SISTEMA EXPERIMENTAL EN MEDIO LIBRE PARA

CARACTERIZACIN ELECTROMAGNTICA DE
MEDIOS QUIRALES ARTIFICIALES
Jos Margineda Gregorio J. Molina-Cuberos Mara Jos Nuez Marta Rojo
Departamento de Fsica Departamento de Fsica Departamento de Fsica Departamento de Fsica...
Universidad de Murcia Universidad de Murcia Universidad de Murcia Universidad de Murcia
jmargi@um.es gregomc@um.es maripepa@um.es mrojo@um.es
Abstract- A free-wave experimental system for chiral
material measurements is presented for X- and Ku-band
operation. Normal and oblique incidence measurements
are possible. The incident wave is linearly polarised and
focused by an ellipsoidal mirror. S
11
parameter for co-
polar polarisation and S
21
for any polarisation can be
made. From them, the ellipticity and rotation angle of
the elliptically polarised transmitted wave and material
parameters (permitivitty, permeability and chirality) can
be deduced. The ellipticity and rotation angle can also be
directly measured. Preparation technique of chiral
composite is presented and first measurements of
rotation angle are presented.
I. INTRODUCCIN
En la ltima dcada ha surgido gran inters en los
materiales quirales artificiales debido a sus potenciales
aplicaciones a frecuencias de microondas: antirreflectantes,
giradores, circuladores, etc. Una peculiaridad de estos
materiales es la de girar y cambiar la polarizacin de una
onda electromagntica linealmente polarizada debido a un
acoplamiento elctrico-magntico intrnseco. Los medios
quirales forman parte de una clase ms general de materiales
denominados bi-istropos, cuyas ecuaciones constitutivas
pueden escribirse de la forma [1]:
H E D
r r r
+ = (1a)
H E B
r r r
+ = (1b)
donde y son, respectivamente las usuales permitividad
elctrica y permitividad magntica. El acoplamiento
elctrico-magntico intrnseco al material viene representado
por los parmetros y , que suelen escribirse de la forma
0 0
) ( j = (2a)
0 0
) ( j + = (2b)
El factor es el parmetro de Tellegen y el
parmetro de quiralidad o de Pasteur. Ambos parmetros,
junto con la permitividad y permeabilidad, caracterizan el
comportamiento electromagntico del material. Para todo
material bi-istropo los cuatro son escalares. Son tensores
para materiales bi-anistropos y son complejos para
materiales con prdidas.
Este comportamiento quiral ya fue estudiado para
materiales naturales a frecuencias pticas [2] por Biot,
Pasteur y otros a principios del siglo XIX. Hasta la fecha, no
se han encontrado materiales naturales que lo presenten a
frecuencias de microondas por lo que es necesario
fabricarlos artificialmente mediante la distribucin uniforme
de elementos quirales (usualmente hlices) en un material
homogneo.
El estudio terico del comportamiento de este tipo de
materiales en distintas situaciones ha sido ampliamente
tratado [1], pero los estudios experimentales resultan menos
usuales ya que no existe materiales bi-istropos comerciales.
En este trabajo presentamos el sistema experimental
construido en nuestro laboratorio para la caracterizacin de
materiales quirales, que hemos fabricado con la ayuda de la
empresa Inasmet, en las bandas X y Ku (8-18 GHz)
utilizando la tcnica en medio libre. Tambin presentamos
las primeras medidas donde se aprecia la rotacin de la
polarizacin ligada a la quiralidad del material.
II. MATERIALES
Dentro de los materiales bi-istropos se distinguen entre
materiales quirales o Pasteur cuando =0, 0 y materiales
Tellegen cuando 0, =0. Existe cierta controversia sobre
la existencia real de estos ltimos, pero s se sabe como
fabricar quirales artificiales. La tcnica usual de fabricacin
consiste en distribuir uniformemente pequeas inclusiones
quirales en una matriz de material dielctrico homogneo. Se
han utilizado distintos tipos de inclusiones [3], pero la ms
usual es la hlice. El tamao de la hlice determina la banda
de frecuencia donde aparecen las propiedades caractersticas
de los quirales.
