamento nos equipamentos ou nas instalaes elctricas do
cliente. Ao longo deste documento considera-se que qualidade de energia descrita segundo as
seguintes vertentes:
1) Qualidade de sinal (do ingls Power Quality): caracterizada por todos os parmetros
caractersticos estarem muito prximos dos valores nominais desejados (frequncia,
tenses com amplitude constante, formas de onda sinusoidais, etc.), e
2) Continuidade do servio ou fiabilidade (do ingls Power Reliability): relacionada com a
continuidade do fornecimento (a potncia contratada deve estar sempre disponvel e com
qualidade de sinal) [6].
Acontece que, actualmente, a maior parte dos equipamentos elctricos necessitam que os
parmetros que caracterizam a energia elctrica estejam muito prximos dos seus valores nominais
(os tais requisitos mnimos), isto , necessitam que haja uma boa qualidade de energia disponvel na
rede elctrica. Isto nem sempre acontece apesar de, nos centros de produo de energia elctrica, as
cargas consumidoras serem maioritariamente lineares e no afectarem significativamente a qualidade
da energia. No , portanto, nos centros de produo que ocorre a maior degradao da qualidade
de energia devendo-se esta a outros factores. A perda de qualidade devida, sobretudo,
degradao introduzida por factores que tm impacto nas linhas de transmisso (redes de transporte)
e nos sistemas de distribuio e degradao introduzida pelas cargas (consumidor).
2.1.1 Degradao introduzida pelas linhas de transmisso
A energia elctrica em Portugal maioritariamente produzida em centrais elctricas de grande
porte (trmicas ou hdricas) e entregue rede de transporte, constituda por linhas de transmisso
em muito alta tenso (MAT). Atravs de transformadores, a energia passa para as redes de
distribuio em alta, mdia e baixa tenso (AT, MT, BT), as quais a conduzem at aos consumidores.
As instalaes de produo de baixa potncia de natureza descentralizada ou local (mini-hdrica,
elica ou cogerao) ligam-se directamente s redes de distribuio.
Durante a transmisso de energia elctrica das centrais at aos pontos de entrega (energia em
muito alta tenso da ordem dos 150, 220 e 400 kV), as linhas areas (Figura 1) ficam expostas a um
conjunto de factores que exercem influncias degradantes sobre a qualidade da energia [7].
Destacam-se os seguintes:
Descargas atmosfricas que ocorrem sobre as linhas. A ocorrncia destes fenmenos
provoca sobretenses e interrupes de durao varivel;
9
Quedas de tenso provocadas pelas impedncias das linhas, podendo estas ser
responsveis por oscilaes nos nveis de tenso da ordem dos 10% entre as condies
em vazio e de plena carga, e
Agresses fsicas de natureza diversa (incndios, ninhos de cegonha, ruptura de linhas,
etc.).

Figura 1 Linhas de transmisso de energia elctrica a 400 kV.
2.1.2 Degradao introduzida pelos sistemas de distribuio
Aquando a operao de distribuio, necessria a reduo dos nveis de tenso da energia
proveniente nas linhas areas para valores de mdia tenso (30, 15 e 10 kV) ou para nveis de baixa
tenso (400 e 230 V). Essa reduo realizada por intermdio de transformadores que contribuem
com a adio de sucessivas impedncias (com caractersticas no lineares) entre os geradores
colocados nos centros de produo e as cargas finais. No entanto, as linhas de MT continuam a estar
sujeitas a descargas atmosfricas e a agresses fsicas pois os postes que as seguram so muitas
vezes alvo de incidentes. neste ponto do fornecimento de energia elctrica que podem ocorrer as
maiores agresses aos sistemas de distribuio havendo, portanto, maior probabilidade de haver
degradao da qualidade de energia.
2.1.3 Degradao introduzida pelas cargas
O facto dos novos equipamentos elctricos possurem elementos no lineares tais como
dodos, transstores, tiristores, IGBT ("Insulated Gate Bipolar Transistors"), circuitos integrados, etc.,
trouxe a vantagem desses equipamentos poderem usar energia elctrica de forma mais eficiente e
com controlo mais preciso. No entanto, a presena desses dispositivos electrnicos causa a distoro
da forma de onda da tenso da rede elctrica, introduzindo perturbaes muito significativas
qualidade da energia. Devido s suas caractersticas no lineares, estes dispositivos so, na
actualidade, simultaneamente os principais causadores de problemas na qualidade da energia
elctrica e as maiores vtimas dessa falta de qualidade, pois so muito sensveis s variaes dos
parmetros caractersticos da energia elctrica que recebem. Assim sendo, contribuir para uma
10
melhor qualidade de energia uma responsabilidade tanto do fornecedor de energia como dos
fabricantes de equipamento elctrico.
Quando se deixaram de usar as tradicionais fontes de alimentao constitudas por um
transformador, uma ponte rectificadora e um condensador, que convertiam uma tenso alternada
(AC) numa tenso contnua (DC), para se passarem a usar as fontes de alimentao comutadas
(FAC), estas passaram a ser um factor determinante na qualidade de energia. Nestas fontes de
alimentao, a tenso de sada controlada de forma dinmica, actuando nos tempos de conduo e
corte dos componentes de potncia que a integram e permite uma grande versatilidade na obteno
de uma tenso de sada DC estabilizada, mesmo na presena de grandes flutuaes na tenso de
entrada. Em relao s fontes anteriores, esta v o seu peso e dimenso reduzidos e aumentado o
rendimento. No entanto, devido s caractersticas dos seus componentes, as correntes absorvidas
possuem uma forte componente harmnica, provocando a distoro da forma de onda de tenso na
rede elctrica.
2.2 Perturbaes na Qualidade de Energia
A expresso falta de qualidade de energia est associada, tal como j foi referido
anteriormente, a uma srie de fenmenos que influenciam a energia que chega aos equipamentos e
s instalaes elctricas. No entanto, so as mais distintas perturbaes electromagnticas que
caracterizam a tenso e a corrente num dado instante de tempo que interessam, quer ao fornecedor
de energia, quer ao cliente. As perturbaes existentes so hoje conhecidas e registadas pelas vrias
normas internacionais que regulam a qualidade de energia. Segue-se ento uma breve discrio das
mais importantes, juntamente com as causas e consequncias que originam.
2.2.1 Transitrios (transients)
O termo transitrio descreve um evento sbito e de natureza de curta durao. Os transitrios
so variaes muito rpidas no valor da tenso (s a ms) e com amplitudes que podem atingir valores
da ordem das centenas aos milhares de Volt. Esta perturbao pode ser um impulso unidireccional
(de qualquer polaridade) ou uma onda oscilatria. Estas duas caractersticas definem imediatamente
a forma do sinal de tenso ou corrente afectado por um transitrio.
a) Transitrio impulsivo Este tipo de transitrio caracterizado por uma alterao
repentina da frequncia [8] dos sinais nominais de tenso ou de corrente (ou de ambos),
caracterizado pelos seus tempos de subida e descida [9] e pela polaridade unidireccional.
Este fenmeno tambm caracterizado pelo seu contedo espectral. As causas mais
comuns a este tipo de transitrios so as descargas atmosfricas. Na Figura 2 est
ilustrado um exemplo da corrente da queda de um raio que poder dar origem a
transitrios do tipo impulsivo.
11

Figura 2 Exemplo da corrente resultante da queda de um raio que poder dar origem a transitrios do tipo impulsivo (fonte
[8]).
b) Transitrio oscilatrio Um transitrio de carcter oscilatrio semelhante ao impulsivo
com a diferena de que a sua polaridade oscila entre a positiva e a negativa. Os valores
instantneos de tenso ou de corrente variam rapidamente e caracterizado pela sua
amplitude, durao e contedo espectral. Este tipo de transitrio pode surgir depois de um
transitrio impulsivo, depois de operaes de comutao efectuadas pelo fornecedor de
energia ou pela comutao de bancos de condensadores. Na Figura 3 est ilustrado um
exemplo de um transitrio oscilatrio na corrente devido comutao de condensadores.

Figura 3 Exemplo de um transitrio oscilatrio na corrente devido comutao de condensadores (fonte [8]).
2.2.2 Variaes de RMS: interrupes (interruptions)
Interrupo total do fornecimento de energia, desde alguns milissegundos at tempo
indeterminado, consoante a interrupo for de curta ou de longa durao e tambm consoante a
norma que se consulte.
a) Curta durao ou micro-corte Operaes de comutao realizadas por dispositivos de
abertura e rearme automtico, descargas atmosfricas, falhas de equipamentos, erro
humano ou acidentes, so possveis causas para este gnero de interrupo, que pode
durar de alguns milissegundos at vrios minutos. Segundo as normas
IEEE 1150-2009 [8] e EN 50160 [5], tem-se:
IEEE: Un < 90%; durao: 20 ms a 1 min.
EN: Un < 99%; durao: 20 ms a 3 min.
b) Longa durao As falhas de equipamentos, ms condies c
animais ou acidentes
falhas de longa durao que podem durar vrios dias (apages).
IEEE: Un
EN: Un <
As interrupes de curta durao tm como consequncia o disparo de aparelhagem de
segurana, perdas de informao e danificao de equipa
consequncia a paragem de todo o equipamento elctrico.
A Figura 4 exemplifica uma interrupo, onde se pode observar que a tenso desce para 0
durante 0,1136 s. O grfico da
tenso durante esse intervalo de tempo
amplitude do sinal nessas mesmas unidades
Figura
Na anlise dos sistemas de energia elctrica prefervel exprimir e quantificar as grandezas
elctricas atravs de fraces de valores base, designadas por valores p.u. Esta nomenclatura
especialmente til pois possui vantagens significativas: uma tenso expressa em unidades
imediatamente que ela est abaixo ou acima do valor nominal tomado como referncia (por exemplo:
0,95 p.u. est 5 % abaixo e 1,08 pu est 8
frequentemente em torno da unidade, valor prximo do ptimo para o clculo digital e para a
apresentao de dados; facilidade na deteco de erros; etc. O valor
realizando o rcio entre o valor des
2.2.3 Variaes de RMS
As variaes do valor RMS em relao ao valor nominal, na tenso ou na corrente, devem
na sua quase totalidade a condies de falha dos sistemas ou a cargas cuja corrente de arra
muito elevada. Dependendo da localizao da falha e das condies do sistema, a falha pode
provocar o aumento (sobretenso de curta durao
de curta durao ou cava ou sag
12
As falhas de equipamentos, ms condies climatricas, incndios,
s com as linhas de transmisso de energia so potenciais fact
o que podem durar vrios dias (apages).
Un < 90%; durao > 1 min.
< 99%; durao > 3 min.
segurana, perdas de informao e danificao de equipamentos. As de longa durao tm como
consequncia a paragem de todo o equipamento elctrico.
exemplifica uma interrupo, onde se pode observar que a tenso desce para 0
da direita mostra, em valores por unidade (p.u.),
esse intervalo de tempo enquanto que no grfico da esquerda
nessas mesmas unidades.
Figura 4 Exemplo de uma interrupo (fonte [10]).
ente til pois possui vantagens significativas: uma tenso expressa em unidades
% abaixo e 1,08 pu est 8 % acima do valor nominal); os valores
apresentao de dados; facilidade na deteco de erros; etc. O valor p.u. de uma grandeza
realizando o rcio entre o valor dessa grandeza e o valor de base.
de RMS: sobretenses e subtenses
ariaes do valor RMS em relao ao valor nominal, na tenso ou na corrente, devem
na sua quase totalidade a condies de falha dos sistemas ou a cargas cuja corrente de arra
provocar o aumento (sobretenso de curta durao ou swell) ou a diminuio da tenso
sag). Na Figura 5 (a) est exemplificada uma sobretenso e na
limatricas, incndios,
com as linhas de transmisso de energia so potenciais factores de
mentos. As de longa durao tm como
exemplifica uma interrupo, onde se pode observar que a tenso desce para 0
a variao RMS da
esquerda est representada a

ente til pois possui vantagens significativas: uma tenso expressa em unidades p.u. indica
); os valores p.u. situam-se
de uma grandeza obtm-se
ubtenses
ariaes do valor RMS em relao ao valor nominal, na tenso ou na corrente, devem-se
na sua quase totalidade a condies de falha dos sistemas ou a cargas cuja corrente de arranque
) ou a diminuio da tenso (subtenso
da uma sobretenso e na (b) uma
13
cava, ambas originadas de falha SLG (Single-Line to Ground). Com as sobretenses de curta
durao o valor RMS da tenso de rede sobe para valores compreendidos entre os 110 e os 180 %
do valor de tenso nominal.
O arranque e a paragem de equipamentos de grande potncia, curto-circuitos, sistemas de
alimentao de energia mal dimensionados, transformadores mal regulados em perodos de vazio,
etc., so possveis causas para o surgimento de sobretenses (durao superior a alguns segundos
ou at mesmo durao superior a 1 min) ou para picos de tenso (durao muito curta). As
sobretenses de longa durao so tambm conhecidas na terminologia inglesa como overvoltages.

(a) (b)
Figura 5 Exemplos de uma sobretenso de curta durao (a) e de uma cava (b) devido a falha SLG (fonte [8]).
As subtenses de curta durao ou cavas tm usualmente um decrscimo temporrio do valor
de tenso com durao curta (10 ms a 1 min) ou durao longa (durao > 1 min, chamadas de
subtenses de longa durao ou undervoltages) e com reduo grave da amplitude (10 a 80 % do
valor nominal) ou reduo ligeira da amplitude (80 a 90 % do valor nominal). As cavas so originadas
por defeitos na rede de transporte e distribuio, defeitos nas instalaes de clientes ou devido ao
arranque de motores de grande potncia.
2.2.4 Distoro das formas de onda
A distoro de uma forma de onda definida como sendo a alterao na forma de um sinal em
relao a um sinal original. Os principais tipos de distoro denominam-se harmnicas,
inter-harmnicas, tremulao, rudo e notching.
2.2.4.1 Harmnicas (harmonics)
Tal como est descrito em [11], as harmnicas so tenses ou correntes sinusoidais cuja
frequncia um mltiplo inteiro da frequncia fundamental. Juntamente com a tenso ou corrente
fundamental, as harmnicas produzem distoro na forma de onda (distores harmnicas). A forma
de onda de tenso resultante no sinusoidal, resultando da adio de sinais com
amplitudes e fases e com frequncias mltiplas da frequncia fundamental. A distoro harmnica
existe devido a caractersticas no lineares dos disposit
rendimento, aparelhos de ar condicionado, transformadores,
Figura 6 ilustra a presena de harmnicas no sinal sinusoidal.
Figura 6 Exemplo de uma distoro da forma de onda devido presena de harmnicas
2.2.4.2 Inter-harmnicas
No caso da tenso ou corrente terem componentes que no so mltiplos inteiros
frequncia fundamental ento estas componentes chamam
como frequncias discretas ou em toda a banda. A distoro inter
conversores de frequncia e encontra
2.2.4.3 Tremulao
As tremulaes so flutua
frequncia da ordem dos 0 a 30
tremulaes tm consequncias bastante nefastas sobre todo o tipo de receptores, sendo mais
visveis quando se manifestam no tremular da intensidade luminosa emitida por aparelhos de
iluminao incandescente. Fornos de arco, arranque e paragem frequente de motores elctri
cargas oscilantes, mquinas de soldar, etc., so
de tremulaes na tenso. A severidade da tre
Severidade curta (P
st
) medida num perodo de 10 minutos;
Severidade longa (P
lt
duas horas, de acordo com

14
de onda de tenso resultante no sinusoidal, resultando da adio de sinais com
e com frequncias mltiplas da frequncia fundamental. A distoro harmnica
existe devido a caractersticas no lineares dos dispositivos, por exemplo,
rendimento, aparelhos de ar condicionado, transformadores, cargas dos sistemas de potncia
harmnicas no sinal sinusoidal.

Exemplo de uma distoro da forma de onda devido presena de harmnicas
armnicas (interharmonics)
No caso da tenso ou corrente terem componentes que no so mltiplos inteiros
frequncia fundamental ento estas componentes chamam-se inter-harmnicas.
como frequncias discretas ou em toda a banda. A distoro inter-harmnica provm muitas vezes de
conversores de frequncia e encontra-se esta perturbao em quase todas as instalaes elctricas.
Tremulao (flicker)
As tremulaes so flutuaes do valor da tenso, modulada em amplitude por um sinal com
frequncia da ordem dos 0 a 30 Hz e com amplitudes de 80 a 90 % do valor da tenso nominal. As
consequncias bastante nefastas sobre todo o tipo de receptores, sendo mais
. Fornos de arco, arranque e paragem frequente de motores elctri
cargas oscilantes, mquinas de soldar, etc., so elementos que podem contribuir para o surgimento
A severidade da tremulao pode ser de dois tipos, curta ou longa:
) medida num perodo de 10 minutos;
lt
) calculada a partir de uma sequncia de 12 P
oras, de acordo com
3
12
3
1
12
sti
lt
i
P
P
=
=

.
de onda de tenso resultante no sinusoidal, resultando da adio de sinais com diferentes
e com frequncias mltiplas da frequncia fundamental. A distoro harmnica
por exemplo, iluminao de alto
cargas dos sistemas de potncia, etc. A
Exemplo de uma distoro da forma de onda devido presena de harmnicas (fonte [10]).
No caso da tenso ou corrente terem componentes que no so mltiplos inteiros da
harmnicas. Podem aparecer
harmnica provm muitas vezes de
e todas as instalaes elctricas.
em amplitude por um sinal com
% do valor da tenso nominal. As
consequncias bastante nefastas sobre todo o tipo de receptores, sendo mais
. Fornos de arco, arranque e paragem frequente de motores elctricos,
elementos que podem contribuir para o surgimento
curta ou longa:
) calculada a partir de uma sequncia de 12 P
st,
num intervalo de
(1)
15
2.2.4.4 Rudo (noise)
O rudo causado por interferncias electromagnticas provocadas por sistemas com feixes
hertzianos, microondas, difuso de televiso, soldadura, impressoras a laser, etc. Apesar de ser uma
perturbao menos grave, pode ainda causar distrbios nos equipamentos mais sensveis e causar
erros e perdas de informao em sistemas de processamento de dados.
2.2.4.5 Notching
Quando a corrente comutada de uma fase para outra nos aparelhos de potncia, ocorre uma
perturbao peridica de tenso. Essa perturbao chama-se notching, tem elevada frequncia e
caractersticas que tanto podem ser de um transitrio como de uma distoro harmnica. Os
conversores trifsicos com tenso de sada DC so a causa mais importante de notching de tenso.
Na Figura 7 est exemplificado um notching quando h comutao de corrente de uma fase para
outra. Durante a comutao, forma-se um curto-circuito entre as duas fases.

Figura 7 Exemplo de notching de tenso (fonte [8]).
2.3 Prejuzos Resultantes da Falta de Qualidade de Energia
De acordo com a norma europeia EN 50160 (norma que indica as caractersticas da tenso na
distribuio de electricidade na rede elctrica), o fornecedor injecta electricidade na rede elctrica e o
utilizador da electricidade o consumidor que requer o produto prestado pelo fornecedor. O
consumidor tem o direito de, tal como em qualquer outro produto, receber energia elctrica com
qualidade mnima e adequada. Se a qualidade de energia necessria no est disponvel ou no
suficiente s necessidades do utilizador, so necessrias medidas que visem a melhoria da qualidade
de energia e tambm estudos custo/benefcio para serem implementadas as medidas adequadas.
Os custos resultantes da falta de qualidade podem ser elevadssimos, consoante o tipo de
perturbao que afecta os equipamentos. Nas seguintes subseces so indicados exemplos de
prejuzos devido a algumas perturbaes existentes [12].

16
2.3.1 Prejuzos devido a distores harmnicas
A distoro harmnica no sistema de distribuio de energia deve-se sobretudo, e tal como j
foi referido, presena de cargas no lineares no mesmo sistema. Como a relao da tenso com a
corrente no linear nestes dispositivos, a forma da corrente no sinusoidal mesmo quando a
tenso sinusoidal. Nestes casos, as harmnicas da corrente iro provocar tambm harmnicas no
sinal de tenso. Os efeitos econmicos da presena de harmnicas traduzem-se pela reduo do
tempo de vida do equipamento e menor eficincia energtica. Por exemplo, a presena de
harmnicas inesperadas no sinal conduzem a perdas de correntes de Foucault (Eddy) nos
transformadores. Como as perdas so elevadas, a temperatura de funcionamento dos
transformadores aumenta e consequentemente o seu tempo de vida reduzido (usualmente o tempo
de vida dos transformadores de 30 a 40 anos e devido presena de distores harmnicas o
tempo de vida reduzido para um mximo de 10 anos). O custo de uma soluo que evite esta
perturbao relativamente barato. Para evitar a dissipao de energia da carga devido a efeitos
trmicos inesperados, instalar cabos de maior largura que a largura do valor calculado reduz as
perdas e os prejuzos j referidos. Podem tambm ocorrer problemas no neutro em sistemas
trifsicos, perda de rendimento de mquinas rotativas, interferncia electromagntica, etc.
2.3.2 Prejuzos devido a apages
Apesar de no estarem na norma EN 50160, os apages so os problemas de qualidade de
energia mais conhecidos e que podem durar de alguns segundos ou, na pior das hipteses, alguns
meses. Com um apago no apenas o servio pblico de energia a ser afectado. Basta um
componente, uma ligao ou um cabo falhar dentro de edifcios ou de grandes fbricas que todo o
sistema energtico encerrado. A proteco contra falhas de energia requer dois tipos de medidas:
1) A instalao elctrica deve ser concebida de forma a serem eliminados pontos de falha ou
que estes pontos sejam identificados como de alto risco, e
2) Existir um fornecimento de energia alternativo.
Estas so algumas medidas que no so muito dispendiosas mas que se podem tornar ainda
mais baratas na fase inicial de projecto. Em relao a serem implementados geradores de backup
existem alguns inconvenientes. Para alm do custo da sua aquisio e do custo da manuteno, no
h grande utilidade em se ter um gerador de backup que demore tempo a iniciar. Dependendo do tipo
de indstria que se possa estar a falar mas tendo em vista aquelas cujas interrupo de processos
contnuos de fabrico envolva no s enormes perdas econmicas mas tambm grandes perdas a
nvel das matrias-primas (indstria do ao, do papel, dos microprocessadores, etc.) uma possvel
soluo seria o fornecimento de energia de uma seco diferente da rede energtica ou, em ltimo
caso, a gerao local de energia. Esta ltima soluo tem a vantagem de serem evitadas perdas de
produo mas a desvantagem de ter de ser necessria a aquisio de combustvel para a gerao de
17
energia. No entanto, independentemente da soluo adoptada, sempre necessria manuteno e
vigilncia constantes.
2.3.3 Prejuzos devido a cavas
Uma cava uma reduo de curta durao do valor RMS da tenso da rede elctrica (de
poucos milissegundos at vrios segundos) e caracterizada pela sua durao e amplitude, isto ,
pela percentagem do valor nominal de tenso (RMS) durante o evento.
Atravs da curva ITIC (Information Technology Industry Council), presente na Figura 8, pode-se
consultar a tolerncia dos equipamentos a perturbaes do nvel de tenso. O eixo das abcissas
representa a durao das perturbaes e o eixo das ordenadas a severidade das perturbaes em
valores p.u.. Por exemplo, medida que diminui a durao das perturbaes, constata-se que
aumenta a amplitude das flutuaes permitidas. Para fenmenos com durao inferior a 60 s so j
permitidas interrupes totais de fornecimento, cavas e sobretenses com valores na ordem dos
180 % do valor nominal.
A curva ITIC foi inicialmente realizada com o intuito de ajudar os consumidores a resolver os
problemas da qualidade de energia com o fornecedor de electricidade. No entanto, a curva
representa uma viso muito optimista do desempenho das redes elctricas. Muitas cavas so
causadas por falhas na rede elctrica e os custos associados a falhas de curta durao so
consideravelmente elevados. Nos processos contnuos o efeito de uma cava quase to srio como
um apago completo podendo ter equivalentes custos e perdas de fabrico, tal como j foi referido
anteriormente.
Interrupo
0,01 0,6 3 60
Subtenso de curta durao ou Cava
Estado Normal
Sobretenso de
curta durao ou
Swell
Sobretenso
Subtenso
Curta Durao Longa Durao
0,1
0,9
1,1
1,8
1,4
1,2
0,8
Durao [s]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

d
e

T
e
n
s
o

[
p
.
u
.
]

Figura 8 Curva ITIC com as tolerncias permitidas para a flutuao nos nveis de tenso disponibilizada pelas redes de
distribuio (fonte [7]).
De forma a se verificar se estes nveis de tolerncia so cumpridos, tornou-se necessrio o
desenvolvimento de aparelhos de medio de qualidade de energia (power quality meters). Estes
aparelhos tm, entre outras funes, a misso de detectar, classificar e armazenar em dispositivos de
memria as informaes relativas s perturbaes que ocorreram, mais precisamente, a durao,
amplitude, etc.
18
2.3.4 Prejuzos devido a transitrios
Os transitrios so perturbaes de tenso de muito curta durao mas de elevada amplitude,
com um rpido tempo de subida. Muitos transitrios so provenientes de raios ou do comutar de
cargas reactivas. Como as elevadas frequncias envolvidas so consideravelmente atenuadas com a
propagao ao longo da linha, os danos so muito maiores no local da perturbao do que a grande
distncia. Os danos provenientes desta perturbao so quase instantneos, tais como a destruio
de componentes, de isolamento, de placas de circuito impresso e de circuitos integrados, perda de
informao das memrias e de sistemas de armazenamento, interferncia electromagntica, etc. O
custo de reparar o equipamento danificado e o custo proveniente do tempo sem energia deve ser
sempre considerado.
De forma a prevenir estas ocorrncias, um sistema de proteco deve ser adequadamente
desenhado tendo em conta, por exemplo, o nmero de raios por ano e tambm o tipo de esquema de
ligao terra (earthing system).
2.3.5 Contabilizao de custos
A falta de qualidade de energia tem um impacto significativo, tal como se viu, numa variedade e
indstrias, quer a nvel monetrio, quer a nvel de matria-prima. Est estimado que problemas com a
falta de qualidade de energia custam anualmente ao comrcio e indstria da Unio Europeia cerca
de 10 mil milhes de euros enquanto que as despesas em medidas preventivas no chegam a 5 %
desse valor [12]. No entanto, existe uma abrangente variedade de solues que previnem ou que
resolvem potenciais problemas, originados por perturbaes na rede elctrica. Os benefcios
provenientes da implementao destas solues apenas podero ser comprovados aps uma
reduo dos custos originados pelas perturbaes.
De forma a realizar decises de investimento em solues preventivas, necessrio realizar
uma anlise de custo/benefcio das diferentes solues. Para isso necessrio ter em considerao
trs passos fundamentais:
1) Caracterizao da qualidade de energia na instalao elctrica;
2) Estimar os custos provenientes da falta de qualidade da energia;
3) Ter presente as diferentes solues preventivas e determinar os seus custos de
implementao e benefcios e realizar uma anlise econmica s diferentes solues.

