EL CONTROL

ESTADSTICO
DE LOS
PROCESOS

CAUSAS COMUNES

CAUSAS DE
VARIACIN

CAUSAS ESPECIALES

X-R

Para controlar, mejorar y reducir la variabilidad en los

procesos, se requieren de tres actividades bsicas:

X-S

CARTAS DE
VARIALBES

CONTROL Y
REDUCCIN
DE LA
VARIABILIDAD

CONTROL Y REDUCCIN DE LA VARIABILIDAD

INDIVIDUALES
PRECONTROL

ESTABILIZAR LOS
PROCESOS

Lograr el control estadstico,

mediante la identificacin y
eliminacin de las causas
especiales.

MEJORAR EL
PROCESO

Reduciendo la variacin debida

a causas comunes.

MONITOREAR EL
PROCESO

Para asegurar que las mejoras

se mantienen y para detectar
oportunidades adicionales a la
mejora.

PROPORCION DE DEFECTUOSOS (p)

CARTAS DE
ATRIBUTOS

NUMERO DE DEFECTUOSOS (np)

NUMERO DE DEFECTOS (c)
DEFECTOS POR UNIDAD (u)

GESTION DE LA
CALIDAD TOTAL

PATRONES ESPECIALES
INTERPRETACIN
DE CARTAS

PRUEBAS
INDICE DE INESTABILIDAD St

CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DE

VARIACIN

Variacin por causas comunes o por azar:

Es aquella que permanece da a da, lote a
lote y la aportan en forma natural las
condiciones de las 6Ms (Mano de Obra, Materiales,
Maquinaria, Medicin, Mtodos y Medio ambiente).

Variacin por causas especiales o

atribuibles:
Es causada por situaciones o circunstancias
especiales que no son permanentes en el
proceso.

CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DE

VARIACIN
Se dice que un proceso esta bajo
control estadstico o estable cuando
este trabaja solo con causas comunes
de variacin, independientemente de
que su variabilidad sea mucha o poca,
el desempeo del proceso es predecible
sobre el futuro inmediato.

ERROR 1
Reaccionar ante un cambio o variacin
(efecto o problema), como si proviniera
de una causa especial, cuando en
realidad surge de algo mas profundo
en el proceso, como son las causas
comunes de variacin.

Errores en la actuacin de los procesos

Se dice que un proceso se encuentra
fuera de control estadstico o
inestable cuando presenta causas
especiales de variacin, estos procesos
son impredecibles sobre el futuro
inmediato debido a las causas
especiales.

ERROR 2
Tratar un efecto o cambio como si
proviniera de causas comunes de
variacin, cuando en realidad se debe a
una causa especial.

EJEMPLO

CARTAS DE CONTROL

Una lnea de produccin saca desperfectos o mellas en las latas.

Obviamente este problema se debe causas comunes o especiales y la
actuacin ser diferente en cada caso:

El objetivo bsico de una Carta de Control es

observar y analizar con los datos estadsticos la
variabilidad y el comportamiento de un proceso a
travs del tiempo.

TIPO DE CAUSA

ACCIN

Especial

Los trabajadores o los

tcnicos pueden reducir o
eliminar
el
problema
ajustando o reemplazando
las partes afectadas del
equipo.

El desperfecto es ocasionado
por
un
desgaste
natural
relativamente menor en la
maquinaria.

POSIBLES ERRORES
ERROR 2
Creer que el problema es comn
(hojalata de mala calidad) y no hacer los
ajustes necesarios a la maquina en
forma oportuna.

Comn

ERROR 1

Las latas salen melladas por

que la administracin compra
hojalata de menor calidad,
quizs en un esfuerzo por
reducir los costos. De lo que el
operario ni se entera, y la
administracin tampoco esta
conciente del perjuicio

Cuando la lnea de montaje arroje una

No hay nada que los lata defectuosa, la reaccin del operario
operarios puedan hacer ser la de ajustar la maquinaria, pero el
por el problema. Solo la problema esta en el material, por lo que
puede descomponer el sistema
administracin UTILIZANDO
puede el ajuste
LAS
CARTAS DE
cambiar la poltica de y empeorar las cosas, que llevara a
nuevos
CONTROL
y mas graves problemas,
compras.
mientras tanto, la verdadera fuente de
inconveniente
(material)
pasa
inadvertida.

