ENRIQUE TRUJILLO MONDRAGON

MAURICIO GUZMAN TAPIA

ENSAYOS
DESTRUCTIVOS
MICROSCOPIOS Y ANALISIS POR ELEMENTO FINITO

INTRODUCCION.
El microscopio electrnico es un aparato cuyo fundamento es la ptica
electrnica. El nombre que resulta justificado por la estrecha analoga existente
entre su formulacin terica y la de la ptica clsica.
No hay posibilidad de estudiar la ptica electrnica sin enfrentarse con una de las
consecuencias aparentemente paradjicas de la fsica terica moderna: la
dualidad onda-corpsculo, cuando los electrones inciden como paquetes de ondas
sobre los tomos de una muestra, las colisiones pueden representarse, y a veces
con gran precisin como colisiones del tipo bola de billar.
Si la muestra contiene un cristal en una cierta orientacin, los electrones debern
representarse por ondas para dar cuenta de las reflexiones.
La prueba crucial para demostrar la existencia de las propiedades ondulatorias de
los electrones fue la observacin de la difraccin y de la interferencia de las
ondas de los electrones.
El mtodo del elemento finito (MEF en espaol o FEM en ingls) es un mtodo
numrico para la resolucin de ecuaciones diferenciales, utilizado en diversos
problemas de ingeniera y fsica.
El mtodo se basa en dividir el cuerpo, estructura o dominio (medio continuo)
sobre el que estn definidas ciertas ecuaciones integrales que caracterizan el
comportamiento fsico del problema, en una serie de subdominios no
intersectantes entre s denominados elementos finitos. El conjunto de elementos
finitos forma una particin del dominio tambin llamada discretizacin.

Microscopio electrnico de barrido y para qu sirve?

El microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento capaz de ofrecer
un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra. Su
funcionamiento se basa en barrer un haz de electrones sobre un rea del tamao
que deseemos (aumentos) mientras en un monitor se visualiza la informacin que
hayamos seleccionado en funcin de los detectores que hayan disponibles. En el
Servicio de Microscopa de la U.P.V. existen los siguientes:
Detector de electrones secundarios (SE): es el que ofrece la tpica imagen en
blanco y negro de la topografa de la superficie examinada. Es la seal ms
adecuada para la observacin de la muestra por ser la de mayor resolucin.
Detector de electrones retro dispersados (BSE): tambin ofrece una imagen de
superficie aunque de menor resolucin. Su ventaja consiste en que es sensible a
las variaciones en el nmero atmico de los elementos presentes en la superficie.
Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos distintos tonos de gris en
funcin de que existan varias fases con distintos elementos.
Detector de rayos X (EDS): es el que recibe los rayos X procedentes de cada
uno de los puntos de la superficie sobre los que pasa el haz de electrones. Como
la energa de cada rayo X es caracterstica de cada elemento, podemos obtener
informacin analtica cualitativa y cuantitativa de reas del tamao que deseemos
de la superficie. Por ello se conoce esta tcnica como Microanlisis por EDS.
Detector de rayos X (WDS): similar al anterior, pero en vez de recibir y procesar
la energa de todos los rayos X a la vez, nicamente se mide la seal que genera
un solo elemento. Esto hace que esta tcnica, aunque ms lenta, sea mucho ms
sensible y precisa que la de EDS. Realmente son complementarias, pues el EDS
ofrece una buena informacin de todos los elementos presentes en la superficie
de la muestra y el WDS es capaz de resolver los picos de elementos cuyas
energas de emisin estn muy cercanas, as como detectar concentraciones
mucho ms pequeas de cualquier elemento y, sobre todo, de los ligeros.
Detector de electrones retro dispersados difractados (BSED): en este caso
slo se reciben aquellos electrones difractados por la superficie de la muestra que
cumplen la ley de Bragg en el punto que son generados, es decir, se trata de una
seal que nos aporta informacin de la estructura cristalina de la muestra. Si
conocemos previamente la o las fases cristalinas presentes en nuestra muestra, el
sistema es capaz de procesar la seal que recibe en forma de lneas de Kikuchi
y ofrecer una variada informacin cristalogrfica: orientacin de granos,
orientaciones relativas entre ellos, textura, identificacin de fases, evaluacin de
tensin, fronteras de grano, tamao de grano

Microscopio electrnica de transicin y para qu sirve?

