MEDICIONES INTERFEROMTRICAS

Son usadas para la medicin de bloques calibradores, comprobacin de patrones para

presiones, mediciones de alta precisin para pequeas deformaciones, etc.
Es un procedimiento de medicin muy preciso, basado en el fenmeno fsico de las
interferencias de las ondas luminosas. Recordaremos rpidamente, algunos conceptos sobre el
particular. La luz que se propaga en lnea recta est originada en su esencia, por un movimiento
vibratorio de ondas de pequea longitud. El camino recorrido durante un perodo de vibracin se
designa con el nombre de longitud de onda. La luz blanca est formada por una gama de
radiaciones de distintos colores, cuyas longitudes de onda son diferentes. La descomposicin de la
luz blanca por medio de un prisma, provoca un espectro que va desde el rojo al violeta, pasando
sucesivamente por el naranja, amarillo, verde, azul e ndigo, cuyas longitudes de onda son
decrecientes desde aproximadamente 0,7 m para el rojo, a 0,4 m para el violeta.
Estas radiaciones luminosas son estables para condiciones particulares de temperatura, presin
y humedad, del aire ambiente. Esa condicin ha determinado su utilizacin para realizar mediciones
de la mxima precisin.
Veamos que es una interferencia luminosa, Figura 377. La luz es emitida por electrones, cuyas
vibraciones se propagan constituyen de lo que se denomina un tren de ondas.
Supongamos dos movimientos vibratorios de la misma procedencia, cuyas ondas, de igual
longitud , se propagan segn un camino comn. Si entre las dos ondas, las fases coinciden en su
encuentro, siendo las amplitudes de las oscilaciones a1 y a2 respectivamente, la superposicin de las
mismas dar origen a una tercera onda, de amplitud igual a la suma algebraica de las dos amplitudes
individuales. Es decir, a = a1 + a2.
Se dice en tal caso, que hay concordancia de fase; siendo las ondas consideradas luminosas,
se producir un incremento de luz, de acuerdo a la expresin enunciada. Si a1 = a2, la luminosidad
ser doble.
Cuando por el contrario, las dos ondas se encuentran en su camino existiendo entre ellas un
desplazamiento o defasaje, correspondiente a , las mismas entrarn a oscilar en oposicin de
fase, con una amplitud igual a a = a1 a2, amortigundose en consecuencia la luminosidad
resultante, pudiendo llegar a la oscuridad total, cuando a la oposicin de fase se agrega igual
amplitud de las dos ondas. Esta ultima situacin, es lo que se designa como interferencia
luminosa.

Figura 377.

Para defasajes cualesquiera y/o longitudes de onda distintas, se producirn infinitas

alternativas.
El fenmeno analizado se utiliza en Metrologa para diversas comprobaciones y mediciones,

algunas de las cuales ya hemos visto. As, en la determinacin de planitudes y de paralelismo de

palpadores en instrumentos y mquinas de medicin, se hizo mencin de los cristales de
interferenca.
En los estados de superficie, se vio que ciertos instrumentos, como el Rugmetro de Mirau,
determinaban la magnitud de la rugosidad, por interferometra.
Veremos, adems, que mediante los interfermetros, se pueden realizar mediciones directas de
la mayor precisin (aproximadamente 0,02 m y tericamente podra llegarse al milimicrn) y
mediciones por comparacin ms o menos rpidas, con precisin de aproximadamente
0,1 mm, aunque para este caso son preferibles los instrumentos electrnicos o neumticos por su
mayor rapidez.
Este tipo de mediciones est dentro del campo de la Metrologa Cientfica.
Interferencias con el cristal plano paralelo. De acuerdo con lo expuesto ms arriba, para obtener
con un procedimiento simple el fenmeno de interferencia luminosa, bastar desdoblar un tren de
ondas luminosas y reagruparlas luego. Si la diferencia de caminos recorridos hace que, al
reagruparse, estn en concordancia de fase, se obtendr una imagen iluminada; si estn en oposicin
de fase, la imagen ser oscura.
Para una mejor comprensin, supongamos que, provenientes de la misma fuente luminosa,
incide sobre la superficie de un cristal plano paralelo que forma un pequeo ngulo con la
superficie M M, un haz de luz, que se propaga segn se ve en la Figura 378. La superficie MM es
la inferior del cristal plano utilizable, que debe ser de caras planas y paralelas. Se trata de esa cara
puesto que el fenmeno que estudiaremos solo es visible para distancias muy cortas (del orden de
los m), que es la que debe existir entre dicha cara inferior y la superficie que se estudia. Parte de
los rayos se refleja en el cristal y parte sigue su trayectoria, en la cua de aire formada (entre cristal
y la superficie del objeto), se refleja en la superficie del objeto y se encuentran luego con las
anteriores. En algunas zonas del cristal, ese encuentro se produce en concordancia de fase, y en
otras, en oposicin de fase. Ello ocurrir, en A y C para las primeras y en B para las segundas,
definiendo por observacin directa, zonas claras (A y C) y zonas oscuras (B). Una u otra situacin,
se producir de acuerdo a la distancia que separa cada punto del cristal del objeto analizado.

