Curso OMICRON Eletronorte

CURSO CAIXA DE TESTE
OMICRON
Eng. Geraldo Magela Aoun
Hardware
CMC 256 3 Phase / 6 Phase Test Set CMC 256-6 EP 6 Phase Test Set (Extended Precision)
Voltage outputs 0 ... 300 V For testing protective relays with higher voltage requirements (up to 600 V single phase) in industry, measuring transducers and meters. Fourth, independenty controllable voltage output 0 ... 300 V e.g. for convenient testing of synchronizing devices or generation of residual voltage. Independent DC supply (0 ... 264 V, 50 W) e.g. for relay power supply.
CMC 256 The CMC 256 is available
in two versions: the six phase CMC 256-6 with 6 x 12.5 A current outputs, and the three phase CMC 256-3 with 3 x 25 A current outputs.
CMC 256-6
Current outputs 6 x 12.5 A or 3 x 25 A Higher power for testing electromechanical relays without an additional amplifier. Six current outputs (CMC 256-6) allows Compared to the CMC 156, testing of two-winding transformer the CMC 256 offers differential protection without an additional the following additional external current amplifier. features:
Analog measurement inputs (with EnerLyzer option) Supplements all ten binary inputs with analog measurement functions for voltages of up to 600 V and currents (with current clamps). Amplitude, frequency, phase, power measurement, recording and analysis of transient signals, event trigger etc.
Specifications1
Generator/amplifier section
Voltage generators/amplifiers Setting range 4-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L) dc (L-N) Power 3-phase ac (L-N) VL4 ac (L-N) 4-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L) dc (L-N) Accuracy Distortion (THD+N)2 Output voltage range Resolution (see diagram) 4 x 0 ... 300 V (VL4(t) automatically calculated: VL4=(VL1+VL2+VL3) * C or free programmable) 1 x 0 ... 600 V 4 x 0 ... 300 V 3 x 85 VA at 85 ... 300 V 1 x 85 VA at 85 ... 300 V 4 x 50 VA at 75 ... 300 V 1 x 150 VA at 75 ... 300 V (typ. 200 VA at 100 ... 300V) 1 x 150 VA at 150 ... 600 V 1 x 360 W at 300 V error < 0.025% typ. (<0.1% guar.) at 30 ... 300 V <0.015% typ. (<0.05% guar.) 150 V, 300 V 5 mV in 150 V range 10 mV in 300 V range
CMC 256-3 Current generators/amplifiers (or CMC 256-6 group A and B in parallel) (see diagram) Range 25 A Setting range 3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 25 A 1-phase ac (3L-N) 1 x 0 ... 75 A dc (L-N) 1 x 0 ... 35 A Power 3-phase ac (L-N) 3 x 140 VA at 15 A 1-phase ac (L-L) 1 x 280 VA at 15 A 1-phase ac (L-N) 1 x 420 VA at 45 A dc (3L-N) 1 x 470 W at 35 A Range 2.5 A Setting range 3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 2.5 A Power 3-phase ac (L-N) 3 x 25 VA Resolution 100 A / 1 mA in 2.5 A / 25 A range Current generators/amplifiers Accuracy Distortion (THD+N)2 Max. compliance voltage A, B general: error < 0.03% typ. (<0.1% guar.) < 0.025% typ. (<0.07% guar.) 10 Vrms , 15 Vpk
CMC 256-6 current generators/amplifiers Current amplifiers group A and/or B Range 12.5 A Setting range 3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 12.5 A 1-phase ac (3L-N) 2 x 0 ... 37.5 A dc (3L-N) 2 x 0 ... 17.5 A Power 3-phase ac (L-N) 6 x 70 VA at 7.5 A 1-phase ac (3L-N) 2 x 210 VA at 22.5 A 1-phase ac (L-L) 2 x 140 VA at 7.5 A dc (3L-N) 2 x 235 W at 17.5 A Resolution 500 A Range 1.25 A Setting range 3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 1.25 A Power 3-phase ac (L-N) 6 x 12.5 VA at 1.25 A Resolution 50 A Group A and B in series Power 1-phase ac (IL1A-IL1B) External connection (IL2A - IL2B) 280 VA at 7.5 A (40 Vrms)
Low Level outputs LL out 1-6 Setting range 6 x 0 ... 10 Vpk (LL out 1-6) Max. output current 1 mA Accuracy error < 0.025% typ. (<0.07% guar.) at 1 ... 10 Vpk Resolution 250 V 2 Distortion (THD+N) <0.015% typ. (<0.05% guar.) unconventional CT/VT simulation linear, Rogowski Overload indication Yes Isolation SELV Usability Complete independent usable from the internal amplifier outputs Generators, general Frequency range Sine signals Transient signals Frequency accuracy/drift Frequency resolution Phase angle range Phase resolution Phase error Bandwidth (-3dB) Connections Amplifier outputs
10 ... 1000 Hz dc ... 3.1 kHz 0.5 ppm / 1 ppm < 5 Hz -360 ... +360 0.001 <0.02 typ. (<0.1 guar.) at 50/60Hz 3.1kHz All signals on 4mm banana sockets on front panel; Output VL1..VL3 and N and Output IL1-IL3 and N of Group A on 8 pin amplifier combination socket 16 pin combination socket (rear side)
Low Level outputs LL out 1-6
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HARDWARE
All voltage and current generators are continuously and independently adjustable in amplitude, phase and frequency. All current and voltage outputs are fully overload and short-circuit proof and protected against external high-voltage transient signals and overtemperature (indication in the software via error message). The generator/ amplifier circuits and mains circuits are galvanically separated. Current, voltage, dc auxiliary and binary/analog input circuits are galvanically separated from each other.
Timer/measuring section
Binary inputs Number Trigger criteria Input characteristic Resolution of threshold Sample rate Resolution Max. measuring time Counting function Galvanic isolation Max. input voltage Connection 10 inputs Toggling of potential-free contacts or dcvoltage compared to threshold voltage 0 ... 600 Vdc threshold, or potential free 2 mV, 20 mV, 200 mV, 2 V, 20 V in range 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms) 10 kHz 100 s Infinite <3 kHz, at pulse width >150 s 5 groups (2+2+2+2+2) 600Vrms (850Vpk) 4 mm banana sockets on front panel (combined with analog inputs)
Aux. dc supply Output voltage ranges
Power Accuracy Connection
0 ... 264 Vdc, 0.2 A 0 ... 132 Vdc, 0.4 A 0 ... 66 Vdc, 0.8 A max. 50 W error < 2% typ. (< 5% guar.) 4mm banana sockets on front panel
Short circuit protected, isolated from all other galvanic groups, overload signal indication.
Voltage amplifiers
150
1-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L)
Counter inputs 100 kHz Number Max. counting frequency Pulse width Threshold voltage Voltage hysteresis Max. input voltage Isolation Connection Binary outputs Relays Number Type Break capacity ac Break capacity dc Connection Transistor Number Type Update rate Imax Connection
2 100 kHz >3 s 6V 2V 30 V SELV 16 pin combination socket (rear side)
Output power [VA]
3-phase ac (L-N)
85
4 Potential-free relay contacts, controlled via software Vmax: 300 Vac, Imax: 8 A, Pmax: 2000 VA Vmax: 300 Vdc, Imax: 8 A, Pmax: 50 W 4 mm banana sockets on front panel
75 150
300
600
Output voltage [V]
4 Open collector transistor outputs 10 kHz 5 mA 16 pin combination socket (rear side)
Current amplifiers
450
Group A and B in series (CMC 256-6 only) 1-phase ac (L-N)
dc voltage / dc current measuring inputs voltage measuring input range 0 ... 10 V current measuring input ranges 0 ... 1 mA, 0 ... 20 mA Accuracy error < 0.003% typ. (<0.02% guar.) Connection 4 mm banana sockets on front panel
Continued on next page
300
Output power [VA]
1-phase ac (L-L)
150
3-phase ac (L-N)
12.5
25
50
75
Output current [A]

Guaranteed values valid over one year within 73F10F (23C5C), in the frequency range of 10 ... 100 Hz at nominal value, analog measurement inputs at full-scale value. Specifications for three-phase systems under symmetrical conditions (0, 120, 240). 1 The specifications are both valid for the CMC 256-6 and the CMC 256-3, except where otherwise noted. 2 THD+N: Values at 50/60Hz with 20kHz bandwidth.
HARDWARE
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Hardware
CMC 256 3 Phase / 6 Phase Test Set (continued)
Analog ac+dc measuring inputs (optional, in connection with EnerLyzer1) Type ac+dc analog voltage inputs Number 10 Nominal input ranges 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms) Amplitude accuracy error < 0.06% typ. (<0.15% guar.) Bandwidth dc ... 10 kHz Sampling frequency 28.44kHz, 9.48 kHz, 3.16 kHz Input impedance 500 k // 50 pF Transient input buffer 3.5 s for all ten input channels at 28 kHz sampling frequency or 316 s with one channel and 3 kHz sampling frequency Current clamps Inputs usable with current clamps with voltage output or external shunt and standard current clamp Measurement functions Idc, Vdc, Iac, Vac, phase, frequency, power, energy, harmonics; Transient recording capability for all channels Input overload indication Yes Input protection Yes Max. input voltage 600 Vrms (850 Vpk) Galvanic isolation 5 groups (2+2+2+2+2) Connection 4mm banana sockets on front panel (combined with binary inputs)
CMC 256-6 EP (Extended Precision)

The CMC 256-6 is also available with the EP (Extended Precision) hardware option. The extreme high accuracy of the voltage and current amplifiers make the CMC 256-6 EP the ideal instrument for test and calibration of the newest energy meters (up to class 0.2S according to IEC687, 0 ... 300 V threephase); for special applications like development, type testing, acceptance testing, device calibration, or product demonstration, the additional features of CMC 256-6 EP provide a complete solution.
The EP option can be ordered together with a new CMC 256-6 unit, or an existing CMC 256-6 can be upgraded to include it.
The specifications differ from a standard CMC 256-6 in the following values4:
Current generators/amplifiers Accuracy error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)
General
Power supply Nominal input voltage Permissible input voltage Nominal frequency Permissible frequency range Power consumption2 Rated current Connection Environmental conditions Operation temperature3 Storage temperature Humidity range Vibration Shock EMC Emission Immunity Safety 110 - 240 Vac, 1-phase 99 ... 264 Vac 50/60 Hz 45 - 65 Hz 1.2 kVA at 115 V 1.6 kVA at 230 V 10 A Standard ac socket (IEC 60320)
Voltage generators/amplifiers Accuracy Generators general Phase error Temperature drift Output power Accuracy5 error <0.05% typ. (<0.1% guar.) related to set values (relative error) at 0.1 12.5 A (current amplifier group A or B, 50/60 Hz) and 50 300 V <0.001%/C typ. (<0.005%/C guar.) <0.005 typ. (<0.02 guar.) at 50/60 Hz 0.0025% / C error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)
Certifications Weight Dimensions Miscellaneous PC-Connection CMC 56/156 SW-compatible Signal indication (LED) Ground socket (earth)
0 ... +50C (+32 ... +122F) -25...+70C (-13 ... +158F) Rel. humidity 5..95%, non-condensing IEC 68-2-6 (20m/s2 at 10 ... 150Hz) IEC 68-2-27 (15g/ 11ms half-sine) CE conform (89/336/EEC), EN 61326-1 EN 50081-2, EN 61000-3-2/3 FCC subpart B of Part 15 Class A EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/5/6/11 EN 61010-1, EN 60950, IEC 61010-1, UL 3111-1 CAN/CSA-C22.2 No 1010.1 TV-GS; UL,CUL 15.7 kg (34.8 lb.) 450 x 145 x 390 mm (17.7 x 5.7 x 15.4)
temperature drift
Guaranteed values valid over one year within 23C 5C (73F 10F) in the frequency range of 10 100 Hz. Specifications for three-phase systems under symmetrical conditions (0, 120, 240). 1 Up to three inputs can be used for measuring rms values without the EnerLyzer option. 2 For line input voltages below 150V, a derating of the simultaneously available sum output power of the voltage/current amplifiers and the AuxDC will occur. All other technical specifications (e.g. the maximum output power of a single amplifier) are not affected. 3 For an operational temperature above +30C a duty cycle of up to 50% may apply. 4 All other specifications are completely equivalent to the data given for the CMC 256-6 standard unit. 5 Permissible load current outputs: Range 1.25 A: 0 1 and max. 1 VA, cos = 0.5 1 Range 12.5 A: 0 0.5 and max. 6 VA, cos = 0.5 1. Permissible load voltage outputs: max. 10 VA at 50 300 V, cos = 0.5 1.
Parallel port (IEEE1284-C connector) Windows - SW (Test Universe) >42V for AUX-dc, and voltage outputs 4mm banana socket; rear side
Self diagnostics of the hardware upon each start-up. Automatic supervision of the voltage and current outputs while testing.
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HARDWARE
Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 1
CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON
REL DE SOBRECORRENTE NO DIRECIONAL
1. QuickCMC 1.1 - Dados do Rel

