I

CONSORCIO

DISTRITO CAPITAL DE SANTA FE DE BOGOTA

INSTITUTO DE DESARROLLO L'RBJ.~O

BORl7A-PAZ

Anexo B
NORMA MILITAR ESTANDAR l05D

CONTRATO: IDU-801-99
CODIGo. 17

EV ALUACION

GEOMETRIA y DAOS
LOCALIDAD DE USME

.:~,.,.~

\.
. ,
1

. ~

...

~~

"

de la calidad. En los Estados Unidos, ste estndar fue adoptado

STO-lOSO Y su designacin internacional
es ABC-STO-105'='''

"

::,

:-,"o'. ~" .

. ....
. " ..
~
.~

en 1.963 y se llam MIL-

Estos planes de muestreo son los ms utilizados a nivel mundial en las compras de organizaciones gubernamentales
y han sido adoptados
ampliamente
por la industria privada para el
muestreo de aceptacin de toda clase de materias primas y productos.

'

3.12.2

El ~C

como

ndice de Calidad de los planes MIL-STD-}OSD

Los planes MIL-STO-lOSO

son esquemas de muestreo basados en el concepto de nivel aceptablede calidad -NAC. Han sido diseados para tener una gran seguridad de aceptar un-Iote-/cuando la calidad del proceso es mejor o igual al NAC especificado, en otras palabras, el porcentaje defectuoso
del proceso es menara
igual al NAC. En estos planes se ha querido dar una
adeucada proteccin
al fabricante, esdecir, mantener
bajo el riesgo del productor.
Una menor
consideracin
se da al riesgo del Consumidor.
Sin embargo, si existe inters de controlar ambos riesgos, se pueden estudiar las curvas. OC y escoger el plan que d una apropiada proteccin contra ambos. tipos de riesgos .como se discuti anteriormente.
El NAC no puede ser establecido en forma cientfica y por lo tanto debe establecerse por convenio o arbitrariamente.
{Una excepcin, discutida adelante, es fa determinadn
del NAC basndose en costos internos).
Conceptualmente,
el NAC representa a Un punto de
mejor nivel de calidad (incrementar
la inspeccin
de
equipo de manufactura
ms preciso. etc) y el costo
ducto desechado, incremento de tiempoen
reproceso,
promiso entre la capacidad cualtlvatlvatil
productor

equilibrio entre el costo de alcanzar un

los prroveedores,
controles adicionales,
de permitir un bajo nivel (rechazos, proetc). Enla prctica,ell'JAC
es un comy los requerimientos
del comprador.
para el costo de aceptar y corregir un
estos costos no son fciles de determi-

Es posible encontrar un punto de equillbrlo aproximado

defectuoso centra el costo de inspeccin; sin embargo.
nar.
La ecuacin

para el punto

A = R

de equilibrio

=
P

seria la siguiente:

donde.

:.f:~:~~:,
:

A =

: .~ :""0::'" ,~

"

'Oo.'

Costo unitario de aceptacin

tecta en.la inspeccin} .

{dao causado

por una pieza defectuosa

que no se de-

'"

'. "

,.
,

Costo unitario
ms los costos

Costo deinspeccinarun

Fraccin

C =

.~

de rechazo (costo de encontrar

de corregir este defectuoso).

defectuosa

Costo de reparar

un defectuoso

en un lote rechazado

artculo
en el lote (desconocida)

o reemplazar

un defectuoso

una vez seha

encontrado.

Si el costo C de reemplazar un articulo es pequeo comparado con A, el dao causado

defectuoso entonces, la fraccin defectuosa de equilibrio Pe es aproximadamente:

..

160

Costo de 'Inspeccionar un articulo

Dao causado por un defectuoso

por un

".

..

,-

Tericamente,
tos lotes con un nivel de calidad mejor que Pe sern aceptados sin necesidad de
clasificarse, aquellos con un nivel de calidad peor que ~"'debern ctaslflcarsey
los defectuosos
debern corregirse. Si los rejstros histricos muestran que el nivel de calidad es mucho mejor
que el punto de equilibrio y estable lote alote, posiblemente
ninguna O muy POC inspeccin
se requiere.
Pero, si el nivel es peor que el punto de equilibrio, entonces, posiblemente
resulte ms barato
usar inspeccin 1000jo en lugar de muestreo. Si el nivel ce calidad no se encuentra en ninguna
de fas posiciones extremas anteriores. el muestrease
paga por s mismo y el NAC ser generalmente, menor que el punto de equilibrio.

