You are on page 1of 94

UNIVERSIDAD AUTNOMA DE BARCELONA

DE
DE
DE LA
ELECTROMAGNTICAS

TUAB
5269

Universitat Autnoma de Barcelona


Servei de Biblioteques

1500465980

David Jimnez Jimnez

DE

UNIVERSIDAD AUTNOMA DE BARCELONA

DISEO DE DISPOSITIVOS OPTOELECTRNICOS


INTEGRADOS; MTODOS NUMRICOS DE
SIMULACIN DE LA PROPAGACIN DE ONDAS
ELECTROMAGNTICAS
David Jimnez Jimnez

Departament d'Enginyeria Electrnica


Edifici Cn
08193 Bellaterra (Barcelona). Spain
Tl.: 93 581 31 83
Fax: 93 581 1350
E-mail: d.eng.eleclronica@uab.es

Universitat Autnoma de Barcelona

El Dr. Francesc Prez Murano, profesor titular del Departamento de Ingeniera


Electrnica de la Universidad Autnoma de Barcelona,
CERTIFICA
que la tesis "Diseo de Dispositivos Optoelectrnicos Integrados: Mtodos Numricos
de Simulacin de la Propagacin de Ondas Electromagnticas", presentada por David
Jimnez Jimnez, para optar al grado de Doctor por la Universidad Autnoma de
Barcelona, ha sido realizada bajo su direccin.

Dr. Francesc Prez Murano

Bellaterra, marzo de 2000

ndice

Captulo 1. Introduccin
1.
2.
3.
4.

Optoelectrnica integrada
Tecnologa optoelectrnica
Mtodos numricos en optoelectrnica integrada
Sntesis y organizacin de la tesis

1
~3
"3
4

Captulo 2. Propagacin de la luz en guas de onda _


1. Introduccin
2. Teora ptica geomtrica de la gua slab
A. Refraccin y reflexin
B. Modos de la gua slab
3. Teora electromagntica de las guas dielctricas
A. Ecuaciones de Maxwell
B. Ecuaciones de onda vectoriales del campo electromagntico
C. Ecuaciones de onda escalares
D. Definicin de modo de una gua de onda
E. Modos transversales elctricos guiados en la gua slab
4. Conclusiones

Captulo 3. Solucin numrica de la ecuacin de onda: anlisis transitorio


1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Introduccin
Ecuacin de onda paraxial
Soluciones modales
Transformacin entre las soluciones modales de la ecuacin de Helmholtz y la
ecuacin de onda paraxial en una gua slab
Solucin numrica de la ecuacin de onda paraxial 2-D
Consideraciones en el espacio 3-D
El Mtodo del ndice Efectivo
Conclusiones

6
7
7

12
13
' 14
14
' 15
' 15
18

19

_23
_23
_24
_25
_26
27

INDICE
Captulo 4. Condiciones de frontera para la solucin numrica de la ecuacin de
onda
1. Introduccin
2. Mtodo de Brenger
A. Absorbentes de Brenger
B. Coeficiente de reflexin terico
C. Coeficiente de reflexin numrico
D. Transformacin de la ecuacin de onda en el absorbente de Brenger
E. Aproximacin en diferencias finitas de la ecuacin de onda transformada y optimizacin del
absorbente de Brenger
3. Operadores de Higdon
A. Ecuaciones de Onda Unidireccionales y operadores de Higdon
B. Modificacin de los operadores de Higdon en la formulacin paraxial
C. Coeficiente de reflexin terico
D. Aproximacin en diferencias finitas del operador de Higdon
E. Coeficiente de reflexin numrico
4. Mtodo de los Operadores Complementarios
A. Teora de los operadores complementarios
B. Operadores de Higdon complementarios en el espacio continuo y discreto
5. Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido
A. Teora del Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido y aplicacin al 2D-BPM
6. Experimentos numricos
A. Propagacin de un campo de Gauss en el vaco
B. Propagacin de un campo de Gauss en una gua slab
C. Discusin

Captulo 5: Diseo de un sensor interferometrico en tecnologa de silicio para la


medida de ndices de refraccin
1.
2.
3.
4.

Introduccin
Anlisis modal de guas de onda con el Mtodo de las Diferencias Finitas
La estructura ARROW
Diseo del interfermetro
A.
B.
C.
D,
E.

Dimensiones de la estructura ARROW


Sensibilidad del interfermetro
Dimensin del xido de proteccin en la gua de referencia
Longitud de la gua sensora y funcin de transferencia del interfermetro
Simulaciones BPM del sensor

5. Conclusiones
Conclusiones
Agradecimientos
Bibliografa

28
28
30
30
31
32
35
36
37
37
40
41
42
43
44
44
45
47
47
49
49
55
61

62
62
63
67
72
73
73
75
75
76
80

81
84
55

Captulo 1

Introduccin

l. OPTOELECTRNICA INTEGRADA
El guiado de la luz mediante materiales dielctricos, demostrado experimentalmente
en la dcada de los sesenta, estimul el crecimiento de una nueva clase de componentes
pasivos y activos, que guan la luz utilizando capas finas depositadas sobre un sustrato.
Debido a sus pequeas dimensiones y bajo consumo se proyect que estos componentes
podran reemplazar a los circuitos electrnicos integrados. Adicionalmente, los
componentes pticos ofreceran las ventajas de presentar mayor inmunidad a las
interferencias electromagnticas y un mayor ancho de banda. En este contexto surgi el
concepto de ptica integrada, introducido en 1969 por Miller [Mrl]. Un sistema ptico
integrado es una combinacin de componentes individuales, que generalmente incluye:
fuentes para generar las seales pticas, guas de onda para conducir estas seales,
acopladores para conectar los diversos componentes, detectores para capturar las
seales pticas, y elementos de control (moduladores, interruptores, etc.) para modificar
estas seales. Los tres primeros componentes (fuente, gua de onda y acoplador) se
pueden realizar utilizando exclusivamente elementos pticos. Sin embargo, el detector y
los componentes de control son ms fcilmente realizables utilizando seales de entrada
elctricas o acsticas de baja frecuencia en combinacin con los efectos electro-ptico,
foto-elctrico, acusto-ptico, etc. Por tanto, se entiende que la ptica integrada tambin
comprende la utilizacin de componentes que usan entradas elctricas o acsticas con
propsitos de control. Por otra parte, la utilizacin de dispositivos electrnicos en
combinacin con dispositivos pticos aade funcionalidad a los circuitos pticos
integrados. Esta tecnologa recibe el nombre de optoelectrnica integrada,
El desarrollo de la optoelectrnica integrada fue estimulado por las necesidades
tecnolgicas en el rea de las telecomunicaciones. En gran medida, este desarrollo se
debe a la disponibilidad de fibras pticas con baja atenuacin y baja dispersin, que
permitieron el diseo de sistemas de comunicacin de gran capacidad de transmisin.
Los primeros sistemas de comunicacin utilizaron fibras pticas multimodo a la
longitud de onda de 0.85 um. Posteriormente se desarrollaron sistemas de comunicacin
mediante fibra ptica monomodo a la longitud de onda de 1.3 Jim, para la cual la fibra
ptica presenta su mnima dispersin, y sistemas de comunicacin de muy baja
atenuacin utilizando la longitud de onda de 1.55 jam.
Los transmisores y receptores pticos se cuentan entre los primeros dispositivos que
utilizaron la tecnologa ptica integrada. Tambin se demostraron una gran variedad de
circuitos pticos integrados, que realizan diversas funciones, como por ejemplo,
interconexionado ptico, conmutacin, multiplexacin, modulacin, demodulacin y

INTRODUCCIN

conversin analgica-digital. Paralelamente, la tecnologa optoelectrnica integrada se


ha ido introduciendo en muchas reas. Citemos, por ejemplo, las siguientes:
comunicaciones; medicina; computacin; sensores de magnitudes fsicas, qumicas o
biolgicas; procesado de seales pticas; almacenamiento ptico de informacin;
control ptico de sistemas.
El elemento bsico para guiar el campo electromagntico en los dispositivos pticos
integrados es la gua de onda. Para conseguir el confinamiento de la luz en dos
dimensiones espaciales se utilizan estructuras como las mostradas en la figura 1.1. Entre
los diferentes tipos de guas de onda cabe destacar la gua ARROW (Antiresonant
Reflecting Optical Waveguide), debido a su compatibilidad con la tecnologa de
procesado del silicio [DKB, BK1] (figura 1.2). Utilizando esta estructura se han
propuesto muchas aplicaciones prcticas; e.g., diodos lser [MBZ], acopladores
direccionales [MTW, BN1], interconexionado ptico con fotodetectores [BK2, MCI,
BN2], filtros en longitud de onda [BKW, TDD, MH1, DTT, GBK], moduladores
[MTL], polarizadores [TOD] y sensores de diversas magnitudes fsicas y qumicas
[JBM, GVS, PLJ, VNH, RW1].
En la siguiente seccin se revisan los materiales empleados actualmente en la
fabricacin de dispositivos pticos integrados.

d) I

"

-I

e) i~

F) t

Figura 1.1. Ilustracin de las secciones transversales de varias guas de onda, utilizadas en ptica
integrada, para proporcionar el confinamiento de la luz en dos dimensiones.

L
Ncleo

Ncleo

(SiO a >
enterrada
2 capa enterrada

2 copa enterrad

Sustrato
(S)

Sustrato

1 a capa enterrada

(a)

(b)

Figura 1.2. Ilustracin de la seccin transversal de la estructura ARROW usando la tecnologa de


procesado del silicio. Tambin se muestra el perfil de ndice de refraccin. La luz se confna en una
dimensin en la estructura (a) y en dos dimensiones en la estructura (b).

CAPTULO 1

2. TECNOLOGA OPTOELECTRNICA
Los principales materiales utilizados para fabricar los dispositivos pticos integrados
son (1) el LiNbB, que es un cristal ferroelctrico, con un elevado coeficiente electroptico y acusto-ptico; (2) los sistemas de materiales basados en los elementos
qumicos I-V (InGaAs/InP y GaAlAs/GaAs), que corresponden a semiconductores
directos, y son los nicos que permiten la integracin monoltica de lseres, fotodiodos
y componentes pticos pasivos; (3) los polmeros; (4) los materiales basados en el
silicio. Durante mucho tiempo pareci que la tecnologa III-V se impondra a sus
competidores, i.e., la tecnologa del silicio, polmeros y LiNbOs. Sin embargo, la
complejidad de fabricacin, los problemas de rendimiento y coste de esta tecnologa, as
como la baja eficiencia de acoplamiento fibra-chip, y las prdidas elevadas de las guas
de onda, mantienen abierta la competencia entre las diferentes tecnologas.
Actualmente hay un gran inters en el uso del silicio como material base de la ptica
integrada, debido principalmente a que posibilita la compatibilidad con la tecnologa de
fabricacin de circuitos electrnicos integrados. Otras caractersticas importantes son: el
buen comportamiento mecnico del silicio, su disponibilidad, el bajo coste de las
obleas, y la posibilidad de obtener un acoplamiento eficiente entre las fibras pticas y
las guas de onda usando esta tecnologa. La principal limitacin actual de la tecnologa
ptica integrada basada en el silicio es la falta de dispositivos emisores de luz de silicio
(LEDs y lseres) eficientes [Sil]. Sin embargo, se estn realizando numerosos esfuerzos
para superar esta limitacin, entre los que cabe destacar los encaminados a mejorar la
eficiencia de luminiscencia a temperatura ambiente del silicio dopado con erbio [CFP,
FK1].

3. MTODOS NUMRICOS EN OPTOELECTRNICA INTEGRADA


El anlisis de las guas de onda requiere la solucin de ecuaciones diferenciales en
derivadas parciales. Debido a la necesidad de realizar predicciones cuantitativas del
comportamiento de los dispositivos durante el proceso de diseo, se requieren mtodos
numricos para solucionar estas ecuaciones diferenciales, ya que, generalmente, la
solucin analtica es difcil de obtener.
En los inicios de la ptica integrada se utilizaron mtodos aproximados como el
Mtodo del ndice Efectivo (EIM) o el Mtodo de Marcatili para analizar el
comportamiento de las guas de onda. Uno de los acontecimientos ms espectaculares
en el campo terico fue la aplicacin del Beam Propagation Method (BPM), por Feit y
Fleck, en 1978, a problemas de ptica integrada [FF1], Con la creciente disponibilidad
de computadores, se desarrollaron algoritmos de propsito general. Cabe destacar los
algoritmos numricos para calcular los modos de las guas de onda, basados en el
Mtodo de las Diferencias Finitas (FDM) o en el Mtodo de los Elementos Finitos
(FEM). Estos esfuerzos estaban enfocados al desarrollo de circuitos pticos integrados
de gran complejidad. Paralelamente, se han desarrollado variantes del BPM clsico, que
mejoran la precisin de clculo y la eficiencia computacional. En la evolucin del BPM,
han jugado un papel esencial las tcnicas para terminar la regin de clculo. Para
obtener predicciones cuantitativas precisas, se debe asegurar una adecuada absorcin de
las ondas radiadas en la frontera de la regin de clculo. Citemos, a modo de ejemplo,
las tcnicas que se basan en imponer condiciones de frontera, en forma de ecuaciones
diferenciales, compatibles con el flujo de radiacin hacia el exterior del dominio de

INTRODUCCIN
clculo, o las que introducen materiales artificiales en las fronteras de la regin de
clculo para reducir la amplitud de las ondas radiadas.

4. SNTESIS Y ORGANIZACIN DE LA TESIS


Se finaliza esta introduccin resumiendo el contenido de la tesis. La tesis se centra en
el desarrollo de mtodos numricos para simular la propagacin del campo
electromagntico en guas de onda, haciendo especial nfasis en la investigacin de
condiciones de frontera que permitan el flujo de las ondas radiadas hacia el exterior de
la regin de clculo. Concretamente se han hecho las siguientes aportaciones originales:
en el mtodo de Brenger se ha adaptado la formulacin al BPM, y se ha demostrado su
eficiencia para absorber las ondas radiadas en problemas de guas de onda; en la teora
de los operadores de Higdon se han derivado las propiedades de reflexin de estos
operadores en el espacio continuo y discreto, y se ha propuesto la modificacin de los
operadores cuando se utiliza la formulacin paraxial del BPM; esta modificacin se
basa en la transformacin del espectro de las ondas radiadas de la ecuacin de
Helmholtz a la aproximacin paraxial; en el Mtodo de los Operadores
Complementarios se ha demostrado la complementariedad de los operadores de Higdon
en el espacio continuo y discreto, y se ha comprobado su eficacia para eliminar las
reflexiones artificiales (de orden impar) que aparecen en la frontera de la regin de
clculo; se ha propuesto el Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido, que
permite la cancelacin adicional de las reflexiones de orden dos en determinados
problemas de propagacin. Para las condiciones de frontera anteriores se presenta un
estudio comparativo, introduciendo varios experimentos numricos, a propsito de la
precisin de la solucin numrica y de la eficiencia computacional.
Con el objetivo de mostrar la utilizacin prctica de los mtodos numricos en el
proceso de diseo de un dispositivo, se propone el diseo de un sensor ptico integrado,
en tecnologa de silicio, para la medida de ndices de refraccin. El sensor se basa en la
gua ARROW, y utiliza la interferometra como tcnica de deteccin. Como novedad
principal se introduce una capa de nitruro de silicio sobre la estructura ARROW, que
permite un aumento notable de la sensibilidad.
La tesis se ha organizado en los siguientes cinco captulos:
Captulo 2, "Propagacin de la luz en guas de onda": en este captulo se presentan
los fundamentos tericos de la propagacin de la luz en guas de onda; en primer lugar
utilizando el modelo ptico geomtrico, que presenta de forma sencilla la propagacin
de la luz en forma de rayos pticos, y, posteriormente, utilizando la teora
electromagntica. Partiendo de las ecuaciones de Maxwell se derivan las ecuaciones de
onda vectoriales y escalares, y se obtienen los modos de la gua slab.
* Captulo 3, "Solucin numrica de la ecuacin de onda: anlisis transitorio": en
este captulo se introduce la aproximacin paraxial de la ecuacin de onda escalar,
comentando las suposiciones bsicas y las limitaciones que presenta. Se discute la
transformacin de las soluciones modales de la ecuacin de onda en soluciones modales
de la aproximacin paraxial, y la implementacin numrica del 2D-BPM basado en la
ecuacin paraxial. Finalmente se hacen diversas consideraciones prcticas para simular
estructuras pticas tridimensionales, introduciendo el Mtodo del ndice Efectivo.
Captulo 4, "Condiciones de frontera para la solucin numrica de la ecuacin de
onda": para obtener resultados precisos en las simulaciones de dispositivos pticos

CAPTULO 1

integrados, mediante el BPM, se precisan tcnicas que reduzcan las reflexiones


artificiales que aparecen en la frontera de la regin de clculo. En este captulo se
discuten las siguientes tcnicas de absorcin: los absorbentes de Brenger, las
condiciones de frontera de Higdon, el Mtodo de los Operadores Complementarios, y el
Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido. La presentacin de estas
tcnicas empieza por describir la formulacin en el espacio continuo y estudiar el
comportamiento que presentan respecto a la reflexin de las ondas planas. Despus se
transforma la formulacin al espacio discreto, adaptndola al 2D-BPM. Finalmente, se
introducen varios experimentos numricos, de los que se dispone de solucin analtica
exacta. En este apartado se realiza un estudio comparativo de las tcnicas descritas,
evaluando los siguientes parmetros: el coeficiente de reflexin, el error de la solucin
numrica, la disipacin/ganancia numrica, el tiempo de clculo y la memoria requerida
para realizar la simulacin.
9 Captulo 5, "Diseo de un sensor interferomtrico en tecnologa de silicio para la
medida de ndices de refraccin": en este captulo se presenta el diseo de un sensor
ptico integrado, en tecnologa de silicio, para la medida de ndices de refraccin entre
1.33 (correspondiente al ndice del agua) y 1.39. El sensor est basado en la estructura
ARROW y en el interfermetro de Mach-Zehnder. Para realizar el diseo del sensor se
utiliza el Mtodo de las Diferencias Finitas, que es un mtodo de anlisis modal, el cual
se explica en la primera parte del captulo. Tambin se revisa la teora de la gua
ARROW, presentando el ndice efectivo, la atenuacin y la distribucin de campo de
los modos ARROW. Un aspecto importante es que la sensibilidad del interfermetro
puede incrementarse notablemente introduciendo una capa de ndice de refraccin alto
sobre la estructura ARROW. Para concluir, se presentan simulaciones BPM que ilustran
el comportamiento del sensor.

Captulo 2

Propagacin de la luz en guas de onda

l. INTRODUCCIN
Las guas de onda pticas son estructuras que confinan y guan la luz en los circuitos
optoelectrnicos integrados. La gua dielctrica ms simple es la gua slab (figura 2.1), y
es un vehculo excelente para estudiar los efectos fsicos que aparecen en estructuras
pticas ms complejas. Adems, presenta un considerable inters prctico. El nombre de
gua dielctrica proviene de que el efecto de guiado se debe a la combinacin de
diferentes materiales dielctricos, en contraste con las guas de onda metlicas utilizadas
para la transmisin de microondas. En este tipo de gua, un material de ndice de
refraccin rif (ncleo) est cubierto por dos materiales, sustrato y cubierta, de menor
ndice de refraccin s, nc (nf>ns>nc). Frecuentemente, el material de la cubierta es aire,
con n=\. En esta situacin, la luz se confina por reflexin interna total en las fronteras
ncleo-sustrato y ncleo-cubierta.

Figura 2.1. Ilustracin de una gua slab

Para presentar la teora de este captulo supondremos que la luz guiada es coherente
y monocromtica, y que las guas de onda estn formadas por materiales dielctricos
istropos, homogneos, y sin prdidas.

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

2. TEORA PTICA GEOMTRICA DE LA GUA SLAB


En esta seccin se desarrolla el modelo de la propagacin de la luz en la gua slab,
segn la teora ptica geomtrica (o teora del rayo ptico). Esta teora describe la
propagacin del campo electromagntico utilizando el concepto de rayo ptico. Con la
teora ptica geomtrica se pueden estudiar los modos de propagacin, la condicin de
corte de los modos, las constantes de propagacin y la anchura efectiva de la gua. Esta
teora es sencilla e intuitiva, pero no proporciona una descripcin tan completa como la
teora electromagntica.
La teora ptica geomtrica propone que la luz se confna en el interior de la gua
slab por reflexin interna total en las fronteras ncleo-cubierta y ncleo-sustrato,
siguiendo un camino en zigzag en el interior del ncleo. Como la reflexin y la
refraccin en las fronteras son fundamentales en el proceso de guiado, se presentan
brevemente estas leyes.
A. Refraccin y reflexin

Figura 2.2. Rayos refractado y reflejado en la


frontera entre dos medios, de ndices n\ y n2. El
ngulo de incidencia es d\.

Consideremos la frontera que separa dos medios dielctricos, istropos, homogneos,


y sin prdidas, de ndices de refraccin n\ y 2 (figura 2.2), y una onda que incide con un
ngulo 0[ respecto a la normal a la frontera.
En general, la onda incidente, que tiene una amplitud compleja A, se refleja y refracta
parcialmente en la frontera. El ngulo de salida &i de la onda refractada (de amplitud C),
viene dado por la ley de Snell
(2.1)

La onda reflejada en la frontera entre los medios tiene una amplitud compleja B, que
est relacionada linealmente con A mediante el coeficiente de reflexin complejo R
B = RA

(2.2)

El coeficiente de reflexin depende del ngulo de incidencia y la polarizacin de la luz,


y viene dado por las frmulas de Fresnel. Para la polarizacin TE (i.e., el campo
elctrico es perpendicular al plano de 'incidencia formado por el rayo ptico y la normal
a la frontera) se sabe que [Kkl]

CAPTULO 2
cose1! - H 2 cos>2 _ n eos (9, - n\ - n2sin20l
eos <9, + w2 eos #2 MI cos ^

(2.3)

La frmula correspondiente para la polarizacin TM (i.e, el campo magntico es


perpendicular al plano de incidencia) es
-n2sin26>l
_ n2cos01-nlcos02 _ n\ cose*, -n
-"TM ~
n2 cos <?! + n, cos 02 * cos ^ + ^ ^n2,-n2sin20l
P

(2.4)

Supongamos que i>2. El ngulo crtico 0C, viene dado por

sin 0=nn/ n.

(2.5)

Si $<6C slo se produce reflexin parcial, y R es real. Si se supera el ngulo crtico


(0i>0), entonces \R=l\ y se produce reflexin total de la luz. En este caso, R toma
valores complejos, y se produce un desplazamiento de fase en la onda reflejada. Por
tanto, se puede escribir
2

(/.o;

P _
J0
K-e

C~) (\

y extraer de las frmulas de Fresnel las siguientes expresiones para los desplazamientos
de fase, ^TE y 0TM, correspondientes a los dos estados de polarizacin
-nn
TE

(2.7)
(2.8)

COS D'

Los desplazamientos de fase J


incidencia crtico (0i=0c), hasta

y {^TM se incrementan desde O, para el ngulo de


, para incidencia tangencial (0\=/d2).

B. Modos de la gua slab


Consideremos la gua slab mostrada en la figura 2.1, con un ncleo de ndice de
refraccin f, un sustrato y una cubierta de ndices ns y nc. En general, rif>ns>nc, y
aparecen dos ngulos crticos: us en la frontera ncleo-sustrato y 0C<0S, en la frontera
ncleo-cubierta. Cuando se examina lo que sucede al aumentar el ngulo de incidencia
0, se descubren tres casos distintos, mostrados en la figura 2.3. Para ngulos 6<0S,0C, los
rayos procedentes del sustrato se refractan en las fronteras siguiendo la ley de Snell, y
dejan la gua a travs de la cubierta (figura 2.3a). En este caso no se produce
confinamiento de la luz en el interior de la gua. Estos rayos corresponden a los modos
radiados. Si se incrementa 0, de tal manera que 0C<0<0S, nos encontramos en la
situacin dibujada en la figura 2.3b. Los rayos procedentes del sustrato se refractan en la
frontera ncleo-sustrato, y se reflejan totalmente en la frontera ncleo-cubierta. De

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

nuevo, no hay confinamiento. Estos rayos corresponden a los modos radiados del
sustrato. Finalmente, cuando u es suficientemente grande, 0C,0S<0, los rayos se reflejan
totalmente en las dos fronteras. La luz, una vez dentro de la gua, se confna en el ncleo
propagndose en zigzag (figura 2.3c). Este caso corresponde a los modos guiados, los
cuales se discuten a continuacin con mayor detalle.

nf

(a) Modo radiado

(b) Modo de sustrato

(o) Modo guiado


Figura 2.3. Ilustracin de los modos en una gua slab

Se supone que la luz se propaga en la gua en la direccin z, que el confinamiento ocurre


en la direccin x, y que la estructura es invariante en la direccin y, perpendicular al
plano xz (figura 2.1).
La representacin fsica de la propagacin de la luz guiada es la de un rayo viajando
en zigzag a travs del ncleo. Ms precisamente, es una representacin de dos ondas
planas superpuestas, que siguen el camino en zigzag indicado en la figura 2.3c. Estas
ondas son monocromticas y coherentes, con una frecuencia angular co, longitud de
onda en el vaco A, y con un vector de onda Af, donde el mdulo de k es
In _ ca
A c

(2.9)

y c es la velocidad de la luz en el vaco. Las ondas planas tienen una representacin


matemtica de la forma .