Ajustes do Rel Valor de Pickup Curva Caracterstica Dial de Tempo Pickup Instantneo (I>>) Tolerncia para Pickup/Dropout Fase-Neutro 0,36 x Inom ou 1,8 A Very Inverse (VI) 1 5,5 x Ipickup 5% = 0,9 A
1.2 - Configurao do Hardware
1.2.1 - Ajuste a tenso para not used e a corrente para 3 x 12,5 A, como mostrado na figura acima. Confirme a seleo clicando em OK. 1.2.2 - Clique em Analog Outputs
1.2.3 Defina os nomes para cada sinal de corrente, por exemplo IA, IB, IC, IN e Jumpers. 1.2.4 - O terminal de conexo no rel pode ser especificado na terceira coluna. 1.2.5 Selecione com X nas colunas para IA, IB, IC e IN para especificar quais sadas da CMC so conectadas com o terminal do rel. 1.2.6 Clique em Binary / Analog Inputs
1.2.7 Defina a entrada binria 1 como Start , entrada binria 2 como Trip, entrada binria 3 como Trip 3 phase e entrada binria 4 como entrada binria 4. Em Display Name preencher como Start, Trip L-L, Trip L-N e Inst. 1.2.8 Selecione com X as respectivas entradas binrias (conforme ligao) 1.2.9 Defina as entradas binrias de 1 a 4 como Potential free atravs da seleo do check box. Se utilizarmos contatos com tenso, o nivel de trigger para cada entrada pode ser especificado separadamente.
1.3 Teste de Valres de Pickup L-N
1.3.1 Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a zero 1.3.2 No campo Step na opo Triple , selecione a opo CMC256-6I A 1.3.3 No campo Quantity escolha a opo I1 1.3.4 No campo Size preencha o valor 0,020 A (Step) 1.3.5 No campo Time entre com o valor de 1,00 s 1.3.6 Marque a opo Auto Step 1.3.7 Clique no boto On/Off para ligar a saida de corrente da CM 256-6 e clique na set acima. 1.3.8 A fase A de corrente ir aumentar gradativamente at que a entrada binria do sinal de trip start opere. 1.3.9 Isso ir acontecer para o valor de corrente da figura acima (1.8 A). Para anexar este dado ao relatrio de teste, clique em Add to report 1.3.10 No campo Title digite Teste PickUp Fase-Neutro, insira os comentrios no campo Comment , e em seguida classifique o resultado do teste como Passed ou Failed.
1.4 Teste de Valres de DropOut
L-N
1.4.1 Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC 1.4.2 A fase A de corrente ir diminuir gradativamente at que a entrada binria do sinal de Trip Start desopere. 1.4.3 - Isto ir acontecer para o valor de corrente de 1,720 A, para anexar este dado ao relatrio de teste, clique en Add to report. 1.5 Teste da curva de corrente x tempo (fase neutro) 1.5.1 A figura abaixo mostra o teste para 2 x Ipickup. 1.5.2 Desmarque as entradas binrias 1 e 2 deixando a caixa com o trigger somente para o trip fase neutro. 1.5.3 Clique no boto On/Off para ligar as correntes de sada da CMC 256 1.5.4 Clique no boto Hold Values para congelar a sada da CMC na configurao presente. 1.5.5 Entre agora com o valor de 3,6 A no campo da fase A 1.5.6 Clique novamente no boto Hold Values para descongelar a sada da CMC e aplicar a nova configurao. 1.5.7 Observe a resposta da entrada binria 3 para o tempo de trip. 1.5.8 Para capturar os dados do teste para o relatrio, clique no boto Add to Report . 1.5.9 Reseteie a corrente para 0 A, e repita o teste usando 3 X Ipickup (5,4 A) e 4 X Ipickup (7,2 A).
1.6 - Teste de Pickup instantneo 1.6.1 Desmarque a entrada binria 3 e marque a entrada binria 4 (Instantneo) 1.6.2 No campo Step na opo Triple , selecione a opo CMC256-6I A 1.6.3 No campo Quantity escolha a opo I1 1.6.4 No campo Size preencha o valor 0,05 A (Step) 1.6.5 No campo Time entre com o valor de 1 s. 1.6.6 Selecione a caixa Auto-Step 1.6.7 Clique no boto On/Off para ligar a sada de corrente da CMC 256. 1.6.8 Clique na seta acima. O teste ir iniciar at o trigger parar o teste. 1.6.9 Observe o resultado do teste : 1.6.9.1 1.6.9.2 O Pickup instantaneo 9,9 A O tempo de operao instantneo de 0,08 s.
1.6.10 Para capturar o dado do teste, clique em Add to Report
2. State Sequencer
2.1 Teste de Pickup e Droupout
2.1.1 Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A. 2.1.2 Escolha a opo Trigger em Detail View 2.1.3 Em Binary Trigger Condition selecione a logica 1 para a condio de trigger start 2.1.4 Clique em New State Icon ou selecione Edit | Insert State . Sera copiado o estado 1 com todos seus ajustes para o estado 2. 2.1.5 Edite o tempo do estado 2 para 0,2 s 2.1.6 Incremente os valores de corrente de 0,1 A para IA mantendo IB e IC iguais a zero. 2.1.7 Repita os itens 2.1.3 a 2.1.5 e incremente os valores de corrente da fase A at 1,9 A 2.1.8 Clique em New State ou selecione Edit | Insert State para criar o estado 5 l 2.1.9 Decresa o valor de corrente de 0,1 A para a fase A 2.1.10 Mude a logica de trigger Start no Trigger Tab para lgica 0 . 2.1.11 Repita os tens 2.1.7 e 2.1.8 at a corrente IA for igual 2,0 A. 2.1.12 Clique em New State ou selecione Edit | Insert State para criar o estado 8 2.1.13 Ajuste todas correntes em zero e o tempo para 1 s. 2.1.14 Desmarque a caixa Binary trigger condition , deixando somente maximum state time ativo.
State 1 2 3 4 5 6 7 8
Fase A 1,6 A 1,7 A 1,8 A 1,9 A 1,8 A 1,7 A 1,6 A 0A
Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Trigger Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 0 Start = 0 Start = 0 Nenhum
2.1.15 Selecione a opo Measurement View 2.1.16 Na primeira linha do Measurement Vies 2.1.16.1 Entre com o nome para o teste L-L PUV 2.1.16.2 Ignore Before ajuste para state 2 Isto significa que todos os estados antes deste sero ignorados. 2.1.16.3 Start Ajuste para State 2. Isto indica o primeiro estado onde a corrente muda e o rel da trip. 2.1.16.4 Stop Ajusta para Start 0>1 . Isto indica que a entrada binria Start passa da lgica 0 para a lgica 1 . 2.1.16.5 Tnom Ajuste para 0,400 s
Levantamento da curva corrente x tempo
Estado Pre falta 2 x L-N 2 x PUV L-N Pre falta 3x L-N 3 x PUV L-N Pre falta 4 x L-N 4 x PUV L-N Dead state
Fase A 0,0 A 3,6 A 0,0 A 5,4 A 0,0 A 7,2 A 0,0 A
Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Trigger Trip L-N =X Trip L-N =1 Trip L-N =X Trip L-N =1 Trip L-N =X Trip L-N =1 Nenhum
Teste de Pickup instantneo
Estado Inst L-N #1 Inst L-N #2 Inst L-N #3 Inst L-N #4
Fase A 9,7 9,8 9,9 10
Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A
Trigger Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1
Ramping
3.1 Teste de Pickup, Dropout e intantneo
3.1.1 No modulo Ramping Test View, defina quatro rampas consecutivas clicando no cone correspondente Four Ramp States . 3.1.2 Selecione IA no menu drop-down Signal 1 3.1.3 Selecione Amplitude no menu drop-down Function 3.1.4 Use a toolbar de navegao para mudar de estado 3.1.5 Entre com os dados para a avaliao conforme mostrado abaixo.
3.1.6 Escolha a opo General no Test View e entre com o numero de repeties que voce deseja. Se optar por 0x o teste ser executado uma nica vez. 3.1.7 Selecione State 1 Signal 1 no campo Ratio Calculation. O Ratio Calculation automaticamente ir calcular o pickup e o dropout do rel.
3.1.8 Todos os valres que so estticos durante a sada da rampa so definidos no Analog Outputs no Detail View. Os valres da rampa so mostrados com fundo cinza; os valres estticos so mostrados em fundo branco ou amarelo. Voce pode editar os valres estticos manualmente.
3.1.9 Para o state 1 entre com IA =1,6 A, como mostrado acima. 3.1.10 Para o state 2 entre com IA = 2 A 3.1.11 Para o state 3 entre com IA = 0 A 3.1.12 Para o state 4 entre com IA = 9 A 3.1.13 necessrio informar os contatos que iro operar para o pickup e para o dropout do rel. No exemplo acima, o contato de partida conectado na entrada binria 1 e chamado de start. 3.1.14 Selecione a opo Trigger no detail view 3.1.15 Habilite as condies de trigger selecionando Binary trigger condition. As condies de trigger so definidas individualmente para cada estado da rampa. 3.1.16 Durante o estado 1, o contato de partida (start) ir fechar (passando do estado 0 para o estado 1). Consequentemente, A condio de trigger deve ser ajustada para Start = 1 para o estado 1.
3.1.7 No campo On Trigger selecione a opo Stop Ramp State. Desta forma, a rampa ser parada aps a condio de trigger acontecer, acelerando portanto o teste. 3.1.8 A opo Step Back habilita a sub-rampa para ser executada sendo possvel uma maior preciso em ensaios de pickup.
3.1.9 Ajuste a condio de trigger Start =0 para o estado 2 3.1.10 Para o estado 3 no selecione nenhum trigger 3.1.11 Ajuste a condio de trigger Inst = 0 e Start = X para o estado 4. Marque a caixa de verificao stop ramp State para os estados 2 e 4, deixando-os sem delay time.
Eng. Geraldo M. Aoun______________ GE-UR-D60__________________27/05/02_________________Pgina 1
REL GE UR D60 1. Ligaes do Rel
1. Ajustes e Clculos
1.1 FASE-FASE
1.2 FASE-NEUTRO
2. Construo das curvas caractersticas utilizando o software CMC
ZONA 1 MHO
PHS DIST Z1
PHS DIST Z1 SHAPE

MHO
PHS DIST Z1 REACH

2 OHMS
PHS DIST Z1 RCA

85 GRAUS
ZONA 1 QUADRILATERAL (FASE-FASE) PHS DIST Z1
PHS DIST Z1 SHAPE
PHS DIST Z1 REACH
PHS DIST Z1 RCA
PHS DIST Z1 RGT BLD

10
PHS DIST Z1 RGT BLD RCA

85O
PHS DIST Z1 LFDT BLD

10
PHS DIST Z1 LFT BLD RCA

85O
QUAD
10 OHMS
85 GRAUS
ZONA 1 MHO (FASE-TERRA)
GND DIST Z1
GND DIST Z1 SHAPE

MHO
GND DIST Z1 REACH

2 OHMS
GND DIST Z1 RCA

85 GRAUS
ZONA 1 QUADRILATERAL (FASE-TERRA)
GND DIST Z1
PHS DIST Z1 SHAPE
PHS DIST Z1 REACH
PHS DIST Z1 RCA
PHS DIST Z1 RGT BLD

10
PHS DIST Z1 RGT BLD RCA

85O
PHS DIST Z1 LFDT BLD

10
PHS DIST Z1 LFT BLD RCA

85O
QUAD
2 OHMS
85 GRAUS
Eng. Geraldo M. Aoun_______________7SA511______________________10/04/01_________________Pgina 1
3. TESTES 3.1 - Zone Settings
3.1.1 As tolerncias para cada teste (fase-terra AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC e trifsico A-B-C), devem ser ajustadas nesta tela. 3.1.2 Valores tpicos para o tempo e tolerncia da impedancia para rels numricos so de 5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerncia para a impedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerncia de tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos.
3.2 Default test settings . So includos na metodologia de teste. Os teste settings normalmente no precisam ser redefinidos para cada novo teste. Estes ajustes so independentes dos ajustes dos
rels. Se os ajustes dos rels so importados/exportados, estes ajustes no so afetados.
3.3 System Settings
O sistema de teste precisa conhecer alguns parmetros gerais do dispositivo de proteo para efetuar o teste com sucesso. Esses parmetros so vlidos para todas as zonas. 3.3.1 Line angle Angulo da linha 3.3.2 PT connection
Conexo do TP no lado da linha
Tenso Ps Falta V = 0 V
Conexo do TP no lado da barra
Tenso Ps Falta
V = VN
3.3.3 CT Startpoint
Em geral a corrente que flue em direo ao objeto a ser protegido definida com direo para a frente. Para o rel de distancia esta corrente flue na direo da linha. TC aterrado no lado da linha TC aterrado no lado da barra
Para a corrente primria fluindo em direo da linha e aterrando os TCs no lado da linha, a corrente secundria flue para o rel. Se os TCs so aterrados no lado da barra, a corrente flue para fora do rel para a mesma corrente primria. Ela esta fluindo na direo oposta ou tem 180 graus de defasagem. Especificando a direo do aterramento dos TCs, as correntes de falta so injetadas na direo correta.
3.3.5 CB simulation
Na seqncia de trip CB, a injeo das quantidades para o teste estendida aps a condio de trip ser recebida. Na seqncia de fechamento CB, o inicio da quantidade de teste atrasada aps o comando de fechamento CB ser emitido. Ambos tempos so sempre aplicados. Os parmetros 52a% e 52b% so usados para a simulao de contatos auxiliares de CB para seqncias de trip e close. As figuras mostradas abaixo, mostram a dependncia do tempo dos contatos 52a and 52b.
A simulao dos contatos auxiliares CB somente aplicada se a simulao de CB selecionada no Test View e as sadas binrias correspondentes so configuradas na configurao do hardware. 3.3.5 - Tolerances Valores tpicos para o tempo e tolerncia da impedancia para rels numricos so de 5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerncia para a impedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerncia de tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos. O tempo de trip uma quantidade importante quando compara valores nominais e atuais. Para realizar isto, o mximo valor derivado da tolerncia de tempo absoluta ou relativa usada. Para a tolerncia do tempo de trip, o maior entre cada tolerncia de tempo, valor positivo ou negativo, absoluto ou relativo usado. A tolerncia de tempo relativa atual determinada para cada tempo de trip gravado. Se a tolerncia relativa no requerida, especificar o menor valor (p.ex. 0.1 %). Para a avaliao do tempo de trip, o teste deve ser feito e o tempo de trip nominal comparado. Se o desvio abaixar dentro da banda de tolerncia especificada o teste classificado como OK. Para a tolerncia da impedancia o maior valor entre a tolerncia absoluta ou relativa usada. A faixa de tolerncia relativa atual determinada para cada zona sobre o angulo da linha. A maior tolerncia de impedancia aplicada uniformemente (p.ex. paralelo a cada lado em toda direo ao redor da caracterstica nominal) para produzir a faixa de tolerncia mostrada.
3.3.6 Grounding Factor
O grounding factor (ou fator de compensao para falhas terra) compensa a diferena entre impedancias de falha terra e impedancia para falhas entre fases medida pelo rel. Isto aplicado somente para falhas monofsicas entre fase e terra. Vrios caminhos para entrar com esse fator so disponveis para uma entrada simples do parmetro diretamente do ajuste do rel. RE/RL ou XE/XL KL = ZE/ZL = 1/3 (Z0/Z1 1 ) Z0/Z1 Z0 representa a impedancia de seqncia zero enquanto Z1 a impedancia de seqncia positiva da linha protegida. ZE o alcance para falhas terra (sem compensao) enquanto ZL o alcance para falha fase do rel.
3.3.7 Separate arc resistance Quando calculamos a impedancia a partir da tenso e corrente medidas, alguns rels consideram a resistncia de arco separadamente da poro da impedncia da linha. O rel assume que qualquer valor de impedancia de falta que desvia do angulo de impedancia da linha devido a resistncia de arco puramente resistiva. Adicionalmente estes rels consideram a resistncia de arco como uma resistncia de loop (por exemplo a resistncia de arco total no loop de falta), e no como uma resistncia de seqncia positiva. Usando o diagrama do circuito equivalente para uma falha fase-terra, Temos : Ztest = ZL + kL*ZL + RF. Ztest a impedancia de loop. Porque o diagrama R/X um diagrama de seqncia positiva, Ztest poder ser convertido numa impedancia de seqncia positiva. ZL a impedancia de seqncia positiva de ZL(1 + kL). A resistncia de arco RF precisa ser convertida para uma resistncia de seqncia positiva usando a funo Resistncia de arco separada : RF= RF/(1 + kL). A impedancia de teste de seqncia positiva Ztest igual a ZL + RF, que pode ser plotada no diagrama R/X. Ztest ento usada para calcular as quantidades para o teste, a serem injetadas usando a impedancia normal do rel. Portanto o Checkbox Para faltas fase-terra somam o valor RF/(1+kL) ao valor correspondente da impedancia
ZL. ZL derivado pela projeo da parte reativa de Ztest para o angulo da linha. Finalmente Ztest usado em vez de Ztest para calcular as quantidades do teste.
3.3.8 Impedance in primary values Em adio as entradas comuns em valores secundrios, as impedancias podem tambm ser entradas com valores primrios. Isto feito selecionando a caixa Impedance in primary values Selecione esta opo para entrar com as impedancias em valores primrios. Estes valores so convertidos para valores secundrios aplicando a seguinte equao : Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim
3.3.9 Impedance correction 1 A / I nom
Se a corrente nominal do rel 5 A , o calculo da impedancia tratado diferentemente para alguns rels. Se a equao para o calculo da impedancia usa mltiplos da corrente nominal para determinar a impedancia, esta opo dever ser selecionada
Z = Vtest / Itest / Inom
Se a equao da impedancia calcula a impedancia independentemente da corrente nominal, esta opo no dever ser selecionada.
Z = Vtest / Itest
3.4 - Device Settings
Device Entrada de dados do elemento protegido Substation Nome e endereo da subestao onde o elemento esta localizado. Bay Entre com o endereo e o nome do bay onde o elemento esta localizado Nominal Values Entre com os valores nominais (tenso, corrente, freqncia, corrente primria e tenso primria e numero de fases) Para o teste de rels convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustada aqui. Residual Voltage / Current factors Esses parmetros somente so relevantes se o rel tem transformadores de potencial / corrente separados para a tenso / corrente residual ( para o aumento da sensibilidade). A relao desses transformadores separados em relao relao dos transformadores das fases expressa com um fator que ser ajustado aqui.
Os ajuste padro so : VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tenso de fase forma a tenso residual na conexo delta aberto, e IN / Inom = 1 Esses fatores so suportados pelos mdulos de Distancia e Distancia Avanado.
Limits Entre com os mximos valores de tenso e corrente, que o dispositivo de teste capaz de fornecer (mximos valores possveis so determinados pelo teste de hardware)
Debounce / deglitch filters Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses valores so usados onde os sinais do algoritmo de suavizao so implementados.
1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal aps o filtro
3.5 Parametrizao dos testes 3.5.1 Selecionar a opo Search
O objetivo deste teste determinar o exato alcance das zonas individuais aplicando shotsao longo da linha de busca. O numero de shots calculado automaticamente usando o valor parametrizado em search resolution. Os valores de impedancia encontrados das zonas so mostrados. Uma comparao automtica dos valores nominais e atuais podem ser feitas se o mdulo de teste informado dos parmetros do rel.
3.5.1.2 - Clicar no boto Sequence 3.5.1.3 Definir os valores de Start angle, End angle e Angle step 3.5.1.4 - Definir ou o numero de steps ou Step angle 3.5.1.5 - Definir o valor de Lenght como relativo e preencher o valor de %Zone como 140% de ZA 3.5.1.6 - No campo Fault types escolher a opo All 3.5.1.7 - Pressionar o boto OK 3.5.1.8 Os pontos a serem testados para todos os tipos de faltas com as respectivas tolerncias esto definidos na figura abaixo.
3.5.2 Selecionar a opo trigger
Iro aparecer nesta opo todos os contatos que foram definidos na configurao do hardware do equipamento de teste (Binary/Analog input). A opo AND faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessrio que todas as entradas sejam satisfeitas conforme configurado. A opo OR faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessrio que apenas uma entrada seja satisfeitas conforme configurado. Cada contato pode ser configurado da seguinte forma : 1 0 X Contato tipo a Contato tipo b desabilitado
3.5.3 Selecionar a opo Settings
3.5.3.1 Ajustar o tipo de teste Corrente Constante 3.5.3.2 Ajustar a corrente de teste 2A 3.5.3.3 ajustar o tempo de pr falta e ps falta Pr falta = 0.5 s Mximo tempo de falta = 4 s (garantir que o mximo tempo de falta seja ajustado por um tempo maior que o retardo do elemento de trip do rel. Ps falta = 0.1 s (este ajuste deve ser aumentado para rels eletromecanicos para permitir que o rel reseteie corretamente) 3.5.3.4 Ajuste de fault inception mode : O angulo de fase da tenso e consequentemente o angulo da corrente de falha atravs da opo fault inception pode ser especificado. Alm da simulao da falta permanente, possvel simular o comportamento do transitrio de offset DC que resulta da simulao do modelo especifico RL. Para isso necessrio selecionar o checkbox DC-Offset. O angulo especificado em fault inception definido em referencia tenso de curto circuito. Isto depende do tipo da falha selecionada (monofsica, bifsica, trifsica). As seguintes opes so disponveis : Random O angulo do inicio da falta calculado para cada teste aleatoriamente Fixed angle O angulo de inicio da falta pode ser livremente ajustado. Se a caixa DC-offset esta ativada, a simulao do DC-offset feita. Maximum offset O angulo de inicio da falta escolhido tal que o mximo positivo e o mximo negativo DC offsets so simulados para prevenir a saturao dos TCs de entrada do rel. O mximo offset positivo presente no angulo do inicio da falta, igual ao angulo de impedancia menos 90 graus. O mximo offset negativo presente no angulo de inicio da falta igual a angulo de impedancia mais 90 graus. Zero offset Neste modo o angulo de inicio da falta igual ao angulo de impedancia. Nenhuma componente DC esta presente, fora para faltas trifsicas, onde nenhuma offset DC esta presente na fase A.
3.5.3.5 Allow reduction of Itest Se o modelo de teste com corrente constante selecionado e a tenso de teste calculada exceda a tenso nominal do rel, uma mensagem Out of Range sinalizada.
Igualmente se o teste com tenso constante selecionado e a corrente calculada exceda o mximo valor de corrente especificada para o rel a mesma mensagem sinalizada. Se esta alternativa selecionada, a tenso ou corrente de teste automaticamente adaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possvel. A corrente ou tenso de teste usada mostrada no relatrio.
3.5.3.6 - Time reference Os seguintes ajustes so possveis Fault inception Starting O tempo de trip de um rel de proteo o tempo medido desde o inicio da falta at o comando de trip do rel ser enviado. Este tempo registrado como Time reference = Fault inception. Outro modo de medir o tempo do Delay dos elementos, medir o tempo desde a partida do contato de pick-up at o comando de trip ser enviado. Este o tempo de delay atual do temporizador interno, excluindo-se o tempo de pick-up do rel, este tempo registrado como Time reference = Starting. Selecionando a referncia de tempo partida requer que um contato de partida do rel seja conectado e configurado no sistema de teste. Os sinais seguintes na configurao de hardware so automaticamente identificados : START, START A, START B, START C. Para rels de seleo de fase, a partida de fase correspondente usada para faltas monofsicas e o contato de partida mais rpido usado para faltas polifsicas.
3.5.3.7 Ignore nominal characteristics e search resolution No modo Search, a preciso e o numero de shots durante o teste depende do ajuste colocado em search resolution A busca para o alcance de impedancia atual parado, se a diferena da impedancia entre dois consecutivos shots, ambos identificados em diferentes zonas, for menor que o ajuste de search resolution. O maior de cada um dos valores de search resolution, (absoluto ou relativo) aplicado.
Z1 ACT
Trip em t1
Trip em t2 Max (Abs,rel) Tolerance band Z1 nominal
Quando estiver efetuando um teste de busca em uma caracterstica nominal conhecida, o shot inicial para busca dos alcances de zona so colocados no limite de tolerncia do alcance da zona. Se a caracterstica no for conhecida, que seria o caso de nenhuma zona ser definida para o rel, ento os shots iniciais so colocados em distancias fixas, de acordo com o valor definido no ajuste de search interval na linha de busca. Se o alcance da zona esperada entre dois shots, ento o teste feito acima do valor especificado de search resolution. Ainda que as zonas tenham sido definas para o rel, a opo de ignorar a caracterstica nominal pode ser usada para realizar o mesmo procedimento da caracterstica desconhecida. . 3.5.3.8 Extended zones active Inicialmente vamos definir o que so as zonas de proteo : Zona de Trip - o tipo mais comum, tem um tempo de trip correspondente a ele associado.
Zona de Partida - normalmente exterior a todas as zonas de trip, tem um tempo de pickup associado. Se a zona de partida for dividida em elementos no direcionais e direcionais (forward), necessrio entrar com duas zonas separadas. Zona estendida Similares s zonas de trip, entretanto somente esto ativas se a opo extended zones active estiver selecionada. Zona de no trip Pode ser usada como zona de informao (power-swing p.ex.), ou para definir sees de zonas de trip onde o trip no permitido ( rea de load encroachment).
Para testar as zonas de sobrealcance ou estendidas, as zonas relevantes devem primeiro ser definidas como zonas estendidas na caixa de dialogo da zone management. Selecionando Extended zones active, as zonas estendidas so mostradas na figura. Os resultados do teste so tambm comparados com as zonas definidas como zonas estendidas. Note que no rel, as zonas estendidas so normalmente ativas somente por um perodo limitado de tempo (por exemplo durante o religamento automtico) ou trabalham em conjunto com um contato de entrada do rel (por exemplo esquemas de teleproteo ou comando de fechamento manual para o CB). Se uma sada binaria for configurada como Ext. zones active na configurao de hardware, esta sada pode ser usada para simular aquele contato do rel. A temporizao da sada binria pode ser ajustada na pagina de configurao do trigger. A simulao do contato e ajuste do tempo podem somente ser acessados se as a seleo das Extended Zones estiver ativada.
3.5.4 Selecionar a opo Shot O objetivo deste teste checar os alcances das zonas individuais e seus tempos de trips usando quaisquer pontos de teste. A medio do tempo de trip mostrada como resultado. Uma comparao automtica dos valores nominais e atuais podem ser realizados se o mdulo conhece os parmetros do rel. O procedimento completo para teste baseado nos seguintes itens : 3.5.4.1 Definio dos pontos de teste Primeiro, defina o tipo de falta
Entrada de dados numrica
tambm possvel definir os pontos de teste como valores absolutos de impedancia pela marcao no checkbox Absolute ou relativo, pela desmarcao do checkbox. Pontos de teste relativos esto situados na linha especificada pelo angulo Phi e referese a interseco com a borda da zona nominal selecionada no Zone drop down menu.
Para adicionar pontos de teste na lista de pontos de teste para o tipo de falha selecionada, clique em Add. Clicando em Add to... adicione pontos de teste para diversos tipos de falta. Para remover pontos de teste da lista, clique em Remove (para o tipo de falha selecionado) ou Remove All (para todos os tipos de falha). Selecionando os pontos de teste no plano de impedncia Clique no boto esquerdo do mouse no plano de impedancia e selecione a impedancia do ponto de teste. Pressione Add para adicionar o ponto de teste lista de pontos de teste. Clique na tecla Ctrl + boto esquerdo do mouse no plano de impedancia para adicionar o ponto selecionado diretamente lista de pontos de teste. Clicando no boto direito do mouse no plano de impedncias o menu contextual para o grfico aberto.
Zoom ativa a funo de ampliao do grfico
3.5.4.2 Incio do teste de Shot A premissa bsica para o sucesso do teste a correta configurao do hardware do dispositivo a ser testado e a definio das corretas condies de Trigger (item 3.5.2). Teste com um Shot individual As correntes e tenses correspondentes ao tipo de falta selecionada so aplicadas ao rel. Para iniciar o teste click em ou selecione Test / Single Test tambm possvel iniciar o teste diretamente do plano de impedancias ou diagrama Z/t , pelo posicionamento do mouse no plano de impedancias e pressionando Shift + boto esquerdo do mouse. Teste com uma lista de Shots Para todos os tipos de faltas, as correntes e tenses correspondentes para cada shot definido no ponto de teste aplicado ao rel. Para iniciar o teste clique em ou selecione Test / Start/Continue. A execuo do teste pode ser pausada clicando on Pause. Clicando em ou selecionando Test /
ou selecionando Teste / Stop o teste interrompido. Para ou selecione
limpar o resultado do teste e permitir um novo teste clique em Test / Clear.
Lembre : Antes de um novo teste ser iniciado, os resultados dos testes antigos devem ser limpos
3.5.4.3 Avaliao do teste de Shot Anlise do teste na tela
A janela de resultados para o teste de shot, contm informaes sobre o tempo de trip medido para a corrente do ponto de teste na lista de pontos de teste e sobre o resultado da avaliao automtica.
Passed 1. 2. 3. failed not tested out of range (Zmin > |Z| > Zmax)