Variacin de W

ELEMENTOS DE UNA CARTA DE CONTROL

Lnea Central

Tiempo

LIMITES DE CONTROL
Lo primero que debe quedar claro respecto a los
limites de una carta de control es que estos no son
las especificaciones, tolerancias o deseos para el
proceso.
Los limites se calculan a partir de la variacin de
los datos de la carta de control.

Limite de Control Superior

Limite de Control Inferior

Las Cartas de Control permiten distinguir entre

variaciones por causas comunes y especiales, lo
que ayudara a caracterizar el funcionamiento del
proceso y as decidir las mejores acciones de
control y de mejora.

Los limites de la carta de control estn dados por:

LCI =
Lnea Central =
LCS =

3s

+ 3s

LIMITES DE CONTROL
Para el calculo de los limites de control, se
debe proceder de forma que bajo
condiciones de control estadstico, los datos
que se grafican en la carta tengan alta
probabilidad de caer dentro de tales
limites(99.73%).
Las cartas de control con las que se
trabajaran son las conocidas como las
cartas de control tipo Shewart.

TIPOS DE CARTAS DE CONTROL

Cartas de control para Variables:
X (de medidas individuales)

Diagramas que se aplican a

variables o caractersticas
de calidad de tipo continuo
(pesos, voltajes, volmenes,
longitudes, humedad, etc.)

R (de rangos)
S (de desviacin estndar)
X (de promedios)

Cartas de control para Atributos:

p (proporcin de artculos defectuosos)

Diagramas que se aplican al

control de caractersticas de
calidad del tipo paso, no pasa
o donde se cuenta el numero
de no conformidades que tienen
los productos analizados.

u (N de defectos por unidad)

np (N de unidades defectuosas)
c (N de defectos)

CARTA DE CONTROL X - R

CARTAS DE CONTROL PARA

VARIABLES

Es un diagrama para variables que se aplican a proceso

masivos, en donde en forma peridica se obtiene una
muestra o subgrupos de productos, se miden y se calcula
la media X, y el rango R para registrarlo en la
correspondiente carta.
El campo ideal para la aplicacin de las cartas X-R es
cuando nos encontramos frente a un proceso de tipo
continuo.
SUBGRUPOS

X1

R1

X2

R2

X3

R3

LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X

LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X

La carta X detecta cambios significativos en la media del

proceso. Cuando la campana se desplaza, la carta lo detecta
mediante un punto fuera de sus limites.

Los limites de control de estas cartas estn

determinadas por la media y la desviacin estndar.

x 3sx
x = x

PROCESO INESTABLE CON

TENDENCIA CENTRAL

PROCESO ESTABLE

Donde:
x
: Media de las medias
sx
: desviacin estndar de las medias

sx =

s
n

Donde:
X : Media de las medias
s : desviacin estndar del proceso
n : tamao del subgrupo.

LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X

LIMITES DE CONTROL CARTA R

Como por lo general en un estudio inicial no se conoce s, esta

puede estimarse de la siguiente manera:
3
s
R
A2 =
s=
sx =
d2 n
d2

La carta R detecta cambios significativos en la amplitud de la

dispersin. Por ejemplo si la variabilidad aumenta (campana
mas amplia), la carta R lo detecta mediante un o mas puntos
fuera de su LCS.

d2

3s = 3

Con estas relaciones, los limites de control

para la carta X en un estudio inicial esta
dado por

LCI =
Lnea Central =
LCS =

X A2 R
X
X + A2 R

d2 n

= A2 R

Cuando por algn medio ya se conocen y

s, entonces los limites de control son

LCI =
Lnea Central =
LCS =

- 3s

n
PROCESO ESTABLE

+ 3s
n

PROCESO INESTABLE EN
AMPLITUD DE VARIACION

LIMITES DE CONTROL CARTA R

CARTA DE CONTROL X - S

Los limites de estas cartas se determinan a partir de

la media y la desviacin estndar de los rangos de
los subgrupos.

