MODIFICACION DEL CKT MUESTREADOR

1CKT muestreador con DG201

2CKT muestreador con CD4069 y CD4016 en reemplazo

del DG201

CKT muestreador sin el Retenedor

CKT muestreador con Retenedor

Laboratorio de Control Digital

Prctica 1
Muestreadores y Retenedores
Tema:
Efectos de cuantizacin y muestreo

Objetivos
- El alumno implementar un dispositivo de muestreo y un dispositivo de retencin para
comprobar dos de los procesos empleados en la discretizacin de seales analgicas.
- El alumno analizar las variaciones que se producen en ambos procesos al cambiar los
parmetros del sistema para diferentes seales de entrada.
Procedimiento Experimental
1. Implemente el circuito de la figura 1.5, el cual realiza la operacin de
muestreo sobre la seal Ve(t) y genera una seal muestreada Ve*(t), este
circuito consta de las siguientes partes:
Generador de pulsos de muestreo en configuracin astable.
Interruptor analgico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.

2. Calibre el generador de funciones con una seal Ve (t) = 2.5 Sin 6283.18 t.
Ve (t) = A Sin (w*t)
A=2.5v
entonces. Vpp=5v
w=2*pi*f
entonces: f=1kHz
3. Pruebe el sistema por partes, verificando el correcto funcionamiento de
cada una de ellas.
Generador de pulsos de muestreo. (Terminal 3 del LM555)

Interruptor analgico controlado por pulsos.

Est conformado por el switch bidireccional (CD4016) y un inversor (CD4069)

4. Compruebe y explique el funcionamiento del proceso de muestreo para las

seales de entrada triangular y cuadrada adems de la seal senoidal del
punto anterior.

Consiste en tomar muestras de una seal analgica a una frecuencia o tasa de

muestreo constant.
Para la seal triangular:

Para la seal cuadrada:

Para la seal senoidal:

5. Mida los valores de periodo de muestreo (T) y el tiempo de muestreo (p)

mnimo y mximo de la seal de salida del generador de pulsos variando el
potencimetro P1 a su valor mnimo y a su valor mximo.
El intervalo de tiempo T entre dos muestras sucesivas se denomina periodo de muestreo o
intervalo de muestreo.

Segn la figura observamos tiempo minino: T=850us

Tiempo de muestreo 1.22us

Segn la figura observamos periodo: T=37.25us

Tiempo de muestreo 1.25us

Fmin

T=850us

Periodo y tiempo de
muestreo (p)

Tiempo de muestreo
1.22us
Fmax

T=37.25us
Tiempo de muestreo
1.25us

6. Indique cual es la frecuencia de muestreo mnimo y mximo que se puede

obtener.

Periodo de muestreo
Frecuencia mnima
Periodo(T)
Tiempo de muestreo (P)
Frecuencia mxima
Periodo(T)
Tiempo de muestreo(P)

(T)mnimo y mximo
600Hz
1.36
7.5useg
12kHz
71.7mseg
7useg

7. Empleando el teorema de Nyquist determine la frecuencia mxima de la seal

de entrada Ve (t) que puede ser muestreada con este sistema.

f> 2*fe
fe= 24KHz
8. Vare la frecuencia de la seal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a
50KHz y observe el comportamiento simultneo de las seales de entrada Ve(t) y
de salida Ve*(t), ajuste el valor de frecuencia para obtener un proceso de
muestreo equivalente.(Aliasing o Seal de salida que no es muestreada
adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para
representarla). Grafique las seales para cada punto y anote los rangos de
funcionamiento de cada una de las etapas, es muy importante llegar a una
conclusin prctica de porque con este tipo de circuito no se puede llegar a
muestrear seales de cualquier frecuencia o amplitud.

