Anlisis clsico de sistemas discretos

2.1 Teorema del muestreo y el problema del enmascaramiento de seales (aliasing).

En la formacin de una imagen digital ocurre un proceso de muestreo (sampling), en el cual un objeto (identificado tambin como una funcin continua) es muestreado para obtener su imagen digital (obteniendo as una funcin discreta). El muestreo puede describirse a partir de la funcin delta de Dirac o funcin impulso. De este modo, el proceso de muestreo se realiza como se ejemplifica en la Figura.En la parte izquierda de la Figura se presentan las funciones en el dominio espacial y en la parte derecha se muestra la magnitud de la transformada de Fourier de cada funcin, en el dominio de la frecuencia. En la Figura a se muestra la seal de entrada, representada por la funcin continua ac(x), en la Figura b aparece la funcin discreta de muestreo i(x), la cual consiste en una serie de funciones delta escaladas; en la Figura c aparece la funcin discreta a(x) como resultado del proceso de muestreo. En la Figura e se muestra la seal reconstruida a partir del filtro de reconstruccin mostrado en la Figura d; se observa que la seal reconstruida es igual a la seal original.

Figura. Proceso de muestreo sin aliasing. (a) Funcin continua ac(x), (b) funcin de muestreo discreta i(x), (c) funcin muestreada a(x), (e) seal reconstruida = seal original, (d) filtro de reconstruccin.

Alliasing
La frecuencia a la cual se realiza el muestreo, ws, es importante ya que de ella depende que se presenten o no fenmenos espectrales como el aliasing. El aliasing ocurre cuando al muestrear la seal, la transformada de Fourier Ac(w) de la funcin original tiene componentes que se extienden ms all de ws/2, como se muestra en la Figura a y b. Esto ocasiona que las rplicas espectrales de la funcin muestreada se traslapen, como se observa en la Figura c. Por lo tanto, al reconstruir se obtiene una seal que es un alias de la seal original, como se muestra en la Figura e.

Figura 2. Proceso de muestreo con aliasing. (a) Funcin continua ac(x), (b) funcin de muestreo discreta i(x), (c) funcin muestreada a(x), (e) seal reconstruida = seal alias, (d) filtro de reconstruccin.

Teorema de muestreo de Nyquist Lo anterior da lugar al teorema de muestreo de Nyquist: Cualquier funcin limitada en banda, sin componentes en frecuencia que se extiendan ms all de Wmx, puede ser completamente determinada a partir de un conjunto de muestras discretas si es muestreada a una frecuencia mayor que dos veces Wmx.

El teorema de muestreo establece as la condicin que se debe de cumplir para que no exista aliasing: el muestreo debe realizarse a una frecuencia ws mayor o igual que el doble del mximo componente en frecuencia de la seal original. Es importante destacar que el muestreo, como se ha definido hasta aqu, no representa propiamente un proceso fsico de medicin, ya que en ste la funcin de muestreo asociada debe incluir una extensin espacial finita que refleje la resolucin del detector empleado en la medicin. La funcin delta empleada para el muestreo en las figuras anteriores puede ser interpretada como una funcin ideal de ancho infinitesimal, pero el muestreo fsico es realizado usando funciones menos ideales.

2.2 mapeo entre el plano S y el plano Z 2.3 diagramas de bode en tiempo discreto