J.tvl. JU RAN, en su libro Quality Control

Handbook,

anez a el siguiente ejemplo:

Supnqase que, e! cesto unitar io ce inspeccionar

piezas de una pel cu a de mica es 0,1 centavos dlar y el dao causado por el defectuoso
es 10 centavos. Entonces Pe = 0,1/10 = 0,01
-= 10/0. Como el nivel de calidad de! 1 % es ei punto de equilibrio entre inspeccionar 1000jo y
muestrear. el pian de muestreo aoreciado
deber darle un lote una probabitidao
de500jo de
ser cl asificedo o mt.:estr93co. 9S cecir. oa probabilidad
ce aceptacin el plan deber ser 0,50
a un nivel ce calidad 1;0 defectuoso.
5uGngJse ci.e 2i ;:r;cuc~o 2S sometido a inspeccin en lotes ce 15.COOunidades. Analizando
las curvas de OC de las tablas Mll-STD-105D.
nivel de inspeccin general 11, letra cdigo ~/1,
se encuentra que el plan I'IAC que ms se acerca a las condiciones de Pi! = 0,50 para la/o, es
un valor entre 0 .:.).0 y 0.25. Por tanto, el plan de adoptar p referiblernente
ser aquel con el
menor NAC.

3.12.3

Descripcin

de los Planes r"lll-S TO-1 05 D

Ei ncice ce calidad en estos planes es el nivel aceptable de calidad (i'JAC). Se pueden escoger
26 valores NAC diferentes que, van desde 0.010 hasta 1000. los primeros quince valores, o
sea, aquellos menoreso
iguales a 10 pueden interpretarse
como porcentaje defectuoso
o como
defectos por cien unidades. Los valores superiores a 10 deben interpretarse
exclusivamente
Como defectos por cien unidades.
--- ------------------------.
los defectos

---~-'

.....
;

se clasifican.

para efectos

---- -.-.._-""-'... _~'

..--' -- -.-.' ._.._.-.~'-~ -

de aceptacln

la probabilidad

de uso de las tablas en: crticos,

-~._-- .. ---.----~-_..-. - .---"

mayores

y menores.

-_... _ ..__
.::-=:::::~":.:.:~_:::::.-_-::.:--.::.----':.~_.-...-""'--

ce un lote con un nivel de calidad

igual al NAC vara de 89 a

99,50/0.
los planes M Il-STO-I05D
poseen diferentes niveles de inspeccin, es decir la cantidad relativa de inspeccin
requerida. Para aplicaciones
generales hay tres niveles, a no ser que se especifique lo contrario,
se utiliza el nivel general 11, los tres niveles poseen una cantidad de inspeccin en relacin 1 a 2,5 y 1 a 4, aproximadamente.
i'~ormalmente.
se utiliza el nivel de inspeccin general 11. pero factores tales como simplicidad y costo del producto,
costo de inspeccin, inspeccin
destructiva, consistencia
de la calidad entre lotes y otros, hacen posible
utilizar otro nivel. El nivel 1 puede especificarse
cuando se necesita menor discriminacin
yel
nivel III para mejor discriminacin
de los lotes.
los planes tambin tienen cuatro niveles especiales de inspeccin 5-1. 5-2, 5-3, y 5-4, utilizados cuando se necesitan relativamente
pequeos tamaos demuestra,
por algunos aspectos de
inspeccin y por lo tanto, se pueden o se deben tolerar grandes riesgos en el muestreo.
las tablas Mll-STD-105D
-

...

permiten

utilizar

planes de muestreo

sencillo, doble o mltiple.

Cuando se utiliza muestreo sencillo, el numero de unidades de muestra inspeccionadas

r ser el tamao de muestra dado por el plan. Si el nmero de defectuosos encontrados
muestra es igualo mayor que el primer nmero de rechazo, el lote deber ser rechazado.

debeen la

161


~l. ',.

