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ULTRASONI DO

Ing. Ricardo Echevarria















AO 2002



UNIVERSIDAD NACIONAL DEL COMAHUE
Facultad de Ingeniera
Laboratorio de Ensayos No destructivos

Indices


Ing. Ricardo Echevarria- Lab. END -F.I. - Univ. Nac. Comahue

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INDICE

INDICE.................................................................................................................................................2
ENSAYO DE ULTRASONIDO............................................................................................................4
1.- PRINCIPIOS ACSTICOS.........................................................................................................4
1.1 OSCILACIN.........................................................................................................................4
1.2 ONDAS: ..................................................................................................................................6
1.3 TIPOS DE ONDAS:................................................................................................................8
1.31 Onda longitudinal..............................................................................................................8
1.32. Onda transversal: ............................................................................................................9
1.4. SONIDO.................................................................................................................................9
1.41- Propagacin del sonido:................................................................................................10
1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites........................................12
1.43. Dispersin, difraccin , interferencia: ............................................................................15
1.44. Disminucin de la presin snica..................................................................................17
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS. ...............................................................20
2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO...................................................................................20
2.11. Procedimientos mecnicos...........................................................................................20
2.12. Efecto magnetoestrictivo...............................................................................................20
2.13. Efecto piezoelctrico.....................................................................................................20
2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO............................................................23
2.21. Procedimiento de transmisin.......................................................................................23
2.22. Procedimiento de pulso-eco..........................................................................................25
2.23. Otros procedimientos de ensayo ..................................................................................27
2.3. PALPADORES....................................................................................................................28
2.31 Propiedades....................................................................................................................28
2.32. Campo snico................................................................................................................29
2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos .......................................................................31
2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO..........................................................................43
2.41. Instrumental bsico.......................................................................................................43
2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION.................................................................................49
2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A) .................................................................49
2.52 Representacin "Tipo B" ................................................................................................49
2.53 Representacin "Tipo C" ................................................................................................50
2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA....................................51
2.61 Bloques de calibracin ...................................................................................................51
2.62 Bloques normalizados de referencia..............................................................................51
3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN..............................................................................54
3.1. ACOPLAMIENTO................................................................................................................54
3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO .........................................................................54
3.21. Rugosidad......................................................................................................................54
3.22. Curvatura .......................................................................................................................55
3.23. Recubrimiento................................................................................................................57
3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES...............................................................................57
3.31. Procedimiento de ensayo..............................................................................................57
3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico...............................................................57
3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo ..........................................................................58
3.34. Seleccin del tamao del transductor...........................................................................59
3.4. AJUSTE DEL EQUIPO .......................................................................................................61
3.5. TECNICA DE INMERSION.................................................................................................61
Indices


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Calculo de compensacin en ultrasonido por inmersin...........................................................66
3.6. INTERPRETACION DE LA PRESENTACION EN LA PANTALLA DE TRC.....................68
3.61. Indicaciones de defectos...............................................................................................69
3.62. Indicaciones de defectos aparentes .............................................................................72
3.7 DETERMINACION DE LA FORMA Y TAMAO DE DISCONTINUIDADES......................77
3.71. Discontinuidades grandes.............................................................................................78
3.72. Discontinuidades pequeas ..........................................................................................79
Diagramas AVG..........................................................................................................................79
Mtodo DAC ...............................................................................................................................82
Descripcin de reflectividades:...............................................................................................82
3.9. PROCEDIMIENTOS GENERALES DEL ENSAYO ULTRASONICO................................87
Bibliografa: ....................................................................................................................................89





1 Principios acsticos


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ENSAYO DE ULTRASONIDO

1.- PRINCIPIOS ACSTICOS
Para obtener una mejor comprensin de los fenmenos que ocurren en el ensayo no destructivo
de ultrasonido, es necesario recordar algunos pocos conceptos fsicos bsicos.

1.1 OSCILACIN
Como punto de partida consideremos el trmino oscilacin y todas sus caractersticas
relacionadas. Un ejemplo bien conocido de oscilacin son los pndulos o las cuerdas de un
instrumento musical, cuya caracterstica comn de oscilacin en ellos es el cambio regular de su
valor de estado ( por ejemplo posicin de una partcula de la masa) o el peridico alcance de una
condicin instantnea (en un pndulo, por ejemplo, el punto de inversin derecho o izquierdo). Un
pndulo puede moverse veloz o lentamente, fuerte o dbilmente; dos pndulos idnticos pueden
oscilar en el mismo sentido o no con otro.
Los siguientes trminos estn relacionados con las vibraciones y sern abreviadamente definidos
como sigue:

OSCILACIN (CICLOS): cambio peridico de la condicin o el comportamiento de un cuerpo.

PERODO: tiempo necesario para llevar a cabo una oscilacin, por ejemplo el tiempo en que un
cuerpo se mueve un ciclo completo relacionado al momento de estados idnticos. Este se
designa "t" y es usualmente expresado en segundos (seg.), ver figura 1.


Fig. 1 : Oscilacin de un pndulo ( derecha) y su representacin grfica vs. el tiempo

FRECUENCIA: Es la inversa del perodo o el nmero de oscilaciones (ciclos) por unidad de
tiempo. La frecuencia se la designa con "f" dando la relacin:

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5
t
f
1

(1)

La unidad es el "Hertz" (Hz).
1 Hertz (Hz) = 1 ciclo por segundo.
1 Kilohertz (KHz) = 10
3
Hz = 1000 ciclos por segundo.
1 Megahertz (MHz) = 10
6
Hz = 1 milln de ciclos por segundo.
1 Gigahertz (GHz) = 10
9
Hz = 10
9
ciclos por segundo.

















Fig.2: Ejemplo de oscilaciones con diferentes tiempos y frecuencias.

AMPLITUD: Es la mxima desviacin del cuerpo oscilante desde la posicin de equilibrio
(posicin cero), ver figura 3 .
Si la amplitud (designada por "A") es constante en el tiempo, la oscilacin es desamortiguada; si
esta decrece con el tiempo, se la llama oscilacin amortiguada, ver Fig. 5.

Fig. 3: Definicin de la amplitud A de una oscilacin

FASE: Es la condicin instantnea en una oscilacin: el concepto se aplica principalmente cuando
se comparan 2 oscilaciones, de modo que es tambin llamado diferencias o desplazamiento de
fases, ver Fig. 4. La diferencia de fase, designada por "", es comnmente dimensionada en
grados de ngulo, donde el perodo t corresponde a un ngulo de 360 (crculo) ,
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Fig. 4: Ejemplo de oscilacin con diferencia de fases ""

AMORTIGUACIN o ATENUACIN: Decremento en el tiempo de la amplitud de una oscilacin.
Las diferentes razones por lo que sucede esto, se vern ms adelante. Ver Fig. 5 .

Fig. 5: Oscilaciones amortiguadas y desamortiguadas

1.2 ONDAS:
Hasta aqu se ha considerado el comportamiento de un cuerpo simple ( por ejemplo el
pndulo). La misma consideracin se puede aplicar ahora aplicada a partculas elementales
(tomos y molculas) de un cuerpo. Aqu deben ser discutidas algunas caractersticas de gran
importancia para el ensayo ultrasnico debido al gran nmero y a las fuerzas actuantes entre ellos
(tomos y molculas).
Si varios cuerpos son acoplados entre s rgidamente y a uno de ellos se lo hace oscilar, todos
los otros oscilarn en la misma fase, frecuencia y amplitud; mientras sea desamortiguado, esto
puede ser considerado como una entidad, ver Fig. 6.


Fig. 6: Modelo de acoplamiento rgido.
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No obstante, si estos cuerpos no estuvieran unidos uno con otro, los dems permaneceran en
reposo si uno de ellos oscilase (Fig. 7) .

Fig. 7: Modelo sin uniones

Cuando hay una unin elstica entre estos cuerpos (por ejemplo varios pndulos unidos por
elsticos (o resortes) Fig. 8), la oscilacin de uno de los cuerpos ser gradualmente transmitida al
adyacente y as siguiendo. De esta forma se produce una onda. Ver Fig. 9 .

Fig. 8: Modelo con acoplamiento elstico.


Fig. 9: Modelo de una onda (longitudinal) y su propagacin. :longitud de onda

Las definiciones relacionadas a la ocurrencia y la propagacin de ondas son las siguientes:

Onda: es la propagacin de una oscilacin y sucede cuando una partcula oscila transmitiendo su
vibracin a la adyacente.
Las partculas adyacentes tienen una diferencia de fase constante.
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El grfico de una onda es similar al de una oscilacin, pero versus una distancia en lugar del
tiempo.
Acoplamiento : Unin entre dos partculas adyacentes o medio, y es el factor necesario para la
ocurrencia y propagacin de ondas. Un acoplamiento total (rgido) o el no acoplamiento total
nunca ocurre en la naturaleza, esto vara dentro de lmites amplios. El acoplamiento es producido
por fuerzas atmicas o moleculares elsticas de enlace, por friccin, por gravitacin, etc.
Velocidad de propagacin (velocidad snica): es la velocidad de propagacin de una onda,
relacionada a iguales fases, por lo que de all tambin es llamada velocidad de fase.
Es designada por "c" (en alguna bibliografa tambin como "v") y se expresa en cm/s , m/s
Km/s .
La velocidad snica es una propiedad del material.
Longitud de onda: es la distancia entre dos puntos adyacentes de condicin de oscilacin
equivalente o igual fase, mirando en la direccin de propagacin. La longitud de onda es una
magnitud muy importante, designada por " ", y cuya relacin de aplicabilidad es la siguiente:

. = c * t =
f
c
; f =

c
; c = f (2)

1.3 TIPOS DE ONDAS:
La propagacin de ondas puede ocurrir en dos direcciones:
a) en la direccin de oscilacin de las partculas
b) en la direccin perpendicular de oscilacin de las mismas.
Existen los siguientes tipos de ondas:

1.31 Onda longitudinal
Aqu, la direccin de oscilacin de las partculas coincide con la direccin de propagacin de la
onda como muestra la Fig. 9. Como ejemplo, se puede mencionar una onda normal ( variacin de
compresin) en aire. Por esto es tambin llamada onda de compresin, ver Fig. 10.


Fig. 10:Ondas longitudinales y transversales
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1.32. Onda transversal:
La direccin de oscilacin de la partcula es perpendicular a la direccin de propagacin de la
onda. Un ejemplo obvio, an cuando no sea correcto en el sentido fsico, es el encontrado en
ondas en agua (oscilacin vertical, propagacin horizontal)
En la Fig. 10, estos dos tipos de ondas son comparadas con sus explicaciones pertinentes.
Los pequeos puntos representan las partculas elementales del medio. Por aadidura, pueden
ser posible combinaciones de estos dos tipos de ondas lo que ser discutido ms adelante .

1.4. SONIDO
Consideraremos el captulo de sonido fuera del amplio campo de las oscilaciones y procesos de
ondas y explicaremos esto algo ms detallado debido a que es de importancia en el mtodo de
ensayo.
El sonido, como se conoce diariamente, se propaga en forma de ondas. En oposicin a las ondas
magnticas, calricas y lumnicas est asociado con la presencia de materia.
En el rango de sonido audible uno puede distinguir:

Tonos: esto es determinado por la frecuencia.
Volumen: depende de la amplitud de oscilacin .
Timbre: es determinado por la ocurrencia de varias frecuencias simultneamente, por las varias
amplitudes de una oscilacin individual , y por la duracin de las diferentes componentes del
sonido.
Respecto a la frecuencia (tonos), ms all de las divisiones que puedan ser hechas, se sabe que
no todas ellas son audibles para el odo humano. Solamente lo es un cierto rango, con un lmite
superior e inferior, el cual puede diferir entre individuos y que puede variar con la edad. El lmite
inferior de audibilidad se halla alrededor de 16 Hz, y el superior alrededor de 20 KHz.
De acuerdo con convenios internacionales , el rango es ahora subdividido como sigue:
Subsnico: f < 16 Hz; esto es el rango de vibracin debajo del lmite de audibilidad. No se
escuchar ningn tono , solo se notar presin.
Sonido audible: 16 f 20 Hz, rango de frecuencias de sonido que son audibles por el odo
humano.
Ultrasonido: f > 20 KHz, estas frecuencias estn por encima del lmite de escucha humana. Las
frecuencias usuales para los ensayos no destructivos son en el rango de 0.5 a 25 MHz. Ver
Fig.11.


Fig. 11: Espectro acstico

Se puede hacer una subdivisin de acuerdo a la duracin del sonido en :
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Sonido continuo: la duracin del sonido es mucho mas larga que el tiempo de oscilacin ,
Sonido pulsado: aqu la duracin del sonido es solamente unas pocas veces el tiempo de
oscilacin. El intervalo entre dos pulsos es mucho mas largo que la duracin del pulso, ver Fig.
12.


Fig. 12: Sonido continuo y por pulsos graficado vs. tiempo ,

1.41- Propagacin del sonido:
Como ya se mencion, la propagacin de las ondas sonoras esta vinculado a la materia. Por
ejemplo si una onda sonora se est propagando, debe existir un material slido, lquido o
gaseoso, por lo que se deduce que la onda sonora no es ms que la propagacin de las
vibraciones de las partculas del material elstico. Ya que lquidos y gases no ofrecen ninguna
resistencia a los esfuerzos cortantes, las ondas transversales (ondas de corte) no pueden ser
propagadas en estos medios.

En lquidos y gases solamente pueden ser
propagadas ondas longitudinales.

Por esta razn, el ejemplo dado en 1.32 no es aplicable a esto.


En materiales slidos, se pueden propagar las ondas longitudinales
y transversales como as tambin todas sus combinaciones.


Las ondas longitudinales o transversales puras, slo se formarn si el espesor del material con
respecto a la direccin de propagacin de la onda, es considerablemente mayor que la longitud
de onda .
De otro modo, se formaran en las chapas o lminas, un tipo de ondas combinadas de los dos
anteriores, que son llamadas ondas de chapa o Lamb. Estas ondas se pueden subdividir en
ondas de dilatacin y flexin adicionales, ver Fig. 13.

Fig. 13: Tipos de ondas de Lamb. Arriba: onda de dilatacin. Abajo onda de flexin .
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Una nueva combinacin de ondas longitudinales y transversales son las ondas superficiales, ver
Fig.14, las cuales pueden existir solamente a lo largo de la superficie, siendo capaces de seguir
una superficie curvada. Como se puede ver en la figura 14, la profundidad de penetracin de una
onda superficial es aproximadamente igual a la mitad de la longitud de onda.

Fig. 14: Onda superficial.

Para completar, tambin sern mencionadas las ondas de torsin, las cuales se pueden dar en
cuerpos con forma de barras. Estas, son oscilaciones rotacionales alrededor del eje longitudinal
de la barra, la direccin de propagacin se sita en la direccin del eje longitudinal.


La velocidad de propagacin (velocidad de sonido) de
ondas longitudinales, transversales o de superficie, son
constantes del material, independientes de la
frecuencia y dimensiones del material.



Existe la siguiente correlacin:

Cl= ) 3 (
) 2 )(1 (1
- 1

E



Cl= ) (
) (
4
1 2
1
+

E


Cs = 0.9 t
Donde Cl = velocidad de la onda longitudinal.
Ct = velocidad de la onda transversal.
Cs = velocidad de la onda superficial.
E = Mdulo de elasticidad de Young
= densidad.
= constante de Poisson.



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La velocidad de propagacin de las ondas Lamb (tipos
de flexin y dilatacin) y las ondas de torsin dependen
no solamente de las constantes del material dadas
arriba, sino tambin de las dimensiones del mismo, del
tipo de onda y de su frecuencia. La dependencia de la
frecuencia de la velocidad de onda del sonido, es
tambin llamada " dispersin"


Las ondas snicas que se esparcen uniformemente en todas direcciones son llamadas ondas
esfricas, aquellas que se esparcen slo en una direccin, ondas planas.

1.42 .El comportamiento de ondas snicas en superficies limites

1.421. Direccin del sonido en superficies limites perpendiculares .
Si una onda snica incide normalmente en la interfase de dos materiales, una parte de la energa
snica es transmitida al otro material, mientras que otra parte ser reflejada, como se muestra en
la figura 15 .


Fig. 15: Incidencia del sonido normal a la interfase entre dos medios.

Las proporciones de energa transmitida y reflejada dependen de la impedancia de los dos
materiales .
La impedancia acstica se puede calcular como:


Z = * c (6)

Donde Z = impedancia acstica
= densidad del material del medio considerado
C = velocidad del sonido del medio considerado


Si una onda snica viaja a travs de un material con impedancia acstica Z
1
, e incide
perpendicularmente en una interfase correspondiente a otro material con impedancia acstica Z
2
,
se pueden definir las siguientes magnitudes:

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Factor de reflexin : R =
1 2
1
2
Z Z
Z Z

(7)

Factor de transmisin : T' =
1 2
2
2
Z
Z
Z
+
(8)

El factor de reflexin da la proporcin (%) de presin acstica reflejada y el factor de transmisin
da la proporcin de presin acstica transmitida en el segundo material .
"R'" puede ser positivo o negativo, "T'" puede ser mayor o menor que 1, dependiendo cul de
los dos, Z
1
Z
2
es mayor. Esto no esta en contraposicin con el principio de energa, sino que
aqu se considera la presin acstica y no la energa (o intensidad) acstica. Un material con alta
impedancia acstica es llamado "acsticamente duro" y uno de baja impedancia,
"acsticamente blando".

Si la impedancia acstica de los dos medios
son iguales (Z
1
= Z
2
), no hay reflexin ( R'=
0 ), el sonido pasa a travs de la 1interfase
si alterarse (T'= 1).


Ser mencionado nuevamente que los valores de R' y T' estn relacionados con la presin y no
con la intensidad acstica. Esta forma de representacin ha sido elegida deliberadamente, puesto
que la amplitud del eco que aparece indicado en un equipo de ultrasonido es proporcional al valor
de la presin acstica .
De las expresiones (7) y (8) se deduce, en primer lugar, que la presin acstica reflejada ser de
la misma amplitud, cualquiera sea el lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, es
decir, independiente de la secuencia de ambos materiales; si bien en el caso de ser Z
2
> Z
1
, R'
ser positivo lo que indica que la onda incidente y la reflejada estn en la misma fase y, en caso
contrario, (Z
2
< Z
1
), R' ser negativo, lo que indica una inversin de fase de la onda reflejada
con relacin a la incidente .
En cambio, la presin acstica transmitida, si bien en fase con la onda incidente, no ser
independiente de la secuencia de los dos materiales, de manera que se Z
2
> Z
1
, T' >1, lo que
indica que su amplitud ser mayor que la de la onda incidente y en caso contrario ( Z
2
< Z
1
, T1'<1)
menor. Ver Fig.. 16 .


