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2806 Tpicos Experimentais em Materiais

RoteirooriginalelaboradopelosprofessoresMrciaeHumberto,revisadopeloProf.Alexandre.

Experimento1AnliseMicroestrutural

1Introduo
Microscpiopticoemicroscpioeletrnico

Omicroscpiopticoumaferramentapoderosaparaexaminar,avaliarequantificar

amicroestruturademateriais.Asuaresoluodaordemde250nmcomumaprofundidade
decamposimilar.Noentanto,oinstrumentotemavantagemdeserrelativamentebaratona
suaformamaissimplesedefciloperao.Elefoioriginalmentedesenvolvidoparaoperar
nos modos transmisso e reflexo e at hoje o microscpio ptico continua a ser uma das
tcnicasmaistilefcildeseraplicadanoestudodemicroestruturasdeumaamplagamade
materiais.1
Neste contexto,ahabilidadepararesolverdetalhes naimagemvisualumrequisito
bsico para analises microestruturais. No entanto, a utilizao do microscpio ptico
limitadapelosseguintesfatores:
Comprimentodeondanoespectroeletromagntico(regiovisvel:0,4a0,7m);
Intensidademnimanecessriaparareconheceraimagem;
Separaoespacialmnimaquepodeserresolvidaaolhonu.
Istoporqueoolhohumanosensveladiferenasdebrilhoeintensidadesvariandodo
preto para o branco e todas as nuances de cinza. No entanto, para o olho humano a maior
sensibilidade est na regio do verde ( ~ 0,56 m) e o tempo de integrao do olho de
aproximadamente0,1s.AFigura1ilustracomoaimagemformadanoolhohumano.

Figura1Esquemadaformaodeimagemnoolhohumano.

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Emumsistemapticosimplesaresoluodoolhodefinidaaplicandoocritriode
Rayleigh (equao 1). Rayleigh assumiu que duas fontes pontuais podem se distinguidas
quandoaintensidadedopicodeumcoincidecomo1mnimodooutro.1

=1,2/nsen

(1)

Ondeoraioaparentedalente(svezesrepresentadocomodoudimetrodeabertura
relacionado com o limite mnimo entre os dois pontos a serem observados); a radiao
incidente, n o ndice de refrao do meio entre a lente e a amostra, e o semingulo
subentendido pelo objeto na lente (veja Figura 2). A quantidade n.sen define o valor
numricoparaaaberturadaslentes(conhecidocomoNAeemmuitoscasosteminflunciada
objetivaedocondensador).

Amostra

LenteObjetiva

Planoimagem

Figura1Esquemadaformaodeimagempelalenteobjetiva.

Almdaresoluo,importanteobservarqueaimagemdevetercontrastesuficiente
paradistinguirobackgroundepoderdetalharasdiferentescaractersticasdamicroestrutura
da amostra. Devido a estas limitaes do microscpio ptico, vrios tipos de microscpios
foram desenvolvidos utilizando diferentes fontes para iluminar a amostra e tambm para
detectarosinaldaamostra.1Entreeles,valecitar:microscpioalaser,microscpioacstico,
microscpio de infravermelho, microscpio de raiosX, microscpio eletrnico, etc. Isto foi
feito na tentativa de melhorar a resoluo do microscpio, pois variando o comprimento de
ondadaradiaoincidentepossvelmelhorararesoluodomicroscpio(vejaTabela1).
Tabela1Comprimentosdeondasdediferentesradiaeseletromagnticas

Radiao
Acstica

Comprimentodeonda(nm)
>1000

Infravermelha

700860

Luzvisvel(azulavermelho)

400700

Ultravioleta

25400

RaiosX

0,0115

Eltrons

0,005

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Entre os diferentes tipos de microscpio, o mais desenvolvido o microscpio

eletrnico(Varreduraetransmisso).importanteobservartambmquediferentementedo
microscpioptico,aformaodaimagememtodosestesmicroscpiosindiretaedepende
da deteco do sinal da interao entre a radiao e a amostra. No caso dos microscpios
eletrnicos a imagem gerada utilizando um esquema ptico parecido ao do microscpio
ptico. No entanto, as lentes no so mais de vidro, mas sim bobinas magnticas que
defletem o feixe de eltrons de modo a focar o feixe incidente na superfcie da amostra. A
imagemformadaapartirdossinaisdoseltronsretroespalhados,eltronssecundriose/ou
dadensidadedeeltronsabsorvidosnaamostra.Natabela2soapresentadososaumentos,
a resoluo e a profundidade de campo alcanada utilizando um microscpio eletrnico em
relaoaummicroscpioptico.
Tabela2Profundidadedecampoeresoluodomicroscpioeletrnicocomparadocomummicroscpioptico
convencional.

Profundidadedecampo

Aumento

Resoluo

Micr.Eletrn.

Micr.ptico

20

5m

1mm

5m

100

1m

200m

2m

200

500nm

100m

0,7m

1000

100nm

20m

5000

20nm

4 m

10000

10nm

2 m

Como neste experimento apenas o microscpio ptico ser utilizado, a seguir so

apresentadososprincipaiscomponentesdomicroscpioptico.
Princpiosbsicosdefuncionamentomicroscpioptico
Os microscpios pticos (MO) atuais so constitudos por duas partes uma parte
mecnicaeumaparteptica.Cadaparteenglobaumasriedecomponentesconstituintesdo
microscpio(fig.2).Apartemecnicaserveparadarestabilidadeesuportaraparteptica.
Estaparteconstitudapor:2

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Figura2Exemplodemicroscpiopticode(a)transmissoe(b)Reflexo(CarlsZeiss).

PouBasesuportaomicroscpio,assegurandoasuaestabilidade.
BraoouColunapeafixabase,naqualestofixadastodasasoutraspartesconstituintes
domicroscpio.
Lenteseocularescilindroquesuportaossistemasdelentes,localizandosenaextremidade
superiordaocularenainferioraorevlvercomobjetivas.
Platina (estgio mecnico) pea circular, quadrada ou retangular, paralela base, onde se
coloca a amostra a ser analisada, possui no centro um orifcio circular ou alongado que
possibilitaapassagemdosraiosluminososconcentradospelocondensador.
Controlesdoajustedofoco:
Macromtrico engrenagem que suporta o tubo e permite o seu deslocamento em
relaoaplatina.indispensvelparafazerofocodaimagem.
Micromtrico imprime ao tubo ou platina movimentos de amplitude muito
reduzida, completando a focagem. Permite explorar a profundidade de campo do
microscpio.
Revlverdiscoadaptadozonainferiordotubo,quesuportaduasaquatroobjetivasde
diferentesampliaes:porrotaopossveltrocardeobjetiva.
Apartepticaconstitudapor:
SistemadeOculareseSistemadeObjetivasoconjuntodelentesquepermitemaampliao
daimagemdaamostra.Aampliaodadaaomicroscpioigualaoprodutodaampliaoda
objetivapelaampliaodaocular.

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Fonte Luminosa existem vrios tipos