ALutilizar
muestreo doble, si el nmero de defectuosos
en la primera muestra se encuentra
entre los primeros riUiTci's-de aceptacin
y rechazo, una ~unda
muestra se debe inspeccionar con un tamao dado por el plan. El nmero de defectuosos encontrados en la primera y
segunda muestra se acumulan. Si el nmero acumulado de defectuosos
es menor o igual que
el segundo nmero de aceptacin, el lote se acepta, pero si es igualo mayor que el segundo
nmero de rechazo, el lote se rechaza.

.",1'.' '
.
~
..~,-

'. ,;',
I
.
'.

Cuando se utilizan planes de muestreo mltiple, el procedimiento

es similar al explicado para
muestreo doble, pero el nme70cre-ii1estr:asseesivas
requeridas para tomar una decisin ser
ms de dos.
En las figuras 48, 49, 50 se presentan
llo, doble y mltiple, respectivamente.
El procedimiento
.: .... .

esquemticamente

para escocer un plan de muestreo

las operaciones

en el muestreo

senci-

de las tablas es el siguiente:

1. Se debe conocer la siguiente informacin:

1.1 Nivel aceptable de calidad - !'JAC.
1.2 Tamao del lote.
1.3

lA

Tipo de muestreo (sencitio, doble o mltioie).

Nivel de inspeccin (usualmente
nivel li).

2. Conocido

obtener

3.

se lee el pian de muestreo

e! tamao del lote y el nivel de inspeccin,

de muestra de la tabla
Conocida la letra clave, el NAC y tipo de muestreo,
diente de una ce las nueve tablas maestras .

la letra clave para el tamao

correspon-

~'--~

por ejemplo'; supngase que se ha establecido

para" comprar cierta materia prima un ~IAC del
l:50/opa"racontrolar
los defectos mayores. Supngase tambin, que los lotes se compran en
lotes de 2.000 unidades. Entonces, de la tabla de letras claves (tabla 7 del apndice) se halla la
letra K, utilizando en el plan, nivel de inspeccin general 11. Si el tipo de muestreo es sencillo
entonces, la tabla maestra (tabla 8 ) indica el pian a utilizar en la fila K. El tamao de muestra
es 125. Para NAC = 1,5 Ojo el nmero de aceptacin dado es 5 y el de rechazo 6.
~
-=
Lo anterior significa que el lote de 2.000 unidades se aceptar si se encuentran 3 o menos unidades defectuosas en la muestra de 125, pero deber rechazarse si se encuentran;'
o ms defectuosos en la muestra.

..

'''~'

El criterio de aceptacin paLa~fecto2...crli.~5_d.eber_~,-r..QJ~s_.ie.Ye.ro...Que-R-ra defectos menpres... En otras palabras, debern escogerse valores de NAC relativamente
bajos para los defectos
que puedan ocasionar serias consecuencias
y valores de NAC relativamente
altos para aquellos
defectos de poca importancia,
por tal motivo -es... esencial
establecer
una
clasificacin
de d~kc-_--_. ---_. - - ._----------------tos para utilizar estos pl9.!J.e,;;
..

-----------

-. '

:1. ...
..

-,

Con base en los resultados obtenidos con el plan, es posible establecer una menor inspeccin
cuando la historia de calidad sea lo suficientemente
buena o establecer una inspeccin ms severa, si histricamente
el nivel de calidad de los lotes sometidos a inspeccin, es muy pobre.

~,I

3.12.4

. :

Severidad

de Inspeccin

- Definiciones

y Reglas generales

para cambiar

niveles

Cuando muchos lotes consecutivos

sometidos
a un plan de muestreo han sido aceptados, la
calidad del producto es consistente y mejor que el nivel fijado por el plan. Por lo tanto, es deseable reducir la cantidad y costo de la inspeccin. simplemente
porque el nivel de calidad es
bueno.

Por otro lado, si ms de un lote ocasionalmente

se rechaza por el plan de muestreo existente,
entonces el nivel de calidad es peor que el deseado o el nivel de calidad flucta excesivamente entre los lotes inspeccionados.
En estos casos, es deseable incrementar
la rata de mues-

162

. . ."... ~~i. .
'~'.'~'f';'~:

/f.~~~::1
~~.:.:;
~i~
.'.:~

'.

'.::;

:~:~

,,?...:{i!

