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Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial

i

UNIVERSIDAD SIMON BOLIVAR
INGENIERIA GEOFISICA










PROCESADO DE SISMICA DE REFLEXIN
SUPERFICIAL EN LA CUENCA DE AINSA,
HUESCA (ESPAA)


Por
Mara Antonieta Gay Florez




Proyecto de Grado
Presentado ante la Ilustre Universidad Simn Bolvar
Como requisito Parcial para optar al Ttulo de
Ingeniero Geofsico



Sartenejas, Enero de 2005


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
ii
Este trabajo ha sido aprobado en nombre de la Universidad Simn Bolvar por el
siguiente jurado calificador:








________________________________
Dr. Jos Regueiro




_________________________________





_________________________________









Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
iii
PROCESAMIENTO DE DATOS SSMICOS DE REFLEXIN SUPERFICIAL EN EL
COMPLEJO TURBIDITICO DE AINSA
POR
Mara Antonieta Gay Florez

RESUMEN

La presente memoria de tesis de pregrado ha consistido en efectuar el procesado de tres
perfiles ssmicos de reflexin superficial en donde la caracterstica fundamental es la mala
calidad de los datos de campo, debido a las condiciones geolgicas de la zona de estudio. El
trabajo supone pues, una revisin de las distintas estrategias de procesado multiseal que deben
aplicarse a los datos a fin de obtener secciones ssmicas de reflexin con la mejor relacin
seal/ruido posible.
La prospeccin ssmica llevada a cabo se ha localizado sobre el complejo turbidtico de la
cuenca de Ainsa (Huesca, Espaa) con el propsito de caracterizar las improntas ssmicas que
dejan estas estructuras geolgicas superficiales.
Con los mismos datos de campo se ha realizado tambin un anlisis de refraccin y los
campos de velocidades obtenidos se han utilizado para evaluar las secciones ssmicas. En el
trabajo tambin se incluye la metodologa utilizada para realizar los sismogramas sintticos
correspondientes a registros snicos realizados en los sondeos mecnicos de investigacin.
Posteriormente, estos sismogramas se utilizan como cota de referencia para situar los reflectores
de la seccin ssmica (en tiempo doble) a su profundidad equivalente.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
iv

















A todas aquellas personas, amigos y
familiares, que de una u otra forma ayudaron en la
elaboracin de este trabajo de fin de carrera, en
especial a mis padres que me han dado todo y han
hecho de m la persona que soy hoy.
Muchas Gracias...
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
v
NDICE

Pg.
NDICE DE FIGURAS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . vii

NDICE DE LMINAS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xi

NDICE DE TABLAS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xi

GLOSARIO DE TRMINOS EN INGLS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xii

I INTRODUCCIN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

II MTODOS SSMICOS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
II.1 Principios bsicos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
II.2 Ssmica de refraccin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
II.3 Ssmica de reflexin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

III ZONA DE ESTUDIO Y ADQUISICIN DE DATOS SSMICOS. . . . . . . . . . . . . . 19
III.1 Marco Geolgico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
III.2 Zona de Estudio y Ubicacin de los Perfiles Ssmicos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
III.3 Instrumentacin Utilizada y Parmetros de Adquisicin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

IV PROCESADO DE DATOS DE SSMICA DE REFLEXIN. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
IV.1 Secuencia Convencional de Procesado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Tratamientos de Pre-Apilamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Tratamientos de Apilamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
Tratamientos de Post-Apilamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
vi
Pg.
V PROCESADO ESPECFICO DE LAS LNEAS SSMICAS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
V.1 Procesado del Perfil Ssmico PS-1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
V.2 Procesado del Perfil Ssmico PS-2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
V.3 Procesado del Perfil Ssmico PS-3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
V.4 Refracciones de los Perfiles Ssmicos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
V.5 Utilizacin de los Registros Snicos del Perfil PS-1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72

VI INTERPRETACIN GEOFSICA DE LAS SECCIONES SSMICAS. . . . . . . . . . 78
VI.1 Interpretacin Del Perfil Ps-1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
VI.2 Interpretacin Del Perfil Ps-2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
VI.3 Interpretacin Del Perfil Ps-3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83

VII CONCLUSIONES DE LA MEMORIA. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88

BIBLIOGRAFA. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90

ANEXOS
A.1 Teora de Ecuacin de Onda. Tipos de Ondas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
A.2 Mtodo de Inversin de Rayo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
A.3 Columnas Litolgicas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
A.4 Glosario de Trminos Geolgicos Usados en la Memoria . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113








Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
vii
NDICE DE FIGURAS

Pg.
Figura II.1 Conversin de una onda incidente P. 7
Figura II.2 Esquema de un dispositivo de adquisicin de datos ssmicos y
ecuaciones de las trayectorias de los rayos ssmicos.
8
Figura II.3 Ejemplo de tiro de campo en donde se pueden ver todas las ondas
procedentes del contacto entre dos capas.
9
Figura II.4 Mtodo de refraccin. 10
Figura II.5 El mtodo de refraccin proporciona una imagen del subsuelo en
trminos de campo de velocidades ssmicas V (x,z).
11
Figura II.6 Esquema bsico de la emisin y recepcin de los rayos reflectados en las
distintas capas reflectoras.
12
Figura II.7 Esquema del recorrido de los rayos reflejados en tres capas para una
posicin de tiro y dos estaciones receptoras.
13
Figura II.8 Seccin ssmica obtenida mediante el mtodo de reflexin. 15
Figura II.9 Combinacin de una seccin ssmica (reflexin) con su correspondiente
perfil ssmico de refraccin.
15
Figura II.10 La diferencia entre registros ssmicos pertenecientes a ssmica superficial y
a ssmica profunda.
16
Figura II.11 Registros de campo con diferentes geometras de adquisicin en un
mismo contexto geolgico.
18
Figura III.1 Mapa general de la zona de estudio 19
Figura III.2 Mapa Geolgico de la Pennsula Ibrica 20

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
viii
Pg.
Figura III.3 Mapa tectnico de los Pirineos en donde se halla sealada la cuenca de
Ainsa.
21
Figura III.4 Situacin del perfil PS-1 y de los sondeos de investigacin A-1, A-2, L-1 y
L-2
23
Figura III.5 Situacin de los perfiles PS-2 y PS-3. Tambin se ubican los sondeos A-2
y A-3.
24
Figura III.6 Representacin esquemtica de los intervalos estratigrficos del rea de
Ainsa.
25
Figura III.7 Fotografa de la seccin transversal por donde circula el perfil PS-1 y su
correspondiente interpretacin estratigrfica.
26
Figura III.8 Instrumentacin ms relevante utilizada y rutina de trabajo. 27
Figura IV.1 Secuencia bsica del procesamiento de datos ssmicos de reflexin. 31
Figura IV.2 Ejemplo de un tiro de campo en el que se observan las trazas con alto
contenido de ruido que deben ser eliminadas en la primera fase del
procesamiento.
33
Figura IV.3 Lectura de las primeras llegadas y detalle del picado (picking). 33
Figura IV.4 Efecto de la eliminacin directa de la onda area y de las primeras
refracciones en un registro.
34
Figura IV.5 Estudio espectral (frecuencias, amplitudes) de los registros a fin de
caracterizar cada uno de los eventos presentes.
36
Figura IV.6 Descomposicin de los registros en bandas de frecuencia a fin de
determinar el ancho ptimo en donde se sitan las reflexiones.
36
Figura IV.7 Anlisis de las frecuencias espaciales. 37
Figura IV.8 Efecto sobre el registro despus de filtrar por nmero de onda y
frecuencia los eventos atribuidos a ruido
37

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
ix
Pg.
Figura IV.9 Clculo de las correcciones estticas de refraccin. 39
Figura IV.10 Curvas de correcciones estticas y residuales para las posiciones de las
fuentes y los receptores.
40
Figura IV.11 Efecto sobre un registro de campo de la correccin de amplitud por
prdida energtica debido a la expansin geomtrica del frente de ondas
y a los mecanismos de absorcin a lo largo de la trayectoria.
42
Figura IV.12 Registros de campo sobre los que se realiz el borrado de las refracciones
y una deconvolucin.
43
Figura IV.13 Ejemplo de anlisis de velocidad. 45
Figura V.1 Registro tipo del perfil PS-1, en donde se muestra la mala calidad de los
datos caracterizada por una serie de trenes de onda que se superponen a
las reflexiones.
49
Figura V.2 Flujo de tratamiento pre-apilamiento del perfil PS-1. En figura se
muestran los datos de campo y el resultado del tratamiento.
51
Figura V.3 Ejemplo de la aplicacin del segundo flujo de procesado con el fin de
eliminar el tren de ondas guiadas que quedaban residentes despus de la
aplicacin del flujo anterior
52
Figura V.4 Campo de velocidades RMS utilizado en la realizacin del apilamiento
de las trazas del perfil PS-1.
53
Figura V.5 Fragmento de secciones ssmicas del perfil PS-1 para ambos procesados
despus del apilamiento.
54
Figura V.6 Fragmentos de las secciones editadas provenientes del primero y de
segundo grupo de datos. La semejanza entre ambos conjuntos indica que
los algoritmos aplicados no han creado artefactos y han conseguido
respetar los reflectores.
56
Figura V.7 Registro tipo del perfil PS-2. Este registro muestra una mejora de la
calidad de los datos, en donde las reflexiones se aslan un poco ms de
los trenes de onda considerados como ruido.
58
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
x
Pg.
Figura V.8 Flujo del primer tratamiento de pre-apilamiento del perfil PS-2. Datos de
campo y el resultado del tratamiento.
60
Figura V.9 Ejemplo del efecto del segundo flujo de procesado, con el fin de eliminar
el tren de ondas guiadas que quedaban residentes despus de la
aplicacin del flujo anterior.
61
Figura V.10 Porcin de secciones ssmicas del perfil PS-2 producto de ambos
procesados.
62
Figura V.11 Flujo del tratamiento de pre-apilamiento aplicado al perfil PS-3. 65
Figura V.12 Seccin ssmica resultante del apilamiento y la misma seccin despus de
crear trazas sintticas intermedias.
66
Figura V.13 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-1 69
Figura V.14 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-2. 70
Figura V.15 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-3. 71
Figura V.16 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica
correspondiente al registro snico del sondeo A-1
73
Figura V.17 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica
correspondiente al registro snico del sondeo A-2
75
Figura V.18 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica
correspondiente al registro snico del sondeo L-1
76
Figura V.19 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica
correspondiente al registro snico del sondeo L-2
77
Figura VI.1 Diferentes imgenes ssmicas de la seccin del perfil PS-1. 80
Figura VI.2 Diferentes imgenes ssmicas de la seccin del perfil PS-2. 81
Figura VI.3 Diferentes imgenes ssmicas de la seccin del perfil PS-3. 82
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
xi
NDICE DE LMINAS


Pg.
Lmina VI.1 Seccin ssmica de reflexin del perfil PS-1. 57
Lmina VI.2 Seccin ssmica de reflexin del perfil PS-2. 63
Lmina VI.3 Seccin ssmica de reflexin del perfil PS-3. 67
Lmina VII.1 Interpretacin de la seccin ssmica del Perfil PS-1 85
Lmina VII.2 Interpretacin de la seccin ssmica del Perfil PS-2 86
Lmina VII.3 Interpretacin de la seccin ssmica del Perfil PS-3 87


NDICE DE TABLAS

Pg.
Tabla III.1
Informacin general de los parmetros de adquisicin de los tres perfiles
ssmicos superficiales.
28
Tabla V.1 Parmetros de ajuste del clculo de refraccin de los perfiles ssmicos.
68


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
xii
GLOSARIO DE TERMINOS EN INGLES

Las expresiones y abreviaturas que se describen a continuacin son las ms utilizadas a lo
largo de la memoria:

Aliasing. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Efecto de distorsin de la frecuencia de la seal debido al
muestreo temporal y/o espacial.

Common MidPoint
. . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Punto medio de reflexin comn.

Ground Roll (GR)
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Ondas superficiales

Headers. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Encabezado

Nearshore
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Costero

Normal MoveOut. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Correccin dinmica de la hiprbola de reflexin.

Mute
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Borrado directo de una porcin de traza (o trazas) ssmica.

Offset. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Distancia fuente-receptor.

Picking
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Digitizar

Spike . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Seal temporal de duracin cero, delta de Dirac.

Vibroseis
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Camin vibrador

VRMS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Velocidad cuadrtica media.




Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
1
CAPTULO I
INTRODUCCIN

La presente memoria de tesis de pregrado se basa en el procesamiento de datos de
ssmica de reflexin superficial y su objetivo es presentar y valorar los aspectos metodolgicos
que la distingue de la ssmica profunda y que han de tenerse en cuenta durante el tratamiento
de los datos.
La ssmica de reflexin superficial, tambin llamada ssmica de alta resolucin, tiene
como objetivo obtener imgenes de los primeros 500 m del subsuelo en trminos de capas
reflectoras que luego, mediante la informacin geolgica, se asociarn a estructuras y capas
litolgicas. El trmino de alta resolucin se incorpora debido a las pequeas dimensiones de las
estructuras a determinar, comparadas con las porciones de subsuelo ms profundas y
estructuras de mayor tamao inspeccionadas por la ssmica convencional.
Dado que los primeros metros del subsuelo son en donde se concentra la mayor parte de
la actividad humana (construcciones, contaminacin, etc.) y teniendo en cuenta que suministran
la mayora de los recursos (agua, minerales, recursos lticos); es fcil deducir que actualmente la
ssmica de reflexin superficial est experimentando un auge de aplicacin.
Ya a finales de los 90 se plante la necesidad de explicitar las diferencias metodolgicas
entre ssmica superficial y profunda (Steeples y otros, 1997); puesto que si bien la fsica de la
tierra es la misma, hay aspectos que varan significativamente entre ambas. Por ejemplo, el
diseo de filtros para eliminar las bajas frecuencias producidas por las ondas guiadas es un
punto crucial en un registro de ssmica de alta resolucin, mientras que en ssmica profunda
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
2
suele realizarse por borrado directo ya que estos trenes no interfieren con las reflexiones
profundas.
Adems de este aspecto metodolgico, el trabajo que se presenta constituye un caso
peculiar de la utilizacin de la ssmica superficial con fines de apoyo a la ssmica profunda. La
prospeccin ssmica llevada a cabo se ha localizado sobre el complejo turbidtico de la cuenca de
Ainsa (Huesca, Espaa), con el propsito de caracterizar las imgenes ssmicas que dejan estas
estructuras geolgicas superficiales para, posteriormente y mediante el uso de modelos ssmicos,
obtener imgenes equivalentes en profundidad. En este contexto, la presente memoria
constituye una primera parte de un proyecto ms general sobre impronta ssmica de reservorios
petrolferos.
Es importante mencionar que los datos de campo fueron adquiridos en los aos 1997-
1998 por el Institut Cartogrfic de Catalunya (ICC) a peticin del Dr. Kevin T. Pickering del
Department of Earth Sciences del University College London (UCL). Sin embargo, debido a las
condiciones geolgicas de la zona de estudio, los datos se caracterizaron por poseer una baja
relacin seal/ruido de forma que el primer procesamiento que se aplic no fue lo
suficientemente efectivo como para aislar correctamente las reflexiones de los otros eventos
ssmicos. Coincidiendo con la adquisicin de un nuevo paquete de programas de procesado de
datos de reflexin por parte del ICC, este trabajo consiste en efectuar un nuevo procesado
utilizando los emergentes algoritmos multiseal, lo que ha supuesto una revisin profunda de
todos los datos disponibles.



Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
3
Los captulos de la memoria se han organizado en vistas a facilitar la comprensin de la
misma:
As, el Captulo II se ha incorporado a modo de introduccin, en donde se presentan los
principios bsicos de la prospeccin ssmica de reflexin y su diferencia con la ssmica de
refraccin; que tambin ha sido utilizada como mtodo complementario.
En el Captulo III se recoge la informacin geolgica de la zona de estudio y, a partir de
ella se construye el corte-patrn sobre el cual se planifican la geometra y los parmetros de
adquisicin de los datos. Tambin se presenta la ubicacin de los tres perfiles ssmicos
realizados.
El Captulo IV es la exposicin de la secuencia bsica de procesamiento de datos que
debe seguirse para convertir los registros ssmicos de campo en una seccin ssmica de reflexin.
Como se ver, esta secuencia incluye varias etapas y en cada una pueden aplicarse muchos
algoritmos especficos. Siendo el objetivo fundamental del tratamiento multiseal la
preservacin de las distintas reflexiones y la eliminacin de los otros trenes de ondas. En este
captulo no se ha pretendido explicar cada uno de los posibles algoritmos de tratamiento,
difundidos ampliamente en la literatura; si no que se ha centrado ms en presentar como stos
operan sobre los datos superficiales y deducir as un conjunto de sugerencias.
Siguiendo la lnea del anterior captulo, en el Captulo V se presentan los flujos de
procesado para obtener las secciones ssmicas de reflexin de los tres perfiles realizados, as
como los respectivos campos de velocidades obtenidos de la aplicacin del mtodo de
refraccin. En este captulo se incluye tambin la metodologa utilizada para calcular los
sismogramas sintticos correspondientes a los registros snicos realizados en los sondeos de
investigacin. Posteriormente, estos sismogramas se utilizan como punto de comparacin con
las trazas de la seccin ssmica.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
4
Una vez presentados todos los procesos seguidos para la obtencin de las secciones
ssmicas, en el Captulo VI se procede a la interpretacin geofsica de los perfiles. Este es un
punto a explicar ya que el presente trabajo es meramente geofsico, su resultado final es la
obtencin de secciones ssmicas; evidentemente todo resultado va acompaado de una
valoracin y, por ende, de una interpretacin. Pero en este caso dicha interpretacin se basa solo
en criterios geofsicos (capas reflectoras, zonas de baja velocidad, etc.) que luego debern
asociarse a facies ssmicas y a estructuras geolgicas.
Todas las conclusiones extradas del trabajo se hallan recogidas en el Captulo VII de
conclusiones. As mismo, al final de la memoria se recogen las referencias bibliogrficas y los
Anexos en donde se amplan ciertos aspectos mencionados en los captulos.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
5
CAPTULO II
MTODOS SSMICOS

La exploracin ssmica emplea las ondas elsticas que se propagan a travs de la tierra y
que han sido generadas artificialmente. Su objetivo es el estudio del subsuelo en general, lo cual
permite obtener informacin geolgica de los materiales que lo conforman. La prospeccin
ssmica es una herramienta de investigacin poderosa, ya que con ella se puede inspeccionar con
buena resolucin desde los primeros metros (ssmica de alta resolucin o ssmica superficial)
hasta varios kilmetros de profundidad (ssmica profunda). As, para la ssmica profunda se
utilizan fuentes de energa muy potentes (explosivos o camiones vibroseis) capaces de generar
ondas elsticas que llegan a las capas profundas del subsuelo, mientras que para la ssmica
superficial se utilizan martillos de impacto, rifles ssmicos y explosivos de baja energa. De
manera que el diseo de una campaa ssmica (equipo y material a utilizar) est en funcin del
objetivo del estudio. Segn esto, la ssmica profunda se emplea en la deteccin de reservorios
petrolferos (ya sea terrestre o martima), grandes estructuras geolgicas (plegamientos
montaosos, zonas de subduccin, etc.), yacimientos minerales, domos salinos, etc. Mientras que
la ssmica superficial tiene mucha aplicacin en la obra pblica y la ingeniera civil.
La prospeccin ssmica se basa en el mismo principio que la sismologa, consiste en
generar ondas ssmicas mediante una fuente emisora y registrarlas en una serie de estaciones
sensoras (gefonos) distribuidas sobre el terreno. A partir del estudio de las distintas formas de
onda y sus tiempos de trayecto, se consiguen obtener imgenes del subsuelo que luego se
relacionan con las capas geolgicas (secciones ssmicas, campos de velocidades, etc.).
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
6
El desarrollo de la teora ssmica se remonta a 1678 cuando se enuncia la Ley de la
Elasticidad de Hooke
1
, mucho antes de la existencia de instrumentos capaces de realizar
medidas significativas. Sin embargo, no es sino hasta 1845 cuando, Robert Mallet, realiza los
primeros intentos de medicin de las velocidades ssmicas a travs de terremotos artificiales,
usando plvora negra como fuente de energa y recipientes de mercurio como receptores. En
1899 Knott
2
desarrolla la teora ssmica de la reflexin y la refraccin. Pero, es en 1910 cuando las
diferencias entre las ondas S y P se da a conocer por A. Mohorovicic, quien las identifica y las
relaciona con la base de la corteza, el Moho.
La ssmica de reflexin nace gracias a los primeros trabajos realizados por Reginald
Fesseden, en 1913, con el fin de detectar tmpanos de hielo. Pero no fue sino hasta 1927 cuando
el mtodo de reflexin se convierte en una tcnica comercial de exploracin geofsica.
En 1919, Ludger Mindtrop aplic para una patente sobre el mtodo de refraccin y ya
hacia 1930 todos los domos salinos superficiales haban sido descubiertos mediante esta tcnica
de exploracin.
Rieber (1939) introduce la idea del procesado de datos ssmicos usando una grabacin de
densidad variable y foto celdas para la reproduccin de las trazas ssmicas. Sin embargo, es en
1953, cuando las cintas magnticas se hicieron comercialmente disponibles, que se dio el paso al
inicio del procesamiento de datos; difundindose rpidamente en los aos siguientes (Telford,
1990). Hasta este momento no se empleaba la geometra CMP, la cual es usada por primera vez
en 1956.
A finales de los 70, coincidiendo con el auge informtico y el desarrollo tecnolgico, los
nuevos soportes digitales y la nueva instrumentacin representaron otro cambio significativo en
el campo de la ssmica. Desde entonces no se ha dejado de trabajar en la continua mejora de las

1
Vase el Anexo A.1
2
Knott, C. Reflexin y refraccin de ondas elsticas con aplicaciones sismolgicas. Philosophical Magazine 48. 1989, p. 64-97.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
7
tcnicas de adquisicin y procesamiento de datos. En la actualidad toda la adquisicin se realiza
en formato digital y los datos son procesados antes de su interpretacin.

II.1 PRINCIPIOS BSICOS
Cuando una onda ssmica encuentra un cambio en las propiedades elsticas del material,
como es le caso de una interfase entre dos capas geolgicas; parte de la energa contina en el
mismo medio (onda incidente), parte se refleja (ondas reflejadas) y el resto se transmite al otro
medio (ondas refractadas) con cambios en la direccin de propagacin, en la velocidad y en el
modo de vibracin (Figura II.1).

i
2
i
2
S trasmitida
P trasmitida
i
0
i
1
I
1
P i nci dente
P reflejada
S refl ej ada
medio 1
medio 2
p
1 p1 s1
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p
2
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p1
=
sen i'
v
1
s1
=
sen i
v
2
p2
=
sen i'
v
2
s1
P crti ca
ic

Figura II.1 Conversin de una onda incidente P. Las ondas ssmicas que viajan por subsuelo se reflejan
y se refractan siguiendo la ley de Snell. La cantidad de energa de las ondas incidentes se
reparte entre las ondas reflejadas, las refractadas y la absorcin natural del terreno.
= p
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
8
Las leyes de la reflexin y la refraccin se derivan por el principio de Huygens cuando se
considera un frente de onda que incide sobre una interfase plana. El resultado final es que
ambas leyes se combinan en un nico planteamiento: en una interfase el parmetro de rayo, p,
debe tener el mismo valor para las ondas incidentes, reflejadas y refractadas. Si el medio consta
de un cierto nmero de capas paralelas, la ley de Snell establece que el parmetro del rayo tiene
que ser el mismo para todos los rayos reflejados y refractados resultantes de un rayo inicial
dado.
La ley de Snell proporciona informacin sobre las trayectorias de los rayos, los tiempos
de llegada y la posicin de los refractores, pero no proporciona informacin alguna sobre las
amplitudes de las ondas.

v1
tiro
gefonos
onda directa t = x / v1
v1
v2
i
c
i
c
onda refractada t = x/ v2 sen i = V1 / V2
c
v1
v2
tiro
s'
onda reflejada t = t + x / V1
2 2 2 2
o
gefonos
tir
gefonos

Figura II.2 Los gefonos, situados a distancias conocidas (x
i
), registran los diferentes tiempos de
llegada de cada tipo de onda (tj) que est caracterizada para una determinada trayectoria.
Con estos tiempos (t
j
), la geometra del dispositivo experimental (x
i
) y las ecuaciones de las
trayectorias de los rayos se calcula la distribucin de velocidades del subsuelo (V1, V2;....).

Rayo directo que viaja por la parte superior de la
primera capa a una velocidad V1.
Rayo refractado (o trasmitido), que se origina para
ngulos de incidencia (i0) mayores y cuando la
velocidad de la segunda capa es superior a la de la
primera (V
2
> V
1
). Dependiendo de las velocidades, hay
un ngulo de incidencia crtica (i
c
) para el cual el ngulo
de refraccin es de 90, entonces el rayo viaja a travs
del contacto entre las dos capas y vuelve a subir con el
mismo ngulo que ha incidido, este rayo se denomina
rayo crtico y es el nico que se registra en superficie.
Rayo reflejado que se origina para ngulos de incidencia
(i0) pequeos. Las ondas rebotan sobre el techo de la
segunda capa.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
9
En el registro ssmico que se presenta en la Figura II.3 se pueden identificar claramente
las ondas elsticas producto del contacto entre dos capas. Se aprecia la onda directa (1754 m/s),
la onda refractada (3500 m/s) y las ondas P reflejadas (1630 m/s primera capa, y 4000 m/s
segunda capa), as como la onda reflejada SV (2858 m/s). Luego, con la informacin de distancia
fuente-receptor y tiempos de llegada se construyen las curvas espacio-tiempo.


o
n
d
a
refra
cta
d
a
h
t
o
t
i
ona reflejada
o
n
d
a

d
ir
e
c
t
a
x
c g
distancia
tiempo
Profundidad
v1
v2
distancia crtica
distancia de corte

Figura II.3 Ejemplo de tiro de campo en donde se pueden ver todas las ondas procedentes del contacto
entre dos capas. A la derecha se muestra las curvas espacio-tiempo.

II.2 SSMICA DE REFRACCIN
La ssmica de refraccin realiz grandes aportaciones a la prospeccin ssmica en sus
comienzos. Hasta la dcada de los 60 fue extremadamente popular, especialmente en la
exploracin de cuencas sedimentarias donde condujo al descubrimiento de grandes campos de
petrleo; posteriormente qued relegada por los avances del mtodo de reflexin que
proporcionaba una informacin ms detallada (Lavergne, 1989). Sin embargo, debido a su
menor coste y al tipo de informacin que proporciona (campo de velocidades) la ssmica de
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
10
refraccin es un potente mtodo que actualmente se emplea tanto en estudios de estructuras
profundas de la corteza terrestre como en estudios del subsuelo ms inmediato (ripabilidad,
rellenos anisotrpicos, compactacin de los materiales, etc.).
El mtodo se basa en la medicin del tiempo de viaje de las ondas refractadas
crticamente en las interfaces entre las capas con diferentes propiedades fsicas;
fundamentalmente por contraste entre impedancias acsticas (z = .v; en donde es la densidad
y v la velocidad de la capa). La energa ssmica se genera mediante un impacto controlado en
superficie (o a una determinada profundidad) que va propagndose en forma de onda elstica a
travs del subsuelo interaccionando con las distintas capas, de manera que una parte de la
energa se refleja y permanece en el mismo medio que la energa incidente, y el resto se
transmite al otro medio con un fuerte cambio de la direccin de propagacin debido al efecto de
la interfase (refraccin). De esta interaccin, la ssmica de refraccin solo considera las
refracciones con ngulo crtico ya que son las nicas ondas refractadas que llegan a la superficie
y pueden ser captadas por los gefonos (Figura II.4).


Figura II.4 La ssmica de refraccin utiliza los tiempos de primeras llegadas del sismograma que
corresponden a las ondas refractadas crticamente en las distintas capas del subsuelo.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
11
La distancia desde los receptores al punto de tiro debe ser considerablemente grande
comparada con la profundidad de los horizontes que se desean detectar, debido a que las ondas
viajan grandes distancias horizontales antes de ser refractadas crticamente hacia la superficie;
por ello tambin se suele llamar ssmica de gran ngulo. Estas largas trayectorias de
propagacin hacen que se disipe una mayor proporcin de energa y, en particular se produzca
una absorcin de las frecuencias ms altas, en consecuencia los datos de refraccin son de bajas
frecuencias comparados con los datos de reflexin y, a igualdad de fuente ssmica, se
inspecciona menor profundidad.
La ssmica de refraccin es especialmente adecuada cuando se desean estudiar
superficies de alta velocidad, ya que brinda informacin de velocidades y profundidades en las
cuales se propagan las ondas (Figura II.5). Tambin es posible inspeccionar reas ms grandes
mas rpidamente y de forma ms econmica que el mtodo de reflexin; a pesar de presentar
una significante perdida del detalle (Dobrin, 1988).

