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PTICA FSICA

INTERFEROMETRA
Por: ADGCH Centro de Investigaciones en ptica, CIO Len, Gto.

CONTENIDO
1. CONDICIONES PARA LA INTERFERENCIA 2. INTERFERENCIA POR DIVISION DE FRENTE DE ONDA 2.1 EXPERIMENTO DE YOUNG 2.2 SISTEMAS DE LLOYD, FRESNEL Y BILLET 2.3 INTERFEROMETRO ESTELAR DE MICHELSON 2.3.1 CONCEPTO DE RESOLUCION 3. 3 INTERFERENCIA POR DIVISION DE AMPLITUD 3.1 FRANJAS DE IGUAL GROSOR E IGUAL INCLINACION 3.2 INTERFEROMETRO DE MICHELSON 3.3 3 3 INTERFEROMETROS DE FIZEAU TWYMAN-GREEN Y MACH ZEHNDER FIZEAU, TWYMAN GREEN MACH-ZEHNDER 4. INTERFERENCIA DE HACES MULTIPLES 4.1 4 1 INTERFERENCIA MULTIPLE EN UNA PLACA PLANO PARALELA 4.2 INTERFEROMETRO FABRY-PEROT 4.3 FILTROS DE CAPAS DELGADAS DE INTERFERENCIA 4.4 MTODO MATRICIAL PARA PELCULAS DELGADAS

1. CONDICIONES PARA LA INTERFEROMETRA


Interferencia: es la superposicin de dos ondas ondulatorias, resultando un patrn de intensidad con mximos y mnimos, al cual se le denomina patrn de interferencia. Mximos (interferencia constructiva): cuando las ondas estn en fase fase. Mnimos (interferencia destructiva): cuando las ondas estn desfasadas. En el fenmeno de interferencia es necesario tomar en c enta el carcter vectorial de cuenta ectorial las ondas, lo que implica que la polarizacin de los haces que interfieren sea igual y paralela entre ellos, y que la diferencia de fase entre las ondas que se superponen sea constante. Hablar de franjas de interferencia no se refiere a un solo punto en el espacio, sino a un plano donde se superponen las ondas, lo que permite definir la forma del patrn de interferencia. Si los dos rayos se originan de la misma fuente, las fluctuaciones en los dos rayos estn en general correlacionadas, se dice que los rayos son parcialmente o totalmente coherentes. Si los dos rayos se originan de fuentes diferentes, las fluctuaciones estn completamente descorrelacionadas, se dice que los rayos son parcialmente incoherentes El grado de correlacin que existe entre las fluctuaciones de dos rayos de luz determina la distincin de los efectos de interferencia cuando los rayos se superponen.

= 0, 2, 4, .
E1 E= + E2

Constructiva

I max

E1,2 r 1,2 ,t = E 0 1,2 cos k1 r - t + 1,2

E = E1 + E 2 + 2 E1 E 2
= , 3, 5, .
Destructiva

I min

I= I1 + I 2 + 2 I1I 2 cos I1,2 = E1,2 Trmino de interferencia: I12 = 2 I1I 2 cos


2

Patrn de interferencia

Cuando I1 =I 2 I= 2I1 (1 + cos ) = 4I1cos 2 2


Interferencia de dos rayos de igual intensidad; variacin de intensidad contra diferencia de fase.

Z
El trmino de interferencia puede escribirse de la sig. manera:

E1

X
K1
1
2

I12 = E1 E 2 cos = E1E 2 cos ( ) cos


= 2 -1 polarizacin d llos vectores l i i de t

k2

ngulo entre los planos de

E2

Representacin esquemtica de la superposicin de dos ondas linealmente polarizadas I1, I2 con ngulos de o das ea e te po a adas co gu os polarizacin 1 y 2 .

I1 y I 2 .

Las leyes de Fresnel Arago son las siguientes: Fresnel-Arago 1. Dos estados coherentes ortogonales no pueden interferir en el sentido de que I12 = 0 y como la intensidad resultante es igual a la suma de las intensidades de las ondas que se superponen, no habr interferencia entre ellas.

= 2 1 = 900 I12 = E1 E2 cos 900 cos = 0

2.

Dos estados coherentes y paralelos interfieren en la misma forma que la luz natural.

= 2 1 = 00

En ste caso el trmino de interferencia se calcula considerando solamente la diferencia de caminos pticos (diferencia de fase por consecuencia) entre las ondas que se superponen y la diferencia de fase inicial inicial.

I= I1 + I 2 + 2 I1I 2 cos
3. Dos estados ortogonales constitutivos de la luz natural no pueden interferir para formar un patrn fcilmente observable aunque se giran para alinearlos Es alinearlos. comprensible ya que estos estados son incoherentes. En este caso solo las componentes paralelas de cada onda interfieren. Este es e so o as co po e es pa a e as o da e ee se efecto alterar el contraste de las franjas resultantes debido a que la componente de la onda que no interfiere solo contribuir con una iluminacin de fondo que se superpone al patrn de interferencia.

900 00

0 I12 I1I 2 cos

2. INTERFERENCIA POR DIVISIN DE FRENTE DE ONDA


Se usan porciones del frente de onda primario, bien sea directamente como fuentes para emitir ondas secundarias o conjuntamente con sistemas pticos para producir fuentes virtuales de ondas secundarias Se hace que stas ondas secundarias se secundarias. encuentren para interferir.