Se o modelo de teste com corrente constante selecionado e a tenso calculada excede a tenso nominal do rel, a mensagem mostrada para este teste Out of Range. Igualmente se a tenso de teste constante selecionada e a corrente calculada excede a mxima corrente especificada para o rel, a mensagem mostrada para este teste Out of Range. Se o checkbox selecionado, a corrente de teste (ou tenso) automaticamente adaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possvel. A corrente de teste (ou tenso) usada mostrada no relatrio. Quando o teste para grandes alcances for executado, a corrente de teste injetada dever sempre ser maior que a mnima corrente de pick-up para o rel. Se o rel utiliza a tenso dependente da corrente de partida, assegure que a tenso de teste seja sempre menor que a tenso ajustada de pick-up.
Anlise na lista de pontos de teste . Em adio aos parmetros de teste (R, X, Z, phi, I, V ...) os tempos atuais e nominais de trip so mostrados. De maneira a obter uma vista especfica do usurio diferente da vista standart, clique o boto direito do mouse na lista de pontos de teste para abrir um menu contextual podendo as colunas serem mostradas ou escondidas. A largura das colunas podem tambm ser ajustadas.
Na primeira coluna o resultado mostrado imediatamente aps a teste usando diferentes smbolos. Esses smbolos so mostrados abaixo :
3.4.4 Selecionar a opo Check Anlise Grfica No plano de impedancias, os pontos de teste so mostrados usando os mesmos smbolos como nas colunas da lista dos pontos de teste. O progresso do teste pode ser facilmente monitorado. Clicando o boto direito do mouse no plano de impedncias o menu contextual aberto para o grfico que da acesso aos ajustes do grfico do plano de impedancias.
Anlise no relatrio do teste O relatrio do teste mostrado clicando no boto Report. ou selecionando a opo View /
O exemplo acima mostra como o relatrio de teste mostra os dados de cada ponto de teste, os valores nominais e atuais dos tempos de trip e a avaliao automtica. O teste foi feito para falhas do tipo L1-E (fase L1 terra) e L2-E (fase L2 terra). Devido ao usurio poder modificar o contedo do relatrio para que contenha seu requisitos especiais, informaes adicionais podem tambm ser mostradas aps o teste ser completado.
3.5.5 Selecionar a opo Check
O plano de impedancias usado com vista para o teste. As tenses e correntes so calculadas automaticamente. O objetivo do teste checar os alcances e tempos de trip das zonas individuais acima e abaixo do alcance. Isto feito usando dois shots para cada zona. Esta a principal modificao no procedimento do teste de shot onde os pontos de teste so automaticamente ajustados na linha de check. O resultado mostra o tempo nominal e atual de trip bem como a sua avaliao. O teste somente possvel se a caracterstica nominal especificada. O procedimento completo baseado nos seguintes itens :
3.5.5.1 Definio das linhas de check
Primeiramente selecione o tipo de falta para o qual o teste ser executado. Entradas numricas : A linha de check definida pela origem ( que pode ser definida em coordenadas polares ou retangulares) e angulo.
O comprimento da linha de check pode ser definido at a impedancia relativa ou absoluta (relacionada para uma das zonas).
Se o teste ser executado ao longo de vrias linhas de check, mltiplas linhas de check podem ser adicionadas lista de linhas de check pela seleo da opo Add (para o tipo de falha selecionada). Se a linha de check for usada para vrios tipos de falhas, selecione Add to... Para remover linhas de check da lista, clique em Remove (para o tipo de falha selecionada) ou Remove All ( para vrios tipos de falhas). A opo Sequence permite a entrada de vrias linhas de check com steps de ngulos uniformes usando o mesmo ponto de origem. Selecionando no plano de impedancias :
Boto esquerdo + arrastar ( enquanto o boto estiver pressionado) para definir a linha de check. (use Add para adicionar o item lista) Ctrl + boto esquerdo + arrastar para adicionar a linha de check diretamente lista de linhas de check. Clicando o boto direito do mouse no plano de impedncias o menu contextual aberto para o grfico que da acesso aos ajustes do grfico do plano de impedancias.
3.5.5.2 Inicio do teste de check A premissa bsica para o sucesso do teste a correta configurao do hardware do dispositivo a ser testado e a definio das corretas condies de Trigger (item 3.5.2). Teste ao longo da linha de corrente O teste executado para o tipo de falha selecionada e somente ao longo da linha de check selecionada. Para iniciar este teste clique em ou seleciona Test / Single Teste no menu. tambm possvel para iniciar o teste diretamente do plano de impedncias pelo posicionamento do mouse no plano de impedancia e pressionando-se Shift + boto esquerdo do mouse. Teste ao longo de vrias linhas Para todas as linhas especificadas, os tempos de trip para cada ponto de teste so medidos um aps o outro e comparados com os valores nominais e atuais. Para partir este teste clique em ou selecione Test / Start/Continue e menu. ou
O andamento do teste pode ser paralisado pressionando-se o boto selecionando Test / Pause no menu. Clicando em
ou selecionando Test / Stops o
teste encerrado. Para limpar o resultado do teste e executar um novo teste clique em ou selecione Test / Clear no menu. Lembre-se : Antes de iniciar um novo teste os resultados do teste anterior devero ser limpos. 3.5.5.3 Avaliao do teste de check Aps a execuo do teste as seguintes anlises possveis so disponveis :
Anlise da lista de linhas de check
Devido cada linha incluir vrios testes de shots em diferentes zonas, no possvel mostrar resultados detalhados aqui. Em vez disso, a origem e o angulo de busca so usados para identificar o teste. A largura das colunas podem ser ajustadas. Colunas podem tambm ser escondidas pela seleo da mesma e pelo boto direito do mouse. Um menu contextual aberto que mostra as vrias opes. As colunas de estado mostram os resultados da avaliao de um especfico teste de check com diferentes smbolos, mostrados abaixo :
Anlise grfica No plano de impedancias os pontos de teste so mostrados usando os mesmos smbolos como no teste de shot. O progresso do teste pode ser monitorado pela visualizao do teste corrente em destaque. Para a analise detalhada diferentes opes so disponveis. Clicando no boto direito do mouse no plano de impedancias um menu contextual aberto para o grfico, permitindo por exemplo a mudana da vista.
Anlise no relatrio do teste O relatrio do teste mostrado clicando no boto Report. ou selecionando a opo View /
Na opo report, a tabela mostra os resultados detalhados do teste. Como o usurio pode especificar a informao que o relatrio ir conter, tambm possvel mostrar informaes adicionais aps o teste ser completado.
3.6 Metodologia de teste 3.6.1 Modelo de simulao utilizado O circuito equivalente RL, abaixo, usado para cada fase
A impedncia da fonte Zs precisa ser calculada para se obter a relao entre a tenso nominal VN e a tenso do rel VR.
Dois modelos de teste esto disponveis para a execuo do teste :
Corrente de teste constante O software guarda a corrente de teste especificada Itest constante e calcula a tenso do rel usando a impedancia de falta definida Ztest. Os testes somente so possveis se a tenso de teste menor que a tenso nominal do rel. O mximo alcance para cada tipo de falta, onde a tenso de teste igual a tenso nominal, mostrada na tela. Para o teste acima destes limites, a corrente de teste tem que ser reduzida manualmente ou pela aplicao da adaptao automtica das quantidades de teste.
As equaes mostradas abaixo somente se aplicam para rels que usem o fator de terra KL. Tambm para rels que considerem a resistncia de arco separadamente estas formulas no so vlidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possvel depende tambm da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependncia.
Tenso de teste constante O software guarda a tenso de teste especificada Vtest constante e calcula a corrente de falta usando a impedancia de falta definida Ztest. Os testes somente so possveis se a mxima corrente especificada no General Parameters no for excedida. O mnimo alcance para cada tipo de falta, onde a corrente de teste calculada igual a mxima corrente especificada mostrada na tela. Para testes abaixo destes limites, a tenso de teste tem de ser reduzida manualmente ou pela aplicao da adaptao automtica das quantidades de teste.
As equaes mostradas abaixo somente se aplicam para rels que usem o fator de terra KL. Tambm para rels que considerem a resistncia de arco separadamente estas
formulas no so vlidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possvel depende tambm da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependncia.
3.6.2 Temporizaes
Cada shot consiste principalmente de 3 estgios : Pr-falta, Maxima-falta e Ps-falta. O mximo tempo de falta somente efetivo se as condies de trigger no so encontradas durante este tempo. Se o tempo de trip CB especificado.
A presena de tenso no estado de Ps-falta depende da localizao do transformador de potencial.
3.6.3 Tipos de Faltas
Para a
nas V = Vn e I = 0 A. O angulo f o angulo da impedancia de falha, por exemplo o angulo entre a corrente de falha atrasada da tenso de curto circuito (se a impedancia de falha indutiva)
simulao admitimos fase sem
que falta
3.7 Configurao do Hardware Escolha o cone (Hardware Configuration) no menu.
3.7.1 General
Clicando no boto Details aberta uma caixa de dialogo onde a configurao desejada para o teste pode ser ajustada.
Abaixo, mostramos todas as opes possveis para a configurao do equipamento de teste. SADA DE CORRENTE 6X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms
SADA DE TENSO 4X300V;85VA@85V;1Arms
SADA DE CORRENTE 3X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms
SADA DE TENSO 3X300V;50VA@75V;660mArms
SADA DE CORRENTE 3X25A;140VA@15A;10Vrms
SADA DE CORRENTE 1X75A;420VA@45A;10Vrms
Este checkbox permite o chaveamento para on ou off da mensagem de advertncia da fiao. Se estiver ativa lembrar voc de checar fisicamente a fiao de seu hardware toda vez que voc mudar os ajustes da fiao no software.
Search. Clicando neste boto busque por dispositivos conectados. Normalmente isto no necessrio para executar a busca manual, porque o software automaticamente procura dispositivos de teste conectados. (Automaticamente procura por dispositivos conectados acontecendo quando da partida do Control Center, quando inserir nova configurao de hardware no Control Center, e quando solicitar nos mdulos de teste). Se diferentes dispositivos so encontrados dentro da busca, informaes incompatveis de configurao sero perdidas.
Calibration Clicando neste boto aberta uma caixa de dilogo onde a ultima calibrao em fbrica do dispositivo de teste OMICRON mostrada. Os valores de garantia no manual do hardware so validos por 1 ano da data da ultima calibrao em fbrica.
Import/Export Usando a funo import/export permitido ler / escrever arquivos OHC. Arquivos OHC contem todas as informaes que podem ser ajustadas na configurao de hardware. Desta forma a configurao de hardware pode ser facilmente transferida entre diferentes documento Control Center.
3.7.2 Binary / Analog Inputs
As entradas binary/Analog, so fixas para o numero de entradas 1 a 10, como no painel frontal do dispositivo de teste. Essas entradas podem ser configuradas de acordo com a aplicao :
Contatos secos Na linha Function selecione Binary para as entradas que voc quer configurar. Na linha Potential Free habilite os checkboxes usados para as entradas que voc quer configurar. Para as unidades CMC 256, podemos ajustar cada uma das entradas para dry ou potential-sensing, para as unidades CMC 156 ou CMC 56 somente grupos podem ser ajustados (1-4 e 5-10).
Potential sensing Na linha Function selecione Binary para as entradas que voc quer configurar. Na linha Potential-free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que voc quer configurar. Na linha Nominal Range, ajuste a tenso nominal do seu sinal. Se voc deseja ajustar a mesma tenso nominal para todas as entradas use o menu contextual (boto direito do mouse)
Se o valor nominal modificado, o limiar de operao ajustado em 0.7 vezes o novo valor nominal por default. Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operao para ir de 0 at 1. Se voc deseja ajustar o mesmo valor de limiar para todas entradas do grupo, use o menu contextual (boto direito do mouse)
Dry Pulse Contacts Na linha Function selecione Counter para as entradas que voc quer configurar. A contagem de freqncia limitada a 3 kHz. Para freqncias acima de 100 kHz use a entrada do contador de freqncia no painel frontal do equipamento de teste. Na linha Potential Free, habilite os checkboxes usados para as entradas que voc quer configurar.
Potential-Sensing Pulse Contacts
Na linha Function selecione Counter para as entradas que voc quer configurar. Na linha Potential Free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que voc quer configurar. Na linha Nominal Range, ajuste a tenso nominal do seu sinal. Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operao para ir de 0 at 1.
Monitoring/recording voltage signals
Na linha Function selecione Voltage para as entradas que voc quer configurar.
Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal
Monitoring/recording current signals
Na linha Function selecione Current para as entradas que voc quer configurar. Na linha Clamp ratio entre com a clamp ratio (livremente entre 1V/A a 1V/A) ou selecione um valor tpico atravs do menu contextual. (boto direito do mouse)select a typical value from the context-menu (right-click to open it). Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal .
3.7.3 Analog outputs
3.8 Relatrios do teste
Selecionando a opo Report no menu principal, a caixa de dilogos Report Settings aberta. Ela permite escolher as seguintes opes para o relatrio de teste :
1. Short Form (OCC Short) 2. Long Form (OCC Long)
Essa duas opes so templates j definidos para o relatrio. Clicando na opo Define, possvel adicionar ou deletar informaes a serem inseridas no relatrio, podendo ser criados e salvos novos templates de acordo com as necessidades do usurio.
Local e Global Templates Mudanas feitas no relatrio atravs do boto Define, so gravadas em um template local, que salvo como parte do teste onde os ajustes foram feitos. Existe tambm o Global Template onde cada novo teste copia as definies de ajuste do relatrio para usar em seu prprio Template local. A localizao do Global Template mostrada na caixa de dialogo Define Report Settings. Voc pode resetear os ajustes das definies do relatrio de qualquer teste, para utilizar estas do Global Templates, clicando no boto Read na caixa do Global Template. Clique no boto Read para aceitar todos ajustes do arquivo. Mudanas feitas manualmente atravs do boto Define na caixa de dialogo so perdidas quando as definies so lidas do arquivo de template.
Quando o modulo de teste for fechado, ser perguntado se quer salvar as mudanas no template no Global Template. Selecione Sim para atualizar o Global Template usando os mesmos ajustes do corrente Local Template, ou No para deixar os ajustes do Global Template inalterados. Ajuste Short Form e Long Form Selecionando o ajuste Set Short Form o relatrio resumido ser definido como ajuste corrente. Similarmente, selecionando Long Forma o ajuste de relatrio longo ser definido como ajuste corrente. O nome do Form ajustado para Short Form seguido pelo comentrio OCC Short , enquanto o nome do Form ajustado para Long Form seguido pelo comentrio OCC Long . O ajuste do relatrio no pode ser o mesmo (longo e curto) ao mesmo tempo. Quando estiver usando o Modulo de teste dentro do Control Center, possvel dar um simples comando para dizer para todos mdulos de teste usar o Long Form ou o Short Form, especificando o ajuste para cada modulo de teste individualmente. Neste caso, as definies de OCC Long ou OCC Short Form so definidas aqui para serem usadas.
Export Report Esta caixa de dilogo aberta clicando em File | Export Report....para permitir que o relatrio seja exportado em uma variedade de formatos. Arquivos exportados no formato TXT so simplesmente textos. Formataes e grficos sero perdidos. Os mdulos de testes so mostrados somente como textos.
Arquivos exportados no formato RTF contem grficos e formatao.
Exemplo report teste rel SD-2H - WECO Name: Test start: OMICRON Advanced Dis 16-nov-2000 13:47:29 Test end: Version: 1.31 16-nov-2000 13:52:56
Test Object - Device Settings Substation/Bay: Substation: Bay:
STCH.O
Substation address: Bay address:
Device: Name/description: 21-2P Device type: SD-2H Serial/model number: Nominal Values: f nom: 60,000 Hz V nom (secondary): 138000,00 V I nom (secondary): A Limits: V max:
LTCHPC
Manufacturer: Device address:
CURSO
3 phases 115,00 V 5,000 A
V primary: I primary: 1000,00
200,00 V
I max:
12,50 A
Debounce/Deglitch Filters:
Debounce time:
0,000 s
Deglitch time:
0,000 s
Test Object - Distance Settings System Parameters: Line angle: 85,00 PT connection: at line Impedance correction 1A/I nom: Impedances in primary values: Tolerances: Tol. T rel.: Tol. T abs. +: Tol. Z rel.: 5,000 % 0,000 s 5,000 %
CT starpoint: no no
dir. line
Tol T abs. -: Tol Z abs.:
0,000 s 50,00 m 0,000000
Grounding Factor: kL magnitude: 0,000000 Separate arc resistance:
kL angle: no
Zone Settings: Label Type Fault loop Trip time Tol.T rel Tol.T abs+ Tol.T absTol.Z rel Tol.Z abs _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 Tripping L1-L2 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 m Z2 L2-L3 Tripping L2-L3 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 m Z2 L3-L1 Tripping L3-L1 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 m
X/ 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 R/
Test Settings Test Model: Test model: constant test voltage Allow reduction of ITest/VTest: no Fault Inception: Mode: DC-offset: Times: Pre-fault: Post-fault: Other: CB simulation:
VTest:
70,00 V
random no
n/a
500,0 ms 500,0 ms
Max-fault: 3,000 s Time reference: fault inception
off
Extended zones:not active 50,00 m
Search Settings: Search res. rel.: 1,000 % Ignore nominal characteristics: Search interval: 200,0 m Test Results Search Test: Fault Type L1-L2 |Z|: 0,000 Length: 5,301 |Z|: 0,000 Length: 10,73
Search res. abs.: no
Phi: 0,00 Angle: 20,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L1-L2 Phi: 0,00 Angle: 40,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L1-L2
from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 8,255 7,985 7,021 9,285 -269,9 mpassed |Z|: 0,000 Length: 14,87
Phi: 0,00 Angle: 60,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L1-L2
from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 6,261 6,599 4,197 7,532 337,4 m passed |Z|: 0,000 Length: 2,301
X/ 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 R/
Search Test: Fault Type L2-L3 |Z|: 0,000 Length: 5,301 |Z|: 0,000 Length: 10,73 Phi: 0,00 Angle: 20,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L2-L3 Phi: 0,00 Angle: 40,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L2-L3
from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L2-L3 13,24 13,20 12,55 13,93 -43,15 mpassed
|Z|: 0,000 Length: 16,29
X/ 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 R/
Search Test: Fault Type L3-L1 |Z|: 0,000 Length: 5,301 |Z|: 0,000 Length: 10,73 Phi: 0,00 Angle: 20,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L3-L1 Phi: 0,00 Angle: 40,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L3-L1
