SIP-30

INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

SECRETARIA DE INVESTIGACIN Y POSGRADO
DIRECCIN DE POSGRADO
FORMATO GUA PARA REGISTRO DE ASIGNATURAS
Hoja 1 de 3

I.

DATOS DEL PROGRAMA Y LA ASIGNATURA

1.1

NOMBRE DEL PROGRAMA:

1.2

COORDINADOR DEL PROGRAMA: DRA. SARA GUADALUPE CRUZ Y CRUZ

1.3

NOMBRE DE LA ASIGNATURA:

MAESTRA EN TECNOLOGIA AVANZADA

Mtodos pticos en la caracterizacin de materiales

nanocristalinos

1.4

CLAVE:

1.5

TIPO DE ASIGNATURA:

(Para ser llenado por la SIP)

OBLIGATORIA

OPTATIVA

SEMINARIO

ESTANCIA

TEORA

PRACTICA

1.6

NMERO DE HORAS:

1.7

UNIDADES DE CRDITO:

1.8

FECHA DE LA ELABORACIN DEL PROGRAMA DE LA ASIGNATURA:

1.9

T-P 108

12

SESIN DEL COLEGIO DE PROFESORES

EN QUE SE ACORD LA IMPLANTACIN
DE LA ASIGNATURA:

9aOrd.

SESIN No.

1.10 FECHA DE REGISTRO EN SIP:

FECHA:

11

11

2010

18

11

10

(Para ser llenado por la SIP)

d

II.

DATOS DEL PERSONAL ACADMICO

2.1

COORD. ASIGNATURA:

2.2

PROFR. PARTICIPANTE:

Dr. AARON ISRAEL DIAZ CANO

CLAVE:

7417-EA-10

CLAVE:
CLAVE:

Hoja 2 de 3

III.

DESCRIPCIN DEL CONTENIDO DEL PROGRAMA DE LA ASIGNATURA

III.1

OBJETIVO GENERAL:
Dar al estudiante el conocimiento fundamental de tcnicas modernas utilizadas para la caracterizacin de nanomateriales a un
nivel microscpico, atmico y nuclear, abarcando para ello principios fsicos, arreglos experimentales y aplicaciones.
Se hace nfasis en la correlacin de las tcnicas aplicndolas a distintos sistemas a nanoescala.
Se contempla la visita a los laboratorios correspondientes.

III.2 DESCRIPCIN DEL CONTENIDO

TEMAS Y SUBTEMAS

TIEMPO

1. ESTRUCTURA ATOMICA.
1.1. Modelo atmico de Bohr.
1.2. Principios de la Mecnica Cuntica.
1.3. Nmeros cunticos.
1.4. Niveles de energa. tomo de hidrgeno.
1.5. Configuracin electrnica de los tomos.
1.6. Clasificacin peridica de los tomos.

5 hrs

2. INTERACCIN DE LUZ CON MATERIA

2.1 Ondas y fenmeno de interferencia
2.2 Radiacin y partculas
2.3 Fenmeno de absorcin.
2.4 Fenmeno de dispersin (elstica e inelstica)
2.5 Fenmeno de difraccin
2.6 Penetracin y volumen de interaccin
2.7 Detectores

30 hrs

3. ESPECTROSCOPA.
3.1. Espectroscopa de dispersin Raman.
3.2. Fotoluminiscencia (FL) y Fotoluminiscencia de la excitacin (FLE).
3.3 Absorcin Infrarroja (FTIR)
3.4 Absorcin Atmica (AAS) y Fluorescencia de Rayos X
(EDXS y WDXS).
3.5 Emisin Fotoelectrnica de Rayos X (XPS).
3.6 Resonancia Paramagntica Electrnica y Resonancia Magntica Detectada pticamente (EPR y
ODMR).