Figura 378.

Para la zona A, tenemos,

hA =

por lo tanto la diferencia de camino ser (concordancia de fase luz) y para B:

hB =

dar un recorrido en ms de 1,5 (oposicin de fase oscuridad).

El fenmeno se repetir en todo el cristal, dando 'bandas de luz para todas las separaciones con
la superficie especular de mltiplos enteros de /2.
En realidad, el fenmeno estudiado, no esta totalmente definido, pudindose tambin, analizar
el problema en esta forma.
Sea Figura 379, O el ojo del observador, C la superficie plana de un cristal de cuarzo, y M M, la
superficie con muy buena terminacin, capaz de reflejar bien los rayos de luz incidente.
Designemos con h, la distancia de separacin de los dos planos paralelos. Supongamos ahora, que
son dos los rayos incidentes Q, P, que siguen caminos distintos, segn se aprecia en la Figura. En O
aparecer una concordancia o una oposicin de fase.

Figura 379.

En efecto,

Si eba = n , habr concordancia de fase y aumento de luz.

Si eba = n /2 = (n ) , habr oposicin de fase y oscuridad.
Como la incidencia se hace siempre casi normalmente a C (cristal de interferencia), ser,
eba = 2 h

Si h = /4, tendremos eba = /2 y habr sombra en a.

Consideremos ahora, debajo de la superficie C del cristal, una serie de planos brillantes
paralelos M1 y M2, distanciados entre s, por /4, Figura 380.

Figura 380.

Tendremos: Sombra en a para los planos:

M1 pues h1 = /4 y por lo tanto eba = /2.

M3 pues h3 = y por lo tanto eba = 1,5 .
M5 pues h5 = 5/4 y por lo tanto eba = 2,5 .

Luz intensa en a, para los planos:

M2 pues h2 = /2 y por lo tanto eba = .

M4 pues h4 = y por lo tanto eba = 2 .
M6 pues h6 = 1,5 y por lo tanto eba = 3 .

Por consiguiente, si se coloca un plano brillante que con su inclinacin con respecto al cristal,
corte la superficies de nivel equiespaciadas, M1, M2, ... al observar por encima del cristal la zona m
n y p, aparecern bandas de sombra y en las zonas intermedias bandas de luz. Si el plano
inclinado es de planitud perfecta, dichas bandas sern equidistantes, paralelas y rectilneas.
Aumentando la inclinacin de , las bandas observadas, se acercarn entre s, conservando su
disposicin. Disminuyendo dicha inclinacin, las bandas se alejarn, hasta producirse una sola
banda de luz o de sombra, cuando cristal y superficie pulimentada sean perfectamente paralelos. Lo
expuesto, indica que el desnivel correspondiente a dos bandas obscuras, corresponde a media
longitud de onda de la luz utilizada. Para luz blanca, se puede tornar = 0,6 m (bandas de color
marrn), correspondiendo por lo tanto, la distancia de bandas a un desnivel de 0,3 m.
Si bien el cristal puede tener fallas de planitud, ellas no se tienen en cuenta, pues en general son
inferiores a 0,1 m y normalmente a 0,05 m. Por lo tanto, las irregularidades o diferencias de
nivel, son atribuibles exclusivamente al plano que se verifica. Si el plano degenera en una superficie
curva, las franjas no guardan equidistancia y determinan con su forma irregular, las caractersticas
de los defectos de la superficie que se verifica, con respecto al plano ideal. Es muy preferible, a los
fines de obtener una definicin ms concreta de las bandas y con un mayor contraste entre las claras
y oscuras, utilizar luz mono cromtica.
Las longitudes de onda son muy variadas, expresndose en general en Amstrong. Recordemos
que: 1 = 0,0001 m o 0,1 milimicrn (mm). Asi tenemos, por ejemplo, que para los gases de
cadmio, criptonio, helio, etc., los valores de ellas, expresadas en micrones, son:
Colores del espectro
Helio
Criptonio
Cadmio
Rojo
0,66781
0,645632
0,643850
Amarillo
0,58756
0,587094
Verde
0,501570
0,508584
Azul
0,471316
0,479993
Violeta
0,447150
0,450237
0,468
Los norteamericanos, y los ingleses, recomiendan el istopo 158 de mercurio, o el cadmio. Los
alemanes y franceses, parecen proferir, el kriptn 86 o 84.
La luz utilizada, se obtiene con un tubo especial, lleno de gas de helio por ejemplo, parecido a
los usados en los letreros luminosos, alimentado con un transformador conectado a la red. Cada
radiacin de distinto color (distinta longitud de onda) o sea, luz monocromtica, se obtiene
mediante un prisma, que descompone la luz formando un espectro.
El mtodo de interferencia requiere, como ya se dijo, superficies muy pulimentadas, cuyos
errores de planitud, sean inferiores a los 2 m, aprecindose las fracciones de raya, hasta,
0,1

0,02 a 0,03 m
2

Para facilitar las mediciones, las franjas deben estar separadas de 3 a 6 mm y se debo disponer,
como mnimo, de 3 franjas.
Interpretacin de la medicin: Supongamos, que mediante un cristal de interferencia formamos
una cua de aire, apoyndolo sobre una arista de una placa calibradora y queremos valorar el
desnivel en el otro extremo, sobre el cual aparece la ultima bandada interferencia.