Onda incidente en acero Onda incidente en agua
Fig. 16: Valores de la presin acstica en el caso de reflexin en una superficie. Lmite acero-
agua
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Si se quiere hallar la relacin entre las impedancias acsticas y la intensidad denominamos:
R=
Ii
Ir
al coeficiente de reflexin

T =
Ii
It
al coeficiente de transmisin

Ambos adimensionales que expresan el porcentaje de intensidad reflejada y transmitida,
respectivamente, en relacin con la intensidad incidente.
El balance de energa, expresada en intensidad, nos da:

y por consiguiente




De la teora de la propagacin de ondas acsticas se obtiene:

2
1 2
1
21
1
1
]
1

Z Z
Z Z
R ;
( )
2
2 1
2 1
4
Z Z
Z Z
T
+



De aqu se deduce que, desde el punto de vista de las intensidades acsticas, es indiferente el
lado de la superficie lmite sobre el cual incide la onda, ya que los valores de R y T no cambian al
permutarse entre s Z
1
y Z
2
, a diferencia de lo que ocurra con las presiones acsticas.

1.422. Incidencia oblicua en la interfase
Si la onda snica incide sobre la interfase con un ngulo oblicuo, los fenmenos que ocurren son
considerablemente ms complicados que con una incidencia normal. Nuevamente hay una
componente reflejada y otra transmitida, pero el hecho adems origina que parte de la energa
acstica sea convertida en otro tipo de onda, por lo que habr dos ondas reflejada y dos
transmitidas, ver Fig.. 17 .


Fig. 17:Incidencia oblicua de una onda snica .


Ii= Ir + It


R + T= 1

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A partir de la incidencia de una onda longitudinal con un ngulo oblicuo se crearn:

- Una onda longitudinal reflejada.
- Una onda transversal reflejada.
- Una onda longitudinal refractada.
- Una onda transversal refractada.


En medios lquidos y gaseosos, por supuesto, la componente transversal asociada desaparece.
Las diferentes direcciones estn definidas por el ngulo formado entre la onda y la normal en el
punto de incidencia sobre la interfase.
Con una incidencia oblicua del sonido sobre la interfase entre dos medios, se aplican leyes fsicas
similares a las utilizadas en ptica .
Con una proporcin de sonido pasando a travs de la interfase, uno hablar, por analoga con la
ptica, de "refraccin" u "onda refractada", mientras la expresin "reflexin" se conservar.
La ley de Snell de refraccin, bien conocida en ptica, es tambin vlida aqu y es :


sen
1
= C
1
; sen
1
= sen
2
(10)
sen
2
C
2
C
1
C
2


La relacin es aplicable para todo tipo de ondas, independientemente si uno esta trabajando con
la componente reflejada o refractada. Solo los ngulos correspondientes y las velocidades de
propagacin deben ser introducidos en la frmula .

1.43. Dispersin, difraccin , interferencia:
Si una onda snica encuentra un obstculo, por ejemplo un medio con diferentes propiedades
acsticas, pueden ocurrir varios fenmenos, dependiendo del tamao del obstculo. Los
siguientes tres casos sern apuntados, ver Fig. 18.


Fig. 18: Dispersin y difraccin de ondas en obstculos .

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a) El obstculo es pequeo comparado con la longitud de onda, en este caso, aquel no interfiere
la propagacin de la onda y sta viaja como si el obstculo no estuviera presente.

1.431. Dispersin.
b) Si el tamao del obstculo es del mismo orden de magnitud que el de la longitud de onda, el
proceso de propagacin, como un todo, es dbilmente interferido, aunque, algo de energa de la
onda es absorbida. Esta energa se extender como una nueva onda esfrica en todas
direcciones, con el obstculo como punto central. Este proceso es llamado " dispersin ".
La dispersin est ilustrada grficamente por la ley de reflexin y refraccin en la Fig. 19.


Fig. 19:Esquema de dispersin acstica

1.432. Difraccin.
c) Si tenemos un obstculo ms grande que la longitud de onda, y si adems asumimos que la
impedancia acstica del obstculo difiere mucho del de los alrededores, se producir una
reflexin de la onda en el mismo. En efecto, no habr onda de propagacin detrs de l (sombra
de la onda), pero esta sombra ser cada vez menor con el incremento de la distancia desde el
obstculo. Esto ocurre porque las partes de la onda que corren a lo largo de los bordes del
obstculo son algo curvadas (difractadas) y corren oblicuamente hacia el interior de la sombra. De
la misma forma el haz de onda reflejado se abre hacia el frente. Este proceso es llamado
difraccin", ver Fig. 18 .
Por supuesto , estos procesos no son aislados unos de otros, mas bien ocurren con una
transicin gradual, dependiendo del tamao del obstculo. As se produce "difraccin" y
"dispersin" en un obstculo de tamao medio.

1.433. Interferencia
Hay an otro fenmeno: la nueva onda reflejada se superpone con la original tal que,
dependiendo de las fases de ellas, se puede producir un refuerzo, un debilitamiento, o una
completa anulacin.
Si la onda original tiene un pico (mximo) al mismo tiempo que la reflejada, las dos se sumarn,
y el pico de la nueva onda ser mayor que la original. En cambio, puede ocurrir la desaparicin
cuando el mximo de una coincide con el mnimo de la otra, o cuando una tenga la misma altura
que profundidad en la otra. Tal superposicin se llama " interferencia ", ver Fig. 20.
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Fig. 20 : Superposicin de ondas

1.44. Disminucin de la presin snica
Al alejarse la onda snica del transmisor, la presin snica disminuye. Esta reduccin tiene
varias causas:

1.441. Divergencia
Un transmisor snico radia el sonido no solamente en una direccin, sino en un dado rango
angular (similar a un "cono" luminoso).
La seccin transversal del haz se hace mayor con el incremento de la distancia, de tal forma que
la energa se distribuye sobre ,un rea cada vez mayor. La cantidad de energa snica por unidad
de rea as se va haciendo cada vez menor, como se muestra en la figura 21.

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Fig. 21: Reduccin de la presin acstica causada por la divergencia.

Este fenmeno es llamado divergencia. Una onda plana no tiene divergencia en contraposicin a
una onda esfrica (ver tambin captulo 2.32).

1.442. Atenuacin del sonido
El amortiguamiento (atenuacin) del sonido no es causado por la geometra de propagacin, sino
que es una caracterstica del material.
Los siguientes fenmenos son responsables de la atenuacin del sonido:

1.4421. Dispersin, ver seccin 1.431

1.4422. Absorcin
Parte de la energa acstica disminuye debido a las perdidas por friccin, con lo cual se convierte
en calor.
Esta "friccin interna" crece con la frecuencia. Materiales con alta friccin interna (igual a alta
absorcin) se usan como amortiguadores acsticos.
El coeficiente de atenuacin acstico indica la cantidad de atenuacin snica por unidad de
longitud de recorrido del sonido, para un determinado material. Adems del material, la
atenuacin snica tambin depende de la frecuencia y del tipo de onda.

1.443. Medicin de la atenuacin:
La atenuacin se mide en decibeles (dB), una unidad comparativa logartmica. Esto es bien
conocido por los electrnicos y definido como:


a [dB] = 20 log U
1
(11)
U
2


U: voltajes elctricos.
a: atenuacin de la respuesta de ganancia.


As, la altura de las indicaciones de los ecos en la pantalla del osciloscopio son proporcionales a
los voltajes de los impulsos de los ecos, lo que puede ser escrito como:


H
1
= U
1
(12)
H
2
U
2

(H: altura del eco)

y de all:,
1 Principios acsticos


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19

2
1
. 20
H
H
Log a


Se puede ver que solamente comparando la altura de dos ecos ser posible obtener evidencias
de la atenuacin del sonido. Tal estimacin es posible si hay posibilidades de comparacin .
Con una relacin de altura de dos ecos H
1
/H
2
= 2/1 = 2 encontramos:

a = 20 log 2 = 20 2x 10,3 = 6 dB

Esto significa que una reduccin de 6 dB en la altura del eco, corresponde a un decremento a la
mitad de su altura.
2- Principios bsicos de los instrumentos


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20
2. PRINCIPIOS BASICOS DE LOS INSTRUMENTOS.

Los modelos del instrumental para ensayos ultrasnicos estn constantemente cambiando debido
al progreso tcnico; sus principios bsicos tienen, sin embargo, una vigencia inalterable.
Estos conocimientos deberan ser familiares al operador, para que le permitan la seleccin del
mtodo ptimo para resolver su problema de ensayo entre varias posibilidades.
Esta segunda parte de este apunte describe los tipos de palpadores usados comnmente tanto
como la construccin de los instrumentos y sus accesorios mas simples.

ULTRASONIDO
De acuerdo a la definicin (inc. 1.4) la regin del ultrasonido comienza ms all de la frecuencia
de 20 KHz. Para el ensayo no destructivo de materiales reviste particular inters el rango de 0,5 -
15 MHz ; en algunos casos especficos ( el ensayo de hormign, por ejemplo), tambin el rango
de 50 KHz y frecuencias
ms altas.

2.1. GENERACIN DE ULTRASONIDO

2.11. Procedimientos mecnicos.
Existe un gran nmero de mtodos para generar ultrasonidos; en principio sirven ya los mismos
procedimientos que se emplean para generar sonidos audibles. Si los dispositivos capaces de
oscilar se construyen con una frecuencia propia correspondientemente alta. Empero, estos
procedimientos mecnicos, y algunos otros principios, no se utilizan en el ensayo no destructivo
de materiales, recurrindose por el contrario a otros efectos fsicos, a saber: el efecto
magnetoestrictivo, y sobre todo el efecto piezoelctrico.

2.12. Efecto magnetoestrictivo
Los materiales ferromagnticos (muy especialmente el nquel, adems del acero), tienen la
propiedad de contraerse o expandirse por efecto de un campo magntico.
Inversamente, en una barra de acero ferromagntico se produce un campo magntico si es
expuesta a un esfuerzo de traccin o compresin.
Este efecto se aprovecha para lograr altas potencias sonoras a relativamente bajas frecuencias,
por ejemplo, en el ya mencionado ensayo de hormign o en el caso de algunos otros problemas
especficos en cuyo detalle no ha de entrarse en este trabajo.

2.13. Efecto piezoelctrico
El efecto piezoelctrico reviste una importancia mucho mayor, siendo aprovechado casi
universalmente para el ensayo no destructivo de materiales. Ciertos cristales naturales o
sintetizados tienen la propiedad de que en presencia de un esfuerzo de traccin o compresin se
originan cargas elctricas en su superficie. La carga cambia de signo si se invierte la direccin del
esfuerzo. As es que en las superficies de un cristal expuesto alternativamente a un esfuerzo de
traccin y un esfuerzo de compresin existe un potencial alternativamente positivo y negativo (
tensin alterna).
El efecto piezoelctrico es reversible, es decir, cuando se aplica una carga elctrica a la superficie
del cristal, esta se contrae o se expande segn el signo de la carga elctrica. Una tensin
elctrica alterna, aplicada a las superficies del cristal, da origen a oscilaciones mecnicas de
presin (expansin y contraccin); Fig. 22. De la reversibilidad se extrae, de modo inmediato, que
puede emplearse el mismo principio para generar y recibir ondas longitudinales ultrasnicas.
En efecto, en la mayora de los casos se utiliza un mismo cristal como emisor y receptor.

2- Principios bsicos de los instrumentos


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Fig. 22: Efecto piezoelctrico del cuarzo (corte X)

El efecto piezoelctrico no es propio de todos los cristales y slo se produce en determinadas
condiciones. El ejemplo ms conocido es el cuarzo. Un cristal de cuarzo natural tiene una forma
determinada, siempre recurrente, que se describe con ayuda de los ejes cristalogrficos,
designados ejes X , Y y Z, igual que en un sistema de coordenadas cartesianas normales. (Fig.
23).
El efecto piezoelctrico slo se consigue en el cuarzo si la lmina de cuarzo ha sido cortada del
cristal, perpendicularmente al eje X o al eje Y. En el primer caso, la deformacin mecnica del
cristal tiene lugar en la misma direccin del campo elctrico; en el segundo caso
perpendicularmente a ella. Por esto se habla de cuarzos, u oscilaciones, de corte X y de corte Y.
Los cuarzos de corte X generan ondas longitudinales; los de corte Y, ondas transversales (Fig.
24). En la mayora de los casos entra en consideracin el corte X.
Adems del cuarzo, la turmalina como mineral natural, presenta tambin el efecto piezoelctrico.
Una significacin mucho mayor han alcanzado los transductores cermicos sinterizadas que
adquieren el efecto piezoelctrico por "polarizacin", esto es un enfriamiento desde una alta
temperatura caracterstica del material con exposicin a altos voltajes elctricos. El efecto
piezoelctrico puede, sin embargo, perderse por despolarizacin cuando se excede la
temperatura de Curie.
Los cermicos sinterizados ms importantes son el titanato de bario, el sulfato de litio, el zirconato
de plomo-titanio (PZT) y el metanobiato de plomo.

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22


Fig. 23. a) Sistema simplificado de coordenadas en un cristal de cuarzo; posiciones de cortes X e
Y. b) efecto piezoelctrico del cuarzo.


Fig. 24: Efecto piezoelctrico del cuarzo (corte Y)

2- Principios bsicos de los instrumentos


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23
2.131. Caractersticas de algunos materiales piezoelctricos.

Cuarzo: fue el primer material usado. Tiene caractersticas muy estables en frecuencia, sin
embargo es muy pobre como generador de energa acstica y es comnmente reemplazado por
materiales muy eficientes.
Sulfato de litio: es muy eficiente como receptor de energa acutica, pero es muy frgil, soluble
en agua y su uso esta limitado a temperaturas por debajo de los 75 C.
Cermicas sinterizadas: producen los generadores ms eficientes de energa acstica, pero
tienen tendencia al desgaste.

2.2. PROCEDIMIENTO DE ENSAYO ULTRASONICO.
Segn se dijo en 1.42, una onda ultrasnica incidente: en parte se refracta y en parte se refleja si
existe una variacin de la resistencia a la onda sonora, como en el caso en que exista un defecto
dentro del material.
De ello se derivan dos procedimientos de ensayo, basados respectivamente, en la evolucin de la
parte transmitida de la onda o de la parte reflejada de la misma.

2.21. Procedimiento de transmisin
En este procedimiento se evala la parte del ultrasonido que ha sido transmitido a travs de la
pieza que se ensaya.
A un lado de la pieza se aplica un emisor de sonido y al otro lado, un receptor.
En presencia de un defecto, la intensidad sonora en el receptor disminuye a causa de la reflexin
parcial o se hace nula en caso de reflexin total (Fig. 25). Lo mismo da que se emplee sonido
continuo o impulsos de sonido para el ensayo, pues el emisor y el receptor elctricamente estn
separados entre s.
En este ensayo no se puede determinar la profundidad a la que est localizado el defecto de la
pieza.
Existen dos zonas de transmisin en el recorrido del sonido
Dado que se utilizan dos palpadores, existen dos zonas de transmisin en el recorrido del sonido
("acoplamiento") que influyen sobre la intensidad de sonido en el receptor ( la zona de transicin
del emisor a la pieza objeto y la de la pieza en el receptor).
As mismo es necesario una exacta alineacin geomtrica entre el emisor y el receptor.


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24

Fig. 25: Mtodo por transmisin (esquema)

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25
2.22. Procedimiento de pulso-eco
Este procedimiento que se designa tambin como procedimiento de pulsos o impulsos reflejados,
utiliza la porcin reflejada del sonido para la evaluacin de defectos. El oscilador piezoelctrico
funciona a la vez como emisor y como receptor. Como la energa recibida es mucho ms dbil
que la emitida, aqu no puede operarse sobre la base sonido continuo , emplendose
exclusivamente impulsos de sonido. Un impulso elctrico de cortsima duracin genera una
anloga onda ultrasnica; inmediatamente despus, mientras an se est propagando la onda, el
mismo oscilador esta listo para la recepcin. La onda sonora penetra en el material, hasta que,
como resultado de una superficie lmite, tiene lugar una reflexin parcial o total.
Si la superficie reflectante se encuentra perpendicularmente a la direccin de propagacin de la
onda sonora, sta es reflejada en su primitiva direccin y al cabo de un tiempo determinado, que
depende de la velocidad del sonido en el material objeto de ensayo y de la distancia que existe
entre el oscilador y la superficie reflectante, llega de vuelta al oscilador, siendo reconvertida en un
impulso elctrico.
Ahora bien, no toda la energa que regresa es reconvertida en energa elctrica, sino que en la
interfaz entre el palpador y la superficie de la pieza tiene lugar de nuevo una reflexin parcial ; una
parte menor del sonido atraviesa por segunda vez a pieza, y as sucesivamente. De este modo se
origina una sucesin de ecos (Fig. 26).


Fig. 26: Formacin de ecos mltiples (esquema)

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26
Debe tenerse presente adems que no solamente el lado posterior, sino cualquier otro reflector
(defecto) determina ecos mltiples (Fig. 27).
Puesto que se puede medir el tiempo de recorrido y se conoce la velocidad del sonido de la
mayor parte de los materiales, este mtodo permite establecer la distancia existente entre el
oscilador y la superficie refractante, o dicho de otro modo, determinar la posicin del reflector (Fig.
28) . Por esto es que se emplea este procedimiento en la mayora de los casos. Agregase a ello
que no hay ms que una sola superficie de acoplamiento ( que es atravesada en el viaje de ida y
de vuelta) entre el oscilador y la pieza, por lo que resulta mucho ms sencillo mantener constante
el acoplamiento.


Fig. 27: Ecos mltiples causado por el eco de fondo y un defecto (esquema)

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27
2.23. Otros procedimientos de ensayo

Mencionaremos aqu para redondear el cuadro, pero sin entrar en detalles, otros dos
procedimientos de ensayo que no se pueden realizar con los equipos ordinarios de impulsos-
ecos; el procedimiento de resonancia y el de modulacin de frecuencias.

Fig. 28: Mtodo de pulso- eco (esquema)

2- Principios bsicos de los instrumentos


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28
2.3. PALPADORES

2.31 Propiedades
Todos los palpadores utilizados en el ensayo de ultrasonido, no destructivo de materiales, operan
sobre la base del efecto piezoelctrico.
El transductor, muchas veces designado genricamente pero equivocadamente como cuarzo-
recibe un corto impulso elctrico.
La oscilacin del cristal decae lentamente en su propia frecuencia de resonancia como ocurre en
el caso de una campana taida brevemente (Fig.29). Esta frecuencia propia surge para la
oscilacin fundamental, de la ecuacin :



0
f
=
d
C
2
(12)



donde c : frecuencia natura
f
0
: velocidad del sonido en el material del transductor
d :espesor del cristal.

Fig. 29: Arriba: Vibracin de un cristal dbilmente atenuado y de otro fuertemente atenuado
Abajo: La misma seal sobre la pantalla del TRC despus de rectificada y filtrada.

Ahora bien, como en el procedimiento de impulso-eco, el cristal, eventualmente debe, tras un
intervalo extremadamente corto, funcionar otra vez como receptor, es preciso obtener en el menor
tiempo posible la atenuacin de la oscilaciones inductivas. Pero esta atenuacin no deber ser
demasiado fuerte tal que reduzca pronunciadamente la sensibilidad del palpado.
Desafortunadamente el requisito de alta sensibilidad de respuesta y, al mismo tiempo, pulsos
estrechos dando alta resolucin se oponen mutuamente.
El trmino resolucin designa la capacidad de respuesta del palpador, para dar indicaciones
separadas de dos discontinuidades muy prximos entre s, en forma claramente separados en la
pantalla del osciloscopio. Adems esto se distingue entre resolucin prxima y resolucin lejana.
Estas expresiones se
refieren a la distancia desde el transmisor de pulsos (oscilador) y pueden ser diferentes.

