MICROSCOPIA

POR:
FRANCY LVAREZ BERMDEZ
CD: 201310253
ANGIE LLANOS MEDINA
COD: 201310234
WILSON JAVIER PINEDA LPEZ
COD: 201310245

UNIVERSIDAD PEDAGGICA Y TECNOLGICA DE COLOMBIA

FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA DE INGENIERA METALRGICA
TUNJA
2014
MICROSCOPIA

POR:
FRANCY LVAREZ BERMDEZ
COD: 201310253
ANGIE LLANOS MEDINA
COD: 201310234
WILSON JAVIER PINEDA LPEZ
COD: 201310245

PRESENTADO A:
ING. ALEJANDRO MUOZ

UNIVERSIDAD PEDAGGICA Y TECNOLGICA DE COLOMBIA

FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA DE INGENIERA METALRGICA
TUNJA
2014

Contenido

1.

INTRODUCCIN............................................................................................. 4

2.

OBJETIVOS.................................................................................................... 6

3.

PROCEDIMIENTO METODOLGICO................................................................6
3.1.

Funcionamiento......................................................................................... 6

3.2.

Resolucin del Equipo .............................................................................. 7

4.

PREGUNTAS.................................................................................................. 7

5.

CONCLUSIONES.......................................................................................... 13

6.

INFOGRAFA................................................................................................ 13

1. INTRODUCCIN

El hombre siempre a deseado y buscado la forma de poder hacer lo invisible

visible. Despus de ser descubiertos los lentes con este propsito naci el
microscopio de luz del cual se obtienen imgenes muy buenas de los materiales o
lo que se desee analizar.
El microscopio electrnico de Scanning (SEM) o barrido apareci en 1965.
Pero los conceptos bsicos de este tipo de microscopia la propuso Knoll en 1935.
La Microscopia Electrnica de Barrido (SEM) es una tcnica utilizada para la
observacin y anlisis de superficies, por medio de este mtodo podemos obtener
informacin de relieve, textura, tamao, y forma de grano.
El microscopio electrnico produce imgenes de una muestra empleando un haz
de electrones de alta energa. Estos interactan con la muestra y producen
diversas seales que son recogidas por detectores especiales, los cuales permiten
obtener informacin sobre la morfologa, estructura y composicin de la muestra.
Microscopio Electrnico de Barrido ( MEB).
Von Ardenne, en 1.938, construy el primer Microscopio Electrnico de Barrido
(MEB); posteriormente, en Inglaterra, se construy el primer MEB Ambiental, con
el cual se pueden observar muestras hidratadas.
Este instrumento operaba con lentes electrostticas y barrido electromagntico,
pero careca de dispositivos de amplificacin y pantalla de observacin. El haz de
electrones atravesaba la muestra e incida directamente sobre una placa
fotogrfica que se desplazaba en sincrona con el haz, pero a mayor velocidad.
Las imgenes en este instrumento slo podan observarse una vez obtenida las
placas fotogrficas. Von Ardenne sugiri tambin la posibilidad de observar la
superficie de cuerpos opacos, recogiendo y amplificando los electrones
secundarios emitidos por ellas, para modular la intensidad del haz de un tubo de
rayos catdicos.
En 1942, Zworokin, Hillier y Zinder disearon un microscopio con el cual se
observaban directamente superficies de muestras metlicas, y publicaron las
primeras micrografas electrnicas de barrido.
Estos estudios se descontinuaron durante la Segunda Guerra Mundial, pero
resurgieron en 1948 en un programa bajo la direccin de C.W. Oatley en el
Laboratorio de Ingeniera de la Universidad de Cambridge, donde se iniciaron una
serie de proyectos que permitieron grandes avances. En 1952 McMullan disea un
microscopio con importantes adelantos. Utiliza una tensin de aceleracin mayor,
se reducen los efectos de contaminacin y se introduce un nuevo tubo
fotomultiplicador que mejora considerablemente la calidad de la imagen. La
4

observacin de la imagen se efectuaba en un tubo de rayos catdicos de larga

persistencia. Este microscopio es modificado luego por Smith, quien en 1959
consigue micrografas de muy buena calidad. Como resultado de estas
investigaciones, entre los aos 1963 y 1965, surgen los primeros microscopios
electrnicos de barrido comerciales, que alcanzaban unos 250 de resolucin.
Actualmente se desarrollan a escala comercial microscopios que garantizan una
resolucin de 35-100 (3,5-10 nm ).