De acuerdo con lo explicado, la primer banda oscura debera producirse para una distancia
entre el cristal y el plano, de /4 o camino recorrido en ms, /2. Pero como consecuencia de que al
reflejarse una onda sobre un medio ms denso (de aire a placa), se produce un retraso de la onda
reflejada de /2 la primer banda oscura, se producir en la realidad, cuando esa distancia es de /2.
En tal caso, el camino recorrido en ms igual a , al que hay que restar el retraso mencionado /2
produce en consecuencia un defasaje real de /2, necesario para crear una oposicin de fase y por lo
tanto una banda oscura.
En consecuencia, el nmero de bandas oscuras n multiplicado por el valor de la semilongitud
de onda /2, nos dar el desnivel total en el extremo de la placa, como consecuencia de la cua de
aire formada con el cristal. Si, por ejemplo, aparecen cinco bandas, se tendr:
h = 5 0,3 m = 1,5 m
Si la ltima franja cayera dentro de la placa, el excedente se puede apreciar para completar la
fraccin a sumar al valor expresado. Las figuras 381, A B C D E F G H, corresponden
a una serie de observaciones efectuadas sobre placas calibradoras, que permiten con facilidad
formarse una idea del tipo de deficiencia que adolece cada una de ellas y de la magnitud del error.
As, por ejemplo:
La A los extremos, aproximndose a la lnea de apoyo, indican convexidad uniforme longitudinal,
de magnitud 0,3 m = 0,08 m.
La B, en donde los extremos se alejan del apoyo, indica concavidad uniforme longitudinal, por
cuanto las bandas son paralelas.
La C y la D, convexidad y concavidad respectivamente, en sentido transversal, de la misma
magnitud que las anteriores (aproximadamente 0,08 m).
Las figuras E F G H, son cuatro ejemplos de verificacin de los bloques de la derecha, con un
bloque patrono el izquierdo.
En la E, la correspondencia de bandas (agregado a equidistancia y paralelismo), indican planitud
perfecta igual a la del bloque patrn.
En la F, la cada de las bandas de U hacia la izquierda, indica una inclinacin del plano
verificado, cuya magnitud es de 0,5 (/2) = 0,5 m.
En la G, se evidencia una mayor inclinacin de la placa verificada, que de muestra una cada
uniforme y plana, hacia la lnea de contacto del cristal.
En la E, hay suma de errores, es decir, una cada hacia la lnea de apoyo y otra lateral. La cada
longitudinal, es de 2,25 franjas, o sea, 2,25 0,3 m = 0,7 m y en sentido lateral 0,75 x 0,3 m =
0,25 m.

Figura 381.

En la Figura 382, se ven las bandas que se originan en placas, que adolecen de irregularidades
de distinto tipo y de una esfera perfecta.

Figura 382.

Aplicacin de mediciones con cristal de interferencia y ayuda de placas

calibradoras.
Control de un calibre cilndrico: Disponemos sobre un apoyo perfectamente plano (un mrmol de
precisin), una placa de la medida del dimetro nominal del calibre a verificar. Este ser de
dimetro mayor D o menor d, que la altura h de la placa, crendose en consecuencia, al apoyar el
cristal, como se indica on la Figura 383, una cua de aire, que originando bandas de interferencia,
permitir fijar la magnitud de la diferencia entre h y D o d. Para ello se deber fijar la distancia L
entre placa y centro del calibre, cosa que se logra interponiendo una placa. Conviene para facilitar
la medicin, que L sea igual al largo de la placa patrn, sobre la que aparecen las bandas de
interferencia. El nmero de bandas observado, indica que el desnivel BH , que vemos, relacionando
tringulos, es igual a la mitad de la diferencia entre D y h. Como se ven 4 bandas oscuras,

BH = 4 0,3 m = 1,2 m
D = h + 2,4 m
Tambin se habran formado 4 bandas, si el calibre tuviera el dimetro d, menor que h y siendo
EC = BH. Pero en este caso, la diferencia es negativa y de solo 1,2 m.
Como las diferencias controladas son muy pequeas y pueden inducir a error, el no saber si el
punto de apoyo es A o B, para definir dicha arista de apoyo se procede as, se mueve el calibre
cilndrico hacia la placa y si las bandas de interferencia se desplazan en el mismo sentido que aquel,
el calibre controlado es de dimetro mayor que h y si lo hacen en sentido contrario y menor que h.

Figura 383.