SEPARATA N 06 MATERIALES CRISTALINOS Y NO CRISTALINOS

DE APOYO CURSO DE METALURGIA FSICA I FECHA

CONTENIDO TEMTICO
MATERIALES CRISTALINOS Y NO CRISTALINOS
3 . 1 2 M O N O C R I S TAL E S
3.13 MATERIALES POLICRISTALINOS
3.14 ANISOTROPA
3.15 DIFRACCIN DE RAYOS X: DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS
3.16 SLIDOS NO CRISTALINOS
DESARROLLO

MATERIALES CRISTALINOS Y NO CRISTALINOS

3 .1 2 M O N O C R I S TAL E S

Cuando la disposicin atmica de un slido cristalino es perfecta, sin interrupciones, a lo largo de

toda la muestra, el resultado es un monocristal. Todas las celdillas unidad estn entrelazadas o
unidas del mismo modo y tienen la misma direccin. Los monocristales existen en la naturaleza.
Un monocristal se puede generar artificialmente, pero su crecimiento es difcil, y control muy
cuidadoso.
Si los extremos de un monocristal crecen sin impedimentos externos, el cristal adquiere una forma
geomtrica regular con caras planas, como las que presentan algunas piedras preciosas.

Figura 3.15 Aspecto de varios monocristales de fluorita, CaF 2 .

La forma refleja la estructura cristalina. La Figura 3.15, aparecen varios monocristales. En los
ltimos aos los monocristales han adquirido extraordinaria importancia en la moderna tecnologa,
sobre todo en microelectrnica, que emplea monocristales de silicio y de otros semiconductores.
3.13 MATERIALES POLICRISTALINOS

La mayora de los slidos cristalinos son un conjunto de muchos cristales pequeos o granos. Este
tipo de material se denomina policristalino. En la Fig.3.16 se esquematiza varias etapas de la
solidificacin de una muestra policristalina. Al principio, aparecen pequeos cristales o ncleos en
distintas posiciones. Estas orientaciones cristalogrficas son completamente al azar y estn
indicadas por cuadrados. Los granos pequeos crecen por la sucesiva adicin a la estructura de
tomos del lquido subenfriado. Los extremos de granos adyacentes interaccionan entre s al
finalizar el proceso de solidificacin. La Fig.3.16 indica que la orientacin cristalogrfica vara de un
grano a otro. Tambin existe alguna irregularidad en la disposicin atmica en la regin donde se
unen dos granos.

(a)
(b)
(c)
(d)
Fig.3.16 Etapas de solidificacin de material policristalino; las cuadrculas representan celdillas unidad. (a)

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Ncleos de cristalizacin. (b) Crecimiento de cristales pequeos. Se observa que algn cristal obstruye el
crecimiento de su vecino. (c) Al terminar la solidificacin aparecen granos de formas irregulares. (d) Bajo el
microscopio, la estructura de los granos aparece con lneas oscuras en los lmites de grano.

3.14 ANISOTROPA

Las propiedades fsicas de algunos monocristales dependen de la direccin cristalogrfica tomada

para su medida. Ejemplo, el mdulo elstico, la conductividad elctrica y el ndice de refraccin
pueden tener diferentes valores en la direccin [100] y en la [111]. La direccionalidad de las
propiedades se denomina anisotropa y est relacionada con la variacin de la distancia atmica
o inica segn la direccin cristalogrfica.
Las substancias cuyas propiedades son independientes de la direccin de la medida se deno minan isotrpicas. La extensin y la magnitud de los efectos anisotrpicos en materiales cristalinos
son funcin de la simetra de la estructura cristalina. El grado de anisotropa se incrementa al
disminuir la simetra estructural: normalmente las estructuras triclnicas tienen la mayor anisotropa.
En la Tabla 3.3 se dan valores del mdulo elstico en las orientaciones [100], [110] y [111] de varios
materiales.