Descripcin del Microscopio Electrnico de Barrido (MEB).

Podramos decir que bsicamente un MEB consta de las siguientes partes:

Una unidad ptica-electrnica, que genera el haz que se desplaza sobre la

muestra.
Un portamuestra, con distintos grados de movimientos.
Una unidad de deteccin de las seales que se originan en la muestra,
seguida de un sistema de amplificacin adecuado.
Un sistema de visualizacin de las imgenes (tubo de rayos catdicos).
Un sistema de vaco, un sistema de refrigeracin y un sistema de suministro
elctrico, relativamente similares a los del MET.
Un sistema de registro fotogrfico, magntico o de video.
Un sistema de procesamiento de la imagen con ayuda computacional
(optativo).

Ventajas y Desventajas

Mayor resolucin.

Mayor nmero de seales, mayor informacin.

Imagen de detalles profundos de la superficie de la muestra: 3D

No da informacin acerca de viabilidad cell.

Costos

Destruccin de la muestra: fijacin y secado.

Personal especializado.

2. OBJETIVOS

Comprender los principios bsicos de la microscopia.

Entender y familiarizarse con el funcionamiento del microscopio electrnico.
Comprender la importancia que tiene este mtodo de anlisis en la
caracterizacin de los materiales.

3. PROCEDIMIENTO METODOLGICO
La prctica consiste en reconocer las caractersticas del microscopio electrnico
de barrido para lo cual se asisti al laboratorio y se recibi una explicacin del
funcionamiento.

3.1.

Funcionamiento

La muestra es colocada en un pequeo espacio, al cual se le hace vaco despus

de cerrada la puerta. La puerta tiene tres palancas que el operador usa para: subir
y bajar la muestra, rotar la muestra y acercarla o alejarla.
Un haz delgado de electrones, es producido en la parte superior del microscopio
por medio del calentamiento de un filamento metlico (10-30 KV). El rayo de
electrones primarios sigue un recorrido a travs de la columna de vaco del
microscopio, esto, con el propsito, de evitar la dispersin de los electrones. El
trayecto del haz de electrones es enseguida modificado por un conjunto de
bobinas deflectoras que lo hacen recorrer la muestra punto por punto y a lo largo
de lneas paralelas (barrido), y a su vez atraviesa las lentes condensadoras o
electromagnticas que le permiten ser reenfocado o centrado hacia la muestra.
Posteriormente, el dimetro del haz de electrones puede ser modificado al pasar
por las lentes objetivas que controlan la cantidad de electrones dentro de este.
Cuando los electrones primarios golpean la muestra, son emitidos electrones
secundarios por el propio espcimen. Estos electrones secundarios son atrados
por un colector donde se aceleran y se dirigen al escintilador, donde la energa
cintica Es convertida en puntos de mayor o de menor luminosidad, es decir, en
6

luz visible. Esta luz es dirigida a un amplificador donde se convierte en seal

elctrica, la cual pasa a una pantalla de observacin donde la imagen es formada
lnea por lnea y punto por punto. Los circuitos que dirigen las bobinas de barrido
(que obligan al haz a barrer la muestra), son las mismas que dirigen la parte de
coleccin de electrones y que
producirn la imagen.
3.2.