Cuando una carta X-R quiere tener mayor potencia para

detectar cambios pequeos en el proceso, se incrementa el
tamao de subgrupo n. Pero si n >10, la carta de rangos,
ya no es eficiente, para esto se recomienda utilizar la carta
X-S.
La carta de control X-S se aplica a procesos masivos, en
los que se quiere tener una mayor potencia para detectar
cambios pequeos. Generalmente cuando el tamao de
subgrupos es de n >10.

Donde:
R : Media de los rangos
s R : Desviacin estndar de los rangos

R 3sR

Como en el caso de las cartas X, para un estudio inicial, los limites de la

carta R estn dados por:
LCI =
Lnea Central =
LCS =

D3 R
R
D4 R

LIMITES DE CONTROL CARTA S

CARTAS INDIVIDUALES

Los limites de esta carta se determina a partir de la

media y las desviacin estndar de S.

Las cartas individuales son diagramas para variables de

tipo continuos que se aplica a procesos lentos y/o donde
hay un espacio largo de tiempo entre una medicin y la
siguiente.
Los limites de control de una carta individual estn dados
por:

Donde:
s : Media de S
s s : Desviacin estndar de S

s 3ss
LCI =
Lnea Central =
LCS =

S- 3

1 c4

c4

S+3

1 c4

c4

Cuando la carta X esta acompaada de la carta S, esta se calcula de la siguiente manera:

LCI =
Lnea Central =
LCS =

x 3sx

X-3
X
X+3

S
c4

S
c4

x = X
R
sx = d
2

LC = X 3

R
1.128

CARTAS DE PRECONTROL

CARTAS DE PRECONTROL
LPCI

Son diagramas variables con doble especificacin en

donde se grafican las mediciones individuales, utiliza las
especificaciones como limites de control, y se aplica a
ciertos procesos y bajo circunstancias especificas.
El precontrol es un semforo contra el cual se comparan,
en cada tiempo de inspeccin, los valores medidos en dos
artculos consecutivos de la produccin.
Las zonas de operacin del semforo estn divididas en las
siguientes zonas.
Zona verde
Zona Amarilla
Zona Roja

= 0.8664
= 0.1308
= 0.0027

Para el precontrol se considera en cada tiempo de

inspeccin una muestra de n = 2 artculos.

LPCS

El proceso solo califica cuando se

observan al menos 5 unidades
consecutivas de la produccin en
zona verde.
CONDICIN

VERDE
86.64%

ACCIN
CORRECTIVA

AMARILLO
6.54

1. Dos Unidades en Zona verde

Continuar

2. Una en zona verde y una en Amarilla

Investigar y reiniciar

3. Dos unidades en zona amarilla

Investigar y reiniciar

4. Una unidad en zona Roja

Investigar y reiniciar

Una vez calificado el proceso,

se procede con la siguiente
tabla:

AMARILLO
6.54%

ROJO
0.135%

ROJO
0.135%

Se recomienda el uso del

precontrol a procesos cuta
capacidades sean de Cpk > 1.15
CONDICIN

ACCIN
CORRECTIVA

1. Dos Unidades en Zona verde

Continuar

2. Una en zona verde y una en Amarilla

Continuar

3. Dos unidades en zona amarilla

Parar e investigar

4. Una unidad en zona Roja

Parar e investigar

INTRODUCCION AL CONTROL DE
PROCESOS
MODELO DE UN PROCESO

METODOS Y FILOSOFIA DEL

CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS

FACTORES
CONTROLABLES

x1

x2

x3

....

xn
SALIDA

ENTRADAS

PROCESO
FACTORES
INCONTROLABLES

z1

z2 z3

....

zn

Reprocesos
Aviso para actuar sobre el
proceso

COMPONENTES DE
UN PROCESO

Concepcin
Tradicional

Desechos
Producto Defectuoso

PRO VEEDO RES

Materias Primas
Inspeccin

Que es un
Proceso?

Usuario

E N TR AD A S

Reprocesos

Ajustes constantes basados en muestreo selectivo del

producto y del proceso.

