Muestreo de Seales

y
Componentes Alias.
(DSP-2)
wernekinck
Introduccin.
Estructura general de un sistema DSP.
Muestreo y Cuantizacin de una seal analgica.
Seal analgica,
tiempo y amplitud
continua.
Seal Muestreada y
cuantizada. Se
muestra cuantizada a
enteros
Seal Digital.
palabras binarias
Muestreo y Cuantizacin de una seal analgica.
Como el ADC no
hace la conversin en
0 seg., la seal debe
retenerse durante el
tiempo necesario para
cuantificarla.
Error en la seal de entrada al Procesador.
Problemas.
Errores producidos por el
muestreo de la seal.
Alias, Incertidumbre
La cuantizacin introduce
error que depende del
nmero de bits.
0 0.001 0.002 0.003 0.004 0.005 0.006 0.007 0.008 0.009 0.01
-4
-3
-2
-1
0
1
2
3
4
Vista de las muestras EXACTAS y muestras CUANTIZADAS
001 011
010
001
100
101
110
111
Sampling y Componentes Alias.
Qu sucede con la informacin de una seal al ser muestreada?
Ejemplo de seal seno (coseno), Qu informacin porta?
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Senoidal de 50Hz muestreada a 800Hz (16 SPC)
Tiempo (seg)
V
o
l t s
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Seal Seno Recuperada de muestras
1- Caso de 16
muestras por ciclo
Seal recuperada con
aproximacin lineal
entre muestras.
2- Caso de 8
muestras por ciclo
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Seal seno muestreada a 8 SPC
Tiempo
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Seal Seno recuperada (8 SPC, sincronizadas)
Seal recuperada con
aproximacin lineal
entre muestras.
Seal recuperada con
aproximacin lineal
entre muestras.
3- Caso de 4
muestras por ciclo
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Senoidal de 50 Hz muestreada a 200Hz (4 SPC sincronizadas)
Tiempo (seg)
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Que informacin se pierde?
4- Caso de 2 muestras por ciclo.
Caso de muestras
sincronizadas con
los peak
Caso de muestras
sincronizadas casi
con cruces por cero.
Qu sucede si la seal tiene frecuencia mas alta que la frecuencia
a la que se Muestrea.?
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Tensin de 450 Hz muestreada a 400Hz (16 SPC de 50 Hz)
0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
Tensin de 450 Hz muestreada a 400Hz (16 SPC de 50 Hz)
Seal alias de esta otra de baja frecuencia
Incrementando fi con fs Cte. suceder esto:
Componente Alias (con frecuencia alias, fa), el DSP no la VE.
El DSP VE o cree que est viendo esta seal.
DEFINICIONES
Por lo tanto esta
seal es alias
de esta.
Que relacin hay entre fs, fo y fa?
Prob. 1.
Considere que la siguiente seal es muestreada:
) 10 / 200 2 sin( 5 ) 3 / 44 2 cos( 2 5 ) ( t t t t + + + = t t t x
Y explique que sucede con la distinta informacin de ella en los siguientes
casos.
a) fs= 1600 (sps)
b) fs= 500 (sps)
c) fs= 400 (sps)
d) fs= 100 (sps)
e) fs= 10 (sps)
Modelacin del Muestreo
por tren de Impulsos.
Seal Analgica
Seal muestreada
(modulada).
Tren de impulsos de t
continuo

+
=
0
) ( ) ( nT t t p o
o
) (t x

+
=
0
) ( ) ( ) ( * nT t t x t x o
) ( ) ( ) (
*
n p t x t x
o
=
Por lo tanto podemos establecer el siguiente modelo:

+
=
=
o
o
n
nT t t x t x ) ( ) ( ) ( *
Esta expresin temporal es una buena descripcin para la seal
muestreada, y permite justificar, como se vera a continuacin,
que en forma discreta sea tratada como secuencia.

+
=
0
) ( ) ( ) ( * nT t t x t x o
Esta seal claramente es un tren de impulsos con peso determinado
por el valor de la seal en t=nT y valor =0 entre ellos.

+
=
0
) ( ) ( ) ( * nT t nT x t x o
Aplicando Transformada de Laplace SOLO al kasimo impulso
de la seal muestreada:
{ } dt e kT t nT x kT x L
st

=
}
) ( ) ( ) ( *
0
o
{ }
sKT st
e kT x dt e kT t nT x kT x L

}
= =
0
) ( ) ( ) ( ) ( * o
kT 0
t
x(kT)
Repitiendo para cada impulso y sumando:
snT
n
e nT x s X

=
0
) ( ) ( *
Como la transformada Z de una SECUENCIA DISCRETA es:
{ }
n
n
z n x n x Z z X

= =
0
) ( ) ( ) (
Y z=e
sT,
es fcil comprender que una secuencia discreta
puede ser entendida como los valores muestreados
consecutivamente de una seal de t continuo sin mayor
problema.