2.1 2 1 EXPERIMENTO DE YOUNG

La luz de una fuente puntual monocromtica S pasa por dos pequeos agujeros S1 y S2 los cuales estn muy cercanos en una pantalla y equidistantes de S. Dichos agujeros actan como fuentes puntuales secundarias las cuales se encuentran en fase y los rayos de stas se superponen ms all de la regin donde se forma un patrn de interferencia.

2.1 EXPERIMENTO DE YOUNG

Si se toma en cuenta el mximo en O como la franja 0, la posicin angular y la posicin vertical d l m-sima f j b ill t sobre l pantalla son: ti l de la i franja brillante b la t ll

m =

m a

ym =

s m a
a

La diferencia en la posiciones de dos mximos consecutivos es: y = s

ya DCO DCO=r1 - r2 = diferencia de camino ptico s 2 ya = kDCO = s ya I=4I0 cos 2 s

2.2 SISTEMAS DE LLOYD, FRESNEL Y BILLET ESPEJO DE LLOYD


La luz de una fuente monocromtica S1 se refleja en una superficie dielctrica o metal M que sirve como espejo con un ngulo pequeo y parece proceder de una fuente virtual S2. La luz reflejada interfiere con la luz directa de la fuente formando franjas de interferencia.
min

max

min

a s
El espacio entre las franjas est de nuevo dado p p j por:

y =

s a

A incidencia rasante ( i / 2) el haz reflejado sufre un cambio de fase de 1800, por lo que existe un cambio de fase adicional de , por lo que la irradiancia queda:

ay I= 4I0sen s
2

2.2 SISTEMAS DE LLOYD, FRESNEL Y BILLET ESPEJOS DE FRESNEL


La luz de una fuente puntual S incide sobre dos espejos planos M1 y M2 mutuamente inclinados un pequeo ngulo, y la reflexin de los espejos da lugar a dos imgenes virtuales S1, S2 de S las cuales actan como fuentes coherentes. El campo de interferencia existe en el espacio en la regin donde las dos ondas reflejadas se superponen una sobre la otra.

s y = a

2.2 SISTEMAS DE LLOYD, FRESNEL Y BILLET BIPRISMA DE FRESNEL


Est formado por dos prismas iguales de ngulo pequeo de refraccin puestos juntos base con base. La luz de una fuente puntual S llega a ambos prismas, la porcin que llega al prisma superior se refracta hacia abajo y viceversa. En la regin de superposicin ocurre la interferencia. De nuevo existen dos fuentes virtuales S1 y S2. La expresin para la separacin de las franjas es.

y =

s a

2.2 SISTEMAS DE LLOYD, FRESNEL Y BILLET LENTES PARTIDAS DE BILLET


Consiste de una lente convexa cortada diamtricamente en dos, las mitades estn separadas , p por una distancia corta en ngulo recto con el eje ptico. Dos imgenes reales S1 y S2 se producen de una fuente puntual S.

2.3 INTERFEROMETRO ESTELAR DE MICHELSON


Utilizado por A. A. Michelson en 1980 para medir el dimetro angular de cuerpos celestes y es una modificacin del interfermetro de Young.

Si suponemos un objetivo de telescopio, diafragmado por dos aperturas pequeas e iguales S1, S2 de reparacin d, el cual es usado para ver dos fuentes puntuales cuasi-monocromticas S y S de longitud de onda efectiva 0 , separadas por un ngulo . g p p g

Las diferencias de camino ptico de la luz que viene de S y S al punto P en el plano focal son: DCO = [SS2 P ] - [SS1P ] = [ NS2 ] + [S2 P ] - [S1P ]
DCO = [ NS2 ] + [S2 P ] - [S1P ]

Por lo tanto los patrones de Sy S estn mutuamente desplazados a travs de los ordenes m , en base al experimento de Young, donde:

m =

DCO DCO

[ NS2 ] - [ NS2 ]
0

p para n 1 y pequeo. p q
1 3 5 m = , , ,.... 2 2 2

Cuando la intensidad mxima de S coincide con la intensidad mnima de S; las franjas S l f j en el patrn combinado son por l menos di ti t y d l t bi d lo distintas desaparecen si l i las intensidades de S y S son iguales. As que las franjas muestran variaciones peridicas de distincin tanto la separacin de las aperturas se incrementa de cero. En particular existe un primer mnimo de distincin cuando:
S
1

S2

d=

0
2

Estrella

Si se observa una sola estrella muy grande se considera que las franjas de interferencia provienen de dos puntos de la estrella separados por su dimetro angular; se obtendr un mnimo de visibilidad cuando las rejillas estn separadas una distancia d que estar dada en este caso por el mnimo de la funcin de AIRY para una abertura circular la cual se escribe como:

2 =

1.22 1 22 0 d0

3. INTERFERENCIA POR DIVISION DE AMPLITUD

La onda primaria es dividida en dos segmentos, los cuales viajan por diferentes caminos antes d recombinarse e i t f i Si l dif t i t de bi interferir. las d dos ondas d producidas por divisin pueden ser reunidas de alguna manera sobre un detector, habr interferencia en tanto que la coherencia original entre las dos ondas no haya sido afectada afectada. En stos interfermetros las franjas de interferencia resultantes son proporcionales a la inclinacin entre los haces o a la diferencia del camino ptico t ti entre ellos. ll

3.1 FRANJAS DE IGUAL INCLINACIN


La diferencia de camino ptico es:

DCO = n ( AB+BC ) nAN h cos AN = AC sin = 2htan sin n sin = n sin AB = BC =


Por lo que la diferencia de fase correspondiente es:

Placa plano paralela con fuente puntual.