...t:..... ;

tns ce cc.cne

s e uno

muestre
de n e s ;
pecimenes

FIGURA 48 _. MUESTREO SIMPLE

-------------

lnsoe ccione s e une

Si lo ccnnccc

de defe'<.

tos no excede

de

el

Si la cantidad de defeco
toses
moyor Que el
'i menor O iguol o e2

Si la ccn t idcd de de .
f ecto excede e2

lnspeccion a uno s e ,
gundo muestro \ n Z
especimenes)

. ~.:".

,Si lo cantidad
de de.
rectos en el total de lo
in specc.onoootn
I t (2)

. ~
'

,'

...

FIGURA 49 - MUESTREO DOBLE

163

-. '~":~.'~:

..,

.~.! ,

';

"

.~

..
.

Inspeccionese
una muestra
de nI especmenes

... '

Si la cantidad de defectos'
no excede de e1 b

,,~

Si la cantidad de defectos
es mayor que C 1b Y menor
o
el a

Si la cantidad de defectos
de el a

Inspeccionese u na segunda
muestra (n2especmenes)

!..,

.~:..

-v..;

SI la cantidad de defectos
en lo totalde io ensayado
(nI ' n2)

~
:

f ----------,
No exced e

ce

Es mayor
menor

e2b

que e2b y
igual a

Excede de e2a

e2a

Inspeccionese
una
tercera muestra
(n3 especjmenes)

Si la cantidad de defectos.
en el total de lo ensayado
(n1 I n2 ' n3)
,-

..
Es mayor que C3b
y menara
igual
a C3a

No excede de
C3b

: ':..:

\.

Continuese la inspeccin
con el mismo criterio

Aceptese la
partida

'.

FIGURA

164

Excede de C3a

50 _. MUESTREO

MULTIPLE

Rechacese
partida

la

, ,'

.~.
'..~~'.>
..~.;

-, '.:~.~
..
r

'

.' ,: .>

~.

"

treo yio reducir

vel de calidad.

.... ::

el numero

de aceptacin

para determinar mejor los lotes con bajo y buen ni.

...

Los planes MIL-STO-l050

contemplan
el ajuste en la cantidad de inspeccin y/o el nmero
de aceptacin,
segn los resultados obtenidos.
Se han previsto tres niveles de severidad: no~mal, cerrada y reducida.
Con el establecimiento
contina en ella hasta
cada.

del plan de muestreo, se inicia el muestreo con inspeccin normal y se

tener evidencia de que existe una mejor o peor calidad que la especifi-

Esquemticamente,
las recias para cambiar
1050, se dan en la figura 5 L

----.---------

de una severidad

a otra en los planes

M IL-STO-

RE DU CID A --------,----

Cuatro condiciones Se requieren

incluyendo experiencia en ccep ,
tacin y continuidad de la
produccin

I-Un lote rechazado

2- Lote aceptado, pero no se cumple
el criterio de aceptccin o rechazo
3- Produccin irregular
4- Otras conduccin

Se inicio
---'---,----------con ste nivel el
muestreo (mientras
no se especifique
lo contrario)

N OR M A L

5 lotes consecutivos
aceptados
bajo inspeccin
c errnd c

"

r', '; ...;

ti:;c~:<l

2 de 5 lotes
consecutivos
rechazados

.;~.<:{-:~
.:

.:~"

'. ,', .'-;

-:.; .
"

...

~: .

- ~.

-:

.'

Un nmero especifico de
lotes p. ej 10, contina
bajo inspeccin
cerrada

PARAR

FIGURA 51-SE:VERIDAO

PRODUCCION

--------

DEL PLAN MIL-STO -105

165

Estudiando el esquema,se
puede notar que, el criterio para cambiar de normal a cerrada y viceversa, es simple y directo. Igualmente, el cambio de inspQOCin reducida a normal es claro y
ocurre tan pronto haya indicacin de que la calidad ha desmejorada.
Pero para cambiar de normal a reducida, se requiere considerablemente
mayor evidencia que,
en los otros casos. El estndar ABCestablece
las siguientes 4 condiciones para un cambio de
inspeccin normal a reducida:

En los 10 ltimos lotes precedentes

{o ms como lo indica lanota dela tabla 17.del apndice) Se ha venido usando la inspeccin normal y ninguno ha sido rechazado, y

2.