Contextualizacin y funcionamiento del microscopio electrnico de transmisin.
En el campo de la ciencia fsica moderna es primordial entender el
comportamiento tanto del haz de luz como el de electrones, todas las
aplicaciones pticas en cuanto a capturas y ampliacin de imgenes que usan
este principio prestan gran utilidad para el desarrollo de las ciencias que
incursionan en el microcosmos. Son diversas las tcnicas que cumplen con estos
propsitos, entre ellas, son dignas de ser citadas las siguientes:
Microscopia electrnica de transmisin: A diferencia de los anteriores
microscopios, este no explora superficies , por el contrario el haz de electrones
incidente atraviesa la muestra o espcimen observado y la sombra de detalles
finos o ultra-estructura es capturada en una pantalla fosforescente con
propiedades de emisin de luz, ubicada en la parte inferior de la columna. El tener
una adecuada preparacin de la muestra da lugar a una excelente definicin de
imagen. Son mltiples las facetas en las que interviene este tipo de microscopio.
As, en control de calidad sealamientos morfolgicos, conformacin de
agregados, tcnicas forenses, determinacin de estratos en restauracin y
diferenciacin histolgica entre otros.
En la construccin de microscopios electrnicos (1), se han usado con
resultados satisfactorios ambos tipos de lentes: electrostticas y magnticas. Con
todo, la mayor parte de los microscopios electrnicos hoy da en uso son
magnticos; Un esquema clsico de estos aparatos est representado en la figura
2. Algunos instrumentos no poseen lente condensadora, otros en cambio tienen
dos, mientras otro grupo de aparatos posee solamente una lente proyectora.
Aunque los detalles de construccin varen de un tipo a otro, se puede obtener
una visin cualitativa de conjunto de sistema ptico.
La fuente de electrones (2) est constituida por un hilo de volframio en forma
de horquilla, rodeado por una pantalla cilndrica polarizada negativamente
respecto al filamento (figura 3). Despus de atravesar el nodo conectado a tierra,
la mayor parte de los electrones del haz se pierden en las paredes y aberturas
excepto un estrecho cono que atraviesa el diafragma del condensador.
La lente condensadora se usa tanto para controlar la intensidad luminosa,
como para variar la abertura de iluminacin relativa en el objeto. Los dimetros de
los diafragmas del condensador varan segn el tipo de instrumento, pero suelen
estar comprendidos entre 0,1 y 0,5 mm. Despus de atravesar el objeto, donde
muchos electrones se esparcen, el haz penetra en el campo de la lente objetivo
que produce una imagen aumentada del objeto. En el objetivo se suele colocar un
diafragma de 10 a 100 de dimetro para interceptar los electrones esparcidos,
pero generalmente esta precaucin se omite en el estudio de muestras muy
delgadas en las que el esparcimiento no es excesivo. Puesto que para las
distancias usuales entre lente e imagen, el aumento obtenido con la lente objetivo
es del orden de X100 a X300, ser necesario el uso de una o ms lentes

protectoras que vuelvan a aumentar la imagen primaria. Algunos instrumentos

llevan incorporada una pantalla intermedia para facilitar la alineacin, pero no
poseen en cambio este accesorio aquellos aparatos dotados de dos lentes
proyectoras. La imagen final se observa en una pantalla fluorescente, y separando
esta pantalla del camino del haz, se impresiona una placa fotogrfica con dicha
imagen. Las dimensiones ms usuales para un microscopio de transmisin
pueden ser: Del filamento a la lente condensadora 15 cm, y otro tanto de esta
ltima al objeto, mientras que del objetivo a la pantalla que recoge la imagen final
pueden haber unos 100 cm, el sistema completo deber ser rgido y capaz de
alcanzar un vaco de 0.0001 mmHg con ayudas de bombas de difusin rpidas en
serie con bombas rotatorias.
Otras partes importantes del aparato que no han sido representadas en los
diagramas son la fuente de alimentacin para crear un potencial del haz, fuentes
de alimentacin para las lentes magnticas, medidores de vaco, tornillos de
alineacin, vlvulas de vaco, controles de aumento y enfoque, etc. De momento,
nuestro inters ms inmediato se centra en la tcnica de preparacin de
muestras.

Qu es fisura y fractura?
Grietas: son las aberturas que afectan a todo el espesor de un elemento.
Fisuras: son las aberturas que afectan solamente a la superficie del elemento o a
su acabado superficial.
La aparicin de grietas o fisuras es un mal comn de nuestros edificios. Este
fenmeno puede estar evidenciando la existencia de un problema en la
estabilidad del inmueble, por lo que es necesario realizar un estudio exhaustivo de
las causas que estn dando lugar a la aparicin de esta lesin.

Grietas y fisuras por acciones mecnicas: La aparicin de este tipo de

grietas es consecuencia de los movimientos del edificio cuando este est
sometido a acciones mecnicas, las cuales pueden ser muy variadas pudiendo
distinguir dos grandes grupos; movimientos de la estructura o movimientos del
propio elemento.
Grietas y fisuras por esfuerzos higrotrmicos: Este conjunto de esfuerzos
son provocados directamente sobre los cerramientos por variaciones de
temperatura y humedad. En general estas variaciones ambientales provocan
una dilatacin de las unidades constructivas en funcin de su coeficiente de
dilatacin potencial y de la tcnica constructiva. Este tipo de grietas tambin se
pueden dar debidas a un error de diseo constructivo.

Mtodos de anlisis por elementos finitos.

