Professional Documents
Culture Documents
Centro Tecnolgico
Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial
RONNY COSTA
RONNY COSTA
__________________________________________
Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng. - Orientador
________________________________________________________
Prof. Marco Antnio Martins Cavaco, Ph. D. - Coordenador do Curso
BANCA EXAMINADORA
__________________________________
Prof. Carlos Alberto Martin, Dr. -Ing.
___________________________________
Prof. Armando Albertazzi G. Jr, Dr. Eng.
___________________________________
Prof. Hari Bruno Mohr, Dr. Eng.
Agradecimentos
Sumrio
ndice de figuras .............................................................................................. 8
ndice de tabelas............................................................................................ 10
Lista de abreviaturas .................................................................................... 12
Resumo .......................................................................................................... 14
Abstract .......................................................................................................... 15
1
Introduo .............................................................................................. 16
1.1
1.1.1
Efeitos mecnicos................................................................................18
1.1.2
Efeitos eletromagnticos......................................................................19
1.1.3
1.2
1.3
Proposta de trabalho...................................................................................24
1.4
Estrutura do trabalho...................................................................................25
2.2
2.3
Ensaio de curto-circuito...............................................................................32
2.3.1
2.3.2
2.4
2.5
Medio de tenso......................................................................................43
3.1.1
3.1.2
3.2
3.2.1
3.2.2
3.2.3
3.2.4
3.3.1
3.3.2
4.2
4.2.1
4.2.3
Software.............................................................................................107
4.3.1
4.3.2
4.3.3
Software.............................................................................................117
5.2
5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.3
5.3.1
5.3.2
5.3.3
de curto-circuito................................................................................................143
Concluses ...............................................................................................144
6.1.1
6.1.2
6.1.3
6.1.4
6.1.5
6.1.6
6.2
ndice de figuras
Figura 1.1 Tipos de curto-circuito ...........................................................................17
Figura 1.2 Fora entre dois condutores..................................................................18
Figura 1.3 Fora entre dois condutores..................................................................19
Figura 1.4 Comportamento da corrente de curto-circuito [5] ..................................20
Figura 1.5 Ciclo de melhoria contnua ....................................................................23
Figura 2.1 Circuito para ensaio de curto-circuito em disjuntores tetra-polar...........31
Figura 2.2 Ensaio de curto-circuito - configurao .................................................33
Figura 2.3 Ensaio de curto-circuito O - open.....................................................34
Figura 2.4 Ensaio de curto-circuito CO close open .....................................35
Figura 2.5 Hierarquia de rastreabilidade [19] .........................................................38
Figura 3.1 Tenso e corrente em um disjuntor durante um curto-circuito. .............44
Figura 3.2 Visualizao do disjuntor MBW - componentes internos.......................44
Figura 3.3 Divisor de tenso incluindo as impedncias do cabo de ligao [26]....46
Figura 3.4 Divisor resistivo [26] ..............................................................................47
Figura 3.5 Divisor de tenso resistivo compensado [26] ........................................49
Figura 3.6 Comportamento da resposta do divisor resistivo compensado .............51
Figura 3.7 Transformador de corrente....................................................................53
Figura 3.8 Modelo do transformador de corrente [34] ............................................56
Figura 3.9 Ensaio real de curto-circuito ..................................................................58
Figura 3.10 Circuito equivalente (situao curto-circuito) para ensaio de curtocircuito................................................................................................................59
Figura 3.11 Influncia do modo de passagem dos cabos ......................................63
Figura 3.12 Tipos de derivadores resistivos (shunt) [45] ........................................65
Figura 3.13 Fluxo no derivador resistivo [50]..........................................................67
Figura 3.14 Derivador resistivo coaxial [50]............................................................69
Figura 3.15 Corte transversal do derivador resistivo coaxial ..................................70
Figura 3.16 Forma de onda tpica de resposta ao degrau do derivador coaxial.....71
Figura 3.17 Princpio de funcionamento da bobina de Rogowski ...........................72
Figura 3.18 Bobina de Rogowski rgida e flexvel...................................................75
Figura 3.19 Exemplo de linearidade de uma bobina de Rogowski.........................76
Figura 3.20 Efeito Hall [26] .....................................................................................77
Figura 3.21 Dispositivo de corrente por efeito Hall [26] ..........................................78
Figura 3.22 Sada do transdutor de efeito Hall .......................................................80
10
ndice de tabelas
Tabela 1.1 Ocorrncia dos curtos-circuitos [2] .......................................................17
Tabela 2.1 Valores do fator de potncia e da constante de tempo correspondente
ao ensaio de corrente e a proporo n entre o valor de pico e rms do valor da
corrente de ensaio..............................................................................................31
Tabela 2.2 Tolerncias das grandezas eltricas no ensaio de curto-circuito .........36
Tabela 2.3 Laboratrios participantes da intercomparao....................................39
Tabela 3.1 Caractersticas das tecnologias dos transdutores de tenso LEM [25] 45
Tabela 3.2 Aplicao dos TC quanto exatido ....................................................54
Tabela 3.3 Caracterstica de um sensor de efeito Hall tpico .................................80
Tabela 3.4 Comparao efeito Hall com e sem realimentao ...........................83
Tabela 3.5 Comparao entre os transdutores de correntes mais comumente
utilizados no ensaio de curto-circuito .................................................................84
Tabela 3.6 Seqenciadores utilizados nos laboratrios de ensaio de curto-circuito
...........................................................................................................................94
Tabela 4.1 Caractersticas tcnicas desejveis x NI PCI-6133 [72] .....................106
Tabela 5.1 Especificao das caractersticas metrolgicas da placa NI PXI 6133
[72] ...................................................................................................................127
Tabela 5.2 Erros mximos (E mx) do transdutor de tenso (percentual e absoluta)
.........................................................................................................................128
Tabela 5.3 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de tenso ......128
Tabela 5.4 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de tenso ........128
Tabela 5.5 Erros mximos (E mx) do transdutor de corrente (percentual e absoluta)
.........................................................................................................................130
Tabela 5.6 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de corrente....130
Tabela 5.7 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de corrente......130
Tabela 5.8 Resultado da medio........................................................................137
Tabela 5.9 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 10 s/div (0,22/div)..137
Tabela 5.10 Resultado da medio ......................................................................139
Tabela 5.11 Balano de incertezas da deteco do zero ....................................139
Tabela 5.12 Resultado da medio ......................................................................140
Tabela 5.13 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 1 ms/div (21,6/div) .140
Tabela 5.14 Resultado da medio ......................................................................142
Tabela 5.15 Balano de incertezas calibrao do disparo a 90 ..........................142
11
12
Lista de abreviaturas
A/D Analgico para digital
ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas
BIPM Bureal International ds Poids et Mesures
BNC Bayone-Neill-Concelman
BSTS British Short-Circuit Testing Station
CA Corrente alternada
CC Corrente contnua
CEPEL Centro de Pesquisas de Energia Eltrica
CESI Centro Elettrotecnico Sperimentale Italiano Giacinto Motto
CMRR common mode rejection ratio (razo de rejeio em modo comum)
CO Close-open (estabelecimento seguido de interrupo)
COBEI Comit Brasileiro de Eletricidade
cos Fator de potncia
D/A Digital para analgico
DAQ Data Aquisition (aquisio de dados)
DP Desvio padro
E/S Entrada e sada
EdF Electricit de France, Direction des Etudes et Recherches
EUA Estados Unidos da Amrica
FEM Fora eletromotriz
FGH Forschungsgemeinschaft fr Hoch-spannungs und Hochstromtechnik e.V.
FP Fator de potncia
I Corrente
IEC - International Electrotechnical Commission
IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers
IM Incerteza de medio
INMETRO Instituto Nacional de Metrologia, Normalizao e Qualidade Industrial
IPH Institut Prffeld fr Elektrische Hochleitungstechnik GMBH
ISO International Organization for Standardization
KEMA KEMA Nederland BV
LABEIN Laboratrios de Investigacin y Ensayos Elctricos
LEME Laboratorios de Ensayos y Mediciones Elctricas
13
14
Resumo
O sistema de fornecimento de energia eltrica inclui as etapas de gerao,
transmisso, distribuio e consumo. Em cada uma dessas etapas so previstos
equipamentos de proteo para garantir a integridade do sistema em caso de falha.