DCO = 2nh cos

La diferencia de correspondiente y asociada con la DCO es el producto del nmero de propagacin d l vaco y l DCO I d i del la DCO. Independiente d l polarizacin d l l i id t l d di t de la l i i de la luz incidente, los dos haces, uno reflejado interna y el otro externamente, sufrirn un cambio relativo de fase de . radianes:

= k 0 DCO

nh cos =

4 h

n2 n 2 sen 2

Los mximos y mnimos de interferencia de acuerdo a la siguiente relacin I= I1 + I 2 + 2 I1I 2 cos son:

= m0 , m=0,1,2.. mximos 2 1 3 5 2nh cos 0 = m0 , m= , , .. mnimos 2 2 2 2


Entonces una franja dada est caracterizada por un valor constante de y est formada por luz incidente en el plano a un ngulo en particular. Por esta razn las franjas son llamadas franjas de igual inclinacin. Cuando el eje del sistema ptico que las observa es normal a la placa, las franjas son crculo concntricos alrededor del punto focal para luz reflejada ==0 .(franjas de Haidinger) y por tanto la diferencia de fase estar dada por:

2nh cos

0 = 4nh

En ste caso los ordenes mayores estn en el centro del patrn de interferencia.

Franjas circulares de Haidinger sobre el eje de la lente.

3.1 FRANJAS DE IGUAL INCLINACIN: FRANJAS COMPLEMENTARIAS


La diferencia de camino ptico es:
DCO = 2 hn cos

La diferencia correspondiente es:

de

fase

=4

nh cos 0

Franjas de ig al inclinacin por transmisin igual transmisin.

La diferencia principal al analizar este caso es que no existe un cambio de fase; ya que las reflexiones ocurren en las dos superficies en condiciones similares. Las franjas son complementarias en el sentido que una franja brillante en reflexin, es oscura en transmisin transmisin.

3.1 FRANJAS DE IGUAL GROSOR


Existen una clase de franjas de interferencia para las cuales su espesor ptico, nfd es el parmetro dominante ms que . Estas se llaman franjas de igual grosor.
La diferencia de camino ptico es:

DCO

n ( N 1C + CN 2 ) N 1C+CN 2

N 1C+CN 2

N 1C=CN 2 =h cos DCO = 2 n h cos CO

La diferencia de fase correspondiente en el punto P es: p

nh cos

Tomando en cuenta el cambio de fase de en reflexin en una de la superficies de la pelcula, existen mximos de intensidad en el punto P cuando:

2nhcos

0
2

= m0

m=0,1,2....

cos es el promedio para los puntos de la fuente los cuales contribuyen a la luz en el p punto P.
Si ste valor es efectivamente constante, las franjas estn localizadas en los puntos de la pelcula en el cual el espesor ptico es constante, por lo que se les conoce a stas a pe cu a e e cua e espeso p co co s a e, po o es co oce s as franjas de igual grosor.
A incidencia normal, la condicin para una franja oscura llega a ser, con cos = 1 y la longitud de onda = 0 en aire
n

h=

m , 2

m=0,1,2...

Las franjas de interferencia en la placa representan contornos de la pelcula a intervalos de grosor / 2 , lo que nos indica que este g q q principio es muy til para medir diferencias de espesores, cuando stos son del mismo orden de magnitud que la longitud de onda.

Franjas de igual grosor dadas por un capa delgada de vidrio

3.2 INTERFEROMETRO DE MICHELSON

Un haz pasa a D tres veces mientras que el otro pasa solo una vez. En consecuencia, cada haz cruzar igual espesor de vidrio nicamente cuando la placa compensadora C, colocado a 450 se introduce en el brazo DM2. El interfermetro sin la placa C puede ser usado con una fuente cuasi monocromtica.

Para entender como se forman las franjas, se hace referencia a la construccin mostrada a continuacin:

DCO = 2d cos = k DCO = 2dk cos

Las franjas oscuras estn representadas por:

2d cos m = m0

m = 0,1, 2....

Debido a que suponemos que la fuente luminosa emite en todas direcciones, esta condicin se satisface de igual forma para cualquier punto sobre la superficie del detector que est sobre un crculo centrado en el eje ptico, por lo que un observador colocado en este plano observar franjas circulares concntricas. Para un valor fijo de d, las franjas oscuras satisfacern sucesivamente la expresin:
2d = m0

2d cos 1 = ( m 1) 0 2d cos 2 = ( m 2 ) 0
M

m =0

2d (1 cos p ) = p0

2d cos p = ( m p ) 0

Si p es pequeo, el radio angular de la p-sima franja es:

cos p = 1

p p = 0 d

1 2

3.3 INTERFEROMETRO DE FIZEAU, TWYMAN-GREEN Y MACH-ZEHNDER ANILLOS DE NEWTON


Las franjas llamadas anillos de Newton son otro ejemplo de franjas de igual grosor. Estas son observadas en la pelcula de aire entre un superficie esfrica convexa de una lente y la superficie plana de vidrio en contacto. Las franjas son crculos alrededor del punto de contacto C. Si R es el radio de curvatura y OC de la superficie convexa, el grosor de la pelcula a la distancia r d C es: di t i de

h = R R r
2

r2 2R

Montaje estndar para observar los anillos de Newton

A incidencia normal oscura es:

m h = 2

la condicin para una franja

r = mR ,

m = 0,1, 2...