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180 190 200 210 220 230 240
-30
-20
-10
0

500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
Velocidaes de las Ondas P
(m/s)

Figura II.5 El mtodo de refraccin proporciona una imagen del subsuelo en trminos de campo de
velocidades ssmicas V (x,z). Este perfil ssmico de refraccin se realiz en la cuenca
evaportica de Cardona, Barcelona (Espaa) (Teixid, 2004). El techo de la sal corresponde
a la capa de mayor velocidad (superior a 3500 m/s). Ntese que el contacto entre la sal y las
capas superiores es altamente irregular dando cuenta de la alta plasticidad de la sal.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
12
II.3 SSMICA DE REFLEXIN
El mtodo ssmico de reflexin se basa en las reflexiones del frente de ondas ssmico
sobre las distintas interfases del subsuelo. Estas interfases (reflectores) responden, al igual que
en la refraccin, a contrastes de impedancia que posteriormente se relacionaran con las distintas
capas geolgicas. Las reflexiones son detectadas por los receptores (gefonos) que se ubican en
superficie y que estn alineados con la fuente emisora. Dado que las distancias entre la fuente y
los gefonos son pequeas respecto a la profundidad de penetracin que se alcanza (Figura II.6),
el dispositivo experimental soporta que se est operando en "corto ngulo"; asegurando as la
obtencin de reflexiones y, distinguindose de la ssmica de refraccin o de "gran ngulo".


Figura II.6 Esquema bsico de la emisin y recepcin de los rayos reflectados en las distintas capas
reflectoras.

Con el fin de conseguir un mejor reconocimiento de la zona de estudio, se realiza un
nmero de disparos mayor y se aumenta la cantidad de gefonos en comparacin con los
empleados en un perfil de refraccin de longitud equivalente. El resultado es un grupo de trazas
ssmicas procedentes de todos los tiros que se analizan, se procesan y luego se reordenan en
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
13
conjuntos de puntos reflectores comunes (CMP), los cuales contienen la informacin de todas
las reflexiones halladas (Figura II.7-a). Una vez todas las trazas de un mismo CMP se han
agrupado, se suman y se obtiene una traza CMP. El conjunto de todas las trazas CMP constituye
la denominada seccin ssmica de reflexin que es el resultado final de este mtodo. Una seccin
ssmica es una imagen del subsuelo en donde las reflexiones se ven en forma de lbulos negros
de mayor amplitud y definen las capas reflectoras que despus se asociarn a las estructuras
geolgicas (Figura II.7-b).
Puntos de reflexin
Capa 3
Capa 2
Capa 1 Capa 1
Capa 2
Capa 3
Tiro Gefonos .... ......
Registro Ssmico
Reflexiones en las capas
Puntos de reflexin
(a)

Figura II.7 (a) Esquema del recorrido de los rayos reflejados en tres capas para una posicin de tiro y
dos gefonos. (b) Una vez todas las reflexiones de un mismo CMP se han agrupado, se
suman y se obtiene una traza CMP. (c) Las trazas CMP proporcionan la imagen ssmica del
terreno.

Traczas CDP
Reflectores
Puntos reflectores Comunes (CDP)
Gefonos
Tiro 1 Tiro 2
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
14
El tratamiento de los datos en ssmica de reflexin es ms laborioso y delicado que el
procesado de refraccin
3
; donde uno de los retos ms importantes es conseguir aislar de los
registros las reflexiones, eliminando las otras ondas (onda directa, refracciones, ruido, etc.). Esta
tarea implica la aplicacin de tratamientos multiseal (filtros, deconvoluciones, etc.) que, si no se
hacen cuidadosamente, pueden crear artefactos y confundirse con falsos reflectores. Otro punto
conflictivo del procesado es que en las secciones ssmicas de reflexin las capas reflectoras estn
en modo tiempo doble debido a que cada rayo reflejado ha hecho el viaje de ida (incidencia) y
vuelta (rebote). A los interpretes que estn acostumbrados a trabajar con secciones ssmicas les
es fcil pasar mentalmente del tiempo doble en donde se detecta un reflector a la profundidad
que le tocara (profundidad equivalente), pero en muchos casos se facilita esta tarea
automticamente y se presentan las secciones ssmicas de reflexin convertidas a una
profundidad aproximada.
Este mtodo es una de las tcnicas de prospeccin geofsica ms utilizada debido a que
su resultado es una imagen denominada seccin ssmica en donde se aprecia la geometra de las
estructuras geolgicas (Figura II.8).
La ssmica de reflexin tuvo su gran auge en la exploracin petrolera, donde se aplic en
la bsqueda de reservorios de gas y petrleo. Sin embrago, a partir de de los aos 90 empez a
extenderse a aplicaciones ms superficiales, en donde se combina con la ssmica de refraccin
de alta resolucin, logrndose as expandir su campo de accin hacia los problemas relacionados
con la ingeniera geolgica (Figura II.9).


3
Consultar el apartado de bibliografa si se quiere profundizar ms en el tema.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
15

Figura II.8 Seccin ssmica obtenida mediante el mtodo de reflexin. El objetivo fundamental de este
mtodo es describir la geometra del subsuelo estudiado. El perfil ssmico de reflexin
coincide con el de refraccin de la Figura II.5 realizado en la cuenca evaportica de Cardona,
Barcelona (Espaa) (Teixid, 2004).


Figura II.9 Combinacin de una seccin ssmica (reflexin) con su correspondiente perfil ssmico de
refraccin. Ambos resultados pertenecen a las figuras II.5 y II.8. Ntese como el campo de
velocidades de la refraccin ayuda a la interpretacin geolgica de la seccin a la vez que ha
permitido su conversin a profundidad.

La ssmica de reflexin de alta resolucin se basa en los mismos principios que la ssmica
profunda y, al igual que ella, persigue los mismos propsitos. La diferencia estriba en que las
estructuras geolgicas de inters de la ssmica superficial son menores que las de la ssmica
profunda, de manera que para conseguir la resolucin necesaria debe trabajarse con geometras
ms reducidas y rangos de frecuencias ms altos; puesto que los primeros metros del subsuelo
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
16
constituyen una zona caracterizada por ser ms heterognea y con contrastes de velocidades
ms elevados (Holliguer, 1998). Ello produce que el registro ssmico de la propagacin del frente
de ondas se distinga por un nmero elevado de trenes de ondas que muy a menudo se
interfieren y se superponen a las reflexiones superficiales. En la Figura II.10 se intenta establecer
las diferencias entre un registro de ssmica de alta resolucin y uno de ssmica profunda
(Yilmaz, 2001). En el registro de ssmica profunda, se observa que el Ground Roll (A) no es lo
suficientemente fuerte como para solapar las reflexiones (B, C, D, E).
(a) (b)
Figura II.10 La diferencia entre registros ssmicos pertenecientes a ssmica superficial (a) y a ssmica
profunda (b) estriba, fundamentalmente, en que en la ssmica superficial las reflexiones de
inters se superponen a las otras ondas del frente ssmico. Ello produce que el
procesamiento de datos sea ms complicado.

En ssmica superficial, la eleccin del dispositivo experimental est muy condicionada
por la generacin de las ondas guiadas, el GR y la onda area, debido a que normalmente los
Trenes de onda superficiales que se
superponen a las reflexiones superficiales
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
17
datos se adquieren con un solo gefono por traza; a diferencia de la ssmica profunda en donde
es clsico utilizar arreglos de gefonos que contribuyen a la formacin de una traza
disponindose estratgicamente de manera que estos frentes se interfieran destructivamente y
aumente as la relacin seal/ruido (Sheriff, 1991).
En general los tiros se efectan en los extremos (tiros en cola o en cabeza) o en el centro
(tiros simtricos) del dispositivo (Figura II.11). La primera geometra permite cubrir una
distancia ms grande de la trayectoria de los reflectores, mientras que en los tiros simtricos se
obtiene un mejor control sobre las hiprbolas de reflexin; resultando un dispositivo ms
apropiado cuando hay reflectores inclinados (Brouwer, 1998). No obstante, muchas veces la
geometra de tiro simtrico no suele ser la ms adecuada ya que las ondas guiadas, el GR y la
onda area ocupan la mayor parte de la ventana temporal de los registros de campo. Como se
demostrar en los siguientes captulos, esta diferencia en la adquisicin de datos ha sido uno de
los puntos de valoracin de la presente tesis ya que se han procesado dos lneas ssmicas en
zonas con las mismas caractersticas geolgicas pero una adquirida con tiro simtrico (PS-1) y
otra con tiro en cola (PS-2).
Dos aspectos importantes en la definicin de la geometra de adquisicin son las
posiciones del tiro respecto al primer gefono activo (offset mnimo) y la del ltimo gefono
(offset mximo). stas dependen de las profundidades de investigacin, de las velocidades del
subsuelo y de la longitud total del dispositivo experimental. Una regla emprica, anloga a la de
prospeccin profunda, consiste en que la lnea de gefonos activos cubra una distancia entre 1.5
y 2 veces la profundidad mxima de los reflectores a investigar (Mari y otros, 1998).

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
18
(a) (b)
Figura II.11 Registros de campo con diferentes geometras de adquisicin en un mismo contexto
geolgico. (a) Tiro en cola y (b) tiro simtrico. En este caso, el tiro simtrico muestra mejor
las reflexiones por debajo de los 60 ms que el tiro en cola.No obstante, se observan
reflexiones superficiales de baja amplitud que quedan mejor descritas en el tiro en cola.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
19
CAPTULO III
ZONA DE ESTUDIO Y ADQUISICIN DE DATOS

III.1 MARCO GEOLGICO
La zona de estudio se enmarca en el complejo turbidtico de la cuenca de Ainsa, al norte
de la Pennsula Ibrica en el Prepirineo Aragons. Ms concretamente en la poblacin oscense
de Ainsa, dentro del rea delimitada por el cuadrado que forman los meridianos 0 01 E y 0 14
E y los paralelos 42 17 y 42 30 (Figura III.1).


Figura III.1 Mapa general de la zona de estudio. La cuenca de Ainsa se halla situada en la provincia de
Huesca (Espaa), en el Prepirineo aragons. El recuadro enmarca el complejo turbidtico de
Ainsa.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
20
La regin Pirenaica constituye una cordillera de la orogenia alpina que se extiende
alrededor de unos 500 kilmetros, entre el Ocano Atlntico y el Mar Mediterrneo. Se
desarroll en el rea de colisin entre el bloque europeo occidental y la Pennsula Ibrica,
separando una desnivelacin vertical de la corteza de unos 10 kilmetros. El eje estructural de la
cordillera corresponde a la Zona Interna Metamrfica donde debe situarse la sutura entre
ambas masas continentales (Souquet, 1986).

Escala 1 : 1 000 000
LEYENDA
Negeno
Palegeno
Crtcico
Jursico
Trisico y
Permotrisico
Carbonfero
Devnico
Ordvico
Cmbrico
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Rocas Igneas
Volcnicas bsicas terciarias y cuaternarias
Volcnicas intermedias y cidas terciarias y cuaternarias
Rocas ultrabsicas alpinas
Granitoides postcinemticos hercnicos
Granitoides indiferenciados hercnicos
Granitoides sincinemticos hercnicos
Coplejos plutoicos hercnicos con rocas bsicas
Unidades plutnicas prehercnicas
Rocas ortoderivadas mficas y ultramficas
Rocas ortoderivadas cidas
Zona Btica
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Figura III.2 Mapa geolgico de la Pennsula Ibrica. La cuenca Turbidca de Ainsa se halla situada en la
zona Prepirenaica y est formada por materiales del Cretcico; principalmente margas.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
21
Al norte de la Zona Interna Metamrfica se encuentran las zonas septentrionales,
formadas por macizos primarios y una cubierta sedimentaria, constituida por el Jursico y
Cretcico Inferior y Medio; desarrollados en el margen del cratn europeo y por el Terciario
relacionado a la migracin hacia el norte y oeste del frente tectnico activo (Figura III.2). La
Zona Axial y el Prepirineo, tambin conocidos como las zonas meridionales, se encuentran al
Sur. Su cobertura sedimentaria se form en la plataforma continental del bloque Ibrico y solo
presenta algunos surcos (flysch) del Cretcico Superior y Eoceno. A nivel morfolgico, el
Prepirineo se caracteriza por presentar un relieve ms o menos accidentado, alcanzando sus
alturas mximas en las Provincias de Huesca y LLeida.
En la zona de estudio (Figura III.3), bajo los materiales de pie de monte, se ubica la
formacin San Vicente principalmente constituida por margas que usualmente deslizan talud
abajo y que incluyen olistostromos y cuerpos conglomerticos arenosos y calcarenticos de
carcter turbidtico. En conjunto estos materiales corresponden a una sedimentacin de
plataforma externa altamente compactada.

Figura III.3 Mapa tectnico de los Pirineos en donde se halla sealada la cuenca de Ainsa.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
22
Hacia el Sureste de la cuenca se hallan las calizas de la Formacin Guara que sirven de
lmite inferior. El contacto con dichas calizas es el anticlinal de Boltaa, mientras que al
Noroeste se observa una intercalacin de margas y calizas margosas, entre dos niveles de
calcarenitas. El nivel superior de la formacin San Vicente pasa lateralmente a las calizas de
Puy del Cinca, en la zona de Mediano, y a los sedimentos de nearshore de la Formacin
Sobrarbe, con los que se indenta profusamente, en todo el resto del sinclinal de Buil (De
Federico, 1981).

III.2 ZONA DE ESTUDIO Y UBICACIN DE LOS PERFILES SSMICOS
Los tres perfiles ssmicos se han realizado en los entornos de la poblacin de Ainsa
(Figuras III.4 y III.5) con el objetivo de caracterizar los primeros metros del subsuelo en donde se
halla el complejo turbidco. Como ya se ha mencionado en el Captulo I, el objetivo de esta
exploracin es obtener secciones ssmicas de una formacin geolgica superficial, mundialmente
excepcional, cuyas homlogas se encuentran a mayor profundidad y normalmente constituyen
reservorios petrolferos
4
.

4
En la ltima conferencia internacional de la AAPG (American Association of Petroleum Geologists; Barcelona 2003),
una de las salidas de campo mas relevantes fue la realizada a la zona de Ainsa.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
23

Figura III.4 Situacin del perfil PS-1 (2400 m) y de los sondeos de investigacin A-1, A-2, L-1 y L-2.
Situado al norte de la poblacin de Ainsa.
P
S
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A
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s
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Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
24

Figura III.5 Situacin de los perfiles PS-2 (850 m) y PS-3 (380 m). Tambin se ubican los sondeos de
investigacin A-2 y A-3.
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Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
25
Tanto para planificar la adquisicin de datos como para la posterior interpretacin
fehaciente de las secciones ssmicas es necesario disponer de la informacin geolgica posible.
En este sentido se realiz el primer perfil PS-1, que se plante a modo de calibracin siguiendo
una traza de la que se dispona datos estratigrficos ms detallados (Figuras III.6 y III.7) y de
sondeos mecnicos de investigacin (Figura III.4). -En el Anexo A.3 se presentan las
correspondientes columnas litolgicas deducidas a partir del testigo continuo-.


