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Arquitectura de Computadores

SISTEMAS LGICOS
UNIDAD 3: Tecnologa Digital
Dispositivos de Conmutacin: Son elementos que pueden asumir una de dos
posiciones posibles, abierto cerrado, si-no, 0-1.
El dispositivo de conmutacin mas simple es el interruptor, dispositivo mecnico
mediante el cual dos o mas conductores elctricos se pueden conectar (1) o
desconectar (0) ( Figura 3-1).

Elementos de Conmutacin mas modernos estn realizados en base a transistores,


diodos y resistencias. Estos elementos producen un incremento de la confiabilidad y
una reduccin de paso y tamao.
Los circuitos Integrados digitales (CI) se agrupan en FAMILIAS LOGICAS y cada
familia se refiere a una especifica de circuitos lgicas que son fabricados usando las
mismas tcnicas de produccin.Las diversas Familias lgicas caen en las amplias categoras basadas en el
elemento principal que se usa para la fabricacin. Las familias bipolares (TTL Y ECL)
utilizan el transistor bipolar como elemento principal del circuito. Las familias de
Semiconductores De Oxido Metlico (MOS) utilizan transistores de efecto de
Campo como elemento principal.
Si bien las familias TTL y CMOS dominan las reas de aplicacin que requieren
compuertas biestables, existen otras familias cuyas caractersticas se resumen en
esta tabla. (Tabla 1)

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FAMILIA
Compuerta
bsica
Fan-Out tipico
Retardo tpico
(ns)
Desempeo al
ruido
Disipacin de
potencia

DTL

RTL

TTL

STTL

ECL

CMOS

NAND

NOR

NAND

NAND
8-10

OR
NOR
20-25

NAND
NOR
ilimitada

8-10

8-10

30

20

6-33

3-10

1-2

25-35

bueno

aceptable

aceptable

aceptable

10 mw

12 mw

1-25 mw

2-20 mw

aceptable Muy bueno


alta

0.01 w

Tabla 1
La Nomenclatura con que se definen los parmetros mas importantes de los
circuitos lgicos se ha estandarizado y a continuacin de definen los mas
importantes:
VIH ( min ) Voltaje de entrada de alto nivel: es el nivel de tensin mnimo que se
requiere para un 1 lgico en la entrada.
VIL ( max ) Voltaje de entrada de bajo nivel: es el nivel de tensin mximo admitido
que se requiere para un 0 lgico en la entrada
VOH ( min ) Voltaje de salida de alto nivel: es el valor de tensin en la salida del
circuito lgico para un estado de 1 lgico.
VOL ( max ) Voltaje de salida de bajo nivel: es el valor de tensin en la salida del
circuito lgico en un estado de 0 lgico.
IIH Corriente de entrada de alto nivel: corriente que fluye en una entrada cuando
se aplica una tensin VIH en dicha entrada.
IIL Corriente de entrada de bajo nivel: corriente que fluye en una entrada cuando
se aplica una tensin VIL en dicha entrada.
IOH Corriente de salida de alto nivel: corriente que fluye desde la salida en el
estado 1 lgico .
IOL Corriente de salida de bajo nivel: corriente que fluye desde la salida en el
estado 0 lgico .
FAN-OUT Cargabilidad de la salida: numero mximo de entradas lgicas que se
pueden conectar en una salida. (Figura 3)

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tPLH Tiempo de retardo para pasar de un estado lgico 0 a 1.


tPHL Tiempo de retardo para pasar de un estado lgico 1 a 0.

Icc Corriente que se toma de la fuente de alimentacin, esta corriente variara de


acuerdo a los estados lgicos de la salida del circuito.
Inmunidad al ruido: es la capacidad del circuito para tolerar seales ruidosas en
sus entradas o la variacin de tensin admisible a la entrada de una compuerta sin
que esta cambie de estado.
El margen de ruido en el estado alto se define como:
VNH = VOH (min) VIH (min)
El margen de ruido en el estado bajo se define como:
VNL = VIL (max) VOL (max)