Resolucin del Equipo

El MEB tiene una resolucin de 10 nm

y una profundidad de foco de 10 mm,
mucho menor que el microscopio
electrnico de transmisin. La ventaja del MEB es que proporciona imgenes
tridimensionales, ya que ste especficamente examina la superficie de las
estructuras.
4. PREGUNTAS

1. Qu diferencias hay entre un microscopio ptico y uno electrnico?

Elemento

Microscopio fotnico

Microscopio electrnico

LENTES

De cristal o vidrio, con Magnticas, a partir de

distancias focales fijas metales magnticos, alambre
de cobre enrollado, cuya
distancia focal vara en
relacin con la corriente que
pasa por la bobina de cobre

AUMENTO

Se
consigue
El aumento del objetivo es fijo
cambiando
los
(distancia focal) mientras que
objetivos, rotando el
la distancia focal de la lente
revlver
proyectora vara para lograr
los aumentos

PROFUNDIDAD Pequea, por lo que

DE CAMPO
se
pueden
ver Mayor, por lo que se puede
7

ver enfocado todo el espesor

corte
ultrafino
del
diferentes planos de del
enfoque al mover el espcimen
tornillo micromtrico

Haz de luz: fotones.

Haz
de
electrones.
Generalmente situada
FUENTE DE LA
Ubicada siempre en lo alto del
por
debajo
del
RADIACIN
instrumento, por encima del
espcimen
(aunque
espcimen
hay excepciones)
ALTO VACO

No es necesario

Imprescindible, para facilitar el

desplazamiento
de
los
electrones

RESOLUCIN

0,2 m

0,2nm

2. Cules son las principales caractersticas del SEM?

El microscopio electrnico de barrido (SEM) nos ofrece un variado rango de
informaciones procedentes de la superficie de la muestra. Su funcionamiento se
basa en barrer un haz de electrones sobre un rea del tamao que deseemos
(aumentos) mientras en un monitor se visualiza la informacin que hayamos
seleccionado en funcin de los detectores que hayan disponibles.
El funcionamiento consta de una emisin de electrones por un ctodo de
tungsteno a travs de una columna en vaco de alrededor de

10

Torr. El haz

es concentrado por lentes electromagnticos desde unos 25.000 50.000nm

hasta unos 10nm.
El haz de electrnico es desplazado sobre toda la superficie de la muestra a
modo de un pincel que ira barriendo la muestra con continuas idas y venidas.
La interaccin de l haz electrnico con la superficie produce e - secundarios. Estos
al ser captados por un detector inciden sobre un scintillator, y darn origen a
varios fotones. Estos son dirigidos hasta un fotomultiplicador a travs del can de
luz cada fotn dar origen a un foto electrn que a travs de una serie de dinodos l
que va a dar origen a una amplificacin de la informacin sobre la muestra
suministrada de dichos e-.
Se puede concretar su principales caractersticas como la existencia de una
correspondencia biunvoca (punto a punto) establecida entre la muestra a
8

examinar y la imagen formada, cubrir la muestra en series de tiempo de tal forma

que la imagen quede dividida en muchos elementos fotogrficos los cuales sern
captados por el sistema fotogrfico. El cual nos dar la informacin sobre el
material en estudio.
3. Ventajas y desventajas entre el Microscopio electrnico y el Microscopio de luz
PTICO1. Con el microscopio de luz se resuelven detalles del orden del micrn, mientras
que con el microscopio electrnico se alcanzan a resolver objetos del orden de los
angstrom.
2. Para el microscopio ptico, la preparacin de muestras biolgicas es ms fcil
3. Para el microscopio electrnico la resolucin de imgenes.es mucho mejor.
4. El microscopio ptico es ms fcil de calibrar
5. El microscopio electrnico es muy costoso.
6. El microscopio ptico utiliza reactivos no txicos.
7. El microscopio electrnico presenta imgenes en blanco y negro pues no utiliza
luz sino bombardeo de protones
4. Cul es la clasificacin de los microscopios, cuales son los utilizados por los
ingenieros metalrgicos, como funcionan y cuales tenemos en la UPTC?
Los microscopios clasifican bsicamente en 2 grandes grupos que a su vez se
desprenden en varios tipos:
Microscopios pticos:
Un microscopio ptico es un microscopio basado en lentes pticos. Tambin se le
conoce como microscopio de luz, (que utiliza luz o "fotones") o microscopio de
campo claro.
Microscopio simple
Microscopio compuesto
Microscopio de campo oscuro
Microscopio de contraste de fases
Microscopio de fluorescencia
Microscopio de luz polarizada
Microscopios Electrnicos:
Un microscopio electrnico es aqul que utiliza electrones en lugar de fotones o
luz visible para formar imgenes de objetos diminutos. Los microscopios
electrnicos permiten alcanzar ampliaciones hasta 5000 veces ms potentes que
los mejores microscopios pticos, debido a que la longitud de onda de los
electrones es mucho menor que la de los fotones "visibles".
Microscopio electrnico de transmisin

