Detection and Sizing of ID Connected Cracking

by Russ Minkwitz This paper provides a brief summary of advanced detection and sizing techniques for the evaluation of flaws connected to the inner surface of test material. In general, these techniques have found application for the detection, characterization and sizing of intergranular or transgranular stress corrosion cracks and fatigue-type cracks whether inherent, processing or service induced. Overview Once a suspected Inner-Diameter (ID) connected crack has been detected by general code or regulatory mandates, it then must be qualified. This initial process usually involves the use of the same 1.5, 2.25, or 5MHz shear wave angle beam transducer that was used in the detection phases. Further evaluation of signal amplitude, rise and fall time, echo dynamic and pulse duration, hopefully will help determine if the suspect signal is from ID geometry, counter bore, root, or if it is an actual flaw. Another method that can be used for the qualification process involves the use of a single element creeping wave transducer. This technique continues to grow in popularity because of simplicity and because it can provide both detection and preliminary sizing information about the suspected flaw. More About the Single Element Creeping Wave Transducer The single element transducers used in the ID creeping wave technique are designed to create a 70 deg refracted longitudinal wave in the material of interest. As a result of the incident angle used in creating this 70 deg longitudinal wave, other wave modes are created. These different modes all interact to create a unique echo pattern which will vary depending upon how far into the material the defect has propagated. The behavior of each of these components can be broken down into the following three categories: Direct Longitudinal Wave: This is the 70 deg refracted longitudinal wave, which after a quick and easy calibration procedure, should only appear when a crack is very deep. Shear Wave (30-70-70): Along with the 70 deg longitudinal wave, a 30 deg shear wave is generated. The 30 deg shear wave will hit the back surface of the test piece and some of the wave energy will be reflected as a 70 deg longitudinal signal. The "mode-converted" 70

deg wave will strike the reflector face and then propagate back to the transducer. This round trip signal is also known as a "30-70-70" signal to denote the angle of each portion of the triangular soundpath. This signal is present for mid-wall and deep cracks. ID Creeping Wave: This wave mode is essentially a subsurface longitudinal wave which propagates along the inner surface of the test piece. The ID Creeping wave signal can be considered a "marker" as its presence provides strong evidence that an ID connected flaw may exist.

Calibration Using the Creeping Wave Transducer The relative ease of implementing the creeping wave technique can be attributed to the fact that calibration and signal evaluation are heavily based upon the simple concept of pattern recognition. In general, signals created by the three wave modes will either be present or absent from the A-Scan display depending upon the nature and geometry of the reflector. Calibration involves positioning echoes from two of the three waves; the ID Creeping wave and the 30-70-70 signal. It is recommended that calibration be carried out on a calibration block that is the same thickness as the material to be examined. In order to approximate the cracks that will be inspected, a series of notches should be cut into the

block. Typically, notch depth will range from 20% to 80% through wall. The side of the block can be used for the calibration as it will produce indications from all three wave modes. The difference in the arrival times of each of the signals will be the same in the reference block and test material when they are of equal thickness. To calibrate, the 30-70-70 signal from the side of the block will be positioned at the fourth screen division of the flaw detector screen while the ID Creeping wave signal is positioned at the fifth screen division.

Once this relationship has been established, the detection and signal discrimination process, using the creeping wave transducer, may begin. Because of the relatively high level of energy contained in the creeping wave package, and the fact that it travels relatively close to the inner surface, it is extremely sensitive to ID connected cracks. However, because it is not a true surface wave and does not follow surface geometry, it will be less sensitive to reflectors such as weld roots which provide strong indications when shear wave transducers are used. For this reason, the inspector can re-evaluate what had originally been characterized as a flaw, as well as scan the test material for additional suspected ID-connected indications. The creeping wave transducer will also allow the user to obtain preliminary sizing information because each of the wave modes will appear only under certain conditions. The relative depth of a reflector will dictate which signals are received from the transducer. The A-scan in Figure 1 shows an ID creeping wave signal only. This would indicate the presence of a shallow defect.

The A-scan in Figure 2 shows both an ID creeping wave signal and a 30-70-70 round trip signal. This indicates the presence of a mid-wall defect.

The A-scan in Figure 3 shows all three signals. The ID creeping wave, the 30-70-70 round trip signal, and the direct longitudinal wave signal are all present. This indicates the presence of a deep crack.