from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L3-L1 13,24 13,02 12,55 13,93 -215,7 mpassed
|Z|: 0,000 Length: 16,29
X/ 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 R/
Search Test: Fault Type L3-L1 |Z|: 0,000 Length: 2,301 Phi: 0,00 Angle: 160,00 Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L3-L1
_______________________________________________________________________ ___________ Comment: teste do rele SD-2H para treinamento Ajustes: S=2 T=8 M=+0,18 Tempo de coincidncia=4,51mseg AMT= 85 graus _______________________________________________________________________ ___________ Summary: Test passed
Eng. Geraldo M. Aoun________________7SJ600___________________10/04/01__________________Pgina 1
REL 7SJ600 SIEMENS
7100 7101 7200 7208 7211 7214 7215 7216 INTEGRATED OPERATION Language PC AND SYSTEM INTERFACES Function type in accordance with VDEW/ZVEI Data format for PC-interface Transmission gaps for PC-interface Transmission baud rate for PC-interface Parity and stop-bits for PC-interface English 160 DIGSI V3 1.0 s 9600 Baud DIGSI V3
7400 FAULT RECORDINGS 7402 Initiation of data storage Maximum time period of a fault recording 7411 Pre-trigger time for fault recording 7412 Post-fault time for fault recording 7800 SCOPE OF FUNCTIONS 7801 Characteristic of O/C protection 7802 Temporary pick-up value change over (O/C-st.) 7803 Unbalanced load protection 7804 Thermal overload protection 7805 Supervision of starting time 7839 Trip circuit supervision No resist., 2 BI 9500 OPERATING SYSTEM SETTINGS 9520 Activating internal test 9521 Number of tested module Marshalling 6101 MARSHALLING OF BINARY INPUT 1 6102 BINARY INPUT 1 1st FUNCTION 001 6852 >Trip circuit supervision: Trip relay 6103 BINARY INPUT 1 2nd FUNCTION 6104 BINARY INPUT 1 3rd FUNCTION 6105 BINARY INPUT 1 4th FUNCTION 6106 BINARY INPUT 1 5th FUNCTION 6107 BINARY INPUT 1 6th FUNCTION 6108 BINARY INPUT 1 7th FUNCTION 6109 BINARY INPUT 1 8th FUNCTION
Storage by trip7410 1.00 s 0.10 s 0.10 s
Definite time Non-existent Non-existent With memory Non-existent
none 0
active with voltage
6110 BINARY INPUT 1 9th FUNCTION 6111 BINARY INPUT 1 10th FUNCTION 6122 MARSHALLING OF BINARY INPUT 2 6123 BINARY INPUT 2 1st FUNCTION 001 6853 >Trip circuit supervision: CB aux. 6124 BINARY INPUT 2 2nd FUNCTION 6125 BINARY INPUT 2 3rd FUNCTION 6126 BINARY INPUT 2 4th FUNCTION 6127 BINARY INPUT 2 5th FUNCTION 6128 BINARY INPUT 2 6th FUNCTION 6129 BINARY INPUT 2 7th FUNCTION 6130 BINARY INPUT 2 8th FUNCTION 6131 BINARY INPUT 2 9th FUNCTION 6132 BINARY INPUT 2 10th FUNCTION 6133 6134 6135 6136 6137 6138 6139 6140 6141 6142 6143 MARSHALLING OF BINARY INPUT 3 BINARY INPUT 3 1st FUNCTION BINARY INPUT 3 2nd FUNCTION BINARY INPUT 3 3rd FUNCTION BINARY INPUT 3 4th FUNCTION BINARY INPUT 3 5th FUNCTION BINARY INPUT 3 6th FUNCTION BINARY INPUT 3 7th FUNCTION BINARY INPUT 3 8th FUNCTION BINARY INPUT 3 9th FUNCTION BINARY INPUT 3 10th FUNCTION
active with voltage
6201 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 1 6202 Signal RELAY 1 1st CONDITION 001 0052 Any protection operative 6203 Signal RELAY 1 2nd CONDITION 6204 Signal RELAY 1 3rd CONDITION 6205 Signal RELAY 1 4th CONDITION 6206 Signal RELAY 1 5th CONDITION 6207 Signal RELAY 1 6th CONDITION 6208 Signal RELAY 1 7th CONDITION 6209 Signal RELAY 1 8th CONDITION 6210 Signal RELAY 1 9th CONDITION 6211 Signal RELAY 1 10th CONDITION 6212 Signal RELAY 1 11th CONDITION 6213 Signal RELAY 1 12th CONDITION 6214 Signal RELAY 1 13th CONDITION 6215 Signal RELAY 1 14th CONDITION 6216 Signal RELAY 1 15th CONDITION 6217 Signal RELAY 1 16th CONDITION 6218 Signal RELAY 1 17th CONDITION 6219 Signal RELAY 1 18th CONDITION 6220 Signal RELAY 1 19th CONDITION 6221 Signal RELAY 1 20th CONDITION
6222 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 2 6223 Signal RELAY 2 1st CONDITION 001 0501 General fault detection of device 6224 Signal RELAY 2 2nd CONDITION 6225 Signal RELAY 2 3rd CONDITION 6226 Signal RELAY 2 4th CONDITION 6227 Signal RELAY 2 5th CONDITION 6228 Signal RELAY 2 6th CONDITION 6229 Signal RELAY 2 7th CONDITION 6230 Signal RELAY 2 8th CONDITION 6231 Signal RELAY 2 9th CONDITION 6232 Signal RELAY 2 10th CONDITION 6233 Signal RELAY 2 11th CONDITION 6234 Signal RELAY 2 12th CONDITION 6235 Signal RELAY 2 13th CONDITION 6236 Signal RELAY 2 14th CONDITION 6237 Signal RELAY 2 15th CONDITION 6238 Signal RELAY 2 16th CONDITION 6239 Signal RELAY 2 17th CONDITION 6240 Signal RELAY 2 18th CONDITION 6241 Signal RELAY 2 19th CONDITION 6242 Signal RELAY 2 20th CONDITION 6301 MARSHALLING OF LED INDICATOR 1 6302 LED 1 1st CONDITION 001 1815 O/C protection I> phase trip 6303 LED 1 2nd CONDITION 001 1805 O/C protection I>> phase trip 6304 LED 1 3rd CONDITION 001 6757 O/C protection I>>> phase trip 6305 LED 1 4th CONDITION 6306 LED 1 5th CONDITION 6307 LED 1 6th CONDITION 6308 LED 1 7th CONDITION 6309 LED 1 8th CONDITION 6310 LED 1 9th CONDITION 6311 LED 1 10th CONDITION 6312 LED 1 11th CONDITION 6313 LED 1 12th CONDITION 6314 LED 1 13th CONDITION 6315 LED 1 14th CONDITION 6316 LED 1 15th CONDITION 6317 LED 1 16th CONDITION 6318 LED 1 17th CONDITION 6319 LED 1 18th CONDITION 6320 LED 1 19th CONDITION 6321 LED 1 20th CONDITION 6322 MARSHALLING OF LED INDICATOR 2
memorized memorized memorized
6323 LED 2 1st CONDITION 001 1521 Thermal overload protection trip 6324 LED 2 2nd CONDITION 6325 LED 2 3rd CONDITION 6326 LED 2 4th CONDITION 6327 LED 2 5th CONDITION 6328 LED 2 6th CONDITION 6329 LED 2 7th CONDITION 6330 LED 2 8th CONDITION 6331 LED 2 9th CONDITION 6332 LED 2 10th CONDITION 6333 LED 2 11th CONDITION 6334 LED 2 12th CONDITION 6335 LED 2 13th CONDITION 6336 LED 2 14th CONDITION 6337 LED 2 15th CONDITION 6338 LED 2 16th CONDITION 6339 LED 2 17th CONDITION 6340 LED 2 18th CONDITION 6341 LED 2 19th CONDITION 6342 LED 2 20th CONDITION 6343 MARSHALLING OF LED INDICATOR 3 6344 LED 3 1st CONDITION 001 1833 O/C protection IE>> earth trip 6345 LED 3 2nd CONDITION 001 1836 O/C protection IE> earth trip 6346 LED 3 3rd CONDITION 6347 LED 3 4th CONDITION 6348 LED 3 5th CONDITION 6349 LED 3 6th CONDITION 6350 LED 3 7th CONDITION 6351 LED 3 8th CONDITION 6352 LED 3 9th CONDITION 6353 LED 3 10th CONDITION 6354 LED 3 11th CONDITION 6355 LED 3 12th CONDITION 6356 LED 3 13th CONDITION 6357 LED 3 14th CONDITION 6358 LED 3 15th CONDITION 6359 LED 3 16th CONDITION 6360 LED 3 17th CONDITION 6361 LED 3 18th CONDITION 6362 LED 3 19th CONDITION 6363 LED 3 20th CONDITION 6364 MARSHALLING OF LED INDICATOR 4 6365 LED 4 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted 6366 LED 4 2nd CONDITION
memorized
memorized not memorized
memorized
6367 6368 6369 6370 6371 6372 6373 6374 6375 6376 6377 6378 6379 6380 6381 6382 6383 6384
LED 4 3rd CONDITION LED 4 4th CONDITION LED 4 5th CONDITION LED 4 6th CONDITION LED 4 7th CONDITION LED 4 8th CONDITION LED 4 9th CONDITION LED 4 10th CONDITION LED 4 11th CONDITION LED 4 12th CONDITION LED 4 13th CONDITION LED 4 14th CONDITION LED 4 15th CONDITION LED 4 16th CONDITION LED 4 17th CONDITION LED 4 18th CONDITION LED 4 19th CONDITION LED 4 20th CONDITION
6401 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 1 6402 COMMAND RELAY 1 1st CONDITION 001 0511 General trip of device 6403 COMMAND RELAY 1 2nd CONDITION 6404 COMMAND RELAY 1 3rd CONDITION 6405 COMMAND RELAY 1 4th CONDITION 6406 COMMAND RELAY 1 5th CONDITION 6407 COMMAND RELAY 1 6th CONDITION 6408 COMMAND RELAY 1 7th CONDITION 6409 COMMAND RELAY 1 8th CONDITION 6410 COMMAND RELAY 1 9th CONDITION 6411 COMMAND RELAY 1 10th CONDITION 6412 COMMAND RELAY 1 11th CONDITION 6413 COMMAND RELAY 1 12th CONDITION 6414 COMMAND RELAY 1 13th CONDITION 6415 COMMAND RELAY 1 14th CONDITION 6416 COMMAND RELAY 1 15th CONDITION 6417 COMMAND RELAY 1 16th CONDITION 6418 COMMAND RELAY 1 17th CONDITION 6419 COMMAND RELAY 1 18th CONDITION 6420 COMMAND RELAY 1 19th CONDITION 6421 COMMAND RELAY 1 20th CONDITION 6422 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 2 6423 COMMAND RELAY 2 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted 6424 COMMAND RELAY 2 2nd CONDITION 6425 COMMAND RELAY 2 3rd CONDITION 6426 COMMAND RELAY 2 4th CONDITION 6427 COMMAND RELAY 2 5th CONDITION 6428 COMMAND RELAY 2 6th CONDITION 6429 COMMAND RELAY 2 7th CONDITION
6430 6431 6432 6433 6434 6435 6436 6437 6438 6439 6440 6441 6442
COMMAND RELAY 2 8th CONDITION COMMAND RELAY 2 9th CONDITION COMMAND RELAY 2 10th CONDITION COMMAND RELAY 2 11th CONDITION COMMAND RELAY 2 12th CONDITION COMMAND RELAY 2 13th CONDITION COMMAND RELAY 2 14th CONDITION COMMAND RELAY 2 15th CONDITION COMMAND RELAY 2 16th CONDITION COMMAND RELAY 2 17th CONDITION COMMAND RELAY 2 18th CONDITION COMMAND RELAY 2 19th CONDITION COMMAND RELAY 2 20th CONDITION
Settings Parameter set A 1100 POWER SYSTEM DATA 1101 Rated system frequency 1102 Connection of CT2 1105 Primary rated current 1106 Secondary rated current 1134 Minimum trip command duration 1135 Maximum close command duration 1300 1301 1303 1305 1307 1308 1310 1311 1319 1400 1401 1402 1404 1405 1407 1408 1416 2700 2701 2702 2703 2704 2705 3900 O/C PROTECTION PHASE FAULTS O/C protection for phase faults Pick-up value of the high-set inst. Stage Pick-up value of the high-set stage I>> Trip time delay of the high-set stage I>> Pick-up value of the overcurrent stage I> Trip time delay of the overcurrent stage I> Measurement repetition Manual close O/C PROTECTION EARTH FAULTS O/C protection for earth faults Pick-up value of the high-set stage IE>> Trip time delay of the high-set stage IE>> Pick-up value of the overcurrent stage IE> Trip time delay of the overcurrent stage IE> Measurement repetition Manual close THERMAL OVERLOAD PROTECTION State of thermal overload protection K-factor for thermal overload protection Time constant for thermal overload protection Multiplier of time constant at standstill Thermal warning stage TRIP CIRCUIT SUPERVISION on
fN 60 Hz IL2 200 A 5A 0.50 s 1.00 s
on I>>> 12.5 I/In 5.5 I/In 0.30 s 1.8 I/In 1.20 s no I>> undelayed
on 0.2 I/In 0.05 s 0.2 I/In 0.10 s no E>> undelayed
on 0.70 20.0 min 1.00 75 %
2. Construo das curvas caractersticas utilizando o software CMC
Eng. Geraldo M. Aoun______________7SJ600_______________10/04/01______________Pgina 1
1. Teste 1.1 Device Settings
Device Entrada de dados do elemento protegido Substation Nome e endereo da subestao onde o elemento esta localizado. Bay Entre com o endereo e o nome do bay onde o elemento esta localizado Nominal Values Entre com os valores nominais (tenso, corrente, freqncia, corrente primria e tenso primria e numero de fases) Para o teste de rels convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustada aqui. Residual Voltage / Current factors
Esses parmetros somente so relevantes se o rel tem transformadores de potencial / corrente separados para a tenso / corrente residual ( para o aumento da sensibilidade). A relao desses transformadores separados em relao relao dos transformadores das fases expressa com um fator que ser ajustado aqui. Os ajuste padro so : VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tenso de fase forma a tenso residual na conexo delta aberto, e IN / Inom = 1 Esses fatores so suportados pelos mdulos de Distancia e Distancia Avanado.
Limits Entre com os mximos valores de tenso e corrente, que o dispositivo de teste capaz de fornecer (mximos valores possveis so determinados pelo teste de hardware)
Debounce / deglitch filters Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses valores so usados onde os sinais do algoritmo de suavizao so implementados.
1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal aps o filtro
1.2 Protection Device
1.2.1 - Currente Tolerance A tolerncia da corrente definida como tolerancia absoluta e relativa. A telerancia de corrente relativa definida em % da corrente de pickup nominal, e a tolerancia de corrente absoluta definida em I/In. Para cada ponto de teste, o modulo de teste selecionar o maior de dois intervalos para ser a tolerancia valida. A tolerancia de corrente tem influencia na avaliao do teste no caso de pontos de testes que esto dentro das bordas da regio de trip (+/- Itol).
Avaliao do teste de sobrecorrente Para avaliao do teste, o software compara cada ponto do tempo de operao atual com o tempo de operao nominal. Se o tempo de operao atual esta dentro do tempo especificado de tolerancia, o ponto avaliado como Aprovado , caso contrrio como Reprovado . Para pontos que esto dentro das regies das bordas de trip (dentro de +/- Itol), a faixa de tempo de operao permitida menor ou maior que o tempo permitido para ambos intervalos, como mostrado abaixo.
A mesma influncia da tolerancia de corrente no intervalo de tempo resultante, aplicado ao ponto onde a caracteristica tende ao infinito.
Pontos fora da faixa out of range, ou pontos que esto fora da faixa de tempo, so considerados Aprovados, para permitir a avaliao automtica do teste. Se alguns pontos no podem ser testados por alguma razo, o software adiciona a mensagem correspondente no relatrio. O software considera o conjunto de testes como aprovado se todos pontos foram avaliados com aprovados.
1.2.2 Time Tolerance
As tolerancias de tempo so definidas como tolerancias absolutas e relativas. A tolerancia de tempo relativa definida em % do tempo de trip nominal. O intervalo de tempo resultante o tempo de trip nominal menos uma percentagem do tempo de trip nominal mais a percentagem definida. A tolerancia de tempo absoluta definida em segundos. Para a avaliao do teste, o software selecionar o maior de dois intervalos de tempo. Na borda da regio de trip, o intervalo de tempo combinado valido. Quando os pontos de teste so ajustados, As faixas de tempo permitidas so desenhadas como linhas verticais no diagrama I / t para cada ponto.
1.2.3 - Fault Group Selection
Dependendo qual grupo de falta selecionado, os parametros correspondentes do grupo de falta so mostrados e podem ser editados na caixa Fault Group Parameters. Existem quatro grupos de faltas disponveis no software :
Line Neutral Define os parametros para falhas monofsicas (A-N, B-N, C-N) Line Line Define os parametros para falhas bifsicas (A-B, B-C, C-A) e falhas trifsicas. Negative Sequence Define os parametros para faltas de sequencia negativa (I2) Zero Sequence Define os parametros para faltas de sequencia zero (I0) Para cada grupo de faltas, os parametros dos grupos precisam ser preenchidos separadamente.
1.2.3.1 Modelos de falta
Monofsica Para faltas monofsicas (no exemplo falta A-N), a corrente de teste Itest apagada da fase faltosa (no exemplo IA). As outras duas correntes so ajustadas para a corrente de carga com 120 graus de defasagem. A tenso para a fase faltosa igual tenso de falta selecionada. As outras duas fases so ajustadas para valores nominais, com 120 graus de defasagem. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste.
VA = Tenso de falta 0 VB = Tenso Nominal -120 VC = Tenso Nominal 120 IA = Iteste j IB = Corrente de carga -120 + j IC = Corrente de carga 120 + j
Bifsica Para falhas bifsicas ( no exemplo falta B-C), a corrente de teste Itest apagada das duas correntes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC ) com 180 graus de defasagem. As tenses formam um sistema balanceado e so ajustadas para valores nominais. O arranjo dos vetores so mostrados no exemplo. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste :
VA = Tenso nominal 0 VB = Tenso nominal -120 VC = Tenso nominal 120 IA = 0 IB = Itest -90 + j IC = Itest 90 + j
Trifsica
Para faltas trifsicas, a corrente de teste Itest apagada para todas fases, com 120 graus de defasagem entre elas. As tenses so iguais a tenso de falta selecionada. Os valores mostrados sero considerados pelos dispositivo de teste.
VA = Tenso de Falta 0 VB = Tenso de Falta -120 VB = Tenso de Falta 120 IA = Itest j IB = Itest -120 + j IC = Itest 120 + j
Sequencia negativa
Para falta de sequencia negativa, a corrente de teste Itest apagada das outras fases com 120 graus de defasagem entre elas. IB e IC so trocadas, de forma que aparea a corrente de sequencia negativa. Todas Tenses so iguais a tenso de falta com 120 graus de defasagem entre elas. VB e VC so trocadas, de forma que apareca a sequencia negativa. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste. VA = Tenso de Falta 0 VB = Tenso de Falta 120 VC = Tenso de Falta -120 IA = Itest j IB = Itest 120 + j IC = Itest -120 + j
Sequencia Zero
Para a falta de sequencia zero, a corrente de teste Itest apagada para todas fases, com 0 graus de defasagem, As correntes esto em fase com as outras. Desta forma, a corrente de sequencia zero aparece igual ao Itest selecionado. As tenses so iguais as tenses de falta , com 0 graus de defasagem, as tenses esto em fase com as outras. Desta forma, a tenso de sequencia zero aparece, igual a tenso da falta selecionada. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste :
VA = Tenso de Falta 0 VB = Tenso de Falta 0 VC = Tenso de Falta 0 IA = Itest/3 j IB = Itest/3 j IC = Itest/3 j
1.2.4 Directional Behavior (Comportamento direcional) Este ajuste influencia quer aparea ou no tenso de sada. Se este parametro ajustado para : Direcional, Tenses sero consideradas segundo o tipo de falta selecionada e o estado da corrente na sequencia de shot. No-Direcional, Nenhuma tenso de saida aparecer
A sequencia de shot consiste em pr-falta, falta e ps-falta. O detalhamento de cada estado de teste, ou a transio de um estado par o prximo mostrado abaixo.
Durante o estado de pr-falta, todas tenses so ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual tenso nominal, e Ajuste de VA igual a 0 graus. A durao do estado de pr-falta pode ser ajustado no Pre-fault Time; se for ajustado para zero, nenhum estado de pr-falta considerado. Durante o estado de falta, as correntes e tenses so consideradas de acordo com o ajuste do tipo de falta ou a aplicao do modelo de falta (tem 1.2.3.1) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). O ltimo estado da falta at a condio de trigger ser encontrada ou o mximo tempo de falta ter transcorrido. O estado de ps-falta projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de ps-falta, existem duas possibilidades : cada uma das tenses nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tenses e correntes sero ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro PT connection na tela de parametrizao.A durao do estado de ps-falta pode ser ajustada atuando do Delay Time
1.2.5 CT startpoint connection
A conexo dos TCs somente relevante para rels de sobrecorrente direcionais. Isto influencia a defasagem entre as correntes e tenses. Se este parametro ajustado para : Towards LINE, A corrente tem uma defasagem da tenso ajustado pelo parametro angulo (I) na caixa direction na pagina de parametrizao da Falta. Towards BUSBAR, A corrente tem uma defasagem da tenso de um angulo (I) + 180 graus. Exemplo de Conexo : CT startpoint conection Towards BUSBAR
1.2.6 - I/t parameters of the selected Fault Group
Nesta caixa, os parametros do grupo de falta do grupo de falta selecionado pode ser ajustado. Para mostrar ou editar os paramentros de diferentes grupos de falta, o grupo de falta necessita ser selecionado na caixa de seleo do grupo de falta. Cada regio de trip (I>, I>>, I>>>) pode ser ativada ou desativada pela marcao ou no do checkbox . Como padro, as regies I> e I>> so ativadas e a regio I>>> desativada.