Las muestras disponibles para las medidas han sido
fabricadas por Inasmet segn nuestras indicaciones. La
matriz est constituida por la resina epoxy EPOFIX (de
Struers). Las hlices utilizadas son de acero inoxidable y
tienen 3-4 vueltas y las dimensiones siguientes: 1.2 mm de
dimetro, 2.0 mm de longitud y 0,6 mm de paso. Para
conseguir una homogeneizacin ptima, la distribucin se ha
realizado alternando capas con hlices y sin hlices y
procurando que el eje de las hlices sea paralelo a las caras
de las placas. Se han fabricado tres muestras en forma de
placas circulares de 30 cm de dimetro y 0.5 cm de espesor
VOLVER
con 25, 50 y 100 hlices/cm
3
(Figura 1); en cada una de ellas
hay dos capas con hlices alternando con tres sin ellas. Una
cuarta con 50 hlices/cm
3
y 1cm de espesor, con tres capas
con hlices y cuatro sin ellas y finalmente una quinta
muestra sin inclusiones. En la Figura 1 se puede ver, adems
de una visin general de las muestras, una ampliacin,
donde se puede observar las hlices.
III. SISTEMA EXPERIMENTAL
El sistema experimental propuesto est basado en el
desarrollado anteriormente en nuestro laboratorio para la
medida de permitividad y permeabilidad en banda X [4]. En
la Figura 2, puede verse un esquema del sistema
experimental completo. Para banda X, utiliza un espejo
elipsoidal de 30x16 cm para focalizar el haz y evitar as
efectos de difraccin en bordes. La antena emisora est
situada en un foco del espejo, el cual produce un haz
focalizado de unos 6 cm de dimetro en el otro foco del
espejo, donde se sita la muestra. La antena receptora puede
girar alrededor de su eje longitudinal, permitiendo medidas
en cualquier polarizacin de la onda transmitida por la
muestra. Los detalles del montaje pueden verse en la Figura
3, donde se muestra la clula de medida.
Para banda Ku, se utiliza un sistema similar con el
mismo portamuestras pero con antenas y acopladores
estndar a esta banda y un espejo elipsoidal de 15x8 cm.
Como alternativa al analizador de redes comercial indicado
en la Figura 2, hemos desarrollado un analizador multipuerta
para esta misma funcin [5]
La onda incidente en la muestra procedente de la
reflexin en el espejo elipsoidal es un haz gaussiano con
polarizacin lineal. Lynch y Simkin [6] demostraron que el
tratamiento de la transmisin a travs de las muestras se
puede hacer con la suposicin de onda plana sin cometer
errores excesivos.
IV. MEDIDAS
El sistema experimental descrito permite la medida de los
parmetros S
11
y S
21
para onda incidente linealmente
polarizada y para cualquier ngulo de incidencia, aunque
aparecen efectos de bordes a partir de un cierto valor que
depende del tamao de la muestra. Para incidencia oblicua
puede disponerse con polarizacin paralela o normal al
plano de incidencia. Los materiales quirales producen un
cambio de polarizacin en la onda transmitida de forma que
para polarizacin incidente lineal, la onda transmitida
Fig. 1. Muestras de materiales quirales
Fig. 2. Esquema del sistema experimental.
Fig. 3. Detalle de la clula de medida.
presenta polarizacin elptica con un giro respecto a la
direccin de la incidente, que depende de las caractersticas
del material. El sistema permite la medida del parmetro S
21
para cualquier polarizacin de la onda transmitida. De estas
medidas es posible obtener la elipticidad y el ngulo de
rotacin de la polarizacin [7] y los parmetros
caractersticos , y [8].
