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TCNICA
GUATEMALTECA
Titulo
Mtodo de ensayo. Medicin de la velocidad de Onda-P y el espesor de placas de
concreto utilizando el mtodo Impacto-Eco (Impact-Echo)
Correspondencia
Esta norma es esencialmente equivalente a la norma ASTM C1383-04 (reaprobada en 2010) en la cual est basada, incluye la designacin propia de las
normas guatemaltecas.
Observaciones
Aprobada: 2015-11-06
Ministerio de Economa
Referencia
Info-coguanor@dsnc.gt
http://www.mineco.gob.gt
ICS 91.100.30
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Prlogo COGUANOR
La Comisin Guatemalteca de Normas (COGUANOR) es el Organismo Nacional de
Normalizacin, creada por el Decreto No. 1523 del Congreso de la Repblica del 05
de mayo de 1962. Sus funciones estn definidas en el marco de la Ley del Sistema
Nacional de la Calidad, Decreto 78-2005 del Congreso de la Repblica.
COGUANOR es una entidad adscrita al Ministerio de Economa, su principal misin
es proporcionar soporte tcnico a los sectores pblico y privado por medio de la
actividad de normalizacin.
COGUANOR, preocupada por el desarrollo de la actividad productiva de bienes y
servicios en el pas, ha armonizado las normas internacionales.
El estudio de esta norma, fue realizado a travs del Comit Tcnico de
Normalizacin de Concreto (CTN Concreto), con la participacin de:
Ing. Xiomara Sapn Roldn
Coordinador de Comit
Ing. Luis Alvarez Valencia
REPRESENTANTE ICCG
Ing. Estuardo Herrera
REPRESENTANTE CEMENTOS PROGRESO
Ing. Leonel Morales Aguirre
REPRESENTANTE CEMEX GUATEMALA
Ing. Sergio Quionez Guzmn
REPRESENTANTE PRECON
Ing. Hctor Rodolfo Orozco Avalos
REPRESENTANTE INDEPENDIENTE
Arq. Ester Maria Alfaro de Schwartz
REPRESENTANTE ARK STUDIO
Ing. Max Schwartz
REPRESENTANTE ARK STUDIO
Ing. Sergio Sevilla
REPRESENTANTE CIFA
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NDICE
Ttulo
Pgina
1.
Objeto .............................................................................................................................................. 6
2.
3.
Terminologa ................................................................................................................................... 7
4.
6.
Equipo ........................................................................................................................................... 12
7.
8.
Procedimiento ............................................................................................................................... 14
9.
11.
Equipo ........................................................................................................................................ 18
12.
13.
Procedimiento ........................................................................................................................... 19
14.
15.
16.
Reporte ...................................................................................................................................... 24
17.
18.
APNDICE ............................................................................................................................................ 26
X1. ERRORES SISTEMTICOS ...................................................................................................... 26
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2. Documentos citados
2.1. Normas NTG1 (ASTM)
NTG 41017 h17 (ASTM C597-09) Mtodo de ensayo. Determinacin de la velocidad
del pulso ultrasnico a travs del concreto.
2.2. Normas ASTM2
ASTM E1316 Terminologa para ensayos no destructivos.
3. Terminologa
3.1. Definiciones:
3.1.1. Impedancia acstica: Es el producto de la velocidad y la densidad de una
Onda-P, es utilizada en clculos de caracterizacin de ondas de esfuerzo, reflejadas
en los bordes.
3.1.2. Espectro de amplitud: Una grfica de la amplitud relativa contra la frecuencia
que se obtiene de una forma de onda utilizando la tcnica de transformada de
Fourier.
3.1.3. Transformada de Fourier: Una tcnica numrica utilizada para convertir formas
de onda digitales a partir del dominio de tiempo hasta el dominio de frecuencia.
3.1.3.1. Discusin: Los picos en el espectro de amplitud corresponden a las
frecuencias dominantes en la forma de onda.
3.1.4. Mtodo Impacto-Eco (Impact-Echo): Un mtodo de ensayo no destructivo
basado en la utilizacin de un mecanismo de impacto de corta duracin para generar
ondas de esfuerzo transitorias y el uso de un transductor receptor de banda ancha
ubicado a un costado del punto de impacto.
