2.

Difraccin de Rayos X

45

Figura 2-8 Planos repetidos en un cristal

Los ndices de Miller de los planos tienen propiedades especiales algo diferentes a las direcciones. Cuando se trata de planos:

Los ndices
de Miller y sus negativos son idnticos; por ejemplo, (0 1 2)
__ __
 (0 1 2).

Los ndices de Miller y sus mltiplos son diferentes; por ejemplo, (1 2 3)

(2 4 6).

Existe otra complicacin potencial en el clculo de los ndices de Miller

para un plano. Si el plano atraviesa un eje de coordenadas, la intercepcin para esa dimensin ser cero. Esto resultar en un ndice de Miller indefinido,
en esencia infinito, que no puede existir. Afortunadamente, la seleccin de un
punto como el origen fue arbitrario. Cualquier tomo en la red cristalina puede
ser establecido como el origen, as que se puede mover el origen para que la
intercepcin no siga atravesando el eje de coordenadas. El ejemplo 2-5 muestra
esto con ms claridad.
Dentro de un cristal determinado, los mismos planos estn repetidos muchas veces. La figura 2-8 muestra una serie de planos, todos con los mismos
ndices de Miller. Aunque estos planos son rplicas perfectas, la distancia entre
stos es significativa. La distancia entre los planos repetidos en una red cristalina se llama espacio interplanar (d).

| Espacio interplanar |
La distancia entre planos
repetidos en una red cristalina.

Cmo se miden los cristales?

2.7 DIFRACCIN DE RAYOS X

a difraccin de rayos X es una poderosa herramienta usada para medir

la cristalinidad y otras variables dependientes de la red cristalina. La
difraccin de rayos X tambin ayuda para aclarar el significado fsico
de los planos y los ndices de Miller. El principio de difraccin de rayos X se
ha desarrollado del estudio de la ptica. La radiacin electromagntica (incluyendo los rayos X y la luz visible) viaja en ondas. Cada tipo de onda electro-

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| Estructura de los Materiales

| Difraccin |

La interaccin de ondas.

| Interferencia
constructiva |
El incremento en amplitud
resultante de dos o ms ondas
interactuando en fase.

| Interferencia destructiva |
Nulificacin causada por dos
ondas interactuando fuera de
fase.

| Ecuacin de Bragg |
La frmula que relaciona el
espacio interplanar en una
red cristalina a una interfase
constructiva de rayos X
difractados. Nombrada en
honor de padre e hijo (W.H. y
W.L. Bragg) quienes probaron
la relacin.

Figura 2-9 Rayos X golpeando a una red cristalina

de un cristal.

magntica tiene una longitud de onda caracterstica (). Las longitudes de onda
en el rango de rayos X son difcilmente del mismo tamao que la mayora de
las distancias interatmicas. Cuando una onda golpea un objeto slido (por
ejemplo: un ncleo atmico), sta rebota desde el objeto con un ngulo de
reflexin igual al ngulo de incidencia. La figura 2-9 muestra un haz de rayos
X que golpea los tomos en una red cristalina.
La difraccin describe la interaccin de ondas. La figura 2-10 muestra dos
ondas en fase agregadas a travs de la interferencia constructiva y dos ondas
fuera de la fase canceladas a travs de la interferencia destructiva.
En una mquina de difraccin de rayos X como la que se muestra esquemticamente en la figura 2-11, una fuente dispara rayos X a una muestra y
un detector compila los rayos difractados. La fuente y el detector se mueven
juntos a travs de diferentes ngulos pero siempre mantienen la misma relacin ngulo de incidencia igual al ngulo de reflexin entre s. Debido a que
muchos tomos diferentes estn presentes en la red cristalina, la mayora de
las ondas se cancelan. La interferencia constructiva neta resulta slo cuando la
ecuacin de Bragg se satisface.
N  2d sen ,

(2.3)

donde N es el orden de las reflexiones (tomadas para ser 1), es la longitud

de onda del haz de rayos X, d es el espacio interplanar y es el ngulo de incidencia. Los rdenes de reflexin ms grandes que 1 son contabilizados por
los ndices de Miller.
Los datos generados por un experimento de difraccin de rayos X consisten en una medicin de las lecturas de intensidad en el detector como una
funcin del ngulo de incidencia. El ngulo es generalmente reportado como
2 , debido a que la fuente y el detector estn en un ngulo . Cuando no hay
interferencia constructiva, no se detecta ms que dispersin de fondo. En los
valores 2 en los cuales ocurre la interferencia constructiva, se detecta un

b)

a)

Figura 2-10 Patrones de interferencia para rayos X: a) interferencia constructiva, b) interferencia destructiva.