Ae

-jkiij- (xcos0+zsin&)

(2.10)

Para un modo guiado en la gua plana, la representacin en zigzag predice una constante
de propagacin /?
= )lvp =

(2.11)

donde vp es la velocidad de fase, y ft es la componente z del vector de onda /f. Sin


embargo, no todos los ngulos 9 estn permitidos; slo un conjunto finito de ngulos (y

10

CAPTULO 2

a veces ninguno) conduce a una representacin consistente, correspondiente a los modos


guiados. Para encontrar los modos permitidos, fijemos nuestra atencin en una seccin
transversal Z=ZQ, y sumemos el desplazamiento de fase acumulado por una onda que se
mueve desde x=Q (frontera ncleo-sustrato) hasta x=h (frontera ncleo-cubierta), y
despus volvamos hacia atrs con la onda reflejada hasta el punto de partida, sumando
los desplazamientos de fase. La condicin de consistencia se obtiene imponiendo que la
suma de todos los desplazamientos de fase sea un mltiplo de Ijt. En el ncleo (de
tamao h), se produce, concretamente, un desplazamiento de fase kn/h eos 0 en el primer
trayecto a travs del ncleo, un desplazamiento de fase -2^c en la reflexin total en la
frontera ncleo-cubierta, otra vez knfhcosff
en el trayecto de vuelta, y un
desplazamiento de fase -24 en la reflexin total en la frontera ncleo-sustrato. Por
tanto, la condicin de consistencia (o condicin de resonancia transversal) es

2knfhcos0-20s -

(2.12)

donde v es un nmero entero que identifica el nmero del modo. Los desplazamientos
de fase (4 y (4 son funciones del ngulo 9 y dependen de la polarizacin considerada.
Se calculan mediante (2.7) y (2.8). La ecuacin (2.12) es la relacin de dispersin de la
gua, que proporciona los ngulos de propagacin permitidos, o de forma equivalente,
los valores posibles de la constante de propagacin jS, en funcin de a> y h. De (2.5) y
(2.11), se encuentra, para los modos guiados, que el valor de fiesta en la regin

kn

(2.13)

Los lmites corresponden a las constantes de propagacin de ondas planas uniformes


propagndose en el sustrato y en el ncleo. Resulta conveniente definir el ndice
efectivo para cada uno de los modos de la gua
Nef =

(2.14)

y se encuentra en la regin

<Nef<nf

(2.15)

para los modos guiados. Adems del espectro discreto de modos guiados, existen otras
soluciones de (2.12), correspondientes a los modos radiados. Estos modos se pueden
clasificar, de acuerdo con su ndice efectivo, en propagantes (N&(<n), que incluyen los
modos radiados y los modos radiados al sustrato, o evanescentes (A/ef imaginario puro),
y constituyen la parte continua del espectro. Para obtener el diagrama y-/?para la gua
slab asimtrica, se debe evaluar (2.12) numricamente. Para hacer los resultados de esta
evaluacin numrica ms generales, se introducen normalizaciones que combinan
diversos parmetros de las guas [Kkl]. En primer lugar, se define la frecuencia
normalizada F como
(2.16)

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

11

y tambin el ndice normalizado b, que est relacionado con el ndice efectivo Ne{ (y fy
mediante
b = (N-n])l(n2f-n})

(2.17)

Para diferencias pequeas en (n-ns) se obtiene la sencilla relacin lineal


Ntfn,+b(nf-n,)

(2.18)

Finalmente, se introduce un parmetro relacionado con el grado de asimetra de la gua


a = (n]-n]-)l(n]-n]}

(2.19)

Este parmetro se define as para los modos TE, y sus valores posibles se encuentran
entre cero, para simetra perfecta (ns=nc), e infinito para fuerte asimetra (ntnc y ns&tif).
Para los modos TE, se usa (2.7) y las normalizaciones anteriores para escribir la relacin
de dispersin (2.12) de la forma
V^b = vn+ arctan^bl(\-b) + arctan^(b + )l(\-b)

(2.20)

En esta ecuacin, la frecuencia normalizada V es una funcin explcita del ndice


efectivo normalizado b, por lo que se puede determinar directamente V para un b dado.
Sin embargo, normalmente, se tiene que calcular b para un V fijado, ya que a menudo se
especifica el tamao e ndices de refraccin de la gua slab y se desea determinar el
ndice efectivo de un modo concreto a diferentes longitudes de onda. La evaluacin
numrica de (2.20) proporciona el diagrama co-fi normalizado (figura 2.4), en el que, el
ndice normalizado , se dibuja en funcin de la frecuencia normalizada V para
diferentes grados de asimetra y para los modos de orden v=Q, 1 y 2.
Fijando b=v=0 en (2.20), se determina la frecuencia de corte VQ del modo
fundamental
(2.21)
En general, la frecuencia de corte Fv para el modo de orden v es
Vv = V0 + vx

(2.22)

de donde se obtiene una frmula aproximada para el nmero de modos guiados en una
gua slab
1Z.

,-

(2.23)
En la figura 2.4 se observa que para ,el caso simtrico (a=0) siempre existe solucin de
(2.20) para el modo guiado fundamental ()^=0). Sin embargo, en el caso asimtrico
(a*Q) siempre se puede encontrar una h suficientemente pequea, una A suficientemente

12

CAPTULO!

grande, o un contraste de ndices ncleo-sustrato suficientemente pequeo, de tal forma


que V<Vo, y no exista ningn modo guiado.
Para los modos TM, se obtienen las frecuencias de corte para los diferentes modos de
la misma forma que para los modos TE, y el diagrama t>-/7es muy similar. De hecho,
cuando la diferencia de ndices (Hs) es pequea, es aproximadamente vlido el
diagrama de la figura 2.4 para los modos TM. Sin embargo, estas afirmaciones son
correctas si se define el grado de asimetra de una manera algo diferente; i.e.
a--

n1.-ni

(2.24)

10

12

14

16

\V=
/ :i khCn
i /
f -n
Figura 2.4. Diagrama normalizado <-/7de una gua slab, donde se muestra el ndice normalizado b como
funcin de la frecuencia normalizada F para diferentes grados de asimetra.

3. TEORA ELECTROMAGNTICA DE LAS GUAS DIELCTRICAS


Las propiedades generales de los modos de propagacin en las guas de onda, se
derivan de las soluciones de las ecuaciones de Maxwell sometidas a las condiciones de
frontera especficas de la gua. En esta seccin comenzamos por presentar las
ecuaciones fundamentales del electromagnetismo. A partir de ellas se derivan las
ecuaciones de onda vectoriales y escalares. Tambin se define el significado de modo, y
se encuentran las soluciones de la ecuacin de onda en el caso de la gua slab.

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

13

A. Ecuaciones de Maxwell
Las guas de onda usualmente estn compuestas de materiales istropos y no
magnticos. En estos materiales, el vector de desplazamiento elctrico D est
relacionado linealmente con el vector de campo elctrico E, y la induccin magntica B
depende linealmente del vector de campo magntico B, de acuerdo con
(2.25)
(2.26)
donde (<*>) es 1a constante dielctrica escalar y u es la permeabilidad magntica escalar
del material. Supondremos que los campos presentan una dependencia peridica con el
tiempo, la cual escribimos de la siguiente forma
(2.27)
donde CD es la frecuencia angular. Los campos de la forma (2.27) son soluciones de las
ecuaciones de Maxwell
(2.28)
(2.29)
Estas ecuaciones estn sujetas a las condiciones de frontera en las superficies donde
ocurren cambios bruscos en las constantes del material. La figura 2.5 muestra una
discontinuidad entre dos medios dielctricos, con el vector unitario ex perpendicular a la
frontera. En ausencia de cargas y corrientes superficiales, se deben satisfacer las
condiciones
e x .(B 1 -B 2 ) = 0
exx(E1-E2) =

ex-(D,-D2)
e x x(H 1 -H 2 )

(2.30)
(2.31)

En las guas dielctricas, generalmente /=//o, lo que implica la igualdad de los vectores
de campo magntico Hi=H2 en la frontera.

Medio 2

V E 1- H 1

Medio 1

Figura 2.5. Frontera entre dos medios


de ndices t y n2. El vector ex es
normal a la frontera.

CAPTULO 2

14

B. Ecuaciones de onda vectoriales del campo electromagntico


Para obtener las ecuaciones de onda vectoriales del campo electromagntico, se toma
el rotacional de (2.28) y (2.29)
V x V x E = -j y//0V x H = y2r//0E
z

V x V x H = jaN x (E) = y ://0H + Vlnrx (V x H)

(2.32)
(2.33)

donde se ha utilizado la identidad vectorial


(2.34)
La divergencia de (2.28) y (2.29) es
(2.35)

V - H = 0, V - E = -

Podemos utilizar estas relaciones, junto con la identidad vectorial


(2.36)
para obtener las ecuaciones de onda vectoriales del campo electromagntico, o
ecuaciones vectoriales de Helmholtz
V 2 E + u)2 jU0E = -V(E V In E)
2

V H + y

x (Vx H)

(2.37)
(2.38)

En medios homogneos (V,? = 0), el trmino de la derecha de (2.37) y (2.38) es


cero; i.e., las componentes de los vectores se desacoplan. Las soluciones de las
ecuaciones vectoriales sin la componente longitudinal del campo elctrico o magntico
se denominan ondas transversales o escalares; cualquier otra solucin es una onda
vectorial o solucin hbrida. El campo elctrico de una onda escalar est acompaado,
mediante (2.28), por las dos componentes transversales del campo magntico; e.g., Hx,
Ey, Hz. Simarmente, el campo magntico de una onda escalar est acompaado,
mediante (2.29), por las dos componentes transversales del campo elctrico; e.g., Ex, Hy,
Ez. En medios no homogneos ( V ^ ^ O ) , normalmente todas las componentes del
campo elctrico y magntico se acoplan mutuamente mediante el trmino de la derecha
de las ecuaciones (2.37) y (2.38).
C. Ecuaciones de onda escalares
En estructuras uniformes en dos direcciones diferentes; e.g. la direccin z y la
direccin y, el campo electromagntico se puede separar en dos tipos de ondas
escalares: las ondas transversales elctricas (TE) y las ondas transversales magnticas
(TM) [Vol]. Para este tipo de estructuras
y pf?)
pV
\
Y
)
X

O
W\
\"-JS)

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

15

y se obtienen las ecuaciones de onda escalares

V2Ey+a2jU0Ey=Q

(2.40)

H,=^-d,Ey

(2.41)

'

aft

J_dE

(2.42)

para la polarizacin TE y
V2Hy - dx lnedxHy + u)2^0Hy = O

(2.43)

Ex=^-d,Hy
eos
*

(2.44)

E2=^-OxHy

(2.45)

para la polarizacin TM. Para derivar (2.40)~(2.45) se ha considerado que los campos
elctrico y magntico son independientes de la coordenada y.
D. Definicin de modo de una gua de onda
Una gua de onda dielctrica se caracteriza por una constante dielctrica
e = s0n\x,y)

(2.46)

independiente de la coordenada z. La funcin n(x,y) se conoce como el perfil de ndice


de refraccin. Un modo de la gua se define como un campo de la forma
E(x,y,z) = E,(*,7)exp(-y#,z)
K(x,y,z) = VLv(Xiy)^f(-jpvz)

(2.47)
(2.48)

donde el subndice v identifica a los modos, y fa es la constante de propagacin. Para


describir las caractersticas de propagacin de un modo, se utiliza, alternativamente, el
ndice de refraccin efectivo
(2.49)
E. Modos transversales elctricos guiados en la gua slab
En la gua slab la luz se confna slo en una dimensin; supongamos por ejemplo la
direccin x. El ndice de refraccin n(x) de una gua slab es funcin slo de esta
coordenada. Para los modos TE podemos escribir
Ey(x,z) = E(x)e-JA>

(2.50)

16

CAPTULO 2

Si se reemplaza (2.50) en (2.40)-(2.42) se obtiene respectivamente


(2.51)
(2.52)
(2.53)
donde
(2.54)
El resto de componentes del modo TE son nulas. Observemos que todas las
componentes diferentes de cero se derivan de Ey. Para los modos TM se procede de
forma anloga, considerando la componente Hy
(2.55)
Reemplazando (2.55) en (2.43)-(2.45) se obtiene respectivamente
(2.56)
(2.57)
(2.58)
Observemos que las componentes Ex y Ez se derivan de Hy; el resto de componentes del
modo TM son cero.
Definiremos las constantes de propagacin transversales (K\) y las atenuaciones
transversales (#) de la siguiente manera

=*&-fi

(2.59)
(2.60)
(2.61)

donde los subndices s, f, y c se refieren al sustrato, ncleo y cubierta respectivamente.


La tabla I muestra la regin en la que se encuentra la constante de propagacin $,, para
los diferentes tipos y categoras de modos, y tambin la constante de propagacin
transversal KJ en el sustrato.
Para encontrar los modos TE de la gua slab se resuelve (2.51), y se obtienen las
componentes del campo magntico utilizando (2.52) y (2.53). Las condiciones de
frontera (2.30) y (2.31) exigen que Ey (y automticamente H*) y d^Ey (y por tanto Hz)
sean continuas en las fronteras x=Q y x=h.

PROPAGACIN DE LA Luz EN GUAS DE ONDA

17

TABLAI
INTERVALOS DE CONSTANTES DE PROPAGACIN PARA LOS MODOS DE LA GUA SLAB
Modos
A
ta
Guiados
imaginaria
knf -> kns
Sustrato

kns -> knc

0-*k,n-n

Sustrato-cubierta

nc -0

k^n2s -n] -*kn5

Evanescentes

imaginaria

lais o

Para los modos guiados TE


si h<jc (cubierta)

(2.62)

si 0<x<h (ncleo) (2.63)

E y = Ef cos(/cfx -</>s}

si *<0 (sustrato)

(2.64)

La aplicacin de las condiciones de frontera conduce a las frmulas para los


desplazamientos de fase
tani/>s = rs lKf ,

tan</>c = rc

(2.65)

y a la condicin de consistencia
(2.66)
que es idntica a la obtenida con el modelo del rayo ptico [ver (2.12)]. Tambin se
obtiene una relacin entre las amplitudes de los campos Es, Ef y Ec
E](n] -Ne/) = El(n} -n]} =E\(n} -')

(2.67)

En la forma anterior, los modos no estn normalizados respecto a la potencia. La


potencia P transportada por un modo, por unidad de longitud en la direccin y, se
calcula de la siguiente manera
+00

O /? +M

\ EyHxdx = M. l

(2.68)

donde
r
hi ef=h++

7S

(2.69)

Ye

es la anchura efectiva de la gua. En la figura 2.6 se ilustra la distribucin del campo


elctrico para varios modos TE de una'gua slab.
En esta seccin nos hemos centrado en encontrar las distribuciones de campo de los
modos guiados TE de una gua slab. Una discusin completa de todos los modos de la
gua slab se puede encontrar en [Mel].

CAPTULO 2

18

1
^-x

/ \
/
\
/
\

0.8
0.6
0.4
0.2

0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8

n=2

n=1

n=1.46

-1
-1

-0.5

0.5

x(nm)

1.5

(a)

(b)

1.5

(c)

1.5

1.5

(d)

Figura 2.6. Mdulo del campo elctrico para los modos TE guiados en una gua slab, con
0=1, r=2 y ws=1.46; (a) TE0; (b) TE,; (c) TE2; (d) TE3.

4. CONCLUSIONES
En este captulo se han introducido los fundamentos de la propagacin de la luz en
guas de onda dielctricas. Mediante la teora electromagntica se deriva la ecuacin de
onda, cuya solucin numrica se discute en el captulo 3. Se han examinado las
soluciones modales de la ecuacin de onda en el caso de la gua slab, obteniendo el
ndice efectivo y la distribucin de campo para los modos guiados TE. Este resultado se
utiliza en los experimentos numricos presentados en el captulo 4, donde se comparan
varias condiciones de frontera absorbentes para el BPM.

19

Captulo 3

Solucin numrica de la ecuacin de onda:


anlisis transitorio

i. INTRODUCCIN
En el rea de la optoelectrnica integrada, uno de los problemas tericos principales,
es el clculo de la propagacin del campo electromagntico en estructuras pticas con
una distribucin arbitraria de ndice de refraccin. El procedimiento matemtico para
resolver este problema se denomina Beam Propagation Method (BPM). Este
procedimiento fue desarrollado en los campos de la acstica subacutica y la
sismologa. Posteriormente fue adaptado a la ptica por Feit y Fleck [FF1].
Como en un experimento, el BPM calcula la respuesta de un dispositivo dado a una
seal ptica externa. Naturalmente, el anlisis del resultado puede ser usado para
obtener informacin sobre las propiedades modales del dispositivo. Por estas razones, el
BPM es adecuado para estudiar las siguientes aplicaciones: dispositivos que no estn
descritos por una teora cuantitativa; influencia de los aspectos tecnolgicos en la
operacin de los dispositivos; problemas con teoras y aproximaciones; experimentos
numricos para obtener ideas sobre el comportamiento de un dispositivo.
La idea fundamental del mtodo es la construccin de una relacin, llamada ecuacin
BPM, que transporta el campo ptico desde el plano transversal, situado en la
coordenada longitudinal z, al plano transversal en z+Az. Es decir, la distribucin de
campo en un plano se calcula a partir de la distribucin en el plano anterior usando la
ecuacin BPM. El algoritmo parte de un campo arbitrario y repite este procedimiento
hasta que se completa la propagacin en el dispositivo. El algoritmo BPM tiene en
cuenta de forma inherente las ondas guiadas, radiadas y evanescentes, y tambin
permite variaciones del ndice de refraccin en la direccin z.
El mtodo es aplicable para calcular la propagacin del campo electromagntico en
una gran variedad de dispositivos, como por ejemplo, la fibra ptica y los dispositivos
basados en la fibra ptica; dispositivos pticos integrados pasivos, como las Ybifurcaciones; acopladores pticos; guas de onda con curvatura; dispositivos basados
en el efecto electro-ptico, como los moduladores y los interruptores; dispositivos
activos o no lineales, como amplificadores, lseres o conversores de frecuencia; y
sensores pticos integrados.
En muchas aplicaciones, el conocimiento de las propiedades modales permite el
diseo de dispositivos, como en el caso de los interfermetros o acopladores, y no
interesa la respuesta transitoria del dispositivo a la seal ptica externa, sino que slo se
requiere conocer la respuesta estacionaria. En esta situacin es ms eficiente realizar un

20

SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA: ANLISIS TRANSITORIO

anlisis modal; por ejemplo, aplicando el Mtodo de las Diferencias Finitas (Finite
Difference Method o FDM), que estudiaremos en el captulo 5.
El primer algoritmo BPM [FF1] se basa en la aproximacin de Fresnel (tambin
denominada aproximacin paraxial) de la ecuacin de onda de Helmholtz. El algoritmo
divide el clculo de la propagacin en dos etapas: en la primera etapa simula la
propagacin del campo electromagntico a travs de un medio homogneo, y, en la
segunda etapa, tiene en cuenta que el medio es inhomogneo (en el caso general), y
hace una correccin de fase, adecuada a la distribucin de ndices de refraccin. La
propagacin del campo en el medio homogneo se lleva a cabo en el dominio espectral
mediante la transformada rpida de Fourier. A este algoritmo se le denomina FFT-BPM.
Este algoritmo no se puede utilizar de manera general en el estudio de guas de onda
dielctricas, pues el mecanismo de propagacin, dividido en las dos etapas anteriores, es
una aproximacin al mecanismo fsico de propagacin, y slo es vlido para estudiar
estructuras pticas de guiado dbil; i.e., estructuras que presentan una variacin pequea
del ndice de refraccin. Tambin se pueden utilizar, alternativamente, otras tcnicas
numricas. Una de ellas resuelve la ecuacin de onda paraxial mediante el Mtodo de
las Diferencias Finitas, denominado Finite Difference Beam Propagation Method (FDBPM). Este tipo de algoritmo aumenta la eficiencia del BPM respecto al FFT-BPM
[CD1]. Otra tcnica numrica es el Mtodo de los Elementos Finitos, denominado
Finite Element Beam Propagation Method (FE-BPM) [KDW]. Adicionalmente, se han
desarrollado diversas variantes del FD-BPM y FE-BPM en la literatura, que tienen en
cuenta aproximaciones de mayor orden de la ecuacin de onda (la aproximacin
paraxial es de primer orden), denominadas Wide-Angle Beam Propagation Method
(WA-BPM) [YG1, Hyl, Hy2, Hzl, CD2]. Estas tcnicas mejoran los resultados para las
ondas planas que se propagan con ngulos grandes respecto a la direccin principal de
propagacin. Los algoritmos BPM descritos hasta ahora separan las ondas que viajan en
la direccin +z de las que viajan en la direccin -z. Con esta estrategia, se podran
construir dos problemas independientes para las ondas que se propagan en la direccin
z. Claramente, esta estrategia fallar si los cambios bruscos en el perfil de ndice de
refraccin, a travs de la direccin principal de propagacin, actuaran como fuente de
reflexiones. Para corregir este problema se introduce un algoritmo para tratar las
reflexiones. La estrategia general que se utiliza es la siguiente: el campo incidente se
propaga en la direccin +z hasta la primera interfaz, en ZF=Z\. En la interfaz, el campo de
entrada se divide en una parte reflejada y otra transmitida. La parte transmitida del
campo se propaga en la direccin +z hasta llegar a la segunda interfaz, y la parte
reflejada se propaga en la direccin -z hasta el plano de incidencia. En la segunda
interfaz se aplica el procedimiento anterior, y as sucesivamente. El procedimiento se
detiene si la potencia ptica almacenada en las nuevas ondas parciales es inferior a un
cierto nivel predefinido. El campo total transmitido viene dado por la superposicin de
todas las ondas parciales que viajan en la direccin +z, y el campo total reflejado es la
superposicin de todas las ondas reflejadas. La suma de las ondas parciales corresponde
a una suma de Airy [Mzl]. El algoritmo descrito se denomina Bidirectional Beam
Propagation Method [KL1, LK1, Vo2]. En la tabla II se resumen los algoritmos BPM
segn la aproximacin de la ecuacin de onda utilizada, el mtodo numrico para
solucionarla, y el tipo de simulacin.
En las siguientes secciones se trata el anlisis transitorio de la propagacin. Para
realizar este tipo de anlisis consideraremos la aproximacin paraxial de la ecuacin de
Helmholtz. Se discuten las soluciones modales y se explica el procedimiento para
transformar las soluciones de la ecuacin de Helmholtz en soluciones de la ecuacin de
onda paraxial, y recprocamente. Un resultado interesante es el clculo, para la gua

CAPTULO 3

21

slab, de los intervalos de las constantes de propagacin y constantes de propagacin


transversales (en el sustrato), para los diferentes tipos de modos, dentro de la
aproximacin paraxial. Finalmente, se discute la implementacin numrica del 2D-FDBPM paraxial unidireccional, y se hacen algunas consideraciones sobre la
implementacin de algoritmos BPM para tratar problemas en tres dimensiones.
TABLA n
RESUMEN DE LOS ALGORITMOS BPM
BPM
Aproximacin de la
ecuacin de onda
Mtodo numrico para
solucionar la ecuacin de
onda
Tipo de simulacin

Paraxial-BPM
FD-BPM

Wide-Angle-BPM
FFT-BPM

FE-BPM

Otros mtodos

Bidirectional-BPM

Unidirectional-BPM

2. ECUACIN DE ONDA PARAXIAL


Sea y(x,z) un campo elctrico escalar que satisface la ecuacin de Helmholtz escalar

(3.1)

Para desarrollar la aproximacin parablica o paraxial, sea HO un ndice de refraccin de


referencia, valor representativo de n(x,z), y explicitemos la variacin rpida del campo
en la direccin principal de propagacin

(3.2)
Sustituyendo (3.2) en (3.1) se obtiene la siguiente ecuacin para (/>

--1

/-t -t

2kn

(3.3)

La aproximacin paraxial de la ecuacin de onda de Helmholtz se obtiene al suponer


que la variacin de 0 es pequea dentro de una longitud de onda A = 2nl kn, de tal
manera que se puede ignorar la derivada segunda de 0 respecto a z en (3.3). Por tanto,
si suponemos que 0es paraxial, (3.3) queda reducida a

2knn

-W^^-iV
/-

I'

(3.4)

SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA: ANLISIS TRANSITORIO

22

que se denomina ecuacin de onda paraxial, o aproximacin paraxial de la ecuacin de


Helmholtz.
La ecuacin (3.1) admite soluciones de la forma {^ = e~J(k**+k*2} si y slo si se verifica
la relacin de dispersin
/ 2 , T^2
r 2 If
\
K
X+KZ K n \x,z)

/T r\

\~>-J)

cuyo lugar geomtrico, en el plano (/rx,&z), corresponde a la ecuacin de una


circunferencia, centrada en el origen, y de radio kn(x,z). Si consideramos slo las ondas
que se propagan en la direccin +z o -z, el lugar geomtrico es una semicircunferencia.
Anlogamente, (3.4) admite soluciones de la forma 0 - e~J(k'*+^z) si y slo si se verifica
la relacin de dispersin

(3.6)
con /cz = fl'+hio, correspondiente a la ecuacin de una parbola en el plano (x,^z
interpretar el significado de la aproximacin paraxial, consideremos, por simplicidad, la
propagacin del campo escalar en el vaco; i.e. (x,z)=l; y hagamos la eleccin o=lEn esta situacin podemos escribir (3.5) y (3.6) respectivamente como

(3.7)
(3.8)

En (3.7) slo consideramos la raz cuadrada con signo positivo, correspondiente a ondas
que se propagan en la direccin +z. La figura 3.1 muestra el lugar geomtrico de (3.7) y
(3.8). Observemos que (3.8) es una aproximacin de Taylor de primer orden de la raz
cuadrada en (3.7). En trminos fsicos, en la ecuacin de Helmholtz, todas las ondas del
espectro angular tienen el mismo nmero de onda (=/c). Sin embargo, la aproximacin
paraxial slo conserva el nmero de onda en /ex=0. Si &x crece (i.e., las ondas tienen
ngulos de apertura cada vez ms grandes), aumenta la diferencia entre el nmero de
onda utilizado por la aproximacin paraxial y el nmero de onda de la ecuacin de
Helmholtz. Por tanto, la ecuacin de onda paraxial es una aproximacin a la ecuacin de
l
0.9
0.8
0.7
0.6
k / k 0.5
z
0.4
0.3
0.2
0.1
O

paraxial

Figura 3.1. Lugar geomtrico


de la relacin de dispersin para
la ecuacin de Helmholtz y la
aproximacin paraxial. Se ha
supuesto n(x,z)=n<f=l.