As with any ultrasonic technique there are limitations. The signals

from the three wave modes can have different amplitude relationships depending upon transducer frequency, damping characteristics, element size, and the thickness of the material to be examined. Furthermore, the type of metal examined or actual OD surface geometries may change the incident angle thus changing the echo amplitude relationship. It is for these reasons that use of an appropriate calibration block is recommended for this technique. This potential variability is also the reason that this technique is referred to as a qualitative approach. The echo relationships do give a very good indication as to the approximate depth of a flaw, but further sizing techniques must be used to verify the depth of the reflector. Sizing Techniques Use of the Sizing Flow Chart The results that are obtained using the ID Creeping wave technique can be summarized in a sizing flow chart. This flow chart can be used to direct the inspector to the correct technique to use during the sizing phase of inspection.

Tip Diffraction Technique This method is used for sizing shallow cracks ranging from approximately 5-35% through wall. In this method the arrival time of the signal from the tip of the crack is used to determine crack depth. To simplify this process the instrument is calibrated so that each screen division corresponds to a particular flaw depth. Typically each of the first five screen divisions are chosen to represent 20% of the material thickness. So, a 20% through wall crack will produce a signal at the 4th screen division, a 40% through wall crack will produce a signal at the 3rd screen division etc. Also noted during this technique is the separation of the tip signal from the corner reflection. The

information obtained from this separation allows the operator to make a final and accurate determination of crack depth. An example of an A-Scan from a 20% through wall defect is shown in Figure 4.

In order to provide good resolution of the signal from the crack tip, a highly-damped 5MHz, 45 or 60 deg shear wave transducer is typically used. Since the signal from the crack tip can be relatively weak, the flaw detector should have an RF display. Such a display makes it easier to see the crack tip signals when the signal-to-noise ratio is poor, as shown in Figure 5.

Bi-Modal Technique This method is used for sizing cracks ranging in depth from 30-70% through wall. A 3MHz dual element-tandem transducer is typically used. This probe transmits a 50 deg refracted longitudinal wave and the corresponding shear wave from the front crystal and receives the wave modes from the rear crystal. The calibration and use of this transducer is essentially a combination of the tip diffraction and creeping wave techniques. As with the tip diffraction technique, the flaw detector is calibrated so that the signal from the tip of the crack arrives at a particular screen division. As also done with this diffraction technique, the separation of the different modes are recorded and used during the evaluation/sizing process. High-Angle Longitudinal Wave Technique The final quantitative sizing technique is used for sizing cracks ranging in depth from approximately 60-95% through wall. This method again uses signal arrival time from the crack tip as an indication of crack depth. The signals from cracks located close to the surface are calibrated to the first few graticules while the deeper indications are calibrated to the higher numbered graticules. It should be noted that these indications show the amount of good material that is remaining in test samples, not the actual depth of the crack. We recommend dual element high angle longitudinal wave transducers to incorporate this technique. OD creeping wave transducers are useful for detecting cracks that propagate almost completely through wall. Conclusion

The most important aspect of these techniques is their simplicity. Once the behavior of the sound beam is understood the process of detection and sizing ID connected defects becomes one of calibration and pattern recognition. In addition, the sizing techniques are inherently more accurate because they are based on the arrival time of echoes, whereas traditional techniques that utilize signal amplitude are subject to a great deal of variability due to coupling conditions. The effects of these variables are reduced or eliminated with time-of-flight based techniques.

Deteccin y dimensionamiento de ID Conectado Cracking por Russ Minkwitz Este documento ofrece un breve resumen de las tcnicas avanzadas de deteccin y de tamao para la evaluacin de defectos relacionados con la superficie interna del material de prueba. En general, estas tcnicas han encontrado una aplicacin para la deteccin, caracterizacin y dimensionamiento de las grietas de tensin intergranular o transgranular corrosin y grietas por fatiga de tipo si el procesamiento inherente, inducida o servicio. Informacin general Una vez que un sospechoso de interior-dimetro (ID) conectado grieta se ha detectado por el cdigo general o mandatos reglamentarios, en ese caso debe ser calificado. Este proceso inicial generalmente implica el uso de la misma 1,5, 2,25, o una onda 5MHz cortante ngulo transductor de haz que se utiliz en las fases de deteccin. Una evaluacin ms profunda de la amplitud de la seal, tiempo de subida y cada, dinmica eco y duracin del pulso, se espera ayude a determinar si la seal es sospechoso de la geometra de identidad, contra el orificio, la raz, o si se trata de un fallo real. Otro mtodo que puede utilizarse para el proceso de calificacin implica el uso de un solo elemento rastrero transductor de onda. Esta tcnica sigue creciendo en popularidad debido a la sencillez y porque puede proporcionar la deteccin y la informacin preliminar sobre la falla de tamao sospechoso. Ms informacin sobre el elemento del transductor Creeping Wave Los transductores de elementos individuales utilizados en la tcnica de identificacin de onda progresiva estn diseadas para crear una onda refractada 70 longitudinal en el material de inters. Como resultado del ngulo de incidencia utilizado en la creacin de esta onda 70 longitudinal, otros modos de ondas se crean. Estos modos diferentes todos interactan para crear un patrn nico de eco que variar dependiendo de la distancia en el material del defecto se ha propagado. El comportamiento de cada uno de estos componentes se pueden dividir en las tres