Propiedades anistropas : Conductividad (trmica, electrnica, inica...), Elasticidad y

resistencia, crecimiento cristalino, dilatacin trmica, pleocromismo, Magnetismo.
Ejemplos:
Un material homogneo tiene las mismas propiedades fsicas y mecnicas en todo su volumen, y un
material isotrpico tiene esas mismas propiedades en todas direcciones.
Muchos materiales de la ingeniera pueden considerarse homogneos e isotrpicos. Ejemplo el acero
contiene miles de cristales orientados al azar en cada milmetro cbico de su volumen, y como en la
mayora de las aplicaciones tiene un tamao fsico que es mucho mayor que un solo cristal. El acero
puede volverse anisotrpico por medio del laminado en fro. Laminado o forjado a T subcrticas.
Los materiales anisotrpicos tienen propiedades diferentes en direcciones diferentes. Si la anisotropa
se orienta a lo largo del eje de la barra, entonces la barra se deforma uniformemente cuando sea
sometido a una carga axial.

Por ejemplo la madera, debido a sus granos o fibras, es un material que es homogneo y
anisotrpico.
La anisotropa es la propiedad de ser direccional dependiente, en oposicin a la isotropa, que
implica propiedades idnticas en todas las direcciones. Se puede definir como una diferencia,
cuando se mide a lo largo de diferentes ejes, en las propiedades fsicas o mecnicas de un material
Un ejemplo de anisotropa es la luz que entra a travs de un polarizador. Un ejemplo de un material
anisotrpico es la madera, la cual es ms fcil de dividir a lo largo de su grano de contra ella.
La ciencia de los materiales y de la ingeniera

Anisotropa, en Ciencia de los Materiales, es una dependencia direccional de materiales de una propiedad fsica. La

mayora de los materiales presentan un comportamiento anistropicos.

Ejemplo la dependencia del mdulo de Young en la direccin de la carga. Anisotropa en materiales policristalinos tambin
puede ser debido a ciertos patrones de textura, que a menudo se producen durante la fabricacin del material. En el caso
de la laminacin, "largueros" de textura se producen en la direccin de laminado, que puede conducir a vastamente
propiedades diferentes en las direcciones de laminacin y transversal. Algunos materiales, tales como madera y materiales
compuestos reforzados con fibras son muy anisotrpico, siendo mucho ms fuerte a lo largo del grano/fibra que a travs
de ella. Metales y aleaciones tienden a ser ms istropo, aunque a veces pueden exhibir un comportamiento anisotrpico
significativa. Esto es especialmente importante en los procesos tales como embuticin profunda.
La madera es un material natural anisotrpico. Sus propiedades varan mucho cuando se mide con el grano del
crecimiento o en contra de ella. Por ejemplo, la fuerza y la dureza de la madera sern diferentes para la misma
muestra si se mide en diferentes orientaciones.

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TABLA 3.3 Valores del mdulo de elasticidad de varios metales y en distintas

orientaciones cristalogrficas
METAL
MDULOS DE ELASTICIDAD [psi x 106 (MPa x 103)]
[100]
[110]
[111]
Aluminio
9,2
10,5
11,0
(63,7)
(72,6)
(76,1)
Cobre
9,7
18,9
27,7
(66,7)
(130,3)
(191,1)
Hierro
18,1
30,5
39,6
(125,0)
(210,5)
(272,7)
Tungsteno
55,8
55,8
55,8
(384,6)
(384,6)
(384,6)
3.15 DIFRACCIN DE RAYOS X: DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS

Los conocimientos actuales, disposicin atmica - molecular de los slidos resultan de

las investigaciones mediante difraccin de rayos X; los rayos X son importantes en el
desarrollo de nuevos materiales. La difraccin de rayos X deduce estructuras cristalinas
y las distancias interplanares utilizando rayos X.