Helmholtz

-1

0.5

-0.5

k /k
x

CAPTULOS

23

Helmholtz, vlida para ngulos de apertura pequeos. Las aproximaciones que toman
ms trminos en el desarrollo de Taylor de (3.7), se denominan Wide-angle, ya que
mejoran los resultados para ondas planas que se propagan con un ngulo de apertura
mayor.

3. SOLUCIONES MODALES
La ecuacin de onda (3.3) y la ecuacin paraxial (3.4) admiten soluciones modales
de la forma
(*,z) = (*)T'A'
0'(x,Z) = 0n'(x)e-JA'*

(3.9)
(3.10)

donde la prima indica una solucin de la ecuacin de onda paraxial. Sustituyendo (3.9)
y (3.10) en (3.3) y (3.4), respectivamente, se obtiene que
(3.11)

A, =

i- U+2fH

(3-12)

Estos resultados se derivan de que (3.3) y (3.4) tienen la forma [RFF]


(3.13)
(3.14)
donde el operador H se define como

H= +

^ T(!L^I~}

(115)

y los valores propios de H son los /?,'. En (3.12), el signo de la raz cuadrada ha sido
elegido para asegurar que la onda se mueve en la direccin +z.

4. TRANSFORMACIN ENTRE LAS SOLUCIONES MODALES DE LA


ECUACIN DE HELMHOLTZ Y LA ECUACIN DE ONDA PARAXIAL EN
UNA GUA SL!
Para los experimentos numricos que se presentarn en el siguiente captulo nos ser
de utilidad conocer cules son las soluciones modales de la ecuacin de onda paraxial,
en el caso de una gua slab. Segn la teora de la seccin anterior, los modos de la
ecuacin de Helmholtz slo difieren de los modos de la ecuacin de onda paraxial en un
trmino de fase. Resulta sencillo pues, encontrar los intervalos de constantes de
propagacin y constantes de propagacin transversales en el sustrato, para los diversos
tipos de modos que son solucin de la ecuacin de onda paraxial, a partir de los

SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA.-ANLISIS TRANSITORIO

24

correspondientes a la ecuacin de Helmholtz (tabla I), y haciendo uso de la relacin de


dispersin (3.6) y de (3.12). El resultado se muestra en la tabla III. Notemos que los
modos guiados en la ecuacin de Helmholtz se transforman en modos guiados en la
aproximacin paraxial, y que los modos radiados y evanescentes de la ecuacin de
Helmholtz se transforman slo en modos radiados en la aproximacin paraxial. En
consecuencia, la aproximacin paraxial, en contraposicin con la ecuacin de
Helmholtz, ignora la influencia de los modos evanescentes.
TABLA m

INTERVALOS DE CONSTANTES DE PROPAGACIN PARA LOS MODOS DE LA GUA SLAB EN LA


APROXIMACIN PARAXIAL
Modos

ftx (sustrato)

Guiados

Imaginaria

Radiados

El caso de la guia slab ilustra que en la aproximacin paraxial debe considerarse un


espectro de modos radiados diferente que en la ecuacin de Helmholtz. Esto ser
importante para la formulacin de condiciones de frontera absorbentes en el BPM, tal y
como se ver en el captulo 4.

5. SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA PARAXIAL 2-D


La ecuacin de onda paraxial (3.4) se reemplaza por la aproximacin en diferencias
finitas

(3.16)
donde $ es el campo escalar en (iAx,z), con i=l,...,N; Ax es la longitud (en la direccin
x) de cada una de las celdas en que se divide la regin de clculo. Si se integra (3.16) en
el intervalo [z,z+/dz], mediante la regla del trapecio, se obtiene la siguiente ecuacin
lineal, que relaciona el campo escalar en z+Az y el campo escalar en z
(3-17)

con
Az
a =
2Ax
Az

(3.18a)
+ 2jnQk - /c2 (nf (z + Az) - n )
2

(3.18b)

CAPTULO 3

Ax2

"

25

^"VOO-Ho u2 )
2
'

(3.18e)

El conjunto de N ecuaciones de la forma (3.17) forma un sistema tridiagonal de


ecuaciones lineales, cuya expresin compacta es
Pz(Z(z)

(3.19)

zP^(Z)

(3.20)

De forma equivalente, si PZ+AZ es no singular

con PZ+AZ y P2 matrices cuadradas de orden TV; $z) y $z+dz) son vectores de N
componentes, que representan el campo escalar en z y z+Az, respectivamente. La
entrada del algoritmo es z(0), y se resuelve el sistema de ecuaciones (3.19) para $z+A)
a partir de $z). As se procede, repetidamente, hasta llegar al final del dispositivo. La
solucin numrica de (3.19) se puede obtener utilizando el mtodo de eliminacin de
Gauss. Desde un punto de vista terico se podra usar alternativamente (3.20). Sin
embargo, esto no es recomendable en la prctica, ya que implica realizar inversiones de
matrices. El error, definido como \\0am -$Z+AZ)||, donde ^PM es la solucin numrica del
sistema de ecuaciones, es aproximadamente del mismo orden si se utiliza (3.19) o
(3.20), reflejando el nmero de condicin1 de PZ+AZ- Sin embargo, el tiempo de clculo
para resolver el sistema (3.19) es entre 2 y 3 veces menor que el tiempo requerido por
(3.20), y el residuo2 difiere en varios rdenes de magnitud. La solucin directa, sin la
inversin de PZ+AZ, produce un residuo del orden de la precisin de la mquina, respecto
a la magnitud de los datos [DBM].

6. CONSIDERACIONES EN EL ESPACIO 3-D


Hasta ahora hemos considerado la ecuacin de onda 2-D en el plano (x). Sin
embargo, en la mayora de aplicaciones prcticas, se requiere considerar la ecuacin de
onda 3-D. Consideremos un algoritmo 2D-BPM con una complejidad en el tiempo de
clculo 02-D, en comparacin con un algoritmo 3D-BPM con una complejidad #3-0- Si
suponemos que ambos algoritmos operan sobre una malla rectangular y uniforme, se
obtiene la relacin [Mzl]
(3.21)
donde ny es el nmero de puntos que se toman en la direccin y. Esto significa que, para
un problema dado, el tiempo de clculo de una simulacin 3D-BPM es al menos y
veces el tiempo de clculo de una simulacin 2D-BPM. Por tanto, es muy recomendable
1

El nmero de condicin de una matriz mide la sensibilidad de la solucin de un sistema de ecuaciones


lineales a errores en los datos, y es un indicador de la exactitud de la solucin numrica.
2
El residuo se obtiene introduciendo la solucin numrica en la ecuacin original. Si se utiliza (3.19), el
residuo es P^" - VJ(z).

SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA: ANLISIS TRANSITORIO

26

usar un algoritmo 2D-BPM cuando sea posible. En cualquier caso, los algoritmos que
utilizan una malla adaptativa son los ms idneos para el 3D-BPM.
En las aplicaciones prcticas, en las que se requiere considerar las tres dimensiones
espaciales, se puede utilizar el algoritmo 2D-BPM junto con el Mtodo del ndice
Efectivo (Effective Index Method, o ELM), del que hablaremos en la siguiente seccin.
Con este mtodo, el 2D-BPM opera sobre un perfil 2-D de ndice de refraccin efectivo,
que corresponde a la proyeccin del dispositivo entero 3-D. Esta proyeccin se lleva a
cabo utilizando el EIM, i.e., usando el ndice efectivo de la coleccin de capas
dielctricas que se encuentran bajo un punto dado.

7. EL MTODO DEL NDICE EFECTIVO


El Mtodo del ndice Efectivo [KT1] se ha utilizado desde los inicios de la ptica
integrada, y ha facilitado el anlisis de numerosas estructuras pticas. Por simplicidad
en la explicacin, consideremos una gua de onda rib. El Mtodo del ndice Efectivo
empieza dividiendo la gua verticalmente en tres zonas: la zona central y dos zonas
laterales (figura 3.2). Supondremos que la composicin de las dos zonas laterales es
idntica. La figura 3.2 muestra la seccin transversal de una gua rib, en el plano (x,y),
as como la proyeccin del perfil de ndice de refraccin sobre el eje y. El ndice de
refraccin proyectado en la posicin y=yo, es el ndice efectivo de la gua de onda cuyo
perfil de ndice de refraccin es n(x,yo). En nuestro caso, la proyeccin consiste en una
zona central de anchura w, con un ndice efectivo Nf, y dos zonas laterales de ndices
efectivos N\. La anchura h, de la gua slab central, es mayor que la anchura / de las guas
slab laterales. Por tanto Nf>N\ y se produce confinamiento lateral de la luz en la zona
central.

Figura 3.2. Ilustracin del Mtodo del


ndice Efectivo, mostrando la seccin
transversal de una gua rib, y la proyeccin
del perfil de ndice de refraccin sobre el
eje y.

El Mtodo del ndice Efectivo procede de la siguiente manera


1) Calcular las frecuencias normalizadas V y V\ de la gua central y de las guas
laterales

CAPTULO 3

27

(3.22)
(3.23)
2) Determinar los ndices normalizados bf y b\ de la gua central y de las guas
laterales. Determinar los ndices efectivos Nf y N\ mediante
N2,=n2+bfl(n2f-n2)

(3.24)

3) El perfil de ndice de refraccin proyectado define una gua slab, que produce el
confinamiento de la luz en la direccin y. A esta gua la denominaremos gua
equivalente. Determinar la frecuencia normalizada F"eq de la gua equivalente
2

-N? = kwj(n2-n2)(bf-b,)

(3.25)

y el ndice normalizado beq.


4) Finalmente, calcular el ndice efectivo Neq de la gua equivalente y postular su
igualdad con el ndice efectivo Ne{ de la gua rib

NefSNei=N2+bei!(N2-Nf)

(3.26)

Esto concluye el procedimiento, proporcionando el ndice efectivo Ne{ y la constante de


propagacin J3=kNef de la gua rib.
A menudo es til dar los resultados en trminos del ndice normalizado de la gua, que
viene dado por

/-,

,,27)

8. CONCLUSIONES
En este captulo se ha introducido la aproximacin paraxial de la ecuacin de onda
escalar. La suposicin bsica de esta aproximacin consiste en que el campo presenta
variaciones lentas en la direccin principal de propagacin. La limitacin principal es
que la solucin de la ecuacin paraxial es una aproximacin a la solucin de la ecuacin
de onda, vlida para ngulos de apertura pequeos.
Se ha discutido cmo se transforman las soluciones modales de la ecuacin de onda
en soluciones modales de la aproximacin paraxial, y viceversa. Este punto es clave en
el siguiente captulo, en el que se estudian algunas condiciones de frontera para el BPM,
cuya formulacin debe adaptarse a la aproximacin paraxial.
Finalmente se ha estudiado la implementacin numrica del 2D-BPM basado en la
ecuacin paraxial, y se han hecho consideraciones prcticas para simular estructuras
pticas tridimensionales, introduciendo el Mtodo del ndice Efectivo.

28

Captulo 4

Condiciones de frontera para la solucin


numrica de la ecuacin de onda

l. INTRODUCCIN
Muchos problemas fsicos estn definidos en regiones espaciales tan grandes que no
es posible calcular soluciones numricas sobre la regin completa. En estos casos
resulta prctico considerar una subregin Q, que sea de tamao manejable, y calcular la
solucin en Q. Idealmente, la solucin calculada en Q debera coincidir con la
restriccin a Q. de la solucin en la regin completa. El grado con que se cumple este
objetivo depende de la eleccin de las condiciones que se imponen en la frontera
artificial que delimita la regin de clculo Q. En el problema fsico de la propagacin de
ondas, si las ondas se crean totalmente en Q, y, si fuera de esta subregin no existen
mecanismos que provoquen la reflexin de las ondas hacia 2, la solucin cerca de la
frontera consiste exclusivamente en ondas que se propagan hacia el exterior de Q. Por
tanto, es natural buscar condiciones de frontera que simulen este flujo de energa hacia
el exterior de la regin de clculo. En otras palabras, la condicin de frontera debe
provocar que las ondas que viajan hacia el exterior de la regin de clculo sean
absorbidas en la frontera y no se reflejen hacia el interior de la regin de clculo (figura
4.1). La condicin de frontera ideal debera absorber perfectamente las ondas radiadas,
con independencia de su ngulo de propagacin, y las ondas evanescentes. Desde un
punto de vista prctico debera aadir la menor complejidad computacional posible.

Figura 4.1. Ilustracin del problema de las


reflexiones artificiales en la frontera de la
regin Q. Idealmente, los rayos que inciden
sobre la frontera (rayos dibujados en lnea
continua) deberan atravesarla sin que se
produzcan reflexiones (rayos dibujados en
lnea discontinua).

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

29

En la literatura encontramos una gran variedad de condiciones de frontera con el


propsito de reducir las reflexiones artificiales que aparecen al truncar el dominio de
clculo. Reciben el nombre genrico de condiciones de frontera absorbentes (Absorbing
Boundary Conditions, o ABC).
La primera tcnica que se desarroll no es estrictamente una condicin de frontera.
Consiste en aadir un absorbente fsico con un ndice de refraccin complejo fuera del
dominio de clculo, con prdidas suficientes para absorber las ondas radiadas y con un
perfil de ndice de refraccin suave para no provocar reflexiones artificiales en la
frontera entre la regin de clculo y el absorbente. Estas restricciones comportan la
utilizacin de absorbentes grandes, y, por tanto, esta tcnica es costosa
computacionalmente. Si se escoge de forma adecuada el coeficiente de absorcin y las
dimensiones del absorbente, las ondas radiadas se atenan antes de llegar al final del
absorbente, donde se impone una condicin de reflexin perfecta. La efectividad del
mtodo depende fuertemente del ajuste de los parmetros que definen el absorbente.
Este ajuste debe hacerse a medida para cada problema que se investiga.
Una clase de condiciones de frontera absorbentes se basa en la utilizacin de
ecuaciones diferenciales impuestas en la frontera del dominio de clculo. Estas
ecuaciones diferenciales permiten la propagacin de las ondas radiadas en ciertas
direcciones y no permiten la propagacin en las direcciones opuestas. En esta categora
se encuentran las ABC de Lindman [Lnl], Engquist et al. [EMI, EM2], Mur [Mr2],
Liao et al. [LWB], Vassallo et al. [VC1, VK1], y Higdon [Hnl, Hn2, Hn3, Hn4], y se
denominan genricamente Ecuaciones de Onda Unidireccionales (One-way wave
equations).
Hadley propuso la utilizacin de la Condicin de Frontera Transparente (Transparent
Boundary Condition, o TBC) [Hy3]. Esta tcnica se basa en suponer que el campo
radiado, puede expresarse localmente como una onda plana de la forma exp(-jkx); el
valor de /c0 se estima a partir del campo calculado en z, y se introduce en la condicin de
frontera dx0 = -jk00, para la siguiente evaluacin en z+zlz. El coste numrico que
introduce esta tcnica es muy pequeo, y el mtodo generalmente es muy efectivo
cuando se satisface su suposicin bsica. Sin embargo, el mtodo falla si el campo
incidente sobre la frontera contiene un amplio espectro de frecuencias espaciales.
Una aproximacin diferente, introducida por Brenger en 1994 para el Finite
Difference Time Domain (FDTD), es la Condicin de Frontera Perfectamente Adaptada
(Perfectly Matched Layer, o PML) [Bri, Br2, CJ1]. Durante el desarrollo de esta tesis
hemos extendido esta tcnica para su utilizacin en el 2D-BPM [JRP]. En esta tcnica se
aade un medio, denominado capa de Brenger, fuera del dominio de clculo. En este
medio la ecuacin de onda cambia su forma al aplicarle una transformacin compleja.
Esta transformacin produce ondas que estn perfectamente adaptadas a las ondas que
salen del dominio de clculo. El coeficiente de reflexin terico de una capa de
Brenger es prcticamente cero para una onda plana incidente con un ngulo de
propagacin arbitrario (excepto para el caso especial de incidencia tangencial).
En 1995 Ramahi introdujo el Mtodo de los Operadores Complementarios
(Complementary Operators Method, o COM) [Ril, Ri2, Ri3, Ri4, CCI]. El COM
utiliza las Condiciones de Frontera Absorbentes de Higdon (Higdon Absorbing
Boundary Conditions, o HABC) [Hnl, Fgl] para cancelar las reflexiones de orden
impar que proceden de la ventana de clculo. Esta cancelacin se realiza promediando
dos soluciones independientes del problema. Estas dos soluciones se obtienen
imponiendo operadores de Higdon diferentes en cada simulacin BPM. Lo que se
requiere es que presenten el mismo mdulo del coeficiente de reflexin (R), y tengan
fase opuesta. Una caracterstica muy importante del COM es que el mecanismo de

30

CAPTULO 4

aniquilacin de las reflexiones es independiente del nmero de onda, lo cual permite


reducir las reflexiones de las ondas propagantes, de las ondas evanescentes, y de las
ondas propagantes atenuadas. La HABC de orden n (HABC-n) se disea de tal manera
que cada operador absorba un tipo particular de onda radiada. De esta manera, la
condicin de frontera puede absorber ondas radiadas para un amplio espectro de ngulos
de incidencia y constantes de atenuacin. Es importante resaltar que el error entre el
campo exacto y el campo calculado usando COM es de orden \R\2, ya que el campo
generado por las reflexiones de segundo orden no puede ser cancelado con el COM
original.
Recientemente, hemos introducido una extensin del COM que permite cancelar las
reflexiones de orden impar y las reflexiones de segundo orden en el 2D-BPM, que
denominamos Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido (Extended
Complementary Operators Method, o ECOM) [JP1, JP2]. La idea principal se basa en
incorporar al COM dos soluciones adicionales de la ecuacin de onda; la primera
solucin se obtiene imponiendo operadores de Higdon con coeficiente de reflexin R en
una frontera y -R en la otra; la segunda solucin se obtiene intercambiando estos
coeficientes de reflexin en las fronteras. Estas dos nuevas soluciones se promedian con
las dos soluciones del COM original. Con este mtodo se consigue la cancelacin de las
reflexiones de orden 2k+l (=0,1,2,3,...), como en el COM. Adicionalmente, se
cancelan las reflexiones de orden 4k+2 para aquellas ondas planas cuyas reflexiones
sucesivas inciden alternativamente en la frontera superior e inferior de la regin de
clculo. La aplicacin de este mtodo incrementa en un factor 2 el tiempo de clculo
respecto al COM. Sin embargo, en el primer experimento numrico presentado en este
captulo, se muestra que se puede reducir el tamao de la ventana de clculo en un factor
entre 2 y 3 manteniendo el error por debajo del COM original, lo cual permite reducir el
tiempo de clculo y los recursos de memoria necesarios, respecto a la formulacin
original del COM.
Actualmente numerosos grupos de investigacin estn desarrollando condiciones de
frontera para la simulacin de estructuras pticas, cada vez con mayor precisin y
eficiencia computacional. En este captulo nos centraremos en algunas de las tcnicas
que estn siendo investigadas: las capas de Brenger (PML), las Condiciones de
Frontera Absorbentes de Higdon (HABC), el Mtodo de los Operadores
Complementarios (COM), y el Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido
(ECOM). La presentacin de estas tcnicas empieza por describir su formulacin en el
espaci continuo y determinar su comportamiento respecto a la reflexin de las ondas
planas. Despus se transporta la formulacin al espacio discreto, adaptndola al 2DBPM. Como veremos, al introducir esta transformacin la eficacia de estas tcnicas
disminuye notablemente. Introduciremos tambin algunos experimentos numricos de
propagacin, de los que se dispone de solucin analtica exacta, con objeto de conocer la
desviacin de la solucin numrica. Como resultado final se comparan las diferentes
tcnicas respecto a la eficacia de absorcin y a los recursos de clculo necesarios para
realizar la simulacin numrica.

2. MTODO DE BRENGER
A. Absorbentes de Brenger
Brenger propone la introduccin de un medio absorbente fuera del dominio de
clculo, con objeto de absorber las ondas radiadas [Brl]. Este absorbente puede ser

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

31

interpretado como un cambio de variable complejo en la coordenada x, normal a la


superficie del absorbente [Rtl, Rt2, Col]; i.e., el absorbente de Brenger realiza una
transformacin del sistema de coordenadas (x,) en (x '(x),z)

donde a(x) es la conductividad del absorbente, que juega el papel de un factor de


atenuacin. Para disear el absorbente de Brenger se considera o(x) una funcin
positiva que satisface
O para x <0 (regin de clculo Q.)
cr(x) - <
r
[> O para x>0 (absorbente de Brenger)

(4.2)

Adicionalmente o(x) es una funcin continua para x>0, y en x=0 tiene lmite por la
derecha, no necesariamente cero,
(4.3)

Notar que la condicin o(x)=0 para x<0 implica


(x'(x),z) = (x,z) V x < 0

(4.4)

Para ondas planas este cambio de coordenadas tiene el efecto de alterar el producto
nmero de onda/distancia en la direccin normal de incidencia
kx (x) = kx (x - j ] a(s)ds

(4.5)

Una onda plana propagndose en una regin homognea, se transmite en este


absorbente segn la transformacin

Notar que debido a que la amplitud y la fase de la onda incidente y transmitida son
continuas en la frontera entre los dos medios (situada en x=0), no se producen ondas
reflejadas en la frontera, sea cual sea el ngulo de incidencia.
B. Coeficiente de reflexin terico
En este apartado se considera que el absorbente de Brenger tiene un tamao finito.
Para obtener el coeficiente de reflexin de un absorbente de Brenger se parte de la
solucin de ondas planas de la ecuacin de onda. Una onda plana 0(x') = exp(-jkxx') que
se transmite en este absorbente no experimenta ninguna reflexin porque no hay
discontinuidades en este material, pero su amplitud decrece comoex.p(-kx\cr(s)ds).
Cuando la onda alcanza el final del absorbente, de tamao d, se refleja en la frontera, y
toma la forma RL exp(-jkxx'(d))ex.p(jkx(x'(x)-x'(d))),
donde RL es el coeficiente de

CAPTULO 4

32

reflexin en la frontera x=d; e.g., R=-1 en el caso de imponer una condicin de frontera
de Dirichlet. Debido a que el signo de kK se invierte, la amplitud de la onda sigue
disminuyendo durante el trayecto de vuelta a travs del absorbente, y finalmente sale del
absorbente como R exp(jftX) ; R es el coeficiente de reflexin, y representa la relacin
entre las amplitudes de la onda reflejada y la onda incidente (figura 4.2). Utilizando
(4.1), el coeficiente de reflexin se puede escribir como
-2** f <"(')&

(4.7)

Se hace notar que \R\ se puede hacer arbitrariamente pequeo si a(x) es suficientemente
grande, exceptuando el caso de incidencia tangencial (#=0), para el que |#(0)|=1, con
independencia de la funcin o(x) elegida. De forma equivalente, para una atenuacin
prescrita, el tamao del absorbente de Brenger se puede hacer tan pequeo como se
quiera; por ejemplo, reducido a una celda de la malla de discretizacin. Sin embargo,
como se ver ms adelante, las variaciones fuertes de la conductividad crean
reflexiones, y en la prctica el absorbente debe tener un tamao de unas cuantas celdas,
con un perfil de conductividad que aumente de forma gradual hacia el exterior del
absorbente. Para todos los clculos presentados en este captulo consideraremos una
conductividad de tipo polinmico [Bri, VC1]
4
+

x=0

PML

J*}'
(H}

(4.8)

Figura 4.2. Ilustracin del mtodo de


Brenger. La capa absorbente (PML) se
puede terminar con una condicin de
frontera de Dirichlet.

