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A
Amperimetro
anodo
( - )
Resistencia
variable
Electrodos
Muestra
Rectificador
( + )
Catodo
Fuente
RESISTENCIA
Ctodo (-) grafito
Espectroscpico (puro).
Viaje de los electrones.
reacciones
emisin. (volatilizacion
selectiva)
Fsico qumico
RECTIFICADOR
(VOLYAJE CONST.)
nodo (+).
AC
220 V
Lo utilizamos para la deteccin de los espectros de los tomos que contiene una muestra slida
no metlica en polvo ( Ejm. Una roca previamente preparada).
La muestra se coloca a menudo sobre un electrodo cuyo espectro de emisin no interfiera en el
anlisis. Los electrodos son de grafito espectroscpico (pureza 99.99%) por ser buenos
conductores y por poseer una resistencia al calor.
Uno de los electrodos tiene forma cilndrica con un pequeo crter abierto en uno de los
extremos, en el cual se introduce la muestra.
El electrodo tiene uno de los extremos en forma cnica, con la punta ligeramente redondeada.
Esta configuracin proporciona el arco DC ms estable y reproducible.
CHISPA
Lo utilizamos para la deteccin de tomos que contiene una muestra metlica o aleacin. Se
har un disco del metal vertiendo sobre un molde.
T
Inductor
variable
R
Capacitador
variable
220V
AC
Muestra en
disco
A
Transformador (T)
La fuente de CHISPA trabaja con un circuito elctrico tpico para conducir una corriente alterna
a travs de una brecha para chispas. El transformador convierte la potencia de lnea en 2000v
a 20-25kv que luego carga el condensador.
La temperatura que se alcanza durante el proceso es hasta ms de 6000C y adems depende
de varios factores.
3. A que se denomina lmite de deteccin en espectrografa.
El lmite de deteccin (LDD) se define habitualmente como la cantidad o concentracin mnima
de sustancia que puede ser detectada con fiabilidad por un mtodo analtico determinado.
Intuitivamente, el LDD sera la concentracin mnima obtenida a partir de la medida de una
muestra (que contiene el analito) que seramos capaces de discriminar de la concentracin
obtenida a partir de la medida de un blanco, es decir, de una muestra sin analito presente.
En general, a mayor velocidad de erosin, mejor sensibilidad, por lo que, a corriente alta, el haz
primario de iones de alta energa es el ideal. Pero, desafortunadamente, con la energa, no solo
la eficiencia del sputtering aumenta; tambin la profundidad de penetracin y el volumen de
cascada (dao inducido, perturbacin). Es por eso que SIMS es una tcnica de anlisis
destructiva. La distincin entre condiciones dinmicas y estticas podemos comprenderla
analizando el tiempo de vida (t) en la primera capa atmica encontrada en superficie:
donde:
t = tiempo de vida de la monocapa. A = rea de superficie pulverizada [cm2]. y = parte
dispersada. Ip = flujo primario de partculas [cm-2].
La placa mster es una placa dibujada, utilizada para el anlisis cualitativo en el densitmetro.
Mediante este dispositivo podemos superponer la placa problema y la mster con la finalidad
de comparar las lneas espectrales y reconocer los elementos,(dependiendo de la
concentracin y el lmite de deteccin), ya que la placa mster tiene un patrn determinado
para cada tipo de dispositivo.
PLACA
MASTER
PARTES EXTERNAS:
1) Pantalla de lectura del Densitmetro donde mide las longitudes de onda del espectro y
elemento al que pertenece as como la cantidad tambin.
2) Barras de desplazamiento tanto para la placa muestra como para la placa master.
3) Palanca para el movimiento horizontal
placas.
Conductor de placa:
La traslacin de las placas a lo largo del espectro analizado es realizada por una
grande. El movimiento del conductor es controlado por el interruptor de la
concntrica. El espectro puede ser escaneado manualmente o puede ser movido a
del slip a una velocidad constante de 6,12 o 18 micrones por segundo por medio
motor conductor.
perilla
perilla
travs
de un