Informe sobre la capacitancia de dos placas paralelas.

Ricardo Reyes Garza Facultad de Ciencias Universidad Nacional Autnoma de Mxico Ciudad Universitaria 04510 Mxico, D.F Resumen En este experimento se busc comprobar experimentalmente que la capacitancia entre dos placas paralelas, de un material conductor, es inversamente proporcional a la distancia que las separa. Para facilitar el anlisis de los datos obtenidos a partir de las mediciones hechas a cinco pares diferentes de placas circulares, se linealizaron y sobre este ajuste se busc la relacin con la expresin terica que se tena. De las cinco rectas obtenidas, su ordenada al origen present un error de entre el 25% y el 80.7% con respecto a las ordenadas al origen esperadas, por lo que se considera que el experimento fall en su objetivo. El error proviene de la idealizacin en el modelo matemtico presentado que condujo a una falta de cercana con las mediciones hechas. 1. Introduccin Uno de los temas tratados en el informe pasado (Informe sobre el clculo de la permitividad en el vaco) que discutimos con gran amplitud fue la capacitancia, la contante de proporcionalidad entre la carga almacenada por un capacitor y la diferencia de potencial a la que est sometido. (1) Donde Q:= Carga almacenada. V:= Diferencia de potencial. C:= Capacitancia. En particular, para un capacitor constituido por dos placas de metal conductor, paralelas y separadas por una cierta distancia, la capacitancia est dada por la siguiente ecuacin: (2) Donde Cp:= capacitancia de las placas.

0:= Permitividad en el vaco.

A:= rea de las placas. d:= Distancia de separacin entre las placas. El propsito de nuestro experimento es confirmar la relacin entre la capacitancia y la distancia que separa las placas que muestra la ecuacin 2, es decir, que esta relacin est dada por una funcin de la forma

( )
Donde k es una constante.

(3)

2. Desarrollo experimental Primero colocamos dos discos metlicos, de mismo radio conocido, en una base tal que los pudiramos mantener paralelos uno respecto al otro y a una distancia de separacin que pudiramos controlar, para despus medir, mediante un capacitmetro, la capacitancia que posean; despus de realizar la medicin, modificamos la distancia que separaba a los discos y volvimos a medir la capacitancia para esta nueva separacin. Posteriormente cambiamos los discos por otro par de distinto radio y realizamos nuevamente la medicin de la capacitancia para distintas distancias de separacin.

Figura 1. Sistema utilizado para medir la capacitancia entre dos placas paralelas.

Para poder trabajar con los datos obtenidos con mayor facilidad, linealizaremos la ecuacin 2, de la que tenemos que

Cp = 0A/d
Esto ocurre si y slo si log(Cp) = log (0A/d) log(Cp) = log(0A) log (d) C=B - d Con C=Cp B=log (0A) d=log(d) As, esperamos nuestras mediciones, una vez hecha la linealizacin, se ajusten a una recta con pendiente m=-1 Y ordenada al origen B, a segn nuestra ecuacin 2.5. 3. Resultados Las grficas 1, 2, 3, 4 y 5 muestran la relacin entre la capacitancia medida para cada distancia establecida para los discos 1, 2, 3, 4 y 5 respectivamente. Por otro lado, las grficas 6, 7, 8, 9 y 10 muestran la misma relacin pero una vez realizada la linealizacin descrita anteriormente junto la (2.5)

ecuacin de la curva que se ajusta a esta relacin, debajo de stas grficas se encuentra la ecuacin linealizada esperada. reas de los discos: Disco 1: 0.04 m2 Disco 2: 0.03 m2 Disco 3: 0.02 m2 Disco 4: 0.01 m2 Disco 5: 0.008 m2

200 Capacitancia (pF)

Disco 1
150 100 50 0 0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 Distancia de separacin (m)

Grfica 1. Relacin de los datos obtenidos para el disco 1.

200 Capacitancia (nF) 150 100 50 0 0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 Distancia de separacin (m)
Grfica 2. Relacin de los datos obtenidos para el disco 2.

Disco 2

300 Capaciancia (nF) 250 200 150 100 50 0 0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 Distancia de separacin (m)
Grfica 3. Relacin de los datos obtenidos para el disco 3.

Disco 3

250 Capacitancia (nF) 200 150 100 50 0 0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 Distancia de separacin (m)
Grfica 4. Relacin de los datos obtenidos para el disco 4.