Uma falha tpica o curto-circuito. Em baixa tenso, os equipamentos que executam
a funo de proteo, objetivando minimizar os efeitos da falha de curto-circuito, so
os disjuntores e os fusveis.
Portanto, de grande importncia o desempenho desses equipamentos em
uma situao de curto-circuito. A garantia da confiabilidade operacional de tais
sistemas baseada em ensaios.
Nos ensaios de curto-circuito, a exemplo do que acontece com a maioria dos
ensaios eltricos, observa-se, historicamente, pequena preocupao com as
questes metrolgicas. Mesmo quando existe a preocupao com a confiabilidade
metrolgica, raro que os procedimentos aplicados para avaliao de incertezas e
anlise de confiabilidade sejam feitos de acordo com estado-da-arte em metrologia.
A proposta do trabalho fazer uma anlise detalhada do ensaio de curtocircuito em baixas tenses. So analisados, do ponto de vista metrolgico, os
equipamentos usuais de medio e controle. feita uma proposta de estruturao
de um sistema automatizado de
sistema e uma avaliao das incertezas de medio das grandezas mais crticas,
para avaliao do comportamento metrolgico dos sistemas de medio e de
controle do ensaio.
15
Abstract
The Electrical Energy System goes through the stages of generation,
transmission, distribution and consumption. In each one of these stages, protection
equipment are foreseen to guarantee the integrity of the system in case of fault. A
typical fault is the short circuit. In low voltage, the equipments that execute the
protection function, minimizing the failure effects of short circuit, are the circuit
breaker and fuse.
Therefore, it is of great importance the performance of these equipment before
a short circuit event. The guarantee of the operational reliability of such systems is
based on verification tests.
In the short circuit tests, historically, similar to examples that happens with the
majority of the electrical tests, small concern with the metrological questions is
observed. Even when the concern with the metrological reliability exists, seldom the
applied procedures for evaluation of uncertainties and analysis of reliability are made
in accordance with state of art in metrology.
The proposal of this work is to make a detailed analysis of the short circuit test
at low voltage. From metrological point of view the usual equipment of measurement
and control is analyzed. It is made a proposal for a structured automatic test system
arrangement. The partial development of the system and an evaluation of the
measurement uncertainties of the most critical readings are made, for the evaluation
of the metrological behavior of the systems of measurement and control of the short
circuit tests.
16
1 Introduo
1.1 Os tipos de curtos-circuitos e seus efeitos
Um curto-circuito pode ser definido como uma ligao intencional ou acidental
entre dois ou mais pontos de um circuito atravs de uma impedncia desprezvel.
[1].
Assim, o curto-circuito uma ligao de baixa impedncia entre dois pontos
com potenciais eltricos diferentes [2] [3]. Essa ligao pode ser metlica, quando se
diz que h um curto-circuito franco, ou pode ser por arco eltrico, que a situao
mais comum. Uma outra situao pode ser exemplificada por curto-circuito causado
por baixa impedncia, porm no desprezvel. Galhos de rvores ou outros objetos
que caem sobre as linhas de distribuio de energia eltrica ou presena de animais
em painis ou cubculos eltricos so alguns dos exemplos [1] [2].
Conforme exposto na figura 1.1, existem, basicamente, quatro tipos de curtocircuito possveis de ocorrer em uma rede eltrica trifsica:
trifsico;
17
Tipos de Curtos-Circuitos
Ocorrncias em %
3 (trifsico)
06
2 (bifsico)
15
16
63
18
mecnicos entre os
i2
d
(1.1)
Onde:
F fora entre os condutores
k constante
d distncia
+i
d
Legenda:
d distncia entre os condutores
F fora
i corrente
corrente saindo
+ corrente entrando
19
Legenda:
F fora
i - corrente
20
atingindo
valor
de
crista
vai
em
seguida
diminuindo
21
confiabilidade
do
sistema
eltrico
depende,
principalmente,
do
22
23
Melhoria
Projeto
Pesquisa
ENSAIO
Prottipo
Problema
Identificado
24
25
Captulo 1 Introduo
Descrio, baseado na reviso bibliogrfica, do conceito e dos tipos de
curtos-circuitos e dos respectivos efeitos decorrentes da ocorrncia do curto-circuito
nas instalaes eltricas. Nessa etapa, so abordadas a necessidade e a
importncia do ensaio de curto-circuito.
26
Captulo
Avaliao
do
comportamento
metrolgico
do
sistema
desenvolvido.
Baseado nos equipamentos utilizados para o ensaio, obtida a incerteza de
medio para as grandezas mais crticas do ensaio de curto-circuito (medio de
alta corrente eltrica e controle do estabelecimento do ensaio de curto-circuito). So
27
28
29
NBR 5361 Disjuntor de baixa tenso. Rio de janeiro, RJ, set. 1998 [9];
30
31
Corrente de Ensaio
(A)
I 1500
1500 < I 3000
3000 < I 4500
4500 < I 6000
6000 < I 10000
10000 < I 20000
20000 < I 50000
50000 < I
Fator de
Potncia
0,95
0,90
0,80
0,70
0,50
0,30
0,25
0,20
5
5
5
5
5
10
15
15
1,41
1,42
1,47
1,53
1,7
2,0
2,1
2,2
S
N
V
R1
r
R1
r
R1
r
Ur1
Ur2
Ur3
F
RL
Ur4
Ur5
Ur6
D
B
I1
B
I3
I2
T
Legenda:
A chave sncrona
B ligao temporria para calibrao
D equipamento sob teste
F fusvel
I1, I2, I3 sensores de corrente
N neutro da fonte
r resistor
R1 resistor de ajuste
RL resistor de limitao da corrente de falha
S fonte
T terra do sistema
Ur1...Ur6 sensores de tenso
V medio de tenso
X reator ajustvel
32
fonte de potncia;
33
Parametrizao do ensaio
Parametrizao
sistema de controle
a rede e disparo)
Definio da seqncia de operao das chaves
Definio dos respectivos tempos entre acionamentos
Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do Curto-Circuito
Execuo do ensaio
Abertura do disjuntor e
trmino da medio
No
Medidas
conforme
definido?
Sim
Resultados das medies da configurao
Gerao dos resultados
da calibrao
34
Parametrizao
sistema de controle
Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do curto-circuito
Execuo do ensaio
Abertura do disjuntor e
trmino da medio
35
Parametrizao
sistema de controle
Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do curto-circuito
Execuo do ensaio
Abertura do disjuntor e
trmino da medio
36
Grandeza
Corrente
Tenso
Freqncia
Fator de Potncia
Constante de Tempo
ngulo de Disparo
Tolerncia(b)
(0 e + 5)%
(0 e + 5)%
5%
- 0,05 e 0
(0 e +25)%
5
37
38
(c)
39
Laboratrios
Pas
Reino Unido
Itlia
Frana
FGH
Forschungsgemeinschaft
fr
Hochspannungs
Hochstromtechnik e.V.
IPH Institut Prffeld fr Elektrische Hochleistungstechnik GmbH
und
Alemanha
Alemanha
Holanda
Espanha
40
Os
equipamentos
utilizados
na
intercomparao,
assim
como
Tipo:
BAKKER BE 632-IB
Tenso de entrada:
100 mV a 100 V
Conversor A/D:
12 bits
Transmisso:
Comunicao PC:
IEEE 488.1
Software:
Tipo:
Fabricante:
EdF, 1995
Material:
Manganina
Corrente nominal:
Corrente de pico:
350 kA
Freqncia:
50 Hz
Resistncia nominal:
Tempo de resposta:
4,4 s
suas
41
Fabricante:
KEMA, 1995
Corrente nominal:
340 kA; 2 s
Corrente de pico:
transformador de corrente;
bobina de Rogowski.
42
tenso,
confiabilidade, os
43
para
os
pesquisadores
dos
dispositivos
de
proteo,
(d)
44
Legenda:
IA ignio do arco
PA prolongamento do arco
AC movimentao do arco
EA extino do arco
I corrente de curto-circuito
U tenso de arco eltrico
Urede tenso da rede
Legenda:
1 terminais
2 bobina de disparo magntico
3 elemento bimetlico
4 gatilho de disparo
5 manopla
6 cordoalha
7 contato mvel
8 contato fixo
9 cmara de extino
A medio da tenso eltrica em baixa tenso (< 1 kV) pode ser obtida por
diversos transdutores/redutores de tenso. Esses equipamentos, tais como
transformadores de potencial, transdutores de efeito Hall, transdutores com a
45
mencionadas.