Disponiendo la muestra pegada a una lmina conductora,
el sistema permite tambin realizar medidas de reflectancia,
parmetro de gran inters, dado que depende de las
caractersticas de las hlices utilizadas [9]
El ngulo de rotacin de la polarizacin tambin puede
medirse directamente observando el mnimo (o mximo) de
transmisin por la muestra. Los resultados obtenidos con
esta tcnica directa para las muestras disponibles se
muestran en la Figura 4. Como se puede observar el ngulo
aumenta con la densidad de inclusiones y con el espesor de
la muestra. La relacin entre el ngulo de rotacin y la
concentracin de inclusiones es lineal, como era de espera,
al menos para concentraciones no muy altas. No est tan
claro que la relacin con el espesor sea tambin lineal. Sera
as si la distribucin de las inclusiones fuese totalmente
uniforme, pero la tcnica de capas utilizada en la fabricacin
afecta de forma no lineal.
Las medidas de los parmetros S se presentarn en el
Congreso.
V. CONCLUSIONES
En este trabajo se presenta el sistema experimental
desarrollado para la medida y caracterizacin de materiales
quirales en medio libre, as como su fabricacin a partir de
una resina dielctrica con inclusiones quirales en forma de
hlice. El sistema permite medidas con onda incidente
linealmente polarizada en incidencia normal y oblicua de los
siguientes parmetros: medida directa del ngulo de rotacin
de la polarizacin y la elipticidad de la onda transmitida a
travs de un material quiral; medida de la reflectancia de una
lmina conductora recubierta por material quiral; medida del
parmetro S
11
para la misma polarizacin que la onda incidente y
del parmetro S
21
para cualquier polarizacin. De estos ltimos
puede calcularse tambin el ngulo de rotacin, la elipticidad y los
parmetros caractersticos del material. Se presentan resultados
para incidencia normal
AGRADECIMIENTOS
Este trabajo ha sido realizado dentro del proyecto
TIC2000-16121-C03-03.
REFERENCIAS
[1] I.V. Lindell , A.H. Shivola, S.A. Tretyakov, A.J. Viitanen,
Electromagnetic Waves in Chiral and Bi-isotropic Media, Artech
House, 1994
[2] J. Applequist, Optical Activity: Biots Bequest, American Scientist,
vol. 75, n 1, pp 58-68, 1987.
[3] J.H. Cloete, M. Bingle, D.B. Davidson, Scattering and Absorption by
Thin Metal Wires in Rectangular Waveguide- Chiral Cranks versus
Non-Chiral Staples Proc. 8
th
Int. Conf. on Electromagnetics of
Complex Media, Lisboa, 27-29 Sept 2000, pp353-358.
[4] J. Muoz, M. Rojo, A. Parreo, J. Margineda, Automatic
Measurement of Permittivity and Permeability at Microwave
Frequencies Using Normal and Oblique Free-Wave Incidence with
Focused Beam, IEEE Trans on Instrum. and Meas., vol. IM-47, n 4,
pp. 886-892, 1998.
[5] J. Margineda, O. Varela, Reflectmetros 5-puertas. Comparacin entre
distintos sistemas, XVI Simp. Nacional de URSI, pp 277-278, U.E.
CEES, Madrid, 19-21 Sept 2001
[6] A.C. Lynch, D. Simkin, Measurement of permeability and permitivitty
of ferrites, Meas. Sci. Technol. vol. 1, pp 1162-1167, 1990
[7] R. Ro, V.V. Varadan, V.K. Varadan, Electromagnetic activity and
absorption in microwave composites, IEE Proc.-H, vol. 139, n 5, pp.
441-448, Oct. 1992
[8] V.V. Varadan, R. Ro, V.K. Varadan, Measurement of the
electromagnetic properties of chiral composite materials in the 8-40
GHz range, Radio Science, vol. 29, n 1, pp 9-23, 1994.
[9] G.C. Sun, Kai-lun Yao, Zu-Li Liu, Influence of Helix Parameters on
the reflectance of Microwave by Chiral Composites IEEE Tans on
Electromag. Comp., vol. EMC-41, n 4, pp350-353, 1999.
Fig. 4. Rotacin de la polarizacin.