E W
Seismic Test line

Figura III.6 Representacin esquemtica de los intervalos estratigrficos del rea de Ainsa, sobre los
cuales se traz el perfil ssmico PS-.1, realizado perpendicular al corte.

Este corte sinttico se efectu a partir de la informacin geolgica de detalle de que se
dispona. Segn ella, por debajo de la capa meteorizada se presume obtener un primer nivel de
reflectores asociados a una capa de areniscas en torno a los 44 m de potencia. A continuacin le
seguira un tramo de margas que fueron deslizadas talud abajo entre 80 - 90 m de grosor y
finalmente se localizara un tramo con arenas muy compactas alternando con margas y lutitas.
De ello se deduce que el complejo de inters geolgico se sita alrededor de los 200 - 300 m de
profundidad.
PS-1
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
26
































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Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
48
III.3 INSTRUMENTACIN UTILIZADA Y PARMETROS DE ADQUISICIN
En el apartado anterior se ha puesto de manifiesto que el objetivo de la prospeccin es
alcanzar los 200 - 300 m de profundidad. A tal efecto y para disponer del mximo de energa
posible, se descart la utilizacin de las fuentes superficiales clsicas (martillo o rifle ssmico)
emplendose como fuente ssmica cargas explosivas de baja energa de diseo propio, las cuales
se enterraron entre los 0.9 - 0.7 m.
(a) (b)

(c) (d)
Figura III.8 Instrumentacin ms relevante utilizada. (a) Unidad de registro con selector de los canales
de entrada/salida, sismgrafo y sistema de almacenamiento de datos. (b) Extensin de las
lneas ssmicas sobre el. (c) Perforacin de los sondeos para a situar el explosivo.
(e) Explosivo de baja energa con fulminante elctrico.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
49
La geometra de adquisicin vino determinada, en ltimo trmino, por las pruebas de
campo. El perfil PS-1 se adquiri con tiros simtricos ya que esta disposicin permite determinar
mejor la velocidad de los refractores y es aconsejable en el caso de capas reflectoras con
geometras irregulares. Pero, como se demostrar en el Captulo V, se descart este tipo de
adquisicin para los perfiles PS-2 y PS-3 debido a la gran presencia de las ondas superficiales
(GR) y ondas guiadas halladas en los registros; las cuales enmascaran ampliamente la ventana
temporal de las reflexiones de inters. As, para estos dos ltimos perfiles se dispar con tiros en
cola, con una distancia de 12.5 m desde el punto de tiro al primer gefono (offset mnimo) y un
avance de disparo de 5 m, coincidiendo con la distancia entre los gefonos. La Tabla III.1
presenta la informacin ms significativa de la adquisicin de datos.


Geometra: PS-1 PS-2 PS-3
longitud total 2405 m 857 m 385 m
Nmero total de estaciones 480 169 78
Espaciado entre estaciones 5 m 5 m 5 m
Nmero total de disparos 481 149 74
Espaciado entre disparos 5 m 5 m 5 m
Nmero total de CDP 959 338 172
Espaciado entre trazas CDP 2.5 m 2.5 m 2.5 m
Cobertura CDP 24 24 24
Nmero total de trazas 23082 7152 3552

Informacin de cada registro
Nm de trazas/registro 48
Longitud de los datos 1000 ms
Muestreo temporal 0.1 ms
Nm. de muestras/canal 5000
Filtro pasa bajas 8 Hz Butterworth
Filtro pasa altas 1000 Hz Butterworth
Filtro antialias No


Tabla III.1 Informacin general de los parmetros de adquisicin de los tres perfiles ssmicos
superficiales.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
50
CAPTULO IV
PROCESADO DE DATOS SSMICOS DE REFLEXIN

En el procesamiento de datos de ssmica superficial se utilizan los mismos algoritmos,
incluso el mismo paquete de computacin, que en ssmica profunda. En particular, esta
memoria se ha desarrollado con un paquete comercial de Landmark Inc. (PROMAX, V.7).
El procesamiento consiste en la eleccin y posterior aplicacin de los parmetros y
algoritmos de tratamiento adecuados a los datos ssmicos adquiridos en el campo (datos brutos)
con el fin de obtener secciones ssmicas de calidad. El objetivo fundamental de todo procesado
multiseal es aislar en los registros las reflexiones de los otros eventos ssmicos que se
superponen a ellas (ruido ambiental, GR, onda area, etc.). Actualmente, debido al gran
incremento del volumen de datos (mayor capacidad instrumental) y al desarrollo de nuevos
algoritmos (mayor potencia de clculo), el dominio de las tcnicas de procesado es un pilar
bsico de la prospeccin geofsica.
Otro factor decisivo en ssmica de alta resolucin que afecta al procesamiento es la
necesidad de preservar las altas frecuencias ya que las estructuras geolgicas superficiales estn
en el lmite de la detectabilidad ssmica y la aplicacin de filtros para suprimir los eventos que
no pertenecen a reflexiones caen, a menudo, en el mismo rango de frecuencias, de manera que
cualquier disminucin de este rango supone una menor definicin de la seccin ssmica.
Es tambin un precepto que todo algoritmo empleado durante el procesado debe
preservar el mximo posible las reflexiones originales, de manera que su aplicacin no se
superponga a stas creando "artefactos" que puedan considerarse como falsas reflexiones.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
51
IV.I SECUENCIA CONVENCIONAL DE PROCESO DE DATOS

Desde el momento en que los datos de campo (registros ssmicos) son introducidos en
una estacin de trabajo
5
la secuencia de procesado comienza su desarrollo. Segn Yilmaz (2001),
hay tres etapas en el procesado de datos: 1) La etapa de pre-apilamiento; en donde una de las
operaciones ms significativas es la deconvolucin. 2) La etapa de apilamiento; con el anlisis de
velocidad como punto fundamental. Y 3) la etapa de post-apilamiento; siendo la migracin uno
de los algoritmos finales que se aplican. En cada uno de estas etapas intervienen una serie de
tratamientos fijos, mientras que hay otros algoritmos que se pueden aplicar en cualquier
momento del procesado (filtrado, escalado de amplitud, etc.). En la Figura IV.1 se presenta el
esquema de la secuencia bsica de procesado.

TRATAMIENTOS DE PRE-APILAMIENTO
1. ALMACENAMIENTO
Los datos de campo son grabados en diferentes tipos de formatos, que deben ser
compatibles con el software utilizado. A partir de 1990 el subcomit de la S. E. G. de Aguas
subterrneas e Ingeniera Geofsica propuso un formato estndar para todos los datos
adquiridos con ssmica y radar del subsuelo, de aqu surgieron el formato SEG-2 para ssmica
superficial, y el SEG-Y para ssmica profunda; entre otros.






5
Debido al gran volumen de datos, el procesado se realiza normalmente en estaciones de trabajo y bajo un
entorno UNIX
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
52




Figura IV.1 Secuencia bsica del procesamiento de datos ssmicos de reflexin.
CINTAS DE CAMPO
GEOMETRA
EDICIN
CORRECCION NMO/
ANALISIS DE VELOCIDAD
APILAMIENTO
EDICIN POST-APILAMIENTO
Trace Kill/Reverse
Correcciones de Amplitud
Picking
Filtrado
Mute
Filtrado
Migracin
Deconvolucin
Deconvolucin
CORRECCIONES ESTTICAS
Paso a Profundidad
Apilamiento
Post-Apilamiento
Pre Apilamiento
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
53
2. DEFINICIN Y ESTABLECIMIENTO DE LA GEOMETRA
En primer lugar, es esencial definir correctamente las coordenadas (X, Y, Z) de cada una
de las estaciones (fuentes y receptores), as como algunas otras caractersticas como el offset y el
azimut entre otras. Algunos de estos datos deben ser introducidos manualmente, mientras que
otros ya se encuentran en las cabeceras (headers) de los ficheros de cada registro ssmico. Una
vez definida la geometra de la lnea ssmica se procede a su implantacin de manera que cada
traza de cada uno de los tiros de campo queda perfectamente ubicada.

3. EDICIN DE LOS REGISTROS
Durante la adquisicin de datos, se pone mucho empeo en que el registro ssmico sea
de alta calidad ya que esta parte del procesado es la ms importante de todo el flujo de
tratamiento de los datos; dado que los resultados posteriores van a depender del buen
aislamiento de las reflexiones. A continuacin se presenta las etapas ms significativas de este
paso.

Proceso Descripcin
Eliminacin de trazas
(kill trace)

Se excluyen, total o parcialmente, aquellas trazas que presentan
ruido o malas conexiones. El malfuncionamiento del gefono
implica la perdida de una traza (Brouwer, 1998).
Cambio de polaridad
(reverse trace)
Algunas trazas suelen presentar cambios de polaridad debido a
efectos de sitio o de intercambio de conexiones.
Lecturas de las primeras
llegadas

En ssmica de reflexin se emplean estas lecturas para el clculo
de las correcciones estticas. En el caso especfico de la ssmica
superficial, el conjunto de estas lecturas tambin se utiliza para
calcular el campo de velocidades de refraccin y as obtener un
primer modelo del subsuelo.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
54

(a) (b)
Figura IV.2 Ejemplo de un tiro de campo (a) en el que se observan las trazas con alto contenido de ruido
que deben ser eliminadas (b) en la primera fase del procesamiento. Tiro correspondiente al
perfil PS-1. Espaciado entre trazas 5 m.


(a) (b)
Figura IV.3 (a) Lectura de las primeras llegadas y (b) detalle del picking. Con esta informacin se
procede a realizar un estudio de refraccin de las capas ms superficiales. Registro
correspondientes al perfil PS-1. Espaciado entre trazas 5 m.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
55
Proceso Descripcin
Eliminacin de las
refracciones (top mute)
Las seales de primeras llegadas correspondientes a las
refracciones deben eliminarse o de lo contrario se superpondrn
con las reflexiones. Mientras en ssmica profunda este aspecto es
sencillo, en ssmica superficial se convierte en un minucioso
proceso debido a la corta distancia temporal entre ambos trenes de
ondas. Su no eliminacin tambin puede producir artefactos; por
ejemplo, si en la etapa inicial se ejecuta un algoritmo dependiente
de la amplitud, el clculo de los parmetros de ganancia estar
afectado por las altas amplitudes que caracterizan a las primeras
refracciones (Dobrin, 1988).
Borrado directo por zonas
(Surgical and bottom mute)

A menudo hay eventos ssmicos que a pesar del tratamiento
aplicado es imposible eliminarlos del todo, entonces se hace
necesario suprimir estos trenes de onda mediante borrado directo.
Este fenmeno suele presentarse cuando los registros poseen ondas
superficiales en fuerte aliassing, u ondas areas fuertes.

(a) (b)
Figura IV.4 (b) Efecto de la eliminacin directa de la onda area y de las primeras refracciones en un
registro. (a) El mismo registro previo borrado de esta onda. Datos procedentes del perfil
ssmico PS-1. (Espaciado entre gefonos de 5 m y muestreo de 0.1 ms).
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
56
Proceso Descripcin
Aplicacin de filtros: El objetivo del filtrado es eliminar el ruido y resaltar los eventos de
reflexin. Los filtros, por lo general, operan sobre las bases de la
frecuencia y la amplitud de las trazas, aunque tambin se pueden
usar filtros que actan sobre su coherencia o su longitud de onda.
Anlisis espectrales

Los anlisis espectrales de los registros se utilizan para elegir los
tipos de filtro y sus parmetros.
Paso-Banda. Es uno de los filtros ms empleados, tiene como finalidad dejar
pasar la seal en una banda limitada de frecuencias de manera que
se aceptan las frecuencias que contienen energa de reflexin
coherente y se rechazan aquellas frecuencias asociadas al ruido
ssmico (ondas superficiales, area, ruido ambiental, etc.).
Filtro F-K

Este tipo de filtro es til para eliminar el ruido coherente que
presenta una tendencia lineal. Se le conoce tambin como filtro de
velocidad ya que en el espacio en que opera (nmero de onda,
frecuencia), se discriminan los distintos eventos por estar alineados
segn rectas cuyas pendientes definen las distintas velocidades. De
esta forma los eventos lineales de baja velocidad (GR u onda area)
se hallan con ngulos menores respondiendo a las bajas
velocidades, mientras que las reflexiones, se localizan en sectores
angulares mayores.


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
57

Figura IV.5 Antes de aplicar cualquier filtro es necesario realizar el estudio espectral de los registros a
fin de caracterizar cada uno de los eventos presentes. La figura muestra el contenido de
frecuencia para una ventana temporal en donde se superponen ondas superficiales a la
reflexin. Registro perteneciente al perfil PS-1.


(a) (b) (c) (d)
Figura IV.6 Otro anlisis que suele hacerse antes de aplicar un filtro pasa-banda es la descomposicin
de los registros en bandas de frecuencia a fin de determinar el ancho ptimo en donde se
sitan las reflexiones. En este caso se dise un filtro paso-banda de Ormsby. Puede
Tiro campo
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
58
observarse como ni en la banda baja de frecuencias (a), ni en la banda alta (c) no hay
seales de reflexin. Registro perteneciente al perfil PS-1.

(a) (b)
Figura IV.7 Anlisis de las frecuencias espaciales. (a) Registro de campo. (b) Espectro en el espacio F-K
en donde se han marcado los eventos ms significativos, segn la nomenclatura: GR =
Ground roll, A = Onda area, D = Onda directa. Ntese el aliasing de la onda area y del
GR.


Figura IV.8 Efecto sobre el registro despus de filtrar por nmero de onda y frecuencia los eventos
atribuidos a ruido (GR, A y D). El filtro que se ha aplicado es de tipo trapezoidal (trazo
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
59
negro) y consiste en dejar pasar las frecuencias y nmeros de onda contenidas dentro del
trapecio.

4. APLICACIN DE CORRECCIONES ESTTICAS
En ssmica superficial, las frecuencias generadas son mucho ms elevadas que las
observadas en ssmica profunda, por tanto el tiempo de viaje a travs de la capa meteorizada
puede cubrir varios ciclos del tren de ondas ssmico. Normalmente esta primera capa est
caracterizada por ser altamente heterognea, por poseer bajas velocidades y por presentar un
relieve irregular. Estas caractersticas influyen en las trayectorias de los rayos de manera que se
hace preciso corregirlas a fin de obtener el buen emplazamiento, en profundidad, de los
reflectores de inters.
El principal objetivo es ajustar el tiempo de viaje, al que se observara si la fuente y los
receptores estuvieran ubicados al mismo nivel, sobre el plano de referencia por debajo de la capa
meteorizada (generalmente constituida por rocas y materiales no consolidados, de forma que su
espesor vara desde cero hasta unos cuantos metros). Hay dos formas de determinar el espesor y
la velocidad de la capa meteorizada, midiendo directamente a travs de un tiro de verificacin o,
lo ms usual en ssmica superficial, calculndolos mediante refracciones estticas: Los tiempos
de primeras llegadas atribuidos a la capa meteorizada definen las curvas Distancia-Tiempo a
partir de las cuales se calcula la profundidad y la velocidad de esta primera superficie. Una vez
caracterizada esta superficie, se elige el nivel del datum y se calculan los intervalos de tiempo
que deben corregirse para cada rayo de la lnea ssmica (figuras IV.9 y IV.10).