+
=
=
m
t jmw
m
s
e C t p ) (
o
Escribiendo el tren de Impulsos como Serie de Fourier compleja se
puede obtener mas informacin de la seal muestreada.
Donde: }
+

=
2 /
2 /
) (
1
T
T
t jmw
m
dt e t p
T
C
s
o
T
C
m
1
=

+
=
=
m
t jmw
s
e
T
t p
1
) (
o
Con lo que la seal muestreada puede tambin escribirse:

+
=
= =
m
t jmw
s
e
T
t x t p t x t x
1
) ( ) ( ) ( ) ( *
o

+
=
= =
m
t jmw
s
e t x
T
t p t x t x ) (
1
) ( ) ( ) ( *
o
O sea:
En esta forma es fcil interpretar la caracterstica de esta seal en
el dominio frecuencial aplicndole la transformada de Fourier.
{ }
}
+

= = dt e t x t x F jw X
jwt
) ( ) ( ) (
Recordando:
{ }
}
+

= = dt e t x t x F jw X
jwt
) ( * ) ( * ) (
*
Analogamente,
para la seal
muestreada:
}

+

+
=
= dt e e t x
T
jw X
jwt
m
t jmw
s
) (
1
) (
*
}

+


+
=
= dt e t x
T
jw X
t mw w j
m
s
) ( *
) (
1
) (
{ }
{ }
) ( ) (
1
jw X t x
F
F

}
+
=
+


=
m
t mw w j
dt e t x
T
jw X
s
) ( *
) (
1
) (

+
=
=
m
s
mw w X
T
jw X ) (
1
) ( *
En forma mas simple y decidora.
Intercambiando Int. Y Sumas:
Que dice que si el Spectrum de la seal x(t) tiene una forma
especfica, el SPECTRUM DE LA SEAL MUESTREADA
tiene la misma forma (misma informacin) escalada en 1/T
pero aparece infinitas veces desplazado en mltiplos de la
frecuencia de muestreo, mw
s
Situaciones posibles:
{ } ) ( ) ( t x F jw X =
+
=
=
m
s
mw w X
T
jw X ) (
1
) ( *
1- x(t) es una seal de banda limitada con w
h
menor que w
s
/2.
En este caso la seal muestreada poseer lbulos claramente separados en
su Spectrum, sin que aparezcan componentes lias. Como consecuencia de este
hecho, con un filtro PB adecuado se podr recuperar el lbulo original y
consecuentemente x(t).
2- x(t) es una seal de banda limitada con w
h
mayor que w
s
/2.
En este caso, los extremos de los lbulos adyasentes se deformarn entre si
originando componentes lias, y ser imposible recuperar la seal original.
3- x(t) es una seal de banda ilimitada.
En este caso, al muestrar la seal, los lbulos adyacentes interactuarn entre
si deformando la resultante con respecto a la forma del lbulo de la seal x(t).
Dos casos generales para seales de BW limitada (BWh)
Para el caso de frecuencia nica:
Banda Base
Primera Banda
Superior
Qu sucede con las Bandas a medida que se incrementa wo?
Frecuencias lias.
Ejemplo:
(Solo se
muestra el lado
positivo del
Spectrum)
Cmo evitar componentes Alias en un DSP?
La nica forma de evitar la presencia de componentes alias
en un DSP es no permitiendo que ellas sean muestreadas por el
DSP, es decir evitando su ingreso.
Lo anterior se consigue con un Filtro Anti-alias (FAA)
analgico conectado antes del muestreador de cualquier DSP.
Filtro Anti-alias
PB ideal.
Ejemplo sin FAA.
Seal alias de
esta
Ejemplo con FAA real, dos casos.
Modelacin del Muestreo
por tren de Pulsos.
Este modelo es mas realista en el sentido que
aproxima mejor el comportamiento del
muestreador. (Que fisicamente no puede
muestrear en 0 segundos).
Asume que el Switch esta cerrado un tiempo
breve.
) (t p
La carrier es ahora un tren de pulsos de
amplitud unitaria y cierto ancho.

+
=
=
m
t jmw
m
s
e C t p ) (
Escribiendo el tren de PULSOS como Serie de Fourier compleja se
puede obtener mas informacin de la seal muestreada.
Donde:
}
+