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29

Con un oscilador dbilmente atenuado se obtiene una alta
potencia y sensibilidad pero, a causa de lo ancho de los
impulsos un menor grado de resolucin.



Con un oscilador fuertemente atenundose obtiene una
alta resolucin (pulsos angostos) y potencia y sensibilidad
decreciente


El poder de resolucin tambin depende del material del transductor. Los esfuerzos de los
constructores de los palpadores tienden hacia un compromiso lo ms ventajoso entre otros
factores condicionantes. En parte hay palpadores construidos especialmente o para alta potencia
o para alta resolucin .
Para transmitir una cantidad suficiente de energa sonora a la pieza que se ensaya, es necesario
que el transductor genere unas pocas vibraciones de alta frecuencia. Sin embargo, oscilaciones
de bajas frecuencias insumen ms tiempo que aquellos palpadores de alta frecuencia ( por Ej. , a
1 MHz, un micro-segundo ;a 10 MHz , 0,1 micro-segundo ) .

2.32. Campo snico
El rea influenciada por las vibraciones transmitidas por el palpador se conoce como campo
snico. Este es muy importante para la evaluacin del tamao de defectos ; por ello, es necesario
explicar brevemente algunos trminos especiales que conciernen al campo snico y
comportamiento de la presin acstica en l. Cumpliendo con los principios fsicos, el cristal
transmite las ondas ultrasnicas nicamente en sentido perpendicular a las superficies a las que
se aplican cargas elctricas; esto ocurre, aproximadamente, en forma de un haz de rayos
paralelos, con una seccin transversal correspondiente al
dimetro del transductor para la primera parte de la propagacin.
A una cierta distancia del oscilador, el haz se abre en forma de cono. Esta caracterstica se
muestra en la figura 30.

Fig. 30: Campo ultrasnico de un transductor.




El rea de rayos ultrasnicos paralelos se llama
campo cercano.
El rea de rayos que se abren cnicamente se
llama campo lejano
2- Principios bsicos de los instrumentos


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30
La distancia a la cual el campo cercano pasa
sobre el campo lejano es llamada "rango del
campo cercano" o "longitud del campo cercano".
Esto depende del dimetro del cristal y de la
longitud de onda en el material de la pieza de
trabajo y puede ser calculado como sigue:

c
f D
D
l
o

4
4
2 2

(13)

El significado de los smbolos en la frmula son: I
0
: longitud del campo cercano; D: dimetro del
cristal (dimetro efectivo, normalmente un pequeo porcentaje menos que el real); : longitud de
onda; f: frecuencia; c: velocidad del sonido.
Como la longitud del campo cercano puede ser determinado experimentalmente, las restantes
magnitudes son derivadas de esto. De esta forma, el dimetro efectivo del cristal se calcula como:




La presin snica en el campo cercano, y por consiguiente ,la altura del eco causado por un
defecto en esta zona, depende mucho de la ubicacin del mismo dentro del haz. Las razones de
este fenmeno son las interferencias en el campo cercano. La estimacin del tamao del defecto
es prcticamente imposible si ste se encuentra en esa zona (Fig. 31).

Fig. 31.


0
l D (14)

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31
En el campo lejano el haz ultrasnico se abre cnicamente. En todo momento, la presin snica
mxima se encuentra en el eje del sistema sobre el eje del transductor, y decrece
proporcionalmente con la distancia desde el cristal. (Fig.30).
Desvindose desde el eje hacia los laterales, hay tambin una disminucin de la presin snica.
Esta se considera como 100% sobre el eje de simetra, disminuyendo a medida que nos
desviamos hacia los lados. Si marcramos todos los puntos, en cualquier direccin y a cualquier
distancia del cristal, en los cuales la presin snica alcance el 10 % del valor en el eje, se
obtendra el rea superficial de un cono. El ngulo de apertura de este cono se llama "ngulo de
divergencia del haz".
El clculo del mismo puede hacerse como sigue:

D
sen


08 , 1 10
(15)


0
10 54 , 0
I
sen

(16)

Estas frmulas son vlidas para transductores circulares. Para aquellos que sean rectangulares
las relaciones son algo ms complicadas: en estos la longitud del campo cercano se calcula como
sigue:

( )
,
_

b
a
b a l
2
1 *
1
2 2
0

(17)

donde a : lado mas corto del rectngulo.
b : lado ms largo del rectngulo
: longitud de onda.
La seccin transversal del campo ultrasnico ya no es circular; el ngulo mayor del haz lo causa
el lado ms corto del rectngulo, y viceversa ( Fig.32) . Aqu tambin luego de haber determinado
empricamente la longitud del campo cercano, se puede calcular el dimetro efectivo sustituto del
transductor.

Fig. 32: Haz ultrasnico de un transductor rectangular (esquema)

2.33. Descripcin de palpadores ultrasnicos

2.331. De incidencia normal
2- Principios bsicos de los instrumentos


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32
Para un haz de incidencia normal,( la transmisin del sonido es perpendicular a la superficie de la
pieza) son vlidas las leyes del captulo 1.421.

2.332. El palpador normal
El nombre de "Palpador normal", deriva de la direccin en que las ondas ultrasnicas viajan en la
pieza ( la direccin perpendicular a la superficie de un objeto se conoce como la direccin
"normal" ).
El cristal del transductor tiene metalizadas las caras para poder aplicarle pulsos elctricos. Una de
esas caras se pega al cuerpo amortiguador, la otra puede bien ser acoplada directamente a la
pieza a ensayar (cristal sin proteccin), o estar cubierta con una capa de material plstico o
cermico.
Las caractersticas del tamao del palpador dependen de las propiedades de amortiguamiento o
cuerpo de atenuacin. Los alambres de conexin, soldados a las caras plateadas del cristal,
suben pasando junto al cuerpo amortiguador hacia una pequea bobina que realiza la adaptacin
elctrica entre el oscilador y el emisor de impulsos. Dos alambres adicionales van a la ficha en
que se inserta el cable.
Los palpadores para la tcnica por inmersin tienen en lugar de ficha, un enchufe directo,
fijamente fundido, para el cable.
La unidad compuesta por el oscilador, el cuerpo amortiguador y la bobina es tambin llamada
"Inserto" o "Nob", y va alojada en una carcaza metlica puesta a tierra (Fig.33).


Fig. 33: Palpador normal con suela protectora (esquema)

2.3312. Palpadores de doble cristal
Los palpadores de doble cristal combinan dos sistemas de palpadores completos, en una sola
carcaza. Una barrera acstica entre los dos sistemas evita la transmisin de uno a otro dentro del
palpador, mientras que uno acta como emisor, y el otro como receptor.
Por esto, el sistema se puede asumir como una combinacin del mtodo de transmisin y
reflexin. Entre los cristales y la superficie de la pieza que se ensaya hay lo que se llaman "lneas
de retardo" construidos de plstico (plexigls) o, para superficies calientes, de material cermico
resistente al calor, lo que hace que el pulso transmisor no coincida con el punto cero de la
pantalla, correspondiendo a la superficie de la pieza como se conoce con el uso de palpador
normal.
El pulso transmisor aparece a la izquierda del punto cero y, cuando se lleva a cabo la calibracin,
esta seal queda afuera del campo de observacin. La propagacin ultrasnica como muestra la
figura 34 explica el principio:
2- Principios bsicos de los instrumentos


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33

Fig.34: Palpador con doble cristal (esquema)

La onda ultrasnica generada por el transmisor T primero atraviesa el bloque plstico y llega a la
superficie lmite entre ste y la pieza, donde una parte del haz es reflejado hacia el cristal
transmisor. Como ste no esta conectado con la seccin receptora del equipo, la onda sonora
reflejada no es indicada ( esto sucedera si el palpador fuera normal). La otra parte de la onda que
fue transmitida dentro de la pieza que se ensaya, viaja hasta la superficie trasera donde se refleja
y vuelve a la superficie donde , nuevamente una parte es transmitida hacia el bloque plstico del
receptor y llegando al transductor R, causa en l el primer eco de fondo. Una parte de la onda ha
sido reflejada en la superficie forzndola a recorrer la pieza por segunda vez antes de entrar en el
bloque plstico y generar as el segundo eco de fondo. El mismo fenmeno sucede varias veces,
lo que causa un tercer, cuarto, etc. ecos de fondo.
Calculando desde el comienzo del pulso de emisin, los ecos recibidos aparecern despus de
haber recorrido las siguientes distancias: 2s + 2d; 2s + 4d; 2s + 6d; 2s + 8d; etc. Los intervalos de
los ecos mltiples sucesivos corresponden al espesor de la pieza, mientras que la distancia entre
el pulso emisin y el primer eco de fondo es mayor en 2s correspondiendo al espesor del
recorrido de retardo ( bloque plstico).
Como, sin embargo, la pantalla del TRC no indica la distancia real sino el tiempo de recorrido
correspondiente, es necesario convertir la distancia en tiempo de acuerdo a la frmula:


(18)


donde c : velocidad del sonido; a: longitud de onda; t: tiempo de recorrido.
Por esto, las verdaderas distancias sobre la pantalla son las siguientes:

2s + 2d ; 2s + 4d ; 2s + 6d
cs cd cs cd cs cd

donde s: espesor de la lnea de retardo; d: espesor de la pieza de ensayo; cs: velocidad de
retardo de la lnea de retardo; cd: velocidad del sonido en el material de la pieza.
De una consideracin ms detenida surge que debe, adems, tenerse en cuenta que las partes
de la onda snica que llegan al oscilador emisor tanto como las que llegan al oscilador receptor,
son reflejadas nuevamente, y, en el caso del cristal transmisor, penetran en la pieza con un
retraso de tiempo de2s/cs, y son tambin recibidas con ese retraso.
En el caso del receptor las ondas pueden ser reflejadas en la superficie lmite entre el bloque de
retardo y la superficie de la pieza, y tambin recibido nuevamente despus del mismo retraso de
tiempo. Principalmente lo mismo es vlido para los correspondientes ecos mltiples. Adems
debera ser considerado que en realidad las distancias s y d no son las transversales del bloque
c
a
t
t
a
c ;
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34
de plstico y de la pieza, sino levemente mas largas que estas debido a los ngulos algo oblicuos
del camino snico. Estas diferencias deben ser consideradas para la medicin exacta, por
ejemplo la medicin de espesores de pared.


Fig. 35: Ecos mltiples de un palpador de doble cristal

La eleccin correcta del material del trayecto previo hace posible la atenuacin de esas
indicaciones de reflexiones de ecos no buscadas de tal forma que no interfieran sobre la pantalla;
sin embargo, puede aparecer, cerca del punto cero (superficie de la pieza) y, a la distancia 2s
desde el eco de emisin (Fig. 35), un pequeo "eco de interferencia" causado por una deficiente
barrera acstica entre el transmisor y el
receptor, que se origina a travs del acoplante. Este eco puede ser suprimido , en muchos casos,
por un adecuado ajuste del equipo.
Cuando los dos transductores del palpador de doble cristal son levemente inclinados uno sobre el
otro (Fig. 36), la trayectoria de los haces ultrasnicos se solapan dentro de la pieza de ensayo. El
palpador de doble cristal tiene la ms alta sensibilidad en el punto de interseccin de los ejes de
los
haces (Fig. 37). Se produce una zona muerta debido al espesor finito de la barrera acstica entre
el transmisor y el receptor.
Las ventajas que ofrecen los palpadores de doble cristal son que
prcticamente eliminan la zona muerta.
Se pueden utilizar cristales ms adecuados para las funciones a cumplir. Por ejemplo se puede
usar titanato de bario como emisor y sulfato de litio como receptor.

Fig. 36: Propagacin ultrasnica de un palpador de doble cristal con ngulo grande y uno
pequeo
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35

Fig. 37: Influencia de los ngulos sobre la sensibilidad en palpadores de doble cristal (esquema)

Los palpadores de doble cristal tienen, debido a su estructura general y a la presencia de los
trayectos de retardo, tericamente una ms baja sensibilidad que los palpadores normales, pero
una resolucin a corta distancia incomparablemente mejor debido a que no aparece el eco de
emisin sobre la pantalla, en un equipo ajustado correctamente.
De esta forma , es posible detectar posibles defectos a pocos milmetros por debajo de la
superficie. Otro campo de aplicacin de estos palpadores es la medicin de espesores.
Se debe sealar que defectos con direccionalidad preferencial, por ejemplo finas lneas de
inclusiones en productos laminados semi-terminados, mostrarn diferentes grados de reflexin
dependiendo de la posicin de la barrera acstica con respecto a la direccin del defecto .
Comnmente, los mejores resultados se obtienen cuando ambas direcciones son paralelas.

2.3313. Palpadores normales de ondas transversales (corte - Y)
La construccin de estos palpadores es igual a la de los palpadores normales de ondas
longitudinales. Solamente, el transductor en s mismo, tiene una orientacin cristalogrfica
diferente y, por ello, genera vibraciones cortantes (ondas cortantes) (Fig. 24).El procedimiento de
transmisin de ondas de corte desde el transductor al interior de la pieza es un problema difcil
debido a que el lquido acoplante no se puede
usar porque stos son incapaces de transmitir ondas de corte (ver captulo 1.41). El acople
puede llevarse a cabo utilizando acoplantes rgidos (por ejemplo componentes de resinas epoxi),
por presin firme del palpador sobre la superficie usando una goma protectora o lamina plstica
debajo del cristal, o por acople del transductor sobre la pieza con el agregado de cera de abejas.
Por estas razones, los palpadores con cristales con corte Y son casi exclusivamente usados en
laboratorios de ensayos, por ejemplo para la determinacin de constantes elsticas de los
materiales.

2.332. Incidencia oblicua del ultrasonido.
Ya se explic en el captulo 1.422, que una onda que incide oblicuamente es capaz de generar
cuatro nuevas ondas con diferentes direcciones y velocidades las cuales pueden ser calculadas
con la ley de refraccin (IX).

2.3321. Palpador angular
El palpador angular consiste esencialmente de un cristal cementado a una cua de plexigls. De
esta forma se consigue una incidencia oblicua sobre la superficie de la pieza.
Los haces reflejados vuelven a la cua plstica y, o son absorbidos por un atenuador
convirtindose en calor, o se evita el retorno al transductor con una adecuada forma de la cua
para evitar causar indicaciones de ecos perturbadores. Dentro de la pieza se propagarn la onda
longitudinal refractada y, adicionalmente, la nueva onda transversal generada. De acuerdo con la
ley de refraccin (IX) estos dos tipos de ondas tendrn tambin, debido a sus diferentes
velocidades, diferentes direcciones.
2- Principios bsicos de los instrumentos


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36

Fig. 38: Palpador angular (esquema)

No puede determinarse en la pantalla del equipo si un eco tiene origen en una onda transversal o
una longitudinal. Por ello una indicacin sobre la pantalla puede tener distintas orgenes debido a
los distintos ngulos y velocidades de los tipos de ondas, y, no sera posible la localizacin segura
de un defecto detectado.
Una solucin a este problema est dado por el hecho de que la onda longitudinal tiene, debido a
su mayor velocidad, un ngulo de refraccin mayor al de la onda transversal (Fig. 39 a).
Incrementando gradualmente el ngulo de incidencia, se llegar a un punto en el cual la onda
longitudinal no penetrar el medio sino que se propagar a lo largo de la superficie, mientras que
la transversal permanecer an en la pieza de ensayo (Fig. 3 b).
En este punto, el ngulo entre la direccin de la onda transversal y la perpendicular a la superficie
ser de 33,2 en el acero. Un incremento adicional del ngulo de incidencia eliminar la onda
longitudinal ( no existe sen l > 1), por lo que puede ser calculado. Ahora la nica onda que
existe en el medio es la transversal (Fig. 39 c). S se contina incrementando el ngulo de
incidencia, tambin la onda transversal se propagar a travs de la superficie del medio (onda
superficial, Fig., 39 d).



Fig. 39: direccin de propagacin de onda como funcin del ngulo de incidencia.

Los palpadores angulares comerciales utilizan slo el rango donde existe onda transversal
,exclusivamente, en el medio de ensayo, el cual es normalmente acero. La onda ultrasnica real
es emitida hacia el medio en la forma de un haz de rayos donde, la lnea geomtrica que se ha
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considerado hasta ahora, corresponde al eje de este haz. Las mismas relaciones que fueron
consideradas con palpadores normales como campo cercano, campo lejano y ngulo de
divergencia , son vlidas para los palpadores angulares. El eje del haz donde existe la mxima
presin snica se marca en el lateral de los palpadores angulares como "punto de emisin" y sirve
como punto de referencia para clculos y medidas.
Adems de los datos relativos a ngulo y punto de emisin y su lnea de unin, respectivamente,
la llamada "lnea de emisin", los palpadores angulares indican adicionalmente con una cifra, que
siempre es la misma para un ngulo particular y representa el valor 2 * tg l. Esto es necesario
en clculos que sern descriptos ms adelante.
Cuando se usen palpadores angulares, debern tenerse en cuenta los siguientes hechos
fundamentales:
El ngulo marcado y de all tambin el factor 2 * tg l son slo vlidos para materiales con una
velocidad snica de las ondas transversales de 3.230 m/s. Estos valores no pueden ser usados
para materiales con velocidades de ondas de corte diferentes pero pueden ser calculadas por
medio de la ley de refraccin.
b)La indicacin en la pantalla del TRC es segura slo cuando el ngulo t es mayor que 33,2 ,
debido a que la onda longitudinal ser eliminada solamente con ngulos mayores que este.
Tambin esto es slo vlido para acero, por lo que para otros materiales con diferentes
relaciones entre las velocidades de la onda longitudinal y la transversal se debern chequear por
medio de la ley de refraccin. En la prctica son comnmente usados los ngulos de 35 , 45 ,
60 , 70 , 80 y 90 (palpador de onda superficial). ngulos menores a 35 son ,debido a la
ambigedad de las indicaciones, slo usados en la solucin de problemas especiales.
La indicacin en la pantalla del TRC ser bien definida solamente en presencia de un solo tipo de
onda la cual es siempre, de acuerdo con la ley de refraccin, la mas lenta (onda transversal). Es
imposible el caso inverso (onda longitudinal ms lenta que la transversal).
d) Los palpadores angulares emiten ondas longitudinales. Las ondas transversales, son
consecuencia de la refraccin que se produce en la superficie lmite entre la cua de plexigls del
palpador y la pieza de trabajo.
De la misma forma que los palpadores normales, los angulares tienen una carcaza puesta a tierra
y una bobina de adaptacin, en cambio, muchas veces, no poseen un cuerpo de amortiguacin
debido a que la cua de plexigls, cementada al cristal, tiene una atenuacin suficientemente alta.
El cuerpo amortiguador ilustrado en la Fig. 38 sirve para atenuar las partes de ondas reflejadas en
la superficie lmite.
Un parmetro importante para la aplicacin de palpadores angulares es el llamado "distancia de
paso" o simplemente "paso1".
Cuando un palpador angular se acopla a una chapa de espesor "d", la onda ultrasnica ser
reflejada totalmente en la superficie inferior de la chapa y regresar a la superficie superior a una
cierta distancia. A la distancia entre el punto de emisin de haz en el palpador y el punto recin
descrito se lo llama paso. Esto se muestra en la Fig. 40a y se puede calcular por medio de la
frmula :

p
s
= 2 * tg
t
* d (19)

Donde: p
s
: paso ; :ngulo del haz snico ; d : espesor de chapa.
Para simplificar el clculo del paso, el factor 2 * tg
t
muchas veces es grabado sobre la carcaza
del palpador. El borde de la pieza dar indicaciones con altura mxima cuando la distancia, entre
el borde y el punto de emisin del haz, es un mltiplo entero del medio paso (p/2).
Esto sucede alternativamente (Fig. 40b) en el borde superior e inferior de la chapa. La Fig. 40c
muestra el principio de reflexin en un borde .
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Fig. 40 a: Definicin de paso
b: Ecos obtenidos alternativamente del borde inferior y superior
c: Reflexin alrededor de un borde.