O tempo de trip para certas regies de trip (I>, I>>, I>>>) podem ser ajustados. Para a regio de trip I> o ajuste de tempo tambem representado. O tempo de trip em segundos para a caracterisitca de tempo definido ou, O index da curva de tempo (dial de tempo) usados para o teste da caracteristica de tempo inverso.
1.3 - Characteristic Definition
Os elementos desta caixa dependem do ajuste do grupo de falta e do tipo da caracteristica. Como padro associada a caracteristica de tempo inversa. O nome do grupo de falta mostrado na parte superior esquerda desta caixa. Se desejar mudar o grupo de falta, necessrio mudar para a pagina de parametros de sobrecorrente. Estes sos os fatores das equaes para a definio de cada uma das caracteristicas inversas (fatores A, B, P, Q, K1 e K2) ou da caracteristica IT (fatores A, Q, P). Estes fatores so necessrios para ajustar a caracteristica de acordo com a especificao do fabricante. Para os fatores dos rels de uma planta, favor consultar o manual do rel ou pergunte ao fabricante do mesmo. Time Index O indice de tempo mostrado. Para muda-lo, v para a pagina de parametros de sobrecorrente e mude o valor na coluna de tempo da regio de trip i>.
Copy - Pressione este boto para abrir um dialogo, onde a caracteristica de diferentes grupos de falta podem ser copiados para o grupo de falta selecionado. News - Pressione este boto para abrir uma nova caixa de dialogo, onde a nova caracteristica pode ser criada para o grupo de falta corrente selecionado. Predefined - Pressione este boto para abrir uma caixa de dialogo, onde uma caracteristica predefinida pode ser escolhida para o grupo de falta corrente selecionado. O mdulo de teste de sobrecorrente tem quatro caracteristicas pr-definidas : Definite Time IEC Normal Inverse IEC Very Inverse IEC Extremely Inverse Essas caracteristica no podem ser modificadas. Tambem, a caracteristica definida pelo usurio, no tem a mesmo de uma destas caracteristicas. As caracteristicas predefinidas IEC seguem as equao IEEE standart.
As tabelas a seguir mostram os parametros usados. Caracteristica IEC Normal Inverse IEC Very Inverse IEC Extremely Inverse A B P Q K1 0 0 0 K2 0 0 0
0.14 0.0 13.5 0.0 80.0 0.0
0.02 1 1.0 1 2.0 1
Import - Pressione este boto para abrir uma caixa de dialogo, onde a caracteristica pode ser importa de um arquivo DCC.
2. Parametrizao do teste
2.1 Teste
2.1.1 - Fault Type Clicando em uma destas opes selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipo de falta um ajuste de teste geral e portanto valido para todos os pontos definidos na tabela abaixo. De acordo com o ajuste do tipo de falta, o modelo de falta apropriado usado para o calculo dos valores de teste. Modelos de falta para falhas monofsicas, bifsicas, trifsicas, falhas com sequencia negativa e sequencia zero esto disponiveis.
2.1.2 - Itest The test current Itest of a single test point can be specified here by inputting the desired value. The cursor position of the mouse in the overcurrent characteristic diagram is also transferred to this field. The test point can then be added by pressing the Add button. The value can be specified in MTS or in absolute currents (see View|Absolute currents). Tip: a quick way to add a test point is to left-click into the overcurrent diagram while pressing the Ctrl key. A corrente de teste Itest para um ponto de teste simples pode ser especificada aqui pela entrada do valor desejado. Clicando o boto esquerdo do mouse no diagrama da caracteristica de sobrecorrente o valor correspondente transferido para este campo. O ponto de teste pode ser adicionado pressionando o boto Add. O valor pode ser especificado em MTS ou em Corrente absoluta (Veja View/Absolute currents). Para adicionar um ponto de teste clique o boto esquerdo do mouse no diagrama de sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.
2.2 - Fault 2.2.1 - Fault settings
Absolute max time e Relative max time A mxima durao da falta pode ser ajustado com sendo um valor absoluto em Absolute max time, ou como um valor relativo em percentual do mximo tempo de trip em Relative max. Time. O maximo tempo de trip ajustado na caixa Time Tolerance na tela de parametrizao de sobrecorrente, protection device. O ajuste percentual dever ser adicionado ao mximo tempo de trip (P.ex. O valor de 10% resultar em um mximo tempo de falta de 110% tmax). O sistema sempre utiliza a menor dos dois valores de tempo. O sistema permite o teste atravs de uma larga faixa de corrente e tempo de operao sem danificar o rel. Load current Esta corrente ser considerada para todas fases durante o estado de pr-falta na sequencia de shot. Durante o estado de falta esta corrente somente ser considerada para as fases sem falta para faltas monofsicas.
2.2.2 Additional Settings Pre-fault Time Durante o estado de pre-falta, todas tenses so ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual a tenso nominal, e ajuste de VA em 0 graus. A durao do estado de pre-falta pode ser ajustada em Pre-Fault Time; se este ajuste for 0, o estado de prfalta no considerado. Delay Time O estado de ps-falta projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de ps-falta, existem duas possibilidades : cada uma das tenses nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tenses e correntes sero ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro PT connection na tela de parametrizao.A durao do estado de ps-falta pode ser ajustada atuando do Delay Time
2.2.3 Direction Fault Voltage , Angle (I) e Nominal Voltage
Como a tenso de falta ser usada para formar a tenso de fase de falta, depende do modelo de falta correspondente. O angulo (I) o angulo entre as tenses e correntes no estado de falta. Com a tenso nominal tambem usada para o calculo da falta, ela mostrada aqui (test object parameter)
2.3 - General 2.3.1 - Pick up Test
Na tela de parametros gerais, o teste de pickup pode ser ativado. Se o teste de pickup habilitado, ele ser executado antes do primeiro ponto da tabela de teste. O teste de pickup projetado para determinar os limites de operao do objeto sob teste. Em steps, a corrente aumentada/diminuida. Em cada step, o valor considerado corresponde ao tipo de falta selecionado. A tenso, se habilitada, ser tambem considerada de acordo com o ajuste da tenso de falta. Se a pre-falta selecionada, o programa ir aplicar os valores de pr-falta durante o tempo de pre-falta, para que o rel seja preparado para o teste. Para a avaliao automtica, o teste ser sempre considerado como aprovado. Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout o unico teste selecionado no modulo, ento o teste somente ser aprovado se os valores de pickup e dropout forem encontrados com exito. Existem dois tipos de teste : Determinao do pickup/dropout em rels com contato de partida Informaes gerais sobre o teste de pickup Para este teste, necessrio que o contato geral de partida seja designado. Caso contrrio, o modulo de teste ira reportar hardware insuficiente e o teste no ser executado.
O estado de pre-falta no relevante para este teste e portanto no ser considerado. Determinao do valor de Drop-out Para determinar o valor de drop-out, o modulo partir a corrente de falta para 1.15 Ipickups. Isto causar a operao do contato de partida. Se o contato de partida no estiver operado aps o tempo assinalado em Resolution, o teste ser cancelado. A corrente de teste ser reduzida em degraus com tamanho de 0.01Ipickup, at o contato de partida abrir ou at o valor de 0.8 Ipickup ser alcanado. Se o contato no aberto, os valores de pickup/dropout no podem ser determinados e o teste cancelado. Se o contato abre, o valor da corrente gravado como o valor de dropout do rel.
Determinao do valor de Pickup Usando o mesmo tamanho de step e tempo, at que o contato de partida opere ou o valor de 1.15 Ipickup seja alcanado. Se o contato de partida no esta ativo, o teste ser cancelado, e somente o valor de dropout ser gravado. Entretanto, o valor para que o contato de partida opere gravado como o valor de pickup do rel.
Valor de Drop-Out
Valor de Pick-Up
Na figura abaixo se aplicarmos 1.15 x Ipickup e o rel no operar , o tempo ajustado em resolution aguardado, sendo aps este tempo cancelado o teste. Caso o rel opere, o valor gradualmente reduzido at 0.8 x Ipickup, caso no haja a desoperao do contato o teste cancelado.
Valor de Drop-out no encontrado
Valor de Pick-up no encontrado
Uso do contato de partida O modulo de teste segue os seguintes critrios : Se o contato de partida parte da condio de trigger, o modulo de teste ir considerar o contato ativo e fechado ou ativo aberto de acordo como foi definido na condio de trigger (1 ou 0 respectivamente). Se o contato definido como Dont care (X), o modulo ir considerar como contato fechado.
Determinao dos valores de Pickup/Dropout para rels sem contato de partida Informaes gerais sobre o teste de Pickup O algoritimo utilizado leva vantagem para a inrcia de dispositivos eletromecanicos determinar os valores de pickup e dropout. Para detectar o trip, o modulo de teste usa a condio de trigger full. Ela considera o trip no rel quando a entrada binaria realizar a condio de trigger, ou no trip quando no fizer isto. O procedimento como mostrado : Determinao do valor de pickup O modulo de teste ocasiona o trip no rel pelo mtodo da falta valores de Ipickup (valores de trip). Esta falta ser processada com sendo um ponto de teste normal. Entretanto, ela ter um tempo de trip nominal, e o maximo tempo de falta derivado . Os valores de falta (aps a pre-falta, se escolhida), so aplicadas ao rel at sair trip ou at o maximo tempo de falta esgotar. Para este caso particular, nenhum teste para o tempo fora da faixa feito. Se o rel no d trip dentro do maximo tempo de falta, o teste de pickup cancelado. Depois que o trip detectado, os geradores sero desligados para a Resolution ou at a condio de trip no estar mais presente. Ento, isto ser reaplicado com valores de 1.15 Ipickup at que o rel tripeie novamente ou a 3 segundos o temporizador expira. Ento a sequencia repetida para valores de 1.14, 1.13, etc. at que para um deles o rel no tripeie. O ultimo valor para que o rel tripeia gravado como o valor de pickup. Se a sequencia alcana 0.8 Ipickup detectando trip para todos pontos, o valor de pickup no pode ser determinado e o teste cancelado. Determinao do valor de Drop-out Aps a determinao do valor de pickup, 1.15 Ipickup aplicado at o rel tripear ou a 10 segundos o temporizador expira. Se o temporizador expira, o valor de dropout no pode ser determinado e o teste cancelado. Se o rel tripeia, o modulo de teste reduz o valor da falta em steps de 0.01 Ipickup, com o step de tempo igual Resolution, at que a condio de trip desaparea ou o alcance sweep 0.8 Ipickup. No ltimo caso, o valor de
dropout no pode ser determinado, e o teste cancelado. Entretanto, o step em que a condio de trip desapareceu ser gravado como valor de dropout.
Vaor de Pick-Up Valor de Drop-Out
Tempo mximo de falta
Tempo de Resoluo
2.3.2 Trigger conditions
Este valor valido para todos os testes, e inteiramente manual, no tendo seleo automtica. Os contatos de trip e start so predefinidos, como estes contatos so necessrios para a realizao do teste. Para mudar a designao dos contatos binarios de entrada, va para a configurao do hardware (pressione Ctrl + H).
Eng. Geraldo M. Aoun_____________________7UT512____________________10/04/01___________________Pgina 1
REL 7UT512 SIEMENS
Configuration 7100 INTEGRATED OPERATION 7101 Language 7102 Date format 7105 Operational message for 1st display line 7106 Operational message for 2nd display line 7107 Fault message for 1st display line 7108 Fault message for 2nd display line 7110 Fault indication: LED and LCD 7200 7209 7211 7215 7216 7221 7222 7225 7226 7235 7400 7402 7410 7411 7412 7431 7432 7490 7800 7801 7816 7821 7824 7825 7830 7831 7885 PC AND SYSTEM INTERFACES Device type Data format for PC-interface Transmission baud rate for PC-interface Parity and stop-bits for PC-interface Data format for system-interface Measurement format for system-interface Transmission baud rate for system-interface Parity and stop-bits for system-interface Parameterizing via system-interface FAULT RECORDINGS Initiation of data storage Maximum time period of a fault recording Pre-trigger time for fault recording Post-fault time for fault recording Storage time by initiation via binary input Storage time by initiation via keyboard Length of fault record (former LSA) SCOPE OF FUNCTIONS Selection of the protected object Differential protection Back-up overcurrent protection Thermal overload protection 1 Thermal overload protection 2 External trip function 1 External trip function 2 Parameter change-over
English dd.mm.yyyy 0741 Operat. meas. current L1 side 1 [A] is 0744 Operat. meas. current L1 side 2 [A] is 0543 Prot.funct.which has picked up 0544 Prot. funct. which has tripped With trip command
35 DIGSI V3 9600 Baud DIGSI V3 VDEW extended VDEW extended 9600 Baud VDEW/DIGSI V3/LSA no
Storage by fault det 3.00 s 0.50 s 0.10 s 1.00 s 1.00 s <=3000 val. var
2winding-transformer Existent Reference side 1 Reference side 1 Reference side 2 Non-existent Non-existent Non-existent
7899 Rated system frequency
fN 60 Hz
Device control 8300 VDEW-MODE OF THE ANNUNCIATIONS AND MEAS. VAL. 8301 Testing via system-interface off Marshalling 6100 MARSHALLING BINARY INPUTS 6101 Binary input 1 001 0011 >User defined annunciation 1 active with voltage 6102 Binary input 2 001 0391 >Warning stage from Buchholz protection active with voltage 6200 MARSHALLING SIGNAL RELAYS 6201 Signal relay 1 001 0051 Device operative / healthy 6202 Signal relay 2 001 2412 Back-up overcurrent: Fault detection L1 002 2413 Back-up overcurrent: Fault detection L2 003 2414 Back-up overcurrent: Fault detection L3 004 5621 Diff. prot.: IDIFF> time delay started 005 5622 Diff. prot.: IDIFF>> time delay started 006 5681 Diff. prot.: IDIFF> L1 (without Tdelay) 007 5682 Diff. prot.: IDIFF> L2 (without Tdelay) 008 5683 Diff. prot.: IDIFF> L3 (without Tdelay) 009 5684 Diff. prot: IDIFF>> L1 (without Tdelay) 010 5685 Diff. prot: IDIFF>> L2 (without Tdelay) 011 5686 Diff. prot: IDIFF>> L3 (without Tdelay) 6203 Signal relay 3 001 0511 General trip of device 6204 Signal relay 4 001 0511 General trip of device 002 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage 6300 MARSHALLING LED INDICATORS 6301 LED 1 001 5691 Differential prot.: Trip by IDIFF> memorized 6302 LED 2 001 5692 Differential prot.: Trip by IDIFF>> memorized 6303 LED 3 001 1571 Trip by thermal overload protection 1 memorized 002 1565 Thermal overload prot.1: Current warn. not memorized 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage memorized 6304 LED 4 001 1621 Trip by thermal overload protection 2 memorized 002 1615 Thermal overload prot.2: Current warn. not memorized 003 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage memorized 6305 LED 5 001 2451 Back-up overcurrent: General trip memorized
6306 LED 6 001 0141 Failure of internal 24 VDC power supply 002 0143 Failure of internal 15 VDC power supply 003 0144 Failure of internal 5 VDC power supply 004 0145 Failure of internal 0 VDC power supply 6400 MARSHALLING TRIP RELAYS 6401 Trip relay 1 001 0511 General trip of device 6402 Trip relay 2 001 0511 General trip of device Settings Parameter set A 1100 TRANSFORMER DATA 1102 Rated voltage of winding 1 of transformer 1103 Rated apparent power of winding 1 1104 Primary rated current of CT winding 1 1105 Starpoint formation of CT winding 1 1106 Processing of zero sequence current of wind. 1 1121 Vector group numeral of winding 2 1122 Rated voltage of winding 2 of transformer 1123 Rated apparent power of winding 2 1124 Primary rated current of CT winding 2 1125 Starpoint formation of CT winding 2 1126 Processing of zero sequence current of wind. 2 1600 1601 1603 1604 1606 1607 1608 1610 1611 1612 1613 1614 1615 1616 1617 1618 1625 1626 1627 2100 2101 2103 2104
not memorized not memorized not memorized not memorized
88.0 kV 20.0 MVA 120 A Towards transformer Io-elimination 1 14.0 kV 20.0 MVA 800 A Towards line/busbar Io-elimination
TRANSFORMER DIFFERENTIAL PROTECTION DATA State of differential protection on Pick-up value of differential current 0.20 I/InTr Pick-up value of high set trip 8.0 I/InTr Slope 1 of tripping characteristic 0.25 Base point 2 for slope 2 of tripping charact. 2.5 I/InTr Slope 2 of tripping characteristic 0.50 State of 2nd harmonic restraint on 2nd harmonic contend in the different. current 25 % Time for cross-blocking with 2nd harmonic 10 *1P Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th harmonic n-th harmonic contend in the differen. current 40 % Active time for cross-blocking with n-th harm. 0 *1P Limit IDIFFmax of n-th harmonic restraint 1.5 I/InTr Max. blocking time at CT saturation +* *1P Min. restr. current for blocking at CT satur. 5.00 I/InTr Trip time delay of diff. current stage IDIFF> 0.00 s Trip time delay of diff. current stage IDIFF>> 0.00 s Reset delay after trip has been initiated 0.10 s BACK-UP OVERCURRENT PROTECTION State of back-up overcurrent protection Pick-up value for high current stage I>> Delay time for I>>
off 6.03 I/In TI>> 0.05 s
2111 2112 2113 2114 2115 2116 2118 2121 2400 2401 2402 2403 2404 2405 2406 2500 2501 2502 2503 2504 2505 2506
Overcurrent time stage characteristic Pick-up value of overcurrent time stage I> Delay time for I> Pick-up value of overcurrent time stage Ip Time multiplier for Ip (inverse time IDMT) Method of RMS calculation for IDMT Reset delay after trip has been initiated Effective stage after manual closing of CB THERMAL OVERLOAD PROTECTION 1 State of thermal overload protection 1 K-factor for thermal overload protection 1 Time constant for thermal overload protection1 Thermal warning stage Current warning stage Calculation method for thermal stages THERMAL OVERLOAD PROTECTION 2 State of thermal overload protection 2 K-factor for thermal overload protection 2 Time constant for thermal overload protection Thermal warning stage Current warning stage Calculation method for thermal stages
Definite time 4.00 I/In TI> 1.05 s 6.03 I/In Tp +* s With harmonics 0.10 s Ineffective
on 1.10 17.0 min 90 % 1.05 I/In Theta max
on 1.10 2 17.0 min 90 % 1.05 I/In Theta max
2900 MEASURED VALUE SUPERVISION 2903 Symmetry threshold for current monitoring 2904 Symmetry factor for current monitoring
.50 I/In 0.50
2. Montagem da caracteristica diferencial
2.1 Primeiro ramo
0,25 = AB / OB Idiff1 Ibias1 = 0,2 / 0,25 = 0,8
Ibias1
Start Point1 Ibias = 0 Idiff = 0,2 (1603)
End Point1 Ibias = 0,8 Idiff = 0,2
2.2 Segundo Ramo
0,5 = 8 / (Ibias3 2,5) Ibias3 = 18,5
0,25 = Idiff2 / Ibias2 0,5 = (8 Idiff2) / (18,5 Ibias2)
(1) (2)
8 Idiff2 = 9,25 0,5 Ibias2 de (1), Temos : Idiff2 = 0,25 Ibias2 Substituindo, Temos : 8 0,25 Ibias2 = 9,25 0,5 Ibias2 Ibias2 = 5 Idiff2 = 1,25 Logo : Start Point2 Ibias = 0,8 Idiff = 0,2 (1603) End Point2 Ibias = 5 Idiff = 1,25
2.3 Terceiro Ramo Start Point3 Ibias = 5 Idiff = 1,25
End Point3 Ibias = 18,5 Idiff = 8 (1604)
3 Curva de Restrio Harmonica