PRO CES OS

Desechos

Concepcin CEP
Producto Defectuoso

Materias
Primas

S A L ID A S

Inspeccin

C L IE N T E S

PREVENCION Y DETECCION
CONTROL DE PROCESOS ( PREVENCION)

CONTROL DE PRODUCTO ( DETECCION)

MALO

EN TR A D AS

P ROCES OS

S A L ID A S

BUE NO
PRO CES O S

SE LECCIO N
S ALIDA S

AC TU A R Y
C O R R E G IR

OB SERVA R O
M E D IR

A N A L IZ A R Y
D E C ID I R

E V A LU A R Y
CO MP ARAR

Asegura las caractersticas de los productos mediante el

control de las variables vitales del proceso productivo

O BS ERVA R Y
ME DIR

ACT UAR Y
CORRE GIR

EV ALUAR Y
CO MPA RAR

ANA LIZA R Y
DECIDIR

Usuario

OBJETIVOS DEL CONTROL DE

PROCESOS

Establecer tolerancias.
Determinar la capacidad del proceso.
Mantener las caractersticas dentro de su tolerancia.
Vigilar y controlar la variacin.

VARIACION
CLASES
En la pieza misma
De una pieza a otra
De instante de tiempo a
otro
CLASES
El equipo
El material
El entorno
El operario
Variacin a lo largo del
tiempo

CAUSAS DE LA VARIACION DE LA CALIDAD

Variabilidad
Aleatoria

CAUSAS FORTUITAS Y CAUSAS

ATRIBUIBLES

Causas
No asignables

Variabilidad natural o ruido de fondo

Causas Naturales

Comunes
Asignables
No aleatoria o sistemtica
Especiales

Otras causas de variabilidad

Causas Atribuibles

MEJORAMIENTO DEL PROCESO UTILIZANDO

CARTA DE CONTROL

CUATRO POSIBILIDADES PARA UN

PROCESO
Estado umbral
E
N
T
R
O
P
I
A

Estado ideal

El proceso es predecible

El proceso es predecible

Algunos productos no conformes

100% productos conformes

Estado de caos

Estado al borde del caos

El proceso no es predecible

El proceso no es predecible

Algunos productos no conformes

100% productos conformes

SE PRODUCEN ALGUNOS

SE PRODUCEN 100%

PRODUCTOS NO CONFORMES

PRODUCTOS CONFORMES

M
E
J
O
R
A
D
E
L
P
R
O
C
E
S
O

ENTRADA

PROCESO

SALIDA

Sistema de Medicin
Verificar y hacer
seguimiento.

Detectar la
causa asignable

Implementar una
accin correctiva.

Identificar la causa de
origen del problema.

LMITES DE ESPECIFICACIN Y
LMITES DE CONTROL
Lmites de especificacin son los que permiten distinguir
entre un producto bueno y uno malo. Condicionan la
satisfaccin del cliente.
PROCESOS FUERA DE CONTROL
Lmites de control son los que ponen en evidencia las
causas asignables y de variacin no aleatoria en los
procesos. Determinan la satisfaccin del proceso.

Test 1: un punto situado ms all

de los lmites de control

Test 2: nueve puntos consecutivos

en el mismo lado

Test 3: seis puntos consecutivos

ascendentes o descendentes

Test 4: catorce puntos consecutivos

alternando

FACTORES PARA LOS LIMITES DE CONTROL POR VARIABLES

n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

d2
1.128
1.693
2.059
2.326
2.534
2.704
2.847
2.970
3.078
3.173
3.258
3.336
3.407
3.472
3.532
3.588
3.640
3.689
3.735
3.778
3.819
3.858
3.895
3.931

A2
1.880
1.023
0.729
0.577
0.483
0.419
0.373
0.337
0.308
0.285
0.266
0.249
0.235
0.223
0.212
0.203
0.194
0.187
0.180
0.173
0.167
0.162
0.157
0.153

d3
0.853
0.888
0.880
0.864
0.848
0.833
0.820
0.808
0.797
0.787
0.778
0.770
0.763
0.756
0.750
0.744
0.739
0.734
0.729
0.724
0.720
0.716
0.712
0.708

D3
0
0
0
0
0
0.076
0.136
0.187
0.223
0.256
0.284
0.308
0.329
0.348
0.640
0.379
0.392
0.404
0.414
0.425
0.434
0.443
0.452
0.459