19
2.3.6 Resumo
A falta de qualidade mnima de energia provoca perturbaes no funcionamento dos
equipamentos que conduzem a elevados custos de explorao devidos a:
Perda de informao, perda em tempo de produo e perda de matrias em vias de
fabrico;
Substituio ou reparao de equipamentos e arranque e sintonia de processos;
No cumprimento de prazos junto aos clientes e consequente prejuzo econmico;
Impacto sobre o meio ambiente, etc.
Existe um risco considervel quando as indstrias tm uma forte dependncia da qualidade de
energia mas, por outro lado, haver vigilncia e manuteno constantes associadas aos custos
preventivos, so medidas relativamente baratas de se implementar.
2.4 Requisitos Principais da Norma EN 50160
A energia elctrica um produto muito especfico. A possibilidade de armazenar energia em
grandes quantidades muito reduzida e, portanto, esta deve ser consumida no instante em que
gerada e, ao mesmo tempo, medida e avaliada. Esta medio complexa do ponto de vista das
normas, uma vez que existem duas perspectivas diferentes: a do fornecedor e a do utilizador. A
norma de tenses IEC 038 [13] distingue dois tipos diferentes de tenso na rede e em instalaes
elctricas:
Tenso de Alimentao (supply voltage) - tenso entre fases (line-to-line) ou entre fase e
neutro (line-to-neutral) no ponto de acoplamento comum, isto , no ponto de alimentao
da instalao elctrica, e
Tenso da Rede Elctrica (utility voltage) - tenso entre fases ou entre fase e neutro na
tomada ou terminal de um equipamento elctrico.
Do ponto de vista do fornecedor de energia, a norma europeia EN 50160 [5] caracteriza os
parmetros de tenso elctrica num sistema de distribuio pblico de energia. Esta norma foca-se
mais na tenso prestada pelo fornecedor (supply voltage). Pelo lado do utilizador, a qualidade de
energia disponvel nos equipamentos (utility voltage) que relevante. Para que estes funcionem
correctamente necessrio que a influncia electromagntica no interior do equipamento esteja
abaixo de um determinado nvel mas, para isso, necessrio que no haja perturbaes na rede
elctrica (tal como j foi referido, estes mesmos equipamentos influenciam a qualidade da energia e a
energia que recebem influenciada pela presena de outros equipamentos na instalao elctrica).
Os principais organismos de normalizao do sector energtico estabeleceram directivas com
vista criao de padres para a qualidade de energia (IEEE, IEC, UIE, ITIC, etc.), onde vm
definidas e bem caracterizadas as perturbaes existentes. Entre as vrias directivas, a srie de
20
normas 61000 do IEC e a norma europeia EN 50160 so as normas que servem de suporte ao
Regulamento da Qualidade de Servio em vigor em Portugal desde 1 de Janeiro de 2001 [14].
Na norma EN 50160 esto descritos os parmetros principais de tenso e a margem de erro
para cada um desses parmetros, do ponto de vista do fornecedor da energia elctrica para sistemas
de distribuio em BT e em MT em condies normais de funcionamento. Na Tabela 1 e na Tabela 2
esto indicadas as diferenas entre vrios parmetros desta norma e os das normas EN 61000. No
entanto, as razes que levam existncia de diferenas entre normas no sero abordadas neste
trabalho.
Tabela 1 Comparao entre os requisitos da norma EN 50160 e as normas EMC EN 61000 (fonte [15]).
Parmetros
Caractersticas de tenso de acordo
com a norma EN 50160
Caractersticas de baixa tenso de acordo
com a norma EN 61000
EN 61000-2-2 Outras
Frequncia
BT, MT: valor mdio da fundamental
medido durante 10 s
1 % (49,5 - 50,5 Hz) para 99,5 % da
semana
-6 % / +4 % (47 - 52 Hz) para 100 % da
semana
2 %
Variaes de amplitude da
tenso
BT, MT: 10 % para 95 % da semana 10 % durante 15 min
Variaes rpidas de tenso
BT: 5 % normal
10 % raramente
PLT 1 para 95 % da semana

MT: 4 % normal
6 % raramente
PLT 1 para 95 % da semana
3 % normal
8 %
raramente
PST 1.0
PLT 0.8
3 % normal
4 % mximo
PST 1.0
PLT 0.65
(EN 61000-3-3)
3 %(IEC 61000-2-12)
Cavas
Maioria com durao <1 s.
Cavas locais dadas pela comutao de
cargas: BT: 10 50%, MT: 10 - 15%
1 - 4 meses
Mais de 30 % para 10 ms
(EN 61000-6-1,6-2)
(EN 61000-3-2)
Interrupo de curta durao
BT, MT: (at 3 min.) dezenas a centenas
por ano; durao de 1 s em 70 % dos
casos

95 % de reduo durante
5 s (EN 61000-6-1,6-2)
Interrupo de longa durao BT, MT: (mais de 3 min.) 10 a 50 por ano
Sobretenses temporrias
BT: <1,5 kV rms
MT: 1,7 * Un (tenso nominal)
2,0 * Un (tenso nominal)

Sobretenses transitrias
BT: geralmente inferior a 6 kV;
Tempo de subida: ms - s
MT: no definido

2 kV, line-to-earth
1 kV, line-to-line
(EN 61000-6-1,6-2)
Desiquilbrio (unbalance)
BT, MT: superior a 2 % para 95 % da
semana; at 3 % em alguns locais
2 % 2 % (IEC 61000-2-12)
Harmnicas BT, MT: ver Tabela 2
6 % 5, 5 %
7, 3,5 % 11,
3 % 13,
THD < 8%
5 % 3, 6 % 5, 5 % 7,
1,5 % 9, 3,5 % 11, 3 %
13, 0,3 % 15, 2 % 17 (EN
61000-3-2)
Inter-harmnicas 0,2 %
Pode-se constatar atravs de uma rpida anlise aos parmetros da Tabela 1 que estes no
tm um valor definido nem minimamente rigoroso para o fornecedor de energia. Apesar dos requisitos
mnimos, estes nem sempre so cumpridos risca. Em muitas situaes o fornecedor interpreta a
norma EN 50160 como sendo meramente informativa no tendo qualquer responsabilidade se os
limites forem excedidos. Por outro lado, o lado do consumidor totalmente diferente uma vez que o
no cumprimento dos limites dados pela norma EN 50160 poder danificar os equipamentos. No
entanto, mesmo com o cumprimento dos ditos limites e gamas de tolerncia, a qualidade de energia
requerida pode no ser assegurada.
21
Tabela 2 Valor individual das tenses harmnicas dadas em percentagem da tenso nominal do sistema (fonte [15]).
Harmnicas mpares
Harmnicas Pares
No mltiplas de 3 Mltiplas de 3
Ordem h Tenso relativa (%) Ordem h Tenso relativa (%) Ordem h Tenso relativa (%)
5 6 3 5 2 2
7 5 9 1,5 4 1
11 3,5 15 0,5 624 0,5
13 3 21 0,5 - -
17 2 - - - -
19 1,5 - - - -
23 1,5 - - - -
25 1,5 - - - -
A norma EN 50160 deve ser compreendida como sendo um compromisso entre o fornecedor
de energia e o consumidor. As grandes vantagens desta norma so:
Definio dos parmetros caractersticos da tenso da rede elctrica, e
Determinao quantitativa dos valores que definem os parmetros de qualidade de
energia.
2.5 Qualidade de Servio
A ERSE em Portugal estabelece que o fornecimento de energia elctrica tem de obedecer a
nveis de QoS que so impostos por lei. O no cumprimento de alguns desses nveis gera a
obrigao de compensao ao cliente. Os servios que tm nveis de qualidade definidos so:
O nmero e durao de interrupes de fornecimento;
As caractersticas tcnicas da tenso;
Atendimento telefnico e presencial;
Resposta a reclamaes e pedidos de informao;
Leitura de equipamentos de medio;
Prazos de ligao do fornecimento;
Horrio de visitas tcnicas, e
Prazo para execuo de oramentos e ramais de ligao rede.
Os nveis de qualidade de servio dependem da zona onde se situa a instalao. Garantir os
nveis de QoS impostos pela ERSE tem imensa importncia uma vez que a qualidade de energia est
associada anlise da fiabilidade do fornecimento da energia elctrica (continuidade de servio),
atravs do nmero e durao das interrupes de fornecimento e tambm das caractersticas da
forma da onda da tenso alternada (qualidade do sinal de tenso), atravs da evoluo dos seus
valores de frequncia, amplitude, distoro harmnica, desequilbrio, tremulao e outros.

22
Em condies normais de explorao, estas caractersticas devem respeitar o disposto na
norma EN 50160, em MT e em BT. De acordo com a referida norma, o valor nominal de tenso eficaz
em BT de 230 V entre a fase e o neutro. A variao de tenso permitida, no considerando as
situaes subsequentes a defeitos e interrupes de alimentao, de 10 %, que corresponde a
207 V e 253 V. A frequncia deve ser igual a 50 Hz e o valor medido em intervalos de 10 minutos
deve estar entre 49,5 Hz e 50,5 Hz durante 95 % da semana e entre 47 Hz e 52 Hz durante 100 % da
semana.
2.6 Estado da Arte
At hoje j foram desenvolvidas diversas abordagens para detectar e classificar
automaticamente as perturbaes na qualidade de energia. No entanto, nem todos os mtodos so
100 % eficazes no sentido em que despendem muitos recursos computacionais e,
consequentemente, elevado tempo de processamento ou ento no abrangem a deteco das
perturbaes mais frequentes.
Neste subcaptulo so analisados vrios mtodos de deteco de perturbaes assim como
dado a conhecer o mtodo de anlise e deteco proposto para este trabalho (ser-lhe- dado maior
foco no Captulo 4). Por fim, so apresentadas algumas tecnologias de monitorizao disponveis no
mercado.
2.6.1 Mtodos para a deteco de perturbaes
Os mtodos mais utilizados actualmente so baseados na representao tempo-frequncia da
tenso do sinal. A Transformada de Wavelet (TW), nomeadamente a Transformada Discreta de
Wavelet (TDW), uma das ferramentas matemticas mais usadas para detectar perturbaes na
qualidade de energia, sendo esta associada a outros algoritmos tais como, por exemplo, mtodos
baseados em redes neuronais (neural networks) [16] [17] ou em vector machines [18]. A
Transformada de Fourier de Curta Durao (Short Time Fourier Transform) [19] tambm outro
mtodo baseado na representao tempo-frequncia.
A TW uma ferramenta matemtica, muito parecida Transformada de Fourier quando um
sinal estacionrio analisado, que decompe o sinal em diferentes escalas com diferentes nveis de
resoluo. A decomposio em escalas conseguida porque a TW baseada numa funo
quadrtica e integrvel, que fornece uma representao local (no tempo e na frequncia) de um dado
sinal apenas definido no tempo. Assim sendo, a anlise com TW adequada para a anlise de sinais
digitais amostrados cuja representao tempo-frequncia seja necessria (por exemplo, com
transitrios de alta frequncia [20]). A abordagem com redes neuronais presente em [17] tem a
limitao de apenas detectar um nico tipo de perturbao o que, pela sua natureza intrnseca, faz
com que haja uma arquitectura diferente para cada tipo de perturbao. Por outro lado, a abordagem
descrita em [20] e [21] detecta vrios tipos de transitrios e outras perturbaes com o inconveniente
23
de requerer uma decomposio de sinal at 4 ordem. Em [22] a decomposio de 6 ordem,
sendo suficiente para uma deteco fidedigna das perturbaes. No entanto, requer grande
capacidade computacional, o que se torna numa limitao importante quando se pretende
implementar um sistema de monitorizao em tempo real baseado num DSP. De referir tambm que
os coeficientes calculados pela TDW no so adequados para o clculo da durao ou da amplitude
da perturbao, o que significa que outros mtodos tm de ser usados posteriormente para detectar
estes parmetros [23]. A utilizao da Transformada Contnua de Wavelet [24] foi analisada em [25]
para distores harmnicas no estacionrias num sistema de energia mas sem resultados prticos.
Geralmente a TDW adequada para a deteco de perturbaes rpidas ou de alta frequncia
(transitrios) mas no caso de perturbaes mais lentas (cavas e swells com forma no rectangular) a
TDW no produz resultados muito fiveis [23].
Tal como j foi referido, existem tambm outros mtodos para detectar perturbaes na rede
elctrica. Estes baseiam-se no reconhecimento de padres juntamente com uma anlise Wavelet de
multi-resoluo [26], ou no uso de vector machines de conjuntos de filtros digitais [27] ou no clculo
do valor RMS da tenso [28] [29] [30]. A partir do mtodo do valor RMS (de corrente ou tenso) fcil
descrever e classificar um evento que possa ter ocorrido [29]. O valor RMS pode ser obtido cada vez
que uma amostra adquirida mas o que se costuma usar na prtica a actualizao do valor RMS
de ciclo em ciclo ou de meio ciclo em meio ciclo (de 10 ms em 10 ms numa rede com frequncia
nominal de 50 Hz). No primeiro caso, o clculo do valor RMS pode ser considerado contnuo e no
segundo caso considerado como discreto [30]. Os sistemas baseados no clculo do valor RMS de
tenso, apesar de consumirem menos recursos do que os mtodos baseados em TDW, apresentam
a desvantagem de no serem capazes de detectar transitrios. Isto deve-se ao facto de, durante a
sua ocorrncia, o valor RMS da tenso no sofrer, tipicamente, uma alterao significativa. A falta de
resoluo temporal tambm uma limitao [28] deste tipo de sistema quando surgem variaes de
curta durao devido ao clculo do valor RMS usando uma janela de um ciclo.
2.6.2 Uma breve apresentao do mtodo usado neste trabalho
Apesar dos inmeros mtodos j desenvolvidos para detectar as perturbaes na qualidade de
energia, a eficincia e a fiabilidade da monitorizao contnua em tempo real continua a ser uma
questo em aberto, sendo necessria a implementao de um sistema simples e fivel que consiga
detectar o maior nmero possvel de perturbaes. por isso que surgiu o projecto de investigao e
desenvolvimento de um sistema de monitorizao da qualidade de energia.
Tendo em conta que os mtodos baseados em TDW requerem grande poder computacional
devido decomposio do sinal, o que torna difcil a implementao em DSP, foi desenvolvido um
novo e mais simples mtodo de deteco e classificao de perturbaes na energia num sistema
monofsico [31] [32]. Este mtodo foi implementado e testado num sistema de medio de longa de
durao [33] e em [34] foi testado, separadamente, com trs tipos de sinais: sinais simulados com
perturbaes artificiais [35] atravs do software Matlab
; sinais gerados por um gerador de cavas e

swells [35], e sinais medidos durante uma longa monitorizao da rede elctrica
diferentes [31].
O algoritmo implementado
perturbaes. Para a deteco de transi
passa-alto digital e a operao matemtic
componente fundamental da frequncia
normalizada que contm as eventuais perturbaes.
usado para remover outras componentes da frequ
uso de um filtro, outra soluo passa por usar algoritmos de adaptao de sinusides
clculo dos resduos, poder-se-o detectar eventuais perturbaes. Seja a
resduos calculados, aplicada a
processamento do sinal baseado na sua forma
perturbao classificada como transitrio, harmnica, inter
deteco de subtenses, sobretenses
para detectar estes eventos. Estes algoritmos
so rpidos, simples e adequados para a implementao em DSP ou FPGA, ao cont
mtodos baseados na TDW. No Captulo
deste mtodo assim como tambm
algoritmos.
2.6.3 Alguns analisadores da qualidade de e
Existem disponveis no mercado
o analisador de qualidade de energia trifsica, FLUKE 430
Sensor, da Power Standards Lab
conformidade com a norma IEC61000
qualidade de energia), permite analisar parmetros, eventos e anomalias relativamente energia
disponvel na rede elctrica. Mede tenso, corrente, frequncia, potncia, desequilbrio e oscilaes,
harmnicas e inter-harmnicas, efeitos transitrios, interrupes, etc.
(Figura 9b) um analisador de baixo custo, detecta problemas na qualidade de energia numa rede
monofsica tais como cavas, swells

Figura 9
24
e sinais medidos durante uma longa monitorizao da rede elctrica em duas localizaes
O algoritmo implementado aplica mtodos diferentes para detectar e classificar dois grupos de
perturbaes. Para a deteco de transitrios e distores das formas de onda usado um filtro
matemtica morfolgica de fecho [23] [31][34] [36
componente fundamental da frequncia do sinal e deixa somente a componente
m as eventuais perturbaes. Dependendo da aplicao, o filtro pode ser
usado para remover outras componentes da frequncia que no tm interesse.
uso de um filtro, outra soluo passa por usar algoritmos de adaptao de sinusides
o detectar eventuais perturbaes. Seja ao sinal filtrado
aplicada a operao morfolgica de fecho. Esta
sinal baseado na sua forma [38]. Consoante o valor de amplitude medido, a
urbao classificada como transitrio, harmnica, inter-harmnica ou
sobretenses e interrupes analisado o valor RMS do sinal de tenso
para detectar estes eventos. Estes algoritmos, usados para a deteco e classificao de eventos
so rpidos, simples e adequados para a implementao em DSP ou FPGA, ao cont
No Captulo 4 dada uma explicao mais detalhada e de cada passo
tambm apresentado o esquema de blocos do funcionamento geral dos
Alguns analisadores da qualidade de energia no mercado
no mercado muitos analisadores, dos quais se apresentam dois exemplos:
analisador de qualidade de energia trifsica, FLUKE 430, da FLUKE
e o PQ1 Power Quality

Power Standards Lab
. O analisador da FLUKE
(Figura 9a) funciona

61000 - 4 - 30 Classe A (norma que regula os mtodos de anlise da
ergia), permite analisar parmetros, eventos e anomalias relativamente energia
s, efeitos transitrios, interrupes, etc. O PQ1 Power Quality Sensor
um analisador de baixo custo, detecta problemas na qualidade de energia numa rede
swells e interrupes.

(a) (b)
O analisador FLUKE 430 (a) e o analisador PQ1 (b).
em duas localizaes
mtodos diferentes para detectar e classificar dois grupos de
de onda usado um filtro
36]. O filtro remove a
componente da tenso
Dependendo da aplicao, o filtro pode ser
. Alternativamente ao
uso de um filtro, outra soluo passa por usar algoritmos de adaptao de sinusides [37]. Atravs do
inal filtrado, seja aos
. Esta usada para o
Consoante o valor de amplitude medido, a
harmnica ou rudo. No caso da
e interrupes analisado o valor RMS do sinal de tenso
classificao de eventos,
so rpidos, simples e adequados para a implementao em DSP ou FPGA, ao contrrio dos
dada uma explicao mais detalhada e de cada passo
ema de blocos do funcionamento geral dos
no mercado
muitos analisadores, dos quais se apresentam dois exemplos:
e o PQ1 Power Quality
) funciona em total
30 Classe A (norma que regula os mtodos de anlise da
ergia), permite analisar parmetros, eventos e anomalias relativamente energia
O PQ1 Power Quality Sensor
um analisador de baixo custo, detecta problemas na qualidade de energia numa rede

25
Captulo 3 -
Arquitectura do Sistema

A monitorizao fivel e em tempo real da qualidade de energia tem vindo a ganhar uma
enorme importncia nos ltimos anos para os distribuidores de energia e para os fabricantes de
equipamento elctrico. Um sistema que realize a monitorizao da qualidade de energia e detecte e
classifique as eventuais perturbaes de forma fivel, tem de ser um sistema robusto, quer a nvel de
hardware, quer a nvel de software. Neste captulo apresentado o hardware utilizado e os protocolos
de comunicao necessrios.
Este captulo est estruturado de forma progressiva com o intuito de esclarecer o leitor acerca
do funcionamento do prottipo: na primeira seco descrito o funcionamento geral do sistema e nas
restantes seces so abordadas, em maior detalhe, as opes de projecto escolhidas assim como a
escolha e dimensionamento dos circuitos.
3.1 Funcionamento Geral
Os mtodos de deteco e classificao de perturbaes na qualidade de energia so
implementados num prottipo cujo diagrama de blocos est representado na Figura 10. O sistema
que ir monitorizar uma rede monofsica de 230 V/50 Hz composto, essencialmente, por seis
unidades distintas: 1) unidade de interface com a rede elctrica; 2) unidade de condicionamento do
sinal de tenso; 3) unidade de aquisio do sinal analgico e converso do mesmo num sinal digital;
4) unidade de processamento do sinal adquirido e dos algoritmos implementados; 5) mdulo de
memria externa e relgio em tempo real; e 6) alimentao de todo o sistema.
A unidade de interface com a rede elctrica constituda por um transdutor baseado no efeito
de Hall que transforma o sinal de tenso lido, num sinal sinusoidal de menor amplitude, numa
proporo de 230 V para 1,18 V. Para a medio da tenso, a corrente proporcional tenso de rede
tem de percorrer uma resistncia ligada em srie com o circuito primrio do transdutor. O sinal
sada do transdutor por sua vez modificado por um circuito condicionador de sinal que transforma o
sinal bipolar de entrada num sinal unipolar compatvel com o conversor analgico digital (ADC).
26

Figura 10 Diagrama de blocos representativo do analisador de qualidade de energia e fonte de alimentao.
O ADC tem a funo de converter o sinal analgico de tenso que lhe aplicado, proveniente
do condicionador de sinal, em palavras digitais, cujo comprimento individual definido pelo nmero
de bits do conversor. O conversor est ligado a um porto srie (SPORT) do DSP. , pois, o
ADSP-21369 que, para alm de realizar todo o processamento requerido para a anlise da qualidade
de energia, isto , processar os algoritmos necessrios para a deteco e classificao de
perturbaes, ir gerar e enviar os sinais de controlo (CLK e CS) ao ADC via SPI e guardar na
memria interna as amostras adquiridas atravs de uma funo de interrupo peridica do DSP.
Como a memria interna do DSP insuficiente para o armazenamento de um elevado nmero de
pontos (apenas 2 Mbit, 64 k palavras de memria), foi ligada uma memria exterior (SDRAM) com
128 Mbit (4 M palavras) de capacidade de armazenamento. Os blocos de dados so transferidos da
memria interna do DSP para essa memria externa via DMA. Os resultados da deteco e
classificao de perturbaes (caso ocorram) so tambm enviados para um PC, via UART/RS-232,
para armazenamento e posterior consulta. A cada perturbao est associada um conjunto de
caractersticas tal como o instante temporal da ocorrncia, a amplitude, durao, etc. Para medir os
instantes de tempo recorre-se a um relgio em tempo real (RTC), cujo controlo realizado por I
2
C.
Este prottipo tem ainda uma fonte de alimentao redundante que ir alimentar todos os
componentes que constituem o sistema no s durante o funcionamento normal mas tambm quando
ocorrerem interrupes na tenso.
3.2 Sensor de Tenso Baseado no Efeito de Hall
De forma a implementar o sistema proposto necessrio poder adquirir o sinal da tenso
elctrica monofsica, que uma tenso simples. Como os nveis de tenso so demasiado elevados
( 230 2 V AC) para poderem ser adquiridos pelo ADC e manipulados pelo processador digital de
sinal, utilizado um sensor baseado no efeito de Hall na interface com a rede elctrica. Este sensor
reduz o sinal adquirido para valores de baixa amplitude, sendo que esta no pode sair da gama de
tenses suportada pelas entradas do ADC. Para evitar que esta situao ocorra, necessrio um
circuito electrnico analgico que condicione o sinal
27
3.2.1 Efeito de Hall
O efeito de Hall consiste no surgir de uma tenso elctrica num condutor percorrido por uma
corrente e imerso num campo magntico. Os electres em movimento nesse condutor esto sujeitos
a uma fora devido ao campo magntico que os empurra na direco de uma das faces do condutor,
tal como ilustrado na Figura 11. Isso faz com que haja uma acumulao de electres numa das faces
do condutor que adquire uma carga negativa. Na face oposta surge uma carga positiva pela falta dos
electres que se deslocaram para a outra face. Essa distribuio no uniforme de cargas leva ao
surgimento de um campo elctrico que se opem ao movimento das cargas fazendo com que se
estabelea um equilbrio entre o efeito do campo magntico externo e o campo elctrico interno
(perpendicular corrente). Esse campo elctrico d origem a uma diferena de potencial entre as
faces do condutor.

Figura 11 Ilustrao representativa do Efeito de Hall (fonte [39]).
O sensor de efeito de Hall um transdutor que varia a tenso sua sada consoante a
variao do campo magntico. Estes sensores tm, em geral, uma elevada resoluo e robustez mas
sofrem de dependncia com a temperatura e apresentam uma tenso residual devido presena de
campos magnticos externos. Normalmente tm rea elevada, o que poder ser uma limitao
consoante a aplicao.
3.2.2 Sensor de tenso LEM LV 25-P e dimensionamento
O sensor de tenso utilizado neste trabalho o modelo LV 25-P [40] do fabricante LEM
. Este
sensor, apresentado na Figura 12, baseia-se no efeito de Hall em circuito fechado (closed loop),
suporta tenses de entrada em AC ou em DC at 500 V, possui isolamento galvnico entre o circuito
primrio (BT) e o circuito secundrio (electrnico) e tem excelentes preciso, linearidade e imunidade
a interferncias exteriores. O factor de converso do primrio para o secundrio de 2500:1000, o
que significa que a corrente que percorre o circuito secundrio 2,5 vezes maior que a corrente no
primrio, tal como veremos mais adiante. Uma outra soluo passaria pela substituio deste sensor
por um divisor resistivo, composto por vrias resistncias de valor elevado para reduzir o consumo e
no afectar a rede. Estas teriam de ser escolhidas de forma a se medir uma tenso adequada.
Apesar do sensor ocupar uma rea maior quando comparado com o divisor resistivo, oferece
caractersticas de isolamento que o divisor resistivo no possui.
28

Figura 12 Transdutor de tenso LEM
LV 25-P (fonte[40]).
O circuito aconselhado para a montagem do sensor encontra-se representado na Figura 13.
Para medies em tenso, a corrente proporcional tenso medida tem de passar por uma
resistncia exterior R
0
, por sua vez ligada em srie entre o terminal de fase da rede elctrica e o
terminal do circuito primrio (HT+). O outro terminal do circuito primrio (HT-) ligado ao neutro. Uma
vez que se tem corrente no circuito secundrio atravs de induo magntica, necessrio colocar
uma resistncia R
M
entre o terminal de medio M e a massa. A tenso medida neste terminal ser
sinusoidal, sem componente contnua, mas de amplitude menor que na entrada do primrio. Ao
terminal + liga-se uma tenso contnua compreendida entre +12 e +15 V e no terminal - uma
tenso compreendida entre -12 e -15 V ( 5 % para ambas).