Si la lente y el plano son separados, los puntos de la pelcula con una h dada se mueven hacia adentro y las f franjas colapsan hacia adentro, donde una desaparece cada vez que . la separacin se incrementa en
2

Los anillos de Newton, que son franjas de Fizeau, pueden distinguirse del patrn circular de las franjas de Haidinger por la manera como los dimetros d l di t de los anillos varan con el ill l orden m. El interfermetro de Fizeau es utilizado para el control de calidad de las superficies que se trabajan en los talleres de pulido ptico, donde se fabrican componentes pticas.
Interfermetro de Fizeau

Anillos de Newton

Las pruebas ms comunes son las pruebas de superficies cncavas, convexas y planas.

La L prueba se h b hace por contacto d d t t de dos superficies pulidas, siendo una d ellas l fi i lid i d de ll la referencia patrn; si la una superficie es plana y la otra cncava o convexa aparecern anillos concntricos franjas de Newton.

INTERFEROMETRO DE TWYMAN-GREEN
Es una modificacin del interfermetro de Michelson; utilizado para probar elementos pticos. El elemento es insertado en el brazo M2 de tal manera, que si fuera perfecto, el frente de onda de M2 de retorno sera plano, si no, la deformacin del plano de M2 resulta del doble paso de la luz a travs del elemento a ser medido.

Arreglo para probar un prisma

Arreglo para lentes de una cmara

a) Aberracin esfrica

b) Coma

c) Astigmatismo

Patrones de interferencia Twyman-Green de lentes mostrando aberraciones primarias.

INTERFEROMETRO DE MACH-ZEHNDER
Es usado para medir la variacin del ndice de refraccin, y por lo tanto de densidad en flujos de gas compresibles. p Suponer que la fuente es puntual, de luz cuasi monocromtica. W1 es el frente de onda plano del rayo entre M1 y D2, W2 el frente de onda plano del rayo entre M2 y D2, y W1 el frente de onda plano virtual entre M2 y D2 lo cual debera emerger de D2 coincidente y cofasal con W1. En el punto P en W2, la diferencia de fase virtual entre los rayos emergentes es entonces:

nh

Donde h = PN , la distancia normal de P a W1y n es el ndice de refraccin del medio entre W2 y W1. En el punto P habr franjas brillantes cuando:

nh = m0 h

m =012 0,1, 2.....

En general W1y W2 estn mutuamente inclinados y las franjas son lneas rectas paralelas a su interseccin. Estas franjas son normalmente utilizadas en la examinacin de flujos de gas.

En el uso tcnico del instrumento, la regin C1 donde el flujo de gas se ha de examinar y una cmara de compensacin, se encuentran en brazos opuestos del interfermetro, el cual se ajusta para dar franjas cercanas al orden cero, de orientacin y espaciamiento deseado y virtualmente localizadas cerca de un plano elegido dentro de C1, normal a la direccin de la luz incidente. Este plano es fotografiado. Las fotografas de los patrones de franjas se obtienen con y sin flujo de gas y el orden de desplazamiento m de los dos patrones en los puntos seleccionados P del plano imagen se miden se usan las franjas de P miden, luz blanca si es necesario identificar los ordenes correspondientes. Si n es el ndice de refraccin del gas sin disturbio en C1 y n1 es el ndice de refraccin bajo las condiciones de flujo, se tiene que: j q

m =

( n n )ds

Donde la integral se t D d l i t l toma a l l lo largo d l camino d l rayo que pasa a t d C1 y ll del i del travs de llega a P.

4. 4 INTERFERENCIA DE HACES MLTIPLES


Los interfermetros analizados anteriormente consideran la interferencia entre dos haces coherentes, lo que da como resultado que las franjas analizadas sean cosenoidales.

Cuando una rayo de luz incide en una placa trasparente, existen mltiples reflexiones en las superficies de la placa, dando como resultado una serie de rayos de amplitud disminuida emergentes en cada lado de la placa. Si se toma en cuenta todos los rayos reflejados, se ver, si la reflectividad de las superficies es alta, la distribucin de intensidad en los patrones de franjas est modificado de una manera de la cual tiene importantes usos prcticos.

4.1 INTERFERENCIA MLTIPLE EN UNA PLACA PLANO PARALELA


Suponer una placa transparente plano paralela con n y rodeada por un medio con n y suponer que una onda plana monocromtica de luz incide en la placa a un ngulo .
Las amplitudes escalares de las ondas reflejadas E1r, E2r, E3r.. son respectivamente

E or eit , E or trteit , E or tr3 teit ...