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
60
(a)
(b)
(c)
Figura IV.9 Clculo de las correcciones estticas de refraccin. (a) Curvas espacio-tiempo construidas
para el perfil PS-1. (b) deduccin de la velocidad para la capa meteorizada y (c) clculo de
su profundidad.
Elevacin
Capa meteorizada
Dromocronas para la rama derecha de los registros
Dromocronas para la rama izquierda de los registros
Velocidad de la capa de meteorizada
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
61

Figura IV.10 Curvas de correcciones estticas y residuales para las posiciones de las fuentes y los
receptores. En el eje de las abscisas se hallan las posiciones de los gefonos en coordenadas
de estacin sensora y en el eje de las ordenadas los tiempos de correccin en ms. Estos
tiempos son los que deben aplicarse a cada traza ssmica para corregir el efector del trnsito
de los rayos a travs de la capa meteorizada. Ntese que hay dos contribuciones: una
debida a la posicin de la fuente (porcin de rayo incidente) y otra debida a la posicin del
gefono (porcin del rayo emergente). Conjunto de datos perteneciente al perfil PS-1.

5. CORRECCIONES DE AMPLITUD
La amplitud de los datos ssmicos vara dentro de un amplio rango debido al efecto que
sobre ella tienen los coeficientes de reflexin y el decaimiento de la energa con la distancia
(divergencia esfrica); sin mencionar las posibles prdidas en la transmisin de los datos o la
atenuacin intrnseca. Para compensar todos estos factores se aplican varios tipos de algoritmos,
Correcciones estticas debidas
Correcciones estticas residuales
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
62
basados cada uno de ellos en criterios especficos. Entre ellos los ms usados en ssmica
superficial son:

Proceso Descripcin
Control de ganancia
programada (PGC)
Es la correccin de amplitud ms simple y consiste en asignar un
valor predefinido a los datos. Se calcula el inverso de la envolvente
de la traza (curva que une los picos de las trazas) de manera que al
aplicar esta relacin se corrige el decaimiento de la amplitud.
Puede aplicarse tanto a los tiros como a las secciones apiladas, con
el fin de preservar las variaciones relativas de amplitud en la
direccin horizontal.
Control de ganancia
automtica (AGC)
El es una de las funciones de ganancias ms utilizadas. Se obtiene
calculando el valor medio (o promedio absoluto) de la amplitud
dentro de una ventana especfica de tiempo, luego se obtiene la
relacin entre el valor RMS deseado y el promedio antes calculado.
Este escalar es asignado a la funcin de ganancia la cual se aplicada
a cada muestra o traza dentro de la ventana temporal elegida.
Correccin de amplitud por
divergencia esfrica (TAR)

El objetivo de esta correccin es reconstruir las amplitudes debido
a la absorcin de los materiales y al decaimiento del frente de onda
con la distancia



Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
63
(a) (b)
Figura IV.11 (a) Tiro de campo sin procesar. (b) El mismo tiro en donde se ha corregido por divergencia
(1/d), ntese el aumento de amplitud de las bajas frecuencias.

6. DECONVOLUCIN
La deconvolucin puede ser aplicada en las diferentes etapas del procesamiento, es un
algoritmo que se utiliza con el fin de aumentar la resolucin temporal de las reflexiones (Figura
IV.11). Ello se consigue invirtiendo una ondcula bsica y convolucionndola con cada traza
(sismograma) (Brouwer, 1998), el resultado es una compresin de la seal. Existen varios tipos
de ondculas sobre las cuales se opera; por ejemplo el tipo delta de Dirac (spike) que tiende a
convertir los lbulos de reflexin en picos.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
64
(a) (b)
Figura IV.12 (a) Registros de campo pertenecientes al glaciar Johnsons (Artrtida) (b) Los mismos
registros despus del borrado de las refracciones, de la aplicacin de un balance de
amplitud y de una deconvolucin seguida de un filtro pasa-banda [13].

TRATAMIENTOS DE APILAMIENTO

7. ORDENAMIENTO CMP
Una vez editados los tiros de campos, se procede a realizar un reordenamiento de las
trazas ssmicas en conjuntos de punto reflector comn o CMP (Common MidPoint). Este
ordenamiento consiste en agrupar las trazas que por geometra pertenecen a un mismo punto
medio entre una fuente y un receptor determinado. Se deduce, por construccin, que el
espaciado entre CMP es la mitad el espaciado entre gefonos y que las reflexiones en estos
conjuntos poseen tambin trayectorias hiperblicas.

8. APLICACIN DE CORRECCIONES DINMICAS (NMO)
En este nuevo orden, todas las trazas pertenecientes a un mismo punto reflector dan
cuenta de las mismas caractersticas reflectivas y por tanto, pueden sumarse para obtener una
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
65
traza resultante (traza CMP) que posee mejor relacin seal/ruido. Tal es el objeto de la
ordenacin en conjuntos CMP. Pero para ello, antes del apilamiento (o suma de las trazas CMP)
la trayectoria hiperblica de los eventos de reflexin debe ser transformada, en el eje del tiempo,
en una lnea horizontal (paso a offset cero) de manera que todas las trazas al ser sumadas
estarn en fase. A este paso se le conoce como correccin NMO (Normal Move Out) y la forma
de conseguir dicha alineacin es mediante la asignacin de la velocidad de la trayectoria de
reflexin (Figura IV.12-a).

9. ANLISIS DE VELOCIDAD
En funcin de proveer una relacin seal/ruido mejorada, la ssmica de cobertura
multicanal requiere informacin acertada sobre la velocidad del subsuelo, la cual es obtenida
mediante un anlisis de velocidad (Figura IV.13). Este proceso se realiza sobre conjuntos o
grupos de conjuntos de CMP determinados. El resultado del anlisis es un campo de
velocidades que se usar en el apilamiento para obtener la seccin ssmica. Cuando hay poca
precisin en el establecimiento de las velocidades de reflexin, la calidad de la seccin apilada
puede degradarse, ya que las reflexiones no se suman coherentemente (Dobrin, 1988).

10. APILAMIENTO
Con los resultados del anlisis de velocidad y una vez aplicadas las correcciones NMO se
procede, mediante la suma, a obtener la seccin ssmica. As pues, una seccin ssmica est
formada por todas las trazas CMP y representa una imagen de los reflectores presentes en el
subsuelo en offset cero y modo tiempo doble. Esta seccin obtenida an no es la definitiva, si no
que an deben realizarse determinados tratamientos cuyo nmero de aplicacin, al igual que
ocurre con la edicin de los tiros, depende en ltima instancia de la calidad de los datos.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
66

Figura IV.13 Ejemplo de anlisis de velocidad (cuenca evaportica de Cardona (Teixid, 2004)). (a)
Conjunto CMP sobre el que se est realizando las correcciones NMO a partir de la ley de
velocidades descrita en (c). (b) Seccin apilada con el campo de velocidades (d). En (c) los
puntos de mxima semejanza son los guas sobre los que se hace la correccin NMO que
finalmente va a dar como resultado el campo de velocidades.

TRATAMIENTOS DE POST-APILAMIENTO

11. PROCESAMIENTO POST-APILAMIENTO
Por lo general, una secuencia de procesamiento post-apilamiento incluye la
deconvolucin para recuperar las altas frecuencias perdidas durante el apilamiento y para
suprimir las reverberaciones y mltiples de periodo corto. Tambin suele aplicarse un filtro pasa
banda para eliminar el ruido asociado a bajas y altas frecuencias generado (y/o residual) en el
apilamiento. Finalmente, suele introducirse algn tipo de ganancia de amplitud a fin de lograr
(b) (c) (a)
(d)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
67
una mejor visualizacin. En el captulo siguiente se muestran los diferentes flujos de procesados
aplicados a cada seccin ssmica y los resultados obtenidos.

12. MIGRACIN
Es un proceso que se aplica para corregir las difracciones que se producen en una seccin
ssmica debido a un relieve brusco de algn reflector. Su objetivo es, pues, reubicar esta energa
a su verdadera posicin y ello se realiza provocando el colapso de estas difracciones actuando
en sentido opuesto.
Entre los principales algoritmos se encuentran la migracin de Kirchhoff (Yilmaz, 2001),
se basa en la solucin integral de la ecuacin de onda. La respuesta a un punto de difraccin es
una hiprbola definida por una determinada velocidad y por tanto la suma sobre su inversa
coloca en fase a la difraccin. La migracin de Stolt (Yilmaz, 2001) transforma los datos a un
seudo-dominio de profundidad para aproximar a una velocidad constante de la tierra, luego
reubica la energa en el dominio de la frecuencia-numero de onda filtrando la velocidad de
conversin. Posteriormente los datos son convertidos de nuevo al dominio del tiempo.
En la presente memoria se ha utilizado la migracin en los perfiles PS-2 y PS-3, en el
siguiente captulo se presentan los resultados y una valoracin de su aplicacin.

13. CONVERSIN A PROFUNDIDAD
Las secciones ssmicas estn en tiempo doble debido a que cada rayo reflejado ha hecho
el viaje de ida (incidencia) y vuelta (reflexin). El punto final del procesado es proporcionar una
referencia a profundidad de estas imgenes ssmicas. A los gelogos que estn acostumbrados a
trabajar con secciones ssmicas les es fcil pasar mentalmente del tiempo doble en donde se
detecta un reflector, a la profundidad aproximada que le tocara (profundidad equivalente).
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
68
Para ello se elige algunos de los reflectores ms potentes de la seccin (reflectores guas) y se les
calcula la profundidad de forma individual, considerando las velocidades de apilamiento.
En ssmica superficial suele realizarse una conversin a profundidad de la totalidad de la
seccin si en el subsuelo investigado no hay un contraste fuerte entre las velocidades de los
materiales. Para ello se aplica una conversin con velocidad constante a fin de que no se
distorsionen las frecuencias; obtenindose una imagen en profundidad bastante aproximada
(Teixid, 2000). Pero cuando existe un contraste fuerte esta estrategia ya no es posible y las
tcnicas que se proponen para obtener referencias de profundidad deben basarse en la
informacin de sondeos mecnicos y/o en el campo de velocidades de refraccin. En el prximo
captulo se muestran las estrategias utilizadas para convertir las secciones ssmicas a
profundidad.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
69
CAPTULO V
PROCESAMIENTO ESPECFICO DE LAS LNEAS SSMICAS

En el presente captulo se procede a describir los diferentes flujos de procesado
utilizados para la obtencin de las tres secciones de reflexin. La caracterstica fundamental de
este procesamiento ha sido la dificultad en la eleccin de los algoritmos y su secuencia de
aplicacin para obtener secciones admisibles a partir de datos de mala calidad. Este ha sido el
reto central del estudio: el usar diferentes tcnicas y estrategias de procesado para i) aislar las
reflexiones de los otros eventos presentes en los registros de campo (pre-apilamiento) y ii) para
obtener imgenes ssmicas de la mejor calidad posible (post-apilamiento).
Como se ir demostrando, la mala calidad de los datos de campo ha sido debida a las
caractersticas del subsuelo. En el Captulo III, cuando se present la geologa de la zona de
estudio, ya se apunt que el complejo turbidtico de Ainsa estaba formado por litologas
altamente compactadas constituidas por margas que usualmente deslizan talud abajo y por
cuerpos conglomerticos arenosos y calcarenticos de carcter turbidtico. Al estar la capa
meteorizada (de baja velocidad) en contacto con estos materiales compactos, el primer
coeficiente de reflexin que se produce es tan alto que buena parte de la energa ssmica se
queda atrapada en superficie generando un alto contenido en ondas de superficie y ondas
guiadas, produciendo un decremento de la energa transmita hacia las capas inferiores.
En este escenario, el primer perfil (PS-1) se realiz como prueba y a partir de los
resultados obtenidos se plantearon los dos siguientes (PS-2 y PS-3). Adelantar que un punto
crucial en la mejora de la calidad de los registros de campo ha sido la adquisicin con geometra
de tiro en cola (realizada en los perfiles PS-2 y PS-3); puesto que las reflexiones quedan menos
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
70
superpuestas a los otros eventos (ondas superficiales, onda area, onda guiada, ruido ambiental,
etc.).

V. 1 PROCESADO DEL PERFIL PS-1

El perfil PS-1 se adquiri con geometra tiro simtrico dado a que se aconseja este
dispositivo cuando el relieve de las capas se presume altamente irregular; de acuerdo con la
informacin geolgica de la zona.
La caracterstica fundamental de los tiros de campo fue el fuerte solapamiento de los
trenes de las ondas de refraccin, de las ondas superficiales (GR) y de las ondas guiadas con las
reflexiones (Figura V.1).


Figura V.1 Registro tipo del perfil PS-1, correspondiente al tiro 260. Espaciado entre trazas 5m y
ventana temporal de 500 ms. Este registro muestra la mala calidad de los datos
caracterizada por una serie de trenes de onda que se superponen a las reflexiones.
Refracciones
Reflexiones
Ondas guiadas
GR
Onda area
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
71
Este fuerte solapamiento conllev la realizacin de un detallado anlisis espectral y del
espacio F-K (frecuencia-nmero de onda) en una amplia seleccin de registros a fin de poder
caracterizar los distintos trenes de ondas y as aislar las reflexiones. Los resultados obtenidos
fueron un fuerte aliasing de la onda area y de las ondas guiadas; lo cual pronostica la
dificultad de su supresin mediante filtraje. Despus de distintas pruebas, se opt por dos tipos
de tratamientos: i) un primero de carcter ms conservador (Figura V.2) en donde el algoritmo
decisivo consisti en la aplicacin de un filtro espacial bidimensional (2D) que realiza un filtrado
de la seal aplicando criterios de continuidad de fase para las distintas frecuencias en una
ventana temporal y un rango de trazas determinado. Y ii) un segundo procesado ms restrictivo
(Figura V.3), en donde se aadi una correccin esttica por elevacin y una deconvolucin
predictiva (con una longitud del operador temporal corta de 20 ms y una ventana temporal de
prediccin de 10 ms).