Usamos una frecuencia de 30KHz para la seal senoidal y la respuesta grafica es

la siguiente :

Existe una insuficiencia de la frecuencia de muestreo, razn por la cual la seal

muestreada no logra representar la forma de la seal de entrada ya que la
mxima frecuencia de entrada debera de ser de 4KHz si nuestra frecuencia de
muestreo es de 8KHZ ya que debe de cumplir
Fs > 2*4KHz = 8KHz
Por lo tanto se produce un Aliasing.
Utilizando el teorema de Nyquist la frecuencia mnima de muestreo para una seal
de 30KHz es de > 68KHz, pero el inconveniente para este circuito es que la
mxima frecuencia de muestreo
posible es de 13071.8 Hz, por lo que es
insuficiente.
El Teorema de Nyquist define a Fs como 2/T , donde T es el periodo de muestreo y
f como la componente de mayor frecuencia presente en la seal de tiempo
continuo x(t) y la x*(t) como la seal muestreada .Solo se podr reconstruir
completamente x(t) a partir de x*(t) si durante el periodo de muestreo se
cumple con la condicin de que Fs sea mayor a 2*f, esto es :
Fs > 2*f
El incumplimiento de este teorema al momento del muestreo introduce distorsiones
a la seal muestreada y utilizada de esta forma puede crear errores al momento de
reconstruir la seal o en el tratamiento de ella. Estos inconvenientes generalmente
son el doblamiento, traslape y oscilaciones escondidas de la seal original;
comnmente llamados fenmenos de Aliasing.
9. Retire la resistencia R3 de 0.27 K que est conectada a la terminal 3 del
interruptor analgico, ya que afecta el comportamiento del circuito retenedor
que se adicionar a la salida del muestreador y regrese la seal de entrada a su
valor de amplitud y frecuencia original Ve(t) = 2.5 Sen 6283.18 t.
Vpp=5v
f=1kHz
10. Aada el circuito de la figura 1.6 a la salida del circuito de la figura 1.5, el
cual realizar la funcin de retencin y observe la seal de salida Vs(t) del
circuito 1.6 y como se relaciona con la entrada Ve(t). Anote los comentarios en
cuanto a las formas obtenidas as como las grficas correspondientes, haciendo
las pruebas tambin para seales de diferentes tipos y frecuencias (triangular y
cuadrada).

La funcin de operacin del retenedor es reconstruirla seal analgica que llegado

a la entrada como un tren de impulsos muestreados. El propsito de la operacin
de retencin es rellenar los espacios entre los periodos de muestreo y as
reconstruir de forma aproximada la seal analgica de entrada original.

El circuito de retencin se disea para extrapolar la seal de salida entre puntos

sucesivos de acuerdo con alguna manera preestablecida. La forma de onda de
escalera (figura 1) de la salida, es la forma ms sencilla para reconstruir la seal de
entrada original. El circuito de retencin que produce dicha forma de onda de
escalera se conoce como retenedor de orden cero.

Retencin para la seal senoidal:

Retencin para la seal triangular:

Retencin para la seal cuadrada:

CUESTIONARIO

Investigue el concepto de Aliasing y explique la relacin que tiene con

respecto al muestreo de seales analgicas.

El Teorema de Nyquist define a Fs como 2/T , donde T es el periodo de muestreo y f

como la componente de mayor frecuencia presente en la seal de tiempo continuo x(t) y la
x*(t) como la seal muestreada .Solo se podr reconstruir completamente x(t) a partir de
x*(t) si durante el periodo de muestreo se cumple con la condicin de que Fs sea mayor a
2*f, esto es :
Fs > 2*f
El incumplimiento de este teorema al momento del muestreo introduce distorsiones a la
seal muestreada y utilizada de esta forma puede crear errores al momento de
reconstruir la seal o en el tratamiento de ella. Estos inconvenientes generalmente son el
doblamiento, traslape y oscilaciones escondidas de la seal original; comnmente llamados
fenmenos de Aliasing.
Cuando la velocidad de muestreo es muy baja en relacin con la frecuencia de la seal
muestreada, se produce un efecto conocido como seal fantasma (ghost signal) o aliasing.
Si la frecuencia de muestreo es muy baja y el tiempo de adquisicin de la seal muy corto,
habr problemas de resolucin y la posible aparicin de frecuencias fantasma que los
registros indicarn, pero que realmente no existen en el movimiento vibratorio.
Para evitar este fenmeno de establece una frecuencia de muestreo de cuando menos 2 a
2,5 veces la mayor frecuencia esperada del movimiento vibratorio. Tambien deben
utilizarse filtros (normalmente en el dispositivo acondicionador) que no permitan el paso de
frecuencias fuera del intervalo de inters, as como atenuadores de amplitud para
frecuencias altas.