Figura 3.17 (a) Dos ondas (la 1 y la 2) con la misma longitud de onda y que
permanecen en fase despus de un fenmeno de dispersin (ondas 1' y 2')
se interfieren positivamente. La amplitud de la onda resultante es la suma
de las ondas dispersadas. (b) Dos ondas (la 3 y la 4) con la misma longitud
de onda y que resultan desfasadas despus de un fenmeno de dispersin
(ondas 3' y 4') se interfieren destructivamente. Las amplitudes de las dos
ondas dispersadas se cancelan mutuamente.
3.15.1

EL FENMENO DE DIFRACCIN

Ocurre difraccin cuando una onda encuentra una serie de obstculos separados
regularmente, que (1) son capaces de dispersar la onda y (2) estn separados por
distancias comparables en magnitud a la longitud de onda.
Adems, la difraccin es la consecuencia de relaciones entre fases especfcas,
establecidas entre dos o ms ondas dispersadas por los obstculos.
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En la Figura 3.17a se consideran las ondas 1 y 2, que tienen la misma longitud de onda
y estn en fase en 0-0'. Se supone que experimentan dispersin al recorrer
diferentes caminos. Es importante la relacin entre las fases de ondas dispersadas, que
depende de la longitud del camino. En la Figura 3.17a se aprecia que estas ondas
dispersadas (denominadas 1' y 2') continan en fase. Se dice que se refuerzan
mutuamente (con interferencia constructiva) y se suman sus amplitudes, como indica el
resultado de la derecha de la fgura. Esta es una manifestacin de la difraccin y los
rayos difractados estn compuestos de gran nmero de ondas dispersas que se
refuerzan mutuamente.
Entre ondas dispersadas existen otras relaciones de fases que no conducen al
reforzamiento mutuo. Esta condicin est registrada en la Figura 3.17b, donde la
diferencia entre las longitudes de los caminos despus de la dispersin es un nmero
impar de semilongitudes de onda. Las ondas dispersadas no estn en fase. Las
amplitudes se anulan entre s o interferen destructivamente (p.ej., la onda resultante
tiene amplitud cero), como indica el extremo derecho de la fgura. Existen relaciones de
fase intermedias entre estos dos extremos, resultando slo un reforzamiento parcial.
3.15.2 DIFRACCIN DE RAYOS X Y LEY DE BRAGG

Los rayos X son una forma de radiacin electromagntica que tiene elevada energa y
corta longitud de onda: del orden de los espacios interatmicos de los slidos. Cuando
un haz de rayos X incide en un material slido, parte de este haz se dispersa en todas
direcciones a causa de los electrones asociados a los tomos o iones que encuentra en
el trayecto. Condiciones necesarias para la difraccin de rayos X por una disposicin
ordenada de tomos.

FIGURA 3.18 Difraccin de rayos-X por los planos de tomos A-A y B-B

En la Figura 3.18 se consideran dos planos paralelos de tomos AA' y BB' que
tienen los mismos ndices de Miller h, k y l y estn separados por una distancia
interplanar dhkl. Se supone que un haz paralelo, monocromtico y coherente (en fase) de
rayos X de longitud de onda , incide en estos dos planos segn un ngulo . Dos
rayos de este haz, sealados como 1 y 2, son dispersados por los tomos P y Q. Segn
un ngulo con los planos, ocurre una interferencia constructiva de los rayos
dispersados 1' y 2', siempre que las diferencias de recorrido entre 1-P-1' y 2-Q-2' (p.ej.
SQ + QT) equivalgan a un nmero entero, n, de longitud de onda. Es decir, la condicin
para la difraccin es:
+ QT
(3.8)
n=SQ
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n=d hkl sen+ d hkl sen=2 d hkl sen (3.9)