El nmero de defectuosos (o defectos) en las muestras de 10$ 10 lotes precedentes

{o cualquier otro nrnaro que fuese usado para la condicin
1 anterior) es igualo menor que el
nmero aplicable dado en la tabla 17. Si se usa muestreo doble o mltiple, todas las muestras debern incluirse; y

3.

La velocidad

4.

La inspeccin

de la produccin

ha sido uniforme,

reducida se considera

conveniente

y
por la autoridad

responsable.

3.12.5

,.
."

'

': -.

1.

':~~i~Si

::<J:,,'~

~rf.)\

En muchas situaciones
no es prctico utilizar muestreo doble o mltiple, o tener dificultades
para soportar la carga que representa la inspeccin variable asociada con el. muestreo doble o
mltiple. Por lo tanto, es necesario usarrnuestreo
sencillo. Sin embargo, al estudiar estas tres
alternativas.
es importante
considerar otros factores adicionales alas diferencias en la cantidad promedio de inspeccin de cada tipodemuestreo.
Veamos algunos de ellos.
1.

Ventajas sicolgicas

del muestreo

doble:

;l.I

utilizar muestreo doble se toma la decisin con base en los resultados obtenidos en dos
muestras. es decir,el
lote tiene "una segunda oportunidad"
de ser aceptado, esto es una
ventaja sicolgica .. Parece ms convincente
decir que el lote se rechaza despus
de dos
muestreos, que decir que se rechaza con la evidencia de un muestreo sencillo.
;\1 utilizar muestreo mltiple ya noes tan categrico afirmar que la tercera,
ta oportunidad,
agregan mayores atractivos que la segunda oportunidad.
2.

'.~

o quin-

Costos de Administracin:
En la medida en
de los inspectores
mltiple y doble,
del tiempo de los
pone un muestreo

i ,~. .'

.:.

cuarta

que se complica el plan de aceptacin, se requiere mayor en trenamiento

y los. costos.de administrar
el plan tienden a ser mayores en el muestreo
y menares para el muestreo
sencillo. Adicionalmente,la
programacin
inspectores se dificulta con la variacin de la carga de inspeccin que sudoble o mltiple.

"

3.

-'. : ...
, I

.'

Requerimientos

de personal y facilidades

de inspeccin:

Este es un factor importante

en la seleccin apropiada del tipo de muestreo a escoger. ~
trminos generales, .cuando se desea reducir la ins eccin. promedio por lote. la alternativa es utilizar muestreo doble o mltiple, con la consi uien e contra aCIOI1
pectores y la inversin en facilida es a icionales de inspeccin
3.12.6

Utilizacin

del Estndar

-,

ABe con base en el nmero

de defectos

Las. tablas MIL-$TD-l05D

(estndar ABe) contemplan,
.corno se ha dicho anteriormente,
la
posibilidad de utilizar como criterio de nivel de calidad, el nmero de defectos por cien unidades, en estos casos, al basar fa aceptacin
o rechazo en el nmero de defectos. slrnplernen-

166

O'

'<,

.~.

r:.

"

s,

te les valores de NACy las curvas OC se interpretan

des. en luqar de porcentaje defectuoso,
;.

en trminos
....

de defectos

por cien unida-

~.
,.

'".

El campo ce apiicacin de los planes de muestreo para aceptacin basado en el nmero de defectos. es fundamentalmente
el mismo que el campo de aplicacin de la grfica de control c.
discu tida en cap (tules anteriores.
Cuando se Lisa el nmero de defectos para la aceptacin. todos los niveles de ~~AC contemplados en el estndar ABC pueden usarse. El nico cambio est en la terminologa.
simplemente
se sustituyefa palabra defectuoso
por defectos. y el NAC se interpreta como defectos por
cien unidades. Igualmente. los diferentes niveles de severidad en la inspeccin. o sea. la inspeccin normal. cerrada y reducida se utilizan en !a misma forma usada para la aceptacin basada
en porcentaje defectuoso,
El numere ce defectos por 100 unidades de un lote se indica. dividiendo el nmero total de
defectos encontrados
en la muestra por el nmero total de unidades inspeccionadas
y multiplicando el valor por 100.
i'h~rt:2rG teta: de defectcs

~-----Numero

....:- ~

-------------X

total de unidades

100

inspeccionadas

.:

.,'

"\..;

.i~'~?:
\
......