Las amplitudes escalares de las ondas transmitidas E1t, E2t, E3t.. son respectivamente

E ot tteit , E or tr2 teit , E or tr4 teit ...


r=-r; tt=1-r2 ;

La onda resultante y la densidad de flujo en el punto P tanto en reflexin como en transmisin son:

r (1 e i ) 1 E0 2 2r 2 (1 cos ) it ........ I r = Er = E0 e 2 i 2 (1 + r 4 ) 2r 2 cos 1 r e


2

E0 2 ( tt) tt it Et = E0 e ........ I t = 2 i 2 (1 + r 4 ) 2r 2 cos 1 r e

El patrn de franjas de igual inclinacin tiene sus mximos cuando: = ( 2m + 1)


4 n f

d cos t = ( 2m + 1)

DCO=2n f d cos
2

Introduciendo el coeficiente de finura, F 2r 2 se tiene que: 1 r

Ir 2 = I i 1 + F sen 2 2 It 1 = = ( ) I i 1 + F sen 2 2

F sen 2

La interferencia de haces mltiples resulta en una redistribucin de la densidad de energa en comparacin al patrn sinusoidal de dos haces (de los cuales las curvas correspondientes a una baja reflectancia son parecidas).

Funcin de Airy

4.2 INTERFERMETRO FABRY-PEROT


Las franjas de interferencia de mltiples haces de una placa plano paralela iluminada a incidencia casi normal son usadas en el interfermetro Fabry-Perot. Consiste esencialmente de dos placas de vidrio con superficies planas. Las superficies internas p p p p son pelculas recubiertas, parcialmente transparentes, de alta reflectividad y son paralelas, por lo que encierran una placa plano paralela de aire. El espacio de aire entre las placas vara de algunos milmetros a centmetros cuando se usa para interferometra yf frecuentemente l di t t t la distancia aumenta considerablemente cuando se usa como cavidad i t id bl t d id d resonante de un lser. Cuando los espejos se mantienen fijos y se ajusta el paralelismo fijando con una tornillo algn tipo de espaciador suele llamrsele etaln.

Todos los rayos incidentes sobre el espacio separador con un ngulo dado resultarn en una sola franja circular de irradiancia uniforme. Con una fuente difusa ancha, las bandas de interferencia sern anillos concntricos d l d i t f i ill ti delgados, correspondientes al patrn d t di t l t de transmisin i i de haces mltiples. Las pelculas de metal parcialmente transparentes que se usan para aumentar la reflectancia, absorbern (T + R + A = 1) una f fl t i b b fraccin d l d i de la densidad d fl j y t id d de flujo stas introducen un corrimiento adicional de fase. La diferencia de fase entre dos ondas transmitidas sucesivamente es: 4 n f = d cos t + 2 **

Para las condiciones bajo consideracin, i es pequeo y puede se considerado como constante. En general, d es tan grande y 0 tan pequeo, que puede ser despreciado.

Se puede expresar ahora la ecuacin como:


It T 1 = I i 1 R 1 + 4 R / (1 R ) 2 sen 2 ( / 2 ) It A = 1 ( ) Ii 1 R
2 2

Por lo tanto, el mximo de transmisin est dado cuando la funcin de Airy es 1, por lo que :

( It )mx
Ii

A = 1 1 R

Los mximos en la transmisin ocurren para valores especficos de la diferencia de fase . , p max = 2 m . De acuerdo a ello, la irradiancia caer a la mitad de su valor mximo siempre y cuando = max 1/ 2

1 1 + F sen 2 = = ( ) 2 2 1/ 2 = 2sen 1 1/ F

1 ya que F es generalmente bastante grande, sen (1/ F ) 1/ F . = 21/ 2 es ig al a igual a:

y por tanto el ancho medio,

= 4/ F

Otra cantidad de particular inters es la razn entre la separacin de mximos adyacentes y el ancho medio, conocida como la finura:

F f =

F
2

Sobre el espectro visible, la finura de los instrumentos Fabry-Perot ms ordinarios es alrededor d 30 L li it i f i sobre f est establecida por l d l d d de 30. La limitacin fsica b t t bl id las desviaciones d l i i de los espejos del paralelismo plano. Tener en cuenta que cuando la finura aumenta, el ancho medio disminuye, pero lo mismo hace el mximo de transmisin.

ESPECTROSCOPA FABRY-PEROT
Para valores grandes de F, el incremento de fase mas pequeo el cual representa dos franjas resueltas, esto es cuando la irradiancia combinada de ambas 2 franjas en el centro, o punto silla, de la franja ancha resultante es 8 / veces el mximo j , p , j de la irradiancia.

( )

4.2 42 F

Franjas superpuestas

La razn entre 0y la diferencia de longitud mnima ( 0 )min , se conoce como el poder cromtico de resolucin , de cualquier espectroscopio. Por lo tanto, a incidencia casi q p p , normal: 2n f d 0 f 0 ( 0 )mn
fm.

En trmino de frecuencia el ancho mnimo de resolucin es:

( )min =

c f 2n f d

La diferencia de longitud de onda particular para la cual ocurra la superposicin, ( . 0 )rle, se conoce como rango libre espectral. Un cambio de fase de 2 corresponde a . ( 0 )rle = 0 / m , o a incidencia casi normal,

( 0 )rle
Finalmente se tiene que:

0 2
2n f d

( )rle

c 2n f d

( )rle ( )min

= f

4.3 FILTROS DE CAPAS DELGADAS DE INTERFERENCIA


Si la separacin ptica de las superficies reflectoras es constante sobre la apertura del filtro, ( 0 ) H .W . corresponde al cambio de la diferencia de fase por una cantidad 4 / F siempre y cuando podamos despreciar las variaciones de reflectividad y transmisividad de la longitud de onda sobre el intervalo del longitudes de onda. De * * a incidencia normal, si despreciamos la dispersin del espaciador, un cambio . corresponde a un cambio en 0 a la longitud de onda dada al primer orden de pequeas cantidades por