categoras siguientes: Onda longitudinal directo: Este es el 70 onda refractada longitudinal, que despus de un procedimiento de calibracin rpido y fcil, slo debe aparecer cuando una grieta es muy profunda. Shear Wave (30-70-70): Junto con la onda longitudinal de 70 grados, una ola de 30 grados de corte se genera. La onda 30 cizallamiento llegar a la superficie posterior de la pieza de ensayo y algo de la energa de las olas se refleja como una seal de 70 longitudinal. El "modo-convertido" ola de 70 grados a golpear la cara del reflector y luego se propagan de nuevo al transductor. Esta seal de ida y vuelta tambin se conoce como una "30-70-70" seal para indicar el ngulo de cada parte de la trayectoria acstica triangular. Esta seal est presente por medio de la pared y grietas profundas. Identificacin Creeping onda: Este modo de onda es esencialmente una onda subsuperficial longitudinal que se propaga a lo largo de la superficie interior de la pieza de ensayo. El ID de Creeping seal de onda puede ser considerado como un "marcador" ya que su presencia proporciona una fuerte evidencia de que un defecto ID conectado puede existir.

Calibracin utilizando el transductor de onda Creeping La relativa facilidad de aplicacin de la tcnica de onda progresiva se puede atribuir al hecho de que la calibracin y la evaluacin de la seal estn fuertemente basada en el concepto simple de reconocimiento de patrones. En general, las seales creadas por los tres modos de onda o bien estar presente o ausente de la pantalla de A-Scan dependiendo de la naturaleza y geometra del reflector. La calibracin consiste en el posicionamiento se hace eco de dos de las tres olas, el ID de Creeping de las olas y la seal de 30-70-70. Se recomienda que la calibracin se lleva a cabo en un bloque de calibracin que es el mismo espesor que el material a ser examinado. Con el fin de aproximar las grietas que se inspeccionan, una serie de muescas se deben cortar en el bloque. Tpicamente, la profundidad de la muesca oscilar entre 20% a 80% a travs de la pared. El lado del bloque puede ser utilizado para la calibracin, ya que se producen las indicaciones de los tres modos de onda. La diferencia en los tiempos de llegada de cada una de las seales ser el mismo en el bloque de referencia y material de ensayo cuando son de igual espesor. Para calibrar, la seal 30-70-70 desde el lado del bloque se posicionar en la divisin de la pantalla cuarto de la pantalla detector de defectos, mientras que el ID Creeping seal de onda se coloca en la divisin de la pantalla quinto. Una vez que esta relacin se ha establecido, el proceso de deteccin y discriminacin de la seal, utilizando el transductor de la onda progresiva, puede comenzar. Debido al nivel relativamente alto de energa contenida en el paquete de onda progresiva, y el hecho de que se desplaza relativamente cerca de la superficie interior, es extremadamente sensible a la identificacin de

grietas conectados. Sin embargo, debido a que no es una onda superficial verdadera y no sigue geometra de la superficie, ser menos sensible a los reflectores tales como races de soldadura que proporcionan indicaciones fuertes cuando transductores de cizallamiento de onda se utilizan. Por esta razn, el inspector puede volver a evaluar lo que haba sido originalmente caracterizado como un defecto, as como digitalizar el material de ensayo para indicaciones adicionales sospechosos conectados-ID. El transductor de onda progresiva tambin permitir al usuario obtener informacin preliminar encolado porque cada uno de los modos de onda aparecer slo bajo ciertas condiciones. La profundidad relativa de un reflector dictar la que las seales son recibidas desde el transductor. La exploracin A-en la Figura 1 muestra una seal de onda progresiva identificacin nica. Esto indicara la presencia de un defecto superficial. La exploracin A-en la Figura 2 muestra tanto una seal de onda progresiva identificacin y una seal de disparo 30-70-70 ronda. Esto indica la presencia de un defecto mitad de la pared. La exploracin A-en la Figura 3 muestra las tres seales. El ID de la onda progresiva, la seal de disparo 30-70-70 redonda, y la seal directa de ondas longitudinales son todos los presentes. Esto indica la presencia de una grieta profunda. Como con cualquier tcnica ultrasnica hay limitaciones. Las seales procedentes de los tres modos de onda pueden tener diferentes relaciones de amplitud en funcin de la frecuencia del transductor, la amortiguacin caractersticas, tamao de elemento, y el grosor del material a ser examinado. Adems, el tipo de metal o examinados reales geometras superficiales OD puede cambiar el ngulo de incidencia cambiando as la relacin amplitud del eco. Es por estas razones que el uso de un bloque de calibracin apropiada se recomienda para esta tcnica. Esta variabilidad potencial es tambin la razn por la que esta tcnica se conoce como una aproximacin cualitativa. Las relaciones de eco dan una indicacin muy buena en cuanto a la profundidad aproximada de un defecto, pero otras tcnicas de encolado debe ser utilizado para verificar la profundidad del reflector. Tcnicas de ajuste de tamao El uso del Diagrama de Flujo de tallas Los resultados que se obtienen utilizando el ID de Creeping tcnica onda puede resumirse en un diagrama de flujo de tamao. Este diagrama de flujo puede utilizarse para dirigir el inspector a la tcnica correcta para utilizar durante la fase de dimensionamiento de inspeccin. Sugerencia tcnica de difraccin Este mtodo se utiliza para dimensionar grietas superficiales que van desde aproximadamente 535% a travs de la pared. En este mtodo el tiempo de llegada de la seal desde la punta de la grieta se utiliza para determinar la profundidad grieta. Para simplificar este proceso, el instrumento est calibrado de modo que cada divisin de la pantalla corresponde a una