Si antes de la reflexin en la cara opuesta de la pieza de ensayo la onda ultrasnica alcanza
directamente a un defecto , la llamada "distancia proyectada" (p) se define como sigue (Fig.41):

p = s * sen
t
(20)

Donde "s" es la distancia (en la direccin del haz) entre la superficie y el reflector p la distancia
proyectada sobre la horizontal desde el punto de emisin del palpador al defecto.

Fig. 41: Definicin de distancia proyectada

t
0
= s . cos
t
(cuando la discontinuidad est antes del medio paso)

t
1
= 2 . d s . cos
t
(cuando la discontinuidad est ms all del medio paso)

Estas relaciones son muy importantes para la localizacin de defectos en una pieza. Algunas
veces es ms fcil, para el operador, medir la distancia desde el frente del palpador en lugar de
hacerlo desde el punto de salida del haz. En esos casos uno esta hablando de la "distancia
proyectada acortada".
Las relaciones que se han dado ms arriba solamente son vlidas cuando el ensayo se realiza
sobre superficies planas. Si el ensayo se debiera realizar sobre un objeto curvo, el paso
depender, adicionalmente, del radio de curvatura(R) (Fig. 42).
La frmula para su clculo es la siguiente:

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cos ) 1 ( 1
)
2
1 (

R
d
sen
R
tg
t
(21)


donde "" es el ngulo en el centro de curvatura correspondiente al paso.

Como esta ecuacin no puede ser resuelta para "", el clculo se lleva a cabo para un arreglo
plano y la curvatura ser tenida en cuenta por el factor de correccin k como se muestra a
continuacin:
k d tg p
t s
2 (22)

El factor de correccin k depende de la relacin entre el espesor de pared d y el dimetro D o del
radio R y su valor se puede sacar de la figura 43.

Fig. 42. Distancia de en una superficie curva con reflexin causada por la superficie interna.
Superficie plana para comparacin.


Fig. 43. Factor de correccin k como una funcin de la relacin del espesor de pared d al
dimetro D al radio de curvatura R

El paso puede ser ms fcilmente determinado cuando no hay reflexin en la superficie interna o
cuando el material es slido (Fig. 44).
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Fig. 44: Distancia de paso sobre un objeto curvo sin reflexin interna.

Las siguientes frmulas son vlidas para estos casos:

) 24 (
90
90
) 23 )( 90 ( 2
t
t
r p





Adems, se puede deducir de la geometra de la propagacin de un haz ultrasnico en un objeto
curvado, cuando la parte central de la pieza no puede ser alcanzada ni an usando el palpador de
menor ngulo ( 35 ) que se usa comnmente, la siguiente relacin:
Ver la trayectoria del sonido en la Fig. 45

) (25 1
t
sen
R
d


o relacionndolo con el dimetro D = 2R

) (26
2
1
t
sen
D
d


Para un ngulo de 35 el valor de d/D =0,21

Esto significa que, en ensayo de tubos, estos pueden ser inspeccionados completamente siempre
que la relacin de espesor de pared a dimetro exterior sea "menor o igual a 0,2 ".

Fig. 45: Espesor de pared mximo d alcanzado con el ngulo
t

2.3322. Palpadores para ensayo de tubos
El palpador para ensayo de tubos no es otra cosa que un arreglo de dos palpadores angulares, en
paralelo, transmitiendo en direcciones opuestas (a las agujas del reloj y en direccin contraria a
las agujas del reloj). Sirve para detectar fisuras internas y externas en tubos. Cada transductor en
este par de palpadores angulares, recibe el pulso transmitido por el otro como un eco de
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referencia. Un defecto radial ser indicado dos veces, como se puede ver en la figura 46. Esta
indicacin desaparecer cuando se halle diametralmente opuesto al palpador. Un defecto
aparecer solamente una vez , ya sea a la derecha o a la izquierda del eco de referencia, segn
el palpador que lo indique. Hoy en da, este principio de transmisin de dos haces opuestos en
una barra o tubo, es aplicado casi exclusivamente en plantas de ensayos automatizados.


1) Eco de emisin
2) Eco del defecto indicado por el palpador A
3) Eco de referencia.
4) Eco del defecto indicado por el palpador B


X: Localizacin aparente del eco de referencia
Fig. 46: Propagacin ultrasnica y pantalla del TRC. del ensayo de un tubo con dos palpadores.

2.3323. Palpadores de ondas Lamb
Cuando una onda ultrasnica incide oblicuamente en una chapa metlica puede, puede originar
en ciertas condiciones (condiciones de excitacin), ondas Lamb o tambin llamadas ondas de
chapa. Esto significa que la chapa vibrar en forma similar a la resonancia. La onda Lamb se
puede dar como una onda de dilatacin o como una onda de flexin (ver Fig. 13). La generacin
de estas ondas depende , entre otros factores, de la frecuencia, el ngulo de incidencia, de la
velocidad del sonido, y del espesor del material. En la prctica, la generacin se puede llevar a
cabo variando continuamente el ngulo de incidencia hasta que, con ciertos ngulos, se
producirn las ondas. De all que, el espesor del material deber ser del orden de la longitud de
onda. En este principio se basan los palpadores de ondas de Lamb, los que por lo tanto no son
otra cosa que palpadores angulares con ngulos con variacin continua. En la Fig. 47 se muestra
una de las ms comunes construcciones entre muchas otras.
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Fig. 47: Palpadores con ngulos variables (Palpadores de ondas Lamb). Esquema.

La capacidad de indicacin de los palpadores de ondas de Lamb radica en que estas ondas son
reflejadas sobre s mismas cuando ya no son dadas las condiciones de excitacin, por ejemplo,
cuando el espesor de la chapa vara por defectos de laminacin (exfoliaciones). Esto es tambin
la razn para la alta sensibilidad de los ensayos con estas ondas.
De otra manera la sensibilidad de las indicaciones tambin dependen del tipo y orientacin del
defecto con respecto al tipo de onda Lamb ; as, por ejemplo, las laminaciones son generalmente
indicadas mucho mejor por una onda de flexin que por una de dilatacin, cuando aquellas estn
situada en la fibra neutra de la pieza la que no est en movimiento en el caso de la onda de
dilatacin.
El principal rango de aplicacin de los palpadores de ondas Lamb est en la deteccin de
laminaciones e inhomogeneidades en hojas y placas metlicas que no permitan un ensayo con
palpadores normales o de doble cristal debido a sus pequeos espesores, o cuando es necesaria
una inspeccin completa en el total del volumen. Comnmente se ensayan espesores de pared
hasta 6 mm con estos tipos de ondas. El lmite superior para el su uso esta entre 12 a 16 mm de
espesores de pared y depende adems de las propiedades del material y de la frecuencia usada.
Las ondas Lamb frecuentemente muestran una forma caracterstica como la indicada en la Fig.
48, lo que facilita su reconocimiento.


Fig. 48: eco tpico de una onda Lamb.

2.324. Palpador de ondas superficiales
El palpador de ondas superficiales es un palpador con un ngulo de penetracin de 90 entre el
eje del haz y la direccin perpendicular (Fig. 38 d). Aqu no se puede definir el punto de emisin
del haz sobre el palpador.
Los ensayos ultrasnicos con ondas superficiales son poco frecuentes en comparacin con otros
tipos de ondas. El rango de aplicacin es limitado, a pesar de la alta sensibilidad que muestran
estas ondas en superficies laminadas, de algunas clases: la principal aplicacin es la deteccin de
finsimas fisuras e inhomogeneidades en superficies rectificadas o pulidas. Como las ondas
superficiales penetran solamente a una profundidad de la mitad de la longitud de onda (ver Fig.
14), fisuras a mayor profundidad no sern detectadas. De otra manera, las ondas superficiales
son capaces de seguir superficies curvas si el radio de curvatura es suficientemente grande con
respecto a la longitud de onda.
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Se puede verificar muy fcilmente si una indicacin ha sido causada por una onda superficial :
tocando la
superficie de la pieza con un dedo aceitado entre el palpador y la localizacin del defecto har
que la amplitud del eco disminuya (debido a la atenuacin), no as si la responsable de la
indicacin es otro tipo de onda (algunas ondas Lamb tambin pueden mostrar este
comportamiento).

2.4. EQUIPOS DE ENSAYO ULTRASONICO

2.41. Instrumental bsico
El principio de operacin de un equipo de ensayo ultrasnico se ilustra en la Fig. 49.

Fig.49: Esquema de un equipo de U.S.

Un generador de pulsos induce al transmisor de pulsos el cual excita al cristal del transductor.
Este corto pulso elctrico normalmente tiene un voltaje pico de algunos cientos de volts, en
algunos viejos transmisores de tubos, por encima de los cinco kilovolt. Estos altos voltajes son,
sin embargo, completamente inocuos debido a su extremadamente corta duracin. El mismo
generador de pulsos tambin activa (dispara) la base de tiempos (generador de barrido) horizontal
en el osciloscopio de rayos catdicos (TRC) por medio de un circuito de tiempo de retardo.
La deflexin vertical en las placas del TRC se alimentan con un amplificador y un rectificador de
pulsos (ecos) recibidos desde la pieza.
La longitud de medicin (rango) que se observa en la pantalla se puede variar alterando la
velocidad de la base de tiempo.
Se produce una deflexin vertical cada vez que el transductor est \1sujeto a una tensin elctrica
(pulso transmitido o recibido). Cuando se opera por el mtodo de transmisin o con palpadores de
doble cristal, el transmisor de salida esta separado del receptor (entrada) por medio de un
interruptor. En definitiva los transductores de transmisin y recepcin estn conectados
separadamente por cables y enchufes. Un circuito de proteccin, en el caso del mtodo de pulso-
eco, asegura que los altos voltajes en el transmisor no daen al receptor.
Hoy en da es habitual la construccin de modernos equipos ultrasnicos modulares; se construye
instrumental para ensayo manual para ser usados con unidades cada vez mas livianos,
compactos y pequeos. Junto con los sistemas modulares hay muchas otras posibilidades para la
combinacin; de esta forma, por ejemplo, varios tamaos de pantallas pueden ser combinadas
con distintos mtodos de deflexin, supresin del llamado "csped" , etc. Mdulos adicionales
auxiliares, tales como diferentes tipos de monitores, circuitos especiales equivalentes para operar
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con mltiples palpadores, decodificadores, interruptores electrnicos, transmisores y receptores
preamplificados se pueden integrar en este sistema.
De esta forma se puede elegir la ms econmica y efectiva combinacin para solucionar el
problema del cliente.
Seguidamente se describirn los controles ms importantes de los equipos ultrasnicos para
operar con el mtodo de pulso-eco o transmisin.

2.411. Intensidad de pulsos.
La intensidad del pulso elctrico para hacer vibrar el cristal del transductor se puede variar
continua o escalonadamente con este control. Se recomienda baja intensidad debido a que as se
obtiene una ptima resolucin (pulsos angostos). Se elegirn altas intensidades de pulsos cuando
exista altos niveles de ruidos elctricos ( para incrementar la relacin seal- ruido), o cuando el
material presente una marcada atenuacin de la onda causada por absorcin o dispersin. En
este caso la resolucin ser algo menor: con una alta intensidad le toma ms tiempo al cristal
atenuarse y los pulsos mostrados en la pantalla del TRC sern ms anchos que con baja
intensidad. Por lo expuesto se disminuir, en todo lo posible y segn el problema particular del
ensayo , para obtener la mejor resolucin.

2.412. Ganancia
Esta perilla de control varia la altura de los ecos de manera que permite mantener la relacin de
amplitud constante. La cantidad de ganancia se expresa en dB (decibeles), ver el punto 1.443.
Una variacin de ganancia de 6 dB significa una disminucin a la mitad o un aumento al doble
independientemente de la altura del eco real (Fig. 50).



Fig. 50:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
reduccin en la ganancia de 6 dB

2.413. Supresin

2.4131. Supresin no lineal
La supresin no lineal permite tambin una variacin de la amplitud de los ecos pero, en este
caso, la diferencia de amplitud ( y no la relacin de amplitud) permanece constante.
Accionando el regulador de supresin en sentido horario, reducir la altura de todos los ecos en la
misma cantidad expresada en porcentaje de la altura de la pantalla. La verdadera relacin de
alturas entre los ecos no se mostrar ms, pero muchos de los pequeos, indeseados, no
importantes y algunas indicaciones que confunden sern suprimidas facilitando la interpretacin,
particularmente en ensayos manuales.
Siempre que sea requerida una clasificacin de defectos por medio de una descripcin de la
amplitud de los ecos se deber, incondicionalmente, eliminarse la supresin no lineal o se llegar
a una interpretacin equivocada. Como muestra la Fig. 51, un eco justamente pasando el umbral
inicial causa una pequea deflexin, concordando con el eco de emisin en la lnea horizontal.

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Fig.51:Ecos mltiples. La figura de la derecha muestra la misma secuencia de ecos reducidos un
50% de la ATP. por supresin.

2.4132 Supresin lineal
Se puede lograr una supresin de las indicaciones pequeas, sin alterar la altura de los ecos, por
medio de la regulacin de umbral lineal ilustrada en la Fig. 52.



Fig.52:Ecos mltiples. La Fig. de la derecha muestra la misma secuencia de ecos con una
supresin lineal de aproximadamente 20% de la ATP.

El mtodo de supresin lineal se usa comnmente en plantas con ensayos automatizados y en
equipos de laboratorio. Los ecos con amplitudes que excedan al umbral se mantendrn sin
modificacin, mientras que aquellos que estn por debajo del mismo, no aparecern en la
pantalla. Como se ve, un eco que apenas alcance el umbral ser mostrado en toda su amplitud
original, este modo de supresin no es lo mejor en los ensayos manuales porque muestra al
operador, que observa la pantalla ,efectos ms confusos que la que muestra la supresin no
lineal. Sin embargo, la relacin real puede ser mostrada, solamente, por el supresor lineal.

2.414 Forma de los ecos
La envolvente de los ecos puede ser influenciada por la cantidad de filtrado. Este efecto se
muestra en la Fig. 53.


Fig.53: Ecos mltiples. Influencia de un filtrado dbil (izq.). y uno fuerte (der.).

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Normalmente se desea lograr una alta resolucin, por ejemplo, conseguir pulsos tan angostos
como sea posible.. Sin embargo, cuando se opera con grandes longitudes de medida (por
ejemplo en el rango de metros)las indicaciones en la pantalla del TRC se hace difcil de evaluar
dado que los ecos se vuelven demasiados finos. En tales casos se sacrifica una buena resolucin
en favor de un mejor reconocimiento por medio de un fuerte filtrado. As los ecos se vuelven ms
anchos , brillantes y suaves. Muchas veces la cantidad de filtrado es conectada junto con la
longitud de medida (rango).

2.415. Regulador de la longitud de medida. Rango
El comando para la regulacin de la longitud de medicin permite variar la escala de
presentacin, y as desplegar en el rea total de la pantalla, el rango de inters . La calibracin se
lleva a cabo teniendo en cuenta las siguientes condiciones:
a) Mtodo de pulso - eco , esto es el recorrido de ida y vuelta de la onda ultrasnica a travs del
material.

b) La calibracin es vlida solamente para una velocidad de onda definida, normalmente la
velocidad de la onda longitudinal en acero, esto es 5.920 m/s (ver DIN 54120).

c) La visualizacin a travs del total de la pantalla, esto es entre la lnea izquierda y derecha del
reticulado.

2.416. Regulador del punto cero y desplazamiento
El comando de regulador del cero permite un corrimiento hacia la izquierda de lo que se muestra
en el total de la pantalla sin cambiar la escala (rango). De esta forma, partes del camino snico
que no interese (por ejemplo el recorrido en el agua entre el palpador y la superficie de la pieza en
un ensayo por la tcnica de inmersin, que se refiere en la seccin 3.5) puede ser corrida hacia la
izquierda, fuera de la pantalla, y la parte de inters ser mostrada en el total de la pantalla,
logrando as un efecto de "lupa de profundidad" (Fig. 54).



1) Eco de emisin
2) Eco de la superficie de entrada
3) Eco del defecto
4) Primer eco de fondo
5) a 7) Segundo a cuarto eco de fondo

Fig. 54:Tcnica por inmersin de una pieza. Izq.:indicaciones incluyendo el paso en el agua y
ecos de fondo. Der.: desarrollo del rango de inters en la pantalla.

2.417. Regulador de la velocidad del sonido
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Este regulador no cambia, por supuesto, la velocidad del sonido en el material, por ser esta una
constante natural, pero permite al personal de ensayo adecuar el espesor de la pieza ledo en el
regulador de la longitud de medicin o rango, al espesor efectivo del material de diferente
velocidad de sonido. Para una recalibracin, se ajusta previamente el regulador de la longitud de
medicin o regulador de rango al espesor de la pieza y con ayuda de los reguladores de
desplazamiento y de velocidad de sonido, se ensancha la distancia entre dos ecos de fondo (el
primero y el segundo , por ejemplo) sobre la pantalla del osciloscopio. Esto no es difcil de realizar
ya que el regulador de velocidad de sonido tiene los mismos efectos que el de rango.

2.418. Lupa de profundidad
La lupa de profundidad, comnmente encontrada en los viejos equipos, permite ensanchar lo que
se observa en pantalla para clarificar los detalles (incrementa la precisin de lectura).
comnmente se ensancha dos a cinco veces el valor de la indicacin original. Los mismos efectos
pueden alcanzarse con el regulador de rango y el de cero, como se muestra en las secciones
2.415 y 2.416.

2.419. Control Distancia - Amplitud
En los ensayos ultrasnicos, la amplitud de un eco de una discontinuidad de cierto tamao,
decrece cuando el espesor se incrementa, la compensacin para esta "atenuacin" consiste en
un control electrnico que se agrega a muchas unidades ultrasnicas.
Algunos de los nombres ms comunes de este control son: Correccin de amplitud en distancia
(DAC), Ganancia variable (TCG) o Sensibilidad variable (STC).
Este control es muy utilizado cuando se lo complementa con un detector de alarma de fallas o con
un sistema de registro.

a)



b) c) d)
Fig. 55:Correccin DAC : a) probeta con reflectores artificiales de igual tamao. b) altura de los
ecos producidas por los reflectores c) curva DAC y activado el control DAC; d) dem c) pero sin la
curva DAC.