El mtodo del elemento finito (MEF en espaol o FEM en ingls) es un mtodo
numrico para la resolucin de ecuaciones diferenciales, utilizado en diversos
problemas de ingeniera y fsica.
El mtodo se basa en dividir el cuerpo, estructura o dominio (medio continuo)
sobre el que estn definidas ciertas ecuaciones integrales que caracterizan el
comportamiento fsico del problema, en una serie de subdominios no
intersectantes entre s denominados elementos finitos. El conjunto de elementos
finitos forma una particin del dominio tambin llamada discretizacin.
Dentro de cada elemento se distinguen una serie de puntos representativos
llamados nodos. Dos nodos son adyacentes s pertenecen al mismo elemento
finito, adems, un nodo sobre la frontera de un elemento finito puede pertenecer a
varios elementos. El conjunto de nodos considerando sus relaciones de
adyacencia se conoce como malla. Los clculos se realizan sobre una malla o
discretizacin creada a partir del dominio con programas generadores de mallas,
en una etapa previa a los clculos que se denomina pre-proceso. De acuerdo con
estas relaciones de adyacencia o conectividad se relaciona el valor de un conjunto
de variables incgnitas definidas en cada nodo y denominadas grados de libertad.
El conjunto de relaciones entre el valor de una determinada variable entre los
nodos se puede escribir en forma de sistema de ecuaciones lineales (o lineal
izadas), la matriz de dicho sistema de ecuaciones se llama matriz de rigidez del
sistema. El nmero de ecuaciones de dicho sistema es proporcional al nmero de
nodos.
Variantes del mtodo por elemento finito
Actualmente el trmino MEF identifica a una amplia gama de tcnicas (figura 8.9)
que comparten caractersticas descritas en los puntos anteriores. Dos subclasificaciones que se ajustan a la mecnica de estructuras son:
Utilizando la clasificacin anterior, podemos establecer el tema principal de estas
notas: Anlisis computacional por elemento finito de problemas estticos lineales.
De las variantes mostradas, se pondr especial atencin a la formulacin por
desplazamiento y a la solucin por rigidez. Esta combinacin recibe el nombre de
Mtodo directo por rigidez o DSM.

Aplicaciones Del Elemento Finito

El objeto de estas notas es estudiar el Mtodo del elemento finito, pero qu es un
elemento finito? El concepto bsico puede ser parcialmente ilustrado a travs de
un antiguo problema: encontrar el permetro L de un crculo cuyo dimetro es d .
Como Ld , esto equivale a obtener un valor numrico para . Se dibuja un
crculo de radio r y dimetro 2 dr . Se inscribe un polgono regular de n lados,
donde 8 n. Se renombran los lados del polgono como elementos y los vrtices
como nodos. Las etiquetas de los nodos son enteros que van de 1 a 8.
Considrese un elemento tpico, el que une los nodos 4-5, como se muestra en la
figura 8.10c. Este es un caso del elemento genrico ij mostrado en la figura 8.10d.
La longitud del elemento es () 2 sen / 2 sen 18() 0/ij L r n r n . Como
todos los elementos tienen la misma longitud, el permetro del polgono es n ij L
nL , de donde la aproximacin para resulta / sen 180() /nn L d n n

Algunas ideas del MEF, pueden identificarse gracias al ejemplo anterior. El crculo,
visto como un objeto matemtico, es reemplazado por polgonos. Estos
constituyen la aproximacin discreta del crculo. Los lados, renombrados como
elementos, estn completamente identificados por los nodos en sus extremos. Los
elementos pueden separarse desconectando sus nodos, un proceso llamado
desensamble en el MEF. Gracias a este proceso, un elemento genrico puede ser
definido, independientemente del crculo original, por el segmento que conecta dos
nodos i y j . La propiedad relevante
Del elemento, en este ejemplo, es la longitud de su lado ij L , misma que puede ser
calculada en el elemento genrico independientemente de los otros, una
propiedad conocida como soporte local en el MEF. La propiedad objetivo: el
permetro del polgono, es obtenido al reconectar n elementos y sumando su
longitud; los pasos correspondientes en el MEF son el ensamble y la solucin,
respectivamente. Por supuesto que no existe nada particular en el problema del
crculo, pues la misma tcnica se puede utilizar para obtener la longitud de curvas
suaves.

CONCLUCIONES.
Que el microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento que es capaz
de ofrecer rangos de informacin de la superficie de la muestra. Su
funcionamiento se basa en barrer un haz de electrones sobre un rea del tamao
que deseemos mientras en un monitor se visualiza la informacin que hayamos
seleccionado en funcin de los detectores que haya disponibles.
Podemos ver funcionamiento del microscopio electrnico de transmisin. En el
campo de la ciencia fsica moderna es primordial entender el comportamiento
tanto del haz de luz como el de electrones, todas las aplicaciones pticas en
cuanto a capturas y ampliacin de imgenes que usan este principio prestan gran
utilidad para el desarrollo de las ciencias que incursionan en el microcosmos.
Los mtodo del elemento finito es un mtodo numrico para la resolucin de
ecuaciones diferenciales, utilizado en diversos problemas de ingeniera y fsica.
El mtodo se basa en dividir el cuerpo, estructura o dominio (medio continuo)
sobre el que estn definidas ciertas ecuaciones integrales que caracterizan el
comportamiento fsico del problema, en una serie de subdominios no intersectan
ts entre s denominados elementos finitos. El conjunto de elementos finitos forma
una particin del dominio tambin llamada discrtizacin.