Figura 13 Esquema elctrico com o sensor de tenso e ligao rede elctrica.
A resistncia R
0
dimensionada tendo em conta as seguintes condies:
1) Como o valor da impedncia dos enrolamentos do circuito primrio, R
P
,

tem valor 250 a
+70C (valor do datasheet), o valor da resistncia R
0
tem de ser muito maior, de forma a
manter o desvio trmico o mais baixo possvel;
2) O funcionamento ptimo do transdutor depende do valor eficaz da corrente nominal no
primrio (I
P_NOM
). A resistncia R
0
convm ser dimensionada de forma a que I
P_NOM
= 10 mA
e tambm considerando que a rede elctrica poder ter picos ou sobretenses com o dobro
do valor eficaz nominal. Esta ltima considerao tem a inteno de proteger os
componentes e permitir uma maior gama de tenses a medir, por exemplo, para medir
sobretenses. O valor de R
0
ento

P_NOM
0 3
P_NOM
2 U
2 230
R 46 k
I 10 10

= = =
. (2)
3) Tendo em conta as solues apresentadas no mercado, o valor de resistncia que mais se
aproxima do pretendido 47 k. A corrente eficaz mxima permitida no circuito primrio
ser, para este valor de resistncia e considerando a resistncia dos enrolamentos R
P
,
29

P_NOM
P_MAX 3
0 P
2 U
2 230
I 9,735 mA
R R 47 10 250

= = =
+ +
. (3)
A corrente eficaz mxima no secundrio do sensor, I
S_MAX
, calculada atravs de

-3
S P
2500
I = I = 2,5 (9,735 10 ) = 24,34 mA
1000
(4)
uma vez que o seu valor 2,5 vezes maior que I
P
(relao dada pelo nmero de espiras).
4) A potncia escolhida para a resistncia R
0
tem de ser igual ou superior ao quociente do
quadrado do dobro da tenso eficaz nominal pelo valor da resistncia,

( ) ( )
2
2
P_NOM
0
2 U
2 230
P 4,5 W
R 47000

= = . (5)
Assim sendo, a resistncia R
0
seleccionada tem valor 47 k e potncia 7 W, cumprindo as
condies anteriores.
A resistncia R
M
a resistncia de medida sada do secundrio. O nvel de tenso aos seus
terminais tem de ser limitado ao valor mximo de 3,3 V. Este valor foi escolhido consoante o circuito a
ser colocado posteriormente (ADC e DSP). Tendo em conta valor eficaz mximo, U
M
, que a
resistncia ir suportar

M_MAX
M
U
3,3
U V
2 2
= = (6)
e a corrente sada do secundrio, o valor da resistncia de medida

M
M
3
S
U 3,3
R 95,87
I
2 24,34 10
= = =

(7)
Consoante as opes de mercado, escolheu-se uma resistncia de valor 95,3 . A potncia
desta resistncia dever ser superior a

( )
2
3,3
P 114 mW
95,3
= (8)
A resistncia R
M
seleccionada tem 0,1 % de tolerncia e potncia de 250 mW. Tendo R
M
este
novo valor, U
M
ter ento o valor mximo estimado de 3,28 V (2,32 V

de valor eficaz) quando
entrada estiverem 460 V de valor eficaz.
3.2.3 Resultados observados
Ligou-se um multmetro rede elctrica e mediu-se o valor eficaz de tenso (U
P
= 236 V).
Realizou-se a montagem presente na Figura 13 (consultar Anexo A.1 para mais detalhe), com
resistncias R
0
= 47 k e R
M
= 95,3 e observou-se o sinal no terminal M do sensor recorrendo ao
osciloscpio digital Tektronix

praticamente sem componente DC
clculos, aproximadamente 1,20
vrios factores dos quais se destaca a variao dos valores das resistncias
concluir com um nico teste, acerca da linearidade do sensor. O teste
na seco 5.2 deste trabalho.
Figura 14 Forma de onda da tenso sada do sensor LV 25
contudo necessrio ajustar o sinal
unipolar (devido ao alcance do ADC)
necessrio dimensionar um circuito
de tenso e a entrada do ADC.
3.3 Circuito de Condicionamento
Atendendo que o ADC pr
sinal sada do sensor de tenso bipolar, teve de se
condicionamento do sinal. Este circuito
e que esteja, ao mesmo tempo, dentro da gama de tenses de aquisio do ADC
tal, foi implementado o circuito da
+5
-5
VIN
A1
[0 6,6 V
PP
]
Figura 15 Esquema elctr

30
2012 (Figura 14). O sinal , tal como esperado, sinusoidal,
sem componente DC e com tenso eficaz de valor 1,22 V (o valor esper
clculos, aproximadamente 1,20 V). A disparidade do valor medido para o valor estimado
dos quais se destaca a variao dos valores das resistncias. Tambm nada
com um nico teste, acerca da linearidade do sensor. O teste da linearidade apresentado
Forma de onda da tenso sada do sensor LV 25-P (na figura direita em escala maior).
justar o sinal antes de o aplicar ao ADC. Este tem de ser um sinal
do ADC) para ento se proceder aquisio de sinal.
dimensionar um circuito condicionar de sinal que ser colocado entre a sada do sensor
de Condicionamento de Sinal
o ADC pr-seleccionado (AD7980) apenas aceita tenses
de tenso bipolar, teve de ser dimensionado e implementa
Este circuito tem como objectivo tornar o sinal adquirido num sina
e que esteja, ao mesmo tempo, dentro da gama de tenses de aquisio do ADC
foi implementado o circuito da Figura 15.
R1
SMD 1206
20 k
R
3
SMD 1206
20 k
R
4
SMD 1206
10 k
R2
SMD 1206
10 k
+5 V
5 V
5 V
-5 V V2
+3,3 V
(REF)
VOUT
V1
A2
[0
lctrico do circuito condicionador do sinal proveniente do sensor de tenso.

. O sinal , tal como esperado, sinusoidal,
V (o valor esperado, atravs de
. A disparidade do valor medido para o valor estimado deve-se a
. Tambm nada se pode
linearidade apresentado

(na figura direita em escala maior).
. Este tem de ser um sinal
para ento se proceder aquisio de sinal. Desta forma,
de sinal que ser colocado entre a sada do sensor
es positivas e que o
e implementado um circuito de
adquirido num sinal unipolar
e que esteja, ao mesmo tempo, dentro da gama de tenses de aquisio do ADC (de 0 a 3,3 V). Para
OUT
3,3 V]

sensor de tenso.
31
3.3.1 Dimensionamento das resistncias
A entrada V
IN
est ligada sada V
OUT_SENSOR
do sensor de tenso e a sada V
OUT
vai ser ligada
posteriormente entrada IN+ do ADC. A primeira parte deste circuito constituda pelo amplificador
operacional A1 em montagem buffer e tem a nica misso de adaptar o sinal de entrada,
providenciando uma elevada impedncia de entrada para o restante circuito. A segunda parte
constituda pelo amplificador A2 e pelas resistncias R
1
a R
4
em montagem diferena. Ambos os
amplificadores fazem parte do integrado ADOP284 da Analog Devices [41]. A tenso de sada V
OUT

1 2 4 2
OUT 2 1
3 4 1 1
R R R R
V V V
R R R R
| | +
=
|
+
\
. (9)
Se,

3 1
2 4
R R
R R
= (10)
ento (9) pode ser simplificada e escrita como

2 2
OUT 2 1
1 1
R R
V V V
R R
= . (11)
De (11) depreende-se que o sinal de sada V
OUT
dado pela soma de duas componentes. A primeira
uma componente contnua, DC
OFFSET
, e a segunda constituda pelo sinal de entrada invertido
(-V
1
). Como o ADC impe que sua entrada esteja um sinal compreendido entre 0 e 3,3 V, o sinal em
V
OUT
ter de ter o valor mdio fixo em 1,65 V e o valor mximo em 3,3 V. Assim sendo, o valor de
offset dado por

2
OFFSET 2
1
R
DC V 1,65
R
= = V. (12)
Considerando que o sinal V
1
um sinal sinusoidal com 6,6 V
PP
(para o pior caso) com
componente contnua nula, para o dimensionamento do rcio R
2
/R
1
considera-se que a sada V
OUT

ter o seu valor mximo (V
OUT_MAX
) quando V
1
for mnimo (V
1_MIN
), ou seja, -3,3 V

2 2 2
OUT_MAX 1_MIN
1 1 1
R R R
V 1,65 - V 3,3 1,65 - (-3,3) 0,5
R R R
= = = . (13)
Escolhendo R
1
= R
3
= 20 k e R
2
= R
4
= 10 k, cumprido o rcio R
2
/R
1
= 0,5 e, com estes
valores, determina-se que V
2
= 3,3 V. Substituindo estes valores na equao (11) tem-se

2 2
OUT 2 1 1
1 1
R R
V V V 1,65 - 0,5 V
R R
= = . (14)
De (14) sabe-se que o sinal sada deste circuito ter valor mdio de valor 1,65 V e a sua
amplitude ser sempre metade do valor da amplitude do sinal de entrada. Desta forma so cumpridos
os requisitos para as tenses que o ADC pode ter sua entrada.
3.3.2 Resultados obse
O circuito de condicionamento de sinal foi testado separadamente do sensor de tenso. Na sua
entrada foram aplicados, separadamente, dois sinais sinuso
recorrendo a um gerador de funes
entrada (CH1) est representado a amarelo enquanto que o sinal de sada (CH2) a azul. Tal como
era esperado, o sinal de sada aparece invertido e com m
tem uma componente contnua, centrado em 1,65
Figura 16 Formas de onda medidas entrada do circuito condicionador de sinal (CH1) e sua sada (CH2).
3.4 Conversor Analgico Digital
O conversor analgico digital um dispositivo que converte um sinal analgico num sinal
digital. O tempo de converso, o nmero de bits, o tipo de sada (srie/paralelo), a escala unipolar ou
bipolar so as caractersticas bsicas de um ADC
de funcionamento: tenso-frequncia, tenso
(simultneo, aproximaes sucessivas), sigma
projecto o modelo AD7980, da
sucessivas de 16-bit, representado
Numa fase inicial do projecto, foi utilizado para desenvolvimento o
Devices
, presente no kit de desenvolvimento onde tambm se encontra o

tem 24 bits de resoluo, funciona segundo o princpio sigma
apenas suportar duas frequncias de amostragem
com o AD1835 teve o intuito de dar experincia na manipulao de dad
na programao.
CH1
CH2
32
Resultados observados
entrada foram aplicados, separadamente, dois sinais sinusoidais com amplitudes diferentes
gerador de funes [42]. Os sinais podem ser observados na Figura
era esperado, o sinal de sada aparece invertido e com metade da amplitude do sinal de entrada e
tem uma componente contnua, centrado em 1,65 V.
Formas de onda medidas entrada do circuito condicionador de sinal (CH1) e sua sada (CH2).
Analgico Digital (ADC)
O tempo de converso, o nmero de bits, o tipo de sada (srie/paralelo), a escala unipolar ou
caractersticas bsicas de um ADC. H vrios tipos de ADCs consoante os princpios
frequncia, tenso-tempo (rampa simples, dupla rampa), comparao
(simultneo, aproximaes sucessivas), sigma-delta, pipeline, etc. O ADC escolhido para este
da Analog Devices
[43], e um conversor unipolar

presentado na Figura 17.
Numa fase inicial do projecto, foi utilizado para desenvolvimento o ADC AD1835, da
de desenvolvimento onde tambm se encontra o DSP. Este um ADC que
tem 24 bits de resoluo, funciona segundo o princpio sigma-delta mas tem o inconveniente de
apenas suportar duas frequncias de amostragem: 46 kHz e 96 kHz. Esta primeira fase de projecto
com o AD1835 teve o intuito de dar experincia na manipulao de dados adquiridos e detectar erros
CH1
CH2
idais com amplitudes diferentes
Figura 16. O sinal de
etade da amplitude do sinal de entrada e

Formas de onda medidas entrada do circuito condicionador de sinal (CH1) e sua sada (CH2).
O tempo de converso, o nmero de bits, o tipo de sada (srie/paralelo), a escala unipolar ou
ios tipos de ADCs consoante os princpios
tempo (rampa simples, dupla rampa), comparao
, etc. O ADC escolhido para este
unipolar de aproximaes
ADC AD1835, da Analog
DSP. Este um ADC que
delta mas tem o inconveniente de
kHz. Esta primeira fase de projecto
os adquiridos e detectar erros
33

Figura 17 Diagrama ilustrativo do AD7980 com as respectivas entradas e sada.
A mudana para um ADC externo trouxe claras vantagens em relao ao anterior. Para alm
da velocidade, o consumo do AD7980 linear com a frequncia de amostragem pretendida (at
1 MS/s). Por exemplo, o consumo a 1 MS/s de 7 mW e para 10 kS/s de 70 W [43].
Este conversor compatvel com vrios modos de comunicao, no entanto, o protocolo de
comunicao SPI (Serial Peripheral Interface) que vai ser usado para o processador comunicar com o
ADC. No foi escolhido um ADC com entrada bipolar por este apresentar um preo que poderia
chegar, consoante os casos, a um incremento de 200 % em relao ao preo do ADC seleccionado.
Assim sendo, tambm se justifica a presena do circuito condicionador de sinal descrito
anteriormente.
3.4.1 Esquema elctrico
O esquema elctrico implementado est representado na Figura 18. Analisando a figura
podemos verificar que foram adicionados, em relao Figura 17, diversos componentes assim como
esto tambm representadas as ligaes ao processador digital de sinal e as alimentaes
necessrias. Segue-se ento a discriminao justificada das opes tomadas na escolha dos
componentes.
IN+
IN-
CNV
SDO
SCK
SDI
VIO
REF VDD
GND
ADC
AD7980
[0 3,3 V]
Analog Input
+3,3 V
(REF)
C1
2,2 F
C2
100 nF
C3
10 F
C
4
100 nF
+2,5 V
C5
100 nF
+3,3 V
DSP
Clock (DAIP9)
Data In (DAIP7)
Convert (DAIP5)
C
6
10 nF
R
5
1,1 k
C
7
47 pF

Figura 18 Esquema elctrico com ADC, componentes e ligaes ao DSP.

34
O sinal analgico proveniente do circuito condicionador de sinal um sinal sinusoidal centrado
em 1,65 V e com amplitude passvel de atingir o valor mximo de 3,3 V, consoante a sada do sensor
de tenso. Antes de ser adquirido pelo ADC, o sinal filtrado por um filtro passa-baixo constitudo
pela resistncia R
5
e pelo condensador C
6
, cuja frequncia de corte f
c

5 6
1 (2 R C ) 14 kHz
c
f = . (15)
O objectivo deste filtro no s evitar o fenmeno de espelhamento espectral (aliasing) como
tambm reduzir ao mximo o rudo de forma a preservar o SNR (Signal-to-Noise Ratio) e o
desempenho ptimo do ADC. Depois de filtrado, o ADC recebe o sinal na entrada IN+ prosseguindo
com a aquisio e converso do mesmo. A entrada IN+, referenciada a IN-, impe que o alcance do
sinal esteja compreendido entre 0 e a tenso de referncia V
REF
que, neste caso, ter o valor 3,3 V
(ver anexo A.2). Como o terminal de referncia tem uma impedncia de entrada dinmica, este deve
ser desacoplado por condensadores para evitar componentes indesejveis e transitrias. Os
condensadores C
1
, C
2
e C
3
anulam as mnimas variaes de tenso que eventualmente possam
surgir, para uma elevada gama de frequncias.
O AD7980 alimentado por dois terminais: VDD e VIO (input/output interface digital power). A
tenso no terminal VDD 2,5 V enquanto que a tenso no terminal VIO tem o mesmo valor de tenso
que nas linhas provenientes do DSP (host interface). Os sinais digitais nestas linhas so sinais
binrios em que o nvel V
IH
3,3 V. Desta forma, a tenso em VIO ser 3,3 V. Os terminais VDD e
VIO tambm devem ser desacoplados por condensadores de 100 nF (C
4
e C
5
). Os restantes quatro
terminais (SDI, SCK, SDO, CNV) so sinais de controlo ou dados, cuja ligao pode ser efectuada de
diversas formas, consoante o modo de funcionamento pretendido. Na seco 3.4.2 est descrito do
modo de funcionamento implementado.
Na Figura 19 pode-se observar a funo de transferncia ideal do ADC e na Tabela 3 os
valores de cdigo digital sada para determinados valores de tenso entrada. Define-se LSB
(Least Significant Bit) como o peso do bit menos significativo, isto , LSB a resoluo do conversor
e define-se FSR (Full Scale Range) como o alcance mximo do ADC. O valor da resoluo

MAX MIN
16
V -V FSR 3, 3 0
LSB 50, 35
2 1 2 1 2 1
n n

= = = =

V.
(16)

Figura 19 Funo de Transferncia Ideal do ADC.

35
Tabela 3 Cdigo de sada para entradas de tenso ideais.
Descrio
Valor de tenso analgico
para VREF=3,3 V
Cdigo Digital
de Sada (Hexadecimal)
FSR 1LSB 3,299949646 V FFFF
Meio da Escala + 1LSB 1,650050354 V 8001
Meio da Escala 1,65 V 8000
Meio da Escala 1LSB 1,649949646 V 7FFF
FSR + 1LSB 50,35477 V 0001
FSR 0 V 0000

3.4.2 Modo de funcionamento
Apesar de ter um nmero reduzido de terminais, o AD7980 oferece grande flexibilidade na
interface para processamento digital. O modo CS (Chip Select) seleccionado se o terminal SDI tem
o estado lgico HIGH durante o flanco ascendente de CNV e, neste caso, o ADC compatvel com
os protocolos de comunicao SPI e QSPI (Queued Serial Peripheral Interface). A interface digital
pode usar 3 ou 4 terminais. A soluo de 3 terminais (3-wire) usa apenas os sinais CNV, SCK e SDO
e bastante til para aplicaes em que apenas necessrio um ADC. A soluo de 4 terminais
(4-wire) utilizada quando se tm, pelo menos, dois ADC ligados em cadeia (daisy-chain).
Na soluo com 3 terminais, com o terminal SDI ligado a VIO, isto , ligado a uma tenso
contnua positiva, o flanco ascendente do sinal em CNV inicia a converso do sinal, o modo CS
seleccionado e o terminal SDO forado ao estado de alta impedncia. A converso executada
independentemente do estado de CNV. Isto pode ser til para, por exemplo, seleccionar outros
dispositivos que comuniquem por SPI, no entanto, CNV deve voltar ao estado HIGH antes que o
tempo mnimo de converso termine. No estado de aquisio e quando CNV tem um flanco
descendente, o bit mais significativo (MSB) transferido para a sada SDO. Desta forma, os restantes
15 bits so transferidos para a sada digital sempre nos seguintes flancos descendentes de SCK
(SDO est sincronizado com SCK). Aps transferido o 16 bit, o terminal SDO regressa ao estado de
alta impedncia. A Figura 20 ilustra este modo de funcionamento.

Figura 20 Funcionamento com 3 terminais, em modo CS, com SDI = HIGH (fonte [43]).

36
3.5 Memria Externa
A memria interna do ADSP-21369, de capacidade 2 Mbit, insuficiente para guardar todas as
amostras que se desejam obter, dados adicionais, dados temporrios e ainda processar os algoritmos
implementados. Para satisfazer as necessidades de projecto foi includa uma memria externa, do
tipo SDRAM (Synchronous Dynamic Random Access Memory), de capacidade 1 Mbit x 32 x 4, ou
seja, 128 Mbit de espao de armazenamento. A memria, modelo MT48LC4M32B2 da Micron
[44],
est organizada em 4 bancos de 32 Mbit, cada um com 4096 linhas por 256 colunas e 32 bit (Tabela
4). O endereamento do dispositivo de memria passa ento pela indicao do banco, linha e coluna.
Na Figura 21 pode-se observar um esquema de ligaes entre o DSP e a memria. o terminal /MSx
que vai seleccionar qual o banco de memria a ser usado. No caso deste projecto apenas foi
necessria a utilizao de um banco, o banco 2 e, por conseguinte, /MS2 activado.
Tabela 4 Gama de endereos e dimenso dos bancos de memria.
Banco Tamanho (em palavras) Gama de Endereos
0 62 M 0x0020 0000 - 0x03FF FFFF
1 64 M 0x0040 0000 - 0x07FF FFFF
2 64 M 0x0800 0000 - 0x0BFF FFFF
3 64 M 0x0C00 0000 - 0x0FFF FFFF

Figura 21 Ligaes entre o DSP e a memria externa.
A velocidade mxima de acesso memria e a usada neste trabalho 166 MHz. A sua
configurao ser explicada na seco 3.7. A memria alimentada, tal como o ADC, a 3,3 V. Uma
descrio mais pormenorizada do acesso memria, por DMA, realizada no Captulo 5 - Testes e
Resultados. O esquema elctrico da memria com o processador pode ser consultado no Anexo A.2.

37
3.6 Relgio em Tempo Real
De modo a que haja um registo temporal permanente de quando ocorrem as perturbaes
necessria a presena de um relgio em tempo real. O RTC escolhido o modelo M41T81S, da
marca, STMicroelectronics
[45]. Este RTC capaz de contar dezenas de milissegundos, segundos,

minutos, horas, dias, meses, anos e sculos. A comunicao entre o processador e o RTC feita por
I
2
C atravs da linha SDA, a 400 kHz. O formato dos nmeros o BCD (binary coded decimal), em
que 8 bytes da SRAM interna so para funes de relgio/calendrio e 12 bytes para leitura do status
do integrado ou controlo de timers. O esquema das ligaes entre o RTC e o DSP pode ser
consultado na Figura 22. O esquema elctrico mais detalhado pode ser consultado no Anexo A.2.
O M41T81S alimentado a 3,3 V e tem ainda uma pilha modelo BR1225 (3 V e 48 mAh) de
backup para alimentar o integrado caso haja falha de energia. Segundo a nota informativa AN1012 da
STMicroelectronics
[46], o tempo de vida da pilha pode ir de 300 h a 1800 h, consoante a carga a ela
associada.

Figura 22 Ligaes entre o RTC M41T81S e o DSP.
3.7 DSP
Para processar os algoritmos de deteco de perturbaes, gerar sinais de controlo para o
ADC ou para a memria SDRAM necessrio, primeiramente, configurar o DSP utilizado neste
projecto. O processador ADSP-21369 apresenta dois modos de configurao do sinal de relgio
interno (Core Clock CCLK): modo normal e modo bypass. O modo utilizado neste trabalho o modo
normal, ilustrado na Figura 23.
Para gerar o sinal CCLK o processador recorre a uma malha de fase sncrona (PLL) interna.
Esta capaz de sintetizar vrios valores de frequncia a partir de um cristal de 24,576 MHz pois tem
um multiplicador e um divisor controlados atravs de software. O divisor (N) est limitado a apenas
quatro valores (1, 2, 4 e 8) enquanto que o multiplicador (M) oferece 64 factores de multiplicao.
Variando os campos PLLD e PPLM, do registo PMCTL (Power Management Control Register), o DSP
capaz de gerar variadas frequncias, consoante o desejo do programador. a partir do sinal CCLK
(um mltiplo de CLK
IN
) que se podem gerar outros sinais de relgio, nomeadamente, para memria,
perifricos e portos srie.
38
Os sinais CCLK e SDCLK (SDRAM Clock) so obtidos, respectivamente, a partir de

IN
CLK
CCLK PLLM
PLLD
= (17)
e de

CCLK
SDCLK =
SDRATIO
. (18)

Figura 23 Diagrama de blocos simplificado e ilustrativo da relao entre o sinal de relgio gerado por um cristal e os restantes
sinais de relgio usados pelo processador, perifricos e memria.
Para este projecto, foi escolhida a frequncia CCLK = 331,776 MHz para velocidade de
processamento do processador e, para tal, PLLM = 27 e PLLD = 2. Fazendo SDRATIO = 2 foi
escolhida a velocidade mxima permitida SDRAM (166 MHz). Apesar da frequncia do processador
poder ir at aos 400 MHz, a velocidade mxima permitida para este trabalho aproximadamente
332 MHz, pois em (18) a frequncia do processador est condicionada pela velocidade mxima
permitida SDRAM.
3.8 Comunicao
O baixo custo e a capacidade de processamento dos computadores pessoais tornaram esses
mesmos computadores nas plataformas ideais para o controlo de sistemas automticos de medida
e/ou ensaio. Para ligar o equipamento exterior ao canal interno de um computador pode-se utilizar
uma interface de comunicao normalizada. O uso de interfaces normalizadas simplifica a tarefa de
estabelecer uma comunicao entre um equipamento e um controlador uma vez que esto
automaticamente resolvidos os problemas de compatibilidade entre sistemas e permitem tambm o
uso de transmissores e receptores normalizados [47].
Neste trabalho recorreu-se ao protocolo de comunicao RS232 (Recommended Standard
232) para transferncia de dados para uma plataforma exterior. Foi desenvolvido um programa
implementado em LabVIEW
para receber os dados enviados pelo ADSP-21369 e guard-los em

39
ficheiros de extenso .xls e .txt, para posterior consulta. A UART (Universal Asynchronous
Receiver/Transmitter) foi configurada com 8 bits de dados, paridade mpar e 2 bits de paragem. O
ritmo de transmisso de dados, ou baud rate, ficou estabelecido em 115200 baud (valor normalizado).
Os dados so enviados byte a byte, atravs de uma funo de interrupo controlada pelo
processador.
O SPI (Serial Peripheral Interface) um protocolo de comunicao muito utilizado para
comunicaes com micro-controladores e/ou perifricos. Tal como j foi referido, este protocolo
utilizado para a comunicao entre o DSP (master) e o ADC (slave). o DSP que inicia a
comunicao com o ADC, atravs do envio dos sinais de relgio.
Em aplicaes de aquisies de dados muitas vezes necessrio fazer transferncia de dados
a ritmos superiores queles que so possveis utilizando um ciclo simples de leitura/escrita. As
transferncias de dados controlados pelo processador para um dispositivo necessitam de muito
tempo de processador e so processados a um ritmo relativamente baixo. Para alm disso, o
processador no pode executar mais nenhum processamento durante estas operaes de
entrada/sada de dados programadas. Aplicaes como, por exemplo, a transferncia de informao
do monitor ou os dados adquiridos por uma placa de aquisio de dados podem necessitar de ritmos
elevados e a quantidade de dados a transferir tambm grande. O acesso directo memria (DMA),
para alm de aumentar o ritmo de transferncia facilita o multiprocessamento. Contrariamente ao que
se passa com interrupes programadas em que os dados so transferidos utilizando o processador
e os seus registos internos, as transferncias via DMA so feitas directamente entre o equipamento
de entrada/sada e a memria. Neste trabalho utilizado o acesso directo memria para ler e
escrever grandes quantidades de dados de forma rpida directamente na memria externa.
I
2
C (Inter Integrated Circuit) ou TWI (Two-Wire Interface) o protocolo utilizado para a
comunicao entre o DSP e o circuito de relgio de tempo real. O relgio em tempo real funciona
como dispositivo escravo no barramento srie, cujo endereo de acesso D0H. Cada transferncia
de informao iniciada com uma condio de incio (start) e terminada com uma condio de fim
(stop). Os dados so transmitidos ao byte (8 bits) e o receptor responde com um bit de
reconhecimento (acknowledge). Em modo de leitura, o dispositivo mestre (DSP) l a informao do
dispositivo transmissor (M41T81S) depois de lhe enviar o endereo deste (os 7 bits mais significativos
de D0H). Depois de enviados os bits de controlo de leitura (R/W=0) e de ACK, o mestre envia ao
escravo a palavra de endereo, A
n,
que pretende ler (por exemplo, para ler as horas, minutos,
segundos ou dezenas de milissegundos os endereos so, respectivamente, 03H, 02H, 01H, 00H).
Aps os 8 bits de A
n
terem sido enviados o bit de controlo R/W colocado a 1 e o DSP torna-se ento
em mestre receptor. O byte endereado transmitido e o mestre ir enviar um bit de ACK para o
escravo transmissor quando a transmisso terminar. No entanto, a primeira operao a ser efectuada
antes de qualquer outra o estabelecimento do tempo no RTC (escrita), nomeadamente as horas,
minutos e segundos.

