CURSO DE DIFRACCIN DE RAYOS-X DE MUESTRAS

POLICRISTALINAS
Una introduccin a la Cristalografa, la Difraccin de Rayos-X de
muestras policristalinas y su aplicacin al Anlisis Cualitativo y
Cuantitativo
Temario general del curso:
1. Estructura y clasificacin de los Cristales.
Concepto de cristal
Operaciones y elementos de simetra
Celda Unidad
Redes bi y tridimensionales
Sistemas cristalinos
Grupos Puntuales
Grupos Espaciales
Posiciones atmicas (generales y especiales)
Representacin de grupos espaciales de baja simetra
Manejo de las Tablas Internacionales de Cristalografa.

2. Difraccin de rayos-X.
Difraccin de los rayos-X por un cristal
ndices de Miller
Ley de Bragg
Red Directa y red recproca
Esfera de Ewald y esfera limitante
Mtodos de difraccin de rayos-X
Difraccin por un tomo
Factor de dispersin atmica y Factor de estructura. Ausencias sistemticas.
Factor de polarizacin y multiplicidad
Factor de Temperatura
Orientacin preferencial y tamao de partcula

3. Mtodo de Polvo.
3.1 Mdulo Terico
Difractmetro: ventajas y aplicabilidad
Medicin y Procesamiento de datos: (uso de programas especializados)
Alisamiento del perfil de difraccin.
Eliminacin background.
Eliminacin K
2.

Localizacin de los picos.

4. Anlisis Cualitativo de Fases Cristalinas
4.1 Bases de Datos Cristalogrficas
PDF-2/PDF-4 del International Centre for Diffraction Data
(ICDD).
International Crystal Structure Database (ICSD)
4.2 Mdulo Experimental
Mtodo de Hanawalt:
Mtodo Manual
Mtodo Automtico: Uso de los programas de Bsqueda por comparacin
SEARCH MATCH

4.3 Mdulo Experimental
Anlisis cualitativo de materiales minerales, cermicos, metales, aleaciones..etc.
Uso de programas especializados.
5. ANLISIS CUANTITATIVO DE FASES CRISTALINAS
5.1 EL MTODO DE RIETVELD
5.2 MDULO EXPERIMENTAL
Anlisis cuantitativo mediante el mtodo de Rietveld. Uso de programas
especializados.
TIEMPO TOTAL DEL CURSO 48 HORAS:

COSTO TOTAL: $8000.000.oo ( OCHO MILLONES DE PESOS)

Bibliografa recomendada
Introduction to X-ray powder diffractometry. Ron Jenkins and Robert L.
Sneyder. John Wiley & Sons
Fundamental of powder diffraction and structural characterization of
materials. Vitalij K. Pecharsky and Peter Y. Zavalij. Springer Science.
X-ray Structure Determination. A practical guide. Gorge H. Stout and Lyle H.
Jensen. A Wiley-Interscience Publication.
Structure Determination by X-Ray Crystallography. M. F. C. Ladd and R. A.
Palmer. Plenum Press, New York and London.
Powder diffraction. Theory and Practice. Edited by R. E. Dinneber and S. J. L.
Billinge. RSC Publishing.


Cordialmente,





JOS ANTONIO HENAO MARTNEZ
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Cel: 315-8249350