(a)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
72
Edicin de los tiros para el flujo 1-
Establecimiento de la Geometra
Eliminacin de trazas defectuosas
Cambio de la polaridad de las trazas invertidas
Identificacin de los diferentes trenes de onda
Eliminacin de las ondas de refraccin para su borrado directo
Eliminacin parcial de las ondas superficiales y guiadas
mediante un filtro F-K (polgono arbitrario)

Filtrado espacial 2-D para eliminar los trenes de onda
residuales.
Remuestreo de los datos para corregir el efecto de los filtrados
Filtro Pasa-banda (Ormsby: 30-40-210-220 Hz)
Ganancia automtica, (300 ms)



(b)
Figura V.2 Flujo del primer tratamiento de pre-apilamiento del perfil PS-1. (a) Datos de campo y (b) el
resultado del tratamiento despus de aplicar el flujo de tratamiento. Ntese que an no se
ha conseguido eliminar del todo el tren de las ondas guiadas y parte de la onda area se
realiz mediante borrado directo.






Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
73
Edicin de los tiros para el flujo 2-

Correcciones estticas por Elevacin
Deconvolucin Predictiva (fase mnima) para
aumentar la resolucin temporal y eliminar
mltiples
Filtro Paso-banda (30-40-210-220)


Figura V.3 Ejemplo de la aplicacin del segundo flujo de procesado con el fin de eliminar el tren de
ondas guiadas que quedaban residentes despus de la aplicacin del flujo anterior.

Debido al fuerte aliasing, y como puede apreciarse en las dos figuras anteriores, an
qued residente parte de los harmnicos de las ondas areas y guiadas, pero su eliminacin
completa hubiese supuesto tambin una eliminacin de las reflexiones. En el segundo
tratamiento se realiz el clculo de las correcciones estticas causadas por la topografa, sin
embargo se comprob que las correcciones estticas residuales no supusieron una mejora la
continuidad de las reflexiones.
Para el anlisis de velocidad (Figura V.4) se utiliz un mtodo interactivo basado en la
mxima semejanza de velocidades RMS para el apilamiento de las distintas reflexiones de los
conjuntos CDP; aplicando un 30% de tolerancia para los tramos hiperblicos.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
74
Dado que se contaba con dos grupos de datos provenientes de los dos flujos de edicin,
se procedi a crear dos secciones apiladas (Figura V.5).




Figura V.4 Campo de velocidades RMS utilizado en la realizacin del apilamiento de las trazas del
perfil PS-1. Se ha colocado el campo de velocidades sobre la seccin ssmica resultante del
apilamiento.

(a)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
75
(b)

Observando la figura anterior se aprecia que en ambas secciones las improntas de las
ondas area y guiadas remantes en los tiros casi se han eliminado, ello es debido a las
correcciones NMO que alinean las trayectorias hiperblicas de reflexin mientras que desfasan
los eventos lineales (trenes de onda area y guiadas). Una vez realizadas estas correcciones y
cuando se produce el apilamiento, los eventos en fase (reflexiones) se suman constructivamente
en la traza CDP, mientras que para los lineales la suma es destructiva.
El objetivo de la edicin de las secciones ssmicas apiladas consiste en eliminar el ruido
residual y potenciar las capas reflectoras. Para la seccin proveniente del primer procesado se
dise un filtro F-K definido por los abanicos 200-1000 m/s y 30-50 Hz seguido de un filtro
paso-banda (Butterworth de fase cero y trapecio de 40 Hz-24 dB/oct. - 210-24 dB/oct) a fin de
paliar el efecto de distorsin de frecuencias producido durante la etapa de apilamiento. Con el
objeto de aumentar la resolucin temporal y eliminar los "ecos" an residentes, se aplic una
deconvolucin predictiva y un filtro de coherencia (dentro de la banda de 30-210 Hz y
efectuando el anlisis de coherencia dividiendo la banda en 40 intervalos) que acta
aumentando la relacin seal/ruido.
Figura V.5
Fragmento de secciones ssmicas
del perfil PS-1 para ambos
procesados. (a) Corresponde al
primer conjunto de datos; mientras
que (b)corresponde al segundo
tratamiento ms restrictivo.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
76
Para el segundo grupo de datos se aplic un flujo de procesado post-apilamiento similar
al anterior, sin embargo la diferencia radic en que en lugar de aplicar un filtro F-K se realiz
una ponderacin entre trazas (Trace Mixing) de manera que cada traza es compensada con sus
dos adyacentes.
Como algoritmo final, en ambos conjuntos se aplic una restitucin de amplitudes a fin
de compensar por los efectos de decaimiento de amplitud por dispersin geomtrica del frente
de ondas. El resultado de la edicin de las secciones editadas se presenta en la Figura V.6.
La semejanza entre los dos conjuntos indica que los algoritmos aplicados no han creado
artefactos y han conseguido respetar los reflectores. En este punto se ha optado por elegir como
definitiva la seccin resultante del primer flujo (Lmina V.1) ya que muestra mejores rasgos
geomtricos de los reflectores. Ello ha sido debido a que el flujo de tratamiento ha sido menos
restrictivo durante la etapa de pre-apilamiento y ha preservado mayor ancho de banda (sobre
todo para las bajas frecuencias) de forma que se ha dispuesto de una mayor resolucin (Yilmaz,
2001).


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
77

(a)

(b)
Figura V.6 Fragmentos de las secciones editadas provenientes del primero (a) y del segundo (b)
tratamiento. La semejanza entre ambos conjuntos indica que los algoritmos aplicados no
han creado artefactos y han conseguido respetar los reflectores. Se ha elegido como seccin
definitiva la resultante del primer flujo (a) ya que muestra mayores rasgos geomtricos de
los reflectores debido a que el tratamiento ha sido menos restrictivo durante la etapa de pre-
apilamiento y ha preservado ms el ancho de banda de frecuencias.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
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V.2 PROCESADO DEL PERFIL SSMICO PS-2

El tratamiento pre-apilamiento del perfil PS-2 ha sido, esencialmente, igual que el
descrito en el perfil PS-1, pero en este caso la adquisicin de datos con dispositivo de tiro en cola
ha facilitado el aislamiento de las reflexiones (Figura V.7).


Figura V.7 Registro tipo del perfil PS-2, correspondiente al tiro 80. Espaciado entre trazas 5m y ventana
temporal de 350 ms. Este registro muestra una mejora de la calidad de los datos, en donde
las reflexiones se aslan un poco ms de los trenes de onda considerados como ruido.

Al igual que en perfil anterior, despus de varias pruebas se oper con dos flujos de
tratamiento. En el primer procesado se opt por un filtro F-K en forma de abanico y una
deconvolucin predictiva (con longitud del operador de 40 ms y ventana de prediccin de 20
Refracciones
Reflexiones
Ondas guiadas
GR
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
80
ms) acompaada de un filtro espacial 2D y un filtro paso-banda (Figura V.8). Mientras que en el
segundo tratamiento la deconvolucin y el filtro espacial 2D fueron sustituidos por un filtrado
de las seales mediante blanqueado espectral, que tiene como funcin aadir ruido blanco al
espectro de amplitud con el fin de aproximar los eventos de reflexin a un spike (Figura V.9).

(a)

Edicin de los tiros del flujo 1-
Establecimiento de la Geometra
Eliminacin de trazas defectuosas
Cambio de la polaridad de las trazas invertidas
Identificacin de los diferentes trenes de onda
Eliminacin de las ondas de refraccin para su borrado directo
Eliminacin parcial de las ondas superficiales y guiadas con
filtro F-K (abanico)
Correcciones estticas por Elevacin
Filtro espacial 2-D para eliminar los trenes de onda residuales.
Remuestreo de los datos para corregir el efecto de los filtrados
Deconvolucin Predictiva
Filtro Pasa-banda (Ormsby: 20-30-220-230 Hz)
Ganancia automtica (250 ms)


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
81

(b)
Figura V.8 Flujo del primer tratamiento de pre-apilamiento del perfil PS-2. (a) Datos de campo y (b) el
resultado del tratamiento despus de aplicar el flujo.

Edicin de los tiros del flujo 2-
Establecimiento de la Geometra
Eliminacin de trazas defectuosas
Cambio de la polaridad de las trazas invertidas
Identificacin de los diferentes trenes de onda
Eliminacin de las ondas de refraccin para su borrado directo
Eliminacin parcial de las ondas superficiales y guiadas con
filtro F-K (abanico)
Correcciones por Elevacin
Blanqueado espectral
Filtro Pasa-banda (Ormsby: 20-30-220-230 Hz)
Ganancia automtica (250 ms)


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
82
(b)
Figura V.9 Ejemplo del efecto del segundo flujo de procesado, ms restrictivo, con el fin de eliminar el
tren de ondas guiadas que quedaban residentes despus de la aplicacin del flujo anterior
(b).

Despus de los respectivos anlisis de velocidad, se han obtenido las correspondientes
secciones ssmicas en las cuales vuelve a ponerse de manifiesto el distinto contenido de
frecuencias (ancho de banda) producto del procesado ms restrictivo (Figura V.10).
En el procesamiento de post-apilamiento se realizaron distintas pruebas de tratamiento
en ambos conjuntos optndose por aplicar un filtro F-K ( 400-1000 m/s y 30 - 50 Hz) para
eliminar el ruido lineal residual, una ponderacin de trazas, un blanqueado espectral y un filtro
pasa-banda. Para este perfil tambin se eligi la seccin ssmica resultante del primer
procesado, pero en este caso como se apreciaban rasgos causados por difracciones en la parte
inferior de la seccin, se aplic una migracin de Stolk (Yilmaz, 2001); con un rango mximo de
frecuencias de 220Hz a una velocidad constante de 400 m/s. El resultado final se muestra en la
Lmina V.2

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
83

(a)

(b)
Figura V.10 Fragmentos de las secciones ssmicas del perfil PS-2 producto de ambos procesados. (a)
Corresponde al primer conjunto de datos (ms conservador); mientras que (b) corresponde
al segundo tratamiento ms restrictivo. Ntese como en la segunda seccin hay menos
contenido de bajas frecuencias.
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V.3 PROCESADO DEL PERFIL SSMICO PS-3

Los registros ssmicos de este perfil poseen las mismas caractersticas, en cuanto a ruido
ssmico (ondas guiadas, areas, superficiales, etc) que los del perfil anterior (PS-2). La diferencia
ms significativa estriba que en la parte central los tiros presentaban velocidades aparentes ms
bajas de manera que los distintos trenes de onda quedaban ms separados facilitando el
tratamiento de pre-apilamiento (Figura V.11).
Dado que este perfil es el ms corto en longitud de los tres adquiridos y en la seccin
apilada se constat una prdida de seal en su parte central se procedi a aumentar la
coherencia de los reflectores creando trazas sintticas intermedias a las trazas CDP (Figura V.12).
Esta estrategia debe usarse con cautela ya que de lo contrario puede falsearse la seccin ssmica,
en este caso su aplicacin est justificada dado que la corta distancia entre las trazas reales (2.5
m) no puede dejar margen de variaciones significativas de las geometras de los reflectores
(buzamientos, fallas, etc.).
El procesado post-apilamiento consisti en la aplicacin de los siguientes algoritmos
clsicos: migracin de Stolk (F-K), deconvolucin predictiva, filtro de coherencia y
reestablecimiento de amplitud (solo correccin por dB/ms). El resultado final se muestra en la
Lmina V.3

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
86
(a)

Edicin de los tiros del flujo 1-
Establecimiento de la Geometra
Eliminacin de trazas defectuosas
Cambio de la polaridad de las trazas invertidas
Identificacin de los diferentes trenes de onda
Eliminacin de las ondas de refraccin para su borrado directo
Eliminacin parcial de las ondas superficiales y guiadas con
filtro F-K (abanico; 500-1500 m/s y 20-40 Hz)
Correcciones por Elevacin
Filtro de Blanqueo espectral.
Filtro Pasa-banda (Ormsby: 30-40-220-230 Hz)
Ganancia automtica (300 ms)
Nueva longitud de traza a 500 ms


(b)
Figura V.11 Flujo del tratamiento de pre-apilamiento aplicado al perfil PS-3. (a) Datos de campo y (b) el
resultado del tratamiento despus de aplicar el flujo de tratamiento.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
87
(a)
Algoritmo usado para la creacin de trazas
sintticas

Interpolacin de Trazas F-X
Mnimo numero CDP 5
Nmeros de pendientes 7
Longitud de ventana 3
Mnima longitud de ventana 3
Solapamiento 2
Frecuencia mas baja 20.
Frecuencia mas alta 250.
Porcentaje de Tolerancia 1.

(b)
Figura V.12 (a) Seccin ssmica resultante del apilamiento y (b) la misma seccin despus de crear trazas
sintticas intermedias. Ntese como esta estrategia mejora la coherencia de las capas
reflectoras.
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V.4 REFRACCIONES DE LOS PERFILES SSMICOS

De forma paralela, se llevaron a cabo los clculos de refraccin de cada perfil ssmico a
partir de los tiempos de las primeras llegadas. Este anlisis se realiz con un paquete de
computacin especfico (Rayfract V2.47; 2003) que adems de obtener las soluciones clsicas
(mtodos de Delay Time, GRMP y Plus minus), calcula el campo de velocidades V(X, Z)
aplicando el mtodo Delta T-V de tomografa ssmica (vase A.2).
En la tabla V.1 se muestran los valores de ajuste obtenidos para las velocidades medidas
de las domocronas y las obtenidas mediante el clculo.

PS-1 PS-2 PS-3
Diferencia mediana entre la velocidad calculada y la
observada (%)....................................................................................

2,5

1,2

6,5
Desviacin Estndar del clculo de la velocidad (%).................. 3,7 1,3 9,8
Error medio entre el tiempo observado y el calculado (ms)....... 1.27 2.38 3.86
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..............................................................................................
1.35 4.70 11
Error mximo ente tiempos medidos y calculados (ms)............ 10.17 11.01 10.3
Error mximo corresponde a la traza X/del tiro Y..................... 37/147 47/135 35/50
Nmero de lecturas realizadas....................................................... 22 389 6 515 2 514
Tabla V .1 Parmetros de ajuste del clculo de refraccin de los perfiles ssmicos.

En las figuras V.13, V.14 y V.15 se presentan los resultados obtenidos. Tal y como se
indic en el antes; en ssmica superficial, se recomienda realizar este tipo de anlisis dado que
as se dispone de ms informacin del terreno. Ntese como en los perfiles PS-1 y PS-2 se ha
detectado una capa de alta velocidad situada a pocos metros que ha actuado de conductor de los
rayos crticos imposibilitando una inspeccin a mayor profundidad. Caracterstica que ya se
haba observado durante el anlisis de los registro.
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69

























Figura V.13 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-1. La informacin ms detallada de los
sondeos que se presentan en al Anexo 3.
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Figura V.14 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-2.
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Figura V.15 Campo de velocidades obtenido para el perfil PS-3.
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78
V.5 UTILIZACIN DE LOS REGISTROS SNICOS DEL PERFIL PS-1

Puesto que se dispone de la informacin de 4 registros snicos pertenecientes a los
sondeos mecnicos de investigacin realizados a lo largo del perfil PS-1; se han aprovechado
estos resultados para obtener una idea de la profundidad a la que se encuentran los reflectores
ms prominentes. La metodologa seguida ha consistido en los pasos que se describen en la
Figura V.16.

