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y su inversa es,
Para evitar problemas de muestreo insuficiente se debe elegir N tal que N>L.
Para implementar la dtft usaremos el archivo dtft.m que se lista (si es necesario use help
para averiguar como funcionan las siguientes lneas)
function [H,W]=dtft(x,N)
% uso: [H W]=dtft(x,N)
% x: muestra de longitud L, se supone que de L+1 a infinito la muestra toma valor 0.
% N: nmero de frecuencias a evaluar. N debe ser mayor que L.
% H: valores complejos de la DTFT
% W: vector de frecuencias correspondiente a la los valores H calculados
N=fix(N); %aproxima a entero redondeando al entero inferior
L=length(x);
if(L>N)
error(' DTFT: numero de muestras, L, debe ser inferior al numero de frec a calcular N')
end
%
% wk=2*pi*k/N con k=0,1,2, ... ,N-1
W=2*pi/N*(0:N-1);
%
medio=ceil(N/2)+1 %aproxima a entero redondeando al entero inferior
%
% evaluamos la DTFT de -pi a pi
%
W(medio:N)=W(medio:N)-2*pi;
W=fftshift(W);
H=fftshift(fft(x,N));
En la funcin anterior se realiz un desplazamiento (fftshift) en frecuencias con objeto de
que los resultados de w se den en el intervalo [ -,].
Ejercicios del apartado 1:
3.l.1(*).- Represente la dtft en mdulo y fase de la seal x[n]= 0.88n*exp ( j(2/5)n), con
L= 40 y N=128
3.1.2.- Compare los resultados y explique que sucede si se toman valores de N=40, N=64 y
N=1024.
3.1.3(*).- Con N = 128 cambie el valor de L, por ejemplo L=15 y L=128 y comente los
resultados
3.1.4.- Repita los apartados anteriores para la seal x1[n]= exp (j(2/5)n) y
x2[n]=cos((2/5)n). Explique las diferencias con los apartados anteriores.
X=fft(x,N)
x = ifft(X)
Calcula la transformada de Fourier inversa del vector X. Tambin se puede especificar el
nmero de puntos N con ifft(X,N)
X=fftshift(x)
Reordena el vector X en orden creciente de frecuencias de tal manera que la componente
continua queda centrada.
Ejercicios del apartado 2:
3.2.1(*).- Sea la secuencia x[n] = cos(0.25n) + cos(0.5n)+ cos(0.52n). Se pide Calcular
la DFT utilizando la funcin matlab fft(x,N) con N=L= longitud de las secuencia x[n] y
representar su mdulo para diferentes valores de nmero de muestras L. Pruebe por
ejemplo los siguientes valores N=16, N=32, N=64, N=128. Indique a partir de que valor de
Nson distinguibles las tres frecuencias de la seal.
3.2.2 Cmo estn relacionados los valores de L, N y la resolucin en frecuencias?
3.2.3 Compruebe que sucede en el espectro de la seal si la una secuencia de L= 100
muestras de x[n] se rellena con ceros hasta N=128.
5.2.4(*).- Calcule la inversa de la funcion X(w) utilizando la funcion ifft (X) para recuperar
la seal en el dominio de tiempos..
3.2.5.- Suponga que se desea estudiar el contenido en fecuencias usando la FFT, de la
siguiente seal.
x(t) = 0.0472 cos(2)t + 1.5077) + 0.1362 cos(2)t + 1.8769) + 0.4884
cos(2)t - 0.1852) +
Para todo el ejercicio se considera una seal continua infinita dada por x(t) = sen (2ft) con
f = 1KHz. El efecto de aplicar una ventana cuadrada es equivalente a reducir el intervalo de
muestreo en 0 < t < tamao de ventana. Para todos los casos se pide calular x[n],
X(w)=DTFT(x[n]), y X[k]=DFT(x[k]), Representar |X(w)| y |X[k]|.
3.3.3.(*)- Suponga que toma N= 8 muestras considerando el intervalo 0 < t < 1 ms. Cual
es la frecuencia de muestreo Fs?
3.3.4.(*).- Suponga que toma N= 8 muestras considerando el intervalo 0 < t < 0.5 ms. Cual
es la frecuencia de muestreo Fs?
3.3.5.- Suponga que toma N= 24 muestras considerando el intervalo 0 < t < 1.5 ms.
3.3.6.- Suponga que toma N= 64 muestras considerando el intervalo 0 < t < 4 ms.
3.3.7.(*)- Explique que valores de tamao de la ventana son los adecuados para reducir el
efecto de "Leakage"
Resolucin espectral
El enventanado reduce la resolucin espectral (diferencia entre la frecuencia de dos seales
para que pueden ser distinguidas).
Para ello considerar que la seal de entrada viene dada por
3.3.8.- Representar la dtft de esta seal para N=128 y para L=25, 50 y 100. Que relacin
hay entre L y la resolucin en frecuencia.?
Con el fin de reducir el derrame es posible elegir una ventana w(n) cuya dtft W(w) tenga
lobulos laterales ms pequeos, pero esto provoca un aumento en la anchura del lobulo
principal, lo que provoca una disminucin en la resolucin espectral.
3.3.9.- Comprobar este efecto para la seal x[n] anterior usando una ventana de Hamming
definida por
w(n) = 1/2(1-cos(2n/(L-l))
w(n) = 0
3.3.10.- Comparar la dfft de una ventana rectangular y de una ventana de Hamming usando
el mismo valor de L=50
Analizador de Espectros.
Un analizador de espectro es un sistema que permite obtener las freccuencias que estan
presentes en una seal discreta.
El sistema mas simple que nos permite verificar si una seal tiene una componente con
frecuencia wl sera
donde se multiplica la seal de entrada por e-jw1n para desplazar la componente con
frecuencia w=w1 al origen de frecuencias w=0 y al aplicar el filtro pasa bajas se obtendr la
contribucin de la componente de la seal con w= w1.
Repitiendo este proceso para cada frecuencia w= wk, se obtendra el espectro del sistema.
Un sistema como el descrito adolece de dos grandes inconvenientes:
La respuesta en frecuencia del filtro pasa baja debe ser cero salvo para w=0.
Macabor!!
margaritaa
yo te sueo cada dia
dime como yo sabia
si esperando estas por mi
margaritaa