Ley de Bragg

n = es el orden de difraccin, que puede ser cualquier nmero entero (1, 2, 3...)
siempre que sen no exceda la unidad.
As, se obtiene una simple expresin que relaciona la longitud de onda de los rayos X y
la distancia interatmica con el ngulo de incidencia del haz difractado. Si no se cumple
la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no constructiva y el campo del haz
difractado es de muy baja intensidad.
La magnitud de la distancia entre dos planos de tomos contiguos y paralelos (p.ej., la
distancia interplanar dhkl) es funcin de los ndices de Miller (h, k y l) as como de los
parmetros de red. Por ejemplo, para estructuras cristalinas de simetra cbica.
a
d hkl= 2 2 2
h +k +l
Dnde: a = Parmetro de red (longitud de la arista de la celdilla unidad).
Los otros seis sistemas cristalinos, anotados en la Tabla 3.2, (ver clase 5) cumplen
a
d hkl= 2 2 2
relaciones similares pero ms complejas que las de la Ecuacin;
h +k +l

Figura 3.19 Esquema de un difractmetro de rayos X: T = fuente de rayos X, S =

muestra, C = detector, O = eje de giro de la muestra y del detector.

La ley de Bragg,

n=d hkl sen+ d hkl sen=2 d hkl sen

Ec.3.9, es una condicin necesaria pero

no sufciente para la difraccin en cristales reales. Esta ley especifca condiciones para
que ocurra la difraccin en celdillas unidad con tomos slo en los vrtices. Los tomos
situados en otras posiciones (p.ej., en las caras y en el interior de la celdilla como en FCC
y BCC) los centros actan como centros extras de dispersin que, a ciertos ngulos de
Bragg, pueden producir dispersiones desfasadas. El resultado es la ausencia de algunos
haces difractados que deberan estar presentes segn la Ecuacin 3.9. Por ejemplo, para
la estructura cristalina BCC, h + k + l debe ser un nmero par para que tenga lugar la
difraccin, mientras que para FCC, h, k y l deben ser todos impares o pares.

3.15.3
TCNICAS DE DIFRACCIN
La tcnica de difraccin ms comn utiliza una muestra pulverizada o policristalina
consistente en muchas partculas diminutas y orientadas al azar, que se exponen a una
radiacin de rayos X monocromtica. Como cada partcula de polvo es un cristal,
teniendo gran cantidad de ellos libremente orientados se asegura que algunas
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partculas estn orientadas adecuadamente para que sus planos cristalogrfcos

cumplan las condiciones para la difraccin.
El difractmetro es un aparato utilizado para determinar los ngulos en que ocurre
difraccin en las muestras pulverizadas. En la Figura 3.19 se ha esquematizado el
difractmetro. Una muestra S, en forma de lmina plana, se coloca de modo que gire
alrededor de un eje O, perpendicular al plano del papel. En el punto T se genera un haz
monocromtico de rayos X y las intensidades de los haces difractados se detectan con el
contador C. La muestra, la fuente de rayos X y el contador estn en un mismo plano.
El contador se instala en un lugar que pueda girar en torno al eje O y la posicin angular,
en funcin de 2, se determina mediante una escala graduada. 1 La muestra y el
contador se acoplan mecnicamente de modo que una rotacin de la muestra
represente un giro 2 del contador, lo cual asegura el mantenimiento de los ngulos
incidente y difractado (Figura 3.19). En el trayecto del haz se incorporan calibradores
para delimitarlo y focalizarlo. La utilizacin de un fltro asegura un haz casi
monocromtico.
El contador se mueve a una velocidad angular constante y la intensidad del haz
difractado (monitorizada por el contador) se registra en funcin de 2. El ngulo 2 es el
denominado ngulo de difraccin y se determina experimentalmente. La Figura 3.20
es un espectro de difraccin de una muestra de plomo pulverizada. Los picos de alta
intensidad aparecen cuando algn conjunto de planos cristalogrfcos cumple la
condicin de difraccin de Bragg. Estos picos de la fgura corresponden a ndices de
planos.
Se han diseado otras tcnicas de polvos en las cuales, en lugar de utilizar el contador,
la intensidad y la posicin del haz difractado se registran en una pelcula fotogrfca.
Una de las principales aplicaciones de la difractometra de rayos X es la determinacin
de estructuras cristalinas. El tamao y la geometra de la celdilla unidad se
deducen de las posiciones angulares de los picos de difraccin, y la disposicin
de los tomos en la celdilla se deduce de la intensidad relativa de estos picos.