- Edicin del registro snico (1)
- Clculo de los niveles de impedancia acstica (2)
- Clculo de los coeficientes de reflexin (3)
- Clculo de la traza sinttica (4) a partir de la serie
de reflectividad (la traza se ha generado con una
ondcula de Rickter de fase cero y de 180 Hz de
frecuencia)
- Clculo del tiempo de transito (5) (necesario para
pasar la traza sinttica en profundidad a la traza
sinttica en tiempo doble de reflexin)
- Obtencin del registro snico y de la traza sinttica
en modo tiempo doble (6)
- Comparacin del la traza sinttica con las trazas CDP
ms prximas al sondeo (7)

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
79

(1) (2) (3) (4) (5)


(6) (7)
Figura V.16 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica correspondiente al
registro snico del sondeo A-1. Una vez obtenida la traza (6), esta se compara con la porcin
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
80
de seccin ssmica PS-1 correspondiente a las cercanas del sondeo (7). En este caso puede
comprobarse como el reflector ms potente de la seccin situado entre 30 - 40 ms, se puede
relacionar con el lbulo de la traza sinttica centrado a los 40 ms. Teniendo en cuenta (4),
este gran cambio se situara en torno los 90 100 m de profundidad.

En las figuras siguientes (V.17, V.18 y V.19) se presentan los resultados obtenidos para
los restantes sondeos. Como se ver el siguiente captulo, esta informacin ha sido bsica a la
hora de realizar la interpretacin geofsica de los perfiles. Un dato a tener en cuenta es que para
realizar estos modelos no se ha dispuesto del registro snico completo, si no que solo se ha
podido utilizar un nmero discreto de medidas. Ello conlleva una menor fiabilidad a la hora de
operar con estas informaciones.


(1) (2) (3) (4) (5)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
81

(6) (7)
Figura V.17 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica correspondiente al
registro snico del sondeo A-2. Una vez obtenida la traza (6), esta se compara con la porcin
de seccin ssmica PS-1 correspondiente a las cercanas del sondeo (7). En este caso puede
comprobarse como las reflexiones alternantes de la seccin situadas entre 25 - 55 ms, se
correlacionaran con los lbulos de la traza sinttica comprendidos entre los 15 45 ms.
Teniendo en cuenta (4), este gran cambio se situara en torno los 80 85 m de profundidad.
El desfase de 10 ms entre ambas trazas puede explicarse por el hecho de que el sondeo A-1
queda unos 20 m alejado (en direccin norte) del perfil.


(1) (2) (3) (4) (5)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
82

(6) (7)
Figura V.18 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica correspondiente al registro
snico del sondeo L-1. Una vez obtenida la traza (6), esta se compara con la porcin de seccin
ssmica PS-1 correspondiente a las cercanas del sondeo (7). En este caso puede comprobarse
como la reflexin doble de la seccin situada entre 55 - 70 ms, se correlacionara con los dos
lbulos de la traza sinttica comprendidos entre los 20 30 ms; que segn (4), se situara en
torno los 50 70 m de profundidad. El desfase de 35 ms entre ambas trazas puede explicarse
por el hecho de que el sondeo L-1 queda unos 50 m alejado del perfil.


(1) (2) (3) (4) (5)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
83

(6) (7)
Figura VI.19 Proceso de clculo seguido para obtener la traza ssmica sinttica correspondiente al registro
snico del sondeo L-2. Una vez obtenida la traza (6), esta se compara con la porcin de seccin
ssmica PS-1 correspondiente a las cercanas del sondeo (7). En este caso la correlacin es
dificultosa ya que no se observa ningn rasgo significativo. El nico comentario interpretativo
es que en (6) la amplitud de la traza se halla ampliada de manera que correspondera a una
zona de bajo contraste ssmico; como se desprende del registro ssmico. Este hecho estara de
acuerdo con el poco carcter reflectivo de la seccin en este tramo final.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
84
CAPTULO VI
INTERPRETACIN GEOFSICA DE LAS SECCIONES SSMICAS

El presente captulo representa un ensayo de interpretacin de los datos ssmicos
obtenidos, en ningn caso se ha pretendido realizar una interpretacin geolgica puesto que no
es objeto de este trabajo de investigacin. El motivo de su inclusin se debe a que se ha
considerado como un ejercicio de cmo los datos geofsicos se relacionan entre s y aportan una
visin complementaria a la informacin geolgica.
Se comprobar que se ha seguido la misma metodologa interpretativa para los tres
perfiles ssmicos: i) se ha usado la informacin geolgica de los sondeos, ii) los perfiles de
refraccin y, iii) para el perfil PS-1 los datos de los registros snicos.
Aparte de los resultados obtenidos en el captulo anterior (secciones de reflexin, perfiles
de refraccin y datos snicos de los sondeos mecnicos), y a fin de ayudar a la interpretacin, se
han construido una serie de imgenes de las secciones ssmicas (figuras VI.1, VI.2 y VI.3) que
enfatizan los rasgos ms significativos.

VI.1 INTERPRETACIN DEL PERFIL PS-1 (Lmina VI.1)

Este ha sido el primer perfil que se ha abordado puesto que transcurre en la zona donde
se dispone de ms informacin. Debido a las limitaciones del rea de dibujo, en la lmina VI.1
no pueden apreciarse con demasiado detalle ciertas morfologas de los reflectores.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
85
Tanto las velocidades halladas en el perfil de refraccin (entre 4000 y 5000 m/s) como los
registros snicos de los sondeos ponen de manifiesto que esta zona de estudio est formada por
materiales altamente compactados.
En las columnas litolgicas de los sondeos se han marcado dos grandes unidades: una
superior (amarilla) en donde predominan materiales arenosos y una inferior (azul) en donde
predominan las lutitas. En los registros snicos se ha observado que la transicin entre estas dos
unidades origina un fuerte coeficiente de reflexin, lo que debe traducirse en un fuerte reflector
en la seccin ssmica. Las trazas sintticas han permitido correlacionar este reflector con el de la
seccin ssmica situado entre 40 y 60 ms (Figura VI.1).

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Figura VI.2 Diferentes imgenes ssmicas de la seccin del perfil PS-2 para resaltar rasgos significativos.
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82






























Figura VI.3 Diferentes imgenes ssmicas de la seccin del perfil PS-3 para resaltar rasgos
significativos.
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83
Tanto en las imgenes ssmicas de la Figura VI.1 como en la lmina se constata que en el
extremo Sur y en el centro de la seccin este reflector gua pierde su coherencia; indicando zonas
en donde los materiales pueden estar ms desorganizados. Por debajo de l, tambin pueden
apreciarse cortas reflexiones hiperblicas que indicaran derrubios dentro del tramo de las
lutitas. As mismo, la profundidad equivalente tambin se ha calculado en base a este reflector
situndolo entre los 70 y 100 m aproximadamente. Ms all de los 150 200 ms se pierde la
energa, la relacin seal/ruido decrece y la seccin no es interpretable.

VI.2 INTERPRETACIN DEL PERFIL PS-2 (Lmina VI.2)

Las imgenes ssmicas de la Figura VI.2 muestran un importante paquete reflector en la
parte del perfil situado entre los 40 80 ms. En este caso las dobles reflexiones son tan fuertes
que han dejado poca energa de trnsito hacia las capas inferiores; traducindose en una falta de
seal por debajo de este paquete. Teniendo en cuenta la columna litolgica del sondeo A-3 y las
velocidades del perfil de refraccin, este paquete reflector puede correlacionarse con el tramo de
arenas (amarillo), mientras que la zona con una menor reflectividad coincidira con el tramo
luttico (azul). Tambin se observa que en los extremos en donde el paquete reflector no es tan
potente, las reflexiones son caticas, pudiendo indicar zonas de materiales desorganizados.

VI.3 INTERPRETACIN DEL PERFIL PS-3 (Lmina VI.3)

Este corto perfil se realiz transversal al PS-1, con origen en su extremo Sur; justamente
en la zona en donde los reflectores son caticos. Este rasgo coincide con el origen del perfil en
donde, a parte del efecto de borde debido al procesado, se aprecia tambin la falta de reflectores
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
84
coherentes. En las imgenes ssmicas de la Figura VI.3 se detecta un tramo de reflectores
cortados que buzan en direccin Oeste; coincidiendo con la inclinacin del techo de la capa de
alta velocidad encontrada en la refraccin. Hacia la parte central (187 287 m lineales) este
paquete parece perderse y vuelve a recuperarse hacia el extremo Oeste. En este la equivalencia a
profundidad se ha calculado en base a los datos del sondeo A-2 y a las velocidades del anlisis
de refraccin.
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8
7
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
88
CAPITULO VII
CONCLUSIONES

La presente memoria de tesis de pregrado ha consistido en efectuar el procesado de tres
perfiles ssmicos de reflexin de alta resolucin. La caracterstica fundamental de estos perfiles
ha sido la mala calidad de los datos de campo debido a las condiciones geolgicas de la zona de
estudio. En este contexto, el trabajo ha supuesto la utilizacin de los emergentes algoritmos
multiseal para obtener secciones ssmicas de reflexin con la mejor relacin seal/ruido
posible. En base al estudio realizado pueden concluirse los siguientes puntos:
- A la hora de disear el dispositivo de adquisicin de datos de campo, debe considerarse
si existe una capa de gran velocidad (superior a 3000- 4000 m/s) a niveles poco profundos. De
ser as, la toma de datos ssmicos siempre presentar una baja calidad dado que hay gran
contraste de impedancias acsticas entre la capa meteorizada y la compactada producindose
una fuerte reflexin de la energa en decremento de la fraccin de energa disponible para el
trnsito del rayo hacia las capas inferiores. En esta situacin los datos presentaran una baja
relacin seal/ruido.
- Cuando se presuma que la adquisicin va a ser complicada por los condicionantes
geolgicos, siempre es preferible realizar la toma de datos con una geometra de tiro en cola, en
vez de con tiro simtrico, dado que los registros poseern una ventana temporal ms ancha en
donde las hiprbolas de reflexin se solaparn menos con los otros trenes de onda (GR, onda
area y ondas guiadas; entre otros). Este hecho se ha puesto de manifiesto al procesar un perfil
adquirido con tiro simtrico (PS-1) y dos perfiles adquiridos (PS-2 y PS-3) con tiro en cola.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
89
- El objetivo fundamental del tratamiento multiseal es la preservacin de las reflexiones
y la eliminacin de los otros trenes de ondas. Todos los flujos de procesado realizados deben ir
en esta direccin, pero es necesario ejercer un minucioso control de los efectos de los distintos
algoritmos sobre los datos, ya que muy a menudo suelen producirse artefactos en las seales
que crean falsas reflexiones. Es por ello preciso ir evaluando cada algoritmo aplicado y se
desaconseja la aplicacin de flujos automticos. La ssmica de reflexin superficial requiere de
esta minuciosidad debido al solapamiento de los distintos trenes de onda del frente ssmico con
el que se opera.
- En cuanto al procesado especfico se ha comprobado en todas las pruebas realizadas
que un tratamiento dirigido a preservar el mayor ancho de banda (frecuencias) suele presentar
mejores secciones apiladas que un tratamiento ms restrictivo; aunque este segundo haya
conseguido eliminar ms ruido ssmico. Ello es debido a que, cuando se dispone de buena
cobertura, el apilamiento de los conjuntos CMP suele colapsar alguno de los trenes lineales
remantes y entonces se prioriza la anchura de banda frente al ruido residual.
- Es evidente que tanto en la etapa de adquisicin, como en la de procesado y en la de
interpretacin de datos geofsicos se debe tener en cuenta toda la informacin disponible de la
zona de estudio. Pero en el caso de que sta fuese limitada, se aconseja realizar una anlisis de
refraccin dado que en ssmica superficial, normalmente, los campos de velocidades de
refraccin se sitan cercanos a las profundidades de las secciones ssmicas; sobre todo cuando
los materiales por encima del substrato son de velocidades intermedias (1000-3000 m/s).
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
90
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Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
93
ANEXOS

A.1 TEORA DE ECUACIN DE ONDA. TIPOS DE ONDAS

A.1.1 Caractersticas elsticas de los slidos (Sheriff, 1991)
El esfuerzo es la fuerza aplicada a un cuerpo que por lo general puede generar una
deformacin (cambio en la forma y volumen de un cuerpo).
El esfuerzo es un vector con dimensiones de de fuerza por unidad de rea.
S = F/A (A1-1)
Si consideramos el cambio de posicin de dos puntos de un slido A y B, despus de una
deformacin lineal.




Figura A.1

La componente normal en la direccin X se expresa como: x = u/x.
De manera anloga si v es la deformacin en la direccin Y y w en Z,

y
= v/y
z
= w/z (A1-2)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
94
Si por el contrario, en lugar de aplicar un esfuerzo normal, se plica un esfuerzo de cizalla la
deformacin se define como:
xy = yx = v/x + u/y yz = zy = w/y + v/dz

zx
=
xz
= u/z + w/x (A1-3)

Adems de estas deformaciones, el cuerpo esta sujeto a rotacin simple respecto a los tres
ejes.
x = dw/dy dv/dz y = du/dz dv/dx
z = dv/dx du/dy (A1-4)


Por tanto, la deformacin volumtrica se definir cuando un cuerpo experimente una
deformacin a lo largo de sus tres dimensiones.
=
x
+
y
+
z
(A1-5)

Para calcular las deformaciones cuando se conocen los esfuerzos, se debe conocer la
relacin esfuerzo-deformacin. Cuando las deformaciones son pequeas, esta relacin esta dada
por la Ley de Hooke. Si se considera un medio isotrpico, la ley de Hooke se expresa como:
ii = + 2ii i = x, y, z (A1-6)

ij
=
ij
i, j = x, y, z i j (A1-7)
Las cantidades y se conocen como constantes de Lam. Sin embargo, si se considera un
medio en que todos los esfuerzos son ceros, excepto xx. Si se supone positiva xx, mientras que
y y z son negativas e iguales, se pueden definir el mdulo de Young (E) y la relacin de Poisson
() como:
E =
xx
/
xx
(A1-8) = -
yy
/
xx
= -
zz
/
xx
(A1-9)


Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
95
A.1.2 Ecuacin de onda

La forma general de la ecuacin de onda que mejor representa la propagacin de las ondas
ssmicas a travs de la tierra, asume la deformacin en tres dimensiones, donde cada
componente del esfuerzo es asociado con la deformacin en ms de una direccin.
Partiendo de la base que nos ofrecen las ecuaciones de fuerza y presin, F = ma y P =
F/A y realizando varias sustituciones utilizando las ecuaciones A1-1 a A1-9, podemos escribir la
ecuacin de movimiento como:
F = [S(x + dx)- S(x)] dA = E (
2
u/x
2
)dx dA = (
2
u/t
2
)dx dA (A1-10)
de aqu se obtiene la forma clsica de la ecuacin de onda en una plana.