D4
3.267
2.575
2.282
2.115
2.004
1.924
1.864
1.816
1.777
1.744
1.716
1.692
1.671
1.652
1.636
1.621
1.608
1.596
1.586
1.575
1.566
1.557
1.548
1.541

Test 5: dos de tres puntos consecutivos situados

ms all de 2 sigmas (mismo lado)

Test 7: quince puntos consecutivos situados

a menos de un sigma (ambos lados)

Test 6: cuatro de cinco puntos consecutivos Test 8: ocho puntos consecutivos situados a
situados a ms de un sigma (mismo lado)
ms de un sigma (ambos lados)

Defecto: una caracterstica del producto que no cumple

con los requisitos de la especificacin aplicable.

GRFICAS DE CONTROL POR

ATRIBUTOS

Unidad defectuosa: una unidad de producto que

contiene uno o ms defectos.

DEFECTO Y NO CONFORMIDAD

Pregunta: La muestra tiene algn defecto?

DEFECTO
Incumplimiento
de un requisito
para un uso
previsto

NO
CONFORMIDAD
Incumplimiento
de un requisito
especificado

si

no

si

si

no

SELECCIN DEL TIPO DE GRFICO

Pregunta: Cuntos defectos tiene la muestra ?

LMITES DE CONTROL DEL GRAFICO P

Decida el objetivo de la GC.

Determine el tamao de la muestra y el intervalo de muestreo.
Obtener los datos y registrarlos en forma adecuada.
Calcular la lnea central y los lmites de control
Calcule los lmites de control revisados
Implemente las grficas de control

p (1 - p)
LSCP min p + 3
,
ni

LC P p

p (1 - p )
LICP max p - 3
,
ni

GRFICA P
Un departamento de la Seguridad Social se encarga de
supervisar que las recetas que confeccionan los
facultativos
estn
bien
cumplimentadas.
El
departamento recibe las recetas ordenadas por fecha de
expedicin en lotes de 50 y desea establecer un criterio
que le permita detectar cundo resulta adecuado
investigar las posibles causas que producen recetas mal
cumplimentadas. Para ello, selecciona 20 lotes y
contabiliza el nmero de recetas defectuosas,
considerando como tales aquellas que tengan algn
campo incompleto. Los resultados fueron los siguientes

GRFICA P

Lote

Defectuosas

Lote

Defectuosas

11

12

0.25

13

0.20

14

15

P Chart of Defectuosas

16

17

18

Proportion

UCL=0.2351

0.15
_
P=0.105

0.10

0.05

proporcin de
piezas defectuosas

0.00

LCL=0
1

19

10

20

11
Sample

13

Realizar un grfico de control para la proporcin de recetas defectuosas

Dentro de un proceso de moldeo de PVC las piezas elaboradas

pueden presentar o no defectos superficiales. Cada da se toman 100
piezas al azar de la lnea de produccin y se cuenta el nmero de
piezas defectuosas.
Da

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15

No
Fraccin
Conformes
no
conformes
9
16
5
6
7
9
3
9
10
4
7
10
6
6
7

Da

No
Conformes

16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

9
5
6
4
11
3
1
3
0
4
6
1
6
5
4

Fracc in
no
conformes

GRAFICO DE CONTROL nP

LSCnp n p + 3

n p (1 - p)

LC np n p

LICnp n p - 3

n p (1 - p)

15

17

19

GRFICA C

GRAFICO DE CONTROL ( C )

Supongamos que el departamento desea establecer un criterio similar

en base al nmero de campos defectuosos en las recetas. Para ello,
cuenta el nmero de defectos en 12 lotes, obteniendo los siguientes
resultados

LSC c c + 3 c

LC c c
LICc c - 3 c

GRFICA C

Lote

N de defectos

20

28

22

23

22

15

43

19

16

10

28

11

24

12

25

GRAFICO DE ( U )

