PTICA CRISTALINA

Mario Vendrell

10. ESTUDIO PTICO POR MICROSCOPA DE

REFLEXIN
Tal como se discuti al inicio del captulo anterior, los
minerales absorbentes se caracterizan porque su estudio ptico no
puede llevarse a cabo mediante el anlisis de la luz transmitida por
una lmina delgada y, por tanto, hay que estudiarlos mediante la luz
que se refleja en superficies pulidas. Este anlisis puede hacerse
extensivo a los medios transparentes y, aunque su uso prctico es
limitado, se discuten tambin en este captulo.
El estudio de los cristales mediante microscopa de reflexin
implica una disposicin de los equipos experimentales distinta del
microscopio de transmisin convencional, y una preparacin de las
muestras en superficies pulidas, en vez de lminas delgadas.
En el captulo anterior se han desarrollado las bases tericas
de los fenmenos pticos que ocurren cuando la luz se refleja en una
superficie de un medio, as como la justificacin fsica del fenmeno
de la reflexin de la luz en los medios conductores. En todos los
casos considerados, la incidencia normal (i=0) presenta soluciones
ms simples y el conjunto de fenmenos son interpretables ms
fcilmente que para cualquier otro ngulo de incidencia. Por tanto, la
microscopa de reflexin se basa en la incidencia normal, o al menos
en la regin de ngulos de incidencia muy pequeos, donde la ptica
paraxial pueda ser aplicada. El microscopio de reflexin tambin es
de polarizacin y su diseo est basado en los microscopios
metalogrficos, con la incorporacin de luz polarizada incidente, y
un polarizador ubicado en el tubo del microscopio (analizador) que
permite el anlisis de la luz reflejada por la muestra (ver detalles de
los equipos en el captulo 3).
10.1. Observaciones con luz polarizada (sin analizador)

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Para estas observaciones se hace incidir sobre la muestra luz

blanca linealmente polarizada, sin intercalar el segundo polarizador
(analizador). En general se trabaja con objetivos de poca apertura
numrica, de modo que la incidencia es normal cuando se utiliza un
reflector plano, o prcticamente normal en el caso de un reflector de
prisma.
10.1.1. Medios transparentes
Istropos
La luz que incide sobre cualquier superficie de un medio
istropo se refleja con una intensidad que, de acuerdo con la frmula
de Fresnel, depende exclusivamente del ndice de refraccin del
medio

( n 1) 2
R=
( n + 1) 2
normalmente la reflectancia se expresa en tanto por ciento, por
ejemplo R=4.5%, o en tanto por uno, en cuyo caso se escribe
R=0.045. Como el ndice de cualquier medio tiene un valor superior
a la unidad, existe cierta intensidad reflejada, R, cuyo valor es
siempre significativo.
De la frmula de Fresnel se deduce
que cuanto mayor sea el ndice de
refraccin, tanto mayor ser la
intensidad de la luz reflejada, de
modo que es posible dibujar una
curva de R en funcin de n para
determinada longitud de onda
(Figura 1).
Figure 1

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La dispersin de la reflectancia depende de la del ndice de

refraccin, que para los medios transparentes sigue la curva de la
ecuacin emprica de Cauchy, al menos en la franja del espectro
electromagntico en el que no hay absorcin.
Siendo la reflectancia funcin del ncide de refraccin, es
posible aproximar ste a partir de la medicin precisa de la primera,
de modo que

n=

1+
1

R
R

Aunque la precisin del mtodo es inferior a la de los sistemas

convencionales de determinacin del ndice de refraccin de
substancias transparentes, se ha utilizado como aproximacin rpida
de ndices de refraccin elevados, especialmente para discriminar el
diamante (n=2.42) de algunas de sus imitaciones (normalmente de
ndice de refraccin menor) en equipos compactos y especficos para
esta finalidad.
Anistropos
La luz reflejada por una seccin anistropa consiste en dos
ondas linealmente polarizadas en planos perpendiculares entre s,
cada una con una intensidad especfica que depende de los
respectivos ndices de refraccin de la seccin, n1 y n2 . Cada
vibracin puede ser aislada girando la platina del microscopio, de
modo que es posible obtener los dos valores de R