2
Q/x
2
= V
-2

2
Q/t
2
(A1-11)
donde V es la velocidad de propagacin, definida por:
V = [E/]
1/2
(A1-12)
La solucin a la ecuacin A1-10, es:
Q
(x,t)
= A sin k(Vt x) (A1-13)
La derivacin de la ecuacin tridimensional de onda es anloga a la de onda plana

2
/x
2
+
2
/y
2
+
2
/z
2
= [/( + 2)]
2
/t
2
(A1-14)
de donde se obtiene la velocidad de propagacin de las ondas compresionales (ondas P) y de
cizalla (ondas S):
Vp = [( + 2)/]
1/2

(115)
Vs = [ /]
1/2

(A1-16)





Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
96
A.1.3 Tipos de Onda

En la seccin anterior se defini la velocidad de propagacin de las llamadas ondas de
cuerpo, sin embargo tambin se debe considerar otro tipo de onda, las ondas que viajan a travs
de una superficie (Figura A.2).
Las ondas P (primarias) son las que van a mayor velocidad, consisten en la transmisin de
compresiones (el movimiento de las partculas se realiza en la direccin de propagacin) y se
propagan a travs de material slido o lquido. Las ondas S o de cizalla, se propagan solo a
travs de slidos y el movimiento de las partculas es siempre perpendicular a la direccin de
propagacin.
Existe otro tipo de onda, llamadas superficiales debido a que solo se propagan a travs de
una superficie libre, este es el caso de las ondas Rayleigh. El movimiento de las partculas es
elptico retrogrado y se realiza siempre sobre un plano vertical. Su amplitud decrece
exponencialmente con la profundidad y su velocidad es menor que la de las ondas corporales.
U ltimo tipo de onda, usualmente mal ubicado dentro de las ondas superficiales. Las
ondas Love se propagan solo en las capas mas superficiales de la tierra, sin embargo no viajan a
travs de una superficie libre, se originan en la interfase de dos medios con propiedades
mecnicas diferentes y el movimiento de las partculas, al igual que en el caso de las ondas S, es
perpendicular a la direccin de propagacin.





Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
97

Las ondas P (o de compresin) son ondas
internas que se producen cuando la energa
pasa a travs de las partculas movindolas
en la direccin de su propagacin. Son las
que viajan con ms velocidad y se pueden
transmitir a travs de medios slidos o
fluidos.




Las ondas S (o de cizalla) son ondas
internas que se producen cuando la energa
pasa a travs del medio moviendo las
partculas en direcciones perpendiculares
(S
H
y Sv) a la propagacin. Son menos
rpidas y este movimiento solo puede darse
en los slidos.








Las ondas Love Son ondas superficiales que
ocasionan, en las partculas, un movimiento
transversal a la direccin de la propagacin.
Son las ms rpidas de las superficiales.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
98

La flecha indica la direccin de la propagacin
Las ondas Rayleigh son ondas superficiales
que presentan un movimiento elptico
retrgrado sobre el plano vertical; similar al
de las ondas marinas.

Las ondas Rayleigh generadas por los
grandes terremotos son las que causan
daos ya que, a parte de les caractersticas
del movimiento del subsuelo, suelen ser las
ondas de mayor amplitud.

Figura A.2















Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
99
A.2 MTODO DE INVERSIN DE RAYO (Jones, 19985)

El clculo de los perfiles de refraccin se ha realizado de modo paralelo utilizando el
software Rayfract (V2.47) que calcula el campo de velocidades V(X, Z) a partir de los tiempos de
primeras llegadas utilizando el algoritmo de tomografa Delta T-V
6
. A grandes rasgos, los pasos
seguidos han sido:
1- Lectura de las primeras llegadas de cada traza para cada uno de los tiros de las lneas
ssmicas (Figura A.3).
2- Determinacin de los puntos de inflexin de las curvas espacio-tiempo para definir las
distintas velocidades aparentes.
3- A partir de la combinacin entre estas velocidades y sus respectivos puntos de
intercepcin sobre el eje espacial, se construye un modelo inicial de distribucin de las
velocidades en profundidad que sirve de entrada para el clculo del trazado de rayos.
4- El mtodo Delta T-V utiliza la ecuacin eikonal para este trazado de estos rayos
(Wavepath Eikonal Traveltime). Se calculan tantas trayectorias (as como sus
correspondientes tiempos de trayecto) como parejas emisor-receptor posea la lnea ssmica.
El conjunto de tiempos tericos calculado se compara con los tiempos ledos, de forma que
las diferencias temporales se utilizan para modificar el campo de velocidades. El proceso
iterativo finaliza cuando las diferencias se han minimizado lo suficiente.

A continuacin se describe brevemente la base terica que se utiliza en el trazado de
rayos:

6
El mtodo Delta T-V esta ampliamente explicado por Gebrande y Miller (1985).
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
100
(a)
(b)
Figura A.3. Curvas espacio-tiempo (dromocronas) construidas a partir de las lecturas de los tiempos de
primeras llegadas. (a) Visin general de todas las dromocronas del perfil PS-1. (b) Detalle de
las 50 primeras estaciones sensoras. Las seales indican los diferentes puntos de inflexin y
definen los intervalos de velocidad aparente. Para el perfil PS-1 se han realizado 22389
lecturas.
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
101
Considrese la superficie refractante P que separa dos medios con velocidades V1 y V2
(Figura A.4) y se dispara un tiro desde S cuya energa es capturada por varios receptores (R). Si
se toma a SF como la representacin del rayo que incide con ngulo lmite de reflexin en P,
entonces Xc representa la distancia entre S y R a partir de la cual, para gefonos situados a
distancias mayores (B) se obtienen ondas de cabecera (rayos crticos). El objetivo del mtodo
clculo es determinar la posicin del punto F, para as determinar la superficie refractora que
quedar tanto mejor definida como mayor nmero de disparos y gefonos disponga el perfil
ssmico.


Figura A.4

Para determinar F consideremos los receptores A y B. tSB el tiempo que tarda en llegar la
onda desde S a B, y S
1
una fuente distante desde la cual se miden los tiempos de llegada t
S1A
y
tS1B en A y B respectivamente.
Si se pueden definir t
SB
y t
S1B
- t
S1A
como
tSB = (SF + GB)/V1 + FG/V2 (1)
t
S1A
t
S1B
= (GB HA)/V
1
+ HG/V
2
(2)
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
102
Entonces, t
SA
= t
SB
[t
S1B
t
S1A
] = (SF + HA)/V
1
HF/V
2
(3)
Si se consideran los trayectos SDA y SEB, formados por la interseccin de los rayos
provenientes de S.
tSB = (SF + GB)/V1 + (FE + EG)/V1 (4)
t
SA
= (SF + HA)/V
1
(DF + HD)/V
1
(5)
Ahora, si tSA, tSB, tSA y tSB son graficados (Figura A.5) versus la distancia horizontal
desde S y asumiendo que la distancia HG es una recta; se pueden unir mediante lneas rectas los
puntos, entonces la interseccin de ambas rectas ser la distancia crtica Xc, en un tiempo t
SFC
.
Una vez que el tiempo y la distancia crtica son conocidos, el punto F puede determinarse
interpolando el rayo SE entre D y E para obtener el punto en el cual el tiempo calculado para
SFC es igual al tiempo tSC.


Figura A.5

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
103
Para cada disparo pueden ser determinados dos puntos sobre la superficie refractante y
mediante de la unin de estos puntos se puede obtener la forma de la primera capa. Una vez
conocida P, el tiempo de viaje de las fuentes al refractor y del refractor a los receptores puede ser
calculado. La sustraccin de estos tiempos a los observados por la onda de cabecera suministra
los tiempos de viaje a lo largo del refractor, de donde la velocidad del refractor puede ser
calculada.


















Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
104
A.3 COLUMNAS LITOLGICAS

A continuacin se presentan las columnas litolgicas de los distintos sondeos mecnicos
que se realizaron con extraccin de testigo continuo. Su ubicacin se presenta en las Figuras IV.4
y IV.5 (Captulo IV). Una vez obtenida la seccin ssmica correspondiente a los perfiles PS-1, PS-
2 y PS-3 estas columnas, junto con el campo de velocidades obtenido por refraccin, han servido
de calibracin para establecer la conversin del tiempo doble de la seccin ssmica a
profundidad.
120
115
110
105
100
95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0

230
225
220
215
210
205
195
190
185
180
175
170
165
160
155
150
145
140
135
130
125
200
1:500

Figura A.6 Pozo A-1
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
105
10 0
95
90
8 5
8 0
7 5
7 0
6 5
60
5 5
5 0
4 5
40
35
30
25
20
1 5
10
5
0

19 5
19 0
18 5
18 0
17 5
17 0
16 5
16 0
15 5
15 0
14 5
14 0
13 5
13 0
12 5
12 0
115
110
10 5
2 00

2 30
2 25
2 20
2 15
2 10
2 05
2 35
2 40
2 45
2 50
2 55

Figura A.7 Pozo A-2

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
106

100
95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0

195
190
185
180
175
170
165
160
155
150
145
140
135
130
125
120
115
110
105
200

230
225
220
215
210
205
1:500
235
240
245
250
255

Figura A.8 Pozo A-3
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
107
100
95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0

230
225
220
215
210
205
195
190
185
180
175
170
165
160
155
150
145
140
135
130
125
120
115
110
105
100
200
1:500

Figura A.9 Pozo L1
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
108

sandy mudst one
sandy mudst one
sandy mudstone
100
95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0

185
180
175
170
165
160
155
150
145
140
135
130
125
120
115
110
105
100
1:500

Figura A.10 Pozo L2
Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
109
Pozo A-1

A continuacin se presenta la litologa de cada uno de los sondeos realizados.
Complejo Ainsa 2
0 0.75 m Recubrimiento de arcillas y rocas.
0.75 4 Margas compactadas.
4 24.7 Margas y alternancias de areniscas con estratificacin milimtrica.
24.7 64.7 Alternancia de margas y areniscas con capas de grosor variable que no
superan el metro.
64.7 69.7 Sandy-mudstone con slump.
69.7 73 Alternancias de areniscas y margas.
73 74.5 Sandy-mudstone con pliegues.
74.5 94.5 Alternancia de areniscas y margas con grosor superior a 1m.
94.5 96.7 Sandy-mudstone con pliegues.
96.7 98 Slump.
98 99.3 Sandy-mudstone con pliegues.
99.3 101.5 Alternancia de areniscas y margas, las capas de areniscas superan el metro
de espesor.
Complejo Ainsa 1
101.5 114.9 Slump.
114.9 119 Margas con intercalaciones de areniscas.
119 120.5 Slump
120.5 123 Margas.
123 132 Slump.
132 136 Slump.
136 145 Margas compactadas.
145 151 Margas compactadas con intercalaciones de areniscas.



Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
110
Pozo A-2

0 0,6m Relleno.
0.6 17 Margas con niveles de areniscas que no superan los 10 cm.
17 29 Areniscas.
29 33 Debris Flow (arenas y cdulos).
33 37.2 Alternancia de areniscas y margas.
37.2 40 Debris Flow.
40 70 Areniscas con intercalaciones de margas.
70 142.25 Margas (slump).
142.25 144.25 Areniscas.
144.25 182 Margas.
182 185 Areniscas.
185 218 Margas.
218 220 Areniscas.
220 250.9 Margas.

Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
111
Pozo L-1

Complejo Ainsa 2
0 2.35 m Gravas y materiales arcillosos de ro.
2.35 13 Arcillas y limos muy compactados.
13 20 Arcillas con intercalaciones de capas delgadas con menos del 50% de limo.
20 42 Areniscas y arcillas.
42 63 Alternancias de arenas y arcillas.
63 111 Areniscas compactadas.
111 116 Margas slumpizadas.
116 123 Areniscas.
123 207 Margas con intercalaciones de areniscas.
Complejo Ainsa 2
207 217 Capas de areniscas y arcillas altarnantes (capas delgadas, en ocasiones 1 m
de areniscas compactadas).
217 220 Arcillas y margas estratificadas compactadas.
220 226.4 Arcillas y margas estratificadas compactadas.











Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
112
Pozo L-2

0 0.25 m Cobertura vegetal.
0.25 9 Margas compactadas.
9 16.5 Margas compactadas con pequeas capas de arenas finas.
16.5 35 Margas compactadas alternando con capas de areniscas.
35 42 Margas con capas de areniscas.
42 73 Margas con capas de areniscas (menores a 50 cm).
73 86 Margas con capas de areniscas mas potentes (1 m). En medio sandy-
mudstone.
86 120 Margas compactadas.
120 124 Margas compactadas con tres capas potentes de areniscas (50 cm).
124 128 Margas compactadas.
128 131.9 Brechas diagenticas.
131.9 136 Alternancias de margas y capas de areniscas de hasta 50 cm de potencia.
136 138.5 Margas compactadas.
138.5 147 Slump.
147 150.5 Margas y areniscas estratificadas.
150.5 152 Margas compactadas.
152 154.5 Slump.
154.5 157.2 Margas con intercalaciones de areniscas.
152.2 159.5 Margas Compactadas
159.5 161.2 Areniscas y Margas.
161.2 171.3 Slump.
171.3 180.4 Margas compactadas.
180.4 183.5 Slump.
183.5 186.7 Margas compactadas.



Procesamiento de Datos Ssmicos de Reflexin Superficial
113
A.4 TRMINOS TRMINOS GEOLGICOS USADOS EN LA MEMORIA

Debris flow: Nombre que se le da a la corriente de derrubios.
Flysch: Nombre que se da a las formaciones sedimentarias masivas potentes,
mayoritariamente turbidticas, depositadas en regiones orognicas antes de su deformacin.
Margas: Roca sedimentaria arcillosa que contiene de un 35 a un 65% de carbonato clcico.
Tiene un aspecto terroso de color variable entre rojizo y blanco, y entre gris oscuro y gris
azulado.
Olitostromo: Depsito sedimentario que consiste en una masa rocosa catica, contiene
clastos grandes compuestos de material ms antiguo que la secuencia sedimentaria
circundante. Tales depsitos se forman generalmente por material deslizado bajo efecto
gravitatorio.
Turbidita: Capa de sedimentos depositados en un solo episodio por una corriente de
turbidez. En su forma ms completa puede ser descrita por la secuencia tipo de Bouma. La
repeticin de capas de turbiditas puede generar potentes series turbidticas en zonas de
talud y de llanura abisal.

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