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Como se puede ver en la figura 3-5, la tensin de salida (A) si es 0 lgico podr
superar a Vol en un valor menor o igual a VNL antes de que la entrada B deje de
reconocer un 0 lgico.
Igualmente observamos que el valor VOH en A podr disminuir VNH voltios antes de
que la entrada B deje de reconocer un 1 lgico.
Los parmetros indicados se pueden obtener de las hojas de datos del fabricante.
Ya mencionamos que es una familia lgica y resumimos las principales
caractersticas de ellas. Ahora con mas detalle la familias TTL y CMOS por ser las
mas utilizadas.
Familia Lgica TTL ( lgica transistor transistor )
El circuito bsico es la compuerta NAND, su circuito se muestra en la figura
siguiente (figura 3-6)

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Para describir el funcionamiento de este circuito convendremos primero que las dos
entradas A y B estn en estado lgico 1 (5 voltios), en estas condiciones por la
juntura B E de Q1 no circula corriente y por la juntura B C circula una corriente
que pone en estado de conduccin al transistor Q2, as la tensin de colectora de Q2
0,8 voltios llevando a Q3 al corte y a Q4 a estado de conduccin. En estas
condiciones la salida tendr un valor menos o igual a 0,4 voltios.

Para el caso de la Figura 3-8, donde una entrada tendr el valor lgico 0 , la
tensin en la base de Q2 lo lleva al corte y la corriente que fluye por Q2 activa el
transistor Q3 obtenindose una tensin de mas de 2,4 voltios en la salida.
Los circuitos TTL son circuitos de drenaje de corriente, las salidas reciben corriente
de las entradas.

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Del anlisis del circuito (figura 3-9) surge que se podr obtener el mismo
funcionamiento si eliminamos Q3 y conectamos directamente R4 al colector Q4, sin
embargo con esto tendramos dos inconvenientes:
a) una elevada corriente circulando por R4 con Q4 en estado de saturacin ( 5v / 130
40 mA) lo que aumentara significativamente el consumo de energa CI.
b) Se aumentara la impedancia de salida en estado alto, con la configuracin actual
el transistor Q1 acta como seguidor y su impedancia de salida es baja ( 10 ).
Esta baja impedancia ofrece una constante de tiempo breve para cambiar de estado.
Una desventaja de la configuracin actual ocurre durante la transicin de 0 a 1 en
la salida ya que Q4 se desactiva despus que Q3 y por un instante ambos
transistores conducen y circulan una corriente relativamente grande (30 a 40 mA).
La relacin de potencia disipada / velocidad se muestra en la grafica de la figura 310, se puede apreciar que la potencia disipada se incrementa cuando se reduce la
demora en la respuesta del CI.

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De las curvas propuestas por el fabricante vemos que existen diferentes subfamilias
(series).
La series L (54LXX) y la serie LS (54LSXX) utilizan la tecnologa Schottky es decir
utilizan transistores que poseen el diodo Schottky entre la base y el colector para
impedir que el transistor se sature (figura 3-11), el resultado es una reduccin en los
tiempos de conmutacin.

La serie S utiliza valores pequeos de resistencia

Para ayudar a reducir los tiempos de cambio, esta trae como consecuencia un
aumento en la disipacin de energa. Ntese que los transistores Q3 y Q4 se han
reemplazado por Darlington para ofrecer una mejor rapidez en el cambio de la salida
de 0 a 1.
La serie LS, de menor velocidad que la S utiliza el transistor Schottky pero con
valores de resistencia mas elevados. (figura 3-13)

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Ejercicio 1: Determinar el consumo de energa de un circuito realizado con CI 5400


y la energa si el mismo circuito se implementa con Ci 54S00.
ICCH (ma)

ICCL (ma)

ICC (mA)

todos 1 salida

todos 0 salida

promedio

Potencia
total
Promedio

min

max

min.

mx.

por categora

Potencia promedio
por categora
Vcc = 5v

00

12

22

2 mA x 5v = 10 mW

40 mw

S00

10

16

20

36

3,75

3,75 mA x 5v =
18,75 mw

75 mw

Tipo

Ejercicio 2 : Determinar el tiempo de demora de la seal de entrada de la figura 314.