40
3.9 Fonte de Alimentao Redundante
A fonte de alimentao redundante projectada para este trabalho deve continuar a ser capaz
de alimentar o sistema de medio da qualidade de energia (sensor de tenso, ADC, SDRAM, etc.)
mesmo quando ocorrem interrupes na rede elctrica. Assim sendo, a fonte deve carregar uma
bateria de reserva ao mesmo tempo que o sistema alimentado.
O diagrama de blocos representativo da fonte de alimentao est ilustrado na Figura 24, de
onde se destacam 3 mdulos. O primeiro constitudo por um conversor AC/DC da marca
EGSTON
[48] com tenso de sada contnua fixa a 5 V, capaz de fornecer at 2,4 A de corrente
elctrica; o segundo mdulo fundamentalmente constitudo pelo chip que realiza a gesto da
energia, o BQ24070 da Texas Instruments
[49]. O integrado responsvel por carregar uma bateria

de ies-ltio e, simultaneamente, fornecer energia ao sistema. Esta caracterstica permite que os
tempos de carga e descarga da bateria sejam reduzidos e que o sistema continue a ser alimentado,
mesmo que a bateria esteja descarregada ou defeituosa; o terceiro e ltimo mdulo constitudo por
conversores DC/DC e reguladores de tenso que, a partir da tenso de sada do BQ24070, sejam
capazes de fornecer as tenses (e correntes) necessrias para alimentar todos os componentes do
analisador de qualidade de energia.

Figura 24 Diagrama de blocos da fonte de alimentao redundante.
3.9.1 Mdulo de gesto de energia
Na Figura 24 est representado um esquema simplificado do integrado BQ24070. Quando o
terminal MODE est com o estado lgico HIGH (estado desejado para esta aplicao), o sistema
alimentado directamente pelo conversor AC/DC na entrada atravs do transstor MOS Q1 e a bateria
carregada, pelo transstor Q2, a um ritmo definido pelo pino ISET1. A tenso de sada tipicamente
regulada a 4,4 V mas, quando a carga exige mais corrente que o adaptador de tenso pode fornecer,
ento a tenso de sada V
SYS
desce para o valor que a bateria impe, neste caso, 3,7 V. Se no
houver tenso na entrada IN do integrado, a bateria seleccionada como sendo a fonte de energia
do sistema. Na Tabela 5 esto definidos valores de tenso e de corrente entrada e sada do
integrado.
41
Tabela 5 Valores de tenso e corrente na entrada e na sada suportados pelo integrado BQ24070.
VSYS (tpico) ISYS (mx.) IIN (mx.) IIN (recomendado) IBAT (mx.)
4,4 V 4 A 3,5 A 2 A 3,5 A
3.9.2 Conversores DC/DC e reguladores de tenso
Os conversores e reguladores de tenso utilizados para alimentar o analisador de qualidade de
energia esto ilustrados no diagrama de blocos representado na Figura 25. Nesta figura observa-se
que cada bloco representa um circuito integrado, seguido da respectiva descrio e funcionalidade
neste projecto. Informao mais detalhada acerca das ligaes elctricas da fonte de alimentao do
sistema pode ser consultada no Anexo A.3.

Figura 25 Diagrama de blocos ilustrativo dos conversores e reguladores de tenso que constituem a fonte de alimentao e
respectivas descries e modo de aplicao.
3.10 Montagem do Sistema
Na Figura 26 pode-se observar a montagem do sistema apresentado na Figura 10 e a ligao
de todos os mdulos entre si. As placas de circuito impresso, com excepo da do kit de
desenvolvimento, foram desenvolvidas nesta dissertao. Os seus esquemas elctricos juntamente
com imagens mais aproximadas das placas podem ser consultados nos anexos A.1, A.2 e A.3.

42
O mdulo de desenvolvimento no qual est inserido o processador digital de sinal e tambm no
qual foram implementados todos os algoritmos apresentados neste trabalho representado com o
nmero 1. Este kit da Analog Devices
possui uma interface de expanso que permite o acesso aos

terminais de I/O do processador. A esta interface (3x90 terminais) foi ligada uma placa de circuito
impresso de dupla camada (3) na qual foram soldados os elementos j apresentados nas seces
anteriores: memria SDRAM (3.1), ADC (3.2), amplificador operacional em montagem diferena (3.3),
conectores de alimentao (3.4), mdulo de relgio em tempo real (3.5), pilha de backup (3.6) e toda
a restante electrnica (resistncias, condensadores, etc.).
A alimentao do sistema fornecida pela fonte de alimentao redundante (4), que contm a
pilha de ies-ltio (4.1) ligada ao integrado BQ24070 (4.3), os conversores DC/DC MAX1703 (4.2) e
MAX703 (4.4) e os conectores de sada das tenses (4.5).
A placa de circuito impresso 5 realiza a interface com a rede elctrica (5.2). Podem-se observar
os componentes: sensor de tenso da LEM
(5.1), resistncia R0 (5.4), conector de alimentao (5.5)

e ficha BNC de sada (5.3). A sada do sensor, cuja tenso ir ser medida, ligada atravs de cabo
(6) entrada do AMPOP da placa nmero 3.
O controlo do sistema pode ser realizado conectando, por exemplo, um computador atravs da
da porta srie (2).

Figura 26 Montagem do prottipo ilustrado pelo diagrama da Figura 10.

43
Captulo 4 -
Algoritmos

As vrias perturbaes que ocorrem num sistema elctrico so muito diferentes entre si. As
perturbaes podem ser agrupadas em conjuntos distintos para que o mtodo a implementar seja
optimizado consoante as caractersticas de cada grupo. Na Tabela 6 esto apresentados os dez
gneros de eventos electromagnticos mais comuns num sistema monofsico [31], assim como os
valores tpicos de durao, amplitude e banda espectral para cada um, segundo [8][50][51]. No
primeiro grupo, temos as perturbaes que distorcem a forma do sinal (harmnicas, inter-
harmnicas) e os transitrios. No segundo grupo apresentam-se as perturbaes que vem o seu
valor eficaz significativamente alterado (cavas, subtenses, sobretenses, ).
Tabela 6 Categorias de perturbaes e os seus parmetros mais tpicos segundo [8].
Categoria Durao Tpica Amplitude Tpica
Transitrio (At 5 MHz) ns - ms 0 a 8 p.u.
Harmnicas (0 a 9 kHz) Regime Estacionrio 0 a 0,2 p.u.
Inter-harmnicas (0 a 9 kHz) Regime Estacionrio 0 a 0,02 p.u.
Notching Regime Estacionrio

Rudo (banda larga) Regime Estacionrio 0 a 0,01 p.u.
Cava 10 ms a 1 min 0,1 a 0,9 p.u.
Subtenso de curta durao 10 ms a 1 min 1,1 a 1,8 p.u.
Interrupo > meio ciclo < 0,1 p.u.
Subtenso de longa durao > 1 min 0,8 a 0,9 p.u.
Sobretenso de longa durao > 1min 1,1 a 1,2 p.u.

O mtodo desenvolvido neste trabalho baseia-se em detectar e classificar perturbaes de
energia com base na identificao distinta das caractersticas destes dois grupos.
Para as perturbaes do tipo transitrio a base de valor p.u. o valor de pico e para variaes
de RMS a base de valor p.u. o RMS [8].
Este captulo, tal como o anterior, est estruturado de maneira a que o leitor possa ir
compreendendo de forma progressiva os algoritmos implementados (acompanhados de resultados) e
qual o seu papel na deteco das perturbaes.
44
4.1 Mtodo Geral para Detectar e Classificar as Perturbaes
O mtodo de deteco e classificao apresentado neste captulo consiste na execuo de
quatro fases, tal como se pode observar pelo esquema da Figura 27: pr-processamento,
processamento, deteco e classificao.

Figura 27 Diagrama de blocos ilustrativo do processo de deteco e classificao de perturbaes.
Na fase de pr-processamento o processador envia os sinais de controlo ao ADC (seco
4.2.1) e inicia a aquisio de N amostras [u
1
, u
2
, , u
N
]. Aps terminar, uma nova aquisio
iniciada, tornando assim a aquisio do sinal da rede elctrica num processo contnuo. Enquanto
decorre uma nova aquisio, o DSP procede com a execuo dos algoritmos implementados com as
amostras da aquisio anterior. Depois de amostrado, o sinal comea por ser normalizado (seco
4.2.2). A normalizao do sinal necessria pois torna o processo de deteco, isto , torna a
seleco dos nveis de limite (threshold) num processo independente do alcance do transdutor de
tenso. Assim tambm se pode, por exemplo, corrigir o ganho do sinal de entrada do circuito
condicionador de sinal. Depois de normalizado, estimada a frequncia do sinal adquirido atravs
dos algoritmos de FFT e IpDFT (seco 4.3) e tambm a sua amplitude pelo algoritmo de adaptao
de sinusides (seco 4.4). Neste projecto usaram-se verses modificadas dos algoritmos de 3 e de
4 parmetros. Atravs do algoritmo de 3 parmetros estima-se um primeiro valor de amplitude e da
fase do sinal. O algoritmo de 4 parmetros tem como parmetros de entrada a frequncia estimada
pela IpDFT e o valor de amplitude e fase do sinal do algoritmo de 3 parmetros. Este algoritmo
permite estimar, com melhor preciso que o algoritmo de 3 parmetros, a amplitude, a fase e A
frequncia do sinal amostrado.
Na fase de processamento o sinal segue por dois ramos diferentes, em que cada ramo diz
respeito a um grupo de perturbaes. O ramo superior lida com perturbaes que podem ser
45
detectadas pela variao do valor eficaz do sinal normalizado. Estas perturbaes so as
sobretenses, as subtenses e as interrupes. Depois de calculado o valor eficaz do primeiro
perodo, calculado o valor RMS do sinal de meio em meio perodo (seco 4.6). No outro ramo,
respeitante deteco de transitrios e distores harmnicas, utilizou-se um mtodo baseado na
operao morfolgica de fecho [38]. A operao de fecho uma operao matemtica usada para
processar sinais discretos baseando-se na forma do sinal (seco 4.5). O fecho executado aps
serem calculados os resduos. Estes obtm-se pela diferena do sinal adquirido pelo sinal estimado
dado pelo algoritmo de adaptao de sinusides. Os resduos so importantes pois neles que esto
contidas as eventuais perturbaes na qualidade de energia assim como todas as harmnicas do
sinal (excepto a fundamental).
Na fase de deteco (seco 4.7) os resultados dos dois algoritmos so comparados com
valores limite pr-definidos pelo utilizador do sistema. Se ocorrer o cruzamento dos limites, um evento
detectado e procede-se ento classificao do tipo de perturbao ocorrida.
Apesar da fase de deteco ser apresentada de forma simplificada na Figura 27, essa
simplicidade no corresponde de todo totalidade dessa fase. Na seco 4.7 dada ateno mais
pormenorizada ao processo de deteco pois uma fase importante para o correcto funcionamento
do analisador.
Uma vez detectadas perturbaes, as suas caractersticas (tipo, amplitude e durao) so
guardadas para posterior transmisso para um dispositivo exterior.
4.2 Aquisio e Normalizao das Amostras Adquiridas
Antes de se proceder propriamente com a discrio do sinal amostrado e como realizar a sua
normalizao, configurou-se o DSP para gerar os sinais de relgio para controlo do ADC.
4.2.1 Amostragem do sinal: configurao dos sinais de controlo
No ADSP-21369 existem quatro unidades de gerao de sinais de relgio de preciso. Cada
uma tem-lhe associado um conjunto de sinais (clock e frame sync) derivado de um clock principal. a
malha de fase sncrona que gera o clock para o processador e que tambm pode gerar sinais de
relgio para as portas srie (SPORT). No entanto, gerar sinais de relgio a partir do PLL para as
portas srie no aconselhvel para converses analgico/digital, pois esta soluo poder gerar
problemas relacionados com o jitter, que normalmente surge quando est presente mais do que uma
frequncia de relgio. Como o processador opera numa frequncia elevada, a integridade do sinal, os
problemas de rudo e erros de quantificao devem ser considerados.
A soluo para evitar o jitter passa por gerar os sinais a partir de geradores de sinal de relgio
de preciso. Tal como se pode observar pela Figura 28 os geradores de preciso esto directamente
46
ligados ao oscilador externo e no ao PLL. Este cristal oscila frequncia de 24,576 MHz e serve de
referncia para a velocidade de transferncia da UART, a velocidade de acesso memria, etc.
Tal como j foi visto na seco 3.4.2 o ADC recebe do DSP dois sinais de relgio. O sinal que
define a frequncia de amostragem do ADC o sinal de relgio FSYNC. O sinal SCLK o sinal de
relgio responsvel pela aquisio de cada um dos bits devolvido pelo ADC. Como o ADC produz
amostras de 16 bit, a frequncia de SCLK 16 vezes maior que a frequncia de amostragem do
ADC. O clculo destas duas frequncias dado por

OSC
CLK
FSYNC
FSDIV
= (19)
e por

OSC
CLK
SCLK
CLKDIV
= (20)
em que FSDIV e CLKDIV so campos do registo de configurao dos geradores de preciso de
relgio. Por exemplo, pretende-se que o ADC amostre o sinal frequncia de amostragem
f
s
= 25,6 kHz. Com CLK
OSC
= 24,576 MHz, FSDIV toma o valor 960. Como SCLK tem de ser 16 vezes
maior que f
s
, ento,
3
SCLK 16 25,6 10 409,6 = = kHz e, consequentemente, CLKDIV ter valor 60.
S
C
L
K
F
S
Y
N
C
C
o
r
e

C
L
K

Figura 28 Sinais de relgio gerados para o ADC.
Configurando o DSP com os valores do exemplo anterior, apresenta-se na Figura 29 os sinais
gerados pelos geradores de sinais de relgio de preciso para controlo do ADC (a) e a resposta deste
num determinado instante de tempo (b), a azul.
(a)
Figura 29 Exemplo de sinais gerados pelo DSP
4.2.2 Normalizao do sinal adquirido
Todas as operaes realizadas
formato do nmero de vrgula flutuante.
alcanado um desempenho ptimo
[u
1
, u
2
, , u
N
] pelo ADC no processo de amostragem tm
podem ir at ao valor mximo de 3,3
amostrado, o sinal vem na forma de binrio puro (
converso para valores legveis pelo utilizador
A ttulo exemplificativo, foi
componente contnua. Este sinal
Recorde-se que o circuito de condicionamento reduz a amplitude do sinal em metade do seu valo
acrescenta-lhe uma tenso DC
antes do processamento, isto , o sinal em binrio puro
de convertidos para o formato inte
presena da componente contnua
Figura 30 Sin
47
(b)
inais gerados pelo DSP (a) para controlo do ADC e a resposta deste
Normalizao do sinal adquirido
realizadas so processadas com 32 bit (single-precision
formato do nmero de vrgula flutuante. Uma vez que este o formato nativo dos nmeros no DSP,
alcanado um desempenho ptimo nos clculos necessrios, sendo que as amostras adquiridas
pelo ADC no processo de amostragem tm, tal como j foi referido,
t ao valor mximo de 3,3 V, que corresponde em cdigo hexadecimal a FFFF
amostrado, o sinal vem na forma de binrio puro (straight binary) o que facilita o processo de
o para valores legveis pelo utilizador.
i gerado um sinal sinusoidal com tenso eficaz
contnua. Este sinal foi colocado entrada do circuito de condicionamento de sinal.
se que o circuito de condicionamento reduz a amplitude do sinal em metade do seu valo
de valor 1,65 V. Na Figura 30 est representado o
, isto , o sinal em binrio puro. Note-se que os valores de amplitude
de convertidos para o formato inteiro, variam entre os 16000 e os 49000. Pode-se tambm observar a
presena da componente contnua que desloca o sinal verticalmente.
Sinal depois de adquirido pelo ADC e antes de ser normalizado.

e a resposta deste em (b).
precision), em que o
dos nmeros no DSP,
nos clculos necessrios, sendo que as amostras adquiridas
, tal como j foi referido, 16 bits. Estas
V, que corresponde em cdigo hexadecimal a FFFF. Quando
) o que facilita o processo de
eficaz 1,18 V, 50 Hz e sem
foi colocado entrada do circuito de condicionamento de sinal.
se que o circuito de condicionamento reduz a amplitude do sinal em metade do seu valor e
est representado o sinal amostrado
se que os valores de amplitude, depois
se tambm observar a

al depois de adquirido pelo ADC e antes de ser normalizado.
48
Para se poder visualizar correctamente a escala de amplitude, isto , visualizar o sinal tal como
foi colocado entrada do circuito de condicionamento, necessrio proceder a um conjunto de
passos:
i. Multiplicar o valor de cada amostra pelo valor mximo que o ADC pode amostrar, 3,3 V, e
de seguida dividir por 2
16
= 65536. Aps executados estes dois passos, o sinal da Figura
30 fica com a forma apresentada na Figura 31. Este o sinal entrada do ADC.

Figura 31 Sinal entrada do ADC.
ii. Se a cada amostra se subtrair a componente DC e a multiplicar por -2, o sinal ter
finalmente a forma final, isto , o valor de amplitude tal como o gerador produziu. O sinal
resultante est representado na Figura 32.

Figura 32 Sinal (normalizado) com a mesma amplitude que o sinal gerado.
Em suma, um conjunto de N amostras adquiridas, u
1
, u
2
, , u
N
, so normalizadas de acordo
com

[ ] 3,3
[ ] 1,65 ( 2)
65536
NORM
u n
u n
| |
=
|
\
. (21)
Escolheu-se o exemplo de 1,18 V pois, ao submeter o sensor de efeito de Hall a um varrimento
de tenses (Captulo 5), obteve-se este valor de tenso sua sada quando esto presentes 230 V
de valor eficaz na entrada. Assim sendo, como se pretende efectuar clculos em valores de base
p.u., 1,18 V ser o valor de base em algoritmos baseados no clculo do valor eficaz. Por exemplo,
1 p.u. corresponder a 1,18 V sada do sensor e a 230 V

na rede elctrica, 1,1 p.u. corresponder a
1,298 V sada do sensor e a 253 V na rede elctrica, etc. No Captulo 5 so abordados os detalhes
da calibrao do sistema.
49
4.3 Algoritmos para a Determinao da Frequncia
Uma vez que o valor instantneo da frequncia um indicador de grande importncia em
sinais variantes no tempo, foram j desenvolvidos diversos algoritmos para a determinao de
perturbaes na qualidade de energia sabendo o valor da frequncia [52]. Um estudo comparativo de
vrios algoritmos para determinao da frequncia foi realizado tendo em conta a preciso, o nmero
de operaes, a velocidade de execuo e a ocupao em memria que cada mtodo emprega [53].
Nesse estudo, foram comparados mtodos baseados no clculo da Transformada Rpida de Fourier
(FFT), como por exemplo a IpDFT [54], na transformada Chirp-Z, mtodos com filtros adaptativos e
mtodos baseados em na adaptao de sinusides [55]. Uma vez que o objectivo desta comparao
era implementar o melhor mtodo num processador digital de sinal, a performance de cada um foi
avaliada segundo os parmetros j referidos. Segundo as concluses descritas em [53], o algoritmo
de IpDFT o algoritmo mais preciso, exacto e com maior velocidade de processamento. Assim
sendo, o algoritmo escolhido neste trabalho para a determinao da frequncia da rede elctrica ao
longo do tempo.
4.3.1 Transformada Discreta de Fourier (DFT)
O algoritmo FFT um algoritmo eficiente para calcular a Transformada Discreta de Fourier
(DFT). Atravs da DFT possvel determinar o espectro de um sinal amostrado a intervalos de tempo
fixos ( t 1/
S
f = ) e com um nmero limitado de amostras (N). Na frequncia, o espaamento entre
amostras (resoluo) f / 1/ ( t)
S
f N N = = em que t N o tempo total de aquisio e f
S
a
frequncia de amostragem. A DFT decompe uma sequncia de valores em componentes de
diferentes frequncias mas, no entanto, implementar a DFT a partir da sua definio

1
2 /
0
[ ] [ ]
N
i nk N
n
X k u n e

=
=
(22)
em que [ ] X k representa o espectro na frequncia e u[n] o sinal de tenso amostrado com
n = 0, , N - 1, um processo demasiado moroso. Para o clculo de uma DFT com N amostras, so
precisas aproximadamente N
2
operaes enquanto que a implementao do algoritmo FFT requer
somente
2
log ( ) N N operaes, tendo o mesmo resultado prtico. Neste caso, N tem de ser uma
potncia de dois (N = 2
n
). Desenvolvimentos mais recentes deste algoritmo requerem que
N = 2
m
x 3
k
x 5
j
, com m = k = j = 1, 2, ,etc., mas a implementao desses algoritmos depende da
plataforma escolhida.
O algoritmo da FFT implementado neste trabalho decompe a DFT de N pontos na soma de
duas DFTs de N / 2 pontos. Este processo de separao aplicado at N = 1. Apesar da FFT ser
recursiva e ocupar alguns recursos computacionais, consegue-se criar um espectro de frequncias,
[ ] X k , a partir de amostras discretas no tempo. Cada amostra na frequncia um nmero complexo
50
constitudo por uma parte real e uma parte imaginria, uma vez que um sinal sinusoidal pode ser
escrito na forma

( ) ( )
cos( )
2
i t i t
e e
t

+ +
+
+ = . (23)
Assim sendo, aps ser executado o algoritmo da FFT, tm-se N pares de pontos complexos,
sendo cada um deles constitudo uma parte real (x
n
) e por outra imaginria (y
n
). Renem-se agora as
condies necessrias para implementar o algoritmo da IpDFT e assim determinar a frequncia do
sinal amostrado.
4.3.2 Transformada Discreta de Fourier Interpolada (IpDFT)
Se a frequncia a determinar for mltipla da resoluo f, a frequncia calculada por

DFT
f f L = (24)
em que L corresponde ao ndice onde o espectro tem o mximo, ou seja, o maior valor de amplitude.
Caso contrrio, se a frequncia a determinar no for mltipla da resoluo, isto , quando o perodo
de aquisio ( t N ) no corresponde a um nmero inteiro de perodos do sinal de entrada, ocorre
espalhamento espectral (spectral leakage) e a frequncia j no pode ser calculada por (24). Neste
caso, a soluo adoptada o mtodo da DFT interpolada.
Antes de se proceder com a explicao da IpDFT para a determinao da frequncia,
necessrio realizar dois pontos importantes em relao s amostras no espectro de frequncias:
Normalizar os resultados da FFT. Todas as amostras no domnio da frequncia, isto ,
todos os pontos complexos obtidos da FFT so divididos pelo valor do nmero total de
pontos adquiridos (N) e,
Remover a componente DC. Desta forma evitam-se erros uma vez que a componente DC
no pode ser usada para se determinar a frequncia na IpDFT. Recorde-se que este ponto
foi realizado anteriormente na normalizao do sinal.
Para o algoritmo IpDFT localizar o ndice onde o espectro de frequncias tem o mximo
necessrio calcular o valor absoluto de cada nmero complexo, Z
n
, dado por

2 2
n n n n n
Z x y x y i = + = + (25)
em que cada elemento Z
n
fica guardado num vector de dimenso N. O clculo do valor absoluto
corresponde a determinar a amplitude de cada amostra na frequncia. Apenas so calculados os
mdulos de N / 2 pontos do espectro pois o ponto N / 2 + 1 j faz parte das frequncias negativas.
Tendo sido determinado o valor mximo dos valores calculados e o ndice correspondente, o prximo
passo do algoritmo da IpDFT determinar o maior vizinho. H quatro situaes possveis, tal como
se pode observar pela Figura 33.
51
Na situao A est ilustrado o caso em que o ndice do maior valor absoluto de Z N / 2. O seu
maior vizinho automaticamente determinado como tendo o ndice N / 2 - 1. A situao B
semelhante sendo que o ndice de maior valor absoluto 1 e o do maior vizinho 2 (no ndice 0 est
deveria estar a componente DC mas como foi removida tem valor zero).