3.1.4.1. Discusin: Las formas de onda son convertidas al dominio de frecuencias y
espectro de amplitud resultante, es analizada para obtener las frecuencias
dominantes en la respuesta de la estructura al impacto. Estas frecuencias son
utilizadas para determinar el espesor de la estructura o la presencia de fallas.
Las normas NTG pueden consultarse en la Comisin Guatemalteca de Normas COGUANOR Calzada Atanasio
Tzul 27-32 zona 12, Guatemala
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Para las normas ASTM en referencia, visitar la pgina ASTM, www.astm.org, o contactar al servicio al cliente
ASTM service@astm.org.
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Voltios
Figura 1: Vista extendida de una porcin de una forma de onda de una onda superficial que
muestra el ancho de la seal de onda superficial como una aproximacin del tiempo de
contacto del impacto
Sansalone, M. and Streett, W.B., Impact-Echo: Nondestructive Evaluation of Concrete and Masonry (ImpactoEco: Evaluacin no destructiva de concreto y mampostera), Bullbrier Press, Ithaca, NY and Jersey Shore, PA,
1997.
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que se propaga.
3.1.7. Velocidad de Onda-P: La velocidad en la cual la Onda-P se propaga a travs
de un slido semi-infinito.
3.1.7.1. Discusin: La velocidad de la Onda-P es la misma que la velocidad de pulso
de compresin, medida de acuerdo al mtodo de ensayo NTG 41017 h17 (ASTM
C597-09).
3.1.8. Frecuencia de muestreo: El ritmo al que se registran los puntos que componen
la forma de onda; el inverso del intervalo de muestreo, expresado en Hz o
muestras/s (tambin conocido como el ritmo de muestreo)
3.1.9. Periodo de muestreo: la duracin de la forma de onda, la cual equivale al
nmero de puntos en la forma de onda, multiplicado por el intervalo de muestreo.
3.1.10. Intervalo de muestreo: La diferencia de tiempo entre cualquiera de dos
puntos adyacentes en la forma de onda.
3.1.11. Onda superficial: Una onda de esfuerzo en la que el movimiento de partculas
es elptico y la amplitud del movimiento de partculas disminuye rpidamente con la
profundidad. Tambin son conocidas como las Ondas Rayleigh (u Ondas-R).
3.1.12. Forma de onda: Un registro de seales de un transductor que grafica el
voltaje contra el tiempo.
3.1.13. Consultar la terminologa ASTM E1316 para definiciones adicionales
relacionadas con ensayos ultrasnicos no destructivos, que sea aplicables a este
mtodo de ensayo.
3.2. Definiciones de los trminos especficos de esta norma:
3.2.1. Velocidad aparente de Onda-P en una placa: 3,4 un parmetro que es 0.96 de
la velocidad de la Onda-P:
(Ecuacin 1)
Dnde:
Cp,placa = La velocidad aparente de la Onda-P en la placa, m/s, y
Cp = La velocidad de la Onda-P en el concreto, la cual es obtenida del Procedimiento A, m/s
Sansalone, M., Lin, J. M., and Streett, W. B., A Procedure for Determining P-wave Speed in Concrete for Use in
Impact-Echo Testing Using P-wave Speed Measurement Technique, (Procedimiento para determinar la
velocidad de Onda-P en concreto para su utilizacin en ensayos Impacto-Eco utilizando la Tcnica de Medicin
de Velocidad de Ondas-P) ACI Journal, Vol. 94, No. 6, Noviembre - Diciembre 1997, pp. 531539.
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(Ecuacin 2)
Dnde:
T = El espesor de la placa, m, y
= La frecuencia del modo de espesor de la Onda-P de una placa obtenida desde el espectro de
amplitud, Hz.
3.2.2. Placa: Cualquier estructura prismtica en donde las dimensiones laterales son
al menos seis veces el espesor.