Tipo

Tda

Tdb

Tdc

Tdsalida

Ttotal

ns

ns

ns

ns

ns

00
S00

7
3

11
3

7
3

11
3

36
12

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Carga de dispositivos TTL


Cargas Unitarias: A fin de simplificar el diseo con circuitos TTL, los fabricantes han
establecido factores de carga de entrada y salida standarizados en terminos de la
corriente. Estas corrientes se denominan cargas unitarias (UL) y se definen como
sigue:
1 Carga Unitaria (UL) = 40 A en estado logico 1
= 1,6 mA en estado logico 0
Estos factores de carga unitaria representan las corrientes maximas de entrada para
la serie TTL estndar. En otras palabras, la maxima corriente que fluye en una
entrada TTL en estado ALTO es Iih(max) = 40 A y la corriente maxima que fluye en
una entrada TTL en estado BAJO es Iil(max) = 1,6 mA
La siguiente tabla muestra el factor de carga para las series de circuitos TTL
Serie
7400
74H00
74L00
74S00
74LS00

Carga de entrada
Alta
Baja
1 UL
1 UL
1.25 UL
1.25 UL
0.5 UL
0.1 UL
1.25 UL
1.24 UL
0.5 UL
0.25 UL

Factor de carga
Alta
Baja
10 UL
10 UL
1.25 UL
1.25 UL
10 UL
2.5 UL
25 UL
12.5 UL
10 UL
5 UL

La figura 3-15(a) muestra una salida TTL en estado bajo conectado a varias
entradas.

Si bien el transistor Q4 esta saturado su resistencia interna no es cero y un


incremento de la corriente Iol producir un aumento de la tensin Vol. Este incremento

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no podr superar VoL(max) y esto limitara la corriente IOL y por lo tanto el numero de
cargas IIL que pueden conectar.
La situacin en estado alto en la salida se muestra en la figura 3-15(b), aqu Q 3
provee la corriente a las entradas, si la corriente I OH se hace demasiado grande VOH
puede disminuir por debajo de su valor limite V OH(min).

Ejercicio 3: Determinar la cantidad de compuertas que pueden conectarse a la


salida de una compuerta NAND 5400 de la figura 3-16.

solucin:
a) salida en estado 0
IoL = 16 mA (max)
I
16
C arg aMaxima OL
10
I IL 1,6
b) salida en estado 1
IoH = 400 A
I
400
C arg aMaxima OH
10
I IH
40

IIL = 1,6 mA

IIH = 40 A

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Otras caractersticas de la familia TTL


a)

b)

c)

Entradas Flotantes: si una entrada no se conecta acta como 1 lgico


debido a que la unin B-E de Q1 no se polariza en estado directo.
Entradas no utilizadas: no es conveniente dejar entradas flotantes ya que esta
puede actuar como una antena y captar ruidos que pueden modificar la
salida, las entradas no utilizadas deben conectarse a +V a travs de una
resistencia de 1k , la funcin de esta resistencia es la de proteger a Q 1.
+V

En aquellos casos donde la entrada debe mantenerse en 0 (figura 3-18) la


resistencia R deben ser del menor valor posible de tal forma que la tensin
producida por la circulacin de IIL sea menor que VIL(max)

R max

d)

V IL (max)
I IL

Oscilaciones momentneas de corriente: dada la diferencia de velocidad en la


conmutacin de los transistores Q3 y Q4 en sistemas donde la entrada a una
compuerta lgica es de variacin lenta, se producen oscilaciones
momentneas de la corriente.

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La oscilacin es ampliada por los efectos de cualquier capacitancia de carga en


la salida del circuito.
La tcnica mas comn de filtrado es la conexin de pequeos capacitores
conectados de Vcc a tierra en cada CI.

e)

AND por conexin: en la figura 3-22(b) vemos la realizacin de una funcin


and por conexin, en ella se han eliminado la compuerta and, presente en la
figura 3-22 (a)

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Los circuitos TTL convencionales no permiten la configuracin AND por conexin,


supongamos que conectamos dos salidas, una de estas salidas esta en estado Alto
y otras en estado Bajo.

En este caso Q4b es una caja de resistencia muy baja y tomara una corriente
elevada, esta corriente puede afectar a Q 4b al superarse Iol. Esta situacin empeora
si aumenta la cantidad de puertas conectadas.
Para permitir esta conexin algunos circuitos TTL se fabrican con salida a colector
abierto. Como se observa en la figura 3-24 en estos circuitos se han eliminado Q3,
D1 y R4

La resistencia Rc extendida al CI debe ser elegida de manera que cuando una salida
pase a Bajo mientras las otras permanezcan en Alto, la corriente drenada no exceda
su limite Iol.

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Podra parecer que el valor de Rc debe hacerse lo mas grande posible, sin embargo
debe entenderse que las capacidades parsitas se cargan a travs de esta Rc por lo
que una Rc grande afectara la velocidad de transicin. Para no afectar la velocidad
la resistencia Rc debe hacerse lo mas chica posible.
Ejercicio N 4: el CI 7405 contiene 6 inversores con salida de colector abierto en el
circuito de la figura 3-25. Determinar:
a) la funcin de salida f
b) el valor de Rc
Solucin:
a)

f(a,b,c,d,e,x) = a . b . c . d . e . x
b) Si suponemos que solo un inversor tiene su salida en BAJO , el transistor de
salida de ese inversor debe poder drenar ,las corrientes I rc e IIL.
Iol(max) = Irc + IIL

Iil = 1,6 mA

16 mA = IRC + 8 mA
IRC = 16 mA 8 mA = 8 mA
Rc (min)

Vcc VOL (max)


I RC

5 0,4
575
8

Ejercicio N 5 : para una compuerta NAND 74L500 obtener la curva


Vsalida = F(Ventrada) deduciendo sus intervalos lgicos VIL , VOL, VIH, VOH y comparar
los datos obtenidos con los del fabricante.

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Ejercicio N 6: medir los tiempos de propagacin de subida y bajada con carga


de 200 pF, para efectuar la medida poner en cascada las 4 compuertas de CI
74L500.

Ejercicio N 7: Para el CI 74L500 medir el consumo esttico


a) para todas las entrada en 0
b) para todas las entradas en 1

EL TERCER ESTADO
Una variante en la configuracin de la salida permite que existan 3 estados
posibles en la salida: ALTO, BAJO Y ALTA IMPEDANCIA (este ultimo llamada HiZ)
En el estado Hi-Z Q3 y Q4 se desactivan de manera que la salida sea una alta
impedancia conectada a tierra.
El 3er estado se obtiene modificando el circuito bsico como se muestra en la
figura 3-28.

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Con E = 1 el circuito opera como un inversor normal debido a que una tensin
alta no afecta a Q1 ni a Q2.
Con E = 0 el circuito pasa a Hi-z independientemente del estado de A, un 0 en
E polariza directamente la juntura B-E de Q 1 y corta Q2 hacemos la corriente de
R2 se deriva por D2 y Q3 se corta con ambos transistores q3 y q4 cortados el
terminar de salida es esencialmente un circuito abierto.
Las salidas de los circuitos integrados que poseen el tercer estado se pueden
conectar en paralelo sin sacrificar la velocidad de transicin, no obstante debe
tenerse en cuenta que solo uno de los CI puede estar activo en un determinado
instante.

Un separador de triple estado es un circuito que se utiliza para controlar el paso


de una seal lgica los Integrados 74125 y 74126 son los mas comnmente
utilizados.

Los circuitos con tercer estado se encuentran disponibles tambin en la


tecnologa MOS

FAMILIA LOGICA MOS.