Microscopio electrnico de barrido Los microscopios utilizados por los

ingenieros metalrgicos son:
Microscopio petrogrfico
Microscopio de campo oscuro o invertido
Microscopio metalogrfico En la UPTC tenemos los siguientes microscopios:
Microscopio electrnico de barrido Microscopio ptico
Microscopio metalogrfico
Microscopio neophot
Microscopio ptico
5. Consulte cuales son los reactivos utilizados para ataque qumico metalogrfico
de materiales ferrosos y no ferrosos

Tomada de. ttp://materiales.wikispaces.com/file/view/fuentes2.png/44900093/fuentes2.png

10

6. Cul es el procedimiento utilizado para obtener imgenes en el SEM?

Ilustracin 1 esquema funcionamiento ptico de barrido

La imagen SEM se forma por barrido. El haz incide sobre un punto y produce un
nmero de electrones secundarios. El nmero de electrones producidos en el
proceso de interaccin depende tanto del material (cuanto mayo res el nmero
atmico mayor es la emisin: contraste por diferente elemento qumico) como de
su forma (la emisin sobre una zona rugosa, borde o arista es mayor debido entre
otras cosas a la mayor concentracin de carga en esos puntos: contraste
topogrfico). Si ahora desplazamos el haz a travs la muestra, mediante las lentes
deflectoras (ver ilustracin 1), podemos generar una lnea y, superponiendo lneas,
formar una imagen. En cada punto recogemos el nmero de electrones emitidos
por la muestra (secundarios O elsticos). La emisin ser constante hasta que
cambie la morfologa o el material, entonces apreciaremos un cambio en el
nmero de electrones dispersados recogidos por nuestro detector. De esto se
deduce que en una imagen SEM la informacin vertical no tiene sentido fsico. En
el proceso de formacin de la imagen perdemos la informacin sobre las
distancias verticales. El contraste de la imagen viene dado por la morfologa
exterior, pero la informacin a escala de los tamaos de los objetos se pierde. As
muchas veces objetos prominentes pueden aparecer en una imagen como
agujeros. Esta caracterstica importante est representada esquemtica mente en
la ilustracin 2. En ella podemos ver como se veran en una imagen SEM objetos
geomtricos de formas diversas. Como se observa, la topologa de los objetos de
la imagen corresponde exactamente con los objetos reales, sin embargo su forma
exterior si se corresponde.
11