Esses
transdutores
poderiam
ser
facilmente
Efeito Hall
Fluxgate
(0 a 9,5) kV
Largura de Banda
vrios kHz
(0 a 7) kV
(0 a 2/10/800)
kHz
Tempo de resposta
(tpico para 90%)
Erro mximo
(tpico, 25C - % fundo
de escala)
Linearidade
(10 a 100) s
Principais pontos
Tecnologia
Eletrnica
isolada
50 V a 2 kV
ptico
isolada
100 V a 6 kV
(0 a 13) kHz
(0 a 13) kHz
0,4 s
< 30 s
< 30 s
1%
0,2%
0,7%
0,9%
< 0,5%
0,05%
Desempenho
padro
Alta exatido
tima
velocidade
0,1%
Pequeno
tamanho
Teso limitada
Velocidade
baixa
0,1%
Excelente imunidade
de interferncia
Alta rejeio de modo
comum
Baixa velocidade
46
nvel de tenso;
47
48
O fator de atenuao dado pela razo entre o sinal de entrada v1(t) e o sinal
de sada v2(t) (sinal da medio) [26].
a=
v1 (t ) R1 + R2
=
v2 (t )
R2
(3.1)
Onde:
v1(t) tenso de entrada do divisor resistivo
v2(t) tenso de sada do divisor resistivo
R1 e R2 resistncias do divisor resistivo
Durante as medidas prticas, o resistor R 2 est em paralelo com a impedncia
de entrada do dispositivo de medio. Isto pode afetar o fator de atenuao
significantemente. Para medidas transientes, tais como impulsos rpidos de tenso,
o sinal transmitido por cabo coaxial [26].
A impedncia de entrada dos osciloscpios, voltmetros eletrnicos e placas
de aquisio de dados so usualmente representados pelo resistor R m com o valor
na ordem de 1 M em paralelo com a capacitncia Cm, cujos valores so da ordem
de (10 a 50) pF. Adicionalmente, a capacitncia do cabo pode assumir valores entre
(20 e 100) pF/m [26]. A carga resistiva pode ser omitida na maioria das aplicaes.
Entretanto, em altas freqncias ou com a tenso no senoidal que contm
componentes de altas freqncias, a carga capacitiva causa dependncia com a
freqncia. [26]
A razo ento, na forma complexa, no domnio da freqncia :
a=
V1
=
V2
R2
1 + jR2 .Cm
R2
1 + jR2 .Cm
R1 +
Onde:
V1 tenso de entrada do divisor resistivo
(3.2)
49
R1 .C1 R2 .C m t
1 +
.e
R
.
(
C
C
)
2
1
m
Onde:
V0 tenso de entrada (forma de onda quadrada)
v2(t) tenso de sada do divisor resistivo
R1 e R 2 resistncias do divisor resistivo
C1 capacitncia de compensao
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de medio
t tempo
- constante de tempo
(3.3)
50
C1
.V0
C1 + C m
(3.4)
Onde:
V0 tenso de entrada (forma de onda quadrada)
v2(+0) tenso de sada no instante aps o zero (transitrio)
C1 capacitncia de compensao
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de medio
Logo aps, o valor de tenso aproxima-se exponencialmente a um valor final
determinado pela razo resistiva:
v 2 ( ) =
R2
.V0
R1 + R2
(3.5)
Onde:
V0 tenso de entrada (forma de onda quadrada)
v2() tenso de sada no regime permanente
R1 e R 2 resistncias do divisor resistivo
A constante de tempo do decaimento exponencial :
Tm =
R1 .R2
.(C1 + C m )
R1 + R2
Onde:
R1 e R 2 resistncias do divisor resistivo
C1 capacitncia de compensao
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de medio
= T m - constante de tempo
(3.6)
51
(3.7)
Onde:
R1 e R 2 resistncias do divisor resistivo
C1 capacitncia de compensao
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de medio
Legenda:
(3.8)
A equao (3.8) significa que os ramos de alta e baixa tenso devem ter suas
constantes de tempo iguais.
52
53
Legenda:
A dispositivo de medio (ampermetro)
P1 e P2 bornes do primrio do TC
S1 e S2 bornes do secundrio do TC
TC em ensaio de curto-circuito
TC transformador de corrente
54
IEEE
C57.13/1993
IEEE
Standard
Requirements
for
Instrument
0,3
0,6
ou
1,2
Aplicao
- TC padro
- Calibrao de TC
- Medies em laboratrio
- Medies especiais
- Medies de energia eltrica para faturamento a consumidor
- Medio de energia eltrica sem finalidade de faturamento
- Alimentao de rels
- Alimentao de instrumentos de controle (voltmetro,
wattmetro, freqencmetro etc.)
55
56
foi desenvolvido com base nas equaes para o clculo do erro. O objetivo do
programa analisar o comportamento dos TC existentes ou a serem projetados, a
partir do tipo de material, da dimenso do ncleo e do tipo de enrolamento, definindo
parmetros fundamentais de construo, experimentando vrias alternativas e
minimizando erros.
Legenda:
e1 tenso no primrio do TC (TC ideal)
n relao do TC
i1 corrente no primrio do TC
secundrio
magntico
ie corrente de excitao
im corrente de magnetizao
57
K N I 2 I1
I1
Onde:
R erro de relao do TC
Kn razo de transformao nominal
I1 e I2 correntes respectivamente do primrio e secundrio do TC
(3.9)
58
59
Legenda:
L indutncia equivalente do ensaio
R resistncia equivalente do ensaio
v(t) tenso de ensaio
Figura 3.10 Circuito equivalente (situao curto-circuito) para ensaio de curto-circuito
di (t )
dt
(3.10)
Onde:
Vm valor da amplitude da tenso
= 2f e f freqncia eltrica da rede (Hz)
ngulo de estabelecimento do ensaio
R resistncia equivalente do circuito
i(t) = valor instantneo da corrente de curto-circuito
L indutncia equivalente do circuito
i (t ) = I m sen (t + ) I m e sen ( )
(3.11)
Onde:
i(t) valor instantneo da corrente de curto-circuito
Im valor da amplitude da corrente de curto-circuito
= 2f e f freqncia eltrica da rede (Hz)
ngulo de estabelecimento do ensaio
L
= tan 1
ngulo de defassagem entre a tenso e a corrente
R
t tempo
constante de tempo =
L
R
60
L
R
TC - constante de tempo do TC = =
L0
R
61
V ( cos 2 sen 2 )
V
(3.12)
Onde:
kT fator transitrio
2 ngulo de defasamento
Assim, para uma carga puramente resistiva, com cos2 = 1,0, tem-se kT =
e considerando = 100 ms tem-se kT = 31,4.
Isto significa que o fluxo CC 31,4 vezes o fluxo CA. Pode-se concluir que
para ser capaz de reproduzir a corrente de curto-circuito completa sem saturao, a
seo do ncleo dever ser 31,4 vezes maior que um transformador utilizado
somente para corrente simtrica [21]. (e)
No TC utilizado para ensaio de curto-circuito deve-se levado em conta esse
fator, pois erros podem ocorrer, principalmente em relao medio da corrente de
crista no caso do curto-circuito assimtrico [21].
Os erros do TC so influenciados pela variao da carga e a variao da
corrente aplicada no TC. O detalhamento desses erros pode ser encontrado
facilmente na literatura. Adicionalmente, trs outros fatores determinam o
desempenho do transformador de corrente [21]:
N2 nmero das espiras do enrolamento secundrio
(e)
62
(3.13)
Onde:
f freqncia da rede eltrica
Este relacionamento pode ser encontrado em detalhes nas referncias [29]
[39]. Na referncia [39] a autora conclui que um TC de alta exatido deve:
63
passando
o Condutores
centro
passando
fora
o Condutores
forma de U
passando
em
o Condutores
forma de S
passando
em
Vista Lateral
no
Vista Frontal
64
aproxima-se
um
transformador
do
outro,
encontram-se
diferenas na medio de corrente na ordem de (3 a 6) % para ensaios de curtocircuito de at 20.000 A. Est diferena deve-se influncia dos elevados campos
magnticos presentes nesses ensaios [21].