Figura 33 As quatro situaes possveis para determinar o maior vizinho.
Os casos C e D mostram, respectivamente, situaes semelhantes aos casos A e B. No
entanto, a localizao do maior vizinho no determinada de forma imediata, sendo necessria a
comparao entre dois pontos. No caso da situao C, se o maior vizinho vier antes do valor mximo
ento L o ndice do maior vizinho e L + 1 o ndice do mximo, sendo que 0 < L < N / 2. Na situao
D, o maior vizinho surge depois do valor mximo e, portanto, o ndice do mximo L e o do maior
vizinho L + 1. Conhecendo o valor mximo e o seu maior vizinho, pode-se calcular finalmente a
frequncia atravs de
f = f
(26)

em que f a resoluo na frequncia e dado por

cos(n ( 1) cos(n )
arccos
n
2 1
2 1
Z L Z L
Z - Z
| | +
|
\
= (27)
com

cos(n )
sin(n )
OPT
1 L
K L
Z V
L
(
= +
(

L
U (28)

cos(n ( 1))
sin(n ( 1))
OPT
2 L+1 L+1
K L
Z V U
L
+ (
= +
(
+

(29)

((sin(n )) ( ) (cos(n )) ( ))
L+1 L L L+1
OPT
L+1 L
L V - V L U +U
K
U - U
+
= (30)
e
... 1 N/2-1 N/2 0
Maior
vizinho
Maior |Z|
|Z|
ndice ... 1 N/2-1 N/2 0
|Z|
ndice
A B
0
|Z|
ndice
C
0
|Z|
ndice
D
2
L
L+1 L
L+1
L
L+1
L+1
L
52

2
n
N

= . (31)
As partes reais dos nmeros complexos so representadas por U
L
e U
L+1
enquanto que as
partes imaginrias por V
L
e V
L+1
. Assim sendo, os nmeros complexos Z do valor mximo e do maior
vizinho so representados por

L L L
Z =U +iV (32)
e por

L+1 L+1 L+1
Z = U + iV . (33)
4.3.3 Teste da FFT e da IpDFT
Os algoritmos da FFT e da IpDFT foram executados velocidade de processamento de
332 MHz, aps serem amostrados N = 8192 pontos a um ritmo de aquisio f
s
= 25,6 kHz, o que
corresponde a 16 perodos adquiridos da rede elctrica (a norma IEC 61000-4-7 especifica que tm
de ser adquiridos, no mnimo, 10 perodos, com a fundamental a 50 Hz). Na Figura 34 est ilustrada
uma situao de teste, exemplificada anteriormente na Figura 33, isto , representado no eixo vertical
est o mdulo de cada ponto complexo (em dBc) e no eixo horizontal o ndice correspondente.
Note-se que apenas est representada a metade do espectro correspondente s frequncias
positivas.

Figura 34 Espectro da DFT do sinal de tenso amostrado.
Aps executada a FFT, o algoritmo da IpDFT implementado indica que, neste caso, o valor
mximo de amplitude est localizado no ndice 16 e o maior vizinho no ndice 17. o caso da
situao D.
Foram realizados 3 testes ao algoritmo implementado, atravs de um sinal sinusoidal fornecido
pelo gerador de sinais utilizado anteriormente [42], com frequncia a 50 Hz. Na Tabela 7 esto
representados os valores dos parmetros necessrios ao clculo da frequncia, equaes (26) a (33),
assim como, na ltima coluna, o valor resultante do clculo da frequncia. Pode-se observar que os
valores de frequncia estimados aproximam-se muito ao valor gerado.

-120
-100
-80
-60
-40
-20
0
0 20 40 60 80 100
|
X
[
k
]
|

[
d
B
c
]

ndice [k]
53
Tabela 7 Parmetros necessrios para o clculo da frequncia e clculo da frequncia.
UL VL UL+1 VL+1 KOPT Z1 Z2 f [Hz]
-2,807E-05 -2,770E-05 -3,358E-08 -3,672E-03 -9,904E-01 4,465E-03 7,224E-06 4,003E+00 50,0338
4,359E-06 -1,449E-05 1,722E-09 -2,729E-09 -1,042E+00 2,415E-03 4,144E-07 1,000E+01 50,0139
-1,512E-05 6,674E-07 -3,503E-09 -6,327E-10 -1,001E+00 -1,239E-04 9,027E-08 1,001E+01 50,0535

Foi ainda medida a frequncia de um sinal sinusoidal gerado durante 60 segundos. Pode-se
observar pela Figura 35 que os algoritmos implementados determinam com boa preciso e exactido
a frequncia do sinal dentro da gama de frequncias pretendida. Os limites superior e inferior (a
tracejado) limitam, respectivamente, o valor mximo e mnimo que a frequncia pode atingir
(50 Hz 5 %). Na Figura 36 pode-se observar em pormenor a variao da frequncia num intervalo
de 10 s, assim como a mdia dos valores medidos (50,0099 Hz).

Figura 35 Determinao da frequncia atravs dos algoritmos de FFT e IpDFT, durante 60 s.

Figura 36 Variao da frequncia (pormenor) num intervalo de 10 s.
Do ponto de vista estatstico, a distribuio de pontos de frequncia ao longo do tempo anda
prxima do valor esperado e, a maioria deles, dentro do limite
X X
X - , X + (

, como se pode
observar pela Figura 37. O desvio padro,
x
, foi calculado tendo por base a populao total de n
amostras e a equao

1
2
0
( )
0,023226 Hz.
1
n
i
i
X
X X
n
=

= =
(34)
49,4
49,6
49,8
50
50,2
50,4
50,6
0 10 20 30 40 50 60
F
r
e
q
u
n
c
i
a

[
H
z
]
Tempo [s]
Frequncia fnom + 0,1 Hz fnom - 0,1 Hz
49,80
49,85
49,90
49,95
50,00
50,05
50,10
50,15
50,20
10 12 14 16 18 20
F
r
e
q
u
n
c
i
a

[
H
z
]
Tempo (s)
fnom + 0,1 Hz Media Frequncia fnom - 0,1 Hz
54

Figura 37 Distribuio dos pontos de frequncia ao longo de 60 s, valor mdio e desvio padro.
4.4 Algoritmos de Adaptao de Sinusides
O objectivo do algoritmo de adaptao de sinusides (sine-fitting) obter os parmetros que
caracterizam um sinal sinusoidal amostrado, y(n), minimizando a soma de erros quadrticos entre o
sinal amostrado e o modelo sinusoidal.
A descrio geral dos algoritmos de 3 e de 4 parmetros est descrita na norma [56]. O
primeiro um algoritmo no iterativo que, aps conhecido o valor da frequncia, estima os valores de
amplitude, fase e componente DC. O segundo, para alm de melhorar a estimativa da frequncia do
sinal amostrado, tambm devolve melhores aproximaes para os parmetros calculados pelo
algoritmo de 3 parmetros atravs de um mtodo iterativo. Devido a este facto, a estimativa inicial
dos parmetros importante para a convergncia do algoritmo.
4.4.1 Algoritmo de 3 parmetros modificado
O algoritmo de 3 parmetros desenvolvido neste trabalho provm de uma alterao ao
algoritmo de 3-parmetros convencional. A nica diferena deste mtodo para o original est em no
se calcular a componente DC do sinal amostrado. Tal como j foi visto anteriormente, esta foi retirada
ao sinal aquando o seu condicionamento. Assim sendo, este mtodo poderia chamar-se adaptao
de sinusides de 2 parmetros.
Os parmetros devolvidos por este algoritmo so A
0
(amplitude em fase) e B
0
(amplitude em
quadratura). Se foram recolhidas as N amostras y
1
, y
2
, , y
N
, nos instantes t
1
, t
2
, , t
N
, ento a
funo que se adapta ao sinal sinusoidal amostrado
cos( ) sin( )
n 0 0 n 0 0 n
y A t B t = + (35)
em que
0
a frequncia do sinal amostrado determinada atravs do algoritmo IpDFT. Para
converter (35) em
cos( )
n 0 n
y D t = + (36)
49,90
49,95
50,00
50,05
50,10
0 10 20 30 40 50 60
F
r
e
q
u
n
c
i
a

[
H
z
]
Tempo [s]
Media Mdia+Desv.Padrao
Mdia-Desv.Padrao Frequncia
55
usam-se as relaes

2 2
0 0
D A B = + (37)
e
( ) atan2 ,
0 0
B A = (38)
A funo atan2 uma variante da funo arctan que, tendo em conta os sinais de B
0
e A
0
, calcula o
ngulo no quadrante correspondente considerando os quatro quadrantes. Apesar de aqui estarem
referenciadas as equaes para o clculo da fase, esta no foi utilizada nos clculos deste trabalho.
Tal como j foi referido, este algoritmo determina os valores de A
0
e B
0
que minimiza o
somatrio do quadrado dos resduos (residuals)
| |
2
1
cos( ) sin( )
N
n 0 0 n 0 0 n
n
y A t B t
=

(39)
em que os resduos
cos( ) sin( )
n n 0 0 n 0 0 n
r y A t B t = (40)
representam o desvio dos valores observados em relao aos obtidos. Na verdade (39) pode ser
escrita sob a forma matricial

T
( ) ( )
0 0 0 0
y D x y D x . (41)
Apresentam-se as matrizes D
0
, x
0
e y, em que

1 1
2 2
2
cos( ) sin( )
cos( ) sin( )

cos( ) sin( )
0 0
0 0
0 N 0 N
Nx
t t
t t
t t
(
(

(
( =
(
(
(

0
D (42)

| |
T
1 2 N
y y y = y (43)
e
.
0
0
A
B
(
=
(

0
x (44)
Para se determinar os valores A
0
e B
0
da matriz x
0
procede-se ao clculo de

-1
( ) ( ) =
T T
0 0 0 0
x D D D y . (45)
O fluxograma que descreve o algoritmo implementado est representado Figura 38. Os
produtos matriciais
T
0 0
D D e
T
0
D y so dados por
56

2
1 1
2
1 1
2 2
cos ( ) cos( ) sin( )
cos( ) sin( ) sin ( )
N N
0 n 0 n 0 n
n n
N N
0 n 0 n 0 n
n n
x
t t t
t t t
= =
= =
(

(
(
=
(

(

T
0 0
D D (46)
e por

1
1
2 1
cos( )
sin( )
N
0 n n
n
N
0 n n
n
x
t y
t y
=
=
(

(
(
=
(

(

T
0
D y . (47)
Para cada iterao, isto , at todas as amostras serem processadas, as parcelas das matrizes
representadas em (46) e em (47) vo sendo preenchidas, pois cada parcela dada por um
somatrio. Aps estarem concludas, a matriz (46) invertida e multiplicada por (47). O resultado
desta multiplicao a matriz x
0.

Figura 38 Fluxograma demonstrativo do algoritmo de 3 parmetros modificado.
4.4.2 Algoritmo de 4-parmetros modificado
Tal como o algoritmo anterior, o algoritmo de 4 parmetros implementado neste projecto uma
verso alterada do algoritmo de 4 parmetros convencional, uma vez que no calculada a
componente DC. Este algoritmo recebe os parmetros A
0
e B
0
do algoritmo de trs parmetros
modificado, a frequncia
0
resultante do algoritmo IpDFT e as amostras adquiridas normalizadas. O
objectivo deste mtodo estimar a amplitude e a frequncia do sinal, com maior preciso que o
algoritmo de 3 parmetros e que a IpDFT. De resto, os produtos matriciais so os mesmos, apenas
sendo alteradas as dimenses das matrizes e os resultados finais. Assim sendo, tem-se

57

i
i
i
A
B
(
(
=
(
(

x
i
(48)

3
cos( ) sin( )

cos( ) sin( )
i 1 i 1 i,1
i N i N i,N
Nx
t t
t t
(
(
(
=
(
(

(

D
i
(49)
sin( ) cos( )
i,n i -1 n i n i -1 n i n
A t t B t t = + (50)
2
i i
f = (51)

2
1 1 1
2
1 1 1
1 1 1
3
cos ( ) cos( ) sin( ) cos( )
sin( ) cos( ) sin ( ) sin( )
cos( ) sin( )
N N N
i n i n i n i n i,n
n n n
N N N
i n i n i n i n i,n
n n n
N N N
2
i,n i n i,n i n i,n
n n n
t t t t
t t t t
t t

= = =
= = =
= = =
(

(
(
(
=
(
(
(

(

T
D D
i i
3 x
(52)
em que
i
a correco da frequncia (na iterao i) aplicada frequncia de entrada e
i
o novo
valor de frequncia obtido (
i i -1 i
= + ).
Na primeira iterao, os parmetros A
i
, B
i
e
i
correspondem, respectivamente, a A
0
, B
0
e
0

que so os parmetros que provm do algoritmo de adaptao de sinusides de 3 parmetros e da
IpDFT. Pode-se observar pela terceira coluna de (49) e por (50) que, para uma dada iterao i, o
valor de cada clula est dependente dos valores A e B da iterao anterior. por ser um algoritmo
iterativo que se explica o acrscimo substancial do tempo de execuo em relao ao algoritmo
anterior e, por isso, tem de ter uma condio de paragem, seno pode ficar indefinidamente em
processamento sem chegar a qualquer convergncia.
A norma [56] do IEEE define que o algoritmo converge quando o clculo RMS dos resduos
(40) menor que um valor limite pr-definido TH
| |
2 1
cos( ) sin( ) TH
n i i n i i n
y A t B t
N
< . (53)
No entanto, este valor limite depende do rudo e da distoro includa no sinal que, tipicamente, no
conhecida.
Uma abordagem alternativa consiste em considerar que o algoritmo converge quando a
correco de frequncia relativa /
i i
est abaixo do valor de limite (TH). Este valor depende da
preciso desejada para a frequncia. No caso de no convergncia, a condio de paragem dada
por um nmero mximo de iteraes (I
MAX
) que executado o algoritmo. Atravs de uma simulao
numrica efectuada em Matlab
para um sistema de 32-bit [57], quando TH < 10

-7
o algoritmo de 4
parmetros termina aps 20 iteraes sem convergir. Nesta situao, o valor de correco da
58
frequncia
i
no o suficiente para realmente mudar o valor da frequncia devido ao nmero
limitado de bits da mantissa do valor de frequncia. O valor com 32-bit de preciso tem 23 bits para a
mantissa, 8 para o expoente e 1 para o sinal. Na mesma referncia determinou-se que o valor TH
ideal para um sistema de 32-bit 4 x 10
-5
, valor que tido como referncia neste trabalho garantindo,
assim, a convergncia do algoritmo. O fluxograma descritivo do mtodo de adaptao de sinusides
modificado ilustrado na Figura 39.
START
IpDFT [
0
] + Sine-Fitting
de 3 Parmetros [A
0
, B
0
]
Amostra y
n
no instante t
n
ltima
amostra?
Constri
matriz D
i
T
D
i
No
Constri
matriz D
i
T
y
Iterao i == 1 ?
A
i
=A
i-1
=A
0
B
i
=B
i-1
=B
0
i
=
i-1
=
0
Inverte matriz
D
i
T
D
i
Multiplica
(D
i
T
D
i
)
-1
(D
i
T
y)
Calcula erro
|
i
/(
i
+
i
)|
x
i
= [A
i,
B
i
,
i
]
(D
i
T
D
i
)
-1
n=1
n++
i=1
Sim
|
i
/
i
| < TH ?
Sim
A
i
=A
i-1
B
i
=B
i-1
i
=
i-1
+
i-1
No
n=1
STOP
A
i
, B
i
,
i
i == I
MAX
?
No
i++
Sim
Sim
No
Amostras
normalizadas
y
n
_
NORM
[y
1
, y
2
,, y
N
]
nos instantes
[t
1
, t
2
,, t
N
]

Figura 39 Fluxograma ilustrativo do algoritmo de 4 parmetros modificado.
Aps serem determinados os parmetros A
i
, B
i
e
i
, procede-se ao clculo dos resduos.
Atravs da anlise aos resduos pode determinar-se se existem perturbaes na qualidade de
energia, nomeadamente, transitrios e distores harmnicas ou inter-harmnicas.

59
4.4.3 Teste aos algoritmos de adaptao de sinusides
Os algoritmos de adaptao de sinusides foram testados impondo um sinal sinusoidal. Para
vrios valores de entrada foram estimados os valores de amplitude, A
0
e B
0
, no caso do algoritmo de
3 parmetros, e A
i
, B
i
e f
i
, no caso do algoritmo de 4 parmetros. Estes valores esto representados,
respectivamente, na Tabela 8 e na Tabela 9. Por observao dos valores conclui-se que o algoritmo
de 4 parmetros implementado realiza uma ptima estimativa, quer da amplitude do sinal sada do
circuito condicionador de sinal (metade do sinal V
IN
), quer da frequncia de trabalho.
Tabela 8 Resposta do algoritmo de 3 parmetros modificado a vrios sinais de entrada.
Tenso Esperada [V] A0 [V] B0 [V] Tenso Estimada [V] f (IpDFT) [Hz]
0,5 -0,2319451 0,438412 0,4959876 49,97439
0,75 -0,4696627 -0,57991 0,7462503 50,01398
1 0,9300854 0,335179 0,9886413 49,99419
1,25 0,0328086 -1,24167 1,242107 50,03376
1,5 -0,167118 1,475507 1,4849409 50,01398
Tabela 9 Resposta do algoritmo de 4 parmetros modificado a vrios sinais de entrada.
Tenso Esperada [V] Ai [V] Bi [V] i Tenso Estimada [V] f (sine-fitting) [Hz]
0,5 -0,2444766 0,431819 0,0000064 0,4962226 49,9743964
0,75 -0,467527 -0,58155 -0,0000033 0,7461819 50,0139767
1 0,9252256 0,348381 0,0000008 0,9886413 49,9941908
1,25 0,0210788 -1,24146 -0,0000085 1,2416411 50,0337515
1,5 -0,171441 1,474682 -0,0000037 1,4846138 50,0139763

A fase de pr-processamento chegou assim ao seu trmino. Esta fase que englobou vrios
algoritmos, e que precede a fase de processamento, pode ser resumida pelo seguinte conjunto de
pontos:
1. Aps a aquisio de N amostras da rede elctrica, essas amostras so normalizadas;
2. Uma primeira estimativa da frequncia do sinal adquirido calculada atravs do
algoritmo recursivo FFT e do algoritmo IpDFT;
3. Conhecendo uma estimativa para frequncia do sinal possvel calcular a amplitude e
fase do mesmo atravs do algoritmo de adaptao de sinusides;
4. Tendo sido calculados os valores de frequncia e de amplitude do sinal, podem-se
calcular os resduos e isol-los do sinal original. So os resduos que contm potenciais
perturbaes de energia e o contedo espectral do sinal obtido, com excepo da
harmnica fundamental.

60
4.5 Processamento: Mtodo da Operao de Fecho
A operao matemtica de fecho [38] uma operao morfolgica e, tal como qualquer
operao morfolgica esta usada para processar sinais discretos com base na sua forma. Cada
amostra de sada resultante da operao de fecho depende da amostra de entrada correspondente e
das amostras na sua vizinhana. Essas amostras so definidas por um elemento estrutural s. A
operao de fecho obtida pelo uso de outras duas operaes morfolgicas: dilatao e eroso. A
operao de fecho corresponde a
u s = (us)s (54)
que se define como: o fecho de uma funo u que usa um elemento estrutural s dado pela dilatao
(representado por ) de u com s seguida da eroso (representado por ) com s.
No caso desta dissertao, o sinal u, de tamanho N
U
, o vector dos resduos u
obtido pelo
algoritmo de adaptao de sinusides de 4 parmetros modificado. O elemento estrutural s um
vector binrio (vector de uns) cujo tamanho N
S
define o tamanho da vizinhana para o clculo da
operao de fecho. Define-se dilatao e eroso, respectivamente, por
( ) [ ] max { [ ] } u s n u n m

= [ ] 0, , s m m S n m U (55)
e
(u
) [ ] min { [ ] } s n u n m
= + [ ] 0, , s m m S n m U + (56)
em que

{ ( 1) / 2,...,( 1) / 2 }
{ ( 2) / 2,..., / 2 }
S S
S S
N N
S
N N

=

,
,
S
S
N mpar
N par
(57)
e
{ 1, ..., }.
U
U N = (58)
O clculo de cada amostra de sada resultante das operaes de dilatao e eroso resulta,
portanto, no clculo dos valores mximo e mnimo do vector u
dentro da vizinhana s. O mtodo

proposto aplica a operao de fecho ao produto do valor absoluto de u
com o vector s

MORPH
u u s
= (59)
cuja dimenso N
S
igual a 2,5 vezes o perodo nominal do sinal de tenso, que corresponde a
50 ms. O quociente da frequncia de amostragem, f
S
, pela frequncia nominal da rede, f, d o nmero
de pontos que amostrado por perodo

3
25,6 10
512.
50
S
f
f

= = (60)
Assim sendo, o elemento estrutural s um vector de dimenso 512 2,5 1280. =
61
A aplicao do valor absoluto aos resduos necessria uma vez que as operaes
morfolgicas s funcionam com sinais no negativos. Uma desvantagem a informao de
polarizao do sinal que retirada.
Este mtodo tem como misso criar um invlucro (envelope) do sinal |u
| e assim remover
mltiplos cruzamentos do nvel de limite que pertencem a uma nica perturbao. Determinado tipo
de perturbao classificada consoante o invlucro tenha passado certos nveis de limite. O
diagrama de blocos representativo deste algoritmo est representado na Figura 40.

Figura 40 Diagrama de blocos ilustrativo do algoritmo de fecho.
4.5.1 Dilatao
A operao de fecho foi implementada segundo o algoritmo de Herk-Gil-Werman [58] [59].
Segundo este algoritmo, o fecho requer que sejam apenas efectuadas 3-4/N
S
operaes de
comparao por cada amostra, reduzindo significativamente o tempo de acesso memria externa,
enquanto que a implementao das operaes de eroso e dilatao segundo a definio implicam
N
S
acessos a cada amostra.
O vector que contm as amostras a analisar, isto , os resduos provenientes do algoritmo de
adaptao de sinusides de 4 parmetros, dividido em n vectores de menor dimenso, (dimenso
k) sendo que k o tamanho do elemento estrutural s (S
LENGHT
) Os n novos vectores tm de verificar a
condio n = N / k , sendo que N o nmero total de amostras a analisar. Estes novos vectores,
Data
x
[S
LENGHT
], so vectores que contm a informao a ser processada.

Figura 41 Criao de n vectores de resduos Data, de dimenso SLENGHT.
Na operao de dilatao, criado um vector h de dimenso S
LENGHT.
As posies deste vector
so preenchidas segundo

[ ]
[ ]
max( [ ], [ ] )
LENGHT
LENGHT
Data S 1
h i
h i 1 Data S i 1
, = 0
, = 1, ..., -1
LENGHT
i
i S
(61)
62
ou seja, a primeira posio de h fica com o ltimo valor de Data
1
e as restantes so preenchidas
iterativamente com o valor mximo dado pela comparao entre a posio S
LENGHT
i 1 do vector
Data
1
e a posio i 1 do vector h.
A Figura 42 ilustra duas iteraes na construo do vector h. Tal como foi referido, a posio
h[0] fica com o ltimo valor do primeiro vector Data
1
. De seguida h[0] comparado com
Data
1
[S
LENGHT
2] (clulas a cor-de-laranja) e o maior valor dos dois guardado em h[1]. A seta
presente no vector Data
1
indica o sentido da leitura do vector e aponta sempre para o prximo valor a
ser lido. No vector h a seta indica o sentido da escrita no vector e aponta para a clula onde o maior
valor escrito (posio a verde). No passo seguinte, Data
1
[S
LENGHT
3] comparado com h[1] e o
maior valor guardado em h[2]. O algoritmo prossegue at ao final do vector h. O valor mximo
resultante de todas as comparaes fica guardado na ltima posio de h (S
LENGHT
1).

Figura 42 As duas primeiras iteraes da construo do vector h quando Data1 processado.
Aps o clculo do vector h o algoritmo prossegue com a construo do vector g, tambm de
tamanho S
LENGHT
. O preenchimento deste vector realizado segundo

[ ]
[ ]
max( [ 1], [ ] )
Data 0
g i
g i Data i
, = 0
, = 1, ..., 1
LENGHT
i
i S
(62)
e est ilustrado na Figura 43 (apenas duas iteraes). O processamento de Data
2
muito semelhante
ao de Data
1
mas, ao contrrio do caso anterior, o vector Data
2
analisado da esquerda para a direita,
isto , da posio 0 at posio S
LENGHT
-1.

Figura 43 As duas primeiras iteraes da construo do vector g.
O valor mximo resultante de todas as comparaes fica guardado, tal como no vector h, na
ltima posio do vector g, em g[S
LENGHT
1]. Esta primeira fase de anlise dos vectores termina
quando realizada primeiro
63
[ ] max( [ 2], [ ] )
DATA LENGTH
out offset i h S i g i + = (63)
e depois
[ ] [ ]
DATA LENGHT LENGHT
out offset S 1 g S 1 + = (64)
ou seja, depois de se compararem os vectores g e h.
A equao (63) indica que o valor mximo resultante da comparao entre as posies
indicadas a laranja dos vectores g e h vai ser guardado num vector de sada out
DATA
, de dimenso N,
deslocado de um offset. No exemplo, o valor mximo da comparao entre g[0] e h[S
LENGHT
2]
guardado em out
DATA
[offset + 0]; o mximo valor entre g[1] e h[S
LENGHT
3] guardado em
out
DATA
[offset + 1]; e assim sucessivamente at terminar a comparao entre os dois vectores g e h.
Note-se que assim como o primeiro valor de h a ser comparado foi h[S
LENGHT
2] e no h[S
LENGHT
1],
que o valor mximo de Data
1
, o ltimo valor a ser comparado do vector g ser g[S
LENGHT
2].

Figura 44 As duas primeiras e a ltima iterao da equao (63).
A equao (64) indica que o valor mximo guardado em g ser colocado no vector out
DATA
na
posio offset + S
LENGHT
1, ou seja, na posio a verde indicada pela Figura 45.