1610 1611 1612 1613 1614 State of 2nd harmonic restraint 2nd harmonic contend in the different. current Time for cross-blocking with 2nd harmonic Choice a further (n-th) harmonic restraint n-th harmonic contend in the differen. current on 25 % 10 *1P 5th harmonic 40 %
Eng. Geraldo M. Aoun________________7UT512_______________10/04/01_____________Pgina 1
3. TESTES
3.1 Diff Configuration 3.1.1 Protected Object
O objeto a ser protegido pelo dispositivo de proteo selecionado. O objeto protegido pode ser um Transformados, Gerador, Motor ou Barra.
O grupo da a informao sobre a conexo do objeto protegido, as possiveis conexes so :
Y (Estrela) ou D (Delta)
numero de enrolamentos do transformador (somente selecionavel se o transformador ajustado como elemento protegido).
2 3 4 5
1- O nome do enrolamento correspondente pode ser mudado pelo usurio,

para permitir uma unica destinao para o elemento protegido. Este nome tambem automaticamente destinado para os transformadores de corrente e os transformadores de corrente de terra na pagina CT.
2- Tenso nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido. 3 - Potencia nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido 4 - Grupo vetorial do enrolamento correspondente do elemento protegido.
Tipo de Objeto HV LV D0 Y0 D0 Y 30 D0 Y 330 Ajuste HV D D D LV Y0 Y1 Y 11 Referencia fasorial HV LV 0 0 0 30 lag 0 30 lead
A seleo de faltas tipo monofsicas no modulo de teste no significa que a corrente de terra (corrente de sequencia zero) seja simulada corretamente. Na verdade, o parametro Startpoint grounding critico aqui. Isto significa que a corrente de sequencia zero pode somente fluir no enrolamento se o startpoint efetivamente aterrado para : O lado da falta selecionada para o modulo Diff Configuration O lado de referencia da caracteristica Diff Operating ou o modulo de tempo Diff Trip
5 - Startpoint grounding do enrolamento correspondente do elemento