3.2.2.1. Discusin: Son necesarias dimensiones mnimas laterales para prevenir que
se interfieran los modos 3 de vibracin de la placa con la identificacin del modo de
espesor de frecuencia en un espectro de amplitud. Las dimensiones mnimas
laterales y el periodo de muestreo aceptables son relacionables, como se explica en
la Nota 11.
4. Significado y uso
4.1. Este mtodo de ensayo puede ser utilizado como un substituto para, o en
conjunto con, la perforacin de ncleos para determinar el espesor de losas,
pavimentos, cubiertas, paredes u otras estructuras de placa. Existe un cierto nivel de
error sistemtico en el clculo del espesor debido a la naturaleza discreta de los
registros digitales que se utilizan. El error sistemtico absoluto depende del espesor
de la placa, el intervalo de muestreo y el periodo de muestreo.
4.2. Debido a que la velocidad de onda puede variar de un punto a otro en la
estructura, debido a las diferencias de la edad de concreto, o la variabilidad de
bachadas, la velocidad de onda es medida (Procedimiento A) en cada punto en
donde se requiere determinar el espesor (Procedimiento B).
4.3. El espesor mnimo y mximo que se puede medir est limitado por las
caractersticas del equipo de ensayo (caractersticas de respuesta del transductor y el
emisor de impactos especfico). Los lmites deben ser especificados por el fabricante
del equipo, y el equipo no debe ser utilizado ms all de esos lmites. Si el equipo de
ensayo es ensamblado por el usuario, los lmites de espesor deben ser establecidos
y documentados.
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de las Ondas-P por medio de la divisin de la diferencia del tiempo (tiempo de viaje)
por la distancia conocida entre los transductores.
6. Equipo 5
6.1. Emisor de impacto: El emisor de impacto debe ser esfrico o de punta esfrica.
Debe producir una duracin de impacto de 30 10 s con energa suficiente para
producir desplazamientos superficiales debido a la Onda-P y que puedan ser
registrados por los dos transductores. (Ver nota 1). El emisor de impacto se debe
ubicar para que pueda golpear en la lnea central pasando a travs de dos
transductores a una distancia de 150 10 mm desde el primer transductor.
NOTA 1: Se ha encontrado que bolas de acero endurecido que van desde 5 hasta 8 mm de dimetro y
unidos a una barra de resorte de acero, producen impactos adecuados.
6.2.1. Los transductores que sean aceptables deben registrarse previamente para
producir resultados precisos en placas de espesor similar a las que deben ser
medidas por este mtodo de ensayo.
6.3. Dispositivo separador: Un dispositivo separador debe proporcionarse para
mantener los transductores a una distancia de separacin establecida. Esta no debe
interferir con la habilidad de los transductores para medir los desplazamientos
superficiales. Debe ser fabricado para minimizar la posibilidad de transmitir Ondas-P
a lo largo del mismo y para prevenir la interferencia con las mediciones de tiempo de
viaje de las Ondas-P. Las puntas del transductor deben ser colocadas por separado
aproximadamente a 300 mm. Medir y registrar al 1 mm ms cercano a la distancia
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6.4. Sistema de obtencin de datos: Los equipos y programas para obtener, registrar
y procesar la salida de los dos transductores. Este sistema puede ser una
computadora porttil con una tarjeta de obtencin de datos de dos canales, o puede
ser un analizador de forma de ondas portable de dos canales.
6.4.1. La frecuencia de muestreo para cada canal debe ser de 500 kHz o mayor
(muestrear intervalos de 2 s o menos). El sistema debe ser capaz de dispararse a la
seal de uno de los canales de registro.
6.4.2. El rango de voltaje y la resolucin de voltaje del sistema de obtencin de datos
debe ser combinado con la sensibilidad de los transductores para que la llegada de la
Onda-P se determine con precisin.
NOTA 4: Por ejemplo, una tarjeta de obtencin de datos con un rango de voltaje de 2.5 V y
resolucin 12-bits ha sido encontrado adecuado para los transductores descritos en la Nota 2.
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NOTA 6: Esto puede incluir un espcimen de ensayo de referencia para el cual la respuesta de
impacto haya sido determinada y pueda ser comparada con la salida del sistema de ensayo.