Disco 4

80 70 60 50 40 30 20 10 0 0 0.005 0.01

Capacitancia (nF)

Disco 5

0.015

0.02

0.025

Distancia de separacin (m)

Grfica 5. Relacin de los datos obtenidos para el disco 5.

Disco 1
3 Experimento Ajuste 2.5 2 1.5 C' = -1.0d' - 0.30 1 0.5 0 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5 0

Grfica 6. Linealizacin de los datos para el disco 1, se muestra tambin la ecuacin de la cuerva ajustada a los mismos. Ecuacin de la recta esperada:

Disco 2
2.5 Experimento Capacitancia Ajuste 2 1.5 C' = -0.95d' - 0.27 1 0.5 0 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5 0 Distancia de separacin
Grfica 7. Linealizacin de los datos para el disco 2, se muestra tambin la ecuacin de la cuerva ajustada a los mismos. Ecuacin de la recta esperada:

Disco 3
3 Experimento Ajuste C' = -1.0d' - 0.50 2.5 2 1.5 1 0.5 0 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 Distancia de separacin -0.5 0

Grfica 8. Linealizacin de los datos para el disco 3, se muestra tambin la ecuacin de la cuerva ajustada a los mismos. Ecuacin de la recta esperada:

Capacitancia

Disco 4
2.5 Experimento Ajuste C' = -0.99d' - 0.54 2 1.5 1 0.5 0 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5 0 Distancia de separacin
Grfica 9. Linealizacin de los datos para el disco 4, se muestra tambin la ecuacin de la cuerva ajustada a los mismos. Ecuacin de la recta esperada:

Capacitancia

Disco 5
2 Experimento Capacitancia Ajuste C' = -0.72d' - 0.22 0.8 0.4 0 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5 0 Distancia de separacin
Grfica 10. Linealizacin de los datos para el disco 5, se muestra tambin la ecuacin de la cuerva ajustada a los mismos. Ecuacin de la recta esperada:

1.6 1.2

4. Discusin Podemos ver en las ecuaciones de las rectas ajustadas a los datos (grficas 6,,10) que las pendientes de estas rectas son prcticamente las esperadas, para los discos 1 y 3 coinciden, para los discos 2 y 4 difieren en no ms de 5% y es slo en el quinto disco donde la diferencia es ms significativa, habiendo un error del 30%. Por otro lado, la ordenada al origen en todos los casos es muy diferente a lo esperado, siendo 25% el menor error (presente en el disco 3) y 80.7% el mayor error (registrado para el disco 5). El origen de este error proviene de tomar como vlida la ecuacin 2 como una representacin de la capacitancia de dos placas paralelas. Una aproximacin matemtica ms adecuada a esta propiedad est dada por la expresin [1]: [ ( ) ] (4)

La ecuacin 2 no es vlida pues considera que el campo elctrico entre las placas es uniforme, sin embargo esto es solo una aproximacin vlida para el centro de las placas, pues al irnos acercando a los bordes el campo se deforma. Hecha esta consideracin, lo natural sera que entre ms pequeas sean las placas mayor es la diferencia entre los resultados obtenidos y los esperados pues al haber menor distancia entre el centro y los bordes, debiera ser ms apreciable la deformidad del campo y eso es justamente lo que ocurre. El quinto par de discos presente el mayor error y son tambin los de menor rea. As pues, dado los grandes mrgenes de error presentes en los resultados, debemos decir que no se cumpli con el objetivo del experimento, sin embargo stos son acordes a las nuevas consideraciones presentadas, as que en realidad el experimento arroj resultados que podemos tomar como consistentes con una teora electromagntica ms profunda y cercana a la realidad que la propuesta en un inicio. 5. Conclusin Aunque el error presente en las pendientes, al menos en los primeros cuatro pares de discos, es despreciable al ser menor que el 5%, el error en la ordenada al origen que va del 25% al 80.7% es muy grande como para considerar adecuados nuestros resultados, por lo que el objetivo de la prctica no se cumpli. Estos errores provienen de la falta de sofisticacin en nuestras consideraciones iniciales sobre la capacitancia entre dos placas paralelas expresada en la ecuacin 2 de la introduccin. 6. Bibliografa [1] Naini, A, Green, M. Fringing fields in a parallel plate capacitor (Departamento de fsica, Universidad de Washington, Seattle, Washington, 1977) 2. Giancoli, D, Fsica Principios con aplicaciones, 4 Ed. (Prentice Hall, 1997)