2.42. Monitores
Un monitor es un aditamento auxiliar destinado a automatizar parcial o totalmente un ensayo.
Asimismo constituye un auxiliar valioso en los ensayos manuales en serie, eliminando la
necesidad de que el operador observe constantemente la pantalla. As el operador podr atender
al correcto posicionamiento y acople del palpador. El rango de operacin del monitor est
pticamente indicado en la pantalla por una pequea deflexin hacia arriba o hacia abajo de la
lnea horizontal (Fig. 56). La posicin y el ancho de este, tambin llamado "diafragma", puede ser
ajustado por medio del regulador correspondiente.

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Fig.56:Diafragma del monitor

El monitor responder en cuanto un impulso ocurra dentro de este diafragma. Se distinguen
diferentes tipos de monitores segn las distintos modos de respuesta y seales de salidas.

2.421. Monitor de seales
El monitor de seales, tambin llamado monitor "blanco / negro" o "si/no" ,emite una seal tan
pronto como un pulso producido dentro del alcance del diafragma exceda o descienda por debajo
de un determinado nivel ajustable (umbral del monitor). Esta seal puede ser elctrica, ptica
(lmpara de sealizacin), o acstica (bocina o timbre). Cuando hay varios impulsos dentro del
alcance del diafragma, el mayor de ellos es el que determina la respuesta del monitor.

2.422. Monitor proporcional
El monitor proporcional puede entregar una tensin continua cuya magnitud es proporcional al
nivel (altura) de la seal que se encuentre dentro del alcance del diafragma. En caso de darse
varios impulsos, el mayor de ellos determina la magnitud de la tensin continua. Normalmente los
monitores proporcionales estn provistos de un instrumento calibrado en porcentaje de la altura
total de la pantalla del TRC.
Tambin existen monitores digitales de este tipo.

2.423. Monitor universal
El monitor universal es una combinacin de monitor de seales y monitor proporcional, con dos
salidas separadas (salida de seal y salida proporcional).

2.424. Monitor de tiempo de recorrido
Este monitor puede entregar una tensin continua proporcional al tiempo de recorrido de la onda
ultrasnica, esto es, proporcional a la distancia entre el pulso de referencia (pulso de emisin, eco
de la superficie) y el eco observado. En caso de darse varios impulsos dentro del alcance del
diafragma, el de menor tiempo de recorrido ( menor distancia desde el pulso de referencia)
determina la magnitud de la tensin continua.
Monitores digitales son comnmente usados para la medicin de espesores de paredes.

2.425 Monitor integrador
Este monitor permite el control de mltiples ecos o tambin llamados "ecos montaas". Es similar
al ya descrito monitor proporcional pero en ste el voltaje continuo de salida es proporcional al
rea de los ecos, esto es, al rea formada por todos los ecos y la lnea horizontal, que se
encuentran dentro del alcance del diafragma. De esta forma, el eco de mxima amplitud dentro
del diafragma no ser \1responsable del voltaje de salida.
La desaparicin o crecimiento de pequeos ecos junto al eco mximo tiene variaciones
constantes del rea y el monitor mostrar una variacin del valor indicado en oposicin al monitor
proporcional. La cantidad de rea integrada puede ser elegida en porcentaje por medio de un
regulador y es indicada por un medidor. Esta provisto tambin de una salida adicional que indica
cuando se excede o desciende por debajo del nivel ajustado.
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2.5. SISTEMAS DE REPRESENTACION
Hay tres tipos bsicos de representacin de pantallas de TRC para ensayos ultrasnicos:

2.51 Representacin "Tipo A" (o pantalla Tipo A)
Es el ms extendido y es el de representacin en un tubo de rayos catdicos (TRC) en el que las
indicaciones aparecen como deflexiones verticales de la base de tiempo, es decir, en la pantalla
se representa el tiempo en la escala horizontal y la amplitud en la escala vertical.
La representacin tipo A, se discrimina de izquierda a derecha.
La altura de los ecos pueden ser comparadas con la altura de un eco proveniente de un reflector
de referencia conocido, a fin de tener una referencia del tamao de la indicacin.
El mtodo de registro ms sencillo para este tipo de pantalla es el de la fotografa directa del
oscilograma. Sin embargo, este mtodo es lento por lo que, en ocasiones , se acoplan al equipo
sistemas de registro sobre papel que el propio operador puede manejar de manera simple,
obteniendo la representacin del oscilograma en tiempo real.


Fig.57: representacin tipo A



2.52 Representacin "Tipo B"
La representacin tipo B, usa una pantalla de osciloscopio tpico que muestra una vista de una
seccin transversal del material a ser ensayado. La imagen es retenida sobre el TRC el tiempo
necesario para evaluar la pieza y para fotografiar la pantalla, con el objeto de obtener un registro
permanente.
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Fig.58: representacin tipo B

2.53 Representacin "Tipo C"
La pantalla tipo C, representa una vista en planta, similar a una placa radiogrfica. Adems,
muestra la forma y localizacin de la discontinuidad, pero no su profundidad.
Los sistemas de alta velocidad de barrido, generalmente utilizan pantallas tipo C, conjuntamente
con graficadores, algunos de ellos con papel tratado qumicamente.
El movimiento del papel est sincronizado con el movimiento del transductor a travs de la
superficie de ensayo.
La ventaja de la pantalla tipo C, es su velocidad y su capacidad de producir registros
permanentes. Sin embargo, la pantalla solamente da longitud y ancho, pero no la profundidad de
la falla.
Este tipo de representacin, junto con el tipo B, prcticamente estn reservados a los ensayos
automticos por inmersin.


Fig.59: Representacin tipo C

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Las siguientes imgenes son una representacin tipo C realizada por inmersin de una moneda
(de su superficie)


Moneda Imgen ultrasnica


2.6. BLOQUES PATRONES DE CALIBRACION Y DE REFERENCIA

2.61 Bloques de calibracin
Los bloques de calibracin en el ensayo por contacto se usan para comprobar el funcionamiento
del equipo ultrasnico y del transductor, y para efectuar la regulacin del instrumento a fin de que
ste se adapte a las condiciones del ensayo. Permite la verificacin de distancias conocidas y
relaciones angulares; verificacin del ngulo y del punto de salida de haz en un palpador angular;
verificacin de la resolucin del palpador, etc.
Los bloques de "calibracin", algunas veces son incorrectamente llamados bloques de
"referencia" porque contienen discontinuidades artificiales de dimensiones y profundidades
conocidas.
La Norma IRAM 723 "BLOQUES PATRON PARA CALIBRACION DE EQUIPOS", define dos
bloques de calibracin para equipos de ultrasonido que utilizan las tcnicas por reflexin de
pulsos. Estos dos bloques (tipo B
1
y tipo B
2
), que se describen en el Apndice I, tienen como
antecedentes a los propuestos por el International Institute of Welding (Documento V-461-71/OF)
y adoptados por la International Organization for Standards (I50/TC 44-Sec 345-44, F). En dicha
norma se establecen las caractersticas del material, las dimensiones y tolerancias de fabricacin.
La Norma IRAM-CNEA Y 500-1002, fija el procedimiento que debe seguirse para calibrar y ajustar
las condiciones de funcionamiento y sensibilidad de los equipos (incluidos palpador y correctores)
utilizados en el ensayo de materiales por la tcnica de reflexin, de manera que dichas
calibraciones y ajustes sean reproducibles y comparables.
Se adjuntan dichas normas en el Apndice I

2.62 Bloques normalizados de referencia.
En el examen por ultrasonido, todas las indicaciones de discontinuidades (ecos) son
generalmente comparados con bloques normalizados de referencia.
El bloque de referencia ideal debe ser un trozo de la misma pieza que vamos a verificar o bien
debe estar constituido del mismo material.
Algunos bloques se utilizan para la prueba de contacto, otros para el ensayo por inmersin y otros
se utilizan para ambos.
Aqu se presentaran algunos de los ms comnmente utilizados. Un bloque tpico es el siguiente:

2- Principios bsicos de los instrumentos


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Bloque ASTM
El bloque es cilndrico
E: dimetro del orificio de fondo plano
B: Distancia entre la superficie de apoyo del palpador y el orificio de fondo plano.
G: altura total del bloque

La mayora de los bloques tienen las siguientes caractersticas comunes:
1.- estn fabricados con material cuidadosamente seleccionado.
2.- El material debe tener una atenuacin, tamao de grano y tratamiento trmico apropiado y
libre de fallas.
3.- Todas sus dimensiones deben ser mecanizadas en forma precisa.
4.- Todos los orificios deben ser de fondo plano y tener el dimetro especificado para ser un
reflector ideal.
5.- Los dimetros y largos de los orificios laterales deben ser cuidadosamente controlados.

Normalmente son utilizados tres juegos de bloques de referencia:
1.- Bloques de referencia de rea y amplitud.
2.- Bloques de referencia de amplitud y distancia.
3.- Juego bsico ASTM de rea-distancia y amplitud.

Los juegos de rea - amplitud proveen patrones de diferentes reas en la discontinuidad (orificio
E), a la misma profundidad (B).
Los bloques de distancia - amplitud1proveen patrones con discontinuidades del mismo tamao
(E) a distintas profundidades (B).
El juego bsico de patrones ASTM consiste en 10 bloques de 50 mm de dimetro.
G - B = 19 mm

Distancia B Dimetro E
mm Mm
1/8
3,15 5/64 2
6,50 5/64 2
12,7 5/64 2
2- Principios bsicos de los instrumentos


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19 5/64 2
11/2
38 5/64 2
3 76 3/64 1,2
3 76 5/64 2
3 76 8/64 3,15
6 152 5/64 2
6 152 8/64 3,15

3-Principios bsicos de aplicacin


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3.- PRINCIPIOS BASICOS DE APLICACIN

No hay quien se haya iniciado en el campo de la tcnica de ultrasonido y no haya tenido que
reconocer que, por muy profundos que sean los conocimientos tcnicos adquiridos en la materia,
inevitablemente surgen dificultades en la tcnica de aplicacin. La presente parte 3 de este
trabajo informativo ha de servir para disminuir tales problemas, proporcionando datos de validez
general en lo que respecta a la tcnica de ensayo. Se recomienda, mediante ensayos prcticos
preliminares con un equipo de ultrasonido, una dilucidacin concreta de las relaciones que a
continuacin se describen. De este modo se podr conseguir una cierta seguridad en el manejo
de los palpadores y del equipo, que es imprescindible para el empleo en la prctica del ensayo.
Es de sealar que muchos de los ensayos necesarios pueden llevarse a cabo con los bloques
normalizados internacionalmente (Normas DIN 54120 y 54122; IRAM 723 ).

3.1. ACOPLAMIENTO
En el ensayo prctico es preciso asegurar el fcil pasaje de las ondas ultrasnicas desde el
palpador a la pieza de ensayo y viceversa, para obtener resultados seguros y reproducibles. Por
esto, se debe remover todo el aire entre ellos lo que se realiza con el mojado de la superficie de
la pieza por medio de un lquido o una pasta. El acoplante ptimo ser aquel que, con un espesor
de /4, tenga una impedancia acstica igual a la media geomtrica de las impedancias en los dos
medios adyacentes; esto se puede calcular como:

( )
2
1
*
Z Z Z
c

(27)

Donde:
Zc: impedancia acstica del acoplante.
Z
1
: impedancia acstica del medio 1 .
Z
2
: impedancia acstica del medio 2 .

La sustancia natural que ms se aproxima a este acoplante ideal es la glicerina para muchos
ensayos; pero la prctica ha demostrado que el agua o muchos aceites tienen casi la misma
eficiencia. As tambin se ha encontrado que el engrudo para papel de pared con antixido puede
servir como un buen acoplante, particularmente cuando el ensayo se hace sobre cabeza y en
casos donde el aceite no es permitido.
Existen en el mercado diversos acoplantes pero, en la mayora de los casos no aportan ninguna
ventaja esencial. Comnmente se usa aceite de mquinas en los ensayos manuales y agua (con
algn inhibidor de corrosin) como acoplante en aquellos automatizados.

3.2. SUPERFICIE DE LA PIEZA DE ENSAYO

3.21. Rugosidad
Si la rugosidad superficial de la pieza es del orden o superior a la longitud de onda, se producir
dispersin acstica debido a la refraccin (Fig. 19). La misma regla vale para la superficie
posterior, donde la onda ultrasnica es dispersada por el fenmeno de reflexin. Como
consecuencia de esto, la sensibilidad de indicacin se reduce en comparacin con otra pieza de
igual tamao, igual material, pero de superficie ms lisas. Los efectos de reduccin de la
sensibilidad debida a la rugosidad puede ser compensada por el pulido de la superficie, o
aumentando la ganancia del receptor. Obviamente, se debe ser cuidadoso para tener un buen
3-Principios bsicos de aplicacin


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acoplamiento, para esto se puede usar una capa protectora de neopreno resistente al aceite
(llamada suela), colocada en el frente del palpador con algunas gotas de acoplarte entre ste y el
neopreno. Esta capa llenar las desigualdades de la superficie facilitando la transferencia del
sonido y protegiendo, a su vez, a la cara del palpador contra el desgaste o daos. Una parte de la
energa ultrasnica ser absorbida por la suela, pero el beneficio por el mejoramiento del acople ,
en muchos casos, es mayor que las perdidas en el material de la suela.

3.22. Curvatura
Cuando se inspecciona por ultrasonido una pieza con superficies curvas, comnmente se produce
un ensanchamiento (divergencia) del haz. Este fenmeno es causado por refraccin (Fig. 60).


l w
lk
l w
lk
c
c

sin
sin

Fig. 60: Divergencia adicional del haz causada por refraccin entre el acoplante y la superficie de
la pieza.

Adems de esto, el rea donde el palpador contacta a la pieza para la transferencia del sonido es
menor, por lo que de esta forma, slo se utiliza una parte de la superficie del cristal. Estos dos
factores son la razn por la cual se reduce la sensibilidad del ensayo, comparado con el caso de
una superficie plana.
Es frecuente el uso de bloques adaptadores para obtener un rea de contacto total entre el
palpador y la superficie de la pieza. Tambin, las ya mencionadas capas de neopreno pueden ser
de utilidad. Es preciso puntualizar que con esto slo se consigue aumentar el rea de contacto sin
lograr evitar la divergencia.
La magnitud de la divergencia depende de las velocidades del sonido en el acoplante y la pieza.
Este hecho se puede utilizar para la eleccin del material del bloque adaptador ms conveniente.
Como se ilustra en la Fig. 61, la doble refraccin no tiene influencia en la propagacin ultrasnica.

3-Principios bsicos de aplicacin


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Fig. 61: Refraccin con y sin acoplante. El ngulo de refraccin permanece constante; el haz
ultrasnico es levemente desviado.

Por medio de la eleccin de materiales adecuados es posible, tericamente, lograr una
focalizacin (Fig. 62); debera considerarse que las perdidas por reflexin debido a las grandes
diferencias de las impedancias snicas del adaptador y el acoplante generalmente son mayores
que la ganancia obtenida por la focalizacin.

Fig.62: Influencia de las velocidades del sonido en el adaptador (C
1
) y la pieza(C
2
)
.
En el rea de acoplamiento, por supuesto, se generan una serie de ecos; esto puede perturbar la
interpretacin de las indicaciones en la pantalla del TRC. Por esta razn, el bloque adaptador
deber ser lo ms corto posible, de tal forma que los mltiples ecos estn muy juntos unos de
otros y produzcan el menor ensanchamiento posible del eco de emisin ( particularmente cuando
se use un material con alta atenuacin, causando slo unos pocos ecos mltiples), o se deber
hacer tan largo de tal forma que los ecos mltiples no ocurran en el rango del ensayo sobre la
pantalla del TRC. En este caso el tiempo de recorrido en el adaptador deber ser mayor que el
tiempo de recorrido en la pieza. Esto se puede calcular como sigue:

3-Principios bsicos de aplicacin


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b
a
w a
C
C
I I >
(28)
Donde:
I
a:
longitud del bloque adaptador.
I
w:
longitud del camino snico en la pieza.
C
a
: velocidad del sonido en el bloque adaptador.
C
w
: velocidad del sonido en la pieza.

3.23. Recubrimiento
Se debe prestar especial atencin a las superficies con recubrimientos . La regla general es que
un recubrimiento firmemente adherido ( por ejemplo capas de pinturas, cascarillas firmemente
adherentes o capas de herrumbre) causarn un efecto perturbador pequeo; pero es aconsejable
la limpieza de la superficie por medio de cepillo de acero, lima, raspador o amolado cuando se
encuentren depsitos exfoliados, esto es, cuando exista aire en los pequeos vacos entre el
depsito y la pieza. Estos espacios impiden en muchos casos la transferencia del ultrasonido.
Superficies hmedas o grasosas en general no representan un inconveniente, la mayora de las
veces hasta ofrecen una ventaja a causa de que sus propiedades mejoran el acoplamiento.

3.3. SELECCION DE LOS PALPADORES
A primera vista parece ser difcil la seleccin del palpador ptimo por la gran variedad de
unidades disponibles para un problema de ensayo particular. La eleccin ser facilitada cuando,
antes que nada, se fije el procedimiento de ensayo y luego, en el orden que sigue, la direccin de
penetracin del sonido, frecuencia de ensayo y tamao del cristal.

3.31. Procedimiento de ensayo
El principio de pulso-eco es el mtodo ms comn y ampliamente usado. Si es posible, este
deber ser el mtodo preferido debido a que los defectos detectados pueden ser localizados (ver
2.22).
Cuando se usa el mtodo por transmisin (2.21), la localizacin resulta imposible, por lo que este
procedimiento ser solamente usado cuando el otro falle, por ejemplo en casos de alta absorcin
o fuerte dispersin, donde el eco de fondo no puede detectarse por el doble camino (ida y vuelta)
del sonido, comparado con el camino simple que recorre en el mtodo por transmisin. El
principal campo de aplicacin de los palpadores con doble cristal (T/R S/E) est en la deteccin
de defectos muy cercanos a la superficie y en las mediciones de espesores de paredes o
ensayos de corrosin. En este caso debe considerarse el ngulo y la distancia focal para obtener
los resultados ptimos ( ver 2.3312).
Otras elecciones debern ser hechas de acuerdo a las siguientes consideraciones.

3.32. Seleccin de la direccin del haz ultrasnico
Generalmente, la direccin del haz ultrasnico se elegir de tal forma que los defectos esperados,
ofrezcan la mxima reflexin, esto es, que el haz ultrasnico encuentre a la superficie del defecto
en direccin perpendicular a este. Adems , se debe tratar de evitar indicaciones causadas por la
forma y geometra de la pieza en ensayo.
El lugar donde el palpador es colocado sobre la superficie del componente deber ser lo ms
plano y liso como sea posible para evitar el ensanchamiento del haz y las perdidas por dispersin.
Tambin, se deber elegir una direccin de palpador con la que se obtenga un eco de fondo u
otro eco de referencia el cual puede ser usado para la deteccin indirecta ( por ejemplo la
desaparicin del eco de fondo por causa de una estructura esponjosa o porosa en fundiciones de
hierro sin tener otros ecos indicadores), y tambin como una indicacin del correcto acoplamiento.
En la Fig. 63 se dan algunos ejemplos de elecciones correctas e incorrectas de colocacin de
palpadores.