Filtro de interferencia tipo Fabry-Perot Fabry Perot Suponer que un rayo paralelo de luz blanca llega a incidencia normal en una placa plano paralela con superficies con alta reflectividad. Por hay mximos de intensidad de la luz transmitida cuando la diferencia de fase es un mltiplo (m) entero de 2 . cuando 0 = 0 donde:

4 d = 2 nh + 2 0 d 0 0
Por lo tanto cerca de la banda de transmisin de orden m, se tiene:

(m)

2nh , m=1,2,..... = (m / )

y que a las longitudes de onda en cualquiera lado de stos mximos la intensidad de la luz transmitida cae bruscamente a bajos valores. La placa entonces acta como un filtro de longitudes de onda, con mltiples bandas de transmisin asociadas con valores enteros del orden m.

2 1 d = ( m ) m + (0 ) 0 d 0 0 0( m)

El ancho medio del filtro a la longitud de onda corresponde al cambio en

de 4 / F , el cual es:

( 0 ) H .W . =
F m

20( m ) 1 d 0 ) ( d 0 0( m)

= f m

0( m )
1 d 0 ) ( d 0 0( m)

Otra forma de filtro de interferencia, es el llamado filtro de reflexin total frustrada, cada pelcula reflectora es una capa delgada de material de bajo ndice de refraccin entre un medio de alto ndice de refraccin. Las longitudes de onda de transmisin dependen del grosor ptico del espaciador, el ngulo de reflexin y el cambio de fase en la reflexin; la reflectividad depende del grosor de las capas con bajo ndice de reflexin. El cambio de fase depende del estado de polarizacin, y por tanto las bandas de transmisin de un orden dado para las componentes paralelas y perpendiculares al plano de incidencia son a diferentes longitudes de onda.

Filtro de interferencia de reflexin total frustrada frustrada.

4.4 MTODO MATRICIAL PARA PELCULAS DELGADAS


Cada onda E rI , E , E tII , etc. representa rII la resultante de todas las ondas posibles que viajan en esa direccin y en ese punto en el medio. medio En la frontera I:

EI = EiI + ErI = EtI + ErII y HI = =

0 ( EiI ErI ) n0 cosiI 0 0 ( EtI ErII ) n1 cosiII 0

En la frontera II:

EII = EiII + ErII = EtII H II = =


Campos en las interfaces

0 ( EiII ErII ) n1 cos II 0 0 EtII ns cos tII 0

donde n s ndice del substrato

Cuando una onda cruza la pelcula de inmediato sufre un corrimiento de fase k0 ( 2n1d cos iII ) / 2 el cual p puede ser denotado p K0h de modo que las ecuaciones p por q para la frontera II p pueden ser escritas como:
ik0 h

EII = EtI e t

+ ErII e + ik0 h y H II = EtI e-ik0 h - ErII e + ik0 h t

0 n1 cos iII i 0

Estas pueden ser resueltas, las cuales sustituidas dentro las ecuaciones para la frontera I, dan:

EI = EII cos k0 h + H II ( isen k0 h ) / 1 y H I = EII 1isen k0 h + H II cos k0 h

0 1 n1 cos iII 0
Los clculos anteriores realizados para el caso cuando E est en el plano de incidencia resultarn en ecuaciones semejantes, si se cumple que:

EI cos k0 h H = I 1isenk0 h

( isenk0 h ) / 1 EII
cos k0 h

H II

EI H = I I

EI EII H , H = II I II

EIII EI H H = I II III I

EIII H III

En general, si p es el nmero de capas, cada una con valores particulares para n y h, entonces el primero y el ltimo borde estn relacionados con:

E( p +1) EI m11 = I II .... p ; M= I II .... p = H ( p +1) m21 HI

m12 m22

Reformulando la ecuacin de la MI en trminos de las condiciones de la frontera I y II y estableciendo:

( E iI + ErI ) EtII 0 0 0 = n0 cos iI y s = ns cos tII se obtiene = 1 EtII s 0 0 ( EiI ErI ) 0


Desarrollando las matrices, la ltima relacin se transforma en:

1 + r = m11t + m12 s t

(1 r ) 0 = m21t + m22 st

Finalmente se tiene que:

r= r= t=

E ErI y t = tII E iI EiI 0 m11 + 0 s m12 m21 s m22 0 m11 + 0 s m12 + m21 + s m22 20 0 m11 + 0 s m12 + m21 + s m22

Para encontrar ya sea r o t para cualquier configuracin de pelculas necesitamos calcular nicamente la pelculas, matriz caracterstica de cada pelcula, multiplicar todas ellas, y entonces sustituir los elementos de la matriz resultante dentro de las ecuaciones anteriores.