7. Preparacin de la superficie
7.1. La superficie de trabajo debe estar seca. Remover toda la suciedad y escombros
de la superficie en donde se medir la velocidad de las Ondas-P.
7.2. Si la superficie de ensayo est extremadamente spera, y es difcil alcanzar un
buen contacto entre la punta del transductor y el concreto, pulir la superficie para
lograr un buen contacto.
NOTA 7: La rugosidad superficial puede ser un problema al ensayar pavimentos de carreteras o con
superficies de textura spera o acanalada. En construcciones nuevas, los componentes de curado
puede que necesiten ser removidos en las ubicaciones de ensayo para permitir un acople del
transductor y para obtener impactos de duracin corta.
8. Procedimiento
8.1. En la figura 2 se muestra un esquema para la instalacin del ensayo para el
Procedimiento A.
8.2. Ensamblar el equipo (transductores, dispositivo separador, emisor del impacto).
Verificar que el sistema de ensayo est funcionando correctamente. Posicionar el
equipo en la superficie plana, y posicionar el generador de impacto en lnea, pasando
a travs de dos transductores y a una distancia de 15010 mm desde el primer
transductor (de disparo). Si el ensayo es en una superficie spera, ensayar
paralelamente de forma que la lnea a travs de los transductores y el emisor de
impactos no se crucen dicha superficie spera. Si grietas estn presentes, se debe
posicionar el equipo para que las grietas no intersecten la lnea que pasa a travs del
punto de impacto y los dos transductores.
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8.4. Ejecutar el impacto. Examinar las formas de onda obtenidas. Si las formas de
onda de ambos transductores son vlidas, almacenar los datos para un anlisis
posterior. Si las llegadas de Onda-P no pueden ser identificadas con certeza, repetir
el ensayo en la misma ubicacin o moverse a una ubicacin diferente para alcanzar
un buen emparejamiento entre los transductores y el concreto.
Nota 9: La figura 3 es un ejemplo para ilustrar un conjunto valido de formas de onda con las flechas
posicionadas en los puntos correspondientes a las llegadas de Ondas-P en cada forma de onda. En el
caso de las llegadas de la Onda-P a las ubicaciones de los transductores, son claramente identificados
por el aumento de formas de onda por encima de los niveles del ambiente. La velocidad calculada de
una Onda-P es de 0.3/(0.000076) = 3950 m/s, la cual es un valor razonable.
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Voltios
9.3. Utilizar el tiempo de viaje, t, y el espacio medido entre los transductores, L, para
calcular la velocidad de la Onda-P:
Cp= L / T
(Ecuacin 3)
9.4. Realizar dos rplicas del ensayo en cada ubicacin del ensayo. Si el tiempo de
viaje medido es el mismo en ambos casos, entonces se puede proceder a moverse a
otros puntos de ensayo. Si dos tiempos de viaje difieren en un muestreo o ms,
realizar un tercer ensayo y aceptar el valor de tiempo de viaje que se repita como el
valor correcto. Si dos de tres mediciones no concuerdan, asegurarse que los
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11.Equipo
11.1. Emisor de impacto: El emisor de impacto debe ser esfrico o de punta esfrica.
Debe generar la energa suficiente a una placa slida para obtener un espectro de
amplitud bien definido con un pico predominante. La duracin de impacto, tc, debe ser
menor (ver inciso 3.1.5) que el tiempo de viaje de ida y vuelta para una Onda-P, esto
es:
(Ecuacin 4)
NOTA 10: Esferas metlicas endurecidas con rangos de dimetro desde 8 a 16 mm, adheridos a una
barra de resorte de acero y con generadores de impacto mecnicos de punta esfrica, se han
encontrado generadores de impacto adecuados para pavimentos tpicos de autopistas.
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11.3.4. El rango de voltaje para obtener datos debe ser tal que la amplitud de la
forma de onda sea suficientemente grande para permitir una examinacin visual de
sus caractersticas clave, como lo es la seal de la onda superficial y las oscilaciones
subsecuentes.