Fuente

Figura 2-11 Operacin de equipo de

difraccin de rayos X

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Detector

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47

Difraccin de Rayos X

Intensidad

2.7

Figura 2-12 Muestra del difractogra

ma de rayos X.

nivel de radiacin incrementado. Una tpica lectura de difraccin de rayos X se

muestra en la figura 2-12.
Cada pico en el difractograma corresponde a un plano diferente en el cristal. Muchos clculos se pueden hacer usando difractogramas de rayos X y la
ecuacin de Bragg. Si la longitud de onda de la fuente de los rayos X se conoce,
entonces la ecuacin de Bragg se puede reordenar para determinar el espacio
interplanar del plano correspondiente a cada pico,
n .
d  _______
(2.4)
2 sen
Debido a que muchos planos estn presentes en un cristal determinado, se
identifican por sus correspondientes ndices de Miller (h k l). De tal manera
que la ecuacin 2.3 se puede escribir ms adecuadamente como
n .
dhkl  _______
(2.5)
2 sen
El espacio interplanar (dhkl) de cualquier plano dado en un sistema cbico
puro puede estar relacionado con el parmetro de la red cristalina por la siguiente ecuacin:
a0
____________
.
(2.6)
dhkl  _____________
h2  k2  l 2
Sin importar los tomos especficos, la existencia de cualquier plano especfico es una funcin de los tipos de redes cristalinas. Existe un conjunto especfico de combinaciones h2  k2  l 2 (llamadas condiciones de extincin) que es el
mismo para cualquier red cristalina cbica sencilla; un conjunto diferente est
presente para todas las redes cristalinas cbicas de caras centradas, y un tercer
conjunto existe para toda red cristalina cbica de cuerpo centrado. La tabla 2-5
resume las reflexiones presentes para cada tipo de red cristalina cbica.
La tabla 2-5 muestra que la suma de los ndices de Miller (h2  k2  l 2)
para el plano que produce el primer pico de difraccin en un sistema BCC debe
ser igual a 2. Por lo tanto, la ecuacin 2.6 se puede utilizar para calcular el
parmetro de la red cristalina para cada plano, si se conoce el tipo de red cristalina. Para cualquier red cristalina cbica, el parmetro de red cristalina debe ser
el mismo en cada direccin, que proporcione una marca de los otros clculos.
El difractograma tambin se puede usar para determinar el tipo de red cristalina presente en el material. Si las ecuaciones 2.5 y 2.6 se combinan, resulta:
(h2  k2  l 2).
sen2  ____
4a20
2

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| Condiciones
de extincin |
La reduccin sistemtica en
la intensidad de los picos de
difraccin de los planos de
redes cristalinas especficas.

(2.7)
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48

| Estructura de los Materiales

Tabla 2-5

Reexiones presentes para cada clase de red cristalina cbica

Clase de red cristalina

h2  k2  l 2

BCC

2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16

FCC

3, 4, 8, 11, 12, 16

Simple

1, 2, 3, 4, 5, 6, 8

Ejemplo 2-6
Una fuente de difraccin de rayos X con una longitud de onda de 0.7107
angstroms es radiado mediante una muestra para generar los siguientes
picos. Si el material tiene una estructura de red cristalina BCC, determine el espacio interplanar, el parmetro de red cristalina y la suma de los
cuadrados de los ndices de Miller para cada plano.
Pico

20.20

28.72

35.36

SOLUCIN

Para cualquier pico dado, el espacio interplanar est dado por la ecuacin 2.5, dhkl  n
/2 sen , de modo que dhkl  (1)(0.7107 angstroms)/2
sen (10.10)  2.026 angstroms.
Para un sistema BCC, la tabla 2.5 muestra que la suma de los cuadrados de los ndices de Miller para el primer plano debera ser 2. Por lo
tanto, la ecuacin 2.6 se puede utilizar para calcular el parmetro de la
red cristalina (a0):
a0
_____________
dhkl  ______________
2
(h  k2  l 2)
a0
__
(2.026 angstroms)  ___
2
a0  2.868 angstroms
para dar los resultados que a continuacin se resumen:

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Pico

2()

dhkl (angstroms)

h 2  k2  l 2

a0 (angstroms)

20.20

2.026

2.867

28.72

1.432

2.865

35.36

1.170

2.867

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2.7

Difraccin de Rayos X

49

La ecuacin 2.7 se puede utilizar para analizar la relacin entre los picos.
Debido a que la longitud de onda de los rayos X no cambia y el parmetro de
red cristalina es el mismo para todos los planos en una red cristalina cbica, la
ecuacin 2.7 se puede aplicar a dos picos para proporcionar
sen 2 ______________
(h  k  l )2
______

2

sen2

(h2

k2

(2.8)

 l 2)1

La proporcin de los trminos sen2 en el miembro izquierdo de la ecuacin 2.8 da la proporcin relativa de las sumas de los cuadrados de los ndices
de Miller de los dos picos. Junto con la informacin de la tabla 2-5 se puede
identificar el pico. El ejemplo 2-7 ilustra ms claramente esto.

Ejemplo 2-7
Determinar la clase de red cristalina en el material responsable de la siguiente informacin de difractograma:
Pico

20.20

28.72

35.36

41.07

46.19

50.90

55.28

59.42

SOLUCIN

Se comienza por aplicar la ecuacin 2.8 a los dos primeros picos. Observe
que el valor enlistado en la tabla es 2, mientras que es necesaria para
la ecuacin.
(h2  k2  l 2)2
sen2(14.36) ______________
___________

sen2(10.10) (h2  k2  l 2)1
lo que da
(h2  k2  l 2)2
0.0615  ______________
_______
2
0.0308 (h2  k2  l 2)1
Esto dice que la proporcin de la suma de los cuadrados de los ndices de
Miller de los primeros dos picos es 2. No hay manera alguna de saber la
suma de las reexiones para el primer pico, pero se acaba de determinar
que (h2  k2  l 2) para el segundo pico es el doble del primero. De acuerdo con la tabla 2-5, los valores (h2  k2  l 2) para los dos primeros picos
4 es 2, as que podra
de un sistema BCC son 2 y 4. La proporcin de __
2

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50

| Estructura de los Materiales

ser un sistema BCC. Similarmente, el sistema cbico simple tiene valores
(h2  k2  l 2) de 1 y 2 para sus dos primeros picos, as es que este sistema
permanece como una posibilidad. Sin embargo, los primeros dos picos de
FCC tienen valores 3 y 4. Esto da una proporcin de 1.33 en vez de 2,
indicando que el difractograma podra no haberse generado por una red
cristalina FCC.
Ahora compare cada pico en el difractograma con el primer pico.
Pico

Sen2

Sen2 Sen24

20.20

0.0308

28.72

0.0615

35.36

0.0922

41.07

0.1230

46.19

0.1539

50.90

0.1847

55.28

0.2152

59.42

0.2456

De acuerdo con la tabla 2-5, si la red cristalina fuera cbica simple, el

pico 7 tendra un valor (h2  k2  l 2) que sera ocho veces el del pico 1.
En vez de esto, el pico 7 tiene un valor (h2  k2  l 2) que es siete veces el
del pico 1. El nico patrn que obtendra esta proporcin exacta sera
el cbico centrado en el cuerpo, para el cual (h2  k2  l 2) es 2 para el
pico 1 y 14 para el pico 7.

| Cristalitas |
Regiones de un material
en la que los tomos estn
acomodados con un patrn
regular.

| Fronteras de grano |
Las reas de un material que
separan las distintas regiones
cristalitas.

| Mosaico de cristal |
Estructura hipottica para
irregularidades en las fronteras
entre cristalitas.

| Ecuacin de Scherrer |
Medio para relacionar la
cantidad de esparcimiento en
un difractograma de rayos X
con el espesor de las cristalitas
en la muestra.