EJERCICIOS
1. Dos ondas ondulatorios coherentes de frecuencia 700 Hertz, se propagan por un medio con velocidad de 30 m-s. Hallar la perturbacin total y ladiferencia de fase con que interfieren en un punto que dista de los orgenes de aqullos respectivamente 25.2 y 27.3 m.
La funcin de onda para cada movimiento viene dada por: r r E1 = E01sen( wt Kx1 ) y E 2 = E02 E cos( Kx2 wt ) r r r E=E1 + E 2 r E=E E E 01 sen ( wt ) cos ( k 1 ) cos ( wt ) sen ( kx1 ) + E 02 sen ( wt ) cos ( kx2 ) cos ( wt ) sen ( kx2 ) t kx t k t k t k r E=sen ( wt ) E 01 cos ( kx1 ) + E 02 cos ( kx2 ) + cos ( wt ) E 01sen ( kx1 ) + E 02 sen ( kx2 ) Sean E0 cos ( k t ) = E 01 cos ( kx1 ) + E 02 cos ( kx2 ) kx k k E0 sen ( kxt ) = E 01 cos ( kx1 ) + E 02 cos ( kx2 ) Elevando al cuadrado las dos anteriores y sumandolas queda: E 0 2 = E 012 + E 02 2 + 2E 01E 02 cos ( k 2 kx1 ) kx k y luego dividiendolas tan ( kx t ) = E 01 cos ( kx1 ) + E 02 cos ( kx2 ) E 01 cos ( kx1 ) + E 02 cos ( kx2 )

La diferencia de fase es entonces:

= ( wt kx1 ) ( wt kx2 ) = k ( x1 x2 ) = =
2

La perturbacion total queda entonces: r E=E 0 cos ( kxt ) sen ( wt ) + E 0 sen ( kxt ) cos ( wt ) r E=E E E 0 sen ( wt + kxt )

( 2.1) 30 = 307.87 rad

2 ( 700 )

( x1 x2 ) =

2 v ( x1 x2 ) v

La onda compuesta es armnica y de la misma frecuencia que las constitutivas pero la amplitud y fase son diferentes.

2. 2 Se tienen dos rendijas separadas una distancia 0 25 mm y se encuentra una pantalla situada 0.25 a 90 cm de distancia, la rercera franja brillante se localiza a 0.75 mm de la franja central, calcular la longitud de onda de la luz utilizada.

3 ( y ) = .75 mm y = 2.25 mm Como : = a ( y ) s ( 0.25 mm )( 2.25 mm ) = 900 mm =625 nm

Cul es la separacin de franjas brillantes si el sistema se sumerge en un lquido con ndice de refraccin 1.6?

c c Recordar que: n ; aire = n= v f v c liquido = = = liquido = aire n nf n 625 nm liquido = = 390.06 nm 1.6

Como : y = C

s a ( 900 mm )( 390.06 nm ) y= 0.25 mm y= 1.4 mm

3. Una lente convergente, cuya distancia focal es 10 cm, fue cortada al medio y las mitades f it d fueron d desplazadas a una di t l d distancia d 0 5 mm (l t d bl ) C l l el i d= 0.5 (lente doble). Calcular l nmero de franjas de interferencia en la pantalla, situada detrs de la lente a una distancia D=60 cm, si delante de la lente existe una fuente puntual de luz monocromtica = 5000 0 A alejada de ella en a=15 cm cm.
Es evidente que: b= fa a f De la semejanza de los tringulos SAB y SS1S2 ad a f

se puede encontrar la distancia l entre S1 y S2 p l=

La distancia entre las franjas de interferencia vecinas es: h= h=

( D-b ) Db
l

ad

( Da Df ba + bf )

El nmero de franjas de interferencia es: d f j d i f i N= d ( D + a) l = = 25 ah h

ad h=10-2 cm

( Da Df fa )

4. En uno de los brazos de un interfermetro de Michelson se introduce una lmina rectandular de vidrio (n = 1.52) con espesor e = 1 cm, cuya normal a las caras forma un ngulo con la direccin del brazo. El interfermetro est iluminado con una onda plana monocromtica de longitud de onda linealmente polarizada. Calcular: a) Si = 0, determine el desfase que introduce la lmina en funcin de su ndice de refraccin n y de su espesor e. Nota: despreciar en todo el estudio el espesor de la lmina separadora, el corrimiento de fase en su interior y el efecto de las reflexiones en la intensidad.

b) A partir de la situacin precedente se hace girar la lmina hasta que la normal a sus caras forma un ngulo con la direccin del brazo. Determinar el incremento del desfase () producido por el giro. c) En el experimento se ajustan las longitudes de los brazos del interfermetro d1 y d2 de manera que cuando el ngulo es nulo, en el centro de la pantalla aparezca un mximo de interferencia. Si al hacer variar el ngulo desde 0 hasta 7.22 se observan 100 mximos de intensidad (sin contar el primero), determinar la longitud de onda de la radiacin.

Inciso a) Esquema del interfermetro de Michelson:


M1

d1
1 = 2d1

Desfase introducido por la lmina cuando se coloca formando un ngulo = 0


d2
M2

DCO = 2 1 = 2 ( d 2 d1 ) + 2 ( n 1) e

2 = 2d + 2e
P

DCO =

2 ( d 2 d1 ) + 2 ( n 1) e

2 = camino fuera de la placa + camino en la placa i f d l l i l l


2 = 2 ( d 2 e ) + 2ne

b) Nuevo desfase al girar la lmina. Interfermetro de Michelson con lmina de vidrio intercalada en un brazo
d'