Condicin de frontera de Dirichlet (RL=-1)

C. Coeficiente de reflexin numrico


Consideremos un absorbente de Brenger discretizado en M puntos en la direccin
normal a la frontera, que denotaremos abreviadamente como B-M. Cada punto ocupa la
posicin x't! = x'(x) = x'(i&x), i-l,...,M- En el medio adyacente (x<0) al absorbente, el
campo se puede expresar como una superposicin de las ondas exp(-jk) y R exp(jk^x)
respectivamente, i.e., $(x) = exp(-y'A:tx) + R - e x p ( j k x x ) . Observemos que la relacin
dltf/0 es independiente de x. Este resultado nos permite derivar el coeficiente de
reflexin numrico del absorbente de Brenger.
En el caso general, o(x) no es uniforme, y se utiliza una expresin de la derivada
segunda d2x,0 para, puntos no equidistantes x'

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

M=-

33

(4.9)

con Ax'i-i/2 = x'/-;t'/-i. Nos restringiremos al caso en el que la parte real de Ax'-1/2 es
una constante real positiva (Ax) para todos los z. Utilizando una aproximacin discreta
de (4.1), es fcil comprobar que
(4.10)
con Of=a(x). La ecuacin (4.9) se puede escribir como
1

(4.11)

Ax 2-jer, -.

1-7

Los o[ son cero en el medio adyacente. Un absorbente de Brenger que empieza en


x0; i.e., x0 es el ltimo punto de la regin Q, corresponde a los puntos x\ ,...,x'M en el
dominio de clculo. Observemos que
= 2 cos(kxAx) - 2

(4.12)

El trmino que aparece a la derecha en (4.12) se deriva en el medio adyacente, partiendo


de la expresin anterior de $x), y tomando Of=ai+l=Q. En el extremo del absorbente se
puede imponer una condicin de frontera de Dirichlet; i.e., 4i+1=0, que refleja
totalmente las ondas incidentes. Si se toma (4r=l (valor arbitrario), y se aplica (4.12)
sucesivamente en los puntos i=M, M-l, M-2, ... , se obtienen 4-i>4i-2> > 4 <f>-\- Los
ltimos dos valores corresponden a puntos del medio adyacente. Observemos que

30

40

50

60

1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 9 D 7 0 S 0 9 0

Angplo (gados)

ngulo (grados)

(a)

(b)

Figura 4.3. Coeficiente de reflexin terico y numrico de varios absorbentes de Brenger. La


funcin de conductividad es de tipo polinmico con parmetros ^4=0, B=13.5; (a) q=\
(conductividad lineal); (b) q=2 (conductividad parablica). En las curvas dibujadas en lnea
continua, el tamao del absorbente se ha fijado a 0.08 urn, y en lnea discontinua a 0.04 um. En
lnea punteada se muestra el coeficiente de reflexin terico.

CAPTULO 4

34

0o=l +R y z!-, =exp(-jkxx) + R-exp(jkxx). Considerando $>/^_i y resolviendo


para R, el coeficiente de reflexin numrico de un absorbente de Brenger es
M*

(4.13)

La figura 4.3a muestra el efecto de la discretizacin en el coeficiente de reflexin. En


este ejemplo se ha supuesto una conductividad con perfil lineal (q-l), A=Q, 5=13.5. Se
ha considerado una longitud de onda de 1.3 um, y se ha supuesto que la regin Q est
compuesta por un medio homogneo de ndice de refraccin np=3.2. La teora del
espacio continuo, tratada en 4.2.B, indica que el valor mnimo del coeficiente de
reflexin, que se da para incidencia normal, es del orden de 10"10. En el primer
experimento numrico se mantiene constante el tamao del absorbente de Brenger
(/=0.08 urn), y se reduce el intervalo de discretizacin Ax (lnea continua). Observemos
que al reducir el intervalo de discretizacin el coeficiente de reflexin en el espacio
discreto se aproxima al coeficiente de reflexin en el espacio continuo. En la figura 4.3b
(lnea continua) se muestra el mismo experimento para un perfil de conductividad
parablico (q=2), A^Q, 5=13.5. En este caso, la teora del espacio continuo predice un
coeficiente de reflexin mayor que en el caso lineal. La razn es que el coeficiente de
absorcin de la capa de Brenger es proporcional al rea que presenta el perfil de
conductividad, y, en un perfil parablico hay menos rea que en un perfil lineal. Sin
embargo, la diferencia entre el coeficiente de reflexin terico y numrico es menor en
el caso parablico que en el lineal. Para la misma discretizacin el perfil parablico
supera ligeramente en absorcin al perfil lineal, para ngulos de incidencia grandes
(figuras 4.3a y 4.3b; lnea continua). La explicacin se debe a que, en el caso parablico,
la conductividad realiza una transicin ms suave entre el medio sin prdidas y el
absorbente de Brenger, por lo que el contraste entre las celdas adyacentes es menor.
Esto tiende a mitigar el error de discretizacin. En el segundo experimento se ha
reducido el tamao del absorbente de Brenger en la misma proporcin que el intervalo
de discretizacin (figuras 4.3a y 4.3b; lnea discontinua). La absorcin terica, por tanto,
disminuye respecto a la obtenida en el primer experimento, al reducirse el tamao del
absorbente. En el espacio discreto, para ngulos prximos a incidencia normal, el
coeficiente de reflexin es menor que el obtenido en el primer experimento, y para
ngulos cercanos a incidencia tangencial es mayor.
En el espacio continuo, la absorcin se puede aumentar indefinidamente

20

30

40

50

ngulo (grados)

60

70

80

Figura 4.4. Coeficiente de reflexin


numrico para un absorbente de
Brenger de 10 puntos (B-10), de
tamao 0.08 um La funcin de
conductividad es una parbola con
parmetros A=Q, q=2, y B variable.
Se observa que al aumentar B no se
puede disminuir el coeficiente de
reflexin indefinidamente.
90

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA D LA ECUACIN DE ONDA

35

incrementando la conductividad mxima (E) del absorbente de Brenger. Sin embargo,


esto no es cierto en el espacio discreto. En la figura 4.4 se muestra que el aumento de la
conductividad ayuda inicialmente en la absorcin, pero eventualmente se llegar a un
estado de saturacin, debido a que el aumento del perfil de conductividad incrementa el
contraste entre celdas adyacentes, acentuando el error de discretizacin.
D. Transformacin de la ecuacin de onda en el absorbente de Brenger
Consideremos la ecuacin de onda de Helmholtz escalar en el absorbente de
Brenger, en el caso de dos dimensiones
(dl+dl+k\-)r = Q

(4.14)

donde p es el perfil de ndice de refraccin del absorbente, que se elige igual al del
medio adyacente. Buscamos una ecuacin diferencial que sea satisfecha por ondas
planas del tipo

(ff=e

-d,

(4.15)

Si se realiza la transformacin
(4.16)

en (4.14) resulta fcil comprobar que (4.15) satisface (4.14) si y slo si se satisface la
relacin de dispersin
(knpY=kl+kl

(4.17)

Con esta transformacin de la derivada respecto a la direccin normal, dada por (4.16),
la ecuacin de onda (4.14) se puede escribir como

(4.18)
Para aplicar la condicin de frontera PML al 2D-BPM, consideremos soluciones del tipo
ys(x,z) = 0(x,z)exp(-jm0z), donde n,, es un ndice de refraccin de referencia.
Sustituyendo en (4.18), la ecuacin de onda transformada es
(4.19)

En adelante supondremos que 0 presenta variaciones pequeas respecto a z, dentro


de una longitud de onda A = 2&/ knQ , de tal manera que en (4.19) se puede despreciar la
derivada segunda respecto a z (aproximacin paraxial). Utilizando este resultado, (4.19)
queda reducida a

36

CAPTULO 4

(4.20)
E. Aproximacin en diferencias finitas de la ecuacin de onda transformada y
optimizacin del absorbente de Brenger
La ecuacin en derivadas parciales (4.20) se reemplaza por la aproximacin en
diferencias finitas

1-.M
(4.21)
donde $ es el campo escalar en (iAx,z), con il,...,M; Ax es la longitud de cada una de
las celdas en que se divide el absorbente de Brenger y o- es la conductividad eren la
posicin '/tc. En el absorbente de M puntos (0<x<T) se supone una distribucin
polinmica de la conductividad

(4.22)

cr, es la conductividad de la celda del absorbente de Brenger situada ms cerca del


medio adyacente, y o^ es la conductividad correspondiente a la celda ms alejada. En la
celda M+l se impone una condicin de frontera de Dirichlet (i.e., (4i+1=0), que refleja
totalmente las ondas incidentes. En [Rt2, VC1] se proponen otras alternativas para
terminar el absorbente. Los parmetros A,B,q de (4.22) se ajustan para optimizar la
reflectancia del absorbente de Brenger (|JR(9)|2) en un intervalo prescrito de ngulos
(r/n-^mjt) antes e comenzar la simulacin BPM. La optimizacin consiste en hacer
mnimo el mximo valor de la reflectancia para los ngulos 6 en el intervalo
0mln<9<9mia. El coeficiente de reflexin \R(Q)\ para un absorbente de Brenger es funcin
del producto k^x y la distribucin o, y se ha calculado siguiendo el algoritmo descrito
en el apartado 4.2.C. En la figura 4.5 se presenta un experimento numrico para mostrar
el efecto de la optimizacin sobre varios intervalos de ngulos de incidencia.
Integrando (4.21) sobre el intervalo [z,z+Az] mediante la regla del trapecio, se
obtiene una relacin entre el campo escalar en z+zlz y el campo escalar en z en el
absorbente de Brenger

con
(4.24a)
(4.24b)

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

37

(4.24c)

J
J
2Ax V 1-ycr
J \-jcr
M

_2/n
' o k + V-

(4.24d)

I
Figura 4.5. Coeficiente de reflexin
numrico de un absorbente de Brenger
de 10 puntos (B-10) de tamao 0.08 um.
La funcin de conductividad se ha
optimizado en diferentes intervalos de
ngulos.

En el medio adyacente (x<0) la conductividad o; es cero y (4.23) se reduce a (3.17). El


conjunto de ecuaciones (3.17) y (4.23) forma un sistema tridiagonal de ecuaciones
lineales, el cual se resuelve para cada z, tal y como se discuti en la seccin 3.5.

3. OPERADORES DE HiGDON
A. Ecuaciones de Onda Unidireccionales y operadores de Higdon
Consideremos la ecuacin de onda (4.14) en el vaco (p=l), que admite soluciones
del tipo
i//(x,z) = e-j(k'^k'z)

(4.25)

que satisfacen la relacin de dispersin (4.17). Consideremos kK y kz nmeros reales. En


el plano (kx,kz), las curvas de k constante determinadas por (4.17) son crculos
concntricos. Por tanto, para cada valor de k, (4.14) admite ondas planas viajando en
todas las direcciones. El vector unitario (sin0, cosd) con 0e[0,27t\ representa la
direccin de propagacin de la onda plana.
Lo que buscamos es una ecuacin diferencial que se comporte como la ecuacin de
onda (4.14) en una direccin y no permita la propagacin en la direccin opuesta (figura
4.6). Este tipo de ecuaciones recibe el nombre de Ecuaciones de Onda Unidireccionales
(One-way wave equations, abreviadamente OWWE). En otras palabras, se requiere una
ecuacin que admita como soluciones las ondas planas que se propagan con ngulos

CAPTULO 4

38

OWWE

Figura 4.6. La Ecuacin de Onda Unidireccional ideal permite la propagacin a travs de


la frontera de la regin de clculo Q para ngulos entre O y TI (rayos dibujados en lnea
discontinua), impidiendo la propagacin para los ngulos del intervalo (7t,27t) (rayos en
lnea continua).

Si despejamos &x en (4.17), obtenemos


(4.26)
El signo positivo en (4.26) corresponde a ondas que se propagan con ngulos 0e(0,), y
el signo negativo corresponde a ondas que se propagan con ngulos 0e(?r,27). En
consecuencia, la ecuacin diferencial que buscamos tiene una relacin de dispersin

s = k, I k = cos 9

(4.27)

En el plano (kx,kz\ las curvas de k constante determinadas por (4.27) son semicrculos
concntricos. Puesto que Vl-s 2 no es una funcin racional, (4.27) no es la relacin de
dispersin de ninguna ecuacin diferencial [TH1].
En la prctica, para construir ecuaciones diferenciales del tipo OWWE, se aproxima
(4.27) con la ayuda de una funcin racional
r(s) = pm(s)/qn(s)

(4.28)

donde pm y g, son polinomios reales de grado exacto m>0 y >0, sin ceros en comn. El
objetivo es que r(s) sea una buena aproximacin de Vl-s 2 en el intervalo [-!,!] Para
esta aproximacin, se deriva la correspondiente ecuacin diferencial reemplazando
(4.27) por la relacin de dispersin
kx = +kr(s),

s = k,/ k = cos 9

(4.29)

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

39

Por ejemplo, supongamos que r es la aproximacin de Taylor r(s) = l-s2/2.


Sustituyendo esta expresin por Vi - s2 en (4.27), obtenemos
jfc = AJl_I*i.j

(4.30)

o, de forma equivalente
k

Ir -2

n, n.

rt.

A "31^

L 2

\-T.JIJ

que corresponde a la relacin de dispersin de la ecuacin diferencial


-O

(4.32)

En el caso general (4.29), multiplicamos ambos lados por km*^m~^q (s) para
eliminar denominadores, y obtenemos
*""'*,?/ W = d /> 0),

d = mx{m, / + 1}

(4.33)

Esta ecuacin tiene la forma


*,) = O,

grado(P)=/

(4.34)

donde P es un polinomio homogneo de dos variables con coeficientes reales, y es la


relacin de dispersin o smbolo de una ecuacin diferencial en derivadas parciales de
orden d en x, z.
Consideremos ahora un tipo de aproximacin que nos permitir derivar los
operadores de Higdon. Para cualquier nmero entero >1, sean is^.-.^nUn conjunto
de 2n puntos del intervalo [-1,1], contados con multiplicidad. Sea p un polinomio de
grado distinto de cero, que se anula en V1 - s? para cada i, y sea
(4.35)

(-XO+X-0)/'
donde / = Vi- s2 . Trefheten y Halpern han demostrado que
>-(s) = -Jl-s2 es
equivalente a p(t)'= O [TH1]. En otras palabras, (4.35) interpola Vl-s 2 en los puntos
s. Si consideramos Ji-sf =sm0, con 0e[0,7, entonces p(t) = p(kjk) = 0 es
equivalente a
fl(kx-ksin0,) = 0
w
que es el smbolo de la ecuacin diferencial en derivadas parciales

(4.36)

40

CAPTULO 4

(4.37)

que se satisface exactamente para cualquier combinacin lineal de ondas planas


incidiendo con ngulos 0 y n-d{. La ecuacin (4.37) se denomina operador de Higdon
de orden n, y se aplica en la frontera de la regin de clculo para absorber las ondas
radiadas.
B. Modificacin de los operadores de Higdon en la formulacin paraxial
Observemos que si la propagacin se realiza en un medio de ndice de refraccin s,
(4.37) debe modificarse de la siguiente forma
(4.38)
Para derivar los operadores (4.37) y (4.38) hemos supuesto que se aplica la ecuacin de
onda de Helmholtz en la regin de clculo Q. Sin embargo, notemos que, si se usa la
aproximacin paraxial de la ecuacin de Helmholtz en Q, se deben modificar los
operadores de Higdon para tener en cuenta el diferente espectro de ondas incidentes
sobre las fronteras de Q [JP2]. Si se considera la ecuacin de Helmholtz en el medio
adyacente a la frontera (de ndice s), /cx adopta valores entre O y kns para ondas radiadas
con ngulos de incidencia en el intervalo [0,7t]. Sin embargo, en el caso paraxial, &x
adopta valores entre O y fc^/^Tf para el mismo intervalo de ngulos. Si se desean
eliminar las reflexiones de los rayos que se propagan con ngulos {#},'!,, suponiendo que
se utiliza la aproximacin paraxial en Q, (4.38) debe reemplazarse por [JP2]
(4.39)
donde
si B\ = (O, x 12) u (a 12, a)
= , si

(4.40a)
(4.40b)
(4.40c)

donde (4.40) se ha obtenido a partir de la relacin de dispersin (3.6) de la ecuacin de


onda paraxial, y de la relacin kx -kztg0. Si se utiliza (4.39) como condicin de
frontera para acabar la regin de clculo en la formulacin BPM, los ngulos 0{ se deben
restringir al intervalo [0,7t/2] (correspondiente a ondas que se propagan en la direccin
+z), ya que las ondas que se propagan en la direccin -z son ignoradas por el BPM.

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

41

C. Coeficiente de reflexin terico


Como vimos en la seccin 4.3.A, (4.37) se satisface para ondas planas incidiendo con
ngulos 0l y n-Q^, En este caso no se producen ondas reflejadas, puesto que la condicin
de frontera es compatible con la radiacin de energa hacia el exterior de la regin de
clculo. Supongamos ahora que una onda plana incide con un ngulo 9 sobre la
frontera. En general, esta onda no ser una solucin de (4.39). En este caso, la solucin
debe incluir una onda reflejada, para que la superposicin de la onda incidente y
reflejada satisfaga la condicin de frontera. La relacin entre las amplitudes de la onda
reflejada y la onda incidente es el coeficiente de reflexin, y puede obtenerse
sustituyendo la suma de la onda incidente y la onda reflejada

en la condicin de frontera de Higdon (HABC-n)


, z ) =0

(4.42)

donde hemos supuesto que la frontera est situada en (x,z)=(a,z). El coeficiente de


reflexin resulta

1 1=1 A: + ksin 0, /}
\

-*

'

I\ <=i sin 0, + sin 0

(4.43)

'

Cada factor de (4.43), en mdulo, es menor que 1 si 0e(0,rf). Para el caso


correspondiente a incidencia tangencial, las ondas no se propagan hacia el interior de la
regin de clculo. Los ceros de R, 0 y jt-0^, son ngulos de absorcin perfecta y
aparecen como parmetros explcitos en (4.42). Esto da la posibilidad de adaptar, a
priori, la condicin de frontera a la informacin disponible sobre la solucin.
Hasta ahora hemos supuesto /cx real. En general, x es complejo, y se puede expresar
como kx = j0x - jax , con /?x y aK reales, y a>0. La situacin ^=0 corresponde a ondas
propagantes; si ^=0, las ondas son evanescentes; si /^O, af, las ondas son
propagantes con atenuacin. Observemos que la HABC-n (4.42), que absorbe las ondas
propagantes, refleja totalmente las ondas evanescentes (i.e., 1^1=1). La idea importante
es que la HABC-n (4.42) se puede generalizar para absorber adicionalmente ondas
evanescentes y las ondas propagantes con atenuacin, aadiendo un trmino adicional a
cada factor en (4.42) [Fgl]
Ylfa+jhinq+aM
1=1

=0

(4.44)

para la cual, el coeficiente de reflexin terico tiene la forma


(4.45)
^

CAPTULO 4

42

Los parmetros j y a, se seleccionan de manera que cada factor de (4.44) absorba un


tipo de onda en particular. Para absorber ondas propagantes se fija a=Q, y 0 se
selecciona de acuerdo con el ngulo de propagacin estimado para las ondas que salen
de la regin de clculo, de tal manera que el coeficiente de reflexin se aproxime a cero.
Para absorber ondas evanescentes se fija 0=0, y o\ se selecciona de acuerdo con el ritmo
de atenuacin estimado de las ondas, de manera que el trmino a - ax del coeficiente
de reflexin sea pequeo. Finalmente, para absorber ondas propagantes con atenuacin,
0( y a, se seleccionan diferentes de cero para minimizar el numerador en (4.45), segn
sea el &x estimado para las ondas que se propagan hacia el exterior de la regin de
clculo.
Si en la regin de clculo Q se utiliza la ecuacin de onda paraxial, (4.44) debe
reemplazarse por
(4.46)
con /cx(z) dado por (4.40), y los parmetros a se seleccionan para absorber las ondas
evanescentes y/o las ondas propagantes con atenuacin. La condicin de frontera (4.46)
presenta el siguiente coeficiente de reflexin terico

(4.47)

D. Aproximacin en diferencias finitas del operador de Higdon

La condicin de frontera (4.44) se puede implementar numricamente utilizando el


mtodo de aproximacin de las diferencias finitas. En este mtodo, el campo se define
en puntos discretos del espacio, x=iAx y z=mAz, siendo Ax y zfe los intervalos de
maestreo en la direccin x y z respectivamente. Supongamos que los operadores I y S
son los operadores identidad y desplazamiento espacial, respectivamente. Esto es
1$ = &
S$ = 0M

(4.48)
(4.49)

Aplicando el Mtodo de las Diferencias Finitas, la condicin de frontera (4.44) la


podemos expresar como [JP2]

i-s-1 + (jksm
... . 9_ + a,1+s-'
)
Ax

w+i

=O

(4.50)

donde $4i+1 indica el valor del campo en la posicin i=N+l, sobre la frontera.
Reorganizando (4.50) se llega a una expresin ms compacta

n
=l

= o,

a =

-1 + (jlcsin 0 + a ) Ax / 2
1 + (jlcsin 0 + a ) AJC / 2

(4.51)

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

43

La ecuacin (4.51) se puede interpretar como la condicin de frontera de Higdon en el


espacio discreto. Para implementar la condicin de frontera (4.44) en el 2D-FD-BPM, se
aade la ecuacin lineal (4.51) al sistema de ecuaciones (3.17), que resulta de la
discretizacin de la ecuacin de Helmholtz en Q. Si se utiliza la aproximacin paraxial
en Q se realiza el mismo procedimiento, pero se debe hacer el siguiente cambio en los
coeficientes a de (4.51) [JP2]
(4.52)

a =

E. Coeficiente de reflexin numrico


Para derivar el coeficiente de reflexin que presenta la condicin de frontera de
Higdon en el espacio discreto, expresemos el campo dado por (4.41) en forma discreta
j _

. -n jkbx-)k,mtsz

(4.53)

Sustituyendo (4.53) en la ecuacin en diferencias finitas (4.51), y despus de alguna


manipulacin algebraica, obtenemos el coeficiente de reflexin numrico [JP2]
(4.54)

Ax=0.2 Jim
Ax=0.1 nm

-3
10

10

10"

10

20

30

40

50

60

70

80

90

ngulo (grados)

Figura 4.7. Coeficiente de reflexin terico y numrico para la condicin de frontera de Higdon de
orden 3 (HABC-3). Los ngulos de reflexin nula en el espacio continuo son 10, 40 y 80. Como
consecuencia de la discretizacin de la condicin de frontera los ngulos de reflexin nula
experimentan un desplazamiento, que depende del intervalo de discretizacin Ax.

En la figura 4.7 se muestra el coeficiente de reflexin terico y numrico de la


condicin de frontera de Higdon de orden 3 (HABC-3), con ngulos de reflexin nula
f={10, 40, 80}. Esta condicin se impone en las fronteras de la regin de clculo Q
que contiene un medio homogneo de ndice de refraccin igual a 1. El ndice de
referencia (HO) se toma igual a 1. Se ha utilizado una longitud de onda de 1 |j,m, y

44

CAPTULO 4

diferentes Ax. Ntese que, como consecuencia de la discretizacin, los ngulos de


reflexin nula se desplazan progresivamente al aumentar Ax.