65
Legenda:
(a) um elemento
(b) vrios elementos
(c) em forma de grampo de cabelo (Hairpin)
Figura 3.12 Tipos de derivadores resistivos (shunt) [45]
66
taxa de variao de corrente (slew rate) desse derivador da ordem de 1011 A/s
[47].
O derivador resistivo tem sido largamente usado nos sistemas de potncia
para medir altas correntes CA e CC. Dependendo da aplicao pode-se utilizar para
medio desde poucos ampres at milhares de ampres [48] [49].
Haja vista o derivador resistivo ser desprovido de isolao galvnica,
algumas tcnicas adicionais podem ser necessrias para proteger o sistema de
medio [46].
Geralmente, os derivadores resistivos possuem uma baixa resistncia, um
baixo coeficiente de variao com a temperatura e o material utilizado na sua
construo deve ser no-magntico. Os materiais tipicamente utilizados so ligas de
nquel, prata, manganina, zeranina e constantan [46] [49] [50] [51].
O derivador resistivo deve ter uma capacidade trmica necessria para
conduzir as correntes eltricas sem que o aquecimento afete o valor da resistncia e
conseqentemente a mudana no valor da queda de tenso [45]. Geralmente a
dissipao trmica limita a mxima corrente do derivador resistivo [49]. Esse
transdutor deve ter uma suportabilidade mecnica para os esforos produzidos pelas
altas correntes [21] [45].
A utilizao de terminais Kelvin nas medies utilizando os derivadores
resistivos so comum, visando melhorar a exatido das medies [46].
O projeto do derivador resistivo requer cuidados especiais [48]:
67
Legenda:
1
Legenda:
medida
2 fluxo no compreendido pelo lao de
medida
68
(3.14)
Onde:
Fluxo total
1 Fluxo compreendido pelo lao (loop) de medida
2 Fluxo no compreendido pelo lao (loop) de medida
d1
dt
(3.15)
Onde:
Vm(t) tenso na sada do derivador resistivo
I(t) corrente que circula no derivador
R resistncia do derivador resistivo
1 fluxo compreendido pelo lao (loop) de medida
Em termos da indutncia, L(1) tem-se:
Vm (t ) = I (t ) R + L (1 )
dI (t )
dt
Onde:
Vm(t) tenso na sada do derivador resistivo
I(t) corrente que circula no derivador
R resistncia do derivador resistivo
L(1) indutncia intrnseca do derivador resistivo
(3.16)
69
H .dl = 0
(3.17)
Onde:
H intensidade do campo magntico
Conseqentemente, no h nenhuma influncia do campo magntico [5].
Medidas exatas de correntes transientes durante os ensaios em altas
correntes podem ser obtidas com os derivadores de corrente coaxiais. Com os
derivadores podem-se medir correntes desde ampres at quiloampres, com uma
largura de banda desde corrente contnua at megahertz. [5]
70
71
(g)
- A referncia [53] informa que valor 90% pode ser medido levando-se em considerao a primeira
amplitude (overshoot) ou a amplitude em regime. Pode ser utilizado tambm como referncia da
amplitude os valores (5 e 95)% para obteno do tempo de subida (rise time).
72
A largura de banda pode ser facilmente calculada com a seguinte frmula [5]:
LB =
0,35
MHz
tempo de subida
(3.18)
Onde:
LB largura de banda (Bandwidth)
3.2.3 Bobina de Rogowski
O princpio de medio de corrente atravs da bobina de Rogowski
conhecido desde 1912. H uma vasta literatura sobre o assunto, incluindo diversas
aplicaes do referido transdutor na indstria e em pesquisas.
Legenda:
C capacitncia do integrador
R resistncia do integrador
73
di
[54], [55] e [56], que dada por:
dt
e( t ) = M
di (t )
dt
(3.19)
Onde:
e(t) tenso eltrica induzida na bobina
M indutncia mtua
I(t) corrente eltrica no interior da bobina
A corrente obtida:
i (t ) =
di (t ) 1
= e(t ) dt
dt
M
(3.20)
74
As medies utilizando as bobinas de Rogowski, nos ensaios de curtoscircuitos tm certas vantagens, conforme informado nas referncias [21], [54], [55],
[56] e [57]. Na seqncia so apresentadas as principais vantagens relatadas por
tais referncias.
As bobinas de Rogowski em geral tm erro mximo entre (1 e 3)%, porm
podem ser projetadas para terem erro mximo melhor que 0,1%. Testes
comparando bobinas comerciais e bobinas feitas com construo e materiais
especiais mostraram que valores de incertezas podem ser atenuados em mais de
dez vezes. Possui uma ampla faixa de medio podendo medir correntes desde
ampres at centenas de quiloampres. A bobina de Rogowski no permite medir
correntes contnuas mas, ao contrrio dos transformadores de correntes, ela permite
medir correntes com boa exatido quando uma alta componente contnua est
presente, pois no h ncleo de ferromagntico para saturar. Nas medies de altas
correntes, este aspecto muito importante tornando o uso da bobina de Rogowski
muito mais atraente que o uso de transformadores de corrente.
Devido ao fato de que o ncleo da bobina ser de material no ferromagntico,
no h saturao. Isto resulta em um dispositivo extremamente linear em amplitude.
A importncia dessa linearidade que a bobina pode ser calibrada em correntes
mdias (alguns quiloampres ou menos) e ser utilizada com certo grau de
confiabilidade em altas correntes (centenas de quiloampres). Esse procedimento
bastante relevante em funo do elevado custo das calibraes e por serem
enormes as dificuldades atuais de se obter rastreabilidade metrolgica a partir de
dezenas de quiloampres como visto no item 2.5.
75
Rgida
Flexvel
76
Legenda:
FP fator
potncia
de
Ta temperatura
ambiente
- Esse componente eletrnico da Analog Devices tem, dentre suas funes, um integrador digital.
O sinal gerado pela bobina de Rogowski precisa de um circuito integrador para obteno da corrente.
[56].
77
B.I a
d
Onde:
Ia corrente fluindo na placa
B densidade de fluxo magntico
d espessura da placa
VH tenso Hall
(3.21)
78
Legenda:
distncia do entreferro
E fonte de tenso CC
H intensidade do campo magntico
i0(t) corrente a ser medida
Ia corrente CC
Rv resistncia de limitao de corrente
79
80
Tenso de
alimentao
Ventrada
(V)
6 a 12
Corrente
fornecida
Mxima
(A)
20
Tenso de
Offset
(V 2%)
Deriva trmica
Offset Shift
(% / C)
Tempo de
Resposta
(s)
Ventrada/2
0,02
81
Legenda:
Ip corrente a ser mensurada (primrio)
Is corrente secundria (sada)
Np nmero de voltas no primrio (normalmente igual a 1)
Ns nmero de voltas no secundrio
82
Legenda:
Ip corrente a ser mensurada (primrio)
Is corrente secundria (sada)
Np nmero de voltas no primrio
(normalmente igual a 1)
83
Efeito Hall
sem realimentao
No
Efeito Hall
com realimentao
Sim
No
Sim
Pior
Pior
Melhor
Melhor
Consumo
Menor
Tamanho
Custo
Menor
Mais barato
3.2.5
(i)
- Um exemplo retirado da referncia [26], onde o fabricante fornece os seguintes dados: o sensor
CSNK591 cuja a faixa de edio de 1200 A, tem o erro mximo de corrente devido ao offset de
0,2 mA e erro mximo devido a deriva de temperatura de 0,3 mA. A sua corrente de sada nominal
de 100 mA. O erro mximo admissvel para o transdutor de 0,5%.
