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LA PHYSIQUE DES MATERIAUX

Chapitre 3

DIFFRACTION DES RAYONS X

PAR LES SOLIDES
Pr. A. Belayachi
Universit Mohammed V Agdal Facult
des Sciences Rabat
Dpartement de Physique - L.P.M
belayach@fsr.ac.ma
1

1. Etude de la diffraction cristalline

1.1 Condition de diffraction par les rseaux
Les distances interatomiques di typiques dans un
solide sont de lordre de langstrm (1 =10-10 m).
Pour sonder la structure microscopique dun solide
laide dune onde lectromagntique, il faut que sa
longueur donde soit du mme ordre de grandeur, ce
qui correspond une nergie:
E = =

De telles valeurs sont caractristiques des nergies

des rayons X.
2

 La diffraction des rayons X par un rseau rigide

et priodique datomes ou dions rvle leurs
positions lintrieur de la structure. Il existe
deux mthodes qui permettent dtudier la
diffraction des rayons X par une structure
priodique. Elles sont dues Bragg et von Laue.
Lapproche de Bragg (1890-1971) est dusage
courant chez les cristallographes spcialistes des
rayons X mais celle de von Laue (1879-1960) qui
exploite le rseau rciproque est plus proche de la
thorie moderne de la physique de ltat solide. On
montrera que les deux faons sont parfaitement
quivalentes.
3

1.2 Le faisceau incident

Dautres rayonnements que les rayons X peuvent tre
utiliss pour tudier les structures cristallines comme les
neutrons et les lectrons. Le contrle de lnergie dun
faisceau de neutrons ou dlectrons permet de
dterminer la longueur donde. Si on appelle Mn la masse
dun neutron et me la masse de llectron on peut crire:

=

Dans ce qui suit on se limitera la diffraction des rayons

X, des exemples simples sur la diffraction des neutrons et
des lectrons sont donns dans la srie de travaux dirigs.
4

1.3 Observation de la diffraction des rayons X par

un rseau
q

Lorsquon claire un cristal avec un faisceau

incident de rayons X la lumire nest diffracte
que pour des angles q bien dfinis. Le
diagramme des raies de diffraction dpend de la
technique exprimentale utilise (TP cours 3).
5

1.3.1 Mthode de Laue

Un monocristal est maintenu immobile dans un
faisceau polychromatique de rayons X. Le cristal
diffracte seulement les ondes pour lesquelles la loi de
Bragg est vrifie (TP cours 3).

1.3.2 Mthode du cristal tournant

On fait tourner un monocristal autour d'un axe situ
sur le trajet d'un faisceau monochromatique de
rayons X ou de neutrons (TP cours 3).
6

1.3.3 Mthode des poudres

Le
rayonnement
utilis
est
un
faisceau
monochromatique des rayons X. Lchantillon est
constitu de grains fins dposs sur une lame de verre
ou dans un tube capillaire. La mthode des poudres
comprend deux variantes: la chambre de DebyeSherrer et le diffractomtre poudre (TP cours 3).

Comment est produit un diagramme de diffraction de

poudre (TP cours 3)?
7

2. Formulation de Bragg de la diffraction

des rayons X
W. L. Bragg expliqua la diffraction des rayons X
en considrant un cristal comme compos de
plans rticulaires parallles semi-rflchissant
caractriss par leurs indices de Miller et spars
dune
distance
d(h,k,l).
Les
conditions
dobtention dun pic aigu de rayonnement
diffract taient que:
les rayons X devaient tre rflchis comme par
un miroir par les ions ou atomes de chaque plan;
les rayons rflchis par des plans successifs
devaient interfrer de manire constructive.
8

Rflexion de Bragg partir dune famille

particulire de plans rticulaires spars par une
distance d. Les rayons incidents et diffracts sont
reprsents pour les deux plans voisins.
9

La diffrence de marche entre deux rayons est

gale 2dsinq o q est langle dincidence
mesur de manire conventionnelle, partir du
plan de rflexion plutt qu partir de la
normale ce plan comme cest le cas en optique
classique.
Pour les rayons qui interfrent de manire
constructive, cette diffrence de marche doit tre
un multiple de la longueur donde:

Lentier n est appel ordre de la rflexion

correspondante.
10

Pour un faisceau donn on peut non seulement observer des

rflexions dordre plus lev partir dun ensemble donn de
plans, mais il faut savoir qu il existe de nombreuses faons de
dcomposer le cristal en plans chacune delles produisant de
nouvelles rflexions.

Quelques plans (ambrs) dun rseau de Bravais cubique

simple; (a) et (b) montrent deux manires diffrentes de
reprsenter le rseau en tant que famille de plans rticulaires.
11

La mme portion du rseau de Bravais sur les deux figures avec

une dcomposition diffrente en plans rticulaires. Le rayon
incident est le mme mais les directions des rayons diffracts
sont diffrentes. Des rflexions sont possibles, en gnral, quelle
que soit la manire de dcomposer le rseau en plans.
12

3. Formulation de von Laue de la

diffraction des rayons X
Dans cette formulation on considre le cristal
comme compos dobjets microscopiques
identiques placs sur les sites dun rseau de
Bravais
chacun
pouvant
rmettre
le
rayonnement incident dans toutes les directions.
Des pics aigus sont observs seulement dans des
directions et pour des longueurs dondes pour
lesquelles les rayons diffuss par tous les points
du rseau interfrent de manire constructive.
13

Comment valuer la diffrence de marche?

q
. = .

Illustration de la diffrence de marche entre deux rayons

diffuss par deux points spars par une distance .
14

Daprs la figure prcdente, la diffrence de marche totale

entre les deux rayons est:
= . + . = .
La condition dinterfrence constructive est que d soit un
multiple entier de la longueur donde, il existe un entier
naturel m tel que:
. = .
. =
La condition doit tre valable pour tous les vecteurs ,
cest--dire pour les nuds du rseau de Bravais, donc
pour tout vecteur de translation du rseau, do:
. =

=
15

Donc le vecteur est un vecteur du rseau

rciproque.

Il existe un vecteur du rseau rciproque tel que:

=
=
On pose = , ce qui donne:
=
Dans une telle rflexion lchantillon cristallin recule
avec une quantit de mouvement , ce qui permet
la quantit de mouvement totale du
systme (cristal + photon) de rester gale du
systme dans ltat initial avec le cristal au repos.
16

4. Equivalence des formulations de Bragg et

von Laue
Lquivalence de deux critres dobtention dune
interfrence constructive de rayons X par un cristal
dcoule de la relation entre les vecteurs du rseau
rciproque et les familles des plans du rseau direct.
Supposons que les vecteurs donde incident et diffus,
et , satisfont la condition de Laue:
- = = , ,
- , , est perpendiculaire au plan , , ;

- ==

- les vecteurs donde et font le mme angle q

avec le plan , , .
17

Do la construction:

De plus:

= . .

On en dduit:
. . = .
Qui est la condition de Bragg.
18

5. Construction dEwald
Dans lespace de Fourier des vecteurs
donde, les deux rgles suivantes:
= = , ,
=
peuvent se prsenter gomtriquement.
Etant donn un vecteur donde incident ,
on trace une sphre autour du vecteur
centre sur lorigine de comme le montre
la figure ci-dessous.
19

Des pics de diffraction correspondants des vecteurs de

rseau rciproques seront observs si et seulement si
donne un point du rseau rciproque situ la surface de
la sphre. Un tel vecteur est indiqu sur la figure, ainsi que
le vecteur donde du rayon de Bragg rflchi.
20

Reprenons la condition de diffraction:

=
= +
On lve la relation au carr, on obtient alors:
= + . +
Puisque = , on obtient:
. + =
On remplace le vecteur par (si est un
vecteur du rseau rciproque lest aussi), la
relation prcdente scrit alors:
. =
21

Quon peut crire sous la forme:

.
=

Si on construit le plan perpendiculaire au vecteur

en son milieu, tout vecteur amen de lorigine
ce plan satisfera la condition de diffraction de
Bragg. Le plan ainsi dcrit forme une partie de la
frontire dune zone de Brillouin. La premire
zone de Brillouin est le plus petit volume
entirement compris entre les plans mdiateurs
des vecteurs du rseau rciproque tracs partir
de lorigine.
22

Les vecteurs et satisfont tous les deux la

condition de Bragg car pour les deux :

.
=

23

6. Amplitude diffuse et facteur de structure

6.1 Diffusion par une particule charge
Considrons un lectron de charge et de rayon clair
par une onde lectromagntique de longueur donde l de
vecteur donde incident dintensit incidente I0.

Lintensit diffuse par unit dangle solide est donne par:

()

= . .

On pose:
+ ()
=

24

Lamplitude diffuse rapporte lamplitude de

londe incidente appele facteur de Thomson est
donne par:
=

= ()

6.2 Diffusion par un atome

Les lectrons de latome sont en mouvement et sont
lis latome. Dans les rsultats du paragraphe
prcdent on remplace llectron ponctuel par
llment de charge:
= .
: tant la densit de charge lectronique;
: lment de volume.
25

Lamplitude diffuse dans la direction q par unit

de volume est :
= . . .
: dphasage introduit par le fait que les
missions de chaque lectrons sont cohrentes.

= = .

26

Lamplitude diffuse par latome scrit:

=

. .

. .

. .

: est la transforme de Fourier de la densit

lectronique. On appelle pouvoir diffusant de
latome la grandeur f dfinie par:
= .
Lamplitude diffuse par latome scrit alors:
= .
27

6.3 Diffusion par un cristal

Lamplitude diffracte par le cristal sera celle de de
lensemble des atomes constituant le cristal. Elle est
proportionnelle la transforme de Fourier de la
densit lectronique du cristal.
On considre le cristal comme la rptition trois
dimensions dune maille contenant plusieurs motifs.
On note:
: la position du jme atome par rapport lorigine
de la maille.
: la position de la nme maille par rapport
lorigine du cristal.
Lamplitude diffuse par le cristal scrit alors:
28

. +

=
=

.
.

est appel facteur de structure, il reprsente la

contribution dune maille lamplitude diffuse.
29

Le facteur de structure reprsente aussi le

nombre fictif dlectrons que contiendrait la
maille pour reproduire l'amplitude diffracte
dans la direction .
: est appel facteur de forme, il est li la
taille du cristal.
La condition de diffraction est:
= , ,

tant un vecteur du rseau rciproque. On

montre que lamplitude de londe diffuse scrit
sous la forme:
30

 = . . . .

, ,

C : Constante incluant le rayonnement primaire ;

m : la multiplicit gale au nombre de feuilles de
plans donnant lieu la mme diffraction ;
L : facteur de Lorentz ;
P : facteur de polarisation ;
A : Constante dabsorption par lchantillon ;
W : Volume de lchantillon ;
, , : facteur de structure corrig.
31

6.4 Facteur de structure

Le facteur de structure , , , appel facteur de
structure de la base ou motif, est dfini par (TP
cours 3):
=

, , =

. + . + .
=

: nombre datomes de la base;

: appel facteur de forme atomique qui dpend de
la structure lectronique de latome considr et
dont les valeurs se trouvent dans les tables
internationales de diffraction des rayons X;
32

 , et : les coordonnes de latome j dans la

maille;
, , : les indices de Miller du plan considr;
: dsigne la fonction exponentielle.
Notons que , , est un nombre complexe,
lamplitude qui est relle dpend du module de
, , .
On appelle extinctions systmatiques les valeurs
, , qui annulent le facteur de structure
, , . Elle renseignent sur le mode dun
rseau P, I, C ou F.
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Par exemple la base de la structure cubique centr

du mtal sodium rapporte la maille cubique

comprend deux atomes 000 et

, on obtient:

, , = + + +
En pratique on sintresse au zros de , , , ce
qui permet de dterminer les plans , , dont
lintensit de rflexion est nulle (TP cours 3).
, , = si et seulement si + + est
impair.
, , = si et seulement si + + est
pair.
(110) (200) (211) (220) (310) (222) (321)
34