profundidad del defecto en particular. Normalmente cada una de las divisiones de pantalla primeros cinco son elegidos para representar el 20% del espesor del material. As, un 20% a travs de la pared grieta producir una seal en la divisin de la pantalla cuarto, un 40% a travs de la pared grieta producir una seal en la divisin de la pantalla tercera etc Tambin incluido en esta tcnica es la separacin de la seal de punta de la esquina la reflexin. La informacin obtenida de esta separacin permite al operador hacer una determinacin final y exacta de la profundidad de la grieta. Un ejemplo de un escaneado A-de un 20% a travs de defecto de la pared se muestra en la Figura 4. A fin de proporcionar una buena resolucin de la seal de la punta de la grieta, un transductor altamente amortiguada 5MHz, 45 o 60 de onda de corte se utiliza normalmente. Puesto que la seal de la punta de la grieta puede ser relativamente dbil, el detector de defectos debe tener una pantalla de RF. Tal una pantalla hace que sea ms fcil de ver las seales de punta de la grieta cuando la relacin seal-ruido es pobre, tal como se muestra en la Figura 5. Bi-Modal Tcnica Este mtodo se utiliza para detectar grietas de tamao con una profundidad de 30-70% a travs de la pared. Un 3MHz elemento doble tndem transductor se suele utilizar. Esta sonda transmite una onda refractada 50 longitudinal y la onda de corte correspondiente del cristal frontal y recibe los modos de onda del cristal trasero. La calibracin y el uso de este transductor es esencialmente una combinacin de la difraccin de la punta y se arrastran las tcnicas de onda. Al igual que con la tcnica de difraccin de punta, el detector de defectos est calibrado de modo que la seal de la punta de la grieta llega a una divisin de la pantalla en particular. Como tambin se realiza con esta tcnica de difraccin, la separacin de los diferentes modos se registran y se utiliza durante la evaluacin / dimensionamiento proceso. De alto ngulo Tcnica onda longitudinal La ltima tcnica cuantitativa apresto se utiliza para detectar grietas de tamao con una profundidad de aproximadamente 60-95% a travs de la pared. Este mtodo utiliza de nuevo el tiempo de la seal de llegada desde la punta de la grieta como una indicacin de la profundidad de la grieta. Las seales procedentes de grietas situadas cerca de la superficie estn calibrados para las retculas primeros, mientras que las indicaciones ms profundas estn calibrados para las retculas mayores numerados. Cabe sealar que estas indicaciones muestran la cantidad de material bien que se queda en las muestras de ensayo no, la profundidad real de la grieta. Recomendamos dos elementos transductores de ngulo alto de ondas longitudinales de incorporar esta tcnica. OD reptiles transductores de onda son tiles para la deteccin de grietas que se propagan casi en su totalidad a travs de la pared. Conclusin El aspecto ms importante de estas tcnicas es su simplicidad. Una vez que el comportamiento del haz de sonido se entiende el proceso de deteccin de defectos y dimensionado ID conectados se

convierte en una de calibracin y reconocimiento de patrones. Adems, las tcnicas de encolado son inherentemente ms precisa debido a que se basan en el tiempo de llegada de los ecos, mientras que las tcnicas tradicionales que utilizan amplitud de la seal estn sujetos a una gran variabilidad debido a las condiciones de acoplamiento. Los efectos de estas variables se reducen o eliminan con las tcnicas de tiempo de vuelo basados