C Chart of defectos
45

40

UCL=38.37

LSCU u + 3

Sample Count

35

# de defectos en
cada lote

30
_
C=23.75

25
20
15
10

LC U u

LCL=9.13
1

6
7
Sample

10

11

12

u
ni

LICU u - 3

u
ni

GRFICA U

EJEMPLO
Supongamos ahora que los lotes de recetas contienen un nmero variable
de stas y que los defectos observados en ellas fueron los siguientes:

Lote

9 10 11 12

N de recetas

45 46 54 53 34 52 55 43 45 56 55 50

N de defectos

20 28 22 23 22 15 43 19 16 28 24 25

Ejemplo: El gerente de una empresa productora de gabinetes para

computadoras solicita a su oficina de Control de Calidad que se
analice el nmero total de defectos que se han encontrado en cada
uno de los gabinetes inspeccionados.
Muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13

Tamao N de defectos
6
3
5
2
4
0
8
1
7
4
4
3
3
2
5
4
7
1
6
0
4
2
6
3
3
2

Muestra
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

Tamao N de defectos
5
8
7
0
4
2
6
4
3
3
6
5
6
0
7
2
4
1
5
9
5
3
5
2

En base a esta informacin, se desea determinar si los datos

corresponden a un proceso controlado.

GRFICA U

ANLISIS DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO

U Chart of defec
2.0
1

Sample Count Per Unit

# de defectos por
unidad en cada lote

1.5

UCL=1.456

1.0

Es la aptitud del proceso para producir

productos dentro de los limites de las
especificaciones de calidad.

_
U=0.504

0.5

0.0

LCL=0
1

11

13 15
Sample

Tests performed with unequal sample sizes

17

19

21

23

25

ANALISIS DE LA
CAPACIDAD DE
PROCESO

Distribucin de frecuencia e
Histograma
Graficas de Control

ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO

UTILIZANDO HISTOGRAMA
PASOS:
Escoger la maquina o
mquinas
Seleccionar las condiciones
de operacin
Seleccionar un operador
Monitoreo

ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO

UTILIZANDO GRAFICO DE PROBABILIDAD NORMAL

Estimacin de la media del proceso

P50
Estimacin de la variabilidad del proceso

P84 - P50

ESTIMACIN DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO

x 3S

METODOS EN ANALISIS DE CAPACIDAD

Anlisis de la Capacidad del Proceso

HISTOGRAMAS
Mnimo 50 a 100 observaciones
Proceso: comprobacin grfica de comportamiento
normal

Estimacin de la variabilidad del proceso

Distribucin Normal
R
S
Grafico S
d2
c4
S Desviacin estndar de todos los datos

Grafico R
DIAGRAMAS DE CONTROL
Requisito: proceso bajo control
Analiza la capacidad potencial

General

Es muy buena si el proceso esta bajo

control (incluye la variacin entre muestras)

Estimacin de la media del proceso

Anlisis de la Capacidad del Proceso

Limites naturales
del proceso
Lmites e control
Lmite de
especificacin

Extremos del intervalo

en el que toma valores X

W 3 W

Extremos del intervalo en

el que toma valores el
estadstico W

Cp: ndice de Capacidad Potencial del Proceso.

Mide qu tan potencialmente capaz es el proceso para
cumplir las especificaciones.
La extensin real del proceso (6s)
^ debe ser menor para
decir que el proceso es potencialmente capaz.

Lmites determinados
externamente, sin tener en
cuenta la variabilidad del
proceso

LIE-LSE

Amplitud del
intervalo

Capacidad de Proceso

LSE

3s
LIE

3s

3s
x

LSE

3s
LSE

Donde:
LSE = Lmite superior de especificacin
LIE = Lmite inferior de especificacin

s
^(x) = desviacin terica de la poblacin

Estimacin de la proporcin de no conformidades

LIE

3s
x

LSE - LIE
6*^
s(x)

Valor ms grande del Cp, ES MEJOR.

Capacidad de Proceso
LIE

Cp =

LIE

3s
x

LSE

3s

3s
x

Especificaciones

Capacidad de Proceso
LIE
x - LIE

Cp

LSE
LSE - x

PORCION
CAIDA DEL
PROCESO
3s

3s

x
El ndice Cpk pueden interpretarse como la capacidad del
proceso hasta el lmite de especificacin ms prximo a
la media.

