Instrumentacin para evaluar el deterioro de aceros inoxidables mediante micropuntas de platino.

El proceso de disolucin de un acero inoxidable se presenta por medio de picadura. El proceso electroqumico de una picadura, produce una reaccin de disolucin en la superficie del metal, originando un flujo inico del sitio del nodo hacia los sitios catdicos. Este flujo inico provoca lneas equipotenciales medibles a travs de un arreglo de electrodos. Las lneas equipotenciales son medidas por pseudo-electrodos de referencia idnticos. Un pseudo-electrodo es un electrodo con caractersticas similares al electrodo de referencia dependiendo del entorno donde se encuentre. En este caso se usan microelectrodos de metales nobles. En este trabajo se presenta la generacin de los microelectrodos de platino y se exhibe la instrumentacin bsica con el procesamiento datos para medir y cuantificar este proceso de degradacin. Esta medicin implica la generacin del circuito de acondicionamiento de seales y el procesamiento de la seal obtenida por hardware o de manera digital por software. La calibracin del instrumento de medida se realiza con una fuente de corriente puntual (FCP) que simula la corrosin por picadura. Para establecer un parmetro de valor numrico medible y comparable con la actividad corrosiva localizada, o mejor descrita como actividad electroqumica localizada. La fuente de corriente puntual es un microdisco de metal noble embebido en una resina epxica, el cual simula una picadura al imponerle una corriente, generando una densidad de corriente en el microdisco de rea conocida. De esta manera se mide una diferencia de potencial y se asocia a un flujo de corriente inica.

Tcnica de barrido con electrodo vibratorio

La aplicacin de las tcnicas de barrido con electrodo para evaluar y resolver especialmente la actividad corrosiva ha aumentado progresivamente los ltimos 30 aos. Estas tcnicas asumen la actividad corrosiva actuando en sitios andicos y catdicos separados, pudiendo ser representados como fuentes de corriente puntual. El campo elctrico generado por sitios de corrosin localizada consiste en lneas equipotenciales que pueden ser medidas y representadas grficamente como mapas de contorno [1]. Muchos sistemas de hoy en da usan una referencia esttica o vibratoria con pseudo-electrodos de referencia, para medir el campo elctrico, especialmente el campo normal a la superficie. El ltimo de estos sistemas, llamado electrodo vibratorio, permite una mejor resolucin y baja la mnima seal detectable [1]. La tcnica de barrido con electrodo vibratorio (SVET por sus siglas en ingls) es un barrido electroqumico similar al tcnica de barrido con electrodo referencia (SRET por sus siglas en ingles), con la diferencia del microelectrodo que hace la medida, se encuentra oscilando cerca de la superficie de la muestra, midiendo la diferencia del gradiente de potencial [2]. Como se muestra en la fig. 1.

Fig. 1 Representacin grafica del SVET

Para comprender la tcnica se asume la actividad corrosiva localizada como una fuente de corriente, donde el transporte de iones a travs de la solucin genera lneas equipotenciales medibles por microelectrodos. Para poder establecer un parmetro de valor numrico medible y comparable con la actividad corrosiva localizada, o mejor descrita como actividad electroqumica localizada, se crea una fuente de corriente puntual (FCP) que simula la corrosin por picadura.

La fuente de corriente puntual se con un metal noble que no reaccione con la solucin electroltica, prcticamente es embeber dentro de una resina epoxica no conductora un hilo muy delgado de metal noble, los preferidos son un hilo de platino o un hilo de oro, que posean un dimetro similar muy pequeo en el orden de micrmetros [1]. Y con la ayuda de un potenciostato-galvanostato simular las densidades de corriente requeridas para detectar el gradiente de potencial hmico generado por el flujo inico dentro de la solucin.

Amplificador lock-in. Las seales elctricas vienen adicionadas con ruido ambiental, pueden pasarse por alto si la relacin seal/ruido es grande y positiva, medida en decibelios (dB). Cuando la seal elctrica a medir es muy pequea de tal forma que la relacin seal ruido es grande y negativa, la seal tiene que ser tratada para eliminar el ruido. Los amplificadores convencionales resultan ineficaces para el acondicionamiento de la seal y posterior procesamiento, en la actualidad en instrumentacin de seales los amplificadores lock-in LIA (Lock-in Amplifier) son los ms adecuados para estas lecturas [3]. El amplificador lock-in mide seales peridicas en presencia de altos niveles de ruido, funciona sincronizando una seal de referencia peridica a la misma frecuencia de la seal a medir, como resultado mide la amplitud y la fase de la seal deseada [4-5]. Incorpora, un amplificador diferencial, un detector sensible a fase PSD (Phase- Sensitive Detector), un generador de seal de referencia, un cambiador de fase, un filtro pasabajas LPF (Low Pass Filter), un amplificador y un medidor, la fig. 1 muestra un diagrama a bloques de un Amplificador lock-in bsico.