84
Caracterstica
Erro mximo tpico (especial)
Ampla faixa de medio
Faixa de freqncia (largura de
banda)
Medio de corrente contnua
Sinal de sada
Erro de fase (tpico)
Operao com sada em aberto
Capacidade de medio de altas
correntes
Flexibilidade quanto ao tamanho e
peso (facilidade de instalao)
Problemas de saturao e
histerese
Isolao perante o circuito de
potncia
Retroao
Linearidade sob
a faixa de
medio
Deriva trmica
Erro devido ao offset (erro de zero)
Comportamento dinmico
Custo
Efeito
Hall
Bobina
Rogowski
1% a 3%
(0,1%)
Bom
1% a 3%
(0,1%)
Bom
Bom
TC
Transf. de
Corrente
Derivador
Resistivo
Coaxial
Muito bom
1% a 5%
(< 0,5%)
Bom
Muito Bom
Muito Bom
Muito Bom
DC a
300 kHz
(50 e 60) Hz a
100 MHz
(50 e 60) Hz a
1 MHz
DC a
10 MHz
Sim
No
No
Sim
0,3% a 1,2 %
(< 0,3%)
Tenso ou
corrente
desprezvel
Sem
problemas
Tenso
Corrente
Tenso
minutos
Sem
problemas
minutos
desprezvel
Sem
problemas
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Bom
Bom
Sim
No
Sim
No
Galvnica
Galvnica
Galvnica
No tem
Baixa
Baixa
Baixa
Mdia
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Baixo
Mdio
No
Bom
Mdio
No
Muito Bom
Mdio
Alto
Sim
Regular
Alto
Muito
Baixo
No
Muito Bom
Baixo
Perigosa
85
uma opo que tem sido muito utilizada nos laboratrios de alta corrente
a bobina de Rogowski, devido sua capacidade de medio em altas
correntes, sem problemas de saturao associado a custo relativamente
baixo.
86
(3.22)
Onde:
FP fator de potncia
ii(t) corrente eltrica
irms corrente eficaz
P potncia ativa
S potncia aparente
T perodo
t tempo
vi(t) tenso eltrica
Vrms tenso eficaz
87
R .t
L
(3.23)
Onde:
e base do logaritmo neperiano
id o valor da componente contnua no instante tomado como tempo
final (tf)
ido o valor da componente contnua no instante tomado como tempo
zero (t0)
L/R a constante de tempo do circuito, em segundos
t o tempo, em segundos, entre o instante inicial (t0) correspondente
ao valor i do e o instante final (tf) correspondente ao valor i d.
88
(3.24)
Onde:
t0 tempo tomado como tempo inicial
tf tempo tomado como tempo final
E o ngulo do fator de potncia dado por:
.L
= arctan
(3.25)
Onde:
- ngulo do fator de potncia
L/R a constante de tempo do circuito, em segundos
= 2..f, f a freqncia real
A figura 3.25 ilustra como so obtidos os valores da componente contnua i do
e i d. Os valores das componentes contnuas ido e i d podem ser obtidos:
ido = valor de pico ( a )
envoltria
2
(3.26)
id = valor de pico (b )
envoltria
2
(3.27)
(j)
- Essa informao foi obtida nas visitas aos laboratrios de ensaios de curto-circuito.
(3.28)
89
Legenda:
ido componente unidirecional da corrente no instante t0
id componente unidirecional da corrente no instante tf
t0 tempo tomado como inicial
tf tempo tomado como final
a, b, c valores de pico da corrente
Figura 3.25 Clculo do fator de potncia pela componente assimtrica
norma
faz
meno
ao
seguinte
alerta
quanto
utilizao de
90
3.3.2 Fator de potncia conforme as normas IEC 60947-1/01 [6] e IEC 608981/03 [11]
a) Procedimento de obteno do fator de potncia
Possuem anexos especficos para a determinao do fator de potncia.
Nesses anexos, h dois mtodos: o primeiro exatamente o mesmo que explicado
na alnea a) do item 3.3.1, inserido na norma brasileira NBR 5361/98 [9]. O segundo
mtodo descreve a determinao do fator de potncia atravs da utilizao de um
gerador piloto. Esse mtodo pode ser utilizado quando a fonte de potncia um
gerador. Neste caso, utiliza-se um gerador piloto no mesmo eixo do gerador de
ensaio e, atravs de defasagens entre tenses dos geradores e da corrente,
possvel obter o fator de potncia.
b) Observao referente norma IEC 60898-1/03 [11]
A IEC 60898-1 prev que no pode ser utilizado o transformador de corrente
na utilizao do primeiro mtodo, descrito na alnea a) do item 3.3.2.
91
Legenda:
t1 e t 2 tempos tomados como referncia para obteno do fator de potncia
Figura 3.26 Grficos para o clculo do fator de potncia pela extrapolao da tenso
92
Salienta-se, porm, que, para que esse mtodo seja confivel, os medidores de
tenso e corrente devem estar o mais prximo possvel um do outro.
Esses mtodos so utilizados, principalmente, em ensaio cuja componente
contnua muito pequena, ou seja, quando fator de potncia alto.
Observa-se, conforme exposto pelas normas IEC e UL, que no h um
mtodo pelo qual o fator de potncia ou a constante de tempo, durante um curtocircuito, possam ser determinados com elevada confiabilidade. Nos laboratrios
visitados, na Amrica Latina, no foram encontrados registros de calibrao ou
avaliao de incertezas na obteno do fator de potncia.
Porm, conforme a referncia Medio de Altas Correntes em Freqncia
Industrial: Instrumentao, Dispositivos de Medio e Calibraes [21], as medidas
de fator de potncia eram executados em registro de papel com auxilio de escalas.
Porm, com o avano da tecnologia, com a fabricao de registradores digitais e
placas de aquisio de dados, ambos com interface para computador, passou a ser
vivel a obteno do valor do fator de potncia com um melhor nvel de
confiabilidade. Essa a forma adotada no sistema desenvolvido no mbito deste
trabalho.
necessidade
de
se
controlar
momento
exato
do
93
i (t ) = I m sen (t + ) I m e sen ( )
(3.29)
Onde:
i(t) = valor instantneo da corrente de curto-circuito
Im = valor da amplitude da corrente de curto-circuito
= ngulo de estabelecimento do ensaio
= 2f e f = freqncia da rede eltrica (Hz)
= constante de tempo =
L
R
L
= tan 1
= ngulo de defasagem entre a tenso e a corrente
R
Da equao (3.29), conclui-se que a primeira parte reflete a componente
alternada e a segunda parte, a componente contnua da corrente de ensaio.
A amplitude da componente DC (unidirecional) depende do instante da
aplicao da tenso definida pelo ngulo , assim como pelo ngulo de defasagem
entre a tenso e a corrente. Quando (=), a componente DC igual a zero e
quando (=0) tem-se a mxima assimetria [5] [21] [43] [44].
O controle no ngulo de estabelecimento de tenso pode ser feito de forma
analgica ou atravs processamentos digitais. Nos laboratrios visitados percebe-se
que a maioria tm feito isso, utilizando-se circuitos analgicos. So equipamentos
antigos, robustos, que tm funcionado conforme requerido nas normas de ensaios,
porm com baixssimo grau de automao.
94
Laboratrio
Pas
Laboratrio A1
Amrica
Latina
Laboratrio A2
Amrica
Latina
Laboratrio A3
Amrica
Latina
Laboratrio B1
Europa
Laboratrio B2
Europa
Laboratrio B3
Europa
WEG
Brasil
Tecnologia
Incerteza de
medio
Analgica desenvolvimento
executado por um laboratrio 1(k)
externo.
5
Analgica desenvolvimento
(Eletrnica
+
prprio
chave sncrona)
Analgica desenvolvimento
4
prprio
Digital equipamento e
Software
fornecido
pela
1
Nicolet BE3200 Test
Sequencer
Analgica desenvolvimento
1
prprio
2
(Eletrnica
+
No informado
chave sncrona)
Digital
sistema
desenvolvido pela WEG 1(l)
ambiente Labview
- Somente foi informado este valor, no foram encontrados evidncias de ensaios de calibrao e
incertezas de medio que comprovassem o valor informado.
(l)
- Este valor que se pretende chegar, aps toda a montagem do sistema de ensaio de curtocircuito.
95
96
97
Testing
[64],
descreve
um
sistema
de
medio
computadorizado
98
da
Weg
Indstrias
S.A.
Diviso
Acionamentos.
Os
calibrao [68].
Os ensaios de curto-circuito nem sempre so executados da mesma maneira.
