ModelodeDireccinparalaAplicacindeSixSigma CaptuloVII

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CAPTULOVII

EVALUACINDELA
CAPACIDADDEL
PROCESO

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CAPTULOVII

EVALUACINDELACAPACIDADDELPROCESO

Unavezajustadoelprocesoydisminuidosuvariacinseevalalacapacidaddelproceso.
Un estudio de capacidad es un procedimiento ordenado de planeacin, recoleccin y anlisis de
informacin,conlafinalidaddeevaluarlaestabilidaddeunproceso,ylacapacidadquestetiene
para producir dentro de especificaciones. Los estudios de capacidad miden la variacin y el
centradodeunprocesoconrespectoasusespecificaciones.

Parapoderrealizarestasmedicionessobreelprocesoquefueajustado,seprocedealuso
de los diversos tipos de grficos de control, los cules fueron explicados en el Captulo IV
DefinicindelProblemayDescripcindelProceso,especficamenteenelpunto4.13.

7.1.Capacidaddelproceso

Una vez que el proceso se encuentra bajo control, es decir, no hay puntos fuera de los
lmitesdecontrolnipatrones,seprocedealclculodelacapacidaddelproceso(lacapacidaddel
procesoparaproducirpiezasdentrodeespecificaciones).
El ndice de capacidad potencial es una comparacin entre los lmites de especificacin
(tolerancia)yloslmitesdelprocesosintomarencuentalalocalizacindelcentrodelprocesoen
comparacin con los lmites de especificacin. Si un proceso no es potencialmente capaz,
definitivamentetampocotienecapacidadreal.
Unamaneradeevaluarlacapacidaddelprocesoparaproducirdentrodeespecificaciones,
escompararelanchodelaespecificacinconelanchodelproceso.
La figura 7.11 muestra la representacin grfica de los lmites de especificacin y de un
procesopormediodeunadistribucinsimtrica(aunquestanosealaverdaderarepresentacin
detodoproceso,sepuedetratardeusarunatransformacinparalograrnormalidad).

Figura7.11Representacingrficadelmitesdeespecificacin.

Tolerancia
(anchodelaespecificacin)
LIE LSE
a=LSELIE
b=Anchodelproceso=6
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Elndicedecapacidadpotencialsedefinecomo:

C
p
=
o
b
=
ISE - IIE
6s
s = o

querepresentaunacomparacindeanchos,sintomarencuentalaubicacindelproceso.
Indicaelnmerodevecesqueelprocesocabedentrodelaespecificacin.

Para tomar en cuenta las fluctuaciones de la media del proceso, se considera una
ventanadeoperacinde_1.So.Laamplituddedichaventanadeoperacinestbasadaenla
incapacidaddelasgrficasdecontroldeShewhartareaccionarrpidamenteacambiosporabajo
deestevalor.

ConsiderandoLIE=3oyLSE= +3o,yelprocesocentradoencero,entonces Cp=1,ysu
fraccindefectuosaes0.27%.Tomandoencuentalaventanadeoperacindeentoncesenelcaso
extremo, el porcentaje del proceso que est fuera de las especificaciones es de 6.68%, porque la
fraccindefectuosaseexpresamediante:

p(X > So) = p _Z >

So - 1.So
o
] = p(Z > 1.S) = u.u668

As, Cp = 1 significa que la fraccin defectuosa no ser mayor de 6.68% mientras que las
fluctuacionesdelamediadelprocesonoseanmayoresde_1.Sosobreelprocesocentrado.
De la misma forma, Cp = 2 significa una fraccin defectuosa igual a 3.4 ppm = 0.00034%
(clase mundial), considerando el proceso centrado en el extremo de la ventana de operacin
(_1.So).

Considerandoelprocesonocentrado,posicionadoenlafraccindefectuosa(FD)sedefine
como:

F = p(X > 6o) = p _Z >
6o -1.So
o
] = p(Z > 4.S)

F = S.4 ppm

Considerandoelprocesocentrado,seexpresamediante:

F = p(X > 6o) + p(X < -6o) = 2p _Z >

6o -u
o
] = 2p(Z > 6) = 2(9.9u12E1u
-10
)
= u.uu198 ppm

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ComoCpnotomaencuentalaubicacin(centrado)delproceso,esnecesariodefinirotro
ndicequesilaconsiderecomosemuestraenlafigura7.12.

Figura7.12Definicindelndicedecapacidadreal.

Al comparar c/d se puede ver el centrado del proceso en relacin con la mitad de la
variacindelmismo.

c = la distancia entre el centro del proceso (media) y el lmite de especificacin ms

cercano.

d=lamitaddelanchodelproceso.