Fig. 2 Diagrama a bloques de un amplificador Lock-in. El funcionamiento bsico de un LIA consiste en una seal de entrada peridica que representa el fenmeno fsico es amplificada, una seal de referencia con la misma frecuencia de la seal de entrada; especficamente la seal de entrada y la seal de referencia se multiplican para obtener una seal en dc relacionada con la frecuencia de referencia y componentes de frecuencias altas, posteriormente pasa por el filtro pasabajas para eliminar las componentes de frecuencias indeseadas

obteniendo as una seal en DC inters.

relacionada con la amplitud de la seal de

Para precisar y facilitar la medicin de la seal de DC se emplean dos LIA operando con una seal de referencia en cuadratura. Matemticamente tenemos una seal inmersa en ruido como muestra la ecuacin (1). ( ) ( ) ( ) (1)

A es la amplitud de la seal medida y r(t) es el ruido.

Con dos seales de referencia en cuadratura ( ( Se multiplican con la seal de entrada. ( ) ( ) ( ( ( ( ) ) ( )) ( )) ( ( ( ( )) )) (4) (5) ) ) (2) (3)

Se obtiene una seal de salida en el PSD como muestra las ecuaciones (6) y (7). ( ) ( )
( ) ( )

( ) ( )

(6) (7)

( )

Finalmente se filtra la seal a la frecuencia de corte del filtro pasabajas y se obtiene lo que indica la ecuacin (8) y (9). ( ) ( ) ( ) ( ) (8) (9)

Fig. 3 Diagrama de un amplificador lock-in de doble fase. El amplificador lock-in de doble fase consta de dos amplificadores lock-in operando en cuadratura como se observa en la fig. 2, la amplitud y la fase se calculan con trigonometra. ( ( )) ( ( ))
( ) ( )

(10) (11)

La ecuacin (10) y (11) son las aplicadas en la etapa final del LIA, cabe sealar que si la seal de referencia es cuadrada la ecuacin (12) es la aplicada [3]. ( ( )) Al igual que las ecuaciones (8) y (9). ( ) ( ) La ecuacin para calcular la fase es la misma. ( ) ( ) (13) (14) ( ( )) (12)

Diseo Para realizar la instrumentacin se sigui el esquema de pasos que se visualiza en la fig. 1

Fig. 4 Esquema para la realizacion de la instrumentacin

Microelectrodos de platino Para el diseo de los microelectrodos de platino se uso un alambre de platino de 1.7cm de largo con un dimetro de 480m de dimetro en un extremo y de 444m en el otro extremo como se muestra en la fig.2.

a)

b)
Fig. 5 Alambre platino de a) 480um y b) 444um de diametro.

Se requiere dos puntas de similares dimensiones para realizar medidas de potencial, para ello se devasto mecnicamente mediante una minitaladro y un lija fina de 1800 SiC, hasta obtener un tamao de dimetro aceptable, mostrado en la fig. .

Fig. 6 Microelectrodo de platino con devastado mecnico.

La conexin elctrica se realizo con cable blindado, uniendo primero con tinta conductora, luego se embebi en una resina epxica critalina de la marca comex llamada cristalex como se observa en la fig. 4.

Fig. 7 Micrelectrodos de platino

El ambiente de programacin de DASYlab nos permite implementar un LIA con buenas prestaciones junto con la tarjeta DAC

1.R. Akid y M. Garma, Scanning vibrating reference electrode technique: a calibration study to
evaluate the optimum operating parameters for maximum signal detection of point source activity, Elsevier Ltd, Electrochimica Acta 49. Pgs. 28712879, (2004).

2. Philippe Marcus y Florian Mansfeld, Analytical Methods in Corrosion Science and Engineering, 1aEdicin, Edit. CRC Press Taylor & Francis Group, USA 2006. Pp. 577-592. 3. M. Gabal, N. Medrano, B. Calvo,P. A. Martnez,S. Celma y M. R. Valero, A complete low voltage analog lock-in amplifier to recover sensor signals buried in noise for embedded applications, Elsevier, Procedia Engineering 5, Pgs. 7477, (2010). 4. M. L. Meade, J. Phys. E: Sci. Instrum. Vol. 15, Pgs 395-403, (1982). 5. Maximiliano O. Sonnaillon, Ral Urteaga y Fabin J. Bonetto, Implementacin de un amplificador lock-in digital de alta frecuencia usando muestreo no uniforme, XI RPIC (Reunin de Trabajo de Procesamiento de la Informacin y Control), (2005).