Podem-se ter variaes no circuito de ensaio, assim como no procedimento de
execuo do ensaio de acordo com a norma utilizada. O circuito de ensaio proposto
(Figura 4.1) est composto dos seguintes componentes fundamentais:
misso
99
Legenda:
LBT indutor de baixa tenso
100
DAQ
Transdutor de Corrente
Derivador Resistivo Coaxial
NI PXI-6133
Conversor
A/D
Transdutor de Tenso
Divisor Resistivo Compensado
Processador
PC Industrial
TELA
101
102
Legenda:
In corrente nominal
Is corrente secundria
Tr tempo de resposta
103
104
Instrumentation) uma
105
- PCI - Peripheral Component Interconnect - barramento utilizado nos computadores para troca de
dados entre o processador, a memria e os perifricos. O PCI substituiu barramentos como ISA e
EISA, tornando-se padro da indstria pela sua alta velocidade de transferncia de dados,
teoricamente 132 MB por segundo [71].
106
Numero de canais
10 de tenso
National Instruments
NI PXI 6133 [72]
16 canais
Tipo de conector
Caractersticas
Requisitos
Mxima tenso
Em cada canal, entre canais e 250 V (CC + CA pico)
contra terra
5 mV/div. A 20 V/div.
Faixa de medio
8 div.
Resoluo vertical
10 bits
0,5 % da faixa de medio
Erro mximo (amplitude)
Coeficiente de Temp. <
0,002%/C
Acoplamento
AC e CC
R 1 M
C 30 pF tolerncia 1%
CC 1 MHz
< 10 Hz a 1 MHz em CA
100 ksample/s canal
200 ms de amostragem
250.000 pontos canal
50 s/div. a 1 min/div.
Fundo de escala 10 div.
< 0,1%
Trigger
Manual e automtico
Rampa
Subida e descida
CC 1 MHz
< 10 Hz a 1 MHz em CA
0% a 100%
Passo de 1%
Impedncia
Largura de banda (-3dB)
Taxa de Amostragem
Tamanho de registro
Base de tempo
14 bits
< 0,1 % da leitura/ano
< 0,0005%/C
CC
100 M / 10 pF
0,2 V / 1,25 MHz
42 V / 1,3 MHz
Max.: 2,5 Msample/s
800 ms de amostragem
2 Msample
Configurvel por software
0,01%
Digital, analgico e barramento
PXI
Subida e descida
5 MHz interno/externo
0% a 100%
Selecionvel por software
2 ns
> 60 dB, em CC a 60 Hz
70 dB
FD 1,44 MB
Interface
Alimentao
1,25 V, 2,5 V, 5 V e 10 V
< 50 ns
Armazenamento de dados
Cursores
200 mV a 10 V 11 V p/ terra
(20 a 50) V 42 V p/ terra
107
4.2.3 Software
O desenvolvimento do software est sendo feito em ambiente de
programao Labview 7.1 [73]. A escolha da plataforma de programao Labview
deu-se devido ao fato de essa ser uma ferramenta bastante poderosa do ponto de
vista de sistemas de medio. Utilizando Labview para as aplicaes de medio e
automao, pode-se adquirir dados de vrios dispositivos de hardware (placas DAQ,
equipamentos de medio com comunicao digital ou redes digitais). Com isso,
pode-se definir uma aplicao para analisar ou tomar decises com base nesses
dados e depois apresentar as medies por meio de interfaces grficas, pginas
Web ou atravs de arquivos de banco de dados [73].
Labview um produto que permite ao programador criar aplicaes de
medio e controle de maneira rpida e confivel. O Labview 7.1, utilizado no mbito
desta dissertao para automao dos ensaios de curto-circuito, dotado de um
mdulo para aplicaes em tempo real (real-time).
O desempenho dos sistemas Labview real-time pode ser medido em termos
de execuo determinstica, temporizao das entradas e sadas, triggering,
sincronismo e velocidade do processador. Determinismo o componente
fundamental de todos os sistemas real-time. Este parmetro definido atravs da
capacidade do sistema de realizar uma operao especfica, de forma consistente,
em um tempo definido. Determinismo afetado pelo sistema operacional, arquitetura
de programao do software e integrao da aplicao com funcionalidades de
temporizao e sincronismo com entradas e sadas. A velocidade do processador
determina o tempo mnimo de ciclo de cada lao [73].
As plataformas real-time oferecem ambientes de execuo de aplicaes para
rodar [73]:
108
109
110
de 100 ms. O software de medio neste ensaio, gera dois grficos onde se obtm
s grandezas: corrente de pico, tenso do ensaio e o instante de fechamento.
(Figura 4.7). A partir das grandezas obtidas em cada curva de tenso e corrente,
obtm-se o valor do fator de potncia do ensaio.
Instante do fechamento
0 na tenso
4.2.3.2 Software para obteno dos valores medidos no ensaio de curtocircuito para avaliao do desempenho do disjuntor
Conforme descrito no captulo 2, as normas de ensaio descrevem seqncias
de operaes de O e CO de acordo com tipos de ensaios. Por exemplo no ensaio
com correntes de curto-circuito reduzidas conforme estabelecido na norma IEC
60898-1 [11], o disjuntor deve abrir nove vezes, sendo que o circuito deve ser
fechado seis vezes pela chave sncrona, O e trs vezes pelo prprio disjuntor,
CO.
Normalmente, observa-se que o disjuntor em ensaio limita o valor da corrente
e a durao do ensaio. Geralmente, a durao do ensaio inferior a um ciclo da
corrente senoidal (menor que 16 ms, em 60 Hz) conforme mostrado na figura 4.7.
111
Durao do ensaio
t = ciclo (8,33 ms)
Tenso de arco no
disjuntor em teste
Figura 4.7 Grficos do ensaio de curto-circuito ensaio Open no disjuntor em teste
(n)
- No foi encontrado nas normas de ensaios de curto-circuito um nome definido para essa funo
[6] [8] [9] [11] [13] [14] [15].
112
SEQENCIADOR
1,2,3,....
Deteco Zero
(Sincronizao)
Contagem
(Temporizao)
Disparo Eletrnico
113
1
= 16,666667 ms, portanto 1 = 46,3 s.
60
114
CONECTOR E/S
A/D
MUX
D/A
RTSI
DIGITAL
CONTADOR
E/S - entrada e sada para o computador
Legenda:
A/D Conversor analgico para digital
conector E/S Conecta o sinal externo (via bloco terminal ou cabo) no dispositivo de
aquisio de dados
contador utilizado para contagem pode enviar ou receber sinal digital
D/A Conversor digital para analgico
digital Entrada e sada digital
E/S Conecta a placa de aquisio de dados ao computador
MUX Chave que tem vrias entradas, mas somente uma sada
RTSI Real-Time System Integration Usada para sincronizar varias placas de aquisio
de dados e permite dividir o tempo e os sinais disparo entre as placas
Figura 4.9 Componentes de placa de aquisio de dados
1
= 0,05 s
20 MHz
(4.1)
(o)
- A traduo literal de tick tique-taque. O termo tick utilizado para se definir a menor resoluo
de contagem de uma base de tempo.
115
Sistema sincronismo-disparo
Configurao
Software
PXI
Rede
Eltrica
Transdutor
Tenso
DAQ
Disparo
Disparo
Eletrnico
Potncia
Legenda:
PXI - PCI eXtensions for Instrumentation
DAQ placa de aquisio de dados
Figura 4.10 Diagrama de blocos do sistema sincronismo-disparo
116
117
V2
Formas de onda
V2
V1 = 10V
V2
V 1 10V
Legenda:
DZ1, DZ2 diodo Zener 10 V
F1 fusvel
R resistor de limitao
T1 transformador de potencial monofsico 100:1 V
V1 tenso do secundrio do transformador
V2 tenso de sada do circuito
Figura 4.11 Circuito limitador
4.3.3 Software
Todo o aplicativo foi desenvolvido utilizando-se o software Labview 7.1. O
Labview 7.1 um ambiente de desenvolvimento que pode gerar aplicativos como
118
119
Sinal de tenso c/
freqncia de 60 Hz
Disparo
120
121
122
Transdutor
- Erro de linearidade
- Erro de zero
- Repetitividade
- Deriva com temperatura
- Erro de ganho
- Retroao
Placa de
Mostrador
aquisio
(Interface grfica)
- Tempo de estabilizao
- Interligao
- Repetitividade
- Ganho
- Offset
- Rudo
- Deriva com temperatura;
- Resoluo
- Linearidade
- Resoluo
- Processamento
Legenda:
E grandeza de entrada (tenso , corrente etc.)