Figura 45 Movimentao do mximo do vector g para vector outDATA.
Nesta fase, acabou a primeira iterao do algoritmo de dilatao. Recorde-se que apenas
foram processados os vectores Data
1
e Data
2
do vector de resduos em valor absoluto, |u
|, faltando
processar os restantes. Na iterao seguinte, o novo vector h ser preenchido analisando o vector
Data
2
e o novo vector g ser preenchido analisando o vector Data
3
(Figura 41). O algoritmo
prossegue at serem analisados os n vectores Data em que se tem, para a ltima iterao, h = data
n-1

64
e g = data
n
. Antes de cada iterao iniciar, o valor de offset actualizado. Na primeira iterao offset
tem o valor 0, na seguinte actualizado com o valor S
LENGHT
, na terceira com o valor 2 x S
LENGHT
e
assim sucessivamente de forma a que as posies do vector de sada out
DATA
sejam preenchidas
sequencialmente.
4.5.2 Eroso
O algoritmo de eroso em tudo semelhante ao algoritmo de dilatao mas so calculados os
valores mnimos em vez dos valores mximos. As amostras a serem processadas so as que esto
armazenadas no vector out
DATA
em vez dos resduos provenientes do algoritmo de 4 parmetros
modificado. O vector de sada resultante do processo de eroso o vector de sada da operao de
fecho. Este vector de sada ser posteriormente analisado e, caso hajam perturbaes, estas sero
classificadas.
4.5.3 Teste ao algoritmo de fecho
Para testar o algoritmo de fecho foram adquiridos 10 perodos de um sinal sinusoidal, a 50 Hz,
frequncia de amostragem de 25,6 kHz. Pode-se observar na Figura 46 no s o sinal adquirido
como tambm os resduos que se obtm aps ser retirada a componente fundamental do sinal.

Figura 46 Sinal adquirido, a vermelho, e valor absoluto dos resduos (|u|), a azul.
Atravs da observao mais amplificada a |u
|, explcita na Figura 47, verifica-se que o sinal

positivo devido aplicao da operao de mdulo ao sinal.

Figura 47 Valor absoluto dos resduos (pormenor).
65
O resultado da operao de Fecho um invlucro do sinal |u
| - o sinal u
MORPH
- resultante de
se ter aplicado sucessivamente as operaes de dilatao e de eroso, que pode ser observado na
Figura 48 e na Figura 49.
Na Figura 48 foi aplicado o algoritmo de fecho ao valor absoluto dos resduos em que o
tamanho do vector estrutural s tem tamanho S
LENGHT
= 1280. No caso da Figura 49 S
LENGHT
tem valor
102. Pode-se observar que, quando a dimenso de s for menor, a operao de fecho produz um
invlucro melhor do sinal em que foi aplicada a operao. Tanto um caso como outro tm aplicaes
distintas e ambos so utilizados neste projecto. O primeiro, em que s maior, tem como objectivo
definir os nveis das perturbaes, ou seja, criar patamares de comparao. Se um patamar de
u
MORPH
ultrapassar o nvel de limite MORPH_THR (de morphological threshold) quer dizer que uma
perturbao est presente no sinal. Apenas no caso de ocorrer uma perturbao que o algoritmo de
fecho vai ser novamente executado mas desta vez com vector estrutural s de menor dimenso, como
no caso da Figura 49. A aplicao de um vector estrutural menor tem como objectivo detectar mais
perturbaes nesse mesmo intervalo que antes no tinham sido detectadas, por exemplo, o caso de
transitrios. A deteco ir ser mais explorada no subcaptulo 4.7.

Figura 48 Resduos em valor absoluto (azul) e resultado da operao de fecho, uMORPH, com SLENGHT = 1280.

Figura 49 Resduos em valor absoluto (azul) e resultado da operao de fecho, uMORPH, com SLENGHT = 102.
Neste momento a fase de processamento do sinal para a deteco de perturbaes do tipo
transitrio ou distoro harmnica terminou dando ento incio fase de deteco.
66
4.6 Processamento: Mtodo do Valor Eficaz
O algoritmo do clculo do valor eficaz (RMS) baseia-se na aplicao da definio de valor
eficaz para um sinal amostrado

1
2
0
1
( )
N
RMS NORM
n
u u n
N

=
=

(65)
em que n o ndice da amostra e N o nmero total de amostras adquiridas. A particularidade deste
algoritmo est em ser calculado o valor RMS de meio em meio perodo, cobrindo assim eventuais
perturbaes que possam ocorrer cujo valor eficaz varie significativamente.
Na Figura 50 est ilustrado um exemplo da aplicao deste algoritmo. Foram adquiridos 4
perodos de um sinal com 50 Hz. Os troos do sinal preenchidos correspondem a 1 perodo em que
calculado o valor eficaz dessas amostras. Como se pode observar, a cada meio perodo calculado
um novo valor de RMS. Quando se avana at ao ltimo meio perodo da totalidade do sinal
amostrado, no se pode calcular o valor eficaz por no se ter amostras suficientes que perfaam 1
perodo. Essas amostras so guardadas num vector auxiliar e apenas sero processadas depois de
adquirido o prximo conjunto de pontos.
0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08
0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08 0 0,02 0,04 0,06 0,08

Figura 50 Exemplo do clculo RMS de meio em meio perodo durante 4 perodos.
O algoritmo de clculo do valor RMS foi testado para vrios valores de tenso eficaz entrada
do circuito de condicionamento de sinal. A comparao do valor esperado com o valor resultante do
clculo de (65) apresentada na Tabela 10.
Tabela 10 Clculo do valor RMS para vrios sinais de entrada.
RMS esperado [V] RMS mdio calculado [V] [V]
0,707 0,702 0,005
1,180 1,171 0,009
1,500 1,485 0,015

67
4.7 Deteco e Classificao de Perturbaes
A fase de deteco das perturbaes a ltima fase de algoritmos que dar origem ao
processo de classificao das mesmas que, eventualmente, possam ter ocorrido. Esta fase pode ser
observada em pormenor atravs da Figura 51, que mais detalhada que a representada na Figura
27. Verifica-se que existem dois grupos de perturbaes. O primeiro inclui as perturbaes que so
detectadas consoante a variao do valor eficaz: sobretenses de curta durao ou swells,
sobretenses de longa durao, interrupes, subtenses curta durao ou cavas e subtenses de
longa durao. O segundo grupo constitudo pelos transitrios e distores da forma de onda
consoante o contedo harmnico. Cada deciso tomada para a classificao das perturbaes ser
explicada nas seguintes subseces.

Figura 51 Diagrama de blocos ilustrativo do processo de deteco e classificao de perturbaes.
4.7.1 Classificao de transitrios e distores
O sinal resultante do algoritmo de fecho, u
MORPH
, no mais do que um invlucro do sinal |u
|.
Este processo de criao de invlucros simplifica a deteco de potenciais eventos uma vez que
remove mltiplos cruzamentos do nvel de limite que pertencem a um nico evento. Um evento
detectado se o sinal u
MORPH
passar o nvel de limite MORPH_THR. Uma vez detectado o evento, para
o processo de classificao de perturbaes so necessrios diversos parmetros, tais como, a
durao do evento (t
WD
) e o contedo das frequncias harmnicas e inter-harmnicas. Entende-se
por durao do evento como o tempo desde que sinal cruza o limite at ao instante em que volta a ter
um valor abaixo do limite. Se a durao do evento for superior a 50 ms ou superior a 20 ms e, ao
mesmo tempo, o valor mximo da THD durante o evento for superior ao valor de limite (THD_THR),
ento o evento detectado classificado como distoro harmnica ou inter-harmnica. Caso contrrio
68
classificado como transitrio. O fluxograma ilustrativo deste processo classificativo est ilustrado na
Figura 52.

Figura 52 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao das perturbaes: transitrios e distores harmnicas ou
distores inter-harmnicas.
Quando detectado um transitrio, o analisador aplica novamente ao sinal |u
| o algoritmo de
fecho. No entanto, desta vez, -lhe aplicado o elemento estrutural S
4
, de durao 4 ms. O facto do
elemento estrutural ter dimenso mais reduzida possibilita a deteco de transitrios mais prximos
uns dos outros, que antes eram detectados como sendo um s. Estes transitrios sero de menor
durao. Do sinal resultante determina-se a durao (t
T
) e amplitude (A
T
) destes transitrios.
O sinal u

dos resduos obtido atravs do algoritmo de 4 parmetros modificado pode tambm
ser decomposto em

H IH
u u u = + (66)
em que

30
2
[ ] cos( [n]) sin( [n])
H h i h i
h
u n A h t B h t
=
= +
(67)

30
1
[ ] [ ] cos( [ ]) sin( [ ])
IH NORM h i h i
h
u n u n A h t n B h t n
=
= +
(68)
Por observao das equaes anteriores verifica-se que o sinal u

contm todas as
componentes do sinal para alm da fundamental, isto , contm quer as distores harmnicas u
H
,
quer as inter-harmnicas u
IH
. Estas ltimas so obtidas removendo ao sinal adquirido todas as
harmnicas, incluindo a fundamental. Torna-se importante separar estas duas componentes para,
posteriormente, poderem ser identificadas as causas que do origem s perturbaes.
Para classificar uma distoro de harmnica ou inter-harmnica necessrio comparar os
valores mximos de THD e de TIHD (Total Interharmonic Distortion). O clculo destes valores
obtido pela determinao das amplitudes das harmnicas (at 30). As expresses da THD e TIHD
so, respectivamente,

30
=2
( )
THD
2 2
h h
h
2 2
1 1
A B
A B
+
=
+
(69)
e
69

1
=0
1
TIHD [ ]
N
2
IH
n
u n
N

=

. (70)
em que A
1
e B
1
so as componentes em fase e em quadratura da amplitude da componente
fundamental do sinal e N o nmero total de pontos adquiridos.
O clculo das harmnicas (2, 3, 30) efectuado recorrendo a uma nova implementao do
algoritmo de adaptao de sinusides multi-harmnico, desenvolvida especificamente para este
trabalho [60]. Este melhoramento do algoritmo no iterativo, pode ser visto como uma extenso do
algoritmo de 3 parmetros modificado (seco 4.4.1): recorre ao valor de frequncia,
i
, e aplicado
aos resduos u
, ambos determinados pelo algoritmo de 4 parmetros modificado (seco 4.4.2).

Assim sendo, as matrizes do algoritmo multi-harmnico podem ser escritas como

( )
1
( )
=
T T
x D D D u (71)

1 1 1 1 1 1
2 2 2 2 2 2
cos(2 ) sin(2 ) cos(3 ) sin(3 ) cos( ) cos( )

cos(2 ) sin(2 ) cos(3 ) sin(3 ) cos( ) sin(
i i i i i i
i i i i i i
i N i N i N i N i N
t t t t Ht Ht
t t t t Ht Ht
t t t t Ht H
= D
)
i N
Nx2H
t
(
(
(
(
(
(
(

(72)

| |
T
1 2 N
= u u u
u (73)
[ ]
T
2 2 3 3 H H 2Hx1
= A B A B ... A B x (74)
de onde se verifica o incremento de 2 colunas matriz D por cada harmnica e, consequentemente,
tambm matriz de sada x. Como a matriz D, de dimenso Nx2H, depende directamente do nmero
de amostras, o seu preenchimento, para alm de ser de elevada morosidade, ocupa tambm
recursos computacionais que o DSP utilizado neste trabalho no capaz de suportar. Como tal,
atravs deste novo mtodo, realizada uma optimizao do clculo das harmnicas, cuja descrio
pode ser consultada em maior detalhe no Anexo B e em [60].
Uma vez calculadas as amplitudes harmnicas dadas por (74), possvel determinar os
valores de THD, u
IH
e TIHD e, assim, distinguir distores harmnicas de inter-harmnicas. Para alm
do valor de distoro tambm guardado o seu valor de amplitude, A
WD
. O fluxograma da Figura 52
pode ser redesenhado e apresentado de forma completa, tal como se pode observar na Figura 53.
70

Figura 53 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao de perturbaes: transitrios e distores harmnicas ou
distores inter-harmnicas (completo).
4.7.2 Classificao de interrupes, subtenses e sobretenses
A deteco de eventos baseados na variao do valor eficaz realizada atravs da
comparao do valor u
RMS
com dois nveis de limite, RMS_THR+ e RMS_THR-. Um evento
detectado quando o valor u
RMS
excede RMS_THR+ ou fica abaixo de RMS_THR-. A classificao
deste tipo de eventos baseada no valor de amplitude A
RMS
e tambm na sua durao, t
RMS
. Se os
eventos forem subtenses ou interrupes, A
RMS
o valor mnimo de u
RMS
durante o evento. Se
ocorrerem sobretenses ento A
RMS
o valor mximo de u
RMS
.
Eventos com amplitude inferior a 0,1 p.u. so classificados como interrupes. Se a amplitude
for maior mas inferior a RMS_THR-, ento o evento classificado como subtenso de curta durao
(ou cava) ou de longa durao. Caso contrrio, ou seja, se a amplitude for superior a 0,1 p.u. mas
superior a RMS_THR+, ento o evento classificado como sobretenso de curta durao ou de
longa durao. O fluxograma ilustrativo do processo de classificao de variaes consoante a
variao de valor eficaz pode ser observado na Figura 54.

Figura 54 Fluxograma ilustrativo do processo de classificao de perturbaes: interrupes, sobretenses de curta e longa
durao e subtenses de curta e longa durao.

71
Na Figura 55 podem-se visualizar os parmetros (durao e amplitude RMS) mnimos e
mximos tpicos destas perturbaes.

Figura 55 Parmetros tpicos das perturbaes de curta e de longa durao.

72

73
Captulo 5 -
Testes e Resultados

Este captulo tem o objectivo de apresentar os testes que foram realizados para detectar
perturbaes de energia. Estes testes tm como misso no apenas validar os fundamentos tericos
apresentados neste trabalho como tambm toda a implementao em hardware. Para tal tambm se
torna necessrio validar o funcionamento da fonte de alimentao redundante que fornece energia a
todo o sistema.
Antes de se mostrar que testes foram realizados, apresentam-se os valores nominais de
referncia (tenso nominal e tenso RMS) que foram utilizados para converter os sinais para
unidades p.u. Para a definio desses valores foi necessria a utilizao de um calibrador de alta
preciso. Neste captulo ser tambm apresentada uma breve explicao da interaco do programa
implementado no processador com a memria externa no que diz respeito s transferncias por DMA
assim como a interface grfica desenvolvida.
5.1 Fonte de Alimentao
A placa de circuito impresso da fonte de alimentao (Anexo A.3), cujo diagrama de blocos
apresentado na seco 3.9, foi testada para validar os objectivos propostos nessa seco: a fonte
redundante deve gerar as tenses positivas de 2,5 V, 3,3 V, 5 V e 15 V e as tenses negativas de
-5 V e -15 V. Os sinais de tenso foram adquiridos pelo osciloscpio Tektronix
2012.
Na Figura 58 est representado o regime transitrio e o regime permanente do conversor
DC-DC MAX1703. Pode-se observar que a tenso de sada do DC-DC estvel e contnua. O tempo
que decorre do regime transitrio ao regime permanente aproximadamente 8,6 ms. A tenso de
sada ligeiramente superior a 5 V, no trazendo qualquer inconveniente pois apenas o AMPOP vai
ser alimentado com esta tenso (este valor ainda se encontra dentro da tolerncia do dispositivo pois
o valor mximo permitido 18 V). Como o inversor DC-DC TPS60401 est ligado directamente
sada do MAX1703, a forma de onda de tenso vai ser inversa, tal como se pode observar pela
Figura 57. O tempo de estabelecimento neste caso 9,6 ms.
(a)
Figura 56 Regime transitrio (a) e regime
(a)
Figura 57 - Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do inversor DC
Aps o estabelecimento da tenso contnua do conversor MAX1703, todos os restantes
conversores entram em funcionamento. Os reguladores de 2,5
demoram, respectivamente, 316
(a)
Figura 58 Regime transitrio (a) e regime permanente (b)
74
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do conversor DC-DC MAX
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do inversor DC-DC TPS60401.
cimento da tenso contnua do conversor MAX1703, todos os restantes
em funcionamento. Os reguladores de 2,5 V (Figura 58) e de 3,3
s e 1,05 ms a atingir o regime permanente.
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador ADP1715

DC MAX1703.

DC TPS60401.
cimento da tenso contnua do conversor MAX1703, todos os restantes
) e de 3,3 V (Figura 59)

ADP1715-2,5V.
(a)
Figura 59 - Regime transitrio (a) e regime perm
O regulador MAX703 demora aproximadamente 60
suas sadas (Figura 60 e Figura
fonte de alimentao, este tambm o tempo que a fonte de alimentao leva para
sadas estveis.
(a)
Figura 60 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (+15
(a)
Figura 61 Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (
75
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador ADP1715
O regulador MAX703 demora aproximadamente 60 ms a pr as tenses d
igura 61). Por ser o maior dos tempos de todos os integrados present
fonte de alimentao, este tambm o tempo que a fonte de alimentao leva para
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (+15
(b)
Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (

regulador ADP1715-3,3V.
ms a pr as tenses de +15 V e -15 V nas
). Por ser o maior dos tempos de todos os integrados presentes na
fonte de alimentao, este tambm o tempo que a fonte de alimentao leva para ter todas as

Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (+15 V).

Regime transitrio (a) e regime permanente (b) do regulador MAX703 (-15 V).
76
5.2 Calibrao
Foi realizada a montagem representada na Figura 62. O circuito com o sensor de efeito de Hall,
j apresentado no subcaptulo 3.2.2 e tambm no anexo A.1, foi alimentado com +15 V e -15 V
atravs da fonte de alimentao apresentada anteriormente.

Figura 62 Esquema de ligaes para a calibrao do sensor de tenso.
entrada do circuito foi ligado, atravs de dois cabos, o calibrador Wavetek
9100. Este gera

tenses sinusoidais de 0 a 1050 V na banda 10 Hz - 100 kHz. A exactido (accuracy) de uma tenso
sinusoidal gerada 0,04 % quando na banda 10 Hz - 3 kHz e 25 ppm de exactido da frequncia
gerada (em toda a banda). sada do circuito do sensor de Hall foi ligado um multmetro da Agilent
,
modelo 3458A para realizar as medies em tenso. Todo o sistema controlado de forma
automtica, por GPIB (General Purpose Interface Bus), atravs de um programa realizado em
LabVIEW
.
Foram realizados dois varrimentos, um na tenso e outro na frequncia. Para o varrimento em
tenso seleccionaram-se, respectivamente, os valores 1 V, 460 V e 1 para os parmetros tenso
eficaz inicial, tenso eficaz final e o valor do passo, ou seja, o calibrador gerou 460 valores de tenso
eficaz compreendidos entre 1 e 460 V frequncia fixa de 50 Hz. O resultado da medio o
apresentado na Figura 63, em que no eixo das abcissas est a tenso colocada entrada do circuito
do sensor de Hall e no eixo das ordenadas a tenso sua sada.

Figura 63 Resultado do varrimento em tenso, de 1 V a 460 V, para frequncia constante igual a 50 Hz.
0,0
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5
3,0
0 100 200 300 400 500
T
e
n
s
o

d
e

s
a
d
a

[
V
r
m
s
]
Tenso de entrada [Vrms]
77
Numa primeira anlise, pode-se confirmar a excelente linearidade do sensor de tenso atravs
do quadrado de

460
1
460
1
= 0,999936.
i i
i
2 2
i i
i
(x - X)(y - Y)
r =
(x - X) (y - Y)
=
=
(75)
dado por
0,999987
2
r = (76)
em que r o coeficiente de correlao momentnea de Pearson, x
i
e y
i
so, respectivamente, os
pontos das abcissas e das ordenadas e X e Y as suas mdias. O coeficiente de Pearson um
indicador da relao linear entre duas grandezas, o quo mais perto de 1 estiver tanto melhor a
linearidade entre os pontos. Tambm foi calculada a no linearidade do sensor. Esta uma mtrica
que quantifica o afastamento ao comportamento linear de um instrumento dada por

0,0203
= 100 = 100 = 0,847 %
2,4021
L
NLIN
A
(77)
em que A a amplitude do sinal e L o maior afastamento em relao caracterstica linear. No
grfico da Figura 64 esto representadas a caracterstica do sensor e, a tracejado, a curva da
regresso linear
= 0,005206 0,012812 y x -
(78)
em que x a tenso de entrada proveniente do calibrador e y a sada em tenso do circuito.

Figura 64 Caracterstica medida e regresso linear estimada (tracejado).
Foi com base nos valores obtidos neste varrimento que se determinaram os valores de base
p.u. utilizados para definir os limites das perturbaes e que podem ser consultados na Tabela 11.

0,0
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5
3,0
0 100 200 300 400 500
T
e
n
s
o

d
e

s
a
d
a

e
f
i
c
a
z

[
V
]
Tenso de entrada eficaz [V]
78
Tabela 11 Valores de tenso da rede elctrica e respectiva correspondncia para unidades p.u.
Tenso eficaz da rede [V]
Tenso eficaz sada do
sensor de Hall [V]
Tenso em p.u.
2,3 -0,001 0,01
4,6 0,011 0,02
23 0,107 0,1
184 0,945 0,8
207 1,065 0,9
230 1,184 1
253 1,304 1,1
276 1,424 1,2
414 2,142 1,8
460 2,382 2

Aps o teste linearidade pretendeu-se determinar a largura de banda do sensor de efeito de
Hall e, para tal, realizou-se um varrimento na frequncia. Este realizado de forma semelhante ao
varrimento na tenso: seleccionam-se como parmetros as frequncias inicial e final, nmero de
pontos a adquirir e a tenso eficaz a ser gerada. Devido a limitaes do calibrador, este no
consegue realizar um varrimento na frequncia para alm dos 10 kHz quando gera 230 V de valor
eficaz. Assim sendo, para se testar mais largura de banda do sensor, realizou-se o varrimento com
15 V eficazes, de 10 Hz a 100 kHz, com a aquisio de 100 pontos. Os resultados deste varrimento
esto representados na Figura 65.

Figura 65 Resultado do varrimento em frequncia, de 10 Hz a 100 kHz, para a tenso alternada eficaz V = 15 V.
A Figura 65 mostra que o sensor de efeito de Hall, que tem um alcance de tenso at 500 V,
tem um alcance de frequncia at, aproximadamente, 30 kHz, valor at ao qual a tenso do sinal
desceu mais de 3 dB. A linha a tracejado da figura passa pelo ponto onde a tenso desceu 3 dB,
indicando assim a frequncia de corte do sensor.
Devido largura de banda do transdutor de tenso, o analisador de qualidade desenvolvido
neste projecto no capaz de detectar transitrios de alta frequncia. No entanto, detecta transitrios
de carcter oscilatrio, distores da forma de onda, tais como, distores harmnicas e
inter-harmnicas, sobretenses, subtenses e interrupes.
-40
-35
-30
-25
-20
10 100 1000 10000 100000
T
e
n
s

s
a
d
a

d
o

s
e
n
s
o
r

d
e

H
a
l
l

[
d
B
]
Frequncia [Hz]
79
5.3 Acesso Memria Externa
A deteco e classificao de perturbaes um processo contnuo no tempo, visto ser
necessrio analisar permanentemente a forma de onda de tenso da rede elctrica. Recorrendo a
uma funo de interrupo, o processador adquire amostras provenientes do ADC e guarda-os num
registo na memria interna. Como a memria interna no suficiente para albergar uma grande
quantidade de dados, recorreu-se ao uso de uma memria externa de capacidade superior (128 Mb
ou 4 M palavras). Quando o registo interno chega ao mximo da sua capacidade, os dados so
transferidos por DMA para um endereo na memria externa. A transferncia por DMA de largos
conjuntos de palavras, neste caso, do tamanho do registo interno, ideal para operaes em
tempo-real uma vez que o acesso memria feito, tal como o nome indica, de forma directa,
independentemente do estado da unidade central de processamento. Basta definir o endereo de
escrita/leitura, o tamanho de dados a enviar/receber e activar a transferncia.
Enquanto a transferncia por DMA decorre, seja em escrita ou em leitura, o processador vai
realizando outras operaes. Esta uma das principais vantagens do uso de transferncia por DMA,
pois operaes concorrentes no ficam espera que a transferncia acabe para serem executadas.
A aquisio de vrias amostras e posterior envio, em bloco, para a memria externa torna o processo
muito mais rpido do que enviar as amostras uma a uma, optimizando tanto o desempenho da
transferncia por DMA assim como a velocidade de transferncia da SDRAM (166 MHz). No entanto,
a transferncia por DMA tanto melhor quanto maior for a dimenso do registo. Quantos menos
blocos de dados se transferirem tanto melhor a eficincia.
Quando a transferncia por DMA termina, o registo interno fica disponvel para guardar mais
amostras.
5.4 Testes e Resultados
O prottipo desenvolvido neste trabalho foi instalado numa sala do plo do Instituto Superior
Tcnico no Taguspark (Oeiras), onde foi deixado a monitorizar a qualidade da rede elctrica
monofsica. Configurou-se o ADSP-21369 com 332 MHz de velocidade de processamento e com
166 MHz de velocidade de acesso SDRAM externa. Em cada aquisio foram digitalizados 65536
pontos do sinal de tenso da rede elctrica, o correspondente a 2,56 s, com frequncia de
amostragem f
S
igual a 25,6 kS/s. Os algoritmos de processamento de sinal (FFT, IpDFT, sine-fitting,
operao de fecho, etc.) so apenas executados quando uma aquisio das 65536 amostras termina.
Enquanto decorre o processamento do sinal recentemente adquirido, o analisador continua a adquirir
novos pontos, guardando-os na memria externa, tornando todo o processo de aquisio e anlise
num processo contnuo. Definiu-se ainda o patamar de limite da operao morfolgica
(MORPH_THR) com o valor 0,12 p.u., RMS_THR+ com 1,1 p.u. e RMS_THR- com 0,9 p.u.
80
Durante a anlise da rede no foram detectadas quaisquer perturbaes cujo valor RMS
variasse significativamente. Como tal, para testar a validade dos algoritmos implementados, foram
simuladas 3 perturbaes (uma interrupo, uma cava e uma sobretenso de curta durao), cujas
caractersticas o analisador teria de detectar.
Na Figura 66 est representada, no grfico superior, a forma de onda da tenso contendo uma
interrupo e, no grfico inferior, a respectiva variao do valor RMS ao longo do tempo. O analisador
detectou esta interrupo de durao 0,29 s, cujo valor RMS atingiu o mnimo de 0,004 p.u., o que
corresponde a 0,92 V eficazes na rede elctrica.