(n1 1) 2
(n2 1) 2
R1 =
; R2 =
(n1 + 1) 2
( n2 + 1) 2
que presentan un valor mximo y otro mnimo, cuya diferencia se
conoce como bireflectancia, que depende de la birrefringencia

n1 n2 . No obstante, la birreflectancia no suele detectarse

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visualmente, en parte porque la memoria de intensidad de la visin

es pobre, y en parte porque la birreflectancia en los medios
transparentes es baja: para un mineral tan birrefringente como la
calcita, R o vale 6.4%, mientras que R e vale 3.6%.
10.1.2. Medios absorbentes
Istropos
La luz es reflejada por cualquier superficie sin cambiar su
estado de polarizacin. Como en el caso de los medios istropos
transparentes, la intensidad reflejada depende de la parte real del
ndice de refraccin (n) y del coeficiente de absorcin (k), y el valor
queda determinado mediante la expresin general de la ecuacin de
Fresnel

( n 1) 2 + k 2
R=
( n + 1) 2 + k 2
En estos medios, la parte real del ndice de refraccin puede
ser menor que la unidad, sin embargo la reflectancia siempre tiene
valor significativo porque el coeficiente de absorcin tambin
adquiere valores significativos. La intensidad reflejada no depende
de la seccin estudiada, y tiene el mismo valor para cualquier
direccin, o sea que la superficie de referencia de la reflectancia es
una esfera, como la de n y la de k.
Anistropos
En los medios anistropos el valor de la reflectancia varia en
funcin de la orientacin cristalogrfica de la superficie sobre la
cual incide la luz. La forma de la superficie de referencia de la
reflectancia no est completamente definida y en algunos casos puede
responder a una ecuacin de orden bastante elevado.

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En el caso de los cristales unixicos, la superficie ha de ser

necesariamente de revolucin. Por su comportamiento ptico, hay que
distinguir las secciones de simetra de las que no la tienen. Sea cual
sea su forma, la superficie de referencia unixica tiene una simetra / mmm
, y tanto las secciones basales como las prismticas son planos de
simetra, a la vez que el eje de revolucin es el eje ptico. Para los
cristales unixicos, el eje ptico coincide con el eje de simetra de
orden superior a 2 y con el eje cristalogrfico c.

FIGURA 2 SUPERFICIES COVELLITA

La simetra de las superficies de referencia de los cristales
bixicos puede ser baja, aunque de acuerdo con del principio de
Neumann, debe incluir la simetra del grupo de Laue del cristal. En
el caso de los cristales rmbicos (grupo de Lauemmm), ello implica
que las direcciones principales de las reflectancias han de coincidir
con los ejes cristalogrficos y los planos principales han de ser
planos de simetra de la superficie de referencia. En estas
condiciones es posible definir tres reflectancias principales, R p , R m
y R g, lo que no siempre es posible en otros sistemas cristalinos y hay
tres superficies simtricas, que corresponden a los tres planos
principales de los cristales rmbicos.
En cristales de simetra ms baja (monoclnicos y triclnicos),
la orientacin de las superficies de la reflectancia, del ndice de
refraccin (nr ) y del coeficiente de absorcin (k) pueden adoptar
cualquier forma y orientacin, con la limitacin antes expresada
determinada por el principio de Neumann. En los cristales
monoclnicos existe una superficie simtrica, la (010).
Las secciones basales de los cristales unixicos son circulares
y, por tanto, la reflexin normal en estas secciones tiene lugar sin

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modificar el estado de polarizacin de la onda incidente. Su valor

depende, como en los otros casos, del ndice de refraccin y del
coeficiente de absorcin en esta direccin cristalina.
Cualquier seccin simtrica (las prismticas de los unixicos
as como las (100), (010) y (001) rmbicas y la (010) monoclnica),
da lugar a dos ondas linealmente polarizadas. En los cristales
unixicos, una de ellas es de reflectancia idntica a la de la seccin
basal (y que puede llamerse ordinaria), y otra a 90 de la anterior,
que se denomina extraordinaria. Ambas responden a las
respectivas ecuaciones de Fresnel