2 ( ) = 2 ( d 2 d ) + 2nd
d= cos ( ) e d'=e cos cos

d = d cos ( )

cos ( ) 2ne DCO ( ) = 2 ( ) 1 = 2 d 2 e 2d1 + cos cos cos ( ) n DCO ( ) = 2 ( ) 1 = 2 ( d 2 d1 ) + 2e cos cos

* ( ) =

cos ( ) n 2 2 ( d 2 d1 ) + 2e cos cos

( ) = * ( ) =

n cos ( ) 2 2 ( d 2 d1 ) + 2e 2 ( d 2 d1 ) 2 ( n 1) e cos cos

( ) = * ( ) =

1 cos ( ) 1 + 1 2e n cos cos

d) Cuando la lmina (e = 1 cm) gira un ngulo = 7.22 = 0.126 rad se ven desfilar 100 mximos de intensidad, as que el desfase que corresponde a ese giro es () =1002 rad. rad Usando la expresin anterior determinamos el valor de la longitud de onda anterior, onda.
( ) = =
2 2 1 cos ( ) 2e n 1 + 1 cos cos

1 cos ( ) 2e n 1 + 1 ( ) cos cos cuando es pequeo la ley de Snell se aproxima a: = n

cos 1

; 2 2 2 2e = n (1 cos ) + cos cos ( ) ( ) cos

( ) cos ( ) 1

= =

( ) (1 2 / 2 )
2 2e
2

2e

2 2 ( ) 2 +1 1+ n 2 2 2

( n -1) 2 2 2 + 2 ( ) 2 ( 2 ) 2 2 2e ( n 1) 2 n 2 2 1 2 2n 2 = + 2 + 2 2 ( ) 2 2 n 2 n n n

= =

2e 2 ( ) ( 2 n 2 )

(n

n ) 2

( )

( n 1) e 2
n

2 1.52-1 7 2 10 (nm) 0.126 = 543.1 nm 100 2 1.52

5. Una lmina de vidrio de caras paralelas, de espesor e e ndice de refraccin n se ilumina por una fuente puntual O situada a una distancia d>>e. Una pantalla situada a una distancia D de ella, est iluminada il i d por l l reflejada d l cara anterior y posterior d l l i la luz fl j d de la t i t i de la lmina. LA f fuente emite una radiacin t it di i monocromtica de longitud de onda e incide con ngulos pequeos sobre la lmina. Calcular la diferencia de camino en un punto P de la pantalla en funcin de D, d , e. Ver la figura.
Al punto P de la pantalla llegan dos rayos procedentes de 0. Uno se refleja en la primera cara de la lmina mientras que el otro se refracta de la lmina, se refleja en la cara inferior y se refracta de nuevo en la primera cara. Por lo tanto, en P los rayos llegan con una diferencia de camino que permite la interferencia.

DCO = 2nAB 2Ml Se tiene que: e Ml AB= ; Al = e tan ; sen = cos Al e DCO = 2n 2e tan sen cos
Teniendo en cuenta la ley de Snell sen = nsen , se llega a e 2en DCO = 2n sen 2 = 2ne cos cos cos

Si se observan rayos que inciden sobre la muestra formando pequeos angulos, o sea que el punto A es prximo al punto S, entonces DCO se puede espresar como: DCO= 2necos =2ne 1sen 2 n2 2 2ne 1- 2 2n

y 2d + D 2 y2 2ne 1 2 2n ( 2d + D ) 2

A esta diferencia de fase se le tiene que aadir la diferencia de fase q p q que produce la reflexin de aire-vidrio y de vidrio-aire que es radianes, por lo que la diferencia de fase total es:
t
2 y2 2ne 1 2 + 2n ( 2 d + D ) 2

Los mnimos se obtendrn cuando t = ( 2m + 1)


ym = ( 2 d + D )

es decir:

n ( 2ne m ) e

Por lo tanto, el lugar geomtrico de los puntos de la pantalla que presentan la misma diferencia de camino ptico son crculos centrados sobre la recta que parte de O y es perpendicular a la muestra.

6. Las lminas de un interfermetro de Fabry-Perot tienen un coeficiente de reflexin r=0.95 r=0 95 y estn separadas 1 mm Calcular: mm. a) La fineza, f b) El poder resolutivo ) p y el intervalo espectral mnimo resoluble p

c) La separacin mnima que tendra que haber entre las lminas necesarias para poder resolver la emisin del doblete del sodio 1 = 589nm y 2 = 589.6nm .

a)

b) fm 30 61m 30.61 2n f d 0 f 0 ( 0 )min

c) 2n f d 0 f 0 ( 0 )min d=

F 2r F= 2; f = 2 2 1 r
2 ( 0.95 ) F= = 379.75; 2 1 ( 0.95 ) f =
2

379.75
2

= 30.61

( 0 )min

0 2
2 fn f d
2

( 0 )min 2 fn f 2 ( 589 nm ) d= 2 ( 0.6 nm )( 30.61)


d = 9.44 m

0 2

( 589 nm ) 0 )min ( 2 ( 30.61)(1 mm ) ( 0 )min 5.67 pm

BIBLIOGRAFA

1. Max B 1 M Born and E il W lf P i i l d Emil Wolf, Principles of O ti f Optics: El t Electromagnetic Th ti Theory of f Propagation Interference and Diffraction of Light, Pergamon Press, 6 th (corrected) edition,1980. 2. Eugene Hecht and Alfred Zajac, Optica, Addison-Wesley Iberoamericana, 1986.

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