11.3.5. Los programas de computacin (software) se deben proporcionar para
obtener, registrar, mostrar y analizar los datos. El programa de computacin
(software) debe calcular el espectro de amplitud desde la forma de onda registrada.
El espectro de amplitud debe mostrarse inmediatamente despus que la forma de
onda haya sido capturada. Debe incluir un cursor para determinar manualmente la
frecuencia del espesor. Es permitido utilizar un programa de computacin (software)
para determinar la frecuencia del espesor.
11.3.6. El sistema de obtencin de datos debe ser operado por una fuente de poder
que no produzca ruido elctrico, el cual puede ser detectado por el transductor y el
sistema de obtencin de datos cuando el sistema est programado en el rango de
voltaje utilizado para el ensayo (ver Nota 5).
11.4. Cables y conectores, como se describe en el Procedimiento A.
11.5. Aparato para verificar la funcionalidad: Como se describe en el Procedimiento A.
12.Preparacin de la superficie de ensayo
12.1.1. Remover todos los escombros y suciedad de la superficie en donde se
determinar el espesor.
12.1.2. Si la superficie de ensayo es extremadamente spera, y no permite alcanzar
un buen contacto entre la punta del transductor y el concreto, pulir la superficie para
que se logre un buen contacto. (Ver nota 7).
13.Procedimiento
13.1. La figura 4 es un esquema de un ensayo de Impacto-Eco (Impact-Echo) en una
placa.
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Amplitud relativa
Voltios
Amplitud relativa
Voltios
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14.Anlisis de datos
14.1. Determinar la frecuencia del pico alto de amplitud en el espectro de amplitudes.
14.2. Calcular el espesor de la placa utilizando la ecuacin 2.
15.Interpretacin de resultados
15.1. Existen errores sistemticos en la determinacin de la velocidad de onda y el
espesor de las placas de concreto debido a la naturaleza digital de las formas de
onda y los espectros de amplitud. Por eso, existe un error sistemtico inherente en
los clculos de la velocidad de la Onda-P y el espesor de las placas. El apndice
provee derivadas de las expresiones, para errores sistemticos mximos.
15.2. Error sistemtico en Procedimiento A: El error sistemtico mximo en la
velocidad calculada de la Onda-P est dado por:
Ecuacin 5
Dnde:
= intervalo de muestreo, y
= Tiempo de viaje medido de la Onda-P.
15.2.1. La ecuacin 5 est basada en suposiciones en las que no existe ruido
elctrico en las formas de onda, por lo que las llegadas de las Ondas-P pueden ser
identificadas fcilmente. La figura 7 muestra un error sistemtico mximo debido al
intervalo de muestreo como una funcin del tiempo de viaje. Reportar la velocidad de
la Onda-P calculada de acuerdo a la ecuacin 3 como sigue:
Ecuacin 6
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Figura 7: Error sistemtico mximo debido al intervalo de muestreo como una funcin del
tiempo de viaje.
Ecuacin 7
Dnde:
= El intervalo de frecuencia en el espectro de amplitud,
= La frecuencia correspondiente al pico de amplitud alto en el espectro de amplitud.
15.3.1. La figura 8 muestra el error sistemtico mximo en el espesor calculado
debido a la resolucin de la frecuencia como una funcin de la frecuencia medida.
Una frecuencia alta corresponde a espesores bajos, y existe un menor error
sistemtico en el espesor calculado a medida que el espesor disminuye.
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Figura 8: Error mximo sistemtico debido al intervalo de frecuencias como una funcin del
espesor de frecuencia.
Ecuacin 8
15.5. Reporte del espesor: Reportar el espesor de la placa, el cual puede ser
calculado de acuerdo a la ecuacin 2, como se describe a continuacin:
Ecuacin 9
16.Reporte
16.1. Reportar los parmetros de obtencin de datos que fueron utilizados. Estos
incluyen el intervalo de muestreo, el rango de voltaje, la resolucin de voltaje, el
nmero de puntos en la forma de onda, y el intervalo de frecuencia en el espectro de
amplitud.
16.2. La ubicacin de cada punto de ensayo en la estructura, una descripcin de la
condicin de la superficie de ensayo, y si fue requerido pulir la superficie.
