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Difratograma
Intensidade versus 2
5000
4500
Intensidade
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0
0
50
100
150
2
ii e iii) Determinao de 2 e da distncia interplanar
I (mm)
4382
2241
1262
1330
690
554
780
752
Ir(%)
100
51,14103
28,79963
30,35144
15,74623
12,64263
17,80009
17,16111
2
43,4
50,5
74,2
90,1
95,3
117,2
136,9
145,2
21,7
25,25
37,1
45,05
47,65
58,6
68,45
72,6
sen()
0,369747
0,426569
0,603208
0,707724
0,739043
0,853551
0,930097
0,95424
dhkl(nm)
0,208499
0,180726
0,127803
0,108929
0,104313
0,090319
0,082886
0,080789
Scs
1
2
3
4
5
6
7
8
sen/Scs
0,136713
0,09098
0,121287
0,125218
0,109237
0,121425
0,123583
0,113822
Sccc
2
4
6
8
10
12
14
16
sen/Sccc
0,068356
0,04549
0,060643
0,062609
0,054619
0,060712
0,061792
0,056911
Scfc
3
4
8
11
12
16
19
20
sen/Scfc*
0,045571
0,04549
0,045482
0,045534
0,045515
0,045534
0,045531
0,045529
200
(h+k+l)
1,732051
2
2,828427
3,316625
3,464102
4
4,358899
4,472136
a(nm)
0,361131
0,361451
0,361482
0,361278
0,361351
0,361276
0,361291
0,361298
sen()
0,464595
0,535993
0,757945
0,889271
0,928625
1,072506
1,168689
1,199025
27,68
32,41
49,28
62,78
68,22
----------
2
55,36
64,82
98,56
125,56
136,44
----------
Questionrio
a) Os raios-x so radiaes eletromagnticas de alta energia oriundas de transies
eletrnicas de nveis e subnveis mais internos no tomo, podendo ser de dois tipos: por
interaes nucleares ou por freamento. Entendem-se como interaes nucleares a
captura ou a expulso de eltrons da camada interna pelo ncleo instvel
(radionucldeo), gerando um orbital vazio que preenchido por um eltron de camada
mais externa, sendo a diferena de energia dos orbitais emitida na forma de radiao x.
J os raios-x de freamento so produzidos por interaes de partculas carregadas com
o campo eltrico de ncleos ou com a eletrosfera de tomos de elevado nmero
atmico. Com o choque, h reduo da energia cintica e mudana de direo; esta
diferena de energia emitida na forma de raios-x. Este modo de formao utilizado
para gerar raios-x para uso mdico e industrial, pois depende exclusivamente da energia
das partculas incidentes, gerando desde centenas de KeV at centenas de MeV,
conforme a aplicao desejada.
b) Os nveis de tenso mais comumente utilizados so entre 25 e 120 kV.
c) Os materiais na sua imensa maioria so policristalinos e apresentam, em muitos
casos, orientao cristalogrfica aleatria, como o ferro, o cobre , o crmio, o cobalto e
o molibdnio.
d) Comprimento de onda = 0.5 - 2.5
e) A preparao das amostras de raios X feita com o auxlio de equipamentos de
difrao de raios X. Tais equipamentos tm aprimorado a eficincia das medidas de
intensidade. Alguns dispositivos auxiliam os equipamentos, como os porta amostra com
base de monocristal que reduzem a radiao de fundo e permitem a anlise de pequenas
quantidades de amostras; o spinner (dispositivo giratrio de amostras) que contribui
com o aumento da intensidade do feixe difratado na medida em que gira; detectores
sensveis posio (PSD) utilizados como acessrios de alta temperatura acoplados a
cmeras para anlise de amostras em ambientes controlados; e, os monocromadores de
feixe difratado que removem o efeito de fluorescncia das amostras, permitem somente
a difrao das radiaes e contribuem para difratogramas com baixa radiao de fundo e
boa resoluo dos picos difratados.
f) Os principais componentes de um difratmetro de raios X so: fonte de alta tenso,
porta de amostra montada no gonimetro, blindagem com ampola de raios X e
colimador, sistema de deteco das figuras de difrao, eletrnica para controle das
unidades do difratmetro e um minicomputador.
g) A partir do padro de difrao da radiao nico para cada estrutura cristalina,
possvel realizar a identificao das substncias qumicas solidas cristalinas, criando
se uma espcie de impresso digital das amostras.
A difratometria de raios x permite, atravs da medio dos ngulos de difrao,
diferenciar, caracterizar e quantificar substncias que apresentam mesma formula
qumica, porem, estruturas cristalinas diferentes, como, por exemplo, o Quartzo e a
Cristobalita (ambos com a frmula qumica SiO2).
Lei de Bragg
Tal liga composta pela fase alfa ( com estruturas cristalinas hexagonais
compactas, e pela fase beta (), composta por estruturas cristalinas cbicas de corpo
centrado.
A Ti-4Al-4V apresenta, em sua microestrutura, variantes da fase alfa (a) e alfa
martenstica (decorrentes de tratamentos trmicos, o que s confere aumento da
resistncia. Em contrapartida, as mesmas exibem gros relativamente grandes, regies
com finas estruturas lamelares dentro dos gros, mostrando-se prejudicial s
propriedades mecnicas.
Segundo Markovsky, citado por JESUNO, G. A. et al, a aplicao de tratamentos
trmicos causa uma mudana no arranjo das fases dentro dos gros , o que eleva as
propriedades mecnicas da liga. Deste modo, a utilizao da tcnica de difrao de raios
X foi empregada para constatar se houve modificao na fase aps aplicao desses
tratamentos.
b)
c)
d)
( )
( )
17,8
19,4
20,05
37,35
38,25
sen()
0,30569
0,33216
0,34284
0,60668
0,61909
dhkl [nm]
0,2521898
0,232092666
0,224862618
0,127071768
0,124524544
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
CINCIA DOS MATERIAIS MULTIMDIA. Captulo 4 - ndices Cristalogrficos e
Difrao de Raios-X. Tpico 4.8. Difratometria de Raios X. Disponvel em:
<http://www.cienciadosmateriais.org/index.php?acao=exibir&cap=9&top=105>.Acesso
em: 4 dez 2013.
LIMA, Rodrigo da Silva Lima; AFONSO, Jlio Carlos; PIMENTEL, Luiz Cludio
Ferreira. Raios X: fascinao, medo e cincia. Qumica Nova, [s.l], v.32, n. 1, 2009.
VISIOLAB.
Difratomeria
de
Raios
X.
Disponvel
em: