MICROSCOPIA

PAOLA ANDREA SANCHES GARCIA

DUMAR JHONATAN GONZALES
EDISSON LEONARDO OCHOA

UNIVERSIDAD PEDAGOGICA Y TECNOLOGICA DE COLOMBIA

FACULTAD DE INGENIERIA
ESCUELA INGENIERIA METALURGICA
TUNJA
2015

INTRODUCCION

En diferentes aspectos de los materiales, es necesario determinar y poder observar

los diferentes tamaos y fases que este presenta, debido a esto a lo largo del
tiempo, se vinieron creando alternativas para poder evaluar cada una de estas
caractersticas, y es ah donde el microscopio electrnico presenta una gran
importancia, pues gracias a este podemos ver imgenes, que a ojo humano no es
posible observar, y as tener un control y seguimiento al proceso o ensayo a realizar.

OBJETIVOS

Comprender las diferentes caractersticas del microscopio ptico

Poder definir el concepto de microscopia electrnica de barrido

Familiarizarse con la tcnica microscopia y sus principales usos

Observar las componentes del microscopio y su fin en la universidad

MARCO TEORICO EXPERIMENTAL

Podemos determinar las diferencias entre la microscopia ptica y electrnica

mediante la siguiente tabla:

Las principales caractersticas de la SEM es que es utilizada en la franja ms gruesa

de la regin visible, radica en que los electrones emitidos por un ctodo de
tungsteno pasan a travs de una columna en la que se ha hecho un vaco. En ella,
el haz inicial es concentrado por una serie de lentes electromagnticas.
Las ventajas que podemos observar en la microscopia ptica es que esta es de un
manejo fcil y sencillo, observando a su vez materiales de cualquier tipo, pero tiene

limitancias al presentarse los objetos gruesos estos son desenfocados, y la

resolucin limite es del orden de los 0.1 mm, por otra parte en el microscopio
electrnico, presenta al igual que la ptica un fcil manejo, pero tambin posee una
elevada resolucin, o tambin la posibilidad de combinar microscopia con anlisis
espectroscpico. Pero tambin nos posee unas desventajas pues las muestras
tienen que ser metlicas o recubiertas en oro, presenta un alto costo, y el material
tiene que estar al vaco. A su vez los microscopios se clasifican en simples y
compuestos, los ms usados por metalrgicos son los microscopios electrnicos,
pues favorecen un mejor tratamiento y proceso en la muestra, a su vez la mayora
de microscopios presentados o que tenemos en nuestra universidad, son todos
SEM.
Los reactivos ms utilizados para el ataque qumico en materiales metlicos puede
ser NITAL o acido etlico, por otra parte los reactivos usados para el ataque qumico
en materiales no metlicos pueden ser cido hidrofluorico, persulfato de amonio, o
cloruro frrico.
La imagen SEM se forma por barrido. El haz incide sobre un punto y produce un
nmero de electrones secundarios. El nmero de electrones producidos en el
proceso de interaccin depende tanto del material (cuanto mayor es el nmero
atmico mayor es la emisin: contraste por diferente elemento qumico) como de su
forma.
Existen unos soportes especiales de superficie circular donde se colocan las
muestras.
stas deben estar convenientemente adheridas a dicho soporte, para ello se suele
emplear una cinta de carbono (para hacerla conductora) con doble cara adhesiva.
Si se utiliza otro tipo de adhesivo, ste debe ser: conductor, no gasificar en vaco,
de fcil uso y rpido secado. Una vez colocada la muestra, si no es conductora ser
necesario recubrirla con una capa conductora.

Casi todas las muestras de materiales cermicos y de polmeros suelen ser no

conductoras, por lo que su observacin con electrones secundarios es difcil o
imposible debido a la acumulacin de carga que se produce en su superficie. La
acumulacin de carga produce una zona de carga espacial que deflecta el haz
incidente produciendo zonas blancas excesivamente brillantes durante la
observacin. Sin embargo, en otros materiales cermicos o vidrios, tales como:
vidrios y vitrocermicos de basalto, ferritas, arcillas o productos cermicos
tradicionales ricos en hierro, la conduccin de la muestra es tal que su observacin
por SEM no requiere ms que una buena adhesin entre la muestra y el porta
muestras.
En el caso de muestras en polvo se suele emplear cinta de doble cara adhesiva.
En el caso de muestras fibrosas se suele recurrir a la observacin directa o bien a
embuticiones de las fibras en polimetacrilato o en resinas termoplsticas.
En cualquier caso, las muestras deben de estar bien desengrasadas previamente a
su recubrimiento con una pelcula conductora, para evitar contaminacin superficial
por hidrocarburos, ya que el craqueo de las mismas puede producir carbono en la
superficie alterando la emisin de electrones secundarios en zonas localizadas.
Este efecto aparece en pantalla dejando un marco ms oscuro al cambiar de
mayores a menores aumentos.
Existen fundamentalmente dos mtodos para evitar la acumulacin de carga
superficial en muestras aislantes:
a) Aplicar una pelcula conductora a la superficie de la muestra
b) Operar con el SEM a bajas tensiones de aceleracin (voltaje)
Con este ensayo SEM podemos obtener diferentes caractersticas como pueden
ser:

Observar la textura
Realizar microanlisis
Discutir resultados

PROCEDIMIENTO

Nos dirigimos a el laboratorio de ingeniera ubicado en la universidad, para as poder

observar el microscopio, recibiendo el funcionamiento, y las principales
caractersticas de este, el ingeniero a cargo, nos ayud a observar y poder mirar las
grficas arrojadas, nos mostr en que elementos utilizaba el microscopio y que
lograron determinar con esas vistas a diferentes aumentos, explicando como en las
muestras pequeas podemos emplear grafitos, en el equipo caben 6 a 8 muestras,
en la altura nos da de 0,5 cm de alto, la muestra es difcil ver, porque la muestra del
foco es de 19 mm, se ve el espectro blanco, si estas son pequeas, se montan
sobre un pin, al explicarnos la tcnica, es una tcnica de lluvia de electrones sobre
la muestras, desde el can de electrones, partiendo desde una base de tungsteno,
pasando por una parte ancha, y luego disminuye hasta una parte casi cerrada, al
caer sobre la muestra el detector, en este caso de retro dispersados, y este captura
la imgenes capturadas en el equipo.

CONCLUSIONES

La microscopia nos ayuda a determinar los diferentes tamaos de grano en

los materiales, tambin sus segregaciones y con esto podemos poder realizar
o saber que procedimiento podemos seguir a nuestra muestra.

La microscopia es una tcnica de complemento a los rayos x pues nos ayuda

a determinar un espectro, por esto es necesario sobre atacar la muestra.

El microscopio electrnico y ptico viene ligado de la mano con los ingenieros

metalrgicos.

ANEXOS

IMAGEN DEL MICROSCOPIO OBSERVADO, APLICADO.

TAMAO DE GRANO VISTO DESDE EL MICROSCOPIO VISTO A 200X

MICROSCOPIO QUE TENEMOS EN MICROSCOPIA.

BIBLIOGRAFIA E INFOGRAFIA

Ciencia e Ingeniera De Los Materiales - Callister - 7ed

NORMA ASTM E 407

http://www.iestiemposmodernos.com/depart/dtec/Recursos/metalesnoferros
os

http://www.quiminet.com/articulos/novedades-en-microscopia-metalurgica3576210.htmL