4. MTODO DE LOS OPERADORES COMPLEMENTARIOS


A, Teora de los operadores complementarios
Supongamos que la frontera de la regin de clculo est situada en (x,z)=(a,z), y que
la regin de clculo se extiende en el dominio (x,z)<(a,z). El campo, en el interior de la
regin de clculo puede expresarse como (4.41). Sobre la frontera imponemos una
condicin de frontera absorbente (ABC), que en general no proporciona una absorcin
perfecta de las ondas radiadas. Esta ABC produce una onda reflejada, que viene dada
por el segundo trmino de (4.41).
Definamos una ABC complementaria, tal que aplicada al mismo problema resulte en
un error de igual magnitud pero de fase opuesta al que se obtiene con la ABC original.
Si denotamos la nueva solucin como se obtiene
_ e-jk,x-jk,z _

(4.55)

La solucin libre de reflexiones, o solucin exacta del problema, denotada como


se obtiene promediando las dos soluciones (4.41) y (4.55)
(4.56)
Este anlisis se aplica al caso idealizado en que la onda que llega a la frontera de la
regin de clculo se origina en jc=-oo. En la prctica la situacin es ms complicada,
puesto que llegan mltiples reflexiones artificiales, procedentes de la estructura radiante
y de la frontera que delimita la regin de clculo. La primera reflexin que se produce
en la frontera es de orden \R\ [ver (4.54)]; el campo generado por la reflexin de la
primera reflexin, es decir, la segunda reflexin, ser de orden \R\2. Este
comportamiento contina dando lugar a una tercera, cuarta, quinta, ... etc. reflexin,
cuya magnitud ser de orden |jR|3, |/?|4, |.R|5, ... etc., respectivamente. Observemos que si
\R\<1, las reflexiones sucesivas van disminuyendo en amplitud. Cuando se promedian
las dos soluciones, siguiendo (4.56), se cancelan completamente las reflexiones de orden
impar (\R\, \R\3, ... etc.), si bien las reflexiones de orden par (\R\2, \R\*, ... etc.) quedan
inalteradas. En consecuencia, debe tenerse en cuenta que el error no se elimina de forma
completa, y el promedio de las dos soluciones es una aproximacin a la solucin exacta
(4.57)
Una caracterstica importante del Mtodo de los Operadores Complementarios (COM)
es que la cancelacin de las reflexiones de orden impar tiene lugar con independencia
del nmero de onda /cx, por lo cual resulta til para absorber ondas propagantes, ondas
evanescentes y ondas propagantes con atenuacin, incluso si la ABC original presenta
reflexin total para alguno/s de los tres tipos de ondas. Cabe resaltar tambin que el
error en la solucin final es de orden /?2.

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

45

Para obtener una solucin precisa del problema usando el mtodo descrito, se
necesita en primer lugar una ABC que admita una ABC complementaria, y en segundo
lugar que la ABC original tenga un coeficiente de reflexin que sea razonablemente
pequeo. Una ABC que cumple estos dos requisitos es la condicin de frontera de
Higdon (4.44) y (4.46), para la ecuacin de Helmholtz y la ecuacin de onda paraxial
respectivamente.
B. Operadores de Higdon complementarios en el espacio continuo y discreto
Consideremos la HABC-n dada por (4.44), que denotaremos como Bn$ = O, cuyo
coeficiente de reflexin R[Bn\ viene dado por (4.45). Para obtener el operador
complementario, consideremos la HABC-(H+1), B^ = 0, y fijemos ksin0a+l=Q y
an+t = O . En este caso, el coeficiente de reflexin resulta
(4.58)

jkx + jksin0

Observemos que (4.58) tiene la misma magnitud, y fase opuesta, que el coeficiente de
reflexin de la HABC-n dada por 5,,^ = O ; i.e.,
(4.59)
Si bien Bn y 5,f+1 son operadores complementarios en un sentido terico, deben tenerse
en cuenta consideraciones adicionales en su implementacin numrica. Cuando se usan
en el BPM, la asimetra en el orden de las derivadas espaciales entre los dos operadores
da lugar a un trmino de fase adicional que afecta la complementariedad de los dos
operadores. Para demostrar esta afirmacin, consideremos el campo (4.53), que
corresponde a (4.41) en el espacio discreto. Sustituyendo (4.53) en la ecuacin en
diferencias finitas (4.51), correspondiente a BD y 5,f+, , se llega a una relacin entre los
* coeficientes de reflexin de S,f+,,,, y #,,, (el subndice d indica que consideramos la
HABC-n en el espacio discreto), dada por

rf

>AAl

(4.60)

donde aparece el trmino de fase exp(jkKAx). Los operadores son complementarios si


este trmino es igual a l s lo cual ocurre slo si Ax es cero o la onda incide sobre la
frontera tangencialmente. Para evitar este problema, que tiene su origen en la asimetra
del orden de las derivadas espaciales, buscamos un operador de Higdon que tenga el
mismo coeficiente de reflexin que el operador 5n, y con orden igual a n+. Esto se
puede conseguir considerando la HABC-(n+l), B"n+l , fijando ksin 0,M =A y aa+l = O
S,W = fo +jA)l(dx+jk!m0, + a,}0\M = O
cuyo coeficiente de reflexin es

(4.61)

CAPTULO 4

46

~ A + M fA - A +
--- il"
jkx+jA I w jkx
Si hacemos

+ a

(4.62)

oo

(4.63)

Observemos que en el lmite A > oo, el operador B'+1 tiene el mismo coeficiente de
reflexin que el operador BD, i.e., .R[s*+1 ]=#[]. Esta constante A no tiene significado
fsico. En el espacio discreto, podemos escribir
(4.64)

donde
a.. . i =

l + jAax/2

(4.65)

Anlogamente
(4.66)

con
a

- -l + yOAx/2
l + yOAx/2

(4.67)

Utilizando la siguiente propiedad de los polinomios trigonomtricos

le"

- = ej

(4.68)

se obtiene
(4.69)
que elimina el trmino de fase y, en consecuencia, se da la complementariedad entre los
operadores discretos 5*+u y 5,f+w.
Observemos que el par de operadores complementarios CBn'+1, #";,) no es ptimo, en el
sentido que el mdulo del coeficiente de reflexin de cada uno de ellos es equivalente al
del operador de menor orden 5n. Sin embargo, este par proporciona el cambio de fase de
180 grados en el coeficiente de reflexin, necesario para obtener la complementariedad
de los dos operadores.

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

47

5. MTODO DE LOS OPERADORES COMPLEMENTARIOS EXTENDIDO


A. Teora del Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido y aplicacin al
2D-BPM
Como vimos en la seccin anterior, el COM cancela las reflexiones de orden (2+l),
siendo =0,1,2,...; i.e., las de orden impar. Las reflexiones de orden par no pueden ser
canceladas con este mtodo, por tanto, el error cometido en la simulacin BPM respecto
a la solucin exacta del problema es de orden \R\2. En esta seccin introduciremos una
extensin del Mtodo de los Operadores Complementarios para cancelar las reflexiones
de orden (2+l) y las de orden (4+2) en determinadas situaciones [JP1, JP2].
Consideremos una regin de clculo rectangular O en el espacio 2-D, que contiene la
estructura que se desea simular. Sean Bl y B2 las fronteras de la regin de clculo que
son paralelas a la direccin z. Sin prdida de generalidad, situemos Bl en *=0 y B2 en
x~W<Q. En el COM, la cancelacin se realiza promediando dos soluciones
independientes del problema (figura 4.8); la primera solucin se obtiene imponiendo la
HABC-n 5*z> = O en Bl y B2, y la segunda solucin se obtiene imponiendo la HABC-n
complementaria, 5,f z> = O, en Bl y B2. Los operadores B*n y 5,f presentan coeficientes
de reflexin que tienen la misma magnitud y fase opuesta. Denotemos con R y -R el
coeficiente de reflexin de cada uno de ellos.
B2

Bl
Figura 4.8. Ilustracin del Mtodo de los Operadores Complementarios aplicado al 2D-BPM. Con
esta tcnica se consigue la cancelacin de las reflexiones de orden impar (rayos dibujados en lnea
discontinua).

La idea principal del Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido


(ECOM) consiste en introducir en el COM dos nuevas soluciones del problema. La
primera se obtiene imponiendo la HABC-n 5nV = 0 en Bl y la HABC-n complementaria,
5,f0 = o, en B2. La segunda solucin se obtiene imponiendo la HABC-n B^ = 0 enBl,y
la HABC-n complementaria B"J - O en B2. Este mtodo se resume en la tabla IV.
TABLA IV
COEFICIENTES DE REFLEXIN CORRESPONDIENTES A LAS FRONTERAS DEL DOMINIO DE CLCULO EN EL
MTODO DE LOS OPERADORES COMPLEMENTARIOS EXTENDIDO
Etapa
1
2
3
4

Bl
R
-R
R
-R

B2
R
-R
-R
R

La simulacin BPM se divide en cuatro etapas, y en cada etapa se obtiene una


solucin de la ecuacin de onda ($) (z'=l,...,4). Para demostrar el funcionamiento del

CAPTULO 4

48

ECOM daremos un argumento suponiendo que una onda plana incide sobre una de las
fronteras. Como el mecanismo de cancelacin es independiente de /cx, el resultado ser
vlido para cualquier onda plana y para cualquier combinacin lineal de ondas planas
que se considere. Supongamos que una onda plana, con amplitud 1 y fase arbitraria,
incide sobre Bl, y supongamos que las reflexiones que se generan en Bl alcanzan B 2;
anlogamente, las que se generan en B2 llegan a Bl. En esta situacin, las sucesivas
ondas reflejadas tendrn las siguientes magnitudes
Etapa
Etapa
Etapa
Etapa

1:
2: 1 ,-R,R\-R3^,-R5,R6,-R7,Rs, . . .
3 : 1 ,R,-R\-R\R\R5,-R6,-R\R\ . . .
4: l,-R,-R\R\R\-R\-R6\R\ . . .

Promediando las cuatro soluciones </\ de la ecuacin de onda, obtenemos una


aproximacin a la solucin exacta

4/=i

(4.70)

en la que se han cancelado todas las reflexiones de orden (2w+l) y (4+2), al realizar el
promedio de las $ en (4.70) (figura 4.9). Observemos que el error que se comete en la
evaluacin del campo en la simulacin BPM, respecto de la solucin exacta, es de orden
\R\4, ya que la reflexin de mayor magnitud que no puede ser cancelada por el ECOM es
la de orden cuatro.
B2
2

[-RK\[R ]

Bl
Figura 4.9. Ilustracin del Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido aplicado al
2D-BPM. Esta tcnica permite la cancelacin de las reflexiones de orden 2+l, de la misma
forma que en el Mtodo de los Operadores Complementarios. Adicionalmente, se cancelan las
reflexiones de orden 4w+2 para aquellas ondas cuyas mltiples reflexiones se producen
alternativamente enBl y B2.

En la argumentacin anterior hemos utilizado como hiptesis que las ondas reflejadas
en Bl alcanzan B2, y las que lo hacen en B2 alcanzan Bl. En las situaciones en que esto
no es as, el ECOM slo puede cancelar las reflexiones de orden impar. Por ejemplo,
imaginemos una onda incidente sobre Bl, la onda reflejada llega a una discontinuidad, y
la reflexin que se produce en la discontinuidad se devuelve hacia Bl.
Para que el ECOM cancele las reflexiones de orden (2n+l) y (4+2), en situaciones que
no cumplen la hiptesis anterior, se propone introducir operadores, que denotaremos
como Bl, B'\ B' y B'\ con coeficientes de reflexin R, -R,jR y -jR, respectivamente. La
simulacin se dividira de nuevo en 4 etapas. En la primera etapa se obtiene una
solucin de la ecuacin de onda imponiendo condiciones de frontera B10 = 0 en Bl y
B2; la segunda solucin imponiendo B~10 = Q en Bl y B2; la tercera solucin

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

49

imponiendo B></> = 0 en Bl y B2; y la cuarta solucin imponiendo B~J0 = 0 en Bl y B2.


El mtodo se resume en la tabla V.
TABLA V
COEFICIENTES DE REFLEXIN CORRESPONDIENTES A LAS FRONTERAS DEL DOMINIO DE CLCULO EN EL
MTODO DE LOS OPERADORES COMPLEMENTARIOS EXTENDIDO
Etapa
1
2
3
4

Bl

B2

R
-R

R
-R

JR
'R

JR
-,)R

Para demostrar el mecanismo de cancelacin del ECOM supongamos una onda plana
incidente sobre Bl con amplitud 1 y fase arbitraria. Las sucesivas ondas reflejadas
tendrn las siguientes magnitudes
Etapa
Etapa
Etapa
Etapa

1:
2: \,-R,R\-R\R\-R5,R6,-R\R\ ...
3: 1,JR,-R2,-JR\R\JR5,-R6,-JR\R\ ...
4: 1,-JR,-R2,JR\R\-JR5,-R6,JR7,RS, ...

Si promediamos las cuatro soluciones de la ecuacin de onda segn (4.70), se


cancelarn todas las reflexiones de orden (2+l) y las de orden (4+2), con
independencia de la trayectoria que hayan seguido las reflexiones.
El problema se reduce, por tanto, a encontrar un conjunto de operadores B1, B'\ B' y
1
B' tales que sus coeficientes de reflexin sean R, -RJR y -jR, respectivamente. Hasta el
momento no se han encontrado tales operadores. Este problema est siendo investigado
por el autor.

6. EXPERIMENTOS NUMRICOS
En esta seccin se comparan las diferentes condiciones de frontera estudiadas hasta
ahora (HABC, COM, ECOM, PML). En todos los casos presentados se considera la
aproximacin paraxial en la regin de clculo Q.
A. Propagacin de un campo de Gauss en el vaco
El primer experimento numrico consiste en la propagacin de un campo de Gauss
en el vaco (figura 4.10). La regin de clculo viene dada por Ci={(x,z): 0<x<l2 (im,
0<z<500 jam}. En z=0 se inyecta un campo de Gauss con un ngulo de divergencia de
45. La longitud de onda considerada es A,=l jj,m; los pasos de muestreo son fc=0.05
um y zz=0.1 |am en la direccin x y z respectivamente. El ndice de refraccin de
referencia se selecciona n0=l. En la simulacin presentada en la figura 4.10a se ha
utilizado una condicin de frontera de Dirichlet, que refleja totalmente las ondas
radiadas que alcanzan la frontera de la regin de clculo. En la figura 4.10b se ha
utilizado la Condicin de Frontera Absorbente de Higdon.
En este experimento, &x toma valores en el intervalo [Q,*j2k] para ngulos de
propagacin entre 0 y 90; kz viene dada, por la relacin de dispersin de la ecuacin de
onda paraxial, y se encuentra en el intervalo [0,]. El campo de Gauss dado por

CAPTULO 4

50

W22 = wl + 2jz I k ,

(4.71)

es solucin de la ecuacin de onda paraxial en el vaco (9 es el ngulo de divergencia).


Esto hace posible comparar el resultado de la simulacin BPM con la solucin exacta
del problema. Para establecer la comparacin definimos el error en la posicin z de la
siguiente manera
(4.72)
Ntese que la definicin (4.72) es una medida del error cometido por la simulacin
BPM, al evaluar la forma y la fase del campo.

(a)
x (um)

(a)

(b)

x(um)

Figura 4.10. Simulacin BPM de la propagacin de un campo de Gauss en el vaco utilizando diferentes
condiciones de frontera: (a) condicin de frontera de Dirichlet; (b) condicin de frontera de absorbente
de Higdon.

En la figura 4.11 se muestra el coeficiente de reflexin numrico de varios


absorbentes de Brenger y operadores de Higdon. Los absorbentes de Brenger se han

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

51

optimizado para ngulos de propagacin entre ^=10 y ^=80 (el ngulo O est
referido al eje z). Para las condiciones de frontera HABC-n, COM-n, y ECOM-n, se han
considerado los ngulos 0{ (de reflexin nula) de la tabla VI. Los parmetros ct fueron
fijados a cero, puesto que en este problema no existen soluciones en forma de ondas
evanescentes.
TABLA VI
NGULOS DE REFLEXIN NULA
HABC-n
COM-n/ECOM-n
{10, 60}
{10}*
{10, 60}

{10, 20, 30, 60}

...
{10>200)30,600}

Orden (n)
-2
3
4
5
6
7
8
9

{10, 20, 30, 40, 50, 60"}

...
{10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80}

{10, 20, 30, 40, 50, 60}

{10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80}

(*) Este ngulo se utiliza en el experimento de la propagacin del campo de Gauss en la guia slab
10

10-

10-J
g

io

,'
I'7

Iff"
I'

10

20

30

40
50
60
ngulo (grados)

70

80

90

Figura 4.11. Coeficiente de reflexin numrico de varias condiciones de frontera


absorbentes, para el experimento de la propagacin de un campo de Gauss en el
vaco. Lnea continua: HABC-n; lnea discontinua: B-n.

En la figura 4.12 se representa el error respecto a la distancia de propagacin. Ntese


que el COM-n presenta menor error global respecto a la HABC-n, debido a que el
COM-n cancela las reflexiones de orden impar, despus de aplicar la tcnica de los
operadores de Higdon complementarios. Tambin podemos observar que el ECOM-n
reduce el error en varios rdenes de magnitud respecto al COM-n. La causa de esta
reduccin se debe a que el ECOM cancela, adicionalmente, las reflexiones de segundo
orden. Para todas las condiciones de frontera examinadas el error global aumenta de
forma abrupta en las proximidades de z=0. Este efecto est relacionado con la
eliminacin de los rayos pticos con frecuencias espaciales elevadas (correspondientes a
ngulos de propagacin con incidencia casi perpendicular a la frontera), que no son
correctamente tratados por el BPM, ya que el intervalo de muestreo es demasiado
grande. Estos rayos se atenan en poca distancia. Este efecto se reduce tomando un

CAPTULO 4

52

intervalo de muestreo ms pequeo. Cabe destacar que B-10 tiene un coeficiente de


reflexin mayor que la HABC-6 y HABC-8; en cambio, el error de B-10 est por debajo
de estas condiciones de frontera a partir de 100 jam. Tambin se puede observar que el
incremento del orden de las HABC slo disminuye ligeramente el error. En la tcnica de
Brenger, cambiar de B-10 a B-20 disminuye el coeficiente de reflexin. Sin embargo,
el error es ms pequeo para B-10 en el intervalo [0,160] |am. Similarmente ocurre para
B-40 y B-80 en el intervalo [60,100] (m. La explicacin de estas observaciones,
posiblemente est relacionada con el hecho de que las variaciones rpidas del
coeficiente de reflexin provocan una distorsin del campo de Gauss al reflejarse en la
frontera, tal como se ha apuntado en la literatura [VC1, TB1].

10
HABC-2

10
10

10
10

10'

ECOM-9

10

~ O

100

50

150

200

250

300

350

400

450

500

z(\im)
Figura 4.12. Error en la simulacin de un campo de Gauss propagndose en el
vaco, utilizando las condiciones de frontera HABC, COM, ECOM y PML.

En la figura 4.13 se muestran las distribuciones de campo elctrico, en z=500 |j,m,


usando COM-5 y ECOM-5; F++, F_, F+., F_+, denotan las distribuciones de campo
0.06

0.055 -

~\
X

0.05

O-04

i* 0.035

33o 0.03

J*

Js

^ t,

8 0.045
TJ

IL.

;< \

L"-^

/ \ ^. EOOi\t5
Fonda (lnea slida)''
F

~~'-^

'

'^..

(Bnsarajuda)

,'
f
^\
""'
v
/
s<.z.TJr.<
^v
F
/ s'
OC15
^s \

3 0.025

Figura 4.13. Distribuciones de


campo en z=500 um, mostrando
las etapas 1-4 en las que se
divide la operacin del ECOM.

""sv

,'/

0.02

^.'

-'''

//,'/

,?

SxN^

0.015
^-^

r\n

10

12

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

53

elctrico que se obtienen en las etapas 1-4 de la simulacin BPM, respectivamente. El


promedio de estas cuatro distribuciones (FECOUS) es muy similar a la solucin exacta
(Exacta)- El mayor nivel de absorcin que se obtiene con ECOM se puede utilizar para

50

100

150

200

250 300
z ((ini)

350

400

450

500

50

100

150 200

250 300
Z (Jim)

(a)

350

400

450

500

250 300 350 400

450

500

(b)

COM-5
RF-1

50

100 150 200

250 300 350 400 450 500

50

100 150 200

z (Ulli)

z (fin)

(C)

(d)

Figura 4.14. Error en la simulacin de un campo de Gauss propagndose en el vaco al utilizar el


COM-n. La anchura de la ventana de clculo es W-12 um (RF=1). El resultado se compara con el
ECOM-n, usando W=6 um (RF=l/2) y W=4 um (RF=l/3): (a) n=3; (b) n=4; (c) n=5; (d) a=7.

acercar las fronteras de la regin de clculo a la estructura analizada, con objeto de


reducir los recursos de clculo necesarios para realizar la simulacin, si se acepta un
aumento en el error. Para ilustrar este punto se han realizado simulaciones del error con
el ECOM-n (=3,4,5,7), reduciendo el tamao de la ventana de clculo (W=12 p,m) en
un factor RF=l/2 y 1/3 respectivamente; en la figura 4.14 se muestran los resultados y
se comparan con los obtenidos utilizando el COM-n en una ventana de 12 ixm (lnea
discontinua). En todos los casos estudiados el error usando la tcnica ECOM-n es menor
que si se utiliza la tcnica COM-n.

Figura 4.15. Evolucin de un


campo de Gauss propagndose en
el vaco, usando un absorbente de
Brenger de 10 puntos (B-10). La
solucin exacta (lnea discontinua)
se compara con la simulacin
BPM, para diferentes distancias.

CAPTULO 4

54

En la figura 4.15 se ilustra la evolucin del campo elctrico utilizando una capa de
Brenger de 10 puntos (B-10). En lnea discontinua se muestra la solucin exacta,
obtenida mediante (4.71). Obsrvese que, dentro del absorbente, el campo se atena de
forma rpida. Para el clculo del error no se considera el campo dentro del absorbente.
Adems de calcular el error de la solucin BPM, es interesante evaluar la potencia del
campo elctrico en el dominio de clculo, respecto a la potencia de entrada (i.e., la
potencia fracciona!) utilizando las diferentes condiciones de frontera. La potencia del
campo en la posicin z, se define como
BPM

(4.73)

Similarmente, la potencia exacta del campo, se calcula como


(4.74)

2 10

10 O

50

exacta

HABC-
HABC-8

S 10
8

cd

JQ O

100 150 200 250 300 350 400 450 500

50

100 150 200 250 300 350 400 450 500

z Gun)

(a)

z (Mm)

10 |\

(b)

50 100 150 200 250 300 350 400 450 500

(C)

Figura 4.16. Potencia fraccional del campo de Gauss propagndose en el vaco,


utilizando las tcnicas de absorcin: (a) HABC; (b) PML; (c) COM y ECOM. El
resultado se compara con la potencia fraccional exacta (linea discontinua).