16.3. Para losas de cimentacin de concreto, reportar el tipo de material que soporta
la losa, si se conoce.
7
Ku, H.H., Notes on the Use of Propagation of Error Formulas, (Anotaciones en la Utilizacin de Formulas de Propagacin de Error) Journal of
Research of the National Bureau of StandardsC. Engineering and Instrumentation, Vol 70C, No.4, October-December 1966.
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- ltima lnea-.
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APNDICE
(Informacin no obligatoria)
X1. ERRORES SISTEMTICOS
X1.1 General
X1.1.1 Este mtodo de ensayo est basado en la utilizacin de muestreo digital y
mtodos de anlisis de seales digitales. Como resultado, el dominio de tiempo de
formas de ondas y espectros de amplitud son compuestos por puntos discretos con
espaciadores unidos que dependen de los parmetros de obtencin de datos. Esto
resulta en errores sistemticos entre las medidas de tiempos de viaje o espesor de
frecuencias y sus valores reales. La siguiente seccin explica cmo se determinan los
valores mximos de estos errores sistemticos. Por estos errores sistemticos, las
velocidades de Ondas-P y el espesor de placas obtenidas por este mtodo de ensayo
se reportan como rangos de valores.
X1.2 Error sistemtico en la velocidad de Onda-P
X1.2.1 La figura X1.1 muestra un esquema de la parte temprana de las formas de
onda (voltaje versus tiempo) obtenido desde dos transductores en el Procedimiento A.
Los crculos slidos representan los puntos registrados por el sistema de obtencin de
datos. Las lneas solidas representan los desplazamientos superficiales reales como
una funcin del tiempo. El tiempo de viaje es medido como la diferencia de tiempo t
entre los dos puntos en los que los voltajes crecen por encima de los valores del
ambiente. El tiempo de viaje medido difiere del tiempo de viaje real t. De la figura
X1.1, se pude mostrar que:
Ecuacin X1.1
Ecuacin X1.2
El error relativo en la velocidad de la Onda-P calculado debido a las diferencias entre
la medicin y el tiempo de viaje real, puede ser obtenido como a continuacin se
describe:
Ecuacin X1.3
El valor mximo absoluto del error ep ocurre ya sea cuando 1 = 0 y 2 = t o cuando
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1 = t y 2 = 0. Cuando 1= 0 and 2 = t:
Ecuacin X1.4
Cuando 1 = t y 2 = 0:
Ecuacin X1.5
Por lo tanto, el error sistemtico mximo en la velocidad de una Onda-P debido al
muestreo en el dominio de tiempo es:
Ecuacin X1.6
X1.2.2 La derivacin anterior asume que las dos formas de onda son obtenidas por
muestreos simultneos de dos canales. La figura X1.2 es un esquema de las formas
de onda obtenidas por un sistema de obtencin de datos que muestrea
alternadamente los dos canales. Se puede mostrar que el error sistemtico mximo
es el mismo que el dado por la ecuacin X1.6 siempre que el intervalo de muestreo
sea el intervalo de tiempo entre los puntos adyacentes en cada una de las formas de
onda.
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Ecuacin X1.7
Dnde:
T= Espesor calculado basado en el espesor de frecuencia medido, f, y
T= Espesor calculado basado en el espesor de frecuencia real, f .
El valor absoluto de la diferencia mxima entre f y f es f/2. Por lo tanto, el error
sistemtico mximo en el espesor calculado debido al intervalo de frecuencia en el
espectro de amplitud es:
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Ecuacin X1.8
Ecuacin X1.9
X1.4.2 El error relativo en el espesor de las placas debido a las dos fuentes de error
sistemtico es como de la siguiente manera:
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Ecuacin X1.10
Que puede ser simplificado de la siguiente manera:
Ecuacin X1.11
Para valores pequeos de | |
Ecuacin X1.12
Por lo tanto para tener en cuenta el error sistemtico que es inherente a este mtodo
de ensayo, reportar el espesor calculado de acuerdo a la ecuacin 2 de la siguiente
manera:
Ecuacin X1.13
- Fin del apndice-.