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Esta familia de semiconductor de oxido metlico basa su fabricacin en el


transistor de efecto de campo (FET),
existen dos tipos conocidos: FET de
canal N y FET de canal P
Donde :
D = drenaje
S = fuente
g = compuerta

En el FET de canal N, cuando la compuerta (g) es negativa respecto a la fuente


(s), el FET es un circuito abierto del drenaje (D) a la fuente .
Si la compuerta es positiva con respecto a la fuente el FET es un cortocircuito del
drenaje a la fuente.
En el caso del FET de canal P la operacin es la misma excepto que se invierten
las polaridades.
Es probable que la operacin del FET parezca similar a la del transistor bipolar,
pero existen diferencias importantes.
En el bipolar el factor de control es la corriente de base; por ejemplo es en el
transistor NPN cuando la base se hace positiva respecto al emisor, fluye una
corriente de la base al emisor y es esta corriente la que activa al transistor.
Adems el transistor entra en saturacin, es decir, el voltaje del colector al emisor
desciende a un valor despreciable solo cuando fluye la suficiente corriente por el
colector.
Por el contrario, en el Fet el voltaje compuerta-fuente controla la impedancia
drenaje fuente mediante la accin de un campo electroesttico (de all su
nombre de efecto de campo) y la corriente de compuerta, prcticamente no
puede medirse. Cuando el FET se activa la tensin drenaje fuente es casi cero.
Estas caractersticas del FET permiten construir CI con consumo de energa
extremadamente bajos.
Los circuitos digitales que emplean FET se deriva en 3 categoras.
P-MOS -> FET de canal P
N-MOS -> FET de canal N
CMOS -> MOS complementario que utilizan FET de canales P y N.

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Los P-MOS y N-MOS tienen una mayor densidad de integracin que los C-MOS
y resultan por lo tanto mas econmicas que los
C-MOS.
La categora N-MOS tiene el doble de densidad de integracin que la P-MOS y
es casi dos veces mas rpida.
El C-MOS tiene la mayor complejidad y la menor densidad de integracin pero
tiene mayor velocidad y menor disipacin de energa que las otras dos.

EL INVERSOR N-MOS

Q1 se disea de tal manera de que


tenga una resistencia R0N mucho
mayor que Q2 . La resistencia en OFF
de Q2 es del orden de 1010 .
Si
realizamos
el
anlisis
considerando a los transistores como
resistencia tendremos.
a) Cuando Vin = 0 v

Q2 = OFF

a) Cuando Vin = 5 v

Q2 = ON

Compuerta NAND N-MOS

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Vemos que Q1 tambin aqu acta como una resistencia de carga mientras Q 2 y
Q3 son interruptores controlados por las entradas Ay B.
Si A y B esta en 0 el FET correspondiente estas en OFF y presta una alta
resistencia. Cuando A y B estn en 1 Q2 Q3 estn en ON y la salida es baja.

La compuerta NOR N-MOS se muestra en la figura 3-33 y su anlisis quedara


para que la realice el lector
Los circuitos con tecnologa
P-MOS sern los mismos
excepto para la polaridad del
voltaje.
La lgica C-MOS es mas
rpida y de menor consumo
que las anteriores pero de
mayor complejidad en la
fabricacin. Utiliza FET de tipo
P y N, pero adems es la mas
simple de producir que la TTL
y tiene mayor densidad de integracin.
El inversor en C-MOS
sistema analizamos el circuito de la
figura 3-34 para Vin = Vdd, en esta
situacin Q1 esta cortado con una
resistencia equivalente elevada (1010)

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y la compuerta Q2 estar en conduccin con RoN = 1k, la salida V0vt ser en


consecuencia cero lgico con un valor cercano a los 0 voltios.
Si ViN = 0 voltios las condiciones se invierten y V0vt Vdd.
Las configuraciones de las compuertas NAND y NOR se muestran en las figuras
3-35 y 3-36 respectivamente.