3-Principios bsicos de aplicacin


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Fig.63: Ejemplos de ubicaciones correctas e incorrectas del palpador

3.33. Seleccin de la frecuencia de ensayo
En los equipos de ensayos modernos la frecuencia de ensayo est determinada exclusivamente
por el palpador ; poseen una ancha banda para recibir y no contienen demasiados elementos que
influyan en la frecuencia del ensayo.
Se dice, generalizando, que un defecto con forma aproximadamente esfrica puede ser indicada
por el mtodo de ensayo ultrasnico ( esto es palpador y equipo), cuando su dimetro es igual o
mayor que una tercera parte de la longitud de onda.
La longitud de onda puede ser calculada, como ya se indic anteriormente, con la frecuencia del
palpador y la velocidad del sonido en el material a ser ensayado, por medio de la frmula (II).
Al respecto debe tenerse presente que en la frmula debe introducirse la velocidad del tipo de
onda que se est utilizando, por ejemplo, cuando se usan palpadores angulares, la velocidad de
la onda transversal.
Para poder detectar los defectos ms pequeos , se deber seleccionar la frecuencia ms alta
posible. Adems de esto, los palpadores de altas frecuencias presentan pulsos cortos (angostos)
produciendo as una mejor resolucin, como se muestra en la Fig. 64.



Fig. 64: Ejemplos de buena (Izq.) y mala (Der.) resolucin.

3-Principios bsicos de aplicacin


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Los lmites de las frecuencias superiores, sin embargo, estn dadas por la estructura cristalina y/o
la absorcin del material. En el primer caso, cada grano cristalino da una reflexin y dispersin,
produciendo un considerable "csped o pasto ) o indicaciones de "ruidos de la estructura" en la
pantalla del TRC. En este caso, un eco de fondo se superpondr ms o menos al ruido y no ser
detectable. Esta es la razn por la cual es imposible detectar defectos menores o iguales a la
estructura del material. Un ejemplo de esto se da en la Fig. 65, donde el eco de fondo no puede
visualizarse dentro de las indicaciones de la estructura.
El caso de una absorcin extremadamente alta es frecuente encontrarla cuando se ensayan
materiales como resinas o plsticos. La absorcin aumenta rpidamente con la frecuencia
llegndose as al lmite superior de la misma.
Por lo expuesto, se pueden generalizar, para la eleccin de la frecuencia de ensayo, la siguiente
regla: La frecuencia deber ser lo mas alta posible para una buena resolucin y deteccin de
defectos pequeos. El limite superior de ella esta dado por la respuesta de absorcin de la
estructura granular y ser superado cuando un eco de fondo de la pieza no pueda ser
individualizado. En caso de incertidumbre, ensayos preliminares breves con diferentes
frecuencias, podrn clarificar la situacin.


Fig.65: Indicaciones de pantalla de una barra de Zn moldeada (Izq.) y una de acero forjado (Der.)
del mismo espesor. Frecuencia:6MHz

Usualmente, materiales forjados o prensados se examinan con frecuencias entre 2 y 6 MHz;
piezas fundidas que por lo general tienen estructuras ms gruesas necesitan frecuencias entre
0.5 y 2 MHz. Cermicos (por ejemplo aisladores elctricos, etc.) presentan tambin una buena
conductividad sonora y pueden ser ensayados en la mayora de los casos con 2 4 MHz.
Materiales sintticos, dependiendo de su absorcin y espesores, sern ensayados con
frecuencias desde 1 a 4 MHz. Las frecuencias de ensayo para concreto y materiales similares
estn entre 50 y 200 KHz, necesitndose en estos casos equipos especiales.

3.34. Seleccin del tamao del transductor
Generalmente, existe una gran variedad de tamaos de cristales diferentes por lo que se hace
necesario una seleccin. Si el tamao mximo no est limitado por las dimensiones de la pieza de
ensayo, debe ser considerado en primer trmino cuando se requiera o no la determinacin de un
tamao de defecto equivalente. En este caso, el tamao del cristal deber ser tal que la longitud
del campo cercano del palpador sea menor que la profundidad estimada para los defectos, dado
que la determinacin del tamao equivalente de defecto slo es posible en el rango del campo
lejano.
Cuando se calcula la longitud del campo cercano, es posible colocar en la frmula ( 13 ) el
dimetro efectivo.
Adems, el dimetro del haz snico , a la profundidad "1", deber ser lo ms pequeo que se
pueda para mantener la relacin : tamao de defecto / dimetro del haz lo ms grande como sea
posible y as conseguir los resultados ptimos para la sensibilidad de indicacin y localizacin
lateral. El dimetro , a la profundidad "1", puede ser calculado como sigue (Fig. 66).
3-Principios bsicos de aplicacin


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60

Fig.66: Clculo del dimetro del haz ultrasnico.

( )
10 0
2 tg l l D +
para l > l
0
(29)

Donde:
D: dimetro del cristal.
l
0:
longitud del campo cercano.

10
: ngulo de divergencia (ver XV y XVI).

Cuando no se requiere la determinacin del tamao del defecto equivalente, la examinacin
puede llevarse a cabo tanto en el campo cercano como en el campo lejano. La mxima
sensibilidad posible se encuentra en la vecindad de la longitud del campo cercano; a
profundidades mas pequeas que esta longitud, la localizacin de un defecto en la direccin
lateral est agravada debido al hecho de que all puede haber presin acstica (esto es
sensibilidad) mnima en el eje del haz , y alta sensibilidad en la zona marginal del haz , causado
por las interferencias en el rea del campo cercano. El dimetro del haz ultrasnico en el campo
cercano es aproximadamente igual al dimetro del cristal:

D para l
0
l (30)

Por lo arriba mencionado, es suficiente colocar el dimetro verdadero en lugar del efectivo, el cual
es un porcentaje ms pequeo que el real y debe ser provisto por el fabricante.
En la Fig. 67 se dan algunos ejemplos de las geometras de haces ultrasnicos.




Fig. 67: Diferentes formas de haces de palpadores de 4 MHz en acero (esquema)

Es obvio que los resultados ptimos se encontrarn a la profundidad de "l
1
" para el cristal de 6
mm; de l
z
para el de 24 mm y a "l
3
" para el de 40 mm. Generalmente se puede decir que para
piezas pequeas se tomarn dimetros pequeos y para piezas grandes dimetros mayores.

3-Principios bsicos de aplicacin


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3.4. AJUSTE DEL EQUIPO
Aqu solamente se darn instrucciones generales para el ajuste del instrumental; los detalles
debern ser estudiados de los manuales provistos junto con el equipamiento. El procedimiento de
ajuste consiste en dos partes:
1) ajuste del rango de profundidad y
2) ajuste de la sensibilidad.
La puesta a punto del rango de profundidad deber ser hecho antes que el de la ganancia. El
ajuste de la longitud de medida de la profundidad (rango) en s mismo consiste en dos etapas:
1.1) desarrollar el rango de profundidad de inters en la mxima distancia plana de la pantalla del
TRC, para facilitar la lectura de profundidad , y
1.2) ajustar el cero para compensar las influencias de capas protectoras, lneas de retardo, etc. .
Para mayor informacin, referirse a las normas por ejemplo DIN 54 120 y 54 122 ( bloques 1 y 2
de referencias) o IRAM-CNEA Y 500-1 002 .
El ajuste de la ganancia de la sensibilidad es el segundo paso en la puesta a punto del equipo. Si
no hay instrucciones de especificaciones particulares, ser un buen mtodo colocar el eco de
fondo de 6 a 12 dB por encima de la altura total de la pantalla (ATP). An cuando sean
detectados pequeos defectos, la ganancia ser incrementada hasta que se observen las
indicaciones de la estructura. Este "ruido de la estructura o csped" usualmente no es buscado y
puede ser eliminado por medio del regulador de supresin. Cuando se requiere una evaluacin de
defectos por medio de la altura de los ecos, el supresor debe volverse a cero para evitar observar
en forma no lineal las indicaciones. En otros casos, por ejemplo en inspecciones con palpadores
angulares, o cuando el eco de fondo no puede ser observado, puede ser til tener una probeta
con defectos artificiales (por ejemplo un orificio calibrado de 2 mm de dimetro).
Para obtener pulsos lo ms angostos posible (alta resolucin) se recomienda llevar a cabo el
ensayo con la mnima potencia del transmisor; solamente despus de haber alcanzado el punto
de mxima sensibilidad, o la inspeccin ha sido llevada a cabo en lugares con altos ruidos
elctricos (arranques automticos, soldadoras, etc.), se puede incrementar la salida del
transmisor, en casos de ganancia reducida.


3.5. TECNICA DE INMERSION
Para la inspeccin ultrasnica por el mtodo de inmersin la pieza es totalmente sumergida en un
lquido (comnmente agua) y el haz es usualmente proyectado desde una cierta
distancia. (Fig. 68).



a: Esquema de ubicacin principal
.
3-Principios bsicos de aplicacin


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62

b c
Fig. 68
1:Eco de emisin.
2:Primer eco de la superficie superior.
3:Eco del defecto.
4:Eco de fondo (pared posterior)
5 a 8: segundo a quinto eco de la superficie superior.

a): Recorrido en el fluido demasiado corto; aparecen ecos mltiples (5) de la superficie dentro del
rango de ensayo (de 2 a 4).
c): Correcto dimensionamiento de la lnea de retardo.

El lmite lquido-componente producir, por este mtodo, un eco de superficie el cual, con un
correcto ajuste del rango de profundidad, marcar el cero en la pantalla del TRC en lugar del eco
de emisin (en muchos casos no interesa la supervisin de camino en el fluido, as que,
contrariamente a lo que muestra la Fig. 68 (c) la distancia entre los ecos N 2 al N 4 ser la que
se desarrollar a lo largo del total de la pantalla).
La ventaja de este mtodo es el constante y uniforme acoplamiento.
Adems, el eco de la superficie (entrada a la pieza de ensayo) es ms angosto que el eco de
emisin, permitiendo as una mejor resolucin a pequeas profundidades en la pieza.
Como en este caso, a diferencia de la tcnica de contacto directo, no hay reflexin total ( el medio
lquido es considerablemente mejor conductor ultrasnico que el aire), y como una parte del
sonido es reflejada y se propaga en el medio lquido, debe prestarse atencin a las indicaciones
provenientes de la zona del lquido pues pueden interpretarse como defectos inexistentes. Si en la
tcnica de inmersin se usan reflexiones en zig-zag, el rango de la onda ultrasnica ser ms
corto que en la tcnica de contacto directo (Fig. 69 a) debido a la conversin de onda y radiacin
de energa (ley de refraccin) en cada paso (Fig. 69 b). Por ejemplo, cuando en un ensayo de un
tubo (Fig. 46), este se sumerge en un lquido, el eco de referencia de la circunferencia obviamente
disminuir o desaparecer.

Fig. 69: a) tcnica de contacto; b) tcnica de inmersin
3-Principios bsicos de aplicacin


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63

Tampoco puede ser eliminada por la tcnica de inmersin la influencia de la dispersin provocada
por la rugosidad de la superficie , como falsamente se asume en muchos casos. As, la tcnica de
inmersin tiene como principal ventaja un acoplamiento constante con la superficie de la pieza de
trabajo. Otra ventaja es que dado que el palpador no est en contacto directo con la pieza, se
pueden usar cristales ms finos de alta frecuencia.
Se debe prestar atencin a que la longitud del trayecto snico en el fluido sea lo suficientemente
grande para evitar que los ecos mltiples no caigan dentro del rango de ensayo.
En principio, las mismas reglas dadas para el retardo en los bloques (ver seccin 3.22, formula 28
) son vlidas aqu y muy importantes; as como se colocaba la longitud y la velocidad snica en el
bloque de retardo se debe colocar ahora los valores del trayecto previo en el fluido.
Es frecuente el uso de palpadores focalizados en esta tcnica, los que ofrecen una alta
sensibilidad de ensayo concentrada sobre un lugar relativamente pequeo. El modo de actuar de
los focalizadores ("lentes", Fig. 70 a y b) se deduce tambin de las leyes de refraccin (ver
seccin 3.22 y frmula 9).


Fig. 70 Izq.: palpador con focalizacin (lente) en agua. Der.: Acortamiento de la longitud focal
cuando el foco cae dentro de la pieza.

La eleccin para el uso de una lente cncava o convexa, depende de las velocidades del sonido
en el material de las mismas y en el fluido. La longitud focal de tales lentes ultrasnicas se puede
calcular as:


1
2
1
C
C
r
f

(31)
Donde:
f : longitud focal.
r : radio de curvatura de la lente.
c
1
: velocidad del sonido en la lente.
c
2
: velocidad del sonido en el lquido.

3-Principios bsicos de aplicacin


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64
Las velocidades del sonido c
1
y c
2
debern tener la mayor diferencia posible para obtener un alto
ndice de refraccin, y sus impedancias acsticas lo ms semejantes posibles para conseguir las
mnimas prdidas por reflexin. Buenos resultados que concilian estos dos trminos las ofrece el
plexigls.
Si lo que se busca es focalizar en un punto, la curvatura de la lente deber ser esfrica Fig. 71 a);
si la focalizacin se busca en una lnea , la lente ser cilndrica Fig. 71 b).


a b
Fig. 71 Lentes acsticas. a) Focalizado en un punto; b) focalizado en una lnea

Se debe considerar tambin que si la focalizacin se realiza dentro de la pieza y no en su
superficie, habr una refraccin adicional en la superficie lmite lquido / pieza. Este hecho causa
un acortamiento (en el plano de la superficie) de la longitud focal, el cual es aproximadamente
proporcional a la relacin de velocidades (Fig. 70 b ).
Ejemplo:
Supongamos que queremos determinar cul ser el camino ms adecuado en el agua (distancia
palpador-pieza) si se usa un palpador focalizado con una longitud focal en agua de 100 mm y el
foco se desea colocar a 5 mm por debajo de la superficie de la pieza ( de acero).Para el clculo
se deber:

S
agua
= S
f
S
m
.(C
m
/ C
agua
)

Donde :
S
agua
: paso en el agua (distancia entre el palpador y la pieza de ensayo).
S
f
: distancia focal en agua.
S
m
: distancia en el material de ensayo
C
m
y C
agua
: velocidad del sonido en el material de ensayo y en agua respectivamente.


1.- Hallar la relacin entre la velocidad en el acero y la velocidad snica en el agua.

3-Principios bsicos de aplicacin


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65
4
/ 10 5 , 1
/ 10 0 . 6
5
5

s cm
s cm
Significa que una unidad de medida en acero ser igual a cuatro en agua.

2.- Hallar la equivalencia entre el camino deseado en acero y en agua.
4*5 mm (en acero) = 20 mm (en agua)

3.- Restar a la distancia focal de la lente:
100 - 20 = 80 mm

Por lo tanto la distancia a la cual se deber colocar la lente para que el haz se focalice dentro de
la pieza a una profundidad de 5 mm ser de 80 mm (recorrido en agua).


Resumiendo, podemos decir que la utilizacin de lentes acsticas ofrecen :

Incremento en la sensibilidad para defectos pequeos.



Mejoramiento de la resolucin cerca de la superficie



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Correccin del contorno de las superficies



Mejoramiento de la relacin seal / ruido






Calculo de compensacin en ultrasonido por inmersin

Cuando se realiza un ensayo de ondas de corte circunferencial en tuberas de aleaciones de
acero, muchas especificaciones requieren obtener una onda refractada de 45 grados dentro de el
espesor de la tubera. La compensacin del transductor requerida para producir esto debe ser
calculada usando la Ley de Snell. Para determinar el ngulo incidente correcto que producir una
onda de corte refractada de 45 grados ser:

,
_

SS
O H
v
v
2
SS O H
sen sen
2

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y la ecuacin de compensacin para determinar el corrimiento del transductor respecto de la lnea
central de la tubera para producir el ngulo de incidencia calculado es:

sen R x



n compensaci x


2
OD
R



Sin embargo con una derivacin de las ecuaciones se obtiene una regla simple aproximada de la
compensacin deseada =
6
OD
, que puede ser calculada mentalmente mientras se est frente al
sistema a ensayar.

,
_

,
_

SS
O H
v
v
2
SS
sen R X


,
_

,
_

3.1km/s
1.48km/s
sen45 R X



( ) 338 . 0 R X



( ) 338 . 0
2
OD
X


Como 0.338 es aproximadamente 1/3, la ecuacin puede ser reescrita

3
1
2
OD
X


6
OD
X


Esta regla aproximada para calcular la compensacin del transductor para materiales de
velocidades similares.
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Por ejemplo para encontrar la compensacin que producir una onda de corte de 45 grados
circunferencial aproximada en una tubera de acero inoxidable de 6.4 mm de dimetro, calculando
6.4/6=1.05 mm de compensacin.
La siguiente Fig. muestra el problema planteado





3.6. INTERPRETACION DE LA PRESENTACION EN LA PANTALLA DE TRC
Como ya fue mencionado anteriormente, el haz electrnico, dentro del tubo de rayos catdicos, es
deflectado en la direccin horizontal en una proporcin lineal con el tiempo ( generador de la base
de tiempo); adems de esto, es tambin deflectado en la direccin vertical cuando aparece un
voltaje elctrico adicional en el transductor (seal ultrasnica de emisin o recepcin).
Principalmente lo que se mide es el tiempo de recorrido de la onda ultrasnica en la pieza.
De acuerdo con la relacin:
(velocidad) c = (distancia) a
(tiempo) t

el espesor de la pieza o la distancia a un defecto puede ser calculada cuando se conoce la
velocidad del sonido como :

c t a (32)
De all que la pantalla del TRC puede ser calibrada directamente en longitud cuando la velocidad
del sonido es conocida. Despus de un ajuste correcto, se leer directamente en las divisiones de
la pantalla la longitud al reflector en mm.
Como referencia para esta lectura se toma el punto (en abscisas) sobre el cual el eco comienza a
crecer (Fig. 72).
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Fig.72:El punto en donde el eco se levanta (punto izquierdo en la base del mismo),
es la referencia para su localizacin. Los cuatro ecos visibles (excepto
el eco de emisin) estn localizados en las divisiones: 1,5 ; 4,5 ; 6,0 y 9,0.

3.61. Indicaciones de defectos
Los defectos son indicados de diferentes maneras , de acuerdo a sus formas, tamaos y
ubicaciones dentro de la pieza.

3.611. Indicaciones directas
El ms comnmente usado y confiable es el mtodo de indicacin directa del defecto el que
debera ser aplicado, siempre que sea posible, ya que dar los resultados ms satisfactorios de
evaluacin y reconocimiento. En este mtodo aparece sobre la pantalla del TRC, un pulso o eco
adicional.


3.6111. Eco de localizacin del defecto
La localizacin de un defecto , esto es su profundidad, puede ser leda desde la pantalla de TRC
siempre que antes se haya realizado un correcta calibracin del rango de medida. Para ello, se
puede ajustar en el equipo una longitud de medicin aproximada y redonda de nmero entero, y
leer el lugar del defecto, sin mayores clculos, como fraccin fcilmente distinguible de la longitud
de medicin total ajustada (Fig. 73).