40 hrs

4. MICROSCOPA.
4.1. Microscopa ptica (MO).
4.2. Microscopa Electrnica de Barrido (SEM).
4.3. Microscopa Electrnica de Transmisin (TEM).
4.4. Microscopa de Fuerza Atmica (AFM).

13 hrs

5. APLICACIN DE TECNICAS ANALITICAS EN MATERIALES NANOCRISTALINOS

5.1 Aplicacin de FL, FLE y Raman al sistema PSiC y SiC nanocristalino.
5.2. Aplicacin de MO, SEM, AFM y EDX al sistema PSiC y SiC nanocristalino.

20 hrs

Hoja 3 de 3

III.3 BIBLIOGRAFIA UTILIZADA EN LA ASIGNATURA

1. Nanocrystals and Quantum Dots of Group IV Semiconductors, T. Torchynska and Y. Vorobiev, American Scientific Pub,
2010.
2. Materials Science and Engineering: An Introduction. William D. Callister. Wiley 7a ed., 2006.
3. Introduction to Solid State Physics, Charles Kittel, Wiley; 8a ed. 2004.
4. Fundamentals of Semiconductors: Physics and Materials Properties (Graduate Texts in Physics). Peter Y. Yu and Manuel
Cardona. Springer; 4th ed. , 2010.
5. Introduccin a la ciencia de materiales. Tcnicas de preparacin y caracterizacin, J. M. Cintas, A. M. Miranda, T. Serratosa,
J. Albella Martn, Ed. CSIC 2000.
6. Tcnicas de anlisis y caracterizacin de materiales, Goberna Selma, Consuelo Faraldos, Ed. CSIC 2000.
7. Caracterizacin de materiales. Avances tericos y experimentales de la metodologa de la difraccin, Jordi Piniella, J.
Francesc Miravitlles y Carles Rius Palleiro, Ed. CSIC (2000).
8. Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Y. Leng, Wiley 2008.
9. Materials Characterization Techniques, Sam Zhang, Lin Li and Ashok Kumar, CRC Press; 1 edition 2008.
10. Atomic and Molecular Spectroscopy. S. Svanberg. Springer-Verlag, 1992.
11. Encyclopedia of Materials Characterization: Surfaces, Interfaces, Thin Films (Materials Characterization Series), Charles
Evans, Richard Brundle and Wilson, Ed. Butterworth-Heinemann 1992.
12. Semiconductor Material and Device Characterization, D. Schroder, Wiley-IEEE Press; 3 edition, 2006.
13. Nanoporous Materials: Advanced Techniques for Characterization, Modeling, and Processing, Nick Kanellopoulos, CRC
Press; 1a Ed. 2010.
14. Optical Techniques for Solid-State Materials Characterization, Rohit P. Prasankumar, Antoinette J. Taylor, CRC Press; 1a
Ed., 2010.
15. Ciencia de los Materiales, J.C. Anderson. Limusa, 2a ed. 2002.
16. Spectroscopy in Heterogeneous Catalysis. W.N. Delgass, G.L. Haller Academic Press, 1979
17. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. J.I. Goldstein, et.Al. Plenum Press, 1992.
18. Introduction to Analytical Electron Microscopy. J.J. Hren, J.I. Goldstein D.C. Joy. Plenum Press, 1979.
19. Quantitative X-Ray Spectroscopy. R. Jenkins, R.W. Gould, D. Gedcke. Marcel Dekker, 1981.
20. Physical Methods for Materials Characterization. P.E.J. Flewitt, R.K. Wild. IOP Pub., 1994.
21. Nanomaterials, Synthesis, Properties and Applications. A.S. Edelstein R.C. Cammarata.IOP Pub., 1996.
22. Transmission Electron Microscopy. D.B. Williams, C.B. Carter. Plenum Press, 1996.

III.4 PROCEDIMIENTOS O INSTRUMENTOS DE EVALUACIN A UTILIZAR

Tareas
Exmenes parciales (3)
Visitas a laboratorios

5%
45%
30%

Exposicin final

20%