Ilustracin 2 Esquema de un perfil de una muestra con diferentes objetos

geomtricos (arriba) y como se veran estos en un microscopio electrnico
de barrido (abajo).
7. Cmo se deben preparar las muestras para ser utilizadas en el SEM?
Existen unos soportes especiales de superficie circular donde se colocan las
muestras. stas deben estar convenientemente adheridas a dicho soporte, para
ello se suele emplear una cinta de carbono (para hacerla conductora) con doble
cara adhesiva. Si se utiliza otro tipo de adhesivo, ste debe ser: conductor, no
gasificar en vaco, de fcil uso y rpido secado. Una vez colocada la muestra, si
no es conductora ser necesario recubrirla con una capa conductora.
Casi todas las muestras de materiales cermicos y de polmeros suelen ser no
conductoras, por lo que su observacin con electrones secundarios es difcil o
imposible debido a la acumulacin de carga que se produce en su superficie. La
acumulacin de carga produce una zona de carga espacial que deflecta el haz
incidente produciendo zonas blancas excesivamente brillantes durante la
observacin. Sin embargo, en otros materiales cermicos o vidrios, tales como:
vidrios y vitrocermicos de basalto, ferritas, arcillas o productos cermicos
tradicionales ricos en hierro, la conduccin de la muestra es tal que su
observacin por SEM no requiere ms que una buena adhesin entre la muestra y
el porta muestras.
En el caso de muestras en polvo se suele emplear cinta de doble cara adhesiva.
En el caso de muestras fibrosas se suele recurrir a la observacin directa o bien a
embuticiones de las fibras en polimetacrilato o en resinas termoplsticas.
En cualquier caso, las muestras deben de estar bien desengrasadas previamente
a su recubrimiento con una pelcula conductora, para evitar contaminacin
superficial por hidrocarburos, ya que el craqueo de las mismas puede producir
carbono en la superficie alterando la emisin de electrones secundarios en zonas
localizadas. Este efecto aparece en pantalla dejando un marco ms oscuro al
cambiar de mayores a menores aumentos. Existen fundamentalmente dos
mtodos para evitar la acumulacin de carga superficial en muestras aislantes:
Aplicar una pelcula conductora a la superficie de la muestra
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 Operar con el SEM a bajas tensiones de aceleracin (voltaje)

Una capa conductora de unos 1-100 nm de espesor de elementos como: C, Al, Au,
Au-Pd... Suele ser suficiente para asegurar una buena observacin. Esta capa
puede aplicarse con un evaporador convencional o con un equipo de sputtering.
La mayor parte de las muestras de materiales cermicos son porosas o
microporosas, por lo que se obtienen mejores resultados con un equipo de
sputtering.
Es necesario tener muy en cuenta en la preparacin de muestras de materiales
cermicos o vidrios que pueden resaltarse la micro-estructura y la textura
superficial lixiviando parcialmente la fase vtrea utilizando un ataque adecuado
para cada muestra.
8. Qu caractersticas podemos obtener al utilizar el SEM?
La microscopa electrnica de barrido proporciona informacin morfolgica y
topogrfica sobre la superficie de los slidos que son normalmente necesarias
para entender el comportamiento de las superficies. As, un anlisis por
microscopa electrnica es a menudo la primera etapa en el estudio de las
propiedades de las superficies de un slido.
En el estudio de materiales podramos decir que se obtiene informacin acerca de
su microestructura, anlisis de faces cristalinas, transiciones en diversos
materiales como metales, cermicos, materiales compuestos, semiconductores,
polmeros y minerales. Composicin de superficie y tamao de grano.

5. CONCLUSIONES
Se puede comprender caractersticas de los materiales utilizando el
microscopio ptico de luz, pero si se utiliza el microscopio electrnico
podremos obtener mayor informacin de las caractersticas propias de los
materiales. Por lo cual es una herramienta muy importante en metalrgica
como en otras formas de estudio donde sea necesario determinar
caractersticas microscpicas y otras que se pueden determinar por medio
de este mtodo de anlisis.
Para el manejo de estos instrumentos es necesario un conocimiento precio
acerca del uso, al igual que responsabilidad para que los datos obtenidos
sean lo ms precisos y el equipo no sufra ningn dao por mal manejo.
Una de las herramientas ms importantes en la caracterizacin de
materiales, determinacin de los procesos de fabricacin, fallas, y dems
fenmenos que ocurren en un material, pueden observarse por medio de
este mtodo de anlisis ya que por medio de la microscopia electrnica
podemos ver detalles importantes de un material.
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6. INFOGRAFA
http://www.patologiasconstruccion.net/2012/12/la-microscopia-electronicade-barrido-sem-i-concepto-y-usos/
http://www.icmm.csic.es/grupos/wpcontent/uploads/2009/02/gago_cap19.pdf
http://es.slideshare.net/vegabner/microscopia-electronica-de-barrido?
next_slideshow=1
http://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_electr%C3%B3nico_de_transmisi
%C3%B3n
http://materias.fi.uba.ar/6713/PREPARACION%20METALOGRAFICA.pdf

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