Fig. 73:Rango de medicin:200mm
Eco de fondo en: 145 mm
Eco del defecto: 86,7 mm

Otra forma de calibracin es desarrollar, en el total de la pantalla, la distancia entre el eco de
emisin y el eco de fondo de la pieza, y leer la localizacin del defecto como una fraccin
porcentual del espesor de la misma (Fig. 74).

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Fig.74: Sea la longitud de medicin , por ejemplo 145mm; luego el eco de fondo se lee en 145mm
y el eco del defecto en 59,8% de 145mm = 86,7mm

Cuando se usan palpadores angulares es sencillo, en algunos casos, determinar la localizacin
de un defecto por la componente horizontal ( distancia proyectada) del haz ultrasnico oblicuo, o
por la componente vertical (profundidad) en lugar de hacerlo a travs de la longitud del camino
snico.
En la prctica, se usan las misma reglas para la localizacin de defectos que las ya mencionada
antes, junto con las correspondientes funciones trigonomtricas (factor proporcional para ngulo
constante).

Muchas veces, cuando se usan palpadores normales o angulares, el fuerte impulso del eco de
emisin (su ancho) afecta la resolucin y sensibilidad sobre distancias pequeas, cercanas a la
superficie (zona muerta), dificultando la deteccin de defectos que estn muy cerca de la
superficie.
Se podra pensar que sera ms ventajoso visualizar en pantalla, por ejemplo, el rango entre el
primer y segundo eco de fondo en lugar de la distancia entre el eco de emisin y el primer eco de
fondo, ya que, como se dijo en la seccin 2.22, se repite la presentacin, y adems al ser el
primer eco de fondo mucho ms estrecho que el de emisin, se esperara una mejor
detectabilidad y resolucin a cortas distancias de la superficie. Este mtodo no se recomienda y
no debe ser aplicado ya que existe el peligro de que aparezcan indicaciones falsas (ver 4.2).
Siempre se usar el rango entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; los defectos cercanos
a la superficie sern tratados de hallar por medio de palpadores con doble cristal (T/R o S/E), o
desde el lado posterior, o por alguna otra tcnica.

3.6112. Altura del eco
Generalmente se puede decir que no es posible determinar el tamao exacto de un defecto por
medio de la altura de un eco.
Se puede observar en las algo simplificadas ilustraciones de la Fig. 75 que la altura de los ecos
tambin depende de la orientacin de la superficie reflectora del defecto, del grado de rugosidad
(en comparacin con la longitud de onda), de la forma (esfrica, cilndrica, plana, etc.), y , por
supuesto, del material del defecto (cavidades gaseosas, segregaciones, inclusiones no
metlicas).

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Fig.75:Reflexiones y vistas de pantallas obtenidas de diferentes defectos(esquemtico, no usar
como catlogo).

Sin embargo es posible, por medio de series de ensayos experimentales (particularmente en
casos de producciones masivas) y junto a ensayos destructivos, adquirir cierta experiencia
particular, para los mismos tipos de discontinuidades, y as ser capaz de poder afirmar con
bastante seguridad sobre el tamao de los defectos encontrados. Estas afirmaciones slo
tendrn validez para las mismas o tipos de tareas similares.
La altura de los ecos pueden adems estar relacionadas con las indicaciones que provienen de
defectos artificiales patrones con propiedades definidas (orificios de fondo plano perpendiculares
a la direccin del sonido, orificios cilndricos, ranuras, etc.). Esto permite unificar la tcnica de
ensayo, lo que es indispensable para establecer normas generales y prescripciones para la
realizacin de los ensayos.

3.6113. Forma del eco
La forma de un eco que se muestre sobre la pantalla de TRC permite estimar la forma superficial
de un defecto. La experiencia ha demostrado que aquellos que posean superficies lisas, ya sean
planos o curvados, producirn un nico eco angosto (agudo), mientras que defectos irregulares,
con superficies rugosas producirn ecos anchos, interrumpidos, escarpados casi sin ningn pico
definido (Fig. 76) .
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Fig.76: Defectos con diferentes formas y sus resultados de pantalla.

3.6114. Proyeccin del haz desde diferentes direcciones
Si un defecto, una vez detectado, es expuesto a un haz ultrasnico desde distintas direcciones, se
obtendr una mejor evaluacin de la forma y tamao del mismo. Un defecto con forma esfrica
dar aproximadamente la misma respuesta, esto es la altura del eco, desde diferentes
direcciones, mientras que un defecto plano presentar, obviamente, un mximo cuando el haz
caiga perpendicularmente a la superficie, y un mnimo cuando sea paralela a esta.

3.612. Indicaciones indirectas de defectos
En muchos casos, cuando no son posibles indicaciones directas, los defectos pueden ser
indicados indirectamente , por ejemplo en ciertos tipos de porosidad o esponjosidad como se
muestra en la Fig. 76 ( inferior - izquierda). La altura del eco de fondo disminuir
considerablemente al mismo tiempo que aparecern ecos del defecto. Con el ensayo indirecto de
defectos, el eco de fondo decrece aun cuando no se visualicen ecos del defecto. La observacin
del eco de fondo, hoy en da, es parte esencial en algunos modernos ensayos ultrasnicos. Se
debe considerar adems que una cada del eco de fondo tambin puede ser causado por
rugosidad o curvatura de la superficie como as tambin por acoplamiento insuficiente. En general
son vlidas las mismas reglas que para el mtodo de transmisin, donde se observa un
decaimiento anlogo del pulso penetrante cuando el defecto est localizado entre los dos
palpadores ultrasnicos (tambin aqu la altura del eco depende de la rugosidad, curvatura,
calidad de acoplamiento, y, adicionalmente, del correcto posicionamiento.
En muchos casos, los resultados del ensayo pueden ser clarificados por los mltiples ecos en
lugar de un solo eco de fondo.

3.62. Indicaciones de defectos aparentes
Las indicaciones de defectos aparentes son causadas por otros fenmenos ms que por defectos
verdaderos. Pueden existir las siguientes razones: respuestas a la geometra de la pieza, mala
eleccin de palpadores, conversin de ondas, y ecos espurios o ecos fantasmas por valores
demasiado altos de repeticin de pulsos. Como la presencia de indicaciones de defectos
aparentes dificulta la evaluacin de los resultados del ensayo, es preciso evitarlos en la medida
de lo posible. Para ello puede procederse, por ejemplo de la siguiente manera:
elegir la posicin del palpador y la direccin ptima del haz.
el rango de evaluacin deber ser entre el eco de emisin y el primer eco de fondo; las
indicaciones aparentes, frecuentemente, aparecen despus del eco de fondo debido a tiempos y
trayectos de recorrido del sonido ms largos
Si no es posible evitar estas indicaciones dentro del rango de ensayo, es factible predecir, y
as, tomar en cuenta el lugar de su aparicin.

3.621. Conversin y desdoblamiento de ondas
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3.6211. Incidencia rasante de ondas
Cuando las ondas ultrasnicas ( ondas longitudinales) viajan en forma paralela y cercanas a la
superficie de la pieza, por ejemplo cuando se ensaya desde un extremo a otro un componente
cilndrico de aproximadamente el mismo dimetro que el cristal del transductor, se pueden
producir desdoblamientos a ondas transversales que viajan a travs de la pieza con diferentes
velocidades y en otras direcciones las que pueden determinarse por medio de la ley de refraccin
(Fig. 77).


Fig. 77:Generacin de ecos satlites por desdoblamiento y reconversin de ondas transversales.
1:Eco de pared de fondo.
2:Primer eco satlite
3:Segundo eco satlite
4:Segundo eco de fondo

El desdoblamiento y transformacin de ondas transversales puede ocurrir una, dos, tres o ms
veces tanto en el camino de ida como en el de vuelta, y en cualquier punto de la superficie del
componente. Estos ecos, llamados satlites, aparecen siempre despus del primer eco de fondo
debido tanto, al camino recorrido ms largo, como a que la velocidad de las ondas transversales
es menor. El tiempo adicional de recorrido es mltiplo entero del tiempo necesario para que la
onda transversal viaje a travs de la pieza y puede ser calculado como:

,
_

tg
c
c D
s
t
l
cos
1
2
(33)

Donde:
s : diferencia de camino snico entre el primer eco de fondo y el primer eco satlite o entre dos
ecos satlites adyacentes.
D : dimetro de la pieza.
c
l
: velocidad de la onda longitudinal.
c
t
: velocidad de la onda transversal.
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74
: ngulo de la onda transversal desdoblada ( puede ser calculado por medio de la ley de
refraccin).

Adems de esto, es posible determinar la velocidad de la onda transversal por medio de los ecos
satlites como se indica a continuacin:

( )
D
s
c
c
l
t
2
2 1 +

(34)



Sin ecos satlites Con ecos satlites
Fig. 78 :Ecos de fondo mltiples.

3.6212. Transformacin de onda de 29 / 61
Segn la ley de efraccin pueden ser generadas por una onda longitudinal que incida
oblicuamente sobre una superficie refractante de la pieza, dos tipos de ondas: una onda
longitudinal y una transversal (ver seccin 1.422). Generalmente, ambos tipos de ondas no tienen
la misma energa, dado que las mismas dependen del ngulo de incidencia Fig. 79.
En el rango entre 60 a 75 , las ondas longitudinales tienen un marcado mnimo, mientras que las
ondas transversales son esencialmente fuertes. Esto significa que una onda longitudinal
incidiendo en estos ngulos producir, principalmente una onda transversal y solamente una dbil
onda longitudinal.
El ngulo de la onda transversal refractada se puede calcular por medio de la ley de refraccin.
Este fenmeno puede causar una situacin complicada cuando los ngulos de ambas ondas
suman 90 , y hay un borde de la pieza en escuadra (90 ) en el camino snico. La marcha del
camino snico es el ilustrado en la Fig. 80a. La presin snica es muy dbil en el camino
normalmente esperado; la onda transversal generada es mucho ms fuerte, pero sigue otra
direccin y no vuelve al palpador. As es que el efecto de borde en escuadra debilita
notablemente la reflexin. El caso inverso (Fig. 80 b), debe tomarse en consideracin cuando se
usan palpadores de 60 .

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Fig.79: Presin snica de ondas longitudinales y transversales vs. ngulo de incidencia ()
El valor mximo ha sido definido pero sigue otra como 100 %.


Fig. 80: Conversin del tipo de onda 29 / 61 en una pieza con bordes rectangulares.
L: longitudinal ; T: transversal.

Los ngulos para cualquier material se pueden calcular con las siguientes frmulas:

cl
ct
l sen
t sen
ct
cl
t sen
l sen
l t t l

+ +

90 90
(35)

Para acero se obtienen los ngulos de 29 y 61 . Esto significa que, en acero, una onda
longitudinal que incida sobre una superficie con un ngulo de 61 ser casi totalmente
transformada en una onda transversal con un ngulo de reflexin de 29 , y viceversa. Tales
transformaciones de ondas, junto a una forma particular de la pieza, pueden a su vez, dar origen
a ecos de defectos aparentes.


3.6213. Ondas superficiales
Cuando se usan palpadores con grandes ngulos, y debido a la divergencia del haz snico, se
pueden generar ondas superficiales, las que viajan a lo largo de la superficie con una velocidad
diferente a las ondas transversales (ver seccin 1.41), y son susceptibles de reaccionar a
pequeas rugosidades de la superficie, causando as indicaciones. Los ecos producidos por estas
ondas disminuirn su altura cuando se toque con la punta del dedo con aceite la superficie de la
pieza, entre el palpador y la rugosidad que da origen a la indicacin.

3.6214. Ondas Lamb
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Cuando se ensayan chapas metlicas delgadas, muy frecuentemente se generan ondas Lamb en
lugar de las ondas transversales ordinarias. La velocidad de estas ondas es funcin del espesor
de la chapa, frecuencia y del tipo de onda Lamb. En estos casos, la inspeccin deber ser llevada
a cabo usando el mtodo de ondas Lamb exclusivamente, usando un palpador universal (ver
secciones 1.41 y 2.3323). Adems de esto, la onda Lamb es mucho menos atenuada en el
material que la onda transversal por lo que resulta en un ensayo de alta sensibilidad.

3.622. Geometra de la pieza de ensayo

3.6221. Reflectores dentro del camino sonido
Frecuentemente las indicaciones son causadas por bordes, ya sea perpendiculares u oblicuos al
camino snico (Fig. 63 arc), y en muchos casos pueden ser evitadas por medio de una adecuada
eleccin del palpador, lugar de ensayo y direccin. De otra forma, la mayora de las veces, es
bastante fcil predeterminar sus localizaciones en la pantalla del TRC.

3.6222. Ecos parsitos por desviacin del haz
Ecos debidos a la desviacin del haz son causados por la geometra de la pieza, como se
muestra en la Fig. 63 b. Se producen despus del primer eco de fondo cuando se examinan
barras redondas desde la superficie cilndrica. En este caso, la causa de este fenmeno es el
ensanchamiento del haz debido a la curvatura de la superficie. Como se muestra en la Fig. 81, se
produce una reflexin triangular con y sin transformacin del tipo de
onda. En muchos casos, los tiempos de recorrido del sonido de los ecos satlites, son mas largos
que el del eco de fondo de tal forma que aquellos aparecern despus que este. Adems, por la
conversin de tipo de onda, el tiempo de recorrido es ms largo dada la menor velocidad de las
ondas transversales.

Fig.81:Generacin de ecos satlites en la inspeccin de una barra cilndrica.
1:Primer eco de fondo
2:Eco satlite por reflexin triangular sin conversin de tipo de onda (
2
=
2
)
3:Eco satlite por reflexin triangular con conversin de tipo de onda (
2

2
)
4:Segundo eco de fondo
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3.623. Ecos espurios o fantasmas
La aparicin de ecos espurios o fantasmas se deben a frecuencias de repeticin de pulsos
excesivamente altas, esto es intervalos demasiado pequeos entre un impulso y el siguiente.
Como cada pulso transmitido tambin activa (dispara) nuevamente la deflexin horizontal (base
de tiempo) del haz electrnico del osciloscopio , puede suceder que al darse una larga secuencia
de ecos, los ltimos ecos de un impulso emitido an no se hayan extinguido totalmente cuando se
inicia el impulso de emisin siguiente.
Como consecuencia del nuevo disparo, los impulsos residuales de una secuencia se presentan
en la pantalla conjuntamente con la nueva secuencia de impulsos .En la Fig. 82 se observa el
principio de la generacin de ecos fantasmas.
Un mtodo seguro para reconocer estos ecos, es variando la frecuencia del pulso de repeticin de
tal
forma que, cuando sta se reduce suficientemente, los ecos fantasmas desaparecern. En
mayora de los equipos en particular los aparatos para ensayos manuales, la frecuencia de la
secuencia de pulsos es conmutada al comando de rango de medicin de tal manera que, siempre
hay una distancia suficientemente grande entre los distintos pulsos emitidos, con lo que se
previene la generacin de ecos fantasmas. En el caso de aparatos integrados en instalaciones,
donde la frecuencia de la secuencia de impulsos tambin puede ajustarse independientemente de
la longitud de medicin, debe contemplarse la posibilidad de estos ecos en caso de manejo
incorrecto.


Fig.82:Formacin de ecos fantasmas.
Izquierda:: distancia suficiente entre pulsos.
Derecha: ecos fantasmas causados por distancia insuficiente entre pulsos de transmisin. Los
ltimos ecos mltiples de una secuencia anterior son visibles entre los ecos de la nueva
secuencia.

3.7 DETERMINACION DE LA FORMA Y TAMAO DE DISCONTINUIDADES
Dado cualquier discontinuidad como puede ser una cavidad en una fundicin de hierro
representar un obstculo para la onda snica.
La informacin de este defecto se puede obtener por medio de la onda reflejada en l (su eco)
cuando se usa el mtodo del eco o por medio de su sombra cuando se aplica el mtodo de la
medicin de la intensidad del sonido.
Tanto el eco del defecto como de su sombra estn basados en conceptos puramente ptico-
geomtricos por lo que la informacin que se puede obtener slo ser posible en los casos de
discontinuidades grandes y regulares como por ejemplo en fisuras transversales planas y lisas en
una barra donde la onda incidente se reflejar como en un espejo y con una sombra total detrs
de ella.
Sin embargo, los defectos naturales pueden ser tan pequeos que produzcan fenmenos de
difraccin tanto en el eco que producen como en su sombra. Por esto las discontinuidades se
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clasifican de acuerdo a sus dimensiones transversales con respecto al haz snico en
discontinuidades grandes y pequeas.
Se aclara que la designacin de "pequeo" no es una evaluacin de la seriedad de la
discontinuidad con respecto a la pieza en ensayo o lo que es lo mismo como puede afectar su
aptitud para el servicio.

3.71. Discontinuidades grandes.
El tamao de las discontinuidades grandes o sea aquellas que son mayores que la seccin
transversal del haz snico a la profundidad del defecto se pueden estudiar por el mtodo de los
valores medios o mtodo de exploracin dinmica.
El estudio se realiza de la siguiente forma: se barre la pieza fuera de la zona donde se encuentra
el defecto sin que existan interferencias de paredes laterales. Si se obtiene eco de fondo este se
calibra a una determinada altura total de pantalla ( por Ej. 80% ATP) .
Cuando el haz comience a interceptar el defecto el eco de fondo comenzar a disminuir
tomndose como proyeccin del defecto sobre la superficie de la pieza aquel punto en el cual el
eco de fondo haya disminuido a la mitad del valor de la ATP calibrada anteriormente (en nuestro
Ej. 40% ATP). En este punto el eje del haz se encontrar en el borde del defecto. As se contina
delimitando el contorno de la falla. Ver Fig. 83.
En el caso de fallas alargadas en las cuales slo la dimensin longitudinal sea mayor que el
dimetro del haz se podr determinar por este mtodo solamente esta longitud.
Siempre es preferible trabajar con un haz de rayos lo ms paralelos posibles esto es en el campo
cercano en un palpador de gran dimetro o en el campo lejano con palpadores de pequeo
ngulo de divergencia.


Fig. 83: Comportamiento del eco del defecto y del eco de fondo durante el barrido de un defecto
grande.

Este mtodo necesita del eco de fondo (superficies de barrido y de fondo paralelas) no siendo
imprescindible la aparicin del eco del defecto el cual podr estar en posicin oblicua o ser
volumtrico (cavidad de contraccin). De esta forma los resultados sern independientes de la
ganancia del ensayo y de la orientacin o forma del defecto.
Si por cualquier razn no se tuviera eco de fondo el ensayo se podr realizar de la misma forma
pero con el eco del defecto. En este caso los resultados obtenidos si dependern del nivel de
sensibilidad del ensayo (ganancia) y la orientacin o forma del defecto. Es claro que cuando la
discontinuidad en estudio sea paralela a la superficie de barrido los resultados sern reales pero
en el caso de orientaciones o geometras diferentes (falla oblicua o rugosidad) los resultados
sern slo aproximados al real dependiendo de que criterio de mnima altura de la indicacin de
su eco se adopte el que indicar dnde comienza la heterogeneidad.
De la misma forma se podrn medir por medio de palpadores angulares de 70 a 75 la
profundidad de fisuras superficiales o la distancia de fisuras desde la superficie en el caso de que
estas existan y sean grandes por ejemplo en forjados.
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79
De ser posible la profundidad se medir de ambos lados y los resultados promediados.

3.72. Discontinuidades pequeas
La determinacin del tamao de defectos pequeos (rea del defecto menor que la seccin
transversal del haz snico) se puede realizar solamente midiendo el eco de mxima amplitud
producido por el defecto. Este mtodo se llama de determinacin esttica (sin movimiento del
palpador) y luego se lo compara con discontinuidades conocidas.
Estas discontinuidades o reflectores pueden ser:

1) Discontinuidades naturales conocidas de idntica naturaleza y morfologa que las estudiadas.
Es el caso ideal pero tambin el ms limitado pues se puede aplicar en casos muy particulares
como por ejemplo en grandes producciones sistemticas en donde se puede presentar un tipo
determinado de defecto.

2) Discontinuidades artificiales de morfologas "similares" a las esperadas. Tambin difcil de
aplicar. Se suele utilizar en casos de estudios cuidadosos de las condiciones de ensayo.

3) Reflectores en forma de disco circular plano. Usualmente se utilizan orificios de fondo plano de
distintos dimetros para obtener los resultados como una aproximacin que depender de cun
alejado estemos de la realidad del defecto en estudio.

En general las discontinuidades naturales tienen superficies rugosas e irregulares lo que dar
indicaciones de menor altura que un disco circular con igual superficie de reflexin por lo que el
tamao de una discontinuidad natural pequea ser igual o mayor que la de un disco circular
perpendicular al haz snico presente en la misma muestra y cuyos ecos sean de igual altura.
Una tcnica muy usada que compara el tamao de una heterogeneidad con discos circulares
planos es la que emplea los Diagramas AVG.

Diagramas AVG
Estos diagramas son una recopilacin de respuestas de discontinuidades de referencia de
distintos dimetros y a distintas distancias. Intervienen las variables:

A : distancia del palpador a la discontinuidad (ordenada del diagrama ; escala logartmica).
V : ganancia( abcisa en el diagrama; escala decimal e invertida)
G : dimetro de la discontinuidad de referencia o equivalente (curvas del diagrama). La curva que
est indicada con (infinito) corresponde a la respuesta de una discontinuidad de tamao infinito
(con respecto al tamao del dimetro del palpador) y es el eco de fondo de la pieza.
Con estos diagramas lo que se obtiene es que :


La discontinuidad en estudio tiene una
respuesta similar a la de un disco circular
plano (orificio de fondo plano) de un
determinado dimetro.


Existen Diagramas particulares (Fig. 84) para cada palpador en general dados por el fabricante y
que son los normalmente usados y un Diagrama general (o normalizado) que es adimensional
(Fig. 85).
En el Diagrama general A (adimensional) es la distancia a la discontinuidad dividido el campo
cercano del palpador que se utilice; G (adimensional) es el dimetro de los discos planos de
referencias dividido por el dimetro del palpador utilizado.
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80
La zona izquierda del diagrama es la regin de incertidumbre del campo cercano por lo que no es
posible trabajar all.

Los pasos del procedimiento son los siguientes:

a) Se elige un reflector de referencia. Este puede ser el fondo de la pieza el de la probeta u
orificios de fondo plano de un determinado dimetro.

b) Se calibra el equipo con un rango de trabajo de acuerdo a las distancias antes elegidas.
-Se fija con la ganancia la ATP adecuada para el eco de la discontinuidad de referencia y se
anota dicho valor.

c) Con la distancia a la discontinuidad de referencia se entra en el diagrama hasta cortar la curva
que corresponda a la misma ( ) si la referencia es el fondo de la pieza). Este ser el punto que
representa su respuesta. Movindose sobre la horizontal hasta el eje de ordenadas se lee el valor
de la ganancia que corresponde a este punto sobre el diagrama.

d) Con la misma calibracin hecha en b) se busca el eco mximo de la discontinuidad en estudio
y con la ganancia se lo lleva hasta la misma ATP que fue fijada en b) para la discontinuidad de
referencia. Se anota la diferencia de dB.

e) Sobre el diagrama y con la distancia de la discontinuidad real se traza una vertical hasta
interceptar a una horizontal que se obtiene de sumar o restar al punto de referencia los dB
hallados en d). Este nuevo punto as hallado representa a la discontinuidad real y la curva G que
lo intercepte nos dar el dimetro equivalente de un orificio de fondo plano que tendr una
respuesta semejante a la de la discontinuidad real.

Se darn a continuacin ejemplos de usos de los diagramas AVG:

Ejemplo 1- a : Diagrama particular.
Datos:- Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de longitud.
Palpador : Krautkr5amer B2 S-N Serie D
Discontinuidad de referencia: eco de fondo (250 mm)
Eco de fondo a 80 % ATP : 26 dB (equipo)
Eco de fondo : 11 dB(diagrama)
Eco del defecto se observa a : 200 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP :40 dB (equipo)
Diferencia de ganancia (en equipo) : 40-26= + 14 dB
e) - En el diagrama : 11 + 14 = 25 dB
Subo con 200 mm (profundidad del defecto) hasta 25 dB dando un defecto equivalente de 8 mm
de dimetro.

Ejemplo 1- b: Diagrama particular
Datos:
Pieza a ensayar: barra de acero forjado de 200 mm de dimetro y 250 mm de longitud.
Palpador : Krautkrmer B2 S-N Serie D
a) - Discontinuidad de referencia: orificio de = 8mm
- Profundidad : 500 mm
b) - Eco de referencia. a 80 % ATP : 36 dB (equipo)
c) - Eco de referencia : 40 dB(diagrama)
d) - Eco del defecto se observa a : 300 mm de profundidad
- Eco del defecto llevado a 80% ATP : 46 dB (equipo)
- Diferencia de ganancia (en equipo) : 46-36= + 10 dB
e) - En el diagrama : 40 + 10 = 50 dB
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- Subo con 300 mm (profundidad del defecto) hasta 50 dB dando un defecto equivalente
de 2.8 mm de dimetro (aprox.).

Nota: en el punto d) la diferencia de ganancia (en equipo) podra ser negativa si el eco del defecto
sobrepasara el 80% de la ATP . En este caso en el punto e) en el diagrama se deber restar ( y
no sumar) los dB al valor antes obtenido.



Fig. 84: Diagrama particular.

Ejemplo 2: Diagrama general ( o normalizado).
a) - Discontinuidad de referencia: eco de fondo (100 mm)
- Campo cercano del palpador utilizado : 10 mm
- Dimetro del palpador : 10 mm

10
10
100 tan
1

palpador del cercano campo
fondo de eco al cia dis
A

b) - Eco de fondo a 80 % ATP : 40 dB (equipo)
c) - Eco de fondo : 15 dB(diagrama)
d) - Eco del defecto se observa a : 50 mm de profundidad

5
10
50
2
A

- Eco del defecto llevado a 80% ATP : 54 dB (equipo)
- Diferencia de ganancia (en equipo) : 54-40 = + 14 dB
e) - En el diagrama : 15 + 14 = 29 dB
- Subo con 5 (profundidad del defecto) hasta 28 dB dando G = 0.3
El defecto equivalente ser:

mm equivale defecto
palpador
defecto
G 3 10 3 . 0



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Fig. 85: Diagrama general.




Mtodo DAC
Descripcin de reflectividades:

Para describir reflectores desconocidos de seccin menor que la del haz, generalmente se
compara la altura del eco que genera ste con el eco de un reflector artificial de forma y tamao
conocido ( eco de referencia).
Para relacionar las alturas de ambos ecos se puede utilizar diferentes formas que se explicarn
con el siguiente ejemplo:
1) Descripcin de alturas de ecos.: supongamos que se haya colocado el eco de fondo ( Pos. 1)
a 80% ATP y que a continuacin se haya localizado un defecto que con la misma
amplificacin alcanza tan solo el 40% ATP (Pos.2)














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Fig. 6.1. : Comparacin de reflectividades.

La diferencia de reflectividades se puede expresar de tres formas.

1.1 Relacin de alturas de ecos (H
2
/ H
1
)

5 , 0
2
1
% 80
% 40
1
2

H
H

En otras palabras el eco referido tiene la mitad de la altura del eco de referencia.

1.2 Diferencia entre alturas de ecos (H) en dB.

Segn una convencin se define la diferencia entre dos alturas de ecos expresada en dB por el
logaritmo de la relacin de altura entre ambos multiplicada por 20

1
2
log . 20
H
H
H
en este caso es:

dB H 6
80
40
log . 20
lo que indica que el eco comparado tiene una altura 6 dB menor () que la del eco de referencia.

1.3 Diferencia de amplificacin ( V) en dB
Para determinar la diferencia de amplificacin V, se coloca, mediante el mando de amplificacin,
el eco a evaluar a la misma altura de pantalla, como la del eco de referencia y se comparan los
valores.





defecto
Pared posterior
(reflector de
referencia)
1 2
Eco de referencia Eco del defecto
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Gk = Amplificacin del equipo correspondiente al eco de referencia
Gf= Amplificacin del equipo correspondiente al eco a comparar ( o del defecto) a la altura de
referencia
Vf:= Diferencia de amplificacin.

Vf:= Gf Gk

En este caso podra ser Gk = 16 dB y Gf = 22 dB por lo que Vf:= 22 16 = + 6 dB.

Lo que indica que la amplificacin del equipo ha tenido que ser aumentada (+) en 6 dB para que
el eco del defecto alcanzara la altura de referencia.
Como se ve, los valores de H y V se diferencian solamente en el signo:

H = V

2) Comparacin directa de reflectividades- Mtodo DAC ( Distancia Amplitud Correccin)

Este mtodo se basa en bloques de comparacin que deben tener una geometra y ser de un
material similar al objeto de ensayo. Estos bloques tienen reflectores artificiales de determinada
forma y tamao ( reflectores de comparacin).
De acuerdo a la geometra del objeto de ensayo se hallan determinadas en especificaciones y
Cdigos las medidas especficas de los bloques de comparacin. En la mayora de los casos se
utilizan agujeros transversales como reflectores de comparacin.

2.1 Procedimiento segn el mtodo DAC.
1) Ajuste el equipo en recorrido o dpa.
2) Construccin de la lnea de referencia
Para ello se generan ecos de los reflectores de comparacin sin variar la amplificacin del equipo,
uniendo los picos de los ecos. De esta forma se obtiene la lnea de referencia ( Fig. 6.2)

G
K
Referencia Comparacin
G
F
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Fig. 6.2. Curva DAC

A continuacin se anota el valor de amplificacin del equipo ( Gk) con la que se construy la lnea
de referencia.

3) Correccin de transferencia V
T

Se puede dar el caso que el objeto de ensayo tenga una superficie de peores condiciones que el
bloque de referencia o que su estructura sea diferente. Para compensar estos efectos se realiza
una correccin de transferencia.
Para ello hay que determinar previamente las prdidas de sensibilidad V
T
al pasar de un cuerpo
al otro.

Determinacin de V
T

Para ello se generan con dos palpadores del mismo tipo, las indicaciones de transmisin en V,
colocndolas a la misma altura de la pantalla ( FIG 6.3)












FIG 6.3 Determinacin de V
T

Se anotan las dos amplificaciones del equipo G
T1
y G
T2
a partir de las cuales se determina la
correccin de transferencia:
d
2 d
1
E
R E R
Bloque de
comparacin
Objeto de
G
T1
80%
ATP
G
T2
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V
T
= G
T1
G
T2
Condicin: d
1
= d
2

Esta diferencia contiene las prdidas ocasionadas por diferencias de superficie y en parte por
diferencia de atenuacin.

4) Amplificacin adicional V
T
(dB)
Puede darse el caso que se quiera registrar con una mayor sensibilidad (V) que la
correspondiente al reflector de comparacin.

5) Sensibilidad de registro G
R
(dB)
La sensibilidad de registro se obtiene de las suma:

G
R
= G
K
+ V
T
+ V

6) Descripcin de reflectores.
Todos los reflectores que llegan a la lnea de referencia o la sobrepasan con la amplificacin G
R

deben registrarse, determinndose la diferencia con respecto a la lnea de referencia H
F
en dB.
En este caso el valor H
F
tambin suele llamarse sobrepaso del lmite de registro.

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3.8. CONSIDERACIONES EN LA CONSTRUCCION DE PIEZAS
Cuando una pieza deber ser ensayada ultrasnicamente por ejemplo por seguridad se deber
tener en cuenta esto desde su proyecto.
Tanto en los materiales provistos como en la manufacturacin y procesos de maquinado los
posibles eventuales defectos y su posicionamiento pueden ser previamente estimados en la
mayora de los casos por lo que deberan ser consideradas reas adecuadas para el
acoplamiento geometras acsticas simples
para una evaluacin fcil de los resultados del ensayo. Ecos causados por la geometra de la
pieza o por conversin de ondas pueden ser evitados con geometras adecuadas. Sin embargo
hoy en da, estos requerimientos no son satisfactoriamente considerados haciendo
frecuentemente que el ensayo sea dificultoso, caro y hasta imposible de realizar.

3.9. PROCEDIMIENTOS GENERALES DEL ENSAYO ULTRASONICO
Las tcnicas de ensayo, las cuales se encuentran en especificaciones y reglas, son los resultados
obligados de los procedimientos que se mencionan ms adelante. En muchos casos ser
necesario un diagrama en escala.

Principio bsico: La respuesta a la direccin de
propagacin del sonido en el arreglo de ensayo, depende
de la existencia del defecto.


En muchos casos, el defecto en la pieza es conocido ( por ejemplo piezas reclamadas por haber
sufrido corte o quebradura) o pueden ser, al menos estimada (rea , forma , orientacin)
considerando las propiedades del material y los procesos sufridos.
La determinacin de la direccin necesaria del haz snico se debe efectuar desde la posicin del
defecto hacia la superficie; mientras que en un defecto volumtrico, principalmente aquellos
esfricos, hay libertad en la eleccin de la direccin, un reflector cilndrico podr ser hallado desde
todas las direcciones perpendiculares al eje del cilindro. Existen mayores restricciones para un
reflector plano el cual ser detectable solamente desde una direccin (y la opuesta respectiva)
perpendicular a su superficie o por la tcnica en tndem ( dos palpadores, uno emisor y el otro
receptor). Las direcciones del sonido dependen obligatoriamente de estas consideraciones.
La siguiente consideracin es que el rea de inters de la superficie sea accesible para un
adecuado acoplamiento. Si esto se da, la tcnica de ensayo puede ser directamente deducida:
segn el ngulo con la superficie, incidencia del sonido perpendicular u oblicua; se pueden usar
tcnicas por contacto directo o por inmersin, en caso de la tcnica de contacto y camino snico
corto, palpadores de doble cristal. Cuando se usa incidencia oblicua puede ser necesario calcular,
dependiendo del material, los ngulos por medio de la ley de refraccin ( ver 1.422, (11)). En la
tcnica de inmersin se debe tener cuidado de asegurarse que el tiempo de recorrido del sonido
en el lquido nunca ser menor que en la pieza para evitar ecos mltiples de interferencia en el
rango de ensayo (ver 3.5).
Cuando el rea determinada para el ensayo sea inaccesible, o cuando exista peligro de
indicaciones aparentes dentro del rango de ensayo, se buscarn otras tcnicas. Se debern
considerar las siguientes posibilidades:

1.Si el rea de la superficie es inaccesible, excepto que se puede llegar a la zona de inters por
otra direccin del sonido (zig-zag) , podrn ser aplicadas las reglas de reflexin para encontrar
una nueva direccin la cual gue a otra rea de la superficie.

2.Eleccin de una direccin diferente del sonido, bajo circunstancias de no perpendicularidad al
defecto. En caso de defectos cercanos a la superficie, se puede utilizar el efecto de borde como el
descrito en 2.3321, Fig. 40, en donde ambas direcciones delantera y trasera de la onda
ultrasnica casi coincide, lo cual permite el uso de un solo palpador.
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3.Si el efecto de bordes no puede ser utilizado, se podr tambin encontrar oblicuamente un
plano del defecto en el cual se reflejar segn las leyes de reflexin (1.422). La direccin
perpendicular al plano del defecto es, en este caso, la bisectriz del ngulo. Esta tcnica de ensayo
es conocida como " tcnica en tndem", y generalmente requiere dos palpadores separados, uno
emisor y el otro receptor . Las consideraciones ya mencionadas para la superficie deben ser, en
este caso, tenidas en cuenta para cada palpador.

4. En casos de defectos con una fuerte dispersin se puede usar un arreglo semejante al indicado
en 3 pero asimtrico. Esto es tambin llamada "tcnica delta" que consta de un palpador
transmisor y otro receptor separados.

Frecuentemente sern posibles varios arreglos de ensayo. En estos casos se recomienda seguir
preferentemente lo que se describe a continuacin:

1.Los defectos planos sern detectados perpendicularmente: tcnica de ensayo simple y fcil de
inspeccionar con un palpador.

2.Relacionado a la superficie de la parte bajo ensayo: en muchos casos el uso de palpadores
normales (vertical) es ms simple que el de los palpadores angulares, por lo que se los preferir.

3.En lo posible se usar un camino snico recto sin cambios de direccin dentro de la pieza.

4.Sern ms favorables las tcnicas de ensayos con un solo palpador por ser, generalmente, ms
simples que en tndem o delta.

5.Darn mayor seguridad y confianza los arreglos de ensayos en los cuales aparezca un eco de
referencia en el fondo del rango de ensayo ( por ejemplo pared posterior o eco de un borde ).

6.Se debern evitar los arreglos de ensayos que den indicaciones aparentes ( ver 3.32 y 3.62).

7.Por razones econmicas, el volumen de la pieza a ensayar ser el mayor posible al mismo
tiempo que el rea de inspeccin lo ms pequea que se pueda.

8.Cuando la orientacin del plano de un defecto es desconocido, el ensayo deber llevarse a
cabo desde distintos sitios de la superficie. Ejemplo: defectos planos en barras: inspeccionar
desde varias generatrices.

9.El mtodo de transmisin ser usado solamente en los casos cuando el mtodo de pulso-eco
falle.

Esta compilacin contiene los ms importantes puntos de vista para juzgar las soluciones a los
distintos problemas de ensayos ultrasnicos. Con una poca experiencia se reconocer fcilmente
la tcnica ptima de ensayo. Existe tambin un gran nmero se especificaciones, los que podrn
ser aplicados por analoga en piezas similares, y los que facilitarn la solucin de problemas.
Bibliografa


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Bibliografa:

Introduccin a los Mtodos de Ensayos No Destructivos.
Instituto Nacional de Tcnica Aero Espacial (Madrid).

Ultrasonic Testing
Dr. Ing. Volker Deutsch and Manfred Vogt
Ultrasonic testing of Materials
Krautkrmer

ASM Handbook Vol 17

Normas ASTM
Normas IRAM- CNEA CNEA
Cdigo ASME Seccin V

CNEA Y 500- 1 002