=
2 /
2 /
) (
1
T
T
t jmw
m
dt e t p
T
C
s
(
(

= =

+

}
2 2
2 /
2 /
1
1
1
t t
t
t
s s
s
jmw jmw
s
t jmw
m
e e
Tjmw
dt e
T
C
(
(

=

2
2
2
2
2
1
t t t t
t
T
jm
T
jm
m
e e
jm
C
(
(
(

=

2
1
j
e e
m
C
T
jm
T
jm
m
t
t
t
t
t
Para m=0:
T
dt
T
C
t
t
t
= =
}
+

2 /
2 /
0
1
1
Resumen d
T
dt
T
C = = =
}
+

t
t
t
2 /
2 /
0
1
1
y | | ) sin(
1
d m
m
C
m
t
t
=
) ( * d m Sinc d C
m
t =

+
=
+
=
= = =
m
t jmw
m
t jmw
m
s s
e d m Sinc
T
t x e C t x t p t x t x ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( * t
t
La seal muestreada es entonces:
Su forma es exactamente igual al muestreo por IMPULSOS, pero en este
caso los coeficientes Cm no se mantienen constantes en 1/T sino
disminuyen con el indice frecuencial.
Esto simplemente significa que los lbulos mas lejanos de cero son mas
pequeos o menos significativos, la envolvente de los lbulos es la
funcin Sinc.
TAREA. Determine la relacin de amplitudes del lbulo central
con respecto al primer y segundo lbulo superior para cuando el
ciclo de trabajo del tren de pulsos es 5%
T
d como
t
=
Amplitudes de los lbulos central y adyacentes en funcin del ancho del pulso de muestreo d.
-20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20
-0.04
-0.02
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
Cm=d*Sinc(m*pi*d)
Indice "m"
C
m
Caso de d=0.1
-20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20
-0.2
-0.1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
Cm=d*Sinc(m*pi*d)
C
m
Indice "m".
Caso de d=0.5
Error de Incertidumbre.
Tc
t(seg)
x A
V
a
l
o
r

E
x
a
c
t
o
xi(t)
T
V
a
l
o
r

E
x
a
c
t
o
nT (n+1)T
Tc
dt
dx
x
MAX
* = A
Error de Incertidumbre:
Caso 1- Sin Retentor, el tiempo
t del Sampler es igual al Tc
de conversin.
Caso 2- Con Retentor, el
tiempo de adquisicin del
Muestreador es t es muy
pequeo y luego el ADC
convierte en Tc.
Error de Cuantizacin,
Conversor ADC.
C.T Ideal (para infinitos bits)
2 2
Q
q
=
A
= c
FE
N
FE
Q
2
= A =
Ejemplo caso Unipolar, N=3, FE=8V.
2 4 6
0
8 Vi 1 3 5 7
Salida
del ADC
000
001
010
101
011
100
Caracterstica de Transferencia de un ADC
N=3
110
1000
FEi=8V
Q
111
FEd
-Q/2
+Q/2
Q
Error
-Q
Q
CT Ideal
1
V
o
l
t
N
FE
Q
2
=
1
2
+

=
N
Q
c
+4V
-4 V
+0V
+3V
+2V
+1V
-1V
FE=100%
FE=8 V
-2V
-3V
100
101
110
111
001
010
011
Q
3
+4V
-4 V
+0V
+3V
+2V
+1V
-1V
FE=100%
FE=8 V
-2V
-3V
100
101
110
111
001
010
011
Q
3
1000
1001
1010
1011
1100
1101
1110
1111
Q
4
0001
0010
0011
0111
0110
0101
0100
+0V
+1V
+2V
+3V
-1V
-2V
-3V
+0.5V
-0.5V
-1.5V
-2.5V
-3.5V
-1.5V
-2.5V
-3.5V
Ejemplo caso Bipolar, FE=8V.
a) N=3
b) N=4
Visin temporal del error de cuantizacin.
N
FE
Q
2
= A =
Problema ejemplo:
Un conversor A/D bipolar que opera con FE 5 Volts se utiliza para muestrear
una seal coseno de amplitud mxima 4 volts y frecuencia mxima de 10 KHz.
Se desea que q+V0.1%
a) Determine una frecuencia de muestreo adecuada.
b) Determine un N mnimo adecuado y el tiempo mximo de
conversin del A/D suponiendo que no se utiliza un SH.
Referencia:
Respuestas:
a) 40Ksps<fs<80Ksps
b1) N=10
b2) Tc<3.02 s ,habr una
solucin mas econmica?
Investigue una solucin con SH con Ta=3s mas un ADC ,
que Tc requiere el ADC?
Conclusiones.
1- El proceso de sampling permite transformar una seal de tiempo continuo en una
secuencia discreta, la que luego de cuantizarse puede ser procesada por un DSP.
2- El proceso de sampling genera lbulos imgenes del lbulo frecuencial de la seal
que se muestra. Si la seal tiene banda limitada y la frecuencia de muestreo es mayor
que dos veces la banda de la seal, entonces se puede recuperar totalmente la seal
original. Teorema de Shannon.
3- Siempre es recomendable utilizar un FAA antes de muestrear una seal para
evitar que componentes alias poluten al DSP..
4- Al cuantizar una seal se introduce un error de cuantizacin, para N>16, este
error se torna despreciable frente al FE.
5- Para logar una recuperacin exacta de la seal de entrada x(t), a la salida del
DSP se requiere un sistema con caracterstica de PB Rectangular y fase lineal con
frecuencia de corte de f
s
/2.