( no 1) 2 + k o2
(ne 1) 2 + ke2
Ro =
; Re =
(no + 1) 2 + k o2
(ne + 1) 2 + k e2
En este caso es posible definir la birreflectancia como el
valor absoluto de la diferencia entre ambas reflectancias, y con
similar criterio la birrefringencia y la biabsorbancia. Para el caso
de los cristales unixicos se puede hablar, adems, de cristales
positivos y negativos, con el siguiente criterio
positivo R e >R o ; negativo R e <R o
signos que no tienen porqu coincidir con los correspondientes a los
ndices de refraccin y coeficientes de absorcin, cuya influencia
combinada en los valores de la reflectancia puede ser diversa,
aunque a para coeficientes de absorcin pequeos, aumenta la
influencia del ndice de refraccin (el caso extremo lo representan
los medios dielctricos) y, entonces, los signos de la birefringencia
y de la birreflectancia coinciden.
Adems de la diferencia de amplitud, existe cierta diferencia
de fase entre ambas ondas reflejadas (ordinaria y extraordinaria),

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que se pondr de manifiesto al estudiar estas secciones entre

polarizadores cruzados bajo el microscopio de reflexin.
En cualquier otra seccin que no sea de simetra, las dos ondas
reflejadas son elpticamente polarizadas.
10.1.3. Influencia de la inmersin
En algunas ocasiones, la observacin se realiza en inmersin
en aceite, mediante el uso de objetivos especificamente diseados a
tal fin. En estas condiciones, el medio en que se realiza la reflexin
de la luz no es aire, sino otro medio de ndice de refraccin superior,
por lo tanto, los valores de reflectancia no son los mismos que en el
aire.
Para los cristales transparentes, la expresin general de la ecuacin
de Fresnel es

( n n1 ) 2
R=
, siendo n 1 el ndice del medio de inmersin.
( n + n1 ) 2
por tanto, si los ndices del medio de inmersin y de la muestra a
estudiar son iguales, el valor de la reflectancia es cero.
En los cristales absorbentes, la expresin de la frmula de
Fresnel es

( n n1 ) 2 + k 2
donde n 1 es el ndice del medio de inmersin
R=
( n + n1 ) 2 + k 2
en estos cristales, el valor de la reflectancia nunca llega a anularse
aunque el ndice del medio valga lo mismo que el de la muestra,
porque existe el parmetro correspondiente al coeficiente de
absorcin.

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El medio de inmersin ms comunmente utilizado es aceite,

del que se coloca una gota entre el objetivo de inmersin y la
superficie de la muestra. Estos objetivos tienen distancias de trabajo
muy pequeas, que facilitan que la gota de aceite de inmersin se
mantenga entre el objetivo y la muestra debido a su relativamente
elevada tensin superficial. Estos aceites especiales tienen el ndice
de refraccin alrededor de 1.5, y generalmente est especificado en
el envase para la lnea D del espectro de Fraunhover ( =589,5nm).
En trabajos especficos es posible utilizar otros medios de
inmersin, con objetivos adecuados para cada medio. As por
ejemplo en trabajos de microscopa en la regin ultravioleta del
espectro no es posible utilizar aceite de inmersin debido a su
emisin fluorescente, y se utiliza glicerina que es transparente e
inerte a estas radiaciones.

10.2. Observaciones entre polarizadores cruzados

10.2.1. Secciones istropas
Son istropas todas las secciones de los cristales istropos y
las basales (001) de los unixicos. Cuando luz linealmente
polarizada incide sobre cualquiera de estas secciones, la fase cambia
180 pero el plano de polarizacin se mantiene invariable. Por tanto,
la luz reflejada es parada por el analizador en posicin cruzada, y la
seccin permanece obscura en un giro completo de la platina.
En algunas observaciones se aprecia cierta cantidad de luz que
no varia al girar la platina del microscopio. Puede ser debido a dos
posibles causas: a) si el iluminador del microscopio es un prisma,
y/o se trabaja con un objetivo de gran apertura numrica sin el
diafragma de campo cerrado, hay luz que incide con cierto ngulo y

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su reflexin est polarizada elpticamente; o b) si la muestra tiene un

coeficiente de absorcin bajo, parte de la luz que penetra hacia el
interior puede reflejarse en inclusiones, fisuras o cualquier otra
discontinuidad, dando lugar a reflexiones internas, cuyo estado de
polarizacin ha variado aleatoriamente respecto del haz incidente y,
por tanto, no sern paradas por el analizador.
10.2.2. Secciones simtricas
Lo son todas las prismticas de los cristales unixicos, las
(001), (010) y (100) de los cristales rmbicos, y las (010) del
monoclnico, es decir todas las perpendiculares a uno o dos planos
de simetra ptica.

