You are on page 1of 9

UNIVERSIDAD DE LAS FUERZAS ARMADAS -ESPE

SEDE SANGOLQU - ECUADOR

CARRERA:
INGENIERA MECATRNICA

TEMA:
LABORATORIO 2.2

ALUMNOS:
ARMIJOS JOHANNA
CHIMBO JAIME

DOCENTE:
ING. TOBAR JOHANNA

Quito, 18 de diciembre del 2015


1

INDICE DE CONTENIDO
1.

Tema de la prctica: ADQUISICIN DE DATOS DE ELECTROMIOGRAFA ................. 3

2.

Marco terico........................................................................................................................... 3

a)

Periodo de muestreo............................................................................................................. 3

b)

Formas de calcular el periodo de muestreo.......................................................................... 4

El Teorema del Muestreo (Uniforme) de Nyquist-Shannon ........................................................... 4


c)

Electromiografa .................................................................................................................. 4

d)

Instrumentacin digital ........................................................................................................ 4

3.

PROCEDIMIENTO ................................................................................................................ 5

a)

De acuerdo al circuito diseado en la prctica anterior, y los datos obtenidos, obtener la

funcin de transferencia de la planta. ............................................................................................. 5


Calcular el periodo de muestreo de acuerdo a la funcin de transferencia obtenida. ..................... 6
Realizar un algoritmo para tratar la seal electromiogrfica. ........................................................ 6
4.

Preguntas:................................................................................................................................ 7

Explique de qu manera afecta el periodo de muestreo en la adquisicin de datos. ...................... 7


Se obtuvieron buenos resultados al cambiar los valores del circuito de acondicionamiento? Por
qu? ................................................................................................................................................. 8
Cules son las ventajas y desventajas de la instrumentacin digital? ........................................... 8

INDICE DE ILUSTRACIONES
Ilustracin 1. Sistema de instrumentacin digital. (Wikipedia, 2015)............................................ 5
Ilustracin 2. Modelado de la funcin de transferencia. ................................................................. 6
Ilustracin 3. Algoritmo para tratar la seal electromiogrfica. ..................................................... 6
Ilustracin 4. Etapa de amplificacin.............................................................................................. 8

INDICE DE TABLAS
Tabla I. Tabulacin de datos para obtener la funcin de transferencia. ......................................... 5

1. TEMA DE LA PRCTICA: ADQUISICIN DE DATOS DE ELECTROMIOGRAFA


2. OBJETIVOS

Determinar la funcin de transferencia de la seal obtenida en la electromiografa.

Calcular el periodo de muestreo ms adecuado para la seal

3.

MATERIALES Y EQUIPOS:

Materiales:

Resistencias (de acuerdo al circuito de acondicionamiento)

Capacitores (de acuerdo al circuito de acondicionamiento)

Led

Amplificadores de instrumentacin

Cables

Protoboard

Arduino

Electrodos

Herramientas:

Multmetro

Fuente DC

Computador

Matlab

Osciloscopio

3. MARCO TERICO
a) Periodo de muestreo
El intervalo de tiempo T entre dos muestras sucesivas se denomina periodo de muestreo o
intervalo de muestreo. De donde:
=

Fs se denomina frecuencia de muestreo y est dada en muestras por segundo. (Gonzalez


Ocampo)

b) Formas de calcular el periodo de muestreo


El Teorema del Muestreo (Uniforme) de Nyquist-Shannon
Sea s(t) una seal limitada en banda, que no tiene componentes espectrales mayores que
la frecuencia fm en Hz. El Teorema del Muestreo Uniforme indica que s(t) queda determinada
de forma nica (sin prdida de informacin) por sus valores a intervalos uniformes de tiempo
1

menores o iguales que 2 segundos. Es decir, la frecuencia de muestreo fs debe de ser:


2
A la frecuencia 2fm se le conoce como frecuencia de muestreo de Nyquist. (Gonzlez
Ruiz, 2015)
c) Electromiografa
Es una prueba diagnstica neurofisiolgica cuya realizacin tiene como finalidad conocer
el funcionamiento del sistema nervioso perifrico (msculos y nervios y nervios que los inervan),
lo que permite determinar si tal funcionamiento es adecuado o no, es decir, si la situacin es
normal o hay alguna alteracin patolgica.
Consiste en el registro grfico de la actividad elctrica de los diferentes msculos del
cuerpo. (Saludemia, 2015)
d) Instrumentacin digital
Se encarga del diseo y manejo de los aparatos electrnicos y elctricos, sobre todo para
su uso en mediciones.
Se aplica en el sensado y procesamiento de la informacin proveniente de variables
fsicas y qumicas, a partir de las cuales realiza el monitoreo y control de procesos, empleando
dispositivos y tecnologas electrnicas. (Wikipedia, 2015)

Ilustracin 1. Sistema de instrumentacin digital. (Wikipedia, 2015)

4. PROCEDIMIENTO
a) De acuerdo al circuito diseado en la prctica anterior, y los datos obtenidos, obtener la
funcin de transferencia de la planta.
Tabla I. Tabulacin de datos para obtener la funcin de transferencia.