En definitiva. el procedimiento
para utilizar el estndar ASC es igual, ya sea que. el NAC se
exprese en trminos de defectos por cien unidades o en porcentaje defectuoso.

En la c orhpra de un producto cujrnico . .se desea someter los.lctes a nspeccin p or muestreo

para atributos.
En lo relacionado
al tipo de defectos seh an establecido los siguientes ~lilJees
Aceptables de Calidad:

NACo;o

Clase de Defecto

Cr tic os

0.10
1.50
6.50

Mayores
'Jenores

Los lotes constan generalmente.

de 600 barriles. utilizando el nivel general de inspeccin 11.
los planes MIL$TD-105D
disponibles
para defectos mayores son los siguientes, para la letra
clave J correspondiente:

".

1. Planes con Muestreo

"

Defectuoso

\".

Sencillo

Inspeccin

Ac

Re

Normal
Cerrada
Reducida

80
80

3
2
1

nI

Ac

Re

n2

Ac

Re

50

1
O
O

4
3
4

50

5
4

100

50
20

40

32

3
4

2. Planes con Muestreo Doble

Inspeccin
Normal
Cerrada
Reducida

"

50

20

n1

"2

100

167

. : :~',
..

'''o,

.. ".

~ ,. o","
"

":

'

~'.

'

'.~..
...'
'

:,;.. ~'.

,:

..

3.

:~;t~~~
..
:'_

..

'

Planes con Muestreo

Mltiple

'

3.1 Inspeccin

Normal

'

Tamao
dela
Muestra

Mu estra

Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima

20
20
20
20

80
100
120
140

NO SE PERMITE

Ac

Re

*
O

3
3

A ESTE TAMAO

DE MUESTRA

Cerrada

Tamao
de la
Muestra

Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima

60

20
20

Muestra

20
40

20

* LA ACEPTJl,CION
3.2 Inspeccin

Tamao
acumulativo
de la muestra

Tamao
acu mut ativo
de la muestra

40

20
20
20

LA ACEPTACION

120
140
160

100

20

..,.
4

80

20

Re

O
O
1
2

60

20
20

Ac

..,

.)

NO SE PE RViITE A ESTE TAivlAI'-:O DE rvlUESTRA

.,:

3.3 Inspeccin

Reducida

Tamao
dela
Muestra

Muestra

Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima

"
:.t.

......

~.~.

8
8
8
8
8
8
8

* LA ACEPTACIQN
El lector,
menores.

168

puede

Tamao
acumulativo
de la muestra

en forma

Re

*
*

3
3
4
5
6
6
7

16
24

32

40
48

1
1
2

56
NO SE PERMITE

similar, establecer

A.c

A ESTE TAMAO

los planes disponibles

DE MUESTRA
para defectos

crticos

': ,::~:,"::-: ~

.:,~.~~~::;4,'
;
:..: .....,

:.

\,

...1'

':~'"

/----\{E' Jemplo.': 2

,.-

~trol
con muestreo
fijado as:

~.: .- t

de producto saliente en una fbrica, se ha establecido el plan MI L-STD-105D

simple. Los niveles aceptables de calidad para defectos mayores y menores se han

Defectos
Defectos

mayores:
menores:

0,650;0

2,50010

Para este producto

no se presentan defectos crticos, los lotes constan de 3.000 unidades. De
acuerdo con el estndar ABC, la letra clave es K utilizando nivel II y los planes son los siguientes:

l. Inspeccin

Normal

Clase de
Defectos

p..c

Re

Mayores

125
125

3
8

Ac

Re

1
5

2
6

Ac

Re

3
6

Menores

2. Inspeccin

Cerrada

Clase de
Defectos
Mayores
Menores
3.

Inspeccin

?~
1~::J
125

Reducia

Clase de
Defectos

Mayores
Menores

50
50

En todos los casos, la muestra extrada de cada lote...s.o.rnetido

donada separadamente
para cada clase de defectos.

..

.~.

,-

.'

.
.

"
.'
.,

..
.....
:

"

',

','

debe ser insp~

La misma muestra se inspecciona tanto para defectos mayores como para menores. Por tanto,
se toma una sola muestra de 125 unidades, si estamos bajo inspeccin normal por ejemplo, y
en todas y cada una de las 125 unidades se inspeccionan
en relacin a las dos clases de defectos.