Figura 66 Exemplo de uma interrupo detectada pelo analisador.
Esta perturbao foi forada ao analisador, desligando e ligando novamente o interruptor que
estabelecia a ligao do sensor de Hall rede elctrica. O instante t = 0 corresponde ao instante
09:30:00 do dia 21 de Maro de 2011 e os instantes inicial e final foram registados, respectivamente,
como tendo os valores t
INICIAL
= 09h31m54,23s e t
FINAL
= 9h31m54,52s.
Na Figura 67 est exemplificada uma sobretenso de curta durao no sinal de tenso
(grficos do topo e do meio, em pormenor) e a respectiva variao RMS ao longo do tempo (grfico
inferior). Durante 0,08 s ocorreu um aumento do valor eficaz at ao mximo de 1,247 p.u, equivalente
a um aumento de 56,81 V na rede elctrica em relao ao valor nominal. O analisador registou
tambm a data da ocorrncia: 21 de Maro de 2011, t
INICIAL
= 09h43m26,32s e t
FINAL
= 09h43m26,40s.
Esta perturbao foi simulada multiplicando o valor das amostras adquiridas a partir do 4 perodo do
sinal adquirido e durante 4 perodos, pelo valor 1,25;
81

Figura 67 Exemplo de uma sobretenso de curta durao detectada pelo analisador.
Na Figura 68 est exemplificada uma subtenso de curta durao no sinal de tenso (grficos
do topo e do meio, em pormenor) e a respectiva variao RMS ao longo do tempo (grfico inferior).
Durante 0,12 s ocorreu uma diminuio do valor eficaz at ao mnimo de 0,665 p.u, equivalente
diminuio da tenso em 77,05 V eficazes. O analisador registou tambm a data da ocorrncia: 21 de
Maro de 2011, t
INICIAL
= 10h21m14,02s e t
FINAL
= 10h21m14,14s. Esta perturbao foi simulada
multiplicando por 0,667 as amostras do sinal adquirido a partir do quarto perodo e durante 6
perodos.
82

Figura 68 - Exemplo de uma subtenso de curta durao, ou cava, detectada pelo analisador.
Para a deteco de transitrios e distores harmnicas foram utilizados dois mtodos de
anlise de sinal. O primeiro, o algoritmo de adaptao de sinusides, estima a amplitude do sinal e
tambm um novo valor de frequncia. Prossegue-se ento o clculo dos resduos que o sinal
excepto a sua componente fundamental. Nos resduos esto contidas todas as componentes
harmnicas e as perturbaes no caso de as haver. Por fim, a operao de fecho uma operao
matemtica de anlise da forma do sinal e usada para produzir um invlucro do valor absoluto dos
resduos. O cruzar dos patamares pelos nveis de limite ir definir qual o tipo de distoro da forma do
sinal que, por ventura, ter ocorrido.
Na Figura 69 podemos observar um sinal de tenso de onde se destaca uma distoro da
forma do sinal detectada e o respectivo sinal dos resduos (na Figura 70 observam-se os mesmos
sinais com maior pormenor). Aplicando o algoritmo de fecho ao valor absoluto dos resduos, obtm-se
83
um invlucro com nveis bem definidos. Quando os patamares ultrapassam um nvel de limite (neste
caso, MORPH_THR = 0,12 p.u.), ento ocorreu uma perturbao.

Figura 69 Sinal com uma distoro harmnica no sinal de tenso ( esquerda) e os resduos ( direita).

Figura 70 Pormenor da Figura 69.
Como se pode observar pela Figura 71, o invlucro passa os 0,12 p.u. aos 0,208 s e volta a
abaixo desse nvel aos 0,268 s. Como tem durao superior a 50 ms (na verdade, tem
aproximadamente 60 ms), a perturbao classificada automaticamente como distoro da forma do
sinal. O instante inicial foi t
INICIAL
= 12h27m17,45s e o instante em que a perturbao terminou foi em
t
FINAL
= 12h27m17,51s, do dia 22 de Maro de 2011.
Esta distoro foi simulada acrescentando ao sinal da rede um sinal de teste, de durao 4
perodos
cos( ) - 0,0522 sin( )
wd
u = 0,1 2 2370t 2 2410t (79)
A distoro harmnica total calculada foi de 1,484 % e a TIHD de 0,218 %.
84

Figura 71 Resduos (em valor absoluto) e invlucro resultante da operao de fecho.
Uma distoro da forma do sinal de maior durao foi detectada e est representada na Figura
72 e na Figura 73. A THD calculada foi de 1,539 % e a TIHD de 0,108 %.

Figura 72 Sinal com uma distoro harmnica no sinal de tenso ( esquerda) e os resduos ( direita).

Figura 73 - Resduos (em valor absoluto) e invlucro resultante da operao de fecho.
85
Foram detectados durante a anlise da rede elctrica vrios transitrios de carcter impulsivo,
dos quais um pode ser observado na Figura 74. A amplitude mxima do transitrio foi de 0,485 p.u. e
ocorreu a 19 de Maro de 2011, s 15h33m24,43s, com a durao de 78,2 s.

Figura 74 Transitrio impulsivo.
5.5 Interface Grfica para o Utilizador
Foi desenvolvida uma interface grfica no software LabVIEW
de maneira a que se pudessem

observar os resultados das perturbaes. O objectivo desta aplicao adquirir a informao e os
pontos correspondentes de uma perturbao, caso esta ocorra e, ao mesmo tempo, de forma
concorrente, poder consultar um histrico das perturbaes ocorridas. Esta aplicao baseia-se nos
conceitos de produtor/consumidor e na gesto de eventos.
O gestor de eventos, controlado pelo produtor do sistema, espera que um evento exterior
ocorra. Estes eventos so, por exemplo, quando o utilizador da aplicao carrega nos botes de abrir
ficheiro ou no boto de parar o programa do painel frontal. Enquanto decorre a espera (timeout) por
um desses eventos verificada, de segundo a segundo, a existncia de informao na porta de
comunicao UART. Esta tarefa executada pelo consumidor. Caso haja alguma informao, a
mesma apresentada no painel frontal sob a forma de grficos ou de caixas de texto. Se a
informao corresponder a uma perturbao, esta apresentada e guardada em ficheiros de texto
(.txt) e de Excel
(.xls).
86
Quando um evento ocorre, isto , quando um dos botes do painel frontal carregado, o gestor
de eventos incrementa uma pilha de eventos com o evento a processar. Isto especialmente til
quando o produtor e o consumidor produzem e consomem informao a ritmos diferentes. No caso
deste trabalho, a UART envia informao ao consumidor que deve continuar a ser processada ao
mesmo tempo que o utilizador realiza as operaes que desejar. A interface grfica desenvolvida est
apresentada na Figura 75.

Figura 75 Painel frontal da interface grfica desenvolvida em LabVIEW
.
No painel frontal destacam-se os seguintes elementos (Figura 76):
1) Caixa com informaes sobre o estado do sinal. Esta caixa vai sendo actualizada com o valor
eficaz do sinal analisado e a frequncia do mesmo. Caso no haja nenhuma perturbao, aparece
uma mensagem de ALL IS OK e o LED fica com a cor verde. Caso haja uma perturbao, o LED
fica vermelho e ento o programa adquire os pontos enviados pelo DSP via UART.

Figura 76 Campos em destaque do painel frontal.
2) Caixa para consulta do hist
ficheiro contendo as perturbaes, uma caixa de mensagens indicativa do estado e um LED que
acende quando um ficheiro est a ser aberto.
3) O boto de STOP pra todo o programa.
4) Caixa com elementos
perturbao venha ela directamente do DSP (deteco em tempo real) ou venha ela de um ficheiro
gravado previamente. O tipo de perturbao, o tempo inicial e tempo final, a amplitude mxima e
mnima e a frequncia medida naquele instante, so
5) Separadores do tipo de perturbao detectada. Consoante o tipo de perturbao (variao da
tenso RMS ao longo do tempo ou distoro da forma do sinal), o programa vai d
separadores aberto automaticamente.
6) Janelas de grficos. Nestas janelas mostrada a forma da perturbao adquirida pelo DSP
ou gravada num ficheiro.
Segue-se um exemplo da abertura de um ficheiro. Depois de s
pode-se observar o estado do sinal enviado pelo DSP
aceso (Figura 77).
Figura 77 Interface grfica avisando o utilizador de que tudo est a funcionar correctamente.
Aps se ter pressionado o boto de OPEN na caixa para consulta do histrico (
aparece uma caixa para se poder escolher qual o ficheiro a abrir. Repare
consultar o histrico o estado a abrir fi
processo desencadeado pelo utilizador, o programa tem ainda eventos a processar na pilha de
eventos enquanto, simultaneamente, realiza a leitura do estado da UART.
87
para consulta do histrico. Nesta caixa existe um boto de OPEN para abrir um
acende quando um ficheiro est a ser aberto.
O boto de STOP pra todo o programa.
Caixa com elementos informativos. Nesta caixa podem-se consultar os campos da
e a frequncia medida naquele instante, so campos caractersticos de uma perturbao.
Separadores do tipo de perturbao detectada. Consoante o tipo de perturbao (variao da
tenso RMS ao longo do tempo ou distoro da forma do sinal), o programa vai d
separadores aberto automaticamente.
os. Nestas janelas mostrada a forma da perturbao adquirida pelo DSP
se um exemplo da abertura de um ficheiro. Depois de se pr o programa a correr,
se observar o estado do sinal enviado pelo DSP atravs da mensagem de estado e do LED
Interface grfica avisando o utilizador de que tudo est a funcionar correctamente.
r pressionado o boto de OPEN na caixa para consulta do histrico (
aparece uma caixa para se poder escolher qual o ficheiro a abrir. Repare-se que na caixa para
consultar o histrico o estado a abrir ficheiro..: e o LED est aceso. Isto significa que durante este
eventos enquanto, simultaneamente, realiza a leitura do estado da UART.
. Nesta caixa existe um boto de OPEN para abrir um
se consultar os campos da
de uma perturbao.
Separadores do tipo de perturbao detectada. Consoante o tipo de perturbao (variao da
tenso RMS ao longo do tempo ou distoro da forma do sinal), o programa vai decidir qual dos
os. Nestas janelas mostrada a forma da perturbao adquirida pelo DSP
e pr o programa a correr,
atravs da mensagem de estado e do LED

Interface grfica avisando o utilizador de que tudo est a funcionar correctamente.
r pressionado o boto de OPEN na caixa para consulta do histrico (Figura 78),
se que na caixa para
Isto significa que durante este
Figura
Quando o ficheiro abre, a informao contida visualizada. Neste caso abriu
que continha uma perturbao cuja variao do RMS varia: uma cava. So apresentados os grficos
temporais da tenso eficaz e da variao do RMS e tambm, nas caixas de texto, a informao
correspondente. No final, o LED de consulta do histrico volta a estar apagado e no existem mais
eventos a serem processados (Figura

88
Figura 78 Abertura de um ficheiro no painel frontal.
a informao contida visualizada. Neste caso abriu
nso eficaz e da variao do RMS e tambm, nas caixas de texto, a informao
No final, o LED de consulta do histrico volta a estar apagado e no existem mais
Figura 79).
Figura 79 Depois de aberto o ficheiro.

a informao contida visualizada. Neste caso abriu-se um ficheiro
nso eficaz e da variao do RMS e tambm, nas caixas de texto, a informao
No final, o LED de consulta do histrico volta a estar apagado e no existem mais

89
Captulo 6 -
Concluses e Trabalho Futuro

Este captulo encerra o corpo principal desta dissertao com, tal como o nome indica, as
concluses que se puderam retirar e com a apresentao da proposta para trabalho futuro.
6.1 Concluses
A anlise da qualidade de energia hoje em dia uma preocupao generalizada e, procurar
novas formas de a proporcionar, uma necessidade. Detectar as falhas e tomar medidas preventivas
que possam prevenir os efeitos nefastos que advm das perturbaes fundamental para o bom
funcionamento dos equipamentos elctricos e para o prolongamento do seu tempo de vida til.
As perturbaes da rede elctrica ocorrem devido degradao da qualidade introduzida pelas
linhas de transmisso e pelos sistemas de distribuio de energia e, fundamentalmente, devido s
cargas. Estas tm uma influncia cada maior na rede elctrica por serem constitudas por
componentes cujas caractersticas so no lineares. Dessa forma, introduzem componentes no
desejadas (harmnicas) na rede que, por sua vez, produzem distores do sinal de tenso. As
descargas atmosfricas, acidentes nas linhas de transmisso, transformadores mal regulados, o
arranque de motores de elevada potncia, iluminao de alto rendimento ou sistemas de ar
condicionado, so causas comuns da degradao da qualidade da energia. Esta ausncia de
qualidade tem diversas consequncias nefastas tais, como j referido, a diminuio do tempo de vida
dos equipamentos, a interrupo de processos de fabrico de onde resultam prejuzos avolumados,
quer ao nvel material, quer ao nvel financeiro e at mesmo a destruio efectiva de componentes e
placas de circuito impresso. Tendo este cenrio em considerao, torna-se importante no s o
fornecimento de energia com qualidade como tambm a aplicao de solues preventivas. Surgiu
ento a oportunidade para o aparecimento dos analisadores de qualidade.
Os analisadores de qualidade so dispositivos instalados nas estaes de rua, em navios de
grande dimenso, hotis, hospitais, complexos industriais ou em arranha-cus., que tm como
objectivo detectar e classificar as perturbaes ocorridas numa rede. Possuem ainda outras
funcionalidades tais como a anlise harmnica e a transmisso de dados local ou remotamente. De
90
forma a detectar uma gama variada de caractersticas de diversas perturbaes, foram j
desenvolvidos e implementados vrios mtodos de anlise. Os mtodos aplicados no analisador
desenvolvido para este trabalho analisam o sinal de tenso consoante a variao do seu valor eficaz
ou consoante a distoro da forma de onda. Com o primeiro mtodo so detectadas as seguintes
perturbaes: interrupes, subtenses e sobretenses de curta e de longa durao; com o segundo,
rudo, transitrios e distores harmnicas e inter-harmnicas.
As perturbaes do primeiro grupo so detectadas pela anlise do valor RMS. Nesta situao o
sinal da rede elctrica analisado de meio em meio perodo, gerando uma curva de valores eficazes
ao longo do tempo. Uma perturbao detectada quando a curva tem uma variao brusca de valor
eficaz e cruza um limite, seja ele inferior ou superior. A perturbao decorre at a curva de valores
voltar ao valor normal de funcionamento. Para o outro conjunto de perturbaes foi implementado um
algoritmo morfolgico chamado fecho. Este um algoritmo matemtico para processar sinais
discretos baseando-se na forma do sinal, sendo constitudo por duas etapas: a dilatao e a eroso.
A dilatao e a eroso foram implementadas segundo o algoritmo de Herk-Gil-Werman, pois o
nmero de acessos memria significativamente menor do que se a operao de fecho fosse
implementada na sua forma directa. Quando o invlucro produzido pela operao de fecho ultrapassa
determinados limites podem-se classificar as perturbaes no s com a sua amplitude e durao,
mas tambm se torna necessrio recorrer ao clculo das amplitudes das harmnicas, da THD e da
TIHD. Foi desenvolvido e aplicado pela primeira vez neste trabalho um novo mtodo mais eficiente de
sine-fitting multi-harmnico para o clculo das harmnicas. Este algoritmo ocupa muito menos
recursos computacionais do que a abordagem tradicional, uma vez que o nmero de operaes
trigonomtricas requeridas muito mais reduzido.
Antes destes algoritmos de deteco serem aplicados, foram implementados os algoritmos
para determinao da frequncia do sinal, da fase e da amplitude, nomeadamente, a IpDFT e o sine-
fitting. O primeiro revelou-se o mais eficaz para realizar uma primeira estimativa da frequncia e o
segundo estima a amplitude e a fase do sinal e um valor da frequncia mais correcto, consoante for
um algoritmo iterativo ou no iterativo.
A aplicao de todos os algoritmos, sejam os de anlise do sinal, sejam os de deteco de
perturbaes, funcionam correctamente. Todos produziram resultados fiveis e, fundamentalmente,
contriburam para o bom funcionamento do analisador, isto , foram detectadas perturbaes
simuladas ou reais da rede elctrica, com valores de amplitude e de durao bem definidos. As
operaes morfolgicas so habitualmente usadas para anlise de imagens pelo que, tal como
demonstrado neste trabalho, podem ter um papel importante em medies de qualidade de energia.
Devido forma como foram implementados os algoritmos, os nveis de limite podem ser facilmente
ajustados para nveis de maior sensibilidade, caso o programador assim o pretenda.
Apesar de haver algoritmos mais eficientes para o clculo da dilatao e da eroso ou a
operao de fecho de forma directa (que so os algoritmos morosos deste trabalho) tiveram de ser
tomadas em considerao as limitaes do DSP, nomeadamente, a velocidade mxima de
processamento e a capacidade de memria. O analisador desenvolvido constitudo por 3 mdulos
91
fundamentais: 1) um mdulo de interface com a rede elctrica monofsica, que tem um sensor de
tenso de efeito Hall; 2) uma placa para o processamento do sinal, com um ADC, uma memria
externa, um chip RTC e a interface com o processador digital de sinal; e 3) uma fonte de alimentao
redundante.
O sensor de efeito de Hall foi considerado uma escolha perfeita para este trabalho uma vez
que oferece uma gama de caractersticas que outras alternativas (por exemplo, o divisor resistivo)
no oferecem. De entre elas destacam-se o isolamento galvnico, boa linearidade e imunidade a
rudo. O sinal sada do sensor amplificado por um circuito de condicionamento de sinal e
digitalizado pelo ADC (16 bit, f
S
= 25,6 kHz, aproximaes sucessivas). A escolha desta frequncia de
amostragem e a largura de banda do sensor (aproximadamente 30 kHz), so um compromisso entre
a memria disponvel e o alcance na frequncia das perturbaes a detectar. Desta forma,
perturbaes de carcter transitrio com elevada frequncia no so detectadas. Para alimentar todo
o sistema (sensor, ADC, ampop, etc.) foi dimensionada e implementada uma fonte de alimentao
redundante que faz a gesto do caminho da energia, isto , se no houver tenso na rede elctrica, a
energia fornecida por uma pilha de ies-ltio.
Pelos resultados observados e demonstrados, os 3 mdulos apresentaram-se funcionais e com
os resultados esperados. Todos os componentes electrnicos adquiridos para este trabalho esto
discriminados no Anexo C, onde se podem consultar os preos unitrios assim como o preo total.
Sabe-se partida que o preo unitrio de cada componente diminui significativamente com o
incremento da quantidade adquirida, pelo que o desenvolvimento de vrios analisadores para o
mercado poder ser economicamente vivel. No entram nestas tabelas o preo do processador
digital de sinal, uma vez que para este trabalho foi utilizado um kit de teste com diversos perifricos.
O tempo total para detectar e classificar perturbaes em 2,5 s de dados indica que o mtodo
proposto adequado para a implementao em tempo real num DSP. Este trabalho um trabalho
que, apesar de detectar perturbaes numa rede monofsica, abre ainda espao para o adicionar de
novas funcionalidades, tais como: o clculo de potncias (activa, reactiva, aparente), a anlise da
corrente ou ainda sofrer uma expanso para um sistema de monitorizao trifsico.
6.2 Trabalho Futuro
No trabalho realizado apenas analisado o sinal de tenso da rede elctrica no processo de
deteco e classificao de perturbaes. Para complementar esta anlise com mais dados e estudar
a forma de onda da corrente, pode-se acrescentar um sensor de corrente montagem do analisador,
tal como se pode observar pela Figura 80.
92
F
a
s
e
N
e
u
t
r
o
A
C

2
3
0

V

/

5
0

H
z

Figura 80 Diagrama de blocos ilustrativo do analisador de qualidade de energia e proposta para trabalho futuro.
Existem actualmente vrias topologias de sensores de corrente: transformador de corrente,
resistncia de Shunt, sensor de efeito de Hall e sensor bobina de Rogowski. Cada uma destas
solues apresenta vantagens e desvantagens. Por exemplo: o transformador de corrente mede
correntes elevadas consumindo pouca energia mas pode saturar, apresentar histerese e, com isso,
influenciar a exactido dos resultados; a soluo com resistncia de Shunt apresenta uma boa
exactido, baixo custo e de fcil medio. Por outro lado h que ter em conta a potncia dissipada;
o sensor de efeito de Hall mede correntes elevadas, tem bom isolamento e ptima resposta em
frequncia mas o facto de ter rea e preo elevados e necessitar de alimentao externa podem ser
factores decisivos para no se optar por esta soluo; finalmente, a bobina de Rogowski no
apresenta histerese, saturao ou no linearidade. Dependendo dos recursos e da aplicao,
pode-se escolher qualquer uma destas solues tendo sempre em conta as suas caractersticas.
Se for adicionado um sensor de corrente ento tambm ser necessrio duplicar o sistema de
condicionamento de sinal e o ADC para adquirir o sinal de corrente. Como os sensores de corrente
tm de ter, necessariamente, elevada gama dinmica para medir correntes tanto baixas como muito
elevadas (e ainda ter em conta o elevado espectro harmnico de corrente), ser tambm necessria
a presena de amplificador de ganho programvel, sendo este controlado pelo DSP. Com a presena
de um segundo ADC para adquirir amostras de corrente, os ADCs podem ser ligados em cadeia.
Nesta situao em que os sinais de controlo e de relgio so idnticos para ambos, as duas sadas
SDO dos ADC esto ligadas entre si a um nico pino do DSP. O nmero de bits enviados passa a ser
32, em vez dos anteriores 16.
Para alm do estudo da corrente podem-se aproveitar estas amostras para, juntamente com as
amostras de tenso, calcular a potncia activa consumida. Caso se pretenda informao mais variada
tal como potncia reactiva, potncia aparente, factor de potncia, corrente RMS, tenso RMS e
93
contagem de energia, pode-se recorrer a um circuito integrado de contagem que oferece estas
funcionalidades (por exemplo, o integrado CS5463 da Cirrus Logic) [61].
Os resultados da deteco e classificao de perturbaes, isto , o tipo de perturbao, a
amplitude, a durao, o instante da sua ocorrncia podem ser guardados num carto de memria.
Tendo esta capacidade de armazenamento acrescida possvel ainda guardar os pontos que
caracterizam a forma de onda no momento em que ocorre a perturbao. Para alm de ser
armazenada informao num carto de memria, a informao pode ser transmitida para um PC
exterior ao sistema via USB. Neste trabalho apenas se teve em conta a comunicao via RS-232,
mas facilmente se implementa comunicao via USB, atravs do integrado UART to USB FTDI232R,
que permite maior velocidade na transferncia de dados.
No caso da rede de energia trifsica, para alm do aumento significativo de componentes, seria
possvel a deteco de perturbaes que apenas ocorrem em redes trifsicas, por exemplo, voltage
unbalance.
Para finalizar, seria tambm interessante realizar um sistema remoto para envio de dados
atravs de um router, usando um mdulo GSM/GPRS para comunicar com o respectivo sistema de
comando e controlo.

94

95
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Anexo A -
Desenvolvimento e

A.1 Sensor de Tenso
O circuito elctrico do sensor de tenso e interface com a rede elctrica est representado na
Figura 81. Na Figura 82 pode-se observar a vi
este circuito. Na Figura 83
Figura 81 Esquema elctrico do sensor de
Figura 82 Vista do topo da placa de circuito impresso
Conector de alimentaes +15 V, -15 V e GND
Conector BNC
I
-
Desenvolvimento em Hardware
enso e Interface com a Rede Elctrica
se observar a vista de topo da placa de circuito impresso realizada com
83 e na Figura 84 esto as vistas da base e de lado.
Esquema elctrico do sensor de tenso, resistncias e conectores

laca de circuito impresso com o circuito da Figura 81 (A Conector com fase e neutro
V e GND; C Sensor de tenso LEM LV25-P; D Resistncia R0; E
Conector BNC (para interface com o circuito de condicionamento de sinal).
m Hardware
lctrica
impresso realizada com
esto as vistas da base e de lado.

e conectores.
Conector com fase e neutro; B
Resistncia R0; E Resistncia RM; F
para interface com o circuito de condicionamento de sinal).
II

Figura 83 Vista da base da placa de circuito impresso com o circuito da Figura 81.

Figura 84 Vistas laterais da placa de circuito impresso com o circuito da Figura 81.

A.2 Condicionamento e
Na Figura 85 est representado o esquema elctrico d
do ADC.
Figura 85 Circuito condicionador de sinal e aquisio do mesmo pelo ADC
O regulador ADR366 (Figura
para a entrada REF do ADC. O valor de tenso nesta entrada define o valor mximo que poder estar
colocado na entrada IN+ do ADC. Este alimentado pela fonte de alimentao
3,3 V e 2,5 V.

III
Condicionamento e Aquisio de Sinal, SDRAM e RTC
est representado o esquema elctrico do circuito de condicionamento de sinal e
Circuito condicionador de sinal e aquisio do mesmo pelo ADC
Figura 86) proporciona uma tenso regulada (de alta preciso) de 3,3
colocado na entrada IN+ do ADC. Este alimentado pela fonte de alimentao
Figura 86 Regulador de tenso ADR366.