Cuando una radiacin linealmente polarizada de amplitud E 0

incide normalmente en una de estas secciones , se producen dos ondas
reflejadas linealmente polarizadas y no dispersadas
(R1 y R 2 ), lo que significa que los planos de
polarizacin no varan con la frecuencia, aunque
pueden (de hecho suelen) hacerlo las respectivas
amplitudes.
De acuerdo con el esquema de la Figura 4, y
aplicando la ley de Malus, al girar la platina el ngulo
que forma uno de los planos de vibracin de una de
las ondas reflejadas con uno de los polarizadores valga
Figura 4

0, 90, 180, 270, no pasar luz puesto que los

polarizadores estn cruzados. Habr por tanto, cuatro posiciones de
extincin en un giro completo de la platina.
Adems, las dos ondas reflejadas pueden diferir solamente en
amplitud, o presentar adems cierta diferencia de fase. Consideremos

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qu ocurre para cada uno de los dos casos.

- Si slo existe entre ellas una diferencia de
amplitud y su diferencia de fase es 0, la
composicin de ambas da lugar a una onda
linealmente polarizada en un plano cuya
orientacin

depende

de

las

respectivas

amplitudes (Figura 5). La amplitud transmitida

por el analizador (P2) es proporcional al
segmento resultante de la proyeccin de R
sobre su plano de polarizacin (ley de Malus).
Dado que las amplitudes de las dos
ondas reflejadas no son iguales, la mxima
Figura 5

luminosidad no tiene lugar, como ocurra al

considerar una lmina anistropa transparente entre polarizadores
cruzados, a 45 de las posiciones de extincin, sino que depende de
la diferencia entre las respectivas amplitudes.
Si la radiacin incidente es luz blanca, aunque las posiciones
de los planos de polarizacin no son
dispersadas (son las mismas para cualquier
frecuencia), las amplitudes de las ondas
reflejadas s lo son (los valores de R i varian
con la frecuencia). Por tanto, supongamos,
como se indica en la Figura 6, que las
amplitudes reflejadas para los extremos rojo y
azul del espectro visible son distintas para las
radiaciones reflejadas en cada uno de los
planos

de

polarizacin.

Al

hacer

la

composicin de las respectivas frecuencias, los

planos de polarizacin de la onda resultante en
Figura 6

las zonas roja y azul del espectro no coinciden:

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es decir, diferentes frecuencias del espectro visible dan lugar a

ondas polarizadas en planos ligeramente distintos (RR y R A para el
rojo y azul respectivamente).
En las condiciones de la figura anterior,
si se gira el analizador hasta que se anule el
componente

del

rojo

(colocndolo

perpendicular a R R ), en lugar de aparecer la

imagen completemanete oscura, se ver
ligeramente azul. Continuando el giro del
analizador hasta extinguir la componente azul,
la imagen aparecer ligeramente roja. Este
efecto es tanto ms acusado cuanto ms lo sean
las respectivas amplitudes de las dos ondas
reflejadas.
Figura 7

- En el caso de que, adems de distintas

amplitudes, exista diferencia de fase entre las dos ondas reflejadas,
la composicin de ambas da como resultado una onda elpticamente
polarizada (Figura 7). Como adems suele existir dispersin de las
amplitudes el azimut de las elipses correspondientes a cada
frecuencia suele ser distinto.
Al atravesar el analizador, las dos ondas son llevadas a vibrar
sobre el mismo plano de polarizacin y por lo tanto se produce una
interferencia de ambas, como ocurra en los cristales transparentes.
10.2.3. Secciones asimtricas
En estos casos, aun con luz incidente monocromtica, cada una
de las ondas reflejadas est elipticamente polarizada, ambas girando
en el mismo sentido, y con los respectivos ejes perpendiculares. Por
lo tanto, al girar la platina no se producen cuatro posiciones de

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extincin, sino que hay cuatro posiciones, cada 90, con un mnimo
de intensidad, sin alcanzar la oscuridad completa.

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