Elndicedecapacidadreal(Cpk)quedadefinidocomo:

Cpk =
|IE - X

|
Ss
si IIE X

ISE

Cpk =
|IE - X

|
Ss
si X

> ISE o X

< IIE

siendoLEellmitedeespecificacinmscercanoalamediadelproceso.
Paraelcasodetoleranciaunilateralsedefine:

Cpk =
|IE -X

|
Ss

enesecasoLEeselnicolmitedeespecificacin.Dichondicesernegativosilamediaestfuera
delaespecificacin.

1. ElndiceCpseusaparaevaluarelproceso.Separavariacindecentrado.
2. El ndice Cpk se usa para dar seguimiento al proceso con respecto al tiempo. Evala
variacinycentradoconbaseenunslonmero.

LIE LSE
c
d
LIE LSE
c
LIE LSE
c
LIE LSE
ccc
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DeacuerdoconGunter(1989),sepuededecirqueCpkrepresentalatoleranciadisponible
cuandoelprocesonecesitael100%deesta.
7.2.Rendimientodeunproceso(Yield)

El rendimiento tradicional de un proceso se obtiene dividiendo el nmero de piezas que

entranentreelnmerodepiezasquesonproducidasdeacuerdoconespecificaciones.
Elrendimientodeprimeravez(FirstTimeYieldY
FT
)correspondealnmerodepiezashechasbien
laprimeravezencadafasedelproceso.
El rendimiento en cadena (Rolled Throughput Yield, Y
RT
) es el producto del rendimiento en cada
pasodelproceso.Enestecasonoseincluyeelretrabajo.

El concepto de la fbrica oculta surge cuando una compaa est utilizando recursos adicionales
pornohacerbiensusproductosalaprimeravez.
Alretrabajooaldesperdicioseleconsideracomolafbricaoculta.

7.3.MtricadeSixSigma

LamtricadeSixSigmaevalaelprocesobasadoenelnivelsigma(),conlafinalidadde
estandarizardichaevaluacinypodercomparardiferentesprocesosentres.

Lospasosdelamtricason:

1. Identificar los CTQs (CCC, caractersticas crticas de calidad) del proceso. Son las
caractersticasorequerimientosdelosclientes.
2. Definir oportunidades de defecto. Cualquier paso en el proceso en donde un
defectopuedaocurrirenunaCCC.
3. Buscar defectos en productos o en servicios. Contar los defectos o fallas para
satisfacerCCCsentodoslospasosdelproceso.
4. Calculardpmoindividual.Paracadaunadesusfases.
5. Convertiranivelessigmaindividual.Paracadaunadesusfases.
6. Resumen del anlisis. Elaborar la tabla con los resultados finales. Calcular Y
FT
,
dpmo (proceso), la distribucin de defectos y comentar sobre el nivel de calidad
delproceso.
7. Deteccindereasdeoportunidad.Jerarquizarlas fasesdelprocesocon baseen
susnivelessigma.

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Latabla7.13presentaloselementosdelamtricaSS.

dpu dpu=defectosporunidad(promedio)
dpu=nmerodedefectos/nmerodeunidades
dpmu dpmu=defectospormillndeunidades=(dpu)(10
6
)
dpo dpo=defectosportotaldeoportunidades(i)
dpo=nmerodedefectos/nmerodeoportunidadestotales(i)
dpmo dpmo=defectospormillndeoportunidades
dpmo=dmpu/nmerodeoportunidadesporunidad=(dpo)(10
6
)

Y
FT

Y
FT
=rendimientodeprimeravez
Y
FT
=[1dpmo/10
6
]n
(n=nmerodeoportunidadesdedefectosporunidad)

Tabla7.13MtricasdeSixSigma

Ladiferenciaentredmpuydpmoesqueunaunidadpuedetenervariasoportunidadesde
cometerdefectos.
Si cada unidad solamente tiene una oportunidad en la que pueda ocurrir algn defecto, dpmo =
dpmu. Originalmente ppm significa unidades defectuosas por cada milln, independientemente
delnmerodedefectosendichasunidades.

ActualmenteelobjetivodeMotorolaestener3.4ppmconsiderandoppmcomoelnmero
dedefectosporcadamillndeunidades.Enestecaso,ppm=dpmu.

Si cada unidad se compone de cierto nmero de oportunidades de ocurrencia de un
defecto,entoncesppm=dpmo.

Elprocedimientoparaobtenerelnivelsigmadeunprocesoenelcasodeatributoses:

1. Obtenereldpmo.
2. Si el valor en el cuerpo de la tabla Z est en notacin cientfica, expresar dpmo en dicha
notacinconunenteroydosdecimales.
3. BuscarelvalorZenlatablaZdelapndice.