El resultado se muestra en la figura 4.16; en lnea discontinua se representa la potencia


fraccional exacta. El resultado ms preciso se obtiene con la tcnica ECOM; el COM se
acerca a la solucin exacta al subir el orden de los operadores de Higdon. Este

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

55

comportamiento, sin embargo, no aparece en las HABC al subir el orden, ni en la


tcnica de Brenger al aumentar el nmero de puntos de discretizacin en el absorbente.
En la tabla VII se muestra el tiempo de clculo requerido para realizar una
simulacin BPM, de 500 |j.m, con las diferentes condiciones de frontera. Para realizar
los clculos se ha utilizado una estacin de trabajo SUN Ultra 30. Para los operadores de
Higdon (=2-8), el tiempo es aproximadamente el mismo; en la tabla se muestra el
tiempo medio. En la tcnica de Brenger, el tiempo de simulacin incluye el tiempo de
optimizacin del coeficiente de reflexin. El tiempo de optimizacin aumenta al subir el
nmero de puntos en el absorbente. Ntese que el COM-n y ECOM-n representan un
aumento del tiempo de clculo en un factor 2 y 4 respecto a las HABC-n. Estos factores
pueden ser reducidos reconociendo, que para un z fijado, slo la primera o la ltima
ecuacin del sistema de ecuaciones lineales del BPM (de orden N) cambia en las 2 (4)
etapas del COM (ECOM); estas dos ecuaciones provienen de sustituir la HABC-n
discreta para Bl y B2, en la primera y ltima ecuaciones del sistema, respectivamente.
Las N-l ecuaciones restantes del sistema BPM no cambian. Esta reduccin en el tiempo
de clculo puede ser especialmente importante en sistemas que presentan variacin en z
de la geometra y/o del ndice de refraccin. Si el operador de Higdon es de orden
superior a dos, el sistema BPM pierde la estructura tridiagonal. Que el sistema de
ecuaciones tenga estructura tridiagonal presenta inters desde el punto de vista
computacional, ya que se puede aprovechar este hecho para disminuir el tiempo de
resolucin del sistema. La utilizacin de un absorbente de Brenger de n puntos (B-n), a
diferencia de las tcnicas anteriores, aumenta en n el nmero de ecuaciones del sistema.
Sin embargo, esta tcnica ofrece la ventaja de conservar la estructura tridiagonal del
sistema BPM.
TABLA VII
TIEMPO DE SIMULACIN PARA PROPAGAR UN CAMPO DE GAUSS EN EL VACO UNA DISTANCIA DE 500
Condicin de frontera
HABC-2 - HABC-8
COM-2-COM-8
ECOM-2-ECOM-8
ECOM-2 - ECOM-8 (RF=l/2)
ECOM-2 - ECOM-8 (RF=l/3)
B-10
B-20
B-40
B-60
B-80

Tiempo (s)
315.7
631.5
1263.0
533.0
337.8
390.7
478.1
646.7
771.3
908.8

B. Propagacin de un campo de Gauss en una gua slab


En el siguiente experimento numrico se estudia la propagacin de un campo de
Gauss en una gua slab invariante en z. La gua considerada es simtrica con un perfil de
ndice de refraccin 3.2/3.6/3.2. El ncleo de la gua es de 0.2 |o,m, y la longitud de onda
de 1.3 J,m. Para esta longitud de onda la gua es monomodo.
En la seccin 3.4 se encontraron los valores que pueden tomar kK y /cz en la gua slab,
considerando la aproximacin paraxial. La regin de clculo es rectangular, con un
tamao de 2.2 jam en la direccin x y 200 um en la direccin z. El ndice de referencia
() se ha tomado igual al ndice efectivo del modo guiado, i.e., 0=^=3.3479. Los
intervalos de muestreo en la direccin x y z se han escogido zlx=0.008 (am y zlz=0.01

CAPTULO 4

56

jorn respectivamente. Los absorbentes de Brenger han sido optimizados entre 45 y 90.
Para las condiciones de frontera HABC-n, COM-n, y ECOM-n, se consideraron los
ngulos de reflexin nula de la tabla VI. El campo de Gauss tiene una divergencia de
45. Este campo incidente puede ser pensado como una superposicin de los modos
guiados y radiados de la gua de onda, ya que estos modos forman una base completa en
la cual se puede representar cualquier campo de entrada.
En la figura 4.17a se muestra el mdulo del campo elctrico resultante de la
simulacin BPM, aplicando la condicin de frontera ECOM-3. La potencia del campo
elctrico en la regin de clculo se va reduciendo de forma gradual, puesto que los
modos radiados que llegan a la frontera van siendo absorbidos. Por otra parte, el modo
guiado fundamental, asociado con un rayo que se propaga por reflexin interna total en
la frontera ncleo-cubierta y ncleo-sustrato, aparece como la respuesta estacionaria en
la figura 4.17a, despus de aproximadamente 10 jam. Este comportamiento se refleja
muy bien en la figura 4.17b, en la que se observa que la potencia permanece
aproximadamente constante para z>10 jam. Esta discusin cualitativa es anloga para el
resto de condiciones de frontera; i.e., HABC, COM y PML.
Para dar una indicacin sobre el comportamiento de las diferentes condiciones de
frontera, resulta interesante comparar el campo calculado con el BPM y la solucin
estacionaria de la ecuacin de onda paraxial. La solucin estacionaria corresponde al
modo guiado, del cual disponemos de la expresin analtica exacta. Con este propsito,

r
-

0.995 -

0.99

1
1
I
ri

3
:S

0.985

0.98

0.975

0.97
0.965

\
0.96

0.955

\^
1

EOOM3
1

10

15

20

25

30

35

(b)

(a)

Figura 4.17. (a) Simulacin BPM de un campo de Gauss propagndose en una gua slab
monomodo, en la que se ha usado el ECOM-3 como condicin de frontera. El campo de
Gauss tiene una divergencia de 45 y se ha utilizado una longitud de onda de simulacin de
1.3 um. La figura muestra el mdulo del campo elctrico; (b) fraccin de la potencia
incidente que permanece en la ventana de clculo.

definimos el error en la posicin z como


Racionaria

(4.75)

Para una distancia z fijada, se realiza una normalizacin del mdulo del campo, antes de
calcular el error. Ntese que la definicin (4.75) tiene en cuenta la forma del campo,
ignorando completamente la posible diferencia de fase entre la solucin numrica y la

40

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

57

100 120 140 160 180 2CO

zfwii)

(c)

20 40 60 80 103 120 140 160 180 200

(e)

Figura 4.18. Error en la forma del campo cuando se utilizan diferentes tcnicas de absorcin (lnea
continua): (a) HABC; (b) HABCG-4 con varios coeficientes de atenuacin; (c) PML; (d) COM; (e)
ECOM. Para (a), (c), (d) y (e), las lneas discontinuas corresponden al error en la forma y la fase del
campo, tal y como se define en (3.72).

solucin exacta. En la figura 4.18a se muestra el error en funcin de la distancia z para


las HABC-n. El coeficiente de reflexin numrico de estas condiciones de frontera se
presenta en la figura 4,19. En la figura 4.18a, cuando se alcanza el estado estacionario,
los modos radiados han sido absorbidos, y el error de la simulacin BPM se debe a las
reflexiones que experimentan las ondas evanescentes al incidir sobre la frontera de la
regin de clculo; estas reflexiones provocan una distorsin del campo evanescente.
Esta distorsin aparece claramente en la figura 4.20, que presenta el mdulo del campo
elctrico normalizado, en el estado estacionario. En lnea continua se muestra la
solucin exacta de la ecuacin paraxial; i.e., la distribucin de campo del modo guiado.
En el sustrato y la cubierta la distribucin es lineal en una representacin logartmica,
correspondiendo al campo evanescente. El grado de error observado en las diversas
HABC-n (figura 4.18a; lnea continua) se debe a que cada una de ellas presenta un
coeficiente de reflexin (en el dominio discreto) distinto para las ondas evanescentes.
Esto queda de manifiesto si se reemplaza /cx=-j^ (correspondiente a la constante de

CAPTULO 4

58

propagacin transversal en el sustrato/cubierta para una onda evanescente) en la


expresin del coeficiente de reflexin numrico de los operadores de Higdon. El error
ms pequeo se da para la HABC-4, que presenta tambin la distorsin menor del
campo evanescente. Ntese aqu que el coeficiente de reflexin en el dominio continuo
es 1 (en mdulo) para cualquier orden considerado y para cualquier ngulo de
incidencia. La distorsin del campo evanescente tambin se manifiesta en la tcnica de
Brenger (figura 4.18c, lnea continua y figura 4.20), si bien se puede obtener un mejor
resultado que en las HABC-n, aumentando suficientemente el nmero de puntos en el
absorbente (20 40 puntos).
Se ha observado tambin, que para las HABC, se produce un aumento del nmero de
condicin de la matriz de propagacin (tabla VIII), al subir el orden del operador de
Higdon, lo cual indica que la solucin del sistema de ecuaciones es cada vez ms
sensible al error de redondeo de los datos. Este comentario es vlido, tambin, para las
tcnicas COM y ECOM, que estn basadas en los operadores de Higdon. Sin embargo,
esto no se observa en la tcnica de Brenger.
TABLA VIH
NMERO DE CONDICIN DE LA MATRIZ DE PROPAGACIN
Condiciones de
frontera
B-10
B-20
B-40
HABC-2
HABC-4
HABC-6
HABC-8

Nmero de
condicin
14.5
10.4
12.2
22.8
318.4
8.7xl03
2.5xl05

Cuando el rayo ptico guiado incide sobre la frontera ncleo-cubierta o ncleosustrato se crea una onda evanescente, que se extiende, respectivamente, en la cubierta o
el sustrato. Esta onda corresponde a un ngulo de propagacin imaginario. Como

i
8
I

<u

o 10
U

Figura 4.19. Coeficiente de reflexin


numrico para varios absorbentes de
Brenger y operadores de Higdon, en
el experimento de la propagacin del
campo de Gauss en una gua slab.

I'

ngulo (grados)

explicamos anteriormente, se puede utilizar la HABC para absorber este tipo de ondas;
simplemente, aadiendo al operador de Higdon un trmino a, correspondiente al
coeficiente de atenuacin de la onda evanescente que se desea absorber. Se espera que
las ondas evanescentes generadas en este problema tengan un coeficiente de atenuacin

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DELA ECUACIN DE ONDA

59

dado por (2.61); i.e., r, = k^N^ - n] = 4,75 an1. Para confirmar este punto, se ha
realizado un experimento numrico utilizando una HABC-4 con ngulos de reflexin
nula <$j={10, 20, 60} (z-2,..,,4), y i tomando diferentes valores; llamaremos a esta
condicin de frontera HABCG-4. En la figura 4.18b se observa que, efectivamente, se
obtiene el menor error utilizando el valor at =/s-4.75 \im\

n=3.2

8
E

HAJIC-2

10"'

_HABC-8

f$

B-10
B-2(

HS-40

Iff 4

0.5

1.5

2.5

x(nm)
Figura 4.20. Distribucin de campo en el estado estacionario, para las condiciones de
frontera HABC y PML. Debido a la reflexin de las ondas evanescentes en las
fronteras, el campo en el sustrato y la cubierta sufre una distorsin respecto a la
solucin exacta (lnea continua).

En las figuras 4.18a, 4.18d y 4.18e (lnea continua) se puede ver que las tcnicas
COM-3, ECOM-2 y ECOM-3 presentan un error ms pequeo que las HABC-2,
HABC-4, HABC-6 y HABC-8, como resultado de la cancelacin de las reflexiones de
orden impar (de las ondas radiadas y evanescentes), en el caso del COM, y
adicionalmente las de segundo orden, con el ECOM. Tambin se puede observar que el
ECOM reduce el error en el transitorio inicial respecto al COM. No se ha comprobado
ninguna mejora en el error, en el estado estacionario, al aumentar el orden de los
operadores de Higdon utilizados en el COM y el ECOM; tampoco se ha observado
mejora utilizando operadores de Higdon (con a =%) en el COM y el ECOM,
alcanzndose un valor de saturacin en torno a e(z)~10~7.
En las figuras 4.18a, 4.18c, 4.18d y 4.18e (lnea discontinua) se representa el error
segn la definicin (4.72) (cambiando /xacta por ^stario5 y normalizando /PM en cada
z). Esta definicin tiene en cuenta la forma y la fase del campo. El modo guiado
fundamental es una solucin de la ecuacin de onda paraxial, y toma la forma
0(x,z) = j00(x)exp(-.//V), con (4 dado por (2.62)-(2.64) y
/CHo

-1
o

(4.76)

CAPTULO 4

60

Si el ndice de referencia (HO) coincide con el ndice efectivo del modo guiado (Vef),
entonces ^p=0 rad-pm"1 y 0(x,z) = $,(x) = Racionara, con 4, real. En la simulacin BPM se
espera que j3y y (4, no sean evaluados de forma exacta. Por tanto, sean flp y $, los
valores estimados de / y $,, respectivamente. Cuando se alcanza el estado estacionario,
correspondiente al modo guiado, la solucin numrica de la ecuacin paraxial se puede
expresar como 00(x)e\p(-jJ3 z ) . Si reemplazamos esta expresin en (4.72), se obtiene

-estacionara

donde PB

* estacionara V *

iu

COS

(A>Z)

(4.77)

o2.* y Pesta comra

4.5
4

3.5
3

2.5
2

Figura 4.21. Error en la forma y


la fase del campo para la HABC2. Se observa un comportamiento
oscilatorio con una frecuencia
angular igual a la constante de
propagacin numrica.

1.5
1

0.5

1 0 0 0 2 0 0 0 3 0 0 0 4 0 0 0 5 0 0 0 6 0 0 0 7 ( X ) 0 8 ( X X ) 9 0 0 0 10000

El comportamiento oscilatorio del error se encuentra reflejado en las figuras 4.18a,


4.18c, 4.18d y 4.18e (lnea discontinua). A modo de ejemplo, para la condicin de
frontera HABC-2 se ha encontrado flp =^-/6500 rad-jjtm"1, realizando una simulacin
BPM de 1 cm (figura 4.21).
Finalmente, se investiga la disipacin (o ganancia) numrica utilizando las diferentes
tcnicas de absorcin. El test consiste en introducir el modo guiado en z=0 y observar la
prdida o ganancia de potencia al propagarse en la gua slab. Si la simulacin es precisa
se espera que la potencia permanezca constante. Sin embargo, debido a la naturaleza
aproximada del BPM, se observa cierta prdida/ganancia en los clculos numricos. El
resultado se muestra en la tabla IX. Observemos que las condiciones de frontera COM2, COM-3, ECOM-2, ECOM-3 y HABCG-4 son las ms precisas. Para las HABC-n y
B-10 el resultado puede ser inaceptable en muchas aplicaciones. Sin embargo, se ha
observado que la disipacin (o ganancia) numrica se puede reducir drsticamente
aumentando sensiblemente la anchura de la regin de clculo (W). A modo de ejemplo,
se muestra la disipacin (ganancia) numrica utilizando W=3 (J,m.

CONDICIONES DE FRONTERA PARA LA SOLUCIN NUMRICA DE LA ECUACIN DE ONDA

61

TABLA IX
DISIPACIN o GANANCIA NUMRICA (dB/cm)
Condicin de
frontera
HABC-2
HABC-4
HABC-6
HABC-8
B-10
B-20
B-40
B-60
COM-2
COM-3
ECOM-2
ECOM-3
HABCG-4

W=2.2 (im

-3.2
+7.3
-4.9
-9.8
+3.4
+1.0
+6.4x10-'
+1.1x10-'
+3.5xlQ-2
+4.4xlO'2
+1.8xlO'2
+2.1xlO-2
-3. 9x1 0-4

W=3nm
-V.OxlO-2
+1.5x10''
+9.8x1 0'2
-2.0x10-'
+7.6xlO'2
+2.4xlO'2
+1.4xlO-2
+2.3xlO-3
+8.6xlO-5
-1.2X10-4
+4.3xlO-5
-6.3xlO-5
-9.7xlO-6

C. Discusin
En el primer experimento (propagacin de un campo de Gauss en el vaco), el COM
presenta mayor precisin que la HABC, al evaluar la distribucin y la potencia del
campo. Sin embargo, el tiempo de clculo es el doble en el COM. Tambin se ha
observado que si el orden del COM es suficientemente alto, el error, la memoria
requerida y el tiempo de clculo son menores que en la tcnica PML. El ECOM presenta
ms precisin que el COM del mismo orden, con el inconveniente de doblar el tiempo
de clculo. Sin embargo, con el ECOM se puede reducir el tamao de la ventana de
clculo en un factor 2 3, manteniendo el error por debajo del COM del mismo orden,
reduciendo la memoria requerida y el tiempo de clculo, respecto al COM.
En el segundo experimento (propagacin de un campo de Gauss en una gua slab), se
pueden distinguir dos estados en la evolucin espacial del error: el estado transitorio, en
el que se absorben las ondas radiadas, y el estado estacionario, correspondiente a la
propagacin del modo guiado. El error en el estado estacionario se puede reducir
absorbiendo las ondas evanescentes que inciden sobre las fronteras de la regin de
clculo. Para los operadores de Higdon esto se consigue seleccionando adecuadamente
los parmetros a, que son una estimacin del factor de atenuacin de las ondas
evanescentes. En el COM y el ECOM, se produce la absorcin de las ondas
evanescentes incluso si los operadores de Higdon utilizados en estas tcnicas no
absorben este tipo de ondas, ya que el mecanismo de cancelacin es independiente del
nmero de onda. En las simulaciones BPM, se ha observado que el error, definido segn
(4.72), presenta un comportamiento oscilatorio con una frecuencia angular igual a la
constante de propagacin numrica. Con respecto a la disipacin/ganancia numrica se
ha observado que las tcnicas HABCG, COM y ECOM arrojan valores inferiores que
las HABC y PML. Estos valores pueden ser reducidos, para todas las tcnicas de
absorcin, tomando una anchura (W) de la ventana de clculo mayor.

62

Captulo 5

Diseo de un sensor interferomtrico en


tecnologa de silicio para la medida de
ndices de refraccin

l. INTRODUCCIN
Los sensores pticos integrados presentan caractersticas interesantes para su
aplicacin en la medida de magnitudes fsicas y qumicas. Las ms significativas son la
inmunidad a la interferencia electromagntica, presentan una gran sensibilidad si se
utiliza la tcnica interferomtrica para realizar la medida, y las ventajas que comporta el
proceso de miniaturizacin. En la literatura se han descrito diversos sensores pticos
integrados, en varias tecnologas, que utilizan la configuracin del interfermetro de
Mach-Zehnder (MZI); e.g., para medir la presin [VNH], el campo elctrico [NBJ], la
interaccin antgeno-anticuerpo [IDG], o la concentracin de contaminantes en el agua
[BRB]. Por otra parte, la tecnologa de procesado del silicio presenta un gran potencial
para el desarrollo de sensores pticos integrados, ofreciendo las siguientes
caractersticas [VRJ]: buen comportamiento mecnico del silicio, disponibilidad y bajo
coste de las obleas, el avanzado estado de la tecnologa asociada con el sustrato y los
materiales usados para realizar guas de onda (el silicio y sus compuestos), la
posibilidad de obtener un acoplamiento eficiente entre las fibras pticas y las guas de
onda, la posibilidad de fabricacin de circuitos pticos y electrnicos sobre el mismo
sustrato, y adems permite la produccin en gran volumen a coste reducido.
En este captulo se presenta el diseo de un interfermetro, de estructura MachZehnder, basado en la tecnologa del silicio, para la medida de ndices de refraccin de
lquidos entre 1.33 (correspondiente al ndice del agua) y 1.39. El interfermetro est
compuesto por dos guas de onda monomodo: la gua sensora, sobre la cual se deposita
el lquido cuyo ndice de refraccin se desea medir, y la gua de referencia (figura 5.1).
A la entrada del MZI se inyecta luz procedente de un lser, y se divide en dos haces de
igual intensidad; uno de los haces se confna en la gua sensora y el otro en la gua de
referencia. En la gua sensora del interfermetro la constante de propagacin del modo
TE0 depende del ndice de refraccin del lquido. A la salida del MZI se provoca la
interferencia entre los dos haces, y la intensidad resultante depende de la diferencia en
las constantes de propagacin de los modos TE0, de la gua sensora y de referencia. La
tcnica interferomtrica es muy sensible, y detecta pequeas diferencias en las
constantes de propagacin.
La estructura del interfermetro se basa en la gua de onda ARROW (Antiresonant
Reflecting Optical Waveguide) [BK1]. Esta gua de onda se disea para propagar un
nico modo de manera efectiva; i.e., slo el modo elctrico transversal TE0 se propaga

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES 63


DEREFRACCIN
con baja atenuacin. Esto se consigue seleccionando adecuadamente los ndices de
refraccin y las dimensiones de los materiales que componen la gua de onda. Como
veremos posteriormente, la sensibilidad del MZI se puede aumentar introduciendo una
capa de ndice de refraccin alto sobre la estructura ARROW.

Figura 5.1. Interfermetro de Mach-Zehnder basado en la gua ARROW.

El conocimiento de las caractersticas modales de las guas de onda que componen el


MZI, permite realizar el diseo del sensor. Para determinar las constantes de
propagacin y las distribuciones de campo elctrico de los modos TE0, en la gua
sensora y de referencia, se resuelve la ecuacin de onda en la seccin transversal de cada
una de las guas, mediante el Mtodo de las Diferencias Finitas (FDM) [MR1], que
introduciremos en la siguiente seccin. La respuesta transitoria del sensor se determina
mediante simulaciones BPM para diversos lquidos, de ndices de refraccin entre 1.33
y 1.39. Para asegurar una adecuada absorcin de las ondas radiadas en las fronteras de la
regin de clculo, se utiliza la tcnica de los operadores de Higdon, estudiada en el
captulo 4.

2. ANLISIS MODAL DE GUAS DE ONDA CON EL MTODO DE LAS


DIFERENCIAS FINITAS
Consideremos la ecuacin de onda para el campo elctrico escalar en una estructura
que presenta variaciones lentas del ndice de refraccin n(x,y)

(5.1)
V es el operador de Laplace transversal, y /? es la constante de propagacin. En el
Mtodo de las Diferencias Finitas (FDM) no uniforme, cada intervalo de anlisis vara
dependiendo de la composicin de la gua de onda. Se fijan intervalos pequeos cerca
de las fronteras en las cuales se dan cambios en el ndice de refraccin, e intervalos
grandes en las regiones homogneas. En la figura 5.2 se muestra la malla que se hace
servir en la formulacin FDM. Esta figura presenta la estructura de una gua de dos
capas. En la figura 5.3 se dibuja un detalle de la malla. Cada celda tiene dimensin h y
hj en la direccin horizontal y vertical respectivamente. El ndice de refraccin dentro
de cada celda se supone uniforme; y y j+1J representan el ndice de refraccin en cada
celda como una aproximacin al perfil continuo n(x,y). En la frontera de la zona de
anlisis se aplica la condicin de Dirichlet; i.e., el campo es cero. Para ilustrar las
condiciones de contorno se consideran dos celdas adyacentes (ij) y (i+lj) de la figura
5.3, y el campo elctrico en estas celdas (figura 5.4). Las lneas continuas de la figura

CAPTULO 5

64

5.4 aproximan el perfil de la amplitud del campo elctrico en las celdas adyacentes (ij)
y (i+lj)', y y E+1 son las amplitudes de campo en los puntos centrales de las celdas
(ij) y (i+lj)', EE y EW son las amplitudes de campo a la derecha y a la izquierda de la
frontera entre las celdas (ij) y (i+lj).

Figura 5.2. Ilustracin de la malla utilizada en la formulacin FDM no uniforme. El


rectngulo exterior en negrita delimita la regin de clculo, donde se aplica la
condicin de Dirichlet. El rectngulo interior delimita el ncleo de la gua.

1+1

J-l

j
J+l

Figura 5.3. Detalle de la malla. Los ndices de refraccin nj y n+1J representan los
ndices de refraccin de las celdas (ij) y (i+lj) respectivamente.

Figura 5.4. Ilustracin de la discontinuidad del campo TE en la frontera entre las celdas (ij) y
(i+lj). Las lneas continuas aproximan el perfil del campo en la direccin*.

Et,} representa el campo virtual en la celda (ij), que es una extensin del campo E+l, y
anlogamente el campo virtual EVM es la prolongacin de E nE y ww son los ndices de

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA L MEDIDA DE INDICES


DE REFRACCIN

65

refraccin justo a la derecha e izquierda de la frontera. Dado que se considera una


variacin lenta de la distribucin del ndice de refraccin, se supone HW y E
aproximadamente iguales a j y n+1 respectivamente. A continuacin veremos el
proceso utilizado para resolver la ecuacin de propagacin de Helmholtz.
Las condiciones de contorno a travs de la frontera entre las celdas (ij) y (i+lj) son
[MR1]
nlEE = r&Ew ,

dxEE = dxEw = p+

(5.2)

donde p+ es el gradiente de campo en la frontera entre las celdas. La relacin (5.2) se


puede aproximar de la siguiente manera
nfjEff

= nf+ijEE , asEE = axEw = p+

(5.3)

Las relaciones entre Ei, EM, Ej , EMj , y EE, E^ se pueden aproximar por
EMj = EE + (hM 1 2)P+ ,

EJ = EE- (h, 1 2)P+

EMJ = EW + (hM 1 2)P+ ,

E,j = Ew - (h, 1 2)P+

(5.4)

Debido a que las cuatro ecuaciones de (5.4) son redundantes, slo es necesario
considerar EMJ o Etj , por ejemplo EMj De (5.3) y (5.4) se obtiene

EMJ = EMJ + (Ew - EE)


hM(Ew -E,j) = ME-Mj -E E)
rjEv = n?+ijEE

(5.5)

Manipulando algebraicamente (5.5)


P+=2(EM,j-Ej)/(hl

MJ=

+ hM)

(5.6)

r+lJ(h+hE+hn-E
/(njh+n
2 i. _. M2 jhi,M) \

Utilizando un procedimiento similar entre las celdas (ij) y (i-j), se obtiene


hi,l)

u -nfj)Ej

(5.8)
?

donde/?, representa el gradiente de campo en la frontera entre las celdas (z'-lj) y (ij). El
campo TE es continuo en la direccin y, aunque haya discontinuidades en el ndice de
refraccin. De esta manera
Et'j+i =Ej+i,

Eij.\=Ej.\

(5.10)

CAPTULO 5

66

Formulando la aproximacin para la derivada segunda


a

'''

_ *
h

hM + h

(5.11)

h + /2W

1 2(EJ+l -Eu)

2(EJ-EJ,l)

(5.12)

y sustituyendo (5.6)-(5.9) en (5.11), se obtiene finalmente


.,
' 'J
I i

EM

h(nfjh+nf+ljh+l)

(5.13)

(5.14)
Se supone que la malla est divida en wx celdas en la direccin x, y ny celdas en la
direccin y. Las ecuaciones (5.13) y (5.14) se sustituyen en (5.1). Cada punto central de
una celda da lugar a una ecuacin lineal en trminos de EM, E.,j, E{^, E^, y E{. El
conjunto de ecuaciones lineales para los puntos centrales de todas las celdas (i=l,..., nx,
7=1,..., ny) se puede escribir en forma vectorial
(5.15)
La dimensin de la matriz A es N por N, donde Af(=x-y) es el orden de la matriz. La
matriz A es una matriz pentadiagonal, compleja y asimtrica en el esquema FDM no
uniforme. El vector columna E es el vector de valor propio (32, y representa el campo
elctrico escalar. El elemento Er, o E(x,y) del vector E corresponde a la amplitud del
campo elctrico escalar en la celda (ij). El vector E es de la forma
/ E1

17

Z7

C1

\T

I J2i\. J-j2i> *--J?i i""i -'r y""}-t-1 N )

/C 1 /C\

V*^ 1 *"/

donde r = (j-l)nx + i; i=l, ..., nx.;jl, ...,ny. La matriz A de orden JV tiene ]V valores
propios. Tanto los modos guiados como los no guiados estn incluidos en estos valores
propios. La matriz A es la entrada a una subrutina de clculo que calcula el vector E, de
valor propio p2. Cada valor propio representa la constante de propagacin de un modo
que se propaga en el interior de la gua de onda. Cada vector se normaliza para que la
componente de mayor magnitud sea igual a la unidad. Despus de determinar los
valores propios resulta til calcular el ndice efectivo correspondiente
(5.17)

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES 67


DE REFRACCIN

3. LA ESTRUCTURA ARROW
En la figura 5.5 se muestra la estructura y el perfil de ndice de refraccin de la gua
ARROW, utilizando la tecnologa del silicio.