protegido. Este ajuste influencia o fluxo de corrente para falhas monofsicas terra.
3.1.2 - CT
Se a caixa de verificao Use Ground Current Measurement Inputs (CT) est selecionada, a corrente de sequencia zero do enrolamento correspondente simulado no gerador de saida.
3.1.3 Protection Device
A quantidade Ibias algumas vezes se refere como a quantidade de estabilizao ou restrio e usada para comparar com a quantidade Idiff para a deciso de trip. O metodo de calculo para a quantidade Ibias determinado de acordo com o fabricante do rel e no pode ser ajustado arbitrariamente.
(|Ip| +|Is|) / k1
(Ip + Is)/ k1
(|Ip| +|Is| k2) / k1
Siemens digital relay series 7UT51..., GEC digital relay series KBCH SEL Schweitzer digital relay series SEL5 AEG digital relay series PQ7 Vrios rels convencionais GE Multilin digital Relay srie SR745 ELIN digitan relay serie DRS
K1 = 1 K1 = 2 K1 = 2 K1 = 2 K1 = 1 K2 = 1 K1 = 2 K1 = 3 (Trafo 3 enrol.) K1 = 1
Max (|Ip| , |Is|)
o enrolamento usado para o calculo da corrente de teste de referencia de Idiff e Ibias. Isto para o teste da caracteristica de operao e da caracteristica de tempo de trip. A falta sera sempre localizada neste lado. As correntes medidas pelos rels diferenciais so diferentes em valores absolutos e fase sob operao normal e no podem ser usados diretamente para o calculo de Idiff e Ibias. Entretanto, o rel de proteo tem de definir o enrolamento de referncia para normalizar as correntes para o mesmo defasamento e eliminao da corrente de sequencia zero. Para que seja capaz de testar a caracteristica de operao esta referencia tem que ser definida para o modulo de teste. Em principio, no existem diferena no lado do transformador que definido como referencia, mas a distribuio de
corrente nas fases e seus valores absolutos e defasamentos so diferentes para cada enrolamento de referencia, dependendo o grupo vetorial para falhas monofsicas ou bifasicas.
Os valres absolutos das correntes medidas no transformador para o enrolamento de referencia pelo ajuste do grupo vetorial e eliminao de sequencia zero so diferentes devido a diferentes relaes de enrolamentos do transformador. Entretanto, os valores absolutos padronizados das correntes nas extremidades para serem comparadas so diferentes para cada fabricante de rel, A corrente nominal do objeto protegido ou do TC do enrolamento com a maior potencia. Esses parametros so essenciais e tem de ser solicitados aos fabricantes de rels se houver alguma duvida com relao a isso. Ajustes errados levam a testes indefinidos.
Deve ser marcada para testes em rels diferenciais convencionais sem compensao de defasamento.
Test Max. Restringe o maximo tempo de teste para proteger o rel. Delay Time o tempo entre sucessivos teste para dar o tempo de reset do rel. Estes so ajustes padro para os parametros de teste atuais que podem ser ajustados na pagina General test parameters. Os parametros para o teste de rels diferenciais convencionais. Neste caso, a corrente nominal do rel ( 1 ou 5 A), tem de ser ajustada com o parametro I nom na General Page. O ajuste dos dados para o transformador e TC no tem influncia no teste, mas eles so representados no relatrio.
Para transformadores com enrolamento delta-estrela aterrado, a corrente de sequencia zero ir fluir na direo do enrolamento de terra para falha faseterra. Porque a corrente de sequencia zero no flui no enrolamento delta, a corrente no rel tem de ser compensada ou corrigida pelo desbalano causado pelo deslocamento angular sobre o transformador. A correo do angulo de fase pode ser completada pelos TCs de interposio (metodo tradicional) ou com jumpers nos rels (eletromecanicos ou estticos) ou computacionalmente para rels digitais. O metodo usado para eliminao de sequencia zero critico para o teste. Entretanto, isto necessrio para selecionar o tipo de eliminao de sequencia zero utilizada. A eliminao de corrente de sequencia zero (somente relevante para falhas monofsicas), pode se ajustada. (IL I0) Corrente de linha de sequencia zero YD Transformador de interposio YDY Transformador de interposio
Ajustes e tolerncias do rel de acordo com a planilha de dados do fabricante. 3.1.4 Characteristc Definition
Dado trazido da pagina Protection Device
Campo para a entrada do ponto de partida e fim da linha (Um elemento da caracteristica a ser definida)
Slope que resulta dos pontos inicial e final.
Inicializao automatica do novo ponto de partida aps a adio de uma nova linha. Mostra os valores dos pontos definidos da caracteristica no grfico. Mostra as linhas de grid
Serve para definir as curvas harmonicas, afaixa de tolerancia e o atrazo da restrio harmonica. Para quase todos reles diferenciais digitais o valor lxf = constante aplicado. O bloqueio de restrio harmonica independente do valor da corrente diferencial. Para rels diferenciais convencionais, entretanto, o valor lxf = f(Idiff) aplicado. O bloqueio de restrio harmonica dependente do valor da corrente diferencial. Para lxf = constante Linha reta Para lxf = no constante Curva devido a concatenao de segmentos. Todos estes segmentos so definidos individualmente pelas suas coordenadas Start Idiff/In e Start Ixf/Idiff tambem por End Idiff/In e End Ixf/Idiff. Nota : No caso do rel permitir o ajuste de atrazo, note que este time delay(ajustado no box time delay) dever ser ajustado por mais tempo que o tempo de teste maximo (como mostrado na tabela protection device).
4. Parametrizao dos testes 4.1 Test Data
Itest Corrente de teste Add - Adiciona os valores de Itest tabela de teste. Add Sweep - Adiciona a sequencia de valores de Itest, comeando com Start Value, o valor de Itest incrementado pelo Step Size at o valor de End Value . Remove - Deleta os pontos de teste selecionados na tabela. Table - On the far left of the table the current state is displayed with an icon: Nesta tabela, entram os valores de Itest. Os valores nominais do correspondente ao valor de Idiff mostrado para comparao. Pontos de teste podem ser adicionados entrando no campo Itest e clicando o boto Add. O numero de pontos de teste podem ser adicionados pressionando o boto Add Sweep e especificando a sequencia de pontos de teste.
4.2 - Test
Data Input - possivel especificar quais valores sero lidos/medidos. possivel escolher entre os valores Primary ou Secondary ou Tertiary em magnitude e angulo, ou valores de Idiff e Ibias. Os campos de entrada mudam por conseguinte. Os dados preenchidos aqui, sero incluidos do relatrio do teste. Test Status - O Status do teste mostrado em forma de Itest e Status. Test Assessment - O teste pode ser manualmente classificado como Passed ou Failed 4.3 General
Ajusta que enrolamentos sero testados e que enrolamentos esto no lado da falta e no lado da fonte. Todas testes so possiveis, onde o enrolamento primrio envolvido. Por isso duas possibilidades de teste resultam para transformadores de dois enrolamentos e quatro para transformadores de tres enrolamentos. Ajuste de Load Side e Iload I load usado somente se o checkbox Iload marcado. Somente possivel para o teste de objetos com 3 enrolamentos.
Eng. Geraldo M. Aoun_____________________REG216____________________29/09/96___________________Pgina 1

REL REG216 ABB
1 - FUNO DIFERENCIAL GERADOR 87G
1.1 - Ajustes e Clculos
Diff-Transf | pnr 1 | 87G

1 0 2 1 17 0 0 RunOnCPU CopyOfFunc ParSet4..1 Trip 01-08 Trip 09-16 Trip 17-24 Trip 25-32
0.10 0.25 1.25

1.00 5 1.33 0 4 4 1.33 0 4 1 1.00 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0 2 0 2 0 2 0 2 10 2 0 0 0 0
g v b
g-High I-Inst a1 s1 CurrentInp1 a2 s2 CurrentInp2 a3 s3 CurrentInp3 InrushInp HighSetInp BlockInp Trip Trip-R Trip-S Trip-T InrushRatio InrushTime Inrush Stabilizing
1.2 - Montagem da caracteristica diferencial
C A
g v b
g-High I-Inst
0,10 0,25 1,25

1,00 5,00
1.2.1 - Primeiro Ramo
0,25 = AB/OB 0,25 = 0,1 / OB => OB = 0,4 Ibias1 = 0,4
Start Point1 Ibias1 = 0 Idiff1 = 0,1 End Point1 Ibias1 = 0,4 Idiff1 = 0,1
1.2.2 Segundo Ramo
0,25 = CD / OC 0,25 = CD / 1,25 => CD = 0,3125 Idiff2 = 0,3125
Start Point2 Ibias2 = 0,4 Idiff2 = 0,1 End Point2 Ibias2 = 1,25 Idiff2 = 0,3125
1.2.3 Terceiro Ramo Start Point3 Ibias3 = 1,25 Idiff3 = 0,3125 End Point3 Ibias3 = 1,25 Idiff3 = 5
1.3 Curva de Restrio Harmonica
InrushRatio InrushTime
10 2
2 - FUNO DIFERENCIAL GERADOR 87G 2.1 - AJUSTES E CLCULOS 4 Diff-Transf | pnr 1 | 87TG 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 1 Trip 01-08 3 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.30 g 0.25 v 1.50 b 1.50 g-High 10 I-Inst 1.39 a1 0 s1 4 16 CurrentInp1 1.33 a2 11 s2 4 13 CurrentInp2 1.33 a3 11 s3 4 19 CurrentInp3 0 1 InrushInp 29 15 HighSetInp 0 1 BlockInp 0 0 Trip 0 2 Trip-R 0 2 Trip-S 0 2 Trip-T 10 InrushRatio 2 InrushTime 0 0 Inrush 0 0 Stabilizing
2.2 Montagem da caracterstica diferencial
g v b
g-High I-Inst
0,30 0,25 1,50

1,50 10,00
2.2.1 Primeiro Ramo
0,25 = AB / OB = 0,30/ Ibias1 Ibias1 = 0,30/0,25 Ibias1 = 1,2
Start Point1 Ibias1 = 0 Idiff1 = 0,3 End Point1 Ibias1 = 1,2 Idiff1 = 0,3
2.2.2 Segundo Ramo
0,25 = CD / OC 0,25 = CD / 1,50 => CD = 0,375 Idiff2 = 0,375
Start Point2 Ibias2 = 1,2 Idiff2 = 0,3 End Point2 Ibias2 = 1,50 Idiff2 = 0,375
2.2.3 Terceiro Ramo Start Point3 Ibias3 = 1,50 Idiff3 = 0,375 End Point3 Ibias3 = 1,5 Idiff3 = 10
2.3 Curva de Restrio Harmonica
InrushRatio InrushTime
10 2
3 - FUNO UNDERIMPEDNCIA

FType. Underimped | pnr 1 | 21-1 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 33 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.20 Delay 0.094 Z-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start
4 - FUNO MNIMA REATANCIA (40)

6 18 MinReactance 1 | 40-2 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 0 Trip 01-08 0 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 2.00 Delay -1.00 XA-Setting -0.29 XB-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 30 Angle 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start -1 MaxMin
5 - FUNO SOBRECORRENTE TEMPO INVERSO (51N)

13 Current-Inv | pnr 1 | 51N 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 5 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 1 c-Setting 10.00 k1-Setting 1.00 I-Start 1 NrOfPhases 4 7 CurrentInp 0.80 IB-Setting 0 1 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start 0.00 t-min
Onde : R(IT) Tempo terico de Trip em Segundos A, B, P, Q, K1 e K2 - Parmetros a serem ajustados pelo usurio para o ajuste fino da caracterstica. Parmetros controlveis pelo software : D Is In IT Dial de Tempo ou ndice da curva de tempo (Ajuste de tempo para a regio De trip I>) ndice da curva de corrente (Ajuste de Ipickup para a regio de trip I>) Corrente Nominal (Normalmente 1A ou 5 A) Corrente de teste

Curso OMICRON Eletronorte

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CURSO CAIXA DE TESTE

Eng. Geraldo Magela Aoun

CMC 256 The CMC 256 is available

Low Level outputs LL out 1-6

Aux. dc supply Output voltage ranges

Power Accuracy Connection

2 100 kHz >3 s 6V 2V 30 V SELV 16 pin combination socket (rear side)

Output power [VA]

Output voltage [V]

Continued on next page

Output power [VA]

Output current [A]

CMC 256-6 EP (Extended Precision)

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 1

CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON

REL DE SOBRECORRENTE NO DIRECIONAL

1. QuickCMC 1.1 - Dados do Rel

1.2 - Configurao do Hardware

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 2

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 3

1.3 Teste de Valres de Pickup L-N

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 4

1.4 Teste de Valres de DropOut

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 5

1.6.10 Para capturar o dado do teste, clique em Add to Report

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 6

Fase A 1,6 A 1,7 A 1,8 A 1,9 A 1,8 A 1,7 A 1,6 A 0A

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Trigger Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 0 Start = 0 Start = 0 Nenhum

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 7

Levantamento da curva corrente x tempo

Fase A 0,0 A 3,6 A 0,0 A 5,4 A 0,0 A 7,2 A 0,0 A

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Pgina 8

Teste de Pickup instantneo

Estado Inst L-N #1 Inst L-N #2 Inst L-N #3 Inst L-N #4

Fase A 9,7 9,8 9,9 10

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Trigger Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1

3.1 Teste de Pickup, Dropout e intantneo

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CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON

REL GE UR D60 1. Ligaes do Rel

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Eng. Geraldo M. Aoun______________ GE-UR-D60__________________27/05/02_________________Pgina 3

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2. Construo das curvas caractersticas utilizando o software CMC

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PHS DIST Z1 SHAPE

PHS DIST Z1 REACH

PHS DIST Z1 RCA

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ZONA 1 QUADRILATERAL (FASE-FASE) PHS DIST Z1

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