0,0

10,0

20,0

30,0

40,0

50,0

60,0

70,0

80,0

90,0

100,0

ngulo de difraccin 2

Figura 3.20 Espectro de difraccin del plomo pulverizado.

Los haces de rayos X, de electrones y de neutrones tambin se utilizan para la

investigacin de otro tipo de materiales. Por ejemplo, para conocer las orientaciones
cristalogrfcas de monocristales se observan los espectros de difraccin (lauegramas)
de rayos X. Otras aplicaciones de rayos X incluyen el anlisis qumico cualitativo y
cuantitativo, la determinacin del tamao de grano y las tensiones residuales.
PROBLEMA
Para el hierro BCC, calcular (a) la distancia interplanar y (b) el ngulo de difraccin para
el conjunto de planos (211). El parmetro de red, para el Fe, es 0,2866 nm (2,866 ). Se
utiliza una radiacin monocromtica de una longitud de onda de 0,1542 nm (1,542 ) y
el orden de difraccin es 1.
SOLUCIN

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La distancia interplanar dhkl se calcula utilizando la Ecuacin;

d hkl=

a
h +k 2 +l2
2

Con a = 0,2866 nm, h= 2, k = 1, y l = 1, porque se consideran los planos (211). Por

tanto,
a
0.2866
d hkl= 2 2 2 = 2 2 2 =0,1170nm (1,170 )
h +k +l 2 +1 +1
El valor de se puede calcular mediante la Ecuacin:
n=d hkl sen+ d hkl sen=2 d hkl sen
Con n =1, porque se trata de una difraccin de primer orden.
( 1 ) ( 0,1542 nm )
n
sen=
=
=0,659
2 d hkl ( 2 )( 0,1170 nm )
=sen1 ( 0,659 )=41,22
El ngulo de difraccin, 2, vale: 2= (2)(41,22)= 82,44
3.16 SLIDOS NO CRISTALINOS
Los slidos no cristalinos carecen de un ordenamiento atmico sistemtico y
regular a distancias atmicas relativamente grandes. Estos materiales tam bin se
denominan amorfos (literalmente signifca sin forma) o lquidos subenfriados,
puesto que la estructura atmica recuerda la de un lquido.
La condicin amorfa se visualiza comparando las estructuras cristalina y no
cristalina del material cermico dixido de silicio (Si0 2 ), que puede existir en
ambos estados. Las Figuras 3.21a y 3.21b presentan esquemas bidimensionales de ambas estructuras del Si0 2 . Invariablemente, cada ion silicio se
une a tres iones oxgeno en ambos estados, pero la estructura es mucho ms
desordenada e irregular para la condicin no cristalina.
El que un slido adquiera la forma cristalina o amorfa depende de la fa cilidad con
que la estructura atmica al azar del lquido se pueda transfor mar en un estado
ordenado durante la solidifcacin. El material amorfo se caracteriza por la
relativamente compleja estructura atmica y molecular, que se puede ordenar con
relativa difcultad. El enfriamiento rpido favorece la formacin de slidos no
cristalinos, ya que el proceso de ordenacin necesita algn tiempo.
Normalmente los metales forman slidos cristalinos. Algunos materiales
cermicos son cristalinos, mientras que otros, como los vidrios inorgnicos, son
amorfos. Los polmeros pueden ser completamente cristalinos, entera mente no
cristalinos o una mezcla de ambos.

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(a)

tomo de silicio

(b)

tomo de oxgeno

Figura 3.21 Esquemas bidimensionales de las estructuras de: (a) dixido de silicio cristalino y
(b) dixido de silicio no cristalino

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