Algunas caractersticas de los C-MOS


a) Niveles de tensin: operan con voltaje que van de 3 a 15 voltios.
b) Los subniveles de salida estarn muy prximos a los 0v en nivel bajo y a V dd
en nivel Alto. La razn de esto es que la resistencia de entrada de una
compuerta MOS es tan grande (10 12 ohms) que casi no carga a la salida de la
compuerta que la impulsa
c) El nivel de ruido se puede determinar como sigue:
VNH = VOH (min) VIH (min)
= Vdd 70%
= 30% Vdd
VNL = VIL (max) VOL (max)
= 30% - 0
= 30% Vdd
d) Disipacin energa: en estado esttico es extremadamente baja, la potencia
disipada crece en funcin a la frecuencia con la cual los circuitos cambian de
estado, por ejemplo: Una compuerta que disipa 10 nW en estado esttico,
disipara 0,1 mW si cambia a una frecuencia de 100khz y 1mW en 1MHZ.
De este modo una compuerta CMOS comienza a perder algunas de sus
ventajas sobre otras familias lgicas cuando aumenta la frecuencia. La
potencia disipada por una compuerta CMOS es semejante a una compuerta
LS-TTL con frecuencia superior a 5 MHz
e) fan out: el factor de carga en estos circuitos no esta limitado por la corriente
que deben derivar los componentes ya que las resistencias son muy elevadas
y las corrientes casi nulas.
El problema aqu aparece por la capacidad que presenta cada entrada CMOS , la salida C-MOS tendr entonces que cargar y descargar estas

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capacitancias lo que trae aparejado en incremento en el tiempo de


propagacin.
As pues el factor de carga depende de la mxima demora de propagacin
admisible, normalmente se limita en 50 para una operacin en baja frecuencia
( 1MHz) .
f) Entradas no usadas: las entradas CMOS nunca deben dejarse
desconectadas ya que son muy susceptibles al ruido y a las cargas estticas.
g) A semejanza de los circuitos TTL, los dispositivos CMOS y MOS requieren de
transiciones razonablemente rpidas en la entrada para una operacin
confiable. En general los dispositivos CMOS funcionaran a nivel optimo con
las transiciones menores a 15 S cuando Vdd = 5 V y menores a 4 S cuando
Vdd = 10 V

El 3er estado en CMOS


Las salidas CMOS nunca deben interconectarse, si se interconectan y estas
salida asumen valores lgicos diferentes se obtendr una tensin V dd/2 debido a
la divisin de voltaje producido por las resistencias equivalentes.

Este voltaje esta dentro del intervalo indeterminado y es inadmisible para activar
otras compuertas.
EL control del 3er estado se logra con una
configuracin como la de la figura 3-38.

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TTL impulsando a CMOS


Ya que la resistencia de entrada CMOS es muy
alta no carga la salida del TTL, pero existe un
problema debido a que la salida TTL tiene un
estado ALTO (VOH) muy prximo a VIH(min) de
una CMOS, la solucin a este problema es la
conexin de una resistencia entre la salida TTL y
+5V, esta resistencia logra que la tensin de
salida se eleve cerca de Vcc ( 5v).

CMOS impulsando a TTL


Una entrada TTL no requiere mucha
corriente en estado alto IIH (max) =
40a .
El estado Bajo es un problema debido
la IIL relativamente alta que requiere al
TTl, esta corriente elevada a travs de
RON puede elevar VOL por encima de
VOL(max) del TTL.

Normalmente un dispositivo CMOS podr impulsar una sola compuerta TTL del
tipo LS. Por esto una solucin de conexionado seria como el de la figura 3-41.

Ejercicio 8: Calcule VOH para una salida CMOS que impulsa 10 entradas TTL.

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IIH (TTL) = 40 A
La cada de tensin en Ron (CMOS)
VROn = 1k * 40 A * 10 = 0,4 voltios
VOH (CMOS) = VDD VRON
VOH (CMOS) =5 0,4 = 4,6 V
VOH (CMOS) > VIH (min) (TTL)
Ejercicio 9: Para una compuerta NAND CMOS 4011 obtener la curva V0= F(VIN)
en vaci y con una carga de 1K, para tensiones de realimentacin de 5 y 12
voltios.
Compare los datos obtenidos con los proporcionados con el fabricante.

Ejercicio 10: medir los tiempos de propagacin de subida y bajada en vaco y


con carga de 100 de una sola puerta NAND 4011.

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Bibliografa
Teora y Practica de los sistemas digitales
TOCCI RONALD
Tercera Edicin
Sistemas electrnicos Digitales
Rafael Snchez
Alfaomega 1993
Teora de Conmutacin y diseo lgico
Hill Peterson
Digital Design UIT Standart MSI and LSI
Thomas R. BLAKESLEE
Second Edition
The TTL Data Book
Texas Instruments
CMOS Databook
National Semiconductor corporation

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