V sada do transdutor / entrada da placa DAQ geralmente sinal de baixa tenso, (0 a 5) V,
(0 a 10) V, (-10 a +10) V e (-5 a +5) V
Figura 5.1 Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e mapeamento das
possveis incertezas associadas [34]
123
124
Avaliao a priori
Transdutor de tenso
Avaliao a priori
Transdutor de corrente
IM a priori (tenso)
IM a priori (corrente)
Calibrao
SM de corrente
IM (tenso)
IM (corrente)
erro de zero;
125
por
segurana,
existncia
de
uma
distribuio
de
erro de zero;
erro de linearidade;
erro de ganho;
impedncia.
126
(5.1)
(5.2)
(5.3)
127
Nominal Range(V)
Noise +
Quantization
(V)
% of Reading
Gain
Positive Negative
Offset
Single
(V)
Pt.
FS
FS
1 Year
0,5
10
-10
0,0140
-5
0,0141
633,7
2,5
-2,5
0,0143
1,25
-1,25
0,0153
1.254,4 3.117,5
Temp
Drift
Averaged (%/C)
Absolute
Accuracy
at Full
Scale
(mV)
272,1
0,0005
2,5069
1.568,7
137,0
0,0005
1,2671
323,4
791,3
69,1
0,0005
0,6439
168,2
417,8
36,6
0,0005
0,3430
1000
= 0,06 V
214
(5.4)
128
Emx Emx
(%)
0,5
0,5
0,5
0,5
(V)
1,1
2,2
2,4
3,0
1
2
3
Distribuio de
probabilidades
Fontes
Tipo
Valor
Resoluo do sistema de
medio de tenso proposto
Emx do transdutor de tenso
B
B
B
Graus de
Sensib.
ci
Incerteza
ui
liberdade
Tipo
Divisor
veff
0,1 V
Retangular
1,73
0,058 V
infinito
1,1 V
Retangular
1,73
0,635 V
0,0025 V
Retangular
1,73
1
(p)
100
0,144 V
infinito
infinito
Incerteza Combinada
Normal
0,654 V
infinito
Normal
1,308 V
IM (95%) = 1,31 V
IM
( V)
1,3
2,6
2,8
3,5
IM
(%)
0,6
0,6
0,6
0,6
(p)
- Relao entre a tenso placa DAQ ( 10 V) e o valor real da tenso de ensaio (1000 V).
129
25
= 0,00152 kA
214
(5.5)
130
Emx Emx
(%)
0,5
0,5
0,5
0,5
(kA)
0,050
0,025
0,015
0,008
1
2
3
Distribuio de
probabilidades
Fontes
Tipo
Valor
Resoluo do sistema de
medio de corrente proposto
Emx do transdutor de
corrente
Emx da placa DAQ
B
B
B
Graus de
Sensib. ci
Tipo
Divisor
0,0050 kA
Retangular
1,73
0,050 kA
Retangular
1,73
0,0025 V
Retangular
1,73
Incerteza
ui
liberdade
veff
2,5 kA/V
(q)
0,0029 kA
infinito
0,0289 kA
infinito
0,0036 kA
infinito
infinito
Incerteza Combinada
Normal
0,0292 kA
Normal
0,0584 kA
IM (95%) = 0,058 kA
IM
( kA)
0,058
0,030
0,020
0,013
IM
(%)
0,6
0,6
0,7
0,9
(q)
- Relao entre a tenso de entrada da placa DAQ ( 10 V) e o valor real da corrente de ensaio
( 25 kA). O valor de 25 kA foi escolhido em funo de ser a corrente de pico mxima a ser medida.
131
132
133
funo de que necessrio medir a diferena entre o instante da passagem por zero
e o disparo a 90, cujo tempo igual a 8,33 ms para freqncia de 60 Hz.
IM contagem
(0, 30, 45, 60 e 90)
IM Deteco do zero
0
Calibrao
SMP: Calibrador Multifuno
Calibrao
SMP: Calibrador Multifuno
SMC: Osciloscpio
base de tempo: 10 s/div
SMC: Osciloscpio
base de tempo: 1 ms/div
Calibrao
SMP: Osciloscpio
base de tempo: 10 s/div
Calibrao
SMP: Osciloscpio
base de tempo: 1 ms/div
IM Total
Sistema de sincronismo-disparo
(0, 30, 45, 60 e 90)
Legenda:
134
Gerador
de
Funes
Placa
NI PXI 6133
(SMC)
Osciloscpio (SMP)
Tektronix TPS2014
Legenda:
SMC sistema de medio a calibrar
SMP sistema de medio padro
Figura 5.4 Diagrama de blocos da calibrao do sistema sincronismo-disparo
135
136
137
Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMP
()
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
SMC
(s)
5,00
5,00
5,00
5,00
5,00
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMC
()
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
0,000
Td = 0,000 (tendncia)
A tabela 5.9 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que em
conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado do osciloscpio na faixa
de medio de 10 s/div.
Em favor da segurana, devido ao fato do desvio padro calculado ser igual a
zero, considerou-se a repetitividade igual a uma resoluo do SMC.
Tabela 5.9 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 10 s/div (0,22/div)
Componentes de Incerteza
N
1
Fontes
Repetitividade
Tipo
Valor
0,02 s
Incerteza do SMP
0,01 s
3
4
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
0,02 s
0,005 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,15)
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Divisor
Retangular
Normal
(k=2,7)(r)
Retangular
Retangular
1,73
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
veff
0,0216/s
(s)
0,0002
2,7
0,0216/s
0,0001
Infinito
1,73
1,73
0,0216 /s
0,0216 /s
0,0002
0,0001
Infinito
Infinito
Normal
0,0004
18,86
Normal
0,0008
IM(95%) = 0,001
Percebe-se que a incerteza encontrada muito pequena, o que permite
concluir que o osciloscpio adequado como padro para avaliao da incerteza de
medio do instante de cruzamento por zero.
A tabela 5.10 mostra o resultado da calibrao e a tabela 5.11 mostra o
clculo da incerteza de medio na deteco do zero do sistema sincronismo(r)
(s)
138
disparo. A figura 5.6 mostra um dos resultados dessa calibrao. Foram executadas
5 medies para avaliar a incerteza de medio. Cada medida foi obtida entre o
valor detectado como passagem pelo zero (sinal do seqenciador-disparo) e a
primeira deteco real de passagem pelo zero ou ltima passagem por zero (o que
for maior sinal de tenso passando por zero).
139
SMC
()
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMP
()
-0,04
-0,06
0,05
-0,04
-0,05
-0,028
0,044
Td = - 0,03
A tabela 5.11 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado na deteco do zero.
Tabela 5.11 Balano de incertezas da deteco do zero
Componentes de Incerteza
N
Fontes
Tipo
Valor
Repetitividade
0,044
2
3
4
Incerteza do SMP
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
B
0,001
0,05
0,02 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,37)
IM(95%) = 0,12
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Divisor
Normal
Normal
(k = 2,15)
Retangular
Retangular
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
veff
0,044
2,15
1,73
1,73
1
1
0,0216/s
0,0004
0,029
0,0002
Infinito
Infinito
Infinito
Normal
0,053
8,19
Normal
0,125
140
Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMP
()
21,60
21,60
21,60
21,60
21,60
SMC
(s)
1000
1000
1000
1000
1000
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMC
()
21,6
21,6
21,6
21,6
21,6
21,6
0,00
Td = 0,00
A tabela 5.13 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado do osciloscpio na
faixa de medio de 1 ms/div.
Em favor da segurana, considerou-se a repetitividade igual a uma resoluo
do SMC.
Tabela 5.13 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 1 ms/div (21,6/div)
Componentes de Incerteza
N
Fontes
Tipo
Valor
Repetitividade
2 s
Incerteza do SMP
1 s
3
4
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
2 s
0,5 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,15)
Distribuio de
Probabilidades
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
Tipo
Divisor
veff
Retangular
Normal
(k=2,7)(t)
Retangular
Retangular
1,73
0,0216 /s
0,025
2,7
0,0216 /s
0,008
Infinito
1,73
1,73
0,0216 /s
0,0216 /s
0,025
0,006
Infinito
Infinito
Normal
0,037
18,86
Normal
0,079
IM 90 contagem(95%) = 0,08
Percebe-se que a incerteza encontrada pequena, o que permite concluir
que o osciloscpio adequado como padro para avaliao da incerteza de
medio na contagem com o disparo.