, SDRAM e RTC
o circuito de condicionamento de sinal e

Circuito condicionador de sinal e aquisio do mesmo pelo ADC.
) proporciona uma tenso regulada (de alta preciso) de 3,3 V
colocado na entrada IN+ do ADC. Este alimentado pela fonte de alimentao com as tenses de

O integrado M41T81S -
alimentao (3,3 V) mas, no caso de falha de energia, recorre a uma pilha
em funcionamento, tal como se pode observar pela
Figura
O circuito elctrico da memria externa
memria tem 128 Mbit de capacidade de armazenamento, alimentada a 3,3
processamento 166 MHz.
Figura
A placa de circuito impresso que contm todos estes componentes pode ser observada na
Figura 89 e os footprints das faces de topo e de base
respectivamente apresentados na
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
GND
GND
GND
GND
GND
GND
/MS2
+3.3V
R23
10k
IV
- relgio em tempo real - alimentado tambm
V) mas, no caso de falha de energia, recorre a uma pilha (3 V) para manter o relgio
, tal como se pode observar pela Figura 87.
Figura 87 Circuito elctrico do integrado M41T81S.
O circuito elctrico da memria externa MT48LC4M32B2P apresentado na
Mbit de capacidade de armazenamento, alimentada a 3,3
Figura 88 Esquema elctrico da memria SDRAM.
o impresso que contm todos estes componentes pode ser observada na
das faces de topo e de base, desenhados no software
na Figura 90 e na Figura 91.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43 44
45
46
47
48
49
50
51
52
53
54
55
56
57
58
59
60
61
62
63
64
65
66
67
68
69
70
71
72
73
74
75
76
77
78
79
80
81
82
83
84
85
86
VDD VSS
DQ0 DQ15
VDDQ VSSQ
DQ1 DQ14
DQ2 DQ13
VSSQ VDDQ
DQ3 DQ12
DQ4 DQ11
VDDQ VSSQ
DQ5 DQ10
DQ6 DQ9
VSSQ VDDQ
DQ7 DQ8
NC NC
VDD VSS
DQM0 DQM1
WE# NC
CAS# NC
RAS# CLK
CS# CKE
A11 A9
BA0 A8
BA1 A7
A10 A6
A0 A5
A1 A4
A2 A3
DQM2 DQM3
VDD VSS
NC NC
DQ16 DQ31
VSSQ VDDQ
DQ17 DQ30
DQ18 DQ29
VDDQ VSSQ
DQ19 DQ28
DQ20 DQ27
VSSQ VDDQ
DQ21 DQ26
DQ22 DQ25
VDDQ VSSQ
DQ23 DQ24
VDD VSS
MT48LC4M32B2
1 MByte x 32 x 4 banks
+3.3V
+3.3V
+3.3V
+3.3V
GND
GND
GND
GND
GND
GND
GND
GND
DATA0
DATA1
DATA2
DATA3
DATA4
DATA5
DATA6
DATA7
DATA16
DATA17
DATA18
DATA19
DATA20
DATA21
DATA22
DATA23 DATA24
DATA25
DATA26
DATA27
DATA28
DATA29
DATA30
DATA31
DATA15
DATA14
DATA13
DATA12
DATA11
DATA10
DATA9
DATA8
ADDR1
ADDR2
ADDR3 ADDR4
ADDR5
ADDR6
ADDR7
ADDR8
ADDR9
ADDR10
GND
GND
SDA10
ADDR12
ADDR17
ADDR18
SDCLK
SDCKE
/SDWE
/SDCAS
/SDRAS
EXTERNAL MEMORY
alimentado tambm pela fonte de
para manter o relgio

ado na Figura 88. A
V e a velocidade de

o impresso que contm todos estes componentes pode ser observada na
software Altium
2009, esto
V

Figura 89 Vista do topo da PCB com: A memria SDRAM, B ADC, C RTC, D Ampop, E Conectores de tenso
contnua (alimentao), F Suporte para pilha e G Entrada BNC do sinal proveniente da sada do sensor de tenso.

Figura 90 Footprint da placa de circuito impresso da Figura 89 (vista do topo).
Nas duas camadas existem mais de 4 dezenas de componentes e estas esto interligadas por
mais de 100 vias. A largura das pistas varia de 0,13 mm a 1 mm e a o dimetro dos furos varia de
0,4 mm a 1 mm.

Figura 91 - Footprint da placa de circuito impresso da Figura 89 (vista de base).
VI

VII
A.3 Fonte de Alimentao Redundante
A fonte de alimentao dimensionada e implementada nesta dissertao constituda por
diversos componentes os quais se apresentam neste anexo.
O integrado bq24070 responsvel pelo carregamento da bateria e pela gesto do caminho
da energia (power-path). alimentado a 5 V e 2,4 A (valor mximo) e a sada vista em VSYS. Este
esquema elctrico tem presentes LEDs de presena, indicadores dos vrios estados em que o
integrado se pode encontrar (Figura 92).

Figura 92 Fonte de alimentao redundante: o integrado bq24070 e respectivas ligaes elctricas
Os LEDs 1 e 2 esto presentes para indicar o estado de carga da bateria, tal como se pode
observar pela Tabela 12. O LED identificado como LED3 indica se est presente tenso na entrada.
Se esse valor superior ao valor de tenso da bateria e se o integrado sair do estado sleep mode, o
LED acende.
Tabela 12 Estado de carregamento da bateria indicado pelos LEDs de estado.
LED1 LED2 Descrio
ON ON Carregamento em curso
ON OFF Carregamento rpido.
OFF ON Carregamento completo.
OFF OFF Carregamento suspenso; Sleep Mode;

VIII
O integrado MAX1703, da MAXIM
, um conversor DC-DC baseado na topologia boost com

com PWM a 300 kHz (Figura 93). Este elemento gera uma tenso constante (aproximadamente 5 V)
a partir do valor de sada VSYS do bq24070. Quando a entrada CLK/SEL est high (no caso deste
trabalho est sempre), seleccionado o modo high-power, low-noise PWM. Isto quer dizer que,
durante a operao de PWM, o MAX1703 comuta frequncia constante de 300 kHz, modulando a
largura de impulso que controla a energia transferida por ciclo e regula a tenso de sada para a
carga. Neste modo a corrente mxima de sada 1,5 A.

Figura 93 Fonte de alimentao redundante: integrado MAX1703 e respectivas ligaes elctricas.
O TPS60401 (Figura 94) um inversor DC-DC charge-pump que coloca sada uma tenso
negativa quando sua entrada tem uma tenso compreendida entre os 1,5 V e os 5,5 V. A sada ter
ento -5 V e servir para alimentar o AMPOP, fornecendo 60 mA (mx.). Os condensadores usados
so cermicos e de baixo valor ESR (Equivalent Series Resistance) para minimizar a impedncia de
sada (C24 e C26), C24 diminui o ripple sada do inversor e C25 corta componentes AC.

Figura 94 Fonte de alimentao redundante: integrado TPS60401 e respectivas ligaes elctricas.

O integrado MAX743, da
outra positiva, para alimentar o sensor de tenso
provocado pelas transies de estado nos MOSFET no interior do integrado (em LX+ e LX
colocado um filtro em cada sada.
Figura 95 Fonte de alimentao redundante: integrado MAX743 e respectivas ligaes elctricas
Foram tambm utilizados dois reguladores de tenso para alimentar o ADC (
geram tenses de 2,5 V e 3,3 V.
Na Figura 98 e na Figura 99 apresentam
Figura 96 Fonte de alimentao redundante:
Figura 97
IX
da MAXIM
, (Figura 95) gera duas tenses de sada, uma negativa e

outra positiva, para alimentar o sensor de tenso LEM
LV 25-P. Para anular ou diminuir

as transies de estado nos MOSFET no interior do integrado (em LX+ e LX
em cada sada.
Fonte de alimentao redundante: integrado MAX743 e respectivas ligaes elctricas
Foram tambm utilizados dois reguladores de tenso para alimentar o ADC (
Na Figura 97 apresentam-se LEDs de estado e conectores de sada.
apresentam-se fotografias da fonte de alimentao d
Fonte de alimentao redundante: integrados ADP1715 e respectivas ligaes elctricas
Fonte de alimentao redundante: LEDs e conectores.
) gera duas tenses de sada, uma negativa e
Para anular ou diminuir o rudo
as transies de estado nos MOSFET no interior do integrado (em LX+ e LX-), foi

Fonte de alimentao redundante: integrado MAX743 e respectivas ligaes elctricas.
Foram tambm utilizados dois reguladores de tenso para alimentar o ADC (Figura 96). Estes
se LEDs de estado e conectores de sada.
se fotografias da fonte de alimentao dimensionada.

e respectivas ligaes elctricas.

X

Figura 98 Vista da base da fonte de alimentao (A Circuito integrado BQ24070, outros elementos e ligaes da Figura 92;
B Circuito integrado MAX1703, outros elementos e ligaes da Figura 93; C - Circuito integrado MAX743, outros elementos e
ligaes da Figura 95; D, F Circuito Integrado ADP1715, outros elementos e ligaes da Figura 96; E TPS60401 e ligaes
da Figura 94; G Resistncias e LEDS (Figura 97)).

Figura 99 Vista do topo da fonte de alimentao redundante (A Pilha de Ies-Ltio; B - Conector para adaptador AC/DC; C e
D Sadas de tenso contnua).

XI
Anexo B -
Sine-Fitting Multiharmnico

O clculo da amplitude das harmnicas efectuado recorrendo a um algoritmo no iterativo de
adaptao de sinusides multi-harmnico (Non Iterative Multiharmonic Sine-Fitting). Do algoritmo de
4 parmetros modificado executado na fase de deteco de perturbaes (seco 4.4.2) obtm-se as
componentes em fase e quadratura da harmnica fundamental do sinal (A
1
e B
1
) e calculam-se
posteriormente os resduos. Os resduos contm, tal como j foi referido, eventuais perturbaes que
possam ocorrer mas, tambm, as restantes componentes harmnicas do sinal adquirido.
Com este algoritmo multi-harmnico pretende-se calcular as componentes das restantes
harmnicas, isto , as componentes em amplitude da 2 at 30 harmnica. Cada harmnica
representada por uma matriz de 2 colunas (uma de cosenos e outra de senos) e N linhas, sendo que
N o nmero de amostras a serem analisadas. Consequentemente, a matriz com todas as H = 29
harmnicas a serem caracterizadas ter 29 x 2 = 58 colunas e N linhas. A matriz D, que representa
esta situao,

1 1 1 1 1 1
2 2 2 2 2 2

cos(2 ) sin(2 ) cos(3 ) sin(3 ) cos( ) sin(
i i i i i i
i i i i i i
i N i N i N i N i N
t t t t H t H t
t t t t H t H t
t t t t H t H

= D
Nx2H
.
)
i N
t
(
(
(
(
(
(
(

(80)
O facto da matriz D ter 2H colunas leva a que a matriz D
T
D tenha (2H)
2
elementos. Para H = 29
harmnicas perfaz 3364 clulas a serem preenchidas (somatrios), durante N iteraes. O determinar
de cada um dos 3364 valores, para alm de ser complexo, um processo moroso.
A ttulo exemplificativo, apresentado o algoritmo desenvolvido para o preenchimento da
matriz D
T
D. Neste exemplo, pretende-se determinar as componentes de H = 3 harmnicas. A matriz
D
T
D ter 2 x 3 = 6 colunas, o mesmo nmero de linhas e as componentes que se pretendem obter
so A
2
, B
2,
A
3
, B
3,
A
4
e B
4
, dadas por

2
2
3
3
4
4
A
B
A
B
A
B
(
(
(
(
=
(
(
(
(
(

x (81)
XII
em que

( )
1
( )
=
T T
x D D D (82)
e

6x6
11 12 13 14 15 16
21 22 23 24 25 26
31 32 33 34 35 36
41 42 43 44 45 46
51 52 53 54 55 56
61 62 63 64 65 66
E E E E E E
E E E E E E
E E E E E E
E E E E E E
E E E E E E
E E E E E E
(
(
(
(
=
(
(
(
(
(

T
D D . (83)
A matriz D
T
D preenchida segundo o critrio observado na Figura 100: cada elemento de cada
linha preenchido sempre a partir do elemento na diagonal (posio de referncia). No final da ltima
coluna muda-se de linha e preenchem-se as clulas seguintes. O processo decorre at ser
preenchida a ltima posio da diagonal. Desta forma, so apenas calculadas metade das clulas da
matriz uma vez que os outros elementos so cpias desses valores (Figura 101).

Figura 100 Modo de preenchimento da matriz D
T
D.

Figura 101 Cpia dos valores calculados para a outra metade da matriz D
T
D.
Cada uma das clulas da matriz identificada por um ndice, tal como se observa pela Figura
102 (a). Uma vez que o preenchimento da matriz inicia sempre pela posio na diagonal, ento
convm determinar, em primeiro lugar, esse ndice. Os ndices das clulas de referncia (clulas na
diagonal) so obtidos pela soma do nmero de linha dessa clula com o ndice da clula localizada
na primeira coluna dessa linha (Figura 102 (b)). Por exemplo, o terceiro elemento da diagonal tem o
ndice dado por 4H + 2, em que 4H o ndice da clula localizada na 3 linha e 1 coluna, H = 3 o
nmero total de harmnicas a determinar e 2 o nmero da linha onde se encontra a clula na
diagonal (partindo do princpio que a primeira linha identificada por 0). O ndice tem ento valor 14.
XIII

(a) (b) (c) (d)
Figura 102 Organizao dos ndices da matriz D
T
D.
Conhecendo os ndices das posies de referncia, resta ento implementar um mtodo
eficiente que preencha metade da matriz D
T
D. Sabe-se que os elementos de referncia cujo ndice
seja par (Figura 102 (c)), o seu contedo

2
1
cos ( )
N
n
n
h t
=

(84)
e os elementos cujo nmero identificativo seja mpar (Figura 102 (d)), o seu contedo

2
1
sin ( )
N
n
n
h t
=

(85)
em que h o valor da harmnica a calcular. Para este exemplo em que apenas se pretendem
calcular 3 harmnicas (2, 3 e 4), nas posies 0 e 7 da matriz h = 2, nas posies 14 e 21 h = 3 e
nas posies 28 e 35 h = 4, ou seja, o valor de h incrementado de duas em duas colunas para as
posies na diagonal. Na Figura 103 (b) pode-se observar que estas posies so identificadas com
Ch ou Sh consoante o valor de h e se um produto de Cosenos ou de Senos.

(a) (b) (c)
Figura 103 Contedo das clulas da matriz D
T
D seguintes s posies na diagonal.
O contedo das clulas seguintes a cada clula de referncia dado tambm por um
somatrio mas de um produto de um seno por um coseno ou vice-versa. A clula imediatamente a
seguir a uma posio de referncia poder ter o valor

1
cos( ) sin( )
N
REF n REF n
n
h t h t
=

(86)
ou

1
sin( ) cos(( 1) )
N
REF n REF n
n
h t h t
=
+
(87)
XIV
consoante o ndice da posio de referncia seja par ou mpar. Esta situao est ilustrada na Figura
103 (c): nas clulas a cor-de-laranja est representado o caso de (86) e nas clulas a azul o caso de
(87). Neste ltimo caso, o segundo membro do produto tem sempre h
REF
+ 1.
O restante preenchimento das posies que sobram da matriz depende, tambm, se o ndice
da posio de referncia de uma linha par ou mpar. Se o ndice for par, o contedo das clulas
poder ser dado por

1
cos( ) cos(( ) )
N
REF n REF n
n
h t h i t
=
+
(88)
ou por

1
cos( ) sin(( ) )
N
REF n REF n
n
h t h i t
=
+
(89)
em que i o valor incrementado ao valor de h
REF
que permite avanar nas colunas. Por exemplo, nas
colunas 2 e 3 i tem valor 1 e nas colunas 4 e 5 i tem valor 2, ou seja, i incrementado de 2 em 2
colunas. Quando o i incrementado, sabe-se que o segundo membro do produto da equao um
coseno, ou seja, o contedo da clula dado por (88). Este o caso das colunas 2 e 4 (Figura
104 (b)), pois o i apenas incrementado quando se avana da coluna 1 para a 2 e da coluna 3 para a
4. A equao (89) aplicada quando o i no incrementado, como o caso das colunas 3 e 5, como
se verifica pela Figura 104 (c).

(a) (b) (c)
Figura 104 Contedo das posies da matriz nas linhas pares.
Caso contrrio, isto , se o ndice for mpar, o contedo das clulas poder ser dado por

1
0
cos( ) sin(( ) )
N
REF n REF n
n
h t h i t
=
+
(90)
que o caso das colunas 3 e 5 ou por

1
0
sin( ) cos(( ) )
N
REF n REF n
n
h t h i t
=
+
, (91)
caso da coluna 4. A Figura 105 ilustra estas duas situaes.
XV

(a) (b) (c)
Figura 105 Contedo das posies da matriz nas linhas mpares.
Desta forma, so preenchidos metade dos campos da matriz D
T
D sendo que a outra metade
obtida por cpia directa. Prosseguindo com a resoluo de (81) obtm-se, finalmente, os parmetros
A
2
, B
2
, A
3
, B
3
, A
4
e B
4
.
1 1
2 2
0 0
1 1
0 0
1 1
0 0
cos(2 ) sin(2 )
cos(2 ) sin(2 ) sin(2 ) cos(3 )
cos(2 ) cos(3 ) sin(2 ) sin(3 )
cos(
N N
11 i n 22 i n
n n
N N
12 21 i n i n 23 32 i n i n
n n
N N
13 31 i n i n 24 42 i n i n
n n
14 41
E = t E = t
E = E = t t E = E t t
E = E = t t E = E = t t
E = E =

= =

= =

= =
=

1 1
0 0
1 1
0 0
1
0
1
2
0
2 ) sin(3 ) sin(2 ) cos(4 )
cos(2 ) cos(4 ) sin(2 ) sin(4 )
cos(2 ) sin(4 )
cos(3 ) si
N N
i n i n 25 52 i n i n
n n
N N
15 51 i n i n 26 62 i n i n
n n
N
16 61 i n i n
n
N
33 i n 45 54
n
t t E = E = t t
E = E = t t E = E = t t
E = E = t t
E = t E = E =

= =

= =
1
0
1 1
0 0
1 1
2
0 0
1
0
n(3 ) cos(4 )
cos(3 ) sin(3 ) sin(3 ) sin(4 )
cos(3 ) cos(4 ) cos(4 )
cos(3 ) sin(4 )
N
i n i n
n
N N
34 43 i n i n 46 64 i n i n
n n
N N
35 53 i n i n 55 i n
n n
N
36 63 i n i n 56 65
n
t t
E = E = t t E = E = t t
E = E = t t E = t
E = E = t t E = E =

=

= =

= =
1
0
1 1
2 2
0 0
cos(4 ) sin(4 )
sin(3 ) sin(4 )
N
i n i n
n
N N
44 i n 66 i n
n n
t t
E = t E = t

=

= =

XVI

XVII
Anexo C -
Lista de Material

Tabela 13 Componentes do circuito com o sensor de tenso (Anexo A.1).
Componente Valor Descrio Qtd. Preo Unit. Preo
Sensor - LEM - LV 25-P - VOLTAGE TRANSDUCER, PCB 1 69,03 69,03
Resistncia
47 k TYCO ELECTRONICS / CGS - SQMR747KJ - RESISTOR, 7W 47K 1 0,69 0,69
95,3
TYCO ELECTRONICS / NEOHM - YR1B95R3CC - RESISTOR, 0.1%
95R3
1 0,33 0,33
Conector - AMDEN - CTB04VZ/3 - TERMINAL BLOCK, 32A, 9.52MM, 3WAY 1 1,67 1,67
TOTAL 4 - 71,72

Tabela 14 Componentes do circuito com ADC, AMPOP, SDRAM e RTC (Anexo A.2).
Circ. Integrado
-
ANALOG DEVICES - AD7980ARMZ - 16BIT ADC, 1MSPS, 2.5LSB,
10MSOP
1 28,780 28,780
-
ANALOG DEVICES - OP284FSZ - OP AMP, DUAL PRECISION
RRI/O, 284
1 7,320 7,320
-
ANALOG DEVICES - ADR366AUJZ-REEL7 - IC, SM, VOLT REF,
SINK/SOURCE
1 1,670 1,670
-
MICRON - MT48LC4M32B2P-6:G - SDRAM 128MB, SMD, 48LC4,
TSOP86
1 18,650 18,650
-
STMICROELECTRONICS - M41T81SM6E - SERIAL RTC I2C, SMD,
SO-8-8
1 1,650 1,650
Condensador
100 nF MULTICOMP - MCCA000295 - MLCC, 0805, X7R, 25V, 100NF 8 0,011 0,088
10 uF MULTICOMP - MCCA000268 - MLCC, 0805, Y5V, 6.3V, 10UF 10 0,039 0,390
2,2 uF KEMET - C0805C225Z4VACTU - CAPACITOR, 0805, 2.2UF, 16V 1 0,122 0,122
10 nF MULTICOMP - MCCA000369 - MLCC, 0805, Y5V, 50V, 10NF 5 0,011 0,055
Resistncia
10 k
VISHAY DRALORIC - CRCW120610K0FKEA - RESISTOR, 10KR ,
1%, 0.25W
3 0,026 0,078
20 k
VISHAY DRALORIC - CRCW120620K0FKEA - RESISTOR, 1206,
20KR , 1%
2 0,026 0,052
1,1 k MULTICOMP - MC 0.125W 1206 1% 1K1 - RESISTOR, 1206 1K1 1 0,019 0,019
0
VISHAY DRALORIC - CRCW12060000Z0EA - RESISTOR, 1206, 0R,
1%,0.25W
6 0,026 0,156
2 k MULTICOMP - MC 0.125W 1206 1% 3K - RESISTOR, 1206 3K 3 0,042 0,126
Oscilador -
ABRACON - ABS25-32.768KHZ-T - CRYSTAL, 32.768K, 12.5PF CL
8X2.5 SMD
1 0,630 0,630
Pilha - PANASONIC - BR1225-BN - BATTERY, LITHIUM, BR1225 48MAH 1 1,380 1,380
Suporte - KEYSTONE - 500 - HOLDER, BATTERY, 1 CELL, 12MM 1 1,620 1,620
TOTAL 44 - 62,79

XVIII
Tabela 15 Componentes da fonte de alimentao (Anexo A.3)
Circ. Integrado
-
TEXAS INSTRUMENTS - BQ24070RHLTG4 - CHARGER, LI-LON,
4.4V, SMD, QFN-20
1 3,950 3,950
-
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS - MAX1703ESE+ - DC/DC
CONVERTER, 5V/ADJ, SMD, 1703
1 11,330 11,330
-
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS - MAX743CWE+ - SWITCHING
REG, SMD, SOIC16, 743
1 12,430 12,430
-
ANALOG DEVICES - ADP1715ARMZ-3.3 - V REG, LDO 0.5A 3.3V,
SMD, MSOP8
1
2,430
2,430
-
ANALOG DEVICES - ADP1715ARMZ-2.5-R7 - Linear Voltage
Regulator IC
1
2,420
2,420
-
TEXAS INSTRUMENTS - TPS60401DBVT - CHARGE PUMP
INVERTER, SMD, 60401 1
0,570 0,570
Resistncia
0
VISHAY DRALORIC - CRCW12060000Z0EA - RESISTOR, 1206, 0R,
1%,0.25W
3 0,026 0,078
15 MULTICOMP - MC 0.125W 1206 1% 15R. - RESISTOR, 1206 15R 1 0,005 0,005
56
MULTICOMP - MC 0.125W 1206 5% 56R - RESISTOR, 1206 56R
1 0,006 0,006
150 MULTICOMP - MC 0.125W 1206 5% 150R - RESISTOR, 1206 150R 5 0,036 0,180
100 k
VISHAY DRALORIC - CRCW1206100KFKEA - RESISTOR, 1206,
100KR, 1%
3 0,026 0,078
10 k
VISHAY DRALORIC - CRCW120610K0FKEA - RESISTOR, 10KR ,
1%, 0.25W
2 0,026 0,052
20 k
20KR , 1%
1 0,026 0,026
1 k
1KR, 1%
1 0,026 0,026
Condensador
100 nF MULTICOMP - MCCA000295 - MLCC, 0805, X7R, 25V, 100NF 4 0,011 0,044
10 uF MULTICOMP - MCCA000268 - MLCC, 0805, Y5V, 6.3V, 10UF 5 0,039 0,195
47 uF KEMET - C0805C476M9PACTU - CAPACITOR, 47UF 6.3V X5R 0805 1 3,180 3,180
100 uF
KEMET - T491C107K016ZT - CAPACITOR, C CASE, 100UF, 16V
1 0,610 0,610
0,22 uF
MULTICOMP - MCCA000302 - MLCC, 0805, Y5V, 25V, 220NF
2 0,017 0,034
330 uF KEMET - T491X337K010AT - CAPACITOR, CASE X, 330UF, 10V 1 3,060 3,060
100 uF
PANASONIC - EEEFP1H101AP - CAPACITOR, ELECTROLYTIC,
50V, 100UF
2 0,810 1,620
2,2 uF
KEMET - T491A225K010AT - CAPACITOR, CASE A, 2.2UF, 10V
2 0,143 0,286
10 uF KEMET - T491C106K016AT - CAPACITOR, CASE C, 10UF, 16V 1 0,310 0,310
10 nF MULTICOMP - MCCA000369 - MLCC, 0805, Y5V, 50V, 10NF 4 0,011 0,044
1 uF MULTICOMP - MCCA000549 - MLCC, 0805, Y5V, 25V, 1UF 1 0,020 0,020
100 uF
TAIYO YUDEN - JMK325F107ZM-T - CAPACITOR, CERAMIC
MULTILAYER 100 uF
1 1,130 1,130
2,2 uF KEMET - C0805C225Z4VACTU - CAPACITOR, 0805, 2.2UF, 16V 4 0,122 0,488
Bobina
4,7 uH WUERTH ELEKTRONIK - 7447797470 - CHOKE, 1045 SIZE, 4.7UH 1 3,160 3,160
100 uH
BI TECHNOLOGIES/TT ELECTRONICS - HM7630101LFJTR -
INDUCTOR, 100UH
2 4,180 8,360
25 uH
EPCOS - B82133A5152M - INDUCTOR, AXIAL, 25UH
2 1,370 2,740
Dodo Shottky - VISHAY - SSA33L - DIODE, SCHOTTKY, 3A, 30V 3 0,490 1,470
LED - PANASONIC - LN1461CTR - LED, SMT, TOP FIRE, AMBER 7 0,340 2,380
Socket - LUMBERG - 1613 18 - SOCKET, DC, 6.3MM X 2MM 1 1,010 1,010
Potencimetro - BOURNS - 3362P-1-203LF - TRIMMER, 20K 1 1,160 1,160
TOTAL 69 - 64,88

Tabela 16 Soma dos totais das tabelas de componentes.
Circuito Preo
Sensor de Tenso 71,72
Fonte de Alimentao 64,88
AMPOP+ADC+SDRAM 62,79
SOMA 199,39

Dissertacao - Pedro Xavier - Analisador de Qualidade de Energia Baseado em DSP v2.0

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Analisador da Qualidade de Energia Baseado em

LV 25-P (fonte[40]). ............................................................................... 28

. Este DSP est inserido num kit de desenvolvimento

; sinais gerados por um gerador de cavas e

e o PQ1 Power Quality

(Figura 9a) funciona

, presente no kit de desenvolvimento onde tambm se encontra o

[43], e um conversor unipolar

[45]. Este RTC capaz de contar dezenas de milissegundos, segundos,

para receber os dados enviados pelo ADSP-21369 e guard-los em

[49]. O integrado responsvel por carregar uma bateria

possui uma interface de expanso que permite o acesso aos

(5.1), resistncia R0 (5.4), conector de alimentao (5.5)

para um sistema de 32-bit [57], quando TH < 10

dentro da vizinhana s. O mtodo

|, explcita na Figura 47, verifica-se que o sinal

, ambos determinados pelo algoritmo de 4 parmetros modificado (seco 4.4.2).

9100. Este gera

de maneira a que se pudessem

, um conversor DC-DC baseado na topologia boost com

, (Figura 95) gera duas tenses de sada, uma negativa e

LV 25-P. Para anular ou diminuir

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