INDICE DE CAPACIDAD DEL PROCESO PARA UN

PROCESO FUERA DEL CENTRO

LSE - - LIE
C pk min
,

3
3
Valor ms grande del Cpk, ES MEJOR.
NOTA:
La igualdad se cumple si y solo si el proceso est centrado.
Entre mayor es la diferencia, mayor es el descentramiento

bilaterales

226628

453255

0.50

66807

133614

0.60

35931

71861

0.70

17865

35729

0.80

8198

16395

0.90

3467

6934

1.00

1350

2700

1.10

484

967

1.20

159

318

1.30

48

96

1.40

14

27

1.50

1.60

1.70

0.17

0.34

1.80

0.03

0.06

2.00

0.0009

0.0018

Capacidad de Proceso
LIE

Cpk: ndice de Capacidad Real del Proceso.

Mide qu tanto el proceso cumple las especificaciones.
Considera la posicin del proceso con respecto a las
especificaciones

unilaterales

0.25

LSE
SIN CAMBIO

6s

0.001
Dpmo

0.001
Dpmo

-6s-5s-4s-3s-2s -1s 0 1s 2s 3s 4s 5s 6s

LIE

Situacin ideal.
Cuando las fluctuaciones pueden
ser suficientemente controladas
de manera que la caracterstica
quede centrada con respecto a
las especificaciones.
Sistema que asume un universo
esttico (causas fundamentales
estables)

LSE

1.5s
CON CAMBIO

4.5s

3.4
Dpmo

-6s-5s-4s-3s-2s -1s 0 1s 2s 3s 4s 5s 6s

Sistema que considera que nada

puede
ser
controlado
por
siempre en una situacin ideal.
Se ha tomado por convenio el
valor de 1.5 de descentramiento
con respecto a la especificacin

Capacidad de Proceso
Relacin entre nivel sigma, Cp y Cpk
NIVEL

Cp

1s

0.33
0.67

0.17

3s

1.00

0.50

4s

1.33

0.83

5s

1.67

1.17

6s

2.00

1.50

s=2

50

LSE

Cp = 2
Cpk = 2

56

Cp = 2
Cpk = 1.5

53

Cp = 2
Cpk = 1

56

Cp = 2
Cpk = 0

62

38

62

PROCESO CUATRO SIGMA

PROCESO SEIS SIGMA

LIE
Cp = 1.33
Cpk = 1.33

LIE

LSE

Cp = 2
Cpk = -0.5
65

4s

Cp = 1.33
Cpk = 0.83

LSE
Cp = 2.0
Cpk = 2.0

-0.17

2s

LIE

44

Cpk

Capacidad de Proceso

1.5s

0.006% (por
ambos lados) o
60 Dpmo

PROCESO
MAS
ROBUSTO

6s

0.002 Dpmo
(por ambos
lados)

1.5s

Cp = 2.0
Cpk = 1.5

0.62% o
6210 Dpmo

3.4 Dpmo

Cr: ndice de capacidad recproco

Es el porcentaje del intervalo de especificacin
utilizado por el proceso, en otras palabras, es el
porcentaje de las especificaciones que es usado por la
variacin del proceso.

Cr=(1/Cp)x100
Si el Cp=1.5 entonces Cr=66.67% luego el proceso
utiliza el 66.67% del ancho de las especificaciones.
Ntese que el Cr no considera procesos centrados.

Cpm : Indice de capacidad

modificado
Similar al Cp, excepto que el sigma es calculado
usando el valor nominal (Target) en lugar de la media.
Nos indica que tan bueno es el sistema para producir
dentro de especificaciones.
Cuanto mayor sea el Cpm tenemos mayor posibilidad
de que el sistema pudiera producir productos entre las
especificaciones y el valor nominal

ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO:

ATRIBUTOS
El grfico est bajo control estadstico
Proporcin de Disconformes:
Capacidad del Proceso:
Proporcin de elementos Conformes

1- P

No hay un valor establecido, pero se recomienda como

aceptable un 98 99% para imperfecciones no muy
importante y 99.9% para importantes
N de Disconformidades:
Capacidad del Proceso:
Razn de Ocurrencias de
Disconformidades por unidad
No hay valor estable