.'"

.":

a insoeccin,

'

.
,: ..
.. .. ,

Sin embargo, como lo indica el plan, los criterios de aceptacin se aplican en forma diferente
para cada clase de defecto. Por ejemplo, si se tiene inspeccin cerrada, y en la muestra de un
lote se encontraron
6 unidades defectuosas por defectos menores y 1 articulo con defectos
mayores. SDionces el lote_deb.e~eptarse
para defectos mayores, pero se rechaza por co,0,:..._
cee19--de-de.:ec tos.meQ.QL~.

-"'~

"

---Ejemplo

3.

Un cierto tipo de'tela viene en rollos de

vel aceptable de calidad de 25 defectos
unidad de producto
es 1 rollo de tela).
general 111 para lotes compuestos por 50

cien metros, se ha convenido con el proveedor un nimenores en cada rollo de 100 metros (ntese que la
Utilizando muestreo doble y un nivel de inspeccin
rollos, el plan MIL-STD-I05D
sera:

169

JO:

Letra Clave:

~ .. '

"'-

Segunda Muestra

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El plan indica que de un lote de 50 rollos de tela, en inspeccin normal por ejemplo, se tome
una primera muestra ce 8 rolios, si e nmero Ce rollos con ms de 25 defectos menores, es
igualo menor que 3 se acepta el lote sobre la base de la primera muestra slernente, y se recn azar si se encuentran
7 o ms rollos defectuosos.
Pero. si el nmero ce roltos defectuosos
encontrados
en la primera muestra. excede a 3 pero
no es igual a 7 entonces, se debe tomar una segunda muestra de 8 ranos adicionales. y el lote
se aceptar si ei nmero de r otlos defectuosos
en la primera v secunda muestra combinada
(nI + (2):10:::5 ;t;.~ycr cue 8. E! lote se rechazar s'j el nurner o de rollos defectuosos en ' a
muestra total, o sea 16. es igualo rnay or cue 9 rcllcs de tela.
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Supnqase

que se deseamuestrear
un cereal no empacado. que est almacenado en un silo con
400 toneladas de capacidad. Si por ejemplo se tiene definido que el producto empacado se
presenta en bultos de 50 kq., es decir las unidades de producto son 50 kg., es posible estableC2f un plan de muestreo
reduciendo el nmero de toneladas a unidades de 50 kg.

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Conociendo
la capacidad de descarga, se procede a ceterrninar
el tiempo total. El intervalo
de tiempo entre la toma de una unidad de muestra y otra se obtiene dividiendo el tiempo total por el nmero de muestras.
Se tendra

reduciendo

toneladas

a unidades:

N =: 400 x 1.000 =: 400.000 ka; 400.000 -:- 50 =: 8.000 unidades. De tal forma que en este caso, el tamao del lote es de 8.000 unidades. Si se apiica un nivel de inspeccin general 11
y muestreo simple, entonces las tablas MIL-STo-I050 indican que se deber tomar un tamao de muestra de 200 unidades.

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jo siguiente

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Si la capacidad

de descarga del silo es de 30 ton/h.

(60 x 400) -:- 30

El intervalo

de tiempo

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de descarga ser:

800 minutos.
ser:

4 minutos

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Entonces. cada 4 minutos deben tomarse muestras parciales. por ejemplo. cada .una con un
peso entre 50 y 200 g. hasta completar la muestra representativa
del silo, es decir. del lote.

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entre toma y toma de muestra

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Muestreo

para Variables:

Se han estudiado hasta el momento planes de muestreo por atributos. cuando el producto se
clasifica conforme,on
a cierta especificacin.
Este tipo de planes es el que ms se ha aplicadoy sin duda seguir sindolo. no obstante el desarrollo del control estadstico
de calidad
para establecer planes de muestreo de aceptacin por variables.

170

~.

TABLA 7 - LETRAS CLAVE PARA EL TAi\lAO DE MU::STRAS

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DISTRITO CAPITAL DE SANTA FE DE BOGOTA
INSTITUTO DE DESARROLLO
URBANO

CONSORCIO

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Anexo C
FORMATOS DE INSPECCION

CONTRATO: IDU-801-99
CODIGo. 17

EV ALUACION GEOMETRlA y DAOS

LOCALIDAD DE TUNJUELITO