(t)
141
Calibrao da contagem 90
12
9
8,400E-04
89,86
5,004E-03
tenso (V)
3
0
7,0E-04
-3
2,7E-03
4,7E-03
6,7E-03
8,7E-03
142
SMC
()
90,0
90,0
90,0
90,0
90,0
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMP
()
89,86
89,86
89,86
89,94
89,94
89,892
0,044
Td = - 0,11
A tabela 5.15 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado disparo a 90.
Tabela 5.15 Balano de incertezas calibrao do disparo a 90
Componentes de Incerteza
N
Fontes
Graus de
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Valor
Sensi
b. ci
Incerteza
ui
Liberdade
Tipo
Divisor
1
0,044
2,15
0,037
Infinito
0,05
Normal
Normal
(k = 2,15)
Retangular
1,73
0,029
Infinito
2 s
Retangular
1,73
1
0,0216
(/s)
0,025
Infinito
Normal
0,069
24,47
Normal
0,147
Repetitividade
0,044
Incerteza do SMP
0,08
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,13)
veff
ngulo
()
0
30
45
60
90
Td - contagem
()
0,00
- 0,02
- 0,04
- 0,04
-0,11
IM contagem
()
0,12
0,12
0,15
0,12
0,15
IM Total - contagem
()
0,12
0,14
0,19
0,16
0,26
143
ngulo
()
0
30
45
60
90
IM zero
()
0,12
0,12
0,12
0,12
0,12
Td - zero
()
- 0,03
- 0,03
- 0,03
- 0,03
- 0,03
Td - contagem
()
0,00
- 0,02
- 0,04
- 0,04
-0,11
IM contagem
()
0,12
0,12
0,15
0,12
0,15
IM Total
()
0,27
0,29
0,34
0,31
0,41
144
145
146
aberto.
Possibilidade
de
elevada
tenso
na
sada
do
transformador;
147
baixo
148
149
150
151
Referncias
[1] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR 5459
Manobra e Proteo de Circuitos. Rio de Janeiro, RJ, jun. 1997.
[2] KINDERMANN, G. Curto-Circuito. 3. ed., Florianpolis, SC: UFSC EEL
LabPlan, 2003.
[3] SIEMENS, Manual de baixa tenso. 2 ed., So Paulo, Editora Nobel, 1990, 1 v.,
p. 60-80.
[4] SCHNEIDER ELECTRIC, Programa de Formao Tcnica Continuada - Os
Efeitos do Curto-circuito. Disponvel em: <www.schneider.com.br>. Schneider
Electric Brasil. Acesso em: 19 maio 2004.
[5] SLUIS, L. van der, Transients in Power Systems. England, ed. John Wiley &
Sons Ltd, 2001. 207p.
[6] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60947-1
Low-voltage switchgear and controlgear Part 1: General Rules. Geneva,
Switzerland, Dec. 2001.
[7] DAMP, J. L., Ensayos de Potncia: Tcnicas de ensayo y medicin com
altas corrientes. LEME Laboratorio de Ensayos y Mediciones Elctricas,
Departamento de Electrotecnia, Facultad de Ingeniera de la UNLP, La Plata, Bs.
As., Argentina, 2003.
[8] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60947-2
Low-voltage switchgear and controlgear Part 2: Circuit-breakers. Geneva,
Switzerland, Apr. 2003.
[9] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR 5361
Disjuntor de baixa tenso. Rio de Janeiro, RJ, set. 1998.
[10] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR NM
60898 Disjuntores para proteo de sobrecorrentes para instalaes
domsticas e similares. Rio de Janeiro, RJ, out. 2004.
[11] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60898-1
Electrical accessories Circuit breakers for overcurrent protection for
152
household and similar installations Part-1: Circuit breakers for a.c. operation.
Geneva, Switzerland, Jul. 2003.
[12] INMETRO INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E
QUALIDADE INDUSTRIAL, Avaliao da Conformidade. 3 ed., jun. 2004.
Disponvel em: <http://www.inmetro.gov.br/qualidade/cartilha_aval_conf_jun04.pdf>.
Acesso em: 07 jul. 2005.
[13] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60947-4-1
Low-voltage switchgear and controlgear Part 4-1: Contactors and motorstaters- Electromechanical contactors and motor-staters. Geneva, Switzerland,
Sep. 2002.
[14] UL UNDERWRITERS Laboratories Inc. UL 489 Molded Case Circuit
Breaker, Molded Case Switches and Circuit Breakers Enclosures. Northbrook,
IL, Apr. 2002.
[15] UL UNDERWRITERS Laboratories Inc. UL 508 Industrial Control
Equipment. Northbrook, IL, Jan. 1999.
[16] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE
INDUSTRIAL (INMETRO). VIM Vocabulrio internacional de termos
fundamentais e gerais de metrologia. INMETRO. mar. 1995
[17] FLUKE CORPORATION, Calibration: Philosophy in Practice. 2nd ed., USA,
Everett, WA, 1994, p. 3-1 a 3-7.
[18] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE
INDUSTRIAL (INMETRO). DOQ-DIMCI-003 Orientaes sobre calibrao e
rastreabilidade das medies em laboratrios. INMETRO. jun. 1999.
[19] INMETRO INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E
QUALIDADE INDUSTRIAL, Estrutura Hierrquica de Rastreabilidade.
Disponvel em: <www.inmetro.gov.br>. Acesso em: 15 mar. 2005.
[20] USP IEE UNIVERSIDADE DE SO PAULO INSTITUTO DE
ELETROTCNICA E ENERGIA, Seo tcnica de padres eltricos. Disponvel
em: <www.iee.usp.br>. Acesso em: 10 mar. 2005.
[21] EIJI SUETA, H. Medio de Altas Correntes em Freqncia Industrial:
Instrumentao, Dispositivos de Medio e Calibraes. So Paulo, SP:
153
154
155
[42] BUNYAGUL, T., CROSSLEY P., GALE P., Overcurrent Protection Using
Signals Derived from Saturated Measurement CTs. IEEE Power Engineering
Society Summer Meeting, July 2001, 1 v., P.103-108
[43] SAADAT, H., Power System Analysis. New York, ed. McGraw-Hill Companies,
1999. p. 315-317.
[44] SCHNEIDER ELECTRIC, Cashier Technique no. 158 Calculation of shortcircuit currents. Disponvel em: <http://www.schneider-electric.com>. Schneider
Electric Brasil. Acesso em: 19 maio 2004.
[45] GREENWOOD, A. Electrical Transients in Power Systems. Wiley
Interscience a division of Jonh Wiley & Sons, Inc. USA, 1971. cap. 16, p. 445-485.
[46] XIAO, C., ZHAO, L., ASADA, T., ODENDAAL, W. G., WYK, van J. D., An
Overview of Integratable Current Sensor Technologies. IEEE Industry
Applications Conference, Oct. 2003, 2 v., p.1251-1258.
[47] MORAN, P., GILBERT, A., FRANCOIS, G.I., PIGNOLET, P., Coaxial shunt
intended for transient current measurement in a pseudospark switch. IEEE
Proceedings of Science, Measurement and Technology, Mar. 1996, 143 v., n. 2, p.
119-124.
[48] JOHNSON, C. M., PALMER, P. R., Current measurement using
compensated coaxial shunts. IEEE Proceedings of Science, Measurement and
Technology, Nov. 1994, 141 v., n. 6, p. 471-480.
[49] DESTEFAN, D. E., STANT, R. S., RAMBOZ, J. D., AC and DC Shunts Can
You Believe Their Specs? IEEE Instrumentation and Measurement Conference,
May 2003, p. 1577-1582.
[50] FERREIRA, J. A., CRONJE W. A., RELIHAN, W.A., Integration of high
frequency current shunts in power electronic circuits. IEEE Transactions on
Power Electronics, 1995, 10 v., n. 1, p. 32-37.
[51] BRAUDAWAY, D. W., Behavior of Resistors and Shunts: With Todays HighPrecision Measurement Capability and a Century of Materials Experience, What
Can Go Wrong? IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Oct.
1999, 48 v., n.5, p. 884-893.
156
157
em:
158
em:
159