Obtenga la funcin de transferencia del retenedor empleado en la prctica

indicando de qu tipo es y explicando su funcionamiento.

Se trata de un circuito retenedor de orden 0, que est conformado por un filtro pasa
bajos de primer orden para el circuito retenedor.

1
Vout
RC
=
Ve (KT ) s+ 1
RC
Reemplazando con los valores del circuito tenemos:

Vout
10 6
=
Ve (KT ) s+10 6
Resolviendo en el dominio en el tiempo tenemos:
t
RC

Vout =Ve ( KT )(1e )

6

donde RC =10

Calcule el valor de la constante de tiempo del retenedor y el tiempo de

carga del capacitor al 98% de su valor de carga inicial.
Resolviendo en el dominio en el tiempo tenemos:
t

Vout =Ve ( KT )(1e RC )

donde RC =106

Si la carga esta al 98% entonces tenemos que :

98/100*C*V=C*V*
98/100=(1-exp(-t/0.1K*1nf)
(98/100) - 1 = - exp(-t/RC)
-2/100 = exp(-t/RC)
Ln(2/100) = ln (exp(-t/RC))
Ln (2/100) = - t / RC
-3.91 = - t / RC
t = 3.91*0.1K*1nf
t = 0.39 us

Verifique que se cumple la relacin de tiempos siguiente , para el punto

mximo de frecuencia de muestreo .
5t < p < T

P es mucho menor que T, entonces es adecuado el muestreo de nuestra seal.

Periodo de muestreo
Frecuencia minima
Periodo(T)
Tiempo de muestreo (P)
Frecuencia mxima
Periodo(T)
Tiempo de muestreo(P)

(T)minimo y mximo
600Hz
1.36
7.5useg
12kHz
71.7mseg
7useg

Explique de manera grafica lo que sucedera si la frecuencia de muestreo

es elevada y la constante de tiempo RC del retenedor es mayor al
periodo de muestreo T .

Si la frecuencia de muestreo es elevada y el tiempo RC es muy grande entonces el tiempo

de carga del condensador ser tan grande que cuando empiece a descargar el voltaje
acumulado en el condensador ser muy pequeo hasta el punto que tienda a cero , por
tanto la salida ser de 0 voltios , esto lo podemos comprobar grficar:
Cuando RC>T

La grafica muestra y se puede ver que la seal muestreada es buena ya que la frecuencia
de muestreo es elevada

Describa los procesos de muestreo de orden multiple , de ritmo mltiple

y aleatorio .

Muestreo Peridico: es el ms usual, los instantes de muestreo estn igualmente

espaciados cada T segundos, sea T = KT, T: es el periodo de muestreo, con K
=0,1,2,3,
Muestreo de Orden Mltiple: El patrn de tK`s se repite peridicamente: tK + rtK = constante, para todo tK.
Muestreo Mltiple: Sistemas de mltiples lazos que debido a la dinmica de cada
lazo requieren diferentes periodos de muestreo.
Muestreo Aleatorio: La variable tK es una variable aleatoria.

Calcule los parmetros de tiempo del oscilador en modo estable

implementando con el circuito LM555 de la practica y comprelos con los
obtenidos prcticamente . Para este paso refirase a la hoja tcnica del
dispositivo LM555 donde se especifican las ecuaciones de
funcionamiento.

Utilizando la formula dada por el fabricante del dispositivo tenemos que:

LM555 .

F=

1.44
C (2 RB + R A )

Reemplazando estos valores

R A =1 K
RB =0.1 K
C=0.1uF;
Reemplazando tenemos:

F=

1.44
0.1u(20.1 K +1 K )

F=12000Hz=12KHz.
Vemos que el resultado es el mismo al compararlos .