Tiempo [ms]
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
130
140

Entrada escaln
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8
8

Voltaje [V]
0
0
0
0
0,06393939
1,53454545
2,11
2,11
2,11
2,11
0,31557185
0
0
0
0
5

Ilustracin 2. Modelado de la funcin de transferencia.

Calcular el periodo de muestreo de acuerdo a la funcin de transferencia obtenida.


( ) =

128.56
(1 + (0.016168 )2 )(1 + 0.0067071 )

Realizar un algoritmo para tratar la seal electromiogrfica.

Ilustracin 3. Algoritmo para tratar la seal electromiogrfica.

El algoritmo desarrollado es un acondicionamiento que compara la seal medida con el


valor de 2, nos permite condicionar que la seal producida sea lo suficiente como para producir
un voltaje mayor a 2 voltios para graficar un pulso, caso contrario si la seal no es fuerte no
grafica ningn valor.

TABULACION DE DATOS
CIRCUITO ORIGINAL
HMI
MEDIDO
3,20
3,30
2,92
3,31
2,95
3,32
2,94
3,31
2,93
3,33
2,94
3,30
2,93
3,32
2,93
3,31
CIRCUITO CON CAMBIOS
HMI
MEDIDO
2,90
3,22
2,90
3,30
2,92
3,30
2,91
3,27
2,92
3,30
2,91
3,29
2,92
3,30
2,93
3,29
5. PREGUNTAS:
Explique de qu manera afecta el periodo de muestreo en la adquisicin de datos.
Un perodo de muestreo grande har que el controlador reaccione con lentitud a
perturbaciones, lo que inestabilidad el sistema. Aumenta la sobre oscilacin y disminuye el
amortiguamiento. Un perodo de muestreo pequeo provocar una prdida de tiempo al obligar a
calcular la misma accin de control infinidad de veces

Se obtuvieron buenos resultados al cambiar los valores del circuito de acondicionamiento?


Por qu?
Se cambi la resistencia de la etapa de amplificacin mostrada en la Ilustracin 4.
Inicialmente se tena una resistencia de 1k la cual fue reemplazada por una de 100 y los
resultados fueron ms sensibles, es decir bastaba con mover la mano ligeramente para que el led
se encendiera.

Ilustracin 4. Etapa de amplificacin.

Ganancia inicial:
=

1
100
=
= 100
8
1

Ganancia final:
=

1
100
=
= 1000
8
100

Cules son las ventajas y desventajas de la instrumentacin digital?


Ventajas
En la instrumentacin digital es ms fcil el realizar cambios ya que se la puede realizar a
nivel de software. (Wikipedia, 2015)
Se puede comunicar con cualquier ordenador siempre y cuando tenga un software que
permita visualizar los datos.
8

Se puede medir cualquier variable fsica o qumica ya que esta instrumentacin usa
sensores.
Desventajas
La calibracin puede llegar a ser deficiente.
Tendencia a ruidos.
Puede llegar a tener hardware extenso.

6. CONCLUSIONES

La funcin de transferencia ha sido obtenida mediante pruebas del circuito en


donde se utiliz un periodo de muestreo de 10ms para tomar los datos
correspondientes al pulso que se genera, estos datos nos permitieron obtener la
funcin de transferencia conjuntamente con la herramienta de Matlab Ident con la
cual se obtuvo una funcin con una aproximacin del 70.04% al comportamiento
del circuito ante una entrada impulso de 8 mV.

Para evitar el efecto de aliasing en un sistema se debe escoger adecuadamente el


periodo de muestro.

7. BIBLIOGRAFA
Gonzalez Ocampo, J. A. (s.f.). UNAL. Recuperado el 17 de diciembre de 2015, de Universidad
Nacional

de

Colombia:

http://www.virtual.unal.edu.co/cursos/sedes/manizales/4040003/lecciones/cap5lecc8.htm
Gonzlez Ruiz, V. (octubre de 05 de 2015). UAL. Recuperado el 17 de diciembre de 2015, de
Universidad

de

Almeria:

http://www.ual.es/~vruiz/Docencia/Apuntes/Signals/Sampling/index.html
Saludemia.

(2015).

Saludemia.

Recuperado

el

17

de

diciembre

de

2015,

de

http://www.saludemia.com/-/prueba-electromiograma
Wikipedia. (07 de octubre de 2015). Wikipedia. Recuperado el 17 de diciembre de 2015, de
https://es.wikipedia.org/wiki/Instrumentaci%C3%B3n_electr%C3%B3nica