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Hasta ahora, gran parte del anlisis ha tratado a los materiales como si
estuvieran compuestos de una sola red cristalina perfectamente alineada. Por
el contrario, los materiales reales consisten de regiones cristalinas, o cristalitas, separadas entre s mediante fronteras de grano. Por lo tanto, un material
real expone una estructura mucho ms parecida al mosaico de cristal que se
muestra en la figura 2-13.
El mismo difractograma de rayos X proporciona informacin sobre el tamao promedio de la cristalita. Si el material fuera un cristal puro, cada pico
sera extremadamente delgado y virtualmente no tendra esparcimiento. En la
realidad, cada pico se esparce a travs de un rango de 2 valores. Para los granos relativamente pequeos, la cantidad de esparcimiento est relacionada con
el espesor de las cristalitas en un plano mediante la ecuacin de Scherrer:
0.9 ,
t  ________
B cos B

(2.9)

en donde t representa el espesor de la cristalita, es la longitud de onda de la

fuente de rayos X, B es el esparcimiento en el pico y B es el valor en
la cima del pico. Debido a que un pico de difraccin se reduce conforme se
acerca a la cima, el esparcimiento en el pico depende de en dnde es medido.

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2.7

Difraccin de Rayos X

Como un estndar se utiliza la anchura a media altura (FWHM por sus siglas
en ingls), queriendo decir que el esparcimiento en el pico se mide en el valor
de intensidad correspondiente al valor medio ms alto en el pico. La figura
2-14 muestra la FWHM para un pico muestra.
Al leer los valores de 21 y 22 a la FWHM, B se puede determinar a partir
de la ecuacin
B  0.5(22  21)  2  1

51

| Anchura a media altura

(FWHM) |
Estndar utilizado para medir
el esparcimiento en el pico
de un difractograma, medido
en el valor de intensidad
correspondiente al valor medio
ms alto en el pico.

(2.10)

Figura 2-13 Estructura de

mosaicos de cristal

FWHM

Intensidad

2b

Figura 2-14 Medicin de la anchura a media

21

22

altura

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52

| Estructura de los Materiales

Ejemplo 2-8
Calcular un estimado del espesor de las cristalitas de los planos correspondientes al pico 2 en el ejemplo 2-6 considerando que 21  28.46 y
22  28.98.
SOLUCIN

El espesor de las cristalitas se calcula utilizando la ecuacin de Scherrer

(2.9), de modo que
0.9
t  ________
B cos B
0.9(.7107 nm)
t  _____________________________
0.5(28.98  28.46) cos (28.72/2)
t  2.54 nm

2.8 MICROSCOPA

| Microscopa ptica |
El uso de luz para ampliar
objetos hasta 2000 veces.

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on frecuencia, ver las caractersticas directamente sera la mejor manera de

entender la estructura de un material. Algunas caractersticas, incluyendo
los tamaos del grano, los defectos grandes en el material, las fracturas y
las estructuras presentes en las aleaciones, a veces son visibles para el ojo humano.
Sin embargo, a menudo las caractersticas de inters son demasiado pequeas para
verlas directamente. En tales casos, el uso del microscopio se hace ms valioso.
Existen diversas clases de microscopios y se clasifican por su fuente de luz
(u otra radiacin). Los microscopios ms comunes (presentes en bsicamente
cualquier laboratorio de ciencias) son microscopios pticos. Si el material es
opaco (por ejemplo, metales, cermicas y la mayora de polmeros y compuestos), slo una superficie se puede examinar microscpicamente, y la luz reflejada que pasa a travs de la lente debe revelar la imagen. Para la mayora de los
materiales, la superficie debe ser pulida antes de que cualquier caracterstica
significativa sea revelada. Muchos materiales requieren un tratamiento de la
superficie mediante un agente grabador para revelar la informacin. La reactividad entre los agentes grabadores y algunos materiales vara dependiendo de
la orientacin de sus granos. Se eligen agentes grabadores especficos para que
los granos colindantes se afecten diferentemente y el contraste entre los granos
sea visible bajo el microscopio ptico.
La microscopa ptica ofrece diversas ventajas. El equipo es barato y fcil de operar. Las caractersticas grandes como los granos y las fracturas son
frecuentemente visibles. El software comercial puede calcular el tamao de
cada grano visible. Sin embargo, los microscopios pticos se limitan a una ampliacin de alrededor de 2000x, y muchas de las caractersticas que regulan el
comportamiento se encuentran en una escala mucho ms pequea.
Cuando la microscopa ptica no es suficiente, los cientficos de los materiales optan por la microscopa de electrones. Aqu, en vez de una luz visible,
un haz de electrones de alta energa enfocado sirve como la fuente para la
imagen. La longitud de onda efectiva de un haz de electrones es de 0.003 nm,
permitiendo la resolucin de detalles ms finos. Estn disponibles dos clases de
microscopios de electrones que proporcionan diferente informacin.
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