Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

Subestacin/Baha:
Subestacin:
Baha:

Direccin de subestacin:
Direccin de baha:

Dispositivo:
Nombre/descripcin:
Tipo de dispositivo:
No de serie:
Info adicional 1:
Info adicional 2:

Test Object

Fabricante:
Direccin del dispositivo:

Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo

No de serie

CMC356

GK541N

Comprobacin del hardware

Realizado en

Resultado

26/05/2014 16:27:15

Correcta

Detalles

MEDICIONES
Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON QuickCMC
26-may.-2014 15:26:43

Versin:
Fin:
Director:

3.00
26-may.-2014 15:34:23

Resultados de la prueba
Ttulo: MEDICIONES
Ajustes del generador
V L1-E
V L2-E
V L3-E
I L1
I L2
I L3

57,735V
57,730V
57,730V
0,200A
0,200A
0,200A

0,00
-120,00
120,00
-30,00
-150,00
90,00

+90I L3
V L3-E

I L2
V L2-E
60,0 V

Comentario
Evaluacin
Correcta

26-may.-2014

15:22:57

Sobrecorriente de fases:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente

V L1-E
0

180

I L1
-90

200,0 mA

General - Valores:
Tol. tiem. abs.:
To. tiem. rel.:

0.04 s
5.00 %

Tol. corr. abs.:

Tol. corr. rel.:
Direccional:

0.05 Iref
5.00 %
S

Conexin del TT:

Conexin del pto. de
estrella del TC:

En equipo protegido
A equipo protegido

Elementos - Residuales:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

S
S

I #1 Residual
I #2 Residual

CEI Normalmente inversa

CEI Tiempo definido

0.25 Iref
5.00 Iref

0.19
0.20 s

0.95
0.95

Hacia delante
Hacia delante

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
26-may-2014 18:01:00

Versin:
Fin:
Director:

3.00
26-may-2014 18:02:31

Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo:
Corriente de carga:
ngulo de carga:
Tiempo de pre-falta:
Tiempo mx. abs.:
Tiempo de post-falta:
Tiempo mx. rel.:
Activar salida de tensin:
Tensin de falta LN (todas fases menos las
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas):
CC en disminucin activa:
Constante de tiempo:
Tiempo mn. car. IP:
Reposicin trmica activa:
Mtodo de Habilitar reposicin:
Mensaje de reposicin trmica:

Inicio de la falta
0.05 A
0.00
0.50 s
10.00 s
0.50 s
100.00 %
S
30.00 V
51.96 V
No
0.05 s
0.05 s
No
Manual
Reinicie la memoria trmica del dispositivo sometido
a prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:
Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

tmin

tmax

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual

2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000

0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A

30.00
0.00
-30.00
-60.00
-90.00
-120.00
-150.00
150.00
120.00
90.00
60.00

Sin disparo
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
1.590 s
1.590 s
1.590 s
1.590 s
1.590 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
2.362 s
2.362 s
2.362 s
2.362 s
2.362 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Salidas binarias:
Nombre

Estado

Sal. bin 1
Sal. bin 2
Sal. bin 3
Sal. bin 4

0
0
0
0

Entradas binarias:
Lgica del trigger:

And

Nombre

Estado del trigger

Disparo
Entr.bi. 2

1
X

Resultados de la prueba de disparo:

Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

treal

Sobrecar
ga

Resultado

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual

2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000
2.000

0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A

30.00
0.00
-30.00
-60.00
-90.00
-120.00
-150.00
150.00
120.00
90.00
60.00

Sin disparo
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
2.273 s
2.214 s
2.065 s
1.913 s
1.794 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No

Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Grficos para tipos de falta:

Tipo
L1-E

ngulo
30.00
10000,000
1000,000

t/s

100,000
10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,0

7,0

5,000 10,000

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

0.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-30.00

3,0

10,0

20,0

10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-60.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-90.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-120.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-150.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

150.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

120.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

90.00

10000,000
1000,000

t/s

100,000
10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

60.00
10000,000
1000,000

t/s

100,000
10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

Estado:
11 de 11 puntos probados.
11 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta

Sobrecorriente de fases:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
General - Valores:
Tol. tiem. abs.:
To. tiem. rel.:

0.04 s
5.00 %

Tol. corr. abs.:

Tol. corr. rel.:
Direccional:

0.05 Iref
5.00 %
S

Conexin del TT:

Conexin del pto. de
estrella del TC:

En equipo protegido
A equipo protegido

Elementos - Residuales:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

S
S

I #1 Residual
I #2 Residual

CEI Normalmente inversa

CEI Tiempo definido

0.25 Iref
5.00 Iref

0.19
0.20 s

0.95
0.95

Hacia delante
Hacia delante

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
26-may-2014 18:11:48

Ajustes de la prueba:

Versin:
Fin:
Director:

3.00
26-may-2014 18:13:19

Modelo de Falta:
Referencia de tiempo:
Corriente de carga:
ngulo de carga:
Tiempo de pre-falta:
Tiempo mx. abs.:
Tiempo de post-falta:
Tiempo mx. rel.:
Activar salida de tensin:
Tensin de falta LN (todas fases menos las
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas):
CC en disminucin activa:
Constante de tiempo:
Tiempo mn. car. IP:
Reposicin trmica activa:
Mtodo de Habilitar reposicin:
Mensaje de reposicin trmica:

Inicio de la falta
0.05 A
0.00
0.50 s
10.00 s
0.50 s
100.00 %
S
30.00 V
51.96 V
No
0.05 s
0.05 s
No
Manual
Reinicie la memoria trmica del dispositivo sometido
a prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:
Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

tmin

tmax

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual

0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100

0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A

30.00
0.00
-30.00
-60.00
-90.00
-120.00
-150.00
150.00
120.00
90.00
60.00

Sin disparo
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
1.590 s
1.590 s
1.590 s
1.590 s
1.590 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
2.362 s
2.362 s
2.362 s
2.362 s
2.362 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Salidas binarias:
Nombre

Estado

Sal. bin 1
Sal. bin 2
Sal. bin 3
Sal. bin 4

0
0
0
0

Entradas binarias:
Lgica del trigger:

And

Nombre

Estado del trigger

Disparo
Entr.bi. 2

1
X

Resultados de la prueba de disparo:

Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

treal

Sobrecar
ga

Resultado

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual

0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100
0.100

0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A
0.50 A

30.00
0.00
-30.00
-60.00
-90.00
-120.00
-150.00
150.00
120.00
90.00
60.00

Sin disparo
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
1.906 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

Sin disparo
2.273 s
2.212 s
2.069 s
1.906 s
1.788 s
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo
Sin disparo

No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No

Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

30.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

0.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-30.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-60.00

10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0

1,000

2,000

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-90.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-120.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

-150.00
10000,000
1000,000

t/s

100,000
10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

0,500

5,000 10,000

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

150.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

120.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

90.00
10000,000
1000,000
100,000

t/s

10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200
I/A

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L1-E

60.00

10000,000
1000,000

t/s

100,000
10,000
1,000
0,100
0,010
0,002

0,005

0,010

0,020

0,050

0,100

0,200

0,500

1,000

2,000

5,000 10,000

I/A

Estado:
11 de 11 puntos probados.
11 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta

Sobrecorriente de fases:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
General - Valores:
Tol. tiem. abs.:
To. tiem. rel.:

0.04 s
5.00 %

Tol. corr. abs.:

Tol. corr. rel.:
Direccional:

0.05 Iref
5.00 %
S

Conexin del TT:

Conexin del pto. de
estrella del TC:

En equipo protegido
A equipo protegido

Elementos - Residuales:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

S
S

I #1 Residual
I #2 Residual

CEI Normalmente inversa

CEI Tiempo definido

0.25 Iref
5.00 Iref

0.19
0.20 s

0.95
0.95

Hacia delante
Hacia delante

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
26-may-2014 18:17:24

Versin:
Fin:
Director:

3.00
26-may-2014 18:17:56

Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo:
Corriente de carga:
ngulo de carga:
Tiempo de pre-falta:
Tiempo mx. abs.:
Tiempo de post-falta:
Tiempo mx. rel.:
Activar salida de tensin:
Tensin de falta LN (todas fases menos las
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas):
CC en disminucin activa:
Constante de tiempo:
Tiempo mn. car. IP:
Reposicin trmica activa:
Mtodo de Habilitar reposicin:
Mensaje de reposicin trmica:

Inicio de la falta
0.05 A
0.00
0.50 s
10.00 s
0.50 s
100.00 %
S
30.00 V
51.96 V
No
0.05 s
0.05 s
No
Manual
Reinicie la memoria trmica del dispositivo sometido
a prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:
Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

tmin

tmax

L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual

1.200
1.500
2.000
5.000
10.000
2.000
4.000

0.30 A
0.38 A
0.50 A
1.25 A
2.50 A
10.00 A
20.00 A

-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00

7.282 s
3.267 s
1.906 s
813.1 ms
564.4 ms
200.0 ms
200.0 ms

3.743 s
2.369 s
1.590 s
748.8 ms
512.4 ms
160.0 ms
160.0 ms

Sin disparo
5.309 s
2.362 s
882.4 ms
617.6 ms
240.0 ms
240.0 ms

Salidas binarias:
Nombre

Estado

Sal. bin 1
Sal. bin 2
Sal. bin 3
Sal. bin 4

0
0
0
0

Entradas binarias:
Lgica del trigger:

And

Nombre

Estado del trigger

Disparo
Entr.bi. 2

1
X

Resultados de la prueba de disparo:

Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

treal

Sobrecar
ga

Resultado

L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E
L2-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #2 Residual
I #2 Residual

1.200
1.500
2.000
5.000
10.000
2.000
4.000

0.30 A
0.38 A
0.50 A
1.25 A
2.50 A
10.00 A
20.00 A

-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00
-60.00

7.282 s
3.267 s
1.906 s
813.1 ms
564.4 ms
200.0 ms
200.0 ms

Sin disparo
3.874 s
2.068 s
843.3 ms
584.0 ms
214.9 ms
213.5 ms

No
No
No
No
No
No
No

Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Grficos para tipos de falta:

Tipo

ngulo

L2-E

-60.00
10000,00
1000,00

t/s

100,00
10,00
1,00
0,10
0,2

0,3

0,5

0,7

1,0

2,0
I/A

Estado:
7 de 7 puntos probados.
7 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta

3,0

5,0

7,0

10,0

20,0