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INFORME DE LABORATORIO 1: RTDs [Byron Ganazhapa]

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Fecha: 25/05/2012 Loja Ecuador

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1.

MEDICION DE TEMPERATURA: RTD PROBLEMA. Disear un circuito con Voltaje de salida lineal a la temperatura con un sensor de temperatura PT100. Parmetro Rango de medicin Mximo error permitido Rango de Voltaje de Salida del circuito de acondicionamiento Resolucin mnima Valor 10 C a 90C 1C 0 V a 10 V 0.01 C

Disear el circuito para fuentes de alimentacin disponibles por el ELVIS 2. PROCEDIMIENTO MATEMATICO Datos del problema Resistencia trmica del RTD, Resistencia trmica del RTD a 0C, Coeficiente de temperatura,

( ( ( ) )

) ( ( ) )

)(

Puente de Winston

R1 Va R3 Vb Vs +

R2

Vcc

Rt

Fig. 1 circuito de alimentacin del sensor mediante el puente de Wheatstone.

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| | | | (

| ) ( )|

) (

) (

En Nuestro instrumenta de medicin no consta de fuentes de voltajes elevados, para sus anlisis practico se considerar un

) ) ( (

) ( )

) ( ( )

) (

Acondicionamiento de seal
Tabla 1 Tablas de acondicionamiento de voltajes.

Ecuacin de Instrumentacin:

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Fig. 2 Acondicionamiento de la salida de entada y salida

( (

) )

Amplificador de Instrumentacin:
15 V

V1

+ AO1 -15 V

2R
-15 V

-15 V

2R R R

AO2

V2

15 V

Fig. 3 Circuito de acondicionamiento y amplificacin de seales con un amplificador de instrumentacin AD620AN

)(

)(

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+ + -

Rg

AO3 V01
15 V

VREFERENCIA

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( (

) )

Ecuacin de Software: ( ( ) ) ( ( ) ) )

) (

3.

SIMULACIONES

15V VBB R2 2.672k

7 3 1

Rg 806.3
8

R1 2.672k

U1
6 +

U3
0.000
V

SENSOR PT-100
2

Vcc 15 V R3 100 R6 R5 R7

J2
4 5

AD620AN

DC 10MOhm

V_Referencia

R10

R9

R11

VDD -15V

-1.25V

103.85 107.7 111.55 119.25 126.95 134.65 10C 20C 30C 50C 70C 90C

Electronics Workbench 801-111 Peter Street Toronto, ON M5V 2H1 (416) 977-5550 Title: Simulacion_RTD_multisim Byron, Ricardo Desc.: Simulacion_RTD_multisim Document No: 0001 Date: 2012-05-20 Sheet 1 of 1 Revision: 1.0 Size: A

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Fig. 4 Circuito de simulacin a temperaturas dadas.

Para Temperaturas de ( )

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( ) ( )

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Fig. 5 Simulacin del circuito a 10 C

Para Temperaturas de ( ) ( )

Fig. 6 Simulacin del circuito a 20 C

Para Temperaturas de ( ) ( )

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Fig. 7 Simulacin del circuito a 30 C

Para Temperaturas de ( ) ( )

Fig. 8 Simulacin del circuito a 50 C

Para Temperaturas de ( ) ( )

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Fig. 9 Simulacin del circuito a 70 C

Para Temperaturas de ( ) ( )

Fig. 10 Simulacin del circuito a 90 C

Tabla 2 Tabla comparativa de voltajes de salida analticos y simulados.

Temperatura

Voltaje de salida analtica

Voltaje de salida simulada

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4.

IMPLEMENTACION REAL
Tabla 3 Tabla comparativa de temperaturas medidas y de referencia.

Temperatura en el multmetro (DT5808)

Voltaje de entrada a la DAQ (interfaz NI-ELVIS)

Temperatura en el Software LabVIEW

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Resultados
Tabla 4 Tabla de errores.

Temperatura

Valores Calculados

Valores Medidos

Error

% Error

5.

LINEALIDAD Y EXACTITUD DEL SISTEMA

( ( ( ( )

( )( ( ) ( )( )

) )

)( ) ( ( )( ) ( ( )

)( ) )(

) )

| | Error de linealidad

| |

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Fig. 11 Anlisis de linealidad.

EXACTITUD: | | | |

6.

MEDICIONES PARA UNA TEMPERATURA ESTABLE, EN EL SOFTWARE Y EN EL INSTRUMENTO DE REFERENCIA:

Tabla 5 Tabla comparativa de valores medidos y de referencia a una temperatura estable.

Temperatura en el multmetro (DT-5808)

Temperatura en el Software LabVIEW

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7.

INCERTIDUMBRE DEL SISTEMA IMPLEMENTADO. La varianza experimental ( )

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( (

( ) (

( )

En numero de mediciones es menor que 10, la incertidumbre de las mediciones se obtiene al multiplicar un factor de correccin por el valor de la varianza. ( ) Incertidumbre de la interfaz de lectura: Resolucin mnima de 0.01 C Incertidumbre del instrumento de referencia del rango de 24 C es 0.24 C para un nivel de confianza del 95%, k=2:

Incertidumbre total del sistema: La incertidumbre expandida del sistema para un nivel de confianza del 95% (k=2),

RTD; PT-100

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Multmetro DT_5808

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