Ncleo

1.46 00

__

ri.

Resonador

1.46

JiL
Sustrato

Figura 5.5. Estructura y perfil de ndice de refraccin de la gua ARROW utilizando la tecnologa del
silicio.

Est formada por un ncleo de xido de silicio (SO2) en contacto con el aire. Una capa
de nitruro de silicio (Si3N4), de ndice de refraccin alto, y una capa de xido de silicio,
de ndice de refraccin bajo, separan el ncleo del sustrato de silicio. Estas dos capas
forman un resonador de Fabry-Perot. En la gua ARROW, la luz se propaga por el
ncleo, producindose reflexin total en la frontera aire-ncleo y reflexin casi total en
la frontera ncleo-resonador. La reflectancia del resonador es ligeramente inferior a la
unidad cuando las dimensiones de las dos capas que forman el resonador satisfacen la
condicin de antirresonancia. En la estructura ARROW, los modos de orden superior
presentan una atenuacin de potencia elevada, como consecuencia de la pequea
reflectancia que presenta el resonador para los ngulos de propagacin asociados a estos
modos. Con objeto de disear las dimensiones del resonador Fabry-Perot para operar en
la antirresonancia, consideremos la estructura formada por el ncleo, las dos capas del
resonador, y el sustrato de silicio (figura 5.6).
El coeficiente de reflexin, en la frontera entre dos medios i,j, para campos TE, viene
dado por la frmula de Fresnel (2.3)
n cos (p - n j cos (p
n cos <P + n j cos <p

(5.18)

En una primera aproximacin se considera d2 de extensin infinita. En esta situacin, la


reflectancia del resonador se puede escribir [BWl]
2

RFP -

donde 0 = n d{ eos (p\.


A,

i + r\i

eos 1/3

(5.19)

68

CAPTULO 5

Observemos que Rfp es funcin de c/,. Los valores de dl para los cuales la reflectancia es
mxima o mnima son
(5.20)
donde w es un nmero entero positivo. Para estos valores la reflectancia es mxima si se
satisface la condicin4
(-1)"' rclrn [l + un - rl - ni ] > O

(5.21)

y mnima si
(5.22)

Los modos TE guiados por la estructura ARROW tienen ngulos asociados que
satisfacen la condicin de resonancia transversal (2.12) en el ncleo
2ncdcksin {//

= IVT

(5.23)

Figura 5.6. Resonador de Fabry-Perot.

donde i//v es el ngulo de propagacin, 0l y 02 son ls cambios de fase debidos a la


reflexin en la frontera neleo-aire y aire-resonador respectivamente, y K es un nmero
entero no negativo, que identifica al modo asociado con el ngulo i//v. El modo TE0 se
propaga con un ngulo prximo a O (incidencia tangencial) y, por tanto, la suma de los
cambios de fase 0+02 en las fronteras se aproxima a -2^(0=-^y 02 - -;r). Por tanto,
de (5.23)
sinj/n = 2ncd.,

(5.24)

Para llegar a este resultado se deben encontrar los valores de d\ que satisfacen la condicin dRFP/dd, = O.
Las condiciones (5.21) y (5.22) se obtienen inspeccionando el signo de d2RFP/d'ld.

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES


DE REFRACCIN

69

Observemos que

sin<pc = cos if>' = J1 -1 --

(5.25)

Veamos cul debe ser la dimensin de la primera capa del resonador (E?,) para conseguir
la mxima reflectancia ncleo-resonador al incidir el modo TE0. Por la ley de Snell (2.1)
sintpi sinc>c
i

(5.26)

Sustituyendo (5.25) en (5.26) y manipulando trigonomtricamente

f c T7\
(
}

Reemplazando (5.27) en (5.20) y considerando los mltiplos impares de >/41cos^) se


encuentra la dimensin de la primera capa del resonador que hace mxima la
reflectancia para el modo TE0 (condicin de antirresonancia) 5

(5 28)

con m un nmero entero no negativo. Para conseguir la reflectancia mxima, para el


modo TE0, en la frontera entre la primera y la segunda capa del resonador, la dimensin
de la segunda capa (d2) debe ser
d2 =-f

'

42 COS C>2

(5.29)

con w un nmero entero no negativo. Utilizando la ley de Snell


n
n
i sin
l =sm>
c c
sinc% = -L

a
tf\\
(D.J)

Sustituyendo (5.25) en (5.30), considerando n2=nc, y manipulando trigonomtricamente

A
cos^ 2 =--

Para la estructura ARROW que consideramos, n,=2 > 2=c=1.46 y n 2 < s=3.85.

(5.31)

CAPTULO 5

70

Finalmente, reemplacemos (5.31) en (5.29), obteniendo as la dimensin ptima de la


segunda capa del resonador
= ^-(2m + l)

(5.32)

A continuacin se presentan las caractersticas de propagacin de los modos TE, para la


gua ARROW considerada en la figura 5.5. El anlisis se restringe a los modos TE,
puesto que para cada modo TMV (v=0,l,2, ...) su atenuacin est por encima de la del
modo TEV en un factor x = ( p \ n s / n l ) = 24 .5 [BK1]. Las dimensiones de las capas
que componen la gua se han fijado en los siguientes valores: d=4 (j,m, /2=c/2=2 ^m.
El clculo se hace para una longitud de onda de 633 nm (mediante FDM no uniforme).
En las figuras 5.7 y 5.8 se muestra la atenuacin e ndices efectivos de los diferentes
modos de la gua ARROW, en funcin de la dimensin de la primera capa del resonador
(d). Observemos que slo el modo fundamental se propaga con baja atenuacin (del
orden de 0.1 dB/cm) cuando se opera en la condicin de antirresonancia (/^120 nm).
La atenuacin de un modo viene dada por la parte imaginaria de su ndice efectivo. En
la figura 5.9 se muestra la distribucin de campo para los primeros modos TE.

10

TE 3-1

10

10

'

o
10

10

10

0.05

0.1

0.15

0.2

(jam)
Figura 5.7. Atenuacin de varios modos TE en funcin del tamao de la primera capa del resonador
Fabry-Perot.

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES


DEREFRACCIN

11

1.46
(=nc)
1.45 '""in
tl>

>
'I

1 44

<u
4)
o

i
43
i .to

-HH

1.42 -

1.41

0.00

0.10

0.20

0.30

0.40

0.50

Figura S.8. ndice efectivo de varios modos TE en funcin del tamao de la primera capa del resonador
Fabry-Perot

8 -0.2
O

1 64

-0.8

x (jira)

(a)

(b)

.S 0.6

TE,

x(|un)

x (Mm)

(c)

(d)

Figura 5.9. Distribucin del campo elctrico (normalizado a la unidad) de los modos: (a) TE0; (b) TE14;
(c)TE,.2;(d)TE2.

CAPTULO 5

72

4. DISEO DEL INTERFERMETRO


Para disear el sensor y simular la respuesta transitoria a una seal ptica externa, se
aplican los mtodos numricos estudiados hasta ahora; i.e., el FDM, para realizar el
anlisis modal, y el BPM paraxial en combinacin con alguna de las condiciones de
frontera absorbentes, para el anlisis transitorio.
El sensor que se propone en este captulo es un MZI simtrico, basado en la
estructura ARROW (figura 5.10). Todo el MZI se recubre de una capa de xido de
silicio (regin rayada), excepto una regin rectangular sobre la gua sensora, de longitud
L. El lquido, con un ndice de refraccin nv a determinar, se deposita sobre la gua
sensora del MZI. Observemos que el ndice efectivo (^Vef,i) del modo TE0, que se
propaga por la gua de referencia (gua 1), es independiente del ndice de retraccin del
lquido. En cambio, el ndice efectivo (A/ef,2) del modo TE0 de la gua sensora (gua 2)
depende de nq.

R-

Figura 5.10. Estructura del MZI: vista superior.


Gual

ns =3.85^0.019

'Si

Figura 5.11. Estructura del MZI: seccin transversal correspondiente a la linea de puntos de la figura
5.10.

A la salida del MZI se produce una interferencia entre los modos que viajan por la gua
sensora y de referencia; la intensidad resultante est relacionada con la diferencia de

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES

73

DEREFRACCIN

fase entre los dos caminos pticos seguidos por los modos. La fuerte dependencia de la
intensidad con la diferencia de fase, permite medir cambios en la fase detectando la
potencia de la luz. La funcin de transferencia de potencia del MZI se puede escribir
como [Mzl]
P0 = P, eos2 [ ^ ) = ^ {1 + cos(A^)}
\ 2. j

(5.33)

donde k</> es la diferencia de fase entre los modos TE0 que viajan por las dos guas del
MZI, y depende linealmente de la diferencia de ndices efectivos y de la longitud L
)

(5.34)

El diseo del interfermetro se divide en las siguientes etapas: (i) Determinar las
dimensiones de la estructura ARROW para conseguir la propagacin monomodo, y
adaptar las dimensiones del ncleo de la gua ARROW a las dimensiones tpicas de una
fibra ptica monomodo; () ajustar la sensibilidad del interfermetro; (iii) calcular el
tamao del xido de proteccin, en la gua de referencia, para conseguir la mxima
transferencia de potencia cuando se deposita agua pura sobre la gua sensora; (iv)
dimensionar la ventana sensora. En los siguientes apartados se estudia cada una de estas
etapas con detalle.
A. Dimensiones de la estructura ARROW
En la figura 5.11 se puede ver la seccin transversal del MZI propuesto, que consiste
en dos guas ARROW con estructura Si/SiO2/Si3N4/SiO2. Tambin se muestran los
ndices de refraccin de estos materiales. En el ncleo se realiza un canal para producir
el confinamiento lateral del campo en la direccin x. Para adaptar la medida del ncleo
de una fibra ptica con la anchura del canal (w), se escoge w=5 jam, de tal manera que el
acoplamiento fibra-gua sea eficiente. La altura del canal (h) se selecciona igual a 0.5
(j,m, que asegura que la gua tenga un solo modo en la direccin x para la longitud de
onda utilizada en este diseo (/=0.633 (o,m). Escogiendo una dimensin del ncleo (d)
de 4 um, compatible con el tamao estndar del ncleo de una fibra monomodo, se
pueden determinar las dimensiones de las dos capas que componen el resonador de
Fabry-Perot. Para operar en la primera condicin de antirresonancia (m=0) se debe
seleccionar dl=l20 nm y /2=2 |j,m; estos valores se han calculado utilizando (5.28) y
(5.32) respectivamente.
B. Sensibilidad del interfermetro
Sobre las guas ARROW se deposita una capa de nitruro de silicio, de tamao d0, que
tiene una doble funcin: proteger fsicamente al sensor del entorno, y aumentar la
sensibilidad del MZI. La introduccin de esta capa fue originalmente propuesta para
incrementar la sensibilidad de un sensor de metano basado en fibra ptica [MSJ].
Recientemente, se ha utilizado esta idea para aumentar la sensibilidad de sensores
pticos integrados que utilizan la gua ARROW [PLJ]. Para ilustrar este punto, en la
figura 5.12 se presenta cmo depende la diferencia de fase, entre los modos de la gua
sensora y de referencia, con el ndice de refraccin del lquido. El resultado se muestra

CAPTULO 5

74

para valores de d0 entre O y 15 nm. Se observa que la sensibilidad aumenta con d0. Sin
embargo, el modo TEW disminuye su atenuacin (figura 5.13), lo cual perjudica el
funcionamiento del MZI, cuya hiptesis principal se basa en la propagacin monomodo.
Observemos que el aumento de la sensibilidad al incrementar el tamao de la capa de
nitruro de silicio (d0), est ligado a una mayor potencia del campo evanescente (figura
5.14). Por otra parte, se produce una distorsin del modo dominante (TE0), reducindose
la eficiencia de acoplamiento fibra-gua. En consecuencia, se escoge el valor de
compromiso /0=10 nm. Notemos que el modo TE0 de la gua sensora alcanza la
condicin de corte para d0=3l nm cuando q=1.33 (figura 5.13; lnea continua), y en
/0=24 nm cuando nq=1.39 (figura 5.13; lnea discontinua).

0.01

0.02

0.03

0.04

0.05

0.06

Cambio en el ndice de refraccin


(respecto al agua, n0=1.33)
Figura 5.12. Sensibilidad del interfermetro de Mach-Zehnder para varios
tamaos de la capa de nitruro de silicio.
10

0.005

0.01

0.015

0.02

0.025

0.03

0.035

Figura 5.13. Atenuacin de varios modos ARROW, en la gua sensora y de


referencia, en funcin del tamao de la capa superior de nitruro de silicio; linea
discontinua: modos de la gua sensora, suponiendo un lquido de ndice q=1.33;
lnea continua: modos de la gua sensora, suponiendo un lquido de ndice
q=1.39; lnea de puntos: modos de la gua de referencia.

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARALA MEDIDA DE NDICES


DE REFRACCIN
1

0.8

0.8
0.6
J 04

0.6
0.4
0.2

\
\

S* o -J

-0.2

1-0.2

-0.4

-0.4
-0.6
-0.8
-1

-0.6 H=U3

SlEtiao

-0.8
-1
0

10

12

I"'2
1-0.4
J -0.6
Hf-1.33
* -0.8
-1
)
2

10

12

1
0.8
0.6

/A
/ \

'
.0.4
1 0.2
o J

2
l
-0.4

6
8
X (Mm)

x (urn)

/~\
\

"S 0.2

0.8
0.6

75

\
\
\

1 0.4

3 0.2
- O

j 42

Sustrato

6
8
x(nm)

do=25nm

10

3-0.4
3-0.6
' -0.8
-1
10

12

12

1-0.61 iy-133
-0.8
-1
0
2

Sustrato

6
8
x(nm)

1
A
0.8
/ \
0.6
/ \
0.4
/
\
0.2
V
\
-0J
-0.2
-0.4
-0.6 ,1.33
-0.8
-1
3
2
4
6
8
x(nm)

03=30 nm

10

12

Sustrato

10

12

d0=35nm

Figura 5.14. Evolucin de la distribucin de campo elctrico del modo


TE0 con el tamao de la capa superior de nitruro de silicio.

C. Dimensin del xido de proteccin en la gua de referencia


El tamao del xido de proteccin se selecciona de tal manera que la potencia de
salida del MZI sea mxima (interferencia constructiva) cuando se deposita agua pura
(q=1.33) sobre la gua sensora; esta condicin equivale a la igualdad de los ndices
efectivos de los modos dominantes, en la gua sensora y de referencia. En la figura 5.15
(lnea continua) se muestra cmo depende el ndice efectivo del modo dominante, en la
gua de referencia, con el tamao del xido de proteccin. En lnea discontinua se
muestra el ndice efectivo del modo dominante en la gua sensora. La interseccin de las
dos lneas ocurre para un tamao de xido /ox=77 nm.
D. Longitud de la gua sensora y funcin de transferencia del interfermetro
La longitud de la gua sensora se selecciona =2570 am para conseguir un cambio de
fase de 180 en el intervalo de ndices de refraccin que se desea medir, comprendido
entre 1.33 y 1.39. La funcin de transferencia ptica del MZI (figura 5.16) se calcula
segn (5.33). En la derivacin de esta expresin se utilizan como hiptesis que slo se
propaga el modo TE0 y que el MZI no presenta prdidas por radiacin. Si nq=l .33 se

CAPTULO 5

76

produce interferencia constructiva de los modos dominantes, y la transferencia de


potencia es completa. Por otra parte, si q=1.39, la interferencia es destructiva, y toda la
luz se dispersa hacia el sustrato. En este caso la potencia ptica en la salida del MZI es
cero. En A0=9Q, correspondiente a q si.365, el MZI presenta la sensibilidad mxima.

1.45800
0.05 0.055 0.06 0.065 0.07 0.075 0.08 0.085 0.09 0.095 0.1

dox (um)
Figura 5.15. Evolucin del ndice efectivo del modo TE0 en la gua de referencia con el
tamao del xido de proteccin (lnea continua). En lnea discontinua se muestra el ndice
efectivo del modo TE0 en la gua sensora cuando se deposita agua pura.

20

40 60 80 100 120 140 160 180 200 220


Cambio en la fase (grados)

Figura 5.16. Funcin de transferencia de la potencia ptica en el


interfermetro de Mach-Zehnder. Se consideran varios lquidos con
ndices de refraccin (/q) entre 1.33 y 1.39.

E. Simulaciones BPM del sensor


Para ilustrar el comportamiento del sensor se han realizado simulaciones 2D-BPM,
que muestran la evolucin del campo TE. En la gua sensora se depositan lquidos con
ndices de refraccin comprendidos entre 1.33 y 1.39. Se han probado dos tipos de Ybifurcaciones, que denominaremos lineales y curvadas respectivamente. En el primer
tipo, la separacin entre los centros de las guas es una funcin lineal de z, siendo el

DISEO DE UN SENSOR INTERFEROMTRICO EN TECNOLOGA DE SILICIO PARA LA MEDIDA DE NDICES


DE REFRACCIN

77

ngulo de apertura de 0.62, y la separacin final entre las guas de 60 (J,m; en el


segundo tipo, la separacin entre los centros de las guas es una funcin de la forma
s(z)30(\-cos(flz/6000}) (am, con 0<z<6000 jam. Las simulaciones BPM se han
realizado en combinacin con el Mtodo del ndice Efectivo, que permite reducir la
dimensin del problema. Los intervalos de discretizacin en la direccin x y z son
/x=/dz=0.1 (j,m, respectivamente. En las fronteras de la regin de clculo se imponen
condiciones de frontera HABC-2, con ngulos de reflexin nula de 10 y 60. La
excitacin de entrada corresponde a un campo de Gauss con &0=4 |4.m y longitud de
onda de 633 nm.
0.8 i

0.7

0.6

5
'oa
u

0.5

0.4

i
O

CX

0.3

'o
o

0.2

0.1

"

a
'O

e2

o: Y-bifurcaciones curvadas

*: Y-bifurcaciones lineales

o
l

0
1.33

1.34

1.35

1.36

1.37

1.38

1.

ndice de refraccin del lquido (n0)


Figura 5.17. Fraccin de la potencia transmitida en el interfermetro de MachZehnder para varios ndices de refraccin. Se consideran Y-bifircaciones lineales
y curvadas.

En la figura 5.17 se muestra la fraccin de la potencia transmitida en el MZI para los


dos tipos de Y-bifurcaciones analizadas. Notemos que si se utilizan Y-bifurcaciones
curvadas la potencia transmitida es mayor que en caso de emplear Y-bifurcaciones
lineales. Esto se debe a que la transicin entre la Y-bifurcacin curvada y la gua de
onda de entrada/salida del MZI es ms suave que en la Y-bifurcacin lineal. Por tanto
hay una mejor adaptacin entre los modos fundamentales de las dos estructuras, y las
prdidas por radiacin son menores. En las figuras 5.18 y 5.19 se observan los
diferentes grados de interferencia a la salida del MZI; desde interferencia constructiva,
para q=1.33, hasta interferencia destructiva cuando q=1.39. En la figura 5.20 se
muestran la primera y ltima simulacin de la figura 5.19 cambiando la escala de la
imagen. En las proximidades de la entrada del MZI, el campo de Gauss se adapta
progresivamente al modo TE0 de la estructura, eliminndose la porcin del espectro
correspondiente a las ondas radiadas (figuras 5.18 y 5.19). Estas ondas son absorbidas
por la HABC-2 impuesta en los lmites de la regin de clculo. Tambin se observa,
comparando las dos figuras, que en las Y-bifurcaciones curvadas se producen menos
prdidas por radiacin que en las Y-bifurcaciones lineales. Notemos aqu que en la
simulacin BPM de la potencia transmitida, presentada en la figura 5.17, aparecen, de
forma natural, las prdidas por radiacin en la estructura y las prdidas que se producen
en el acoplamiento. En la figura 5.16, en cambio, se present la situacin ideal en la que
no existen prdidas por radiacin ni prdidas en el acoplamiento.

nq=1.33

nq=1.34

nq=1.35

nq=1.36

nq=1.37

nq=1.39

nq=1.38

nq=1.33

nq=1.34

nq=1.35

nq=1.36

nq=1.37

nq=1.38

nq=1.39

80

CAPTULO 5

n,=1.33
n =1.33
q

n =1.39

nq=1.39

Figura 5.20. Simulaciones BPM del sensor, mostrando el mdulo del campo TE para dos lquidos
diferentes.

5. CONCLUSIONES
En este captulo se ha realizado el diseo de un interfermetro, de estructura MachZehnder, para la medida de ndices de refraccin de lquidos entre 1.33 y 1.39. El
interfermetro se basa en la gua ARROW, que es compatible con la tecnologa de
procesado del silicio, y permite una gran eficiencia de acoplamiento fibra-gua. Para
obtener los ndices efectivos y la distribucin de campo elctrico de los modos del
interfermetro se resuelve la ecuacin de onda por el Mtodo de las Diferencias Finitas.
Para los clculos se ha utilizado el modelo 1-D de la gua ARROW. Se ha comprobado
que la sensibilidad del interfermetro aumenta al introducir una capa de nitruro de
silicio sobre la estructura ARROW. Por otra parte se produce una distorsin del modo
dominante, que reduce la eficiencia de acoplamiento fibra-gua. Para analizar el
comportamiento del sensor se han realizado simulaciones BPM con condiciones de
frontera de Higdon. Para rebajar la dimensin del problema se aplica el Mtodo del
ndice Efectivo. Finalmente se calcula la dependencia de la transferencia de potencia
ptica del MZI con el ndice de refraccin del lquido. La mxima sensibilidad se da
para medios con ndices de refraccin de 1.365. Este sensor podra tener aplicaciones
para la deteccin de contaminantes en el agua basndose en la medida del ndice de
refraccin.

81

Conclusiones

Esta tesis constituye una contribucin al desarrollo de la Optoelectrnica Integrada,


en la que se han investigado diversos mtodos numricos para simular la propagacin
de la luz en dispositivos optoelectrnicos. A continuacin se resumen las conclusiones
principales:
Para el anlisis y diseo de dispositivos optoelectrnicos se requieren mtodos
numricos con objeto de obtener la respuesta transitoria del dispositivo a una seal
ptica de entrada o/y conocer los modos que soporta el dispositivo y sus caractersticas
de propagacin. Para realizar el anlisis transitorio se ha implementado el 2-D Beam
Propagation Method (2D-BPM) basado en la ecuacin de onda paraxial. La
implementacin numrica del BPM se basa en construir una relacin, derivada de la
ecuacin de onda, que transporta el campo ptico desde un plano transversal al
siguiente. El BPM slo considera las ondas que se propagan en la direccin +z,
ignorando las ondas que se propagan en la direccin opuesta. Por tanto, la utilizacin de
este mtodo est restringida a estructuras que presenten transiciones suaves en la
direccin z. El anlisis modal se realiza mediante el Finite Difference Method (FDM), y
se basa en la bsqueda de los valores y vectores propios de la ecuacin de onda. Los
vectores propios corresponden a los modos de la estructura ptica y los valores propios
a las constantes de propagacin de estos modos.
9 Para obtener simulaciones BPM precisas y reducir los recursos de clculo se deben
utilizar tcnicas numricas que permitan simular el flujo de las ondas radiadas a travs
de las fronteras, hacia el exterior de la regin de clculo. En este trabajo se han
analizado las siguientes alternativas, denominadas genricamente condiciones de
frontera absorbentes: el mtodo de Brenger, las condiciones de frontera de Higdon, el
Mtodo de los Operadores Complementarios, y el Mtodo de los Operadores
Complementarios Extendido. Para todas ellas se discute la implementacin numrica en
el BPM.
En el mtodo de Brenger se introduce un medio, denominado absorbente de
Brenger, en las zonas adyacentes a la regin de clculo. En este medio se realiza una
transformacin de la ecuacin de onda para conseguir la absorcin de las ondas
radiadas. En el dominio continuo, el coeficiente de reflexin de los absorbentes de
Brenger se puede hacer arbitrariamente pequeo para cualquier ngulo de incidencia
(excepto en el caso de incidencia tangencial), selecccionando adecuadamente el tamao
del absorbente y/o la funcin de conductividad. En el dominio discreto, el coeficiente de

82

CONCLUSIONES

reflexin sufre una degradacin, debido a que la funcin de conductividad es


discontinua en la frontera entre celdas adyacentes del absorbente. Los absorbentes de
Brenger se pueden disear para optimizar el coeficiente de reflexin en un cierto
intervalo, o conjunto de intervalos, de ngulos de incidencia, si se dispone de
informacin a priori de los ngulos de incidencia ms relevantes que aparecen en el
problema. Como parte original de la tesis se ha adaptado el mtodo de Brenger para su
utilizacin en el BPM.
Los condiciones de frontera de Higdon (HABC) son condiciones, en forma de
ecuaciones diferenciales, que se imponen en las fronteras de la regin de clculo. Para
un conjunto finito de ngulos, estas condiciones de frontera son compatibles con la
radiacin de energa hacia el exterior del dominio; o de forma equivalente, el coeficiente
de reflexin es cero para este conjunto de ngulos. Si el ngulo de incidencia no
pertenece a este conjunto, aparece una onda reflejada, con una amplitud menor o igual a
la amplitud de la onda incidente; i.e., el coeficiente de reflexin es menor o igual que 1.
Los operadores de Higdon permiten, adicionalmente, atenuar las ondas evanescentes. La
condicin de frontera de Higdon se disea de tal manera que cada operador absorba un
tipo de particular de onda radiada. De esta manera, la condicin de frontera puede
absorber ondas radiadas para un amplio espectro de ngulos de incidencia y constantes
de atenuacin. Cuando se considera la implementacin prctica de estos operadores en
el BPM, se debe tener en cuenta el coeficiente de reflexin en el dominio discreto. Una
observacin importante es que, en el dominio discreto, los ngulos de reflexin nula
experimentan un desplazamiento que depende del paso de discretizacin en la direccin
x. Como aportacin original se propone la modificacin de los operadores de Higdon
cuando se utiliza la formulacin paraxial del BPM. Esta modificacin se basa en la
transformacin del espectro de las ondas radiadas de la ecuacin de Helmholtz a la
aproximacin paraxial.
El Mtodo de los Operadores Complementarios (COM) utiliza los operadores de
Higdon para cancelar las reflexiones de orden impar procedentes de las fronteras de la
regin de clculo. Esta cancelacin se realiza promediando dos soluciones
independientes del problema. Las dos soluciones se obtienen imponiendo condiciones
de frontera de Higdon complementarias, con coeficientes de reflexin R y -R,
respectivamente. En este trabajo se ha demostrado que la complementariedad de las
condiciones de frontera de Higdon se da en el dominio continuo y discreto. Una
caracterstica muy remarcable del COM es que el mecanismo de cancelacin de las
reflexiones es independiente del nmero de onda, lo cual permite reducir las reflexiones
de las ondas propagantes, de las ondas evanescentes, y de las ondas propagantes
atenuadas. Como el COM. no puede cancelar las reflexiones de orden par, el error
cometido por el BPM es de orden |R|2.
9 El Mtodo de los Operadores Complementarios Extendido (ECOM), es una
extensin del COM que permite la cancelacin adicional de las reflexiones de orden
4/c+2, para aquellas ondas planas que cumplen que sus reflexiones sucesivas inciden
alternativamente en la frontera superior e inferior de la regin de clculo. Para conseguir
la cancelacin de las reflexiones de orden 4/c+2, con independencia de la trayectoria de
las ondas planas incidentes, se debera encontrar un conjunto de operadores con
coeficientes de reflexin R, -R, jR y -jR, respectivamente. Esta posibilidad est siendo
investigada actualmente.

CONCLUSIONES

83

9 Se han realizado experimentos numricos para comparar las diferentes condiciones de


frontera estudiadas. Los parmetros examinados han sido el coeficiente de reflexin, el
error de la simulacin, la disipacin o ganancia numrica, los requerimientos de
memoria y el tiempo de clculo. Para estos experimentos se conoce la solucin analtica
del problema, lo cual permite calcular el error de la simulacin.
9 En el primer experimento (propagacin de un campo de Gauss en el vaco), el COM
presenta mayor precisin que la HABC, al evaluar la distribucin y la potencia del
campo, con el inconveniente de doblar el tiempo de clculo. Si el orden del COM es
suficientemente alto, el error, la memoria requerida y el tiempo de clculo son menores
que para el mtodo de Brenger. Por otra parte, el ECOM presenta ms precisin que el
COM del mismo orden, si bien el tiempo de clculo es el doble. Se ha comprobado, sin
embargo, que con el ECOM se puede reducir el tamao de la ventana de clculo en un
factor 2 0 3 , manteniendo el error por debajo del COM, y reduciendo la memoria
requerida y el tiempo de clculo.
9 En el segundo experimento (propagacin de un campo de Gauss en una gua slab
monomodo), se pueden diferenciar dos estados en la evolucin espacial del error: el
estado transitorio, en el que se produce la absorcin de las ondas radiadas, y el estado
estacionario, correspondiente a la propagacin del modo guiado. El error en el estado
estacionario se puede reducir absorbiendo las ondas evanescentes que inciden sobre las
fronteras de la regin de clculo. Para los operadores de Higdon esto se consigue
seleccionando los parmetros a prximos a la constante de atenuacin de las ondas
evanescentes. En el COM y en el ECOM se produce la absorcin de las ondas
evanescentes incluso si los operadores de Higdon utilizados en estas tcnicas no
absorben este tipo de ondas, ya que el mecanismo de cancelacin es independiente del
nmero de onda. Se ha observado que el error en la forma y la fase del campo presenta
un comportamiento oscilatorio, con una frecuencia angular igual a la constante de
propagacin numrica. Con respecto a la disipacin/ganancia numrica, se ha observado
que las tcnicas HABCG, COM y ECOM dan valores inferiores que las HABC y PML.
Estos valores pueden ser reducidos, para todas las tcnicas de absorcin, tomando una
anchura mayor de la ventana de clculo.
Se ha realizado el diseo de un interfermetro de Mach-Zehnder (MZI) para medir
ndices de refraccin de lquidos entre 1.33 y 1.39. El interfermetro se basa en la
estructura ARROW, que presenta compatibilidad con la tecnologa de procesado del
silicio y permite un acoplamiento fbra-gua eficiente. En el diseo se ha utilizado el
anlisis modal y el Mtodo del ndice Efectivo. Como novedad principal, sobre la gua
ARROW se incorpora una capa de nitruro de silicio, que permite un considerable
aumento de la sensibilidad. Por contra, la introduccin de esta capa produce una
distorsin del modo dominante, reducindose la eficiencia de acoplamiento fibra-gua.
Se ha calculado la funcin de transferencia del MZI y se presentan simulaciones BPM
para ilustrar el funcionamiento del sensor. En estas simulaciones se han utilizado las
tcnicas de absorcin descritas previamente. La mxima sensibilidad se da para ndices
de refraccin de 1.365. Este sensor podra tener aplicaciones para la deteccin de
contaminantes en el agua basndose en la medida del ndice de refraccin.

84

Agradecimientos

En primer lugar quiero agradecer a Francesc Prez la direccin de esta tesis y el


tiempo que ha dedicado a discutir las ideas que aqu se presentan.
Agradezco igualmente a Xavier Borris, Nuria Barniol, Gabriel Abadal, Andreu
Llobera, Carlos Domnguez, Francisco Prieto, Laura Lechuga, Ignacio Garcs, y
Mauricio Moreno, el intercambio de ideas e inquietudes durante estos aos.
En el transcurso de esta tesis tuve la oportunidad de trabajar con las profesoras
Catalina Ramrez y ngela Guzman, de la Universidad Nacional de Colombia, gracias a
la financiacin de la Agencia Espaola de Cooperacin Internacional. A ellas les mando
toda mi gratitud porque me abrieron un horizonte nuevo que ha dado lugar a gran parte
de este trabajo.
Tambin agradezco a todos los compaeros del Departamento de Ingeniera
Electrnica, su apoyo y amistad: Jess Vizoso, Enrique Miranda, Rosana Rodrguez,
Joan Garca, Arantxa Uranga, Xavier Oriols, Ma Jess Nebrera, Javier Helln, Mohcine
Bethaoui, Marc Porti, Xavier Blasco, Ferran Martn, Xavier Aymerich, Jordi Su, y
Montse Nafra.
Agradezco tambin a Alfredo, Ignasi, Francisco, scar, lex, y Pedro, su gran
inters por la evolucin de la tesis.
Para acabar, dedico este trabajo a mi familia, y especialmente a Ana, por el apoyo
que me han brindado durante estos aos.

85

Bibliografa
[BKl] T. Baba and Y. Kokubun, "Dispersion and Radiation Loss Characteristics of
Antiresonant Reflecting Optical Waveguides-Numerical Results and
Analytical Expressions," IEEE J. of Quantum Electron., vol. 28, no. 7, pp.
1689-1700, 1992.
[BK2] T. Baba and Y. Kokubun, "High efficiency light coupling from antiresonant
reflecting optical waveguide to integrated photodetector usin an antireflecting
layer," Appl. Opt., vol. 29, no. 18, pp. 2781-2792,1990.
[BKS] T. Baba, Y. Kokubun, T. Sakaki and K. Iga, "Loss reduction of an ARROW
waveguide in shorter wavelength and its stack configuration," J. of Lightwave
Technol, vol. 6, no. 9, pp 1440-1445,1988.
[BKW] T. Baba, Y. Kokubun and H. Watanabe, "Monolithic integration of an
ARROW-type demultiplexer and photodetector in the shorter wavelength
region," J. Lightwave Technol., vol. 8, no. 1, 1990.
[BN1] K. Benaissa, A. Nathan, S. T. Chu and W. P. Huang, "Simulation and
fabrication of ARROW directional couplers," SPIEProc., vol. 2641, pp. 49-54,
1995.
[BN2] K. Benaissa, A. Nathan, S. T. Chu and W. P. Huang, "1C compatible optical
coupling techniques for integration of ARROW with photodetector," /.
Lightwave Technol., vol. 16, no. 8, pp. 1423-1432,1998.
[Brl] J-P. Brenger, "A Perfectly Matched Layer for the absorption of
electromagnetic waves," J. Comp. Phys., vol. 114,, pp. 185-200, 1994.
[Br2] J-P. Brenger, "Three-dimensional Perfectly Matched Layer for the absorption
of electromagnetic waves," J. Comp. Phys., vol. 127,, pp. 363-379,1996.
[BRB] A. A. Boiarski, R. W. Ridgway, J. R. Busch, G. Turhan-Sayan and L. S. Miller.
"Integrated Optic Biosensor for Environmental Monitoring," SPIE, vol. 1587,
Chemical, Biochemical, and Environmental Fiber Sensors III, pp. 114-128,
1991.
[BW1] M. Born and E. Wolf, Principle of optics electromagnetic theory of
propagation, interference and diffraction of light. Pergamon Press, 1975.
[CCI] Y-P. Chiou and H-C. Chang, "Complementary Operators Method as the
absorbing boundary condition for the Beam Propagation Method," IEEE
Photon. Technol. Lett., vol. 10, no. 7, pp. 976-978, 1998.
[GDI] Y. Chung and N. Dagli, "An assesment of Finite Difference Beam Propagation
Method," IEEEJ. of Quantum Electron., vol. 26, no.8, pp. 1335-1339, 1990.
[CD2] Y. Chung and N. Dagli, "A wide angle propagation technique using an explicit
finite difference scheme," IEEE Photon. Technol. Lett., vol. 6, no. 4,1994.

86

[CFP]

[CJ1]
[Col]
[DBM]
[DKB]

[DTT]

[EMI]

[EM2]
[FF1]
[Fgl]

[FK1]
[GBK]

[GVS]

[Hnl]

[Hn2]
[Hn3]
[Hn4]
[Hyl]
[Hy2]
[Hy3]

BIBLIOGRAFA
S. Coffa, G. Franz and F. Frilo, "Light emission from Er-doped Si: materials
properties, mechanisms, and device performance," MRS Bulletin, pp. 25-32,
april 1998.
W. C. Chew and J. M. Jin, "Perfectly matched layers in the discretized space:
an analysis and optimization," Electromagnetics, vol. 16, pp. 325-340,1996.
F. Collino, "Perfectly matched absorbing layers for the paraxial equations," J.
Comp. Phys., vol. 131, pp. 164-180, 1997.
J. J. Dongarra, J.R. Bunch, C.B. Moler, and G.W. Stewart, LINPACK Users'
Guide, SIAM, Philadelphia, 1979.
M. A. Duguay, Y. Kokubun and T. L. Koch, "Antiresonant reflecting optical
waveguides in SiOa-Si multilayer structures," Appl. Phys. Lett., vol. 49, no. 1,
pp. 13-15,1986.
V. Delisle, U. Trutschel, H. Tremblay, M. A. Duguay and F. Lederer, "High
finesse wavelength selective coupler based on ARROW'S," IEEE Photon.
Technol. Lett., vol 8, no. 6, pp. 791-793, 1996.
B. Engquist and A. Majda, "Radiation boundary conditions for acoustic and
elastic wave calculations," Comm. Pure Appl. Math., vol. 32, pp. 313-357,
1979.
B. Engquist and A. Majda, "Absorbing boundary conditions for the numerical
simulation of waves," Math. Comp., vol. 31, no. 139, pp. 629-651,1977.
M. D. Feit and J. A. Fleck, Jr., "Light Propagation in graded-index optical
fibres," Appl. Opt., vol. 17, pp. 3990-3998, 1978.
J. Fang, "Absorbing boundary conditions applied to model wave propagation in
microwave integrated-circuits," IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 42,
no. 8, pp. 1506-1513,1994.
E. A. Fitzgerald and L. C. Kimerling, "Silicon-based microphotonics and
integrated optoelectronics," MRS Bulletin, pp. 39-47, april 1998.
J. Gehler, A. Brauer, W. Karthe, U. Trutschel and M. A. Duguay, "ARROWbased optical wavelength filter in silica," Electron. Lett., vol. 31, no. 7, pp.
547-548,1995.
I. Garcs, F. Villuendas, J. Subas, J. Alonso, M. del Valle, C. Domnguez and
E. Bartolom, "Bidimensional planar micro-optics for optochemical
absorbance sensing," Opt. Lett., vol. 23, no. 3, pp. 225-227.
R. L. Higdon, "Absorbing boundary condition for difference approximations to
the multi-dimensional wave equation," Math. Comp., vol. 31, pp. 629-651,
1987.
R. L. Higdon, "Radiation boundary conditions for elastic wave propagation,"
SIAMJ. Numer. Anal, vol. 27, pp. 831-870,1990.
R. L. Higdon, "Absorbing boundary conditions for acoustic and elastic waves
in stratified media," /. Comp. Phys., vol. 101, pp. 386-418,1992.
R. L. Higdon, "Radiation boundary conditions for dispersive waves," SIAM J.
Numer. Anal., vol. 31, no. 1, pp. 64-100, 1994.
G. R. Hadley, "Wide-angle beam propagation using Fade approximant
operators,", Opt. Lett., vol. 17, no. 20, 1992.
G. R. Hadley, "Multistep method for wide-angle beam propagation," Opt. Lett.,
vol. 17, no. 24, 1992.
G. R. Hadley, "Transparent boundary condition for beam propagation," Opt.
Lett., vol. 16, no. 9, pp. 624-626, 1991.

BIBLIOGRAFA
[Hzl]
[IDG]
[JBM]

[JP1]

[JP2]

[JRP]

[KDW]

[Kkl]
[KL1]
[KT1]
[LK1]

[Lnl]
[LWB]

[MBZ]

[MCI]
[Mel]
[MH1]
[Mrl]
[Mr2]

87

H. E. Hernndez-Figueroa, "Simple nonparaxial beam-propagation method for


integrated optics," J. Lightwave Technol., vol. 12, no. 4, 1994.
J. Ingenhoff, B. Drapp, and G. Gauglitz. "Biosensors using integrated optical
devices," Fresenius J Anal Chem, no. 346, pp.580-583, 1993.
D. Jimnez, E. Bartolom, M. Moreno, J. Muoz and C. Domnguez, "An
integrated silicon ARROW Mach-Zehnder interferometer for sensing
applications," Opt. Comm., vol. 132, pp. 437-441, 1996.
D. Jimnez and F. Prez-Murano, "Improved boundary conditions for the
Beam Propagation Method," IEEE Photon. Technol. Lett., vol. 11, no. 8, pp.
1000-1002, 1999.
D. Jimnez and F. Prez-Murano, "Comparison of highly efficient absorbing
boundary conditions for the Beam Propagation Methdod," submitted to J.
Lightwave Technol,
D. Jimnez, C. Ramrez, F. Prez-Murano and A. Guzman, "Implementation of
Brenger layers as boundary conditions for the beam propagation method:
applications to integrated waveguides," Opt. Comm., vol. 159, pp. 43-48, 1999.
T. B. Koch, J. B. Davies, and D. Wickramasinghe, "Finite element/finite
difference propagation algorithm for integrated optical devices," Electron.
Lett., vol. 25, no. 3, pp. 514-516,1989.
H. Kogelnik, "Theory of optical waveguides," in Guided-wave optoelectronics,
T. Tamir, Ed. Springer Verlag, Berlin, 1988.
P. Kaczmarski and P. E. Lagasse, "Bidirectional Beam Propagation Method,"
Electron. Lett., vol. 24, pp. 675-676, 1988.
R. M. Knox and P. P. Toulios, "Integrated circuits for the millimeter optical
frequency range," Proc. Symp. Submillimeter Waves, pp. 497-516, 1960.
H-H. Lin and A. Korpel, "Heuristic scalar paraxial beam propagation method
taking into account continuous reflections," J. Opt. Soc. Am. A, vol. 8, no. 4,
pp. 849-857, 1991.
E. L. Lindman, "Free-space boundary conditions for the time dependent wave
equation," J. Cmput. Phys., vol. 18, pp. 66,1975
Z. P. Liao, H. L. Wong, Y. Baipo and Y. Yifan, "A transmitting boundary for
transient wave analyses," Scientia Snica (Series A), vol. 27, no. 10, pp. 10631076,1984.
L. J. Mawst, D. Botez, C. Zmudzinski and C. Tu, "Antiresonant reflecting
optical waveguide-type, single-mode diode lasers," Appl. Phys. Lett., vol. 61,
no. 5, pp. 503-505, 1992.
M. Moreno and J. Calderer, "Lateral photodetectors on ARROW structures for
optical interconnections," Opt. Comm., vol. 140, pp. 27-31, 1997.
D. Marcuse, Theory of dielectric optical waveguides. Academic Press, New
York, 1974.
Z. M. Mao and W. P. Huang, "An ARROW optical wavelength filter: design
and analysis," J. Lightwave Technol., vol. ll,no.7,pp. 1183-1188, 1993.
S. E. Miller, "Integrated optics: an introduction," The Bell System Technical
Journal, vol. 48, pp. 2059-2068,1969.
G. Mur, "Absorbing boundary conditions for the finite-difference
approximation of the time-domain electromagnetic-field equations," IEEE
Trans. Electromagn. Compat, vol. EMC-23, no. 4, pp. 377-382, 1981.

BIBLIOGRAFA
[MR1] Min, C. and Ramaswamy, R. V. "Modeling of Graded-Index Channel
Waveguides Using Nonuniform Finite Difference Method," J. Lightwave
TechnoL, vol. 7, no. 10, pp. 1581-1589,1989.
[MSJ] F. A. Muhammad, G. Stewart, W. Jin, "Sensitivity enhancement of D-fibre
methane gas sensor using high-index overlay," IEE Proc. J, vol. 140, no. 2,
pp.115-118, 1993.
[MTL] M. Mann, U. Trutschel, F. Lederer, L. Leine and C. Wachter, "Nonlinear leaky
waveguide modulator," J. Opt. Soc. Am. B, vol. 8, no. 8, pp. 1612-1617, 1991.
[MTW] M. Mann, U. Trutschel, C. Wachter, L. Leine and F. Lederer, "Directional
coupler based on antiresonant reflecting optical waveguide," Opt. Lett., vol. 16,
no. 11, pp. 805-807,1991.
[Mzl] R. Marz, Integrated optics. Design and modeling. Artech House, London,
1995.
[NBJ] D. H. Naghski, J. T. Boyd, H. E. Jackson, S. Sriram, S. A. Kingsley and J.
Latess, "An Integrated Photonic Mach-Zehnder Interferometer with No
Electrodes for Sensing Electric Fields," J. Lightwave TechnoL, vol. 12, no. 6,
pp 1092-1098, 1994.
[PLJ] F. Prieto, A. Llobera, D. Jimnez, C. Domnguez, A. Calle and L. M. Lechuga,
"Design and analysis of silicon antiresonant reflecting optical waveguides for
evanescent field sensors," submitted to J. Lightwave TechnoL
[RFF] R. P. Ratowsky, J. A. Fleck, Jr., and M. D. Feit, "Helmholtz beam propagation
in rib waveguides and couplers by iterative Lanczos reduction," J. Opt. Soc.
Am. A, vol. 9, no. 2, pp. 265-273, 1992.
[Ril] O. M. Ramahi, "Complementary Operators: a method to annihilate artificial
reflections arising from the truncation of the computational domain in the
solution of partial differential equations," IEEE Trans. Antennas Propagat.,
vol. 43, no. 7, pp. 697-704, 1995.
[Ri2] O. M. Ramahi, "Application of the complementary operator method to the
finite-difference-time-domain solution of the three dimensional radiation
problem," Microwave and Optical TechnoL Lett., vol. 9, no. 3, pp. 147-149,
1995.
[Ri3] O. M. Ramahi, "Complementary boundary operators for wave propagation
problems,"./ Comp. Phys.,vol. 133,pp. 113-128, 1997.
[Ri4] O. M. Ramahi, "Concurrent implementation of the complementary operators
method in 2-D space," IEEE Microwave and Guided Wave Lett., vol. 7, no. 6,
pp. 165-167, 1997.
[Rtl] C. M. Rappaport, "Perfectly matched absorbing boundary conditions based on
anisotropic lossy mapping of space," IEEE Microwave and Guided Wave Lett.,
vol. 5, no. 3, pp. 90-92, 1995.
[Rt2] C. M. Rappaport, "Interpreting and improving the PML absorbing boundary
condition using anisotropic lossy mapping of space," IEEE Trans. Magnet.,
vol. 32, no. 3, pp. 968-974,1996.
[Sfl]
R. Soref, "Applications of silicon-based optoelectronics," MRS Bulletin, pp.
20-24, april 1998.
[TB1] T. Tamir and H. L. Bertoni, "Lateral displacement of optical beams at
multilayered and periodical structures," J. Opt. Soc. Am. A, vol. JOSA-61, pp.
1397-1413, 1971.
[TDD] U. Trutschel, V. Delisle, M. A. Duguay, F. Lederer and U. Langbein, "A
wavelength selective device based on three coupled antiresonant reflecting

BIBLIOGRAFA

[TH1]

[TOD]

[VC1]

[VK1]

[VNH]

[Vol]
[Vo2]
[VRJ]

[YG1]

89

optical waveguides," IEEE Photon. Technol Lett,, vol. 7, no. 1, pp. 35-37,
1995.
L. N. Trefethen and L. Halpern, "Well-posedness of one-way equations and
absorbing boundary conditions," Math. Comp., vol. 47, no. 176, pp. 421-435,
1986.
U. Trutschel, F. Ouellette, V. Delisle and M. A. Duguay, "Polarization splitter
based on antiresonant reflecting optical waveguides," J. Lightwave Technol.,
vol. 13, no. 2, pp. 239-243, 1995.
C. Vassallo and F. Collino, "Highly efficient absorbing boundary conditions
for the beam propagation method," J. Lightwave Technol., vol. 14, no. 6, pp.
1570-1577,1996.
C. Vassallo and J. M. van der Keur, "Highly efficient transparent boundary
conditions for finite difference beam propagation method at order four," J.
Lightwave Technol., vol. 15, no. 10, pp. 1958-1965, 1997.
A. Vadekar, A. Nathan and W. P. Huang, "Analysis and Design of an
Integrated Silicon ARROW Mach-Zehnder Micromechanical Interferometer,"
J. Lightwave Technol., vol. 12, no. 1, pp 157-162, 1994.
C. Vassallo, Optical waveguide concepts. Elsevier, Amsterdam, 1991.
C. Vassallo, "Reformulation for the beam-propagation method," J. Opt. Soc.
Am. A, vol. W, no. W, 1993.
Valette, S., Renard, S., Jadot, J. P., Gidon, P. and Erbeia, C., "Silicon-based
Integrated Optics Technology for Optical Sensor Applications," Sensors and
Actuators, A21-A23, pp. 1087-1091, 1990.
D. Yevick and M. Glasner, "Analysis of forward wide-angle light propagation
in semi-conductor rib waveguides and integrated-optic structures," Electron.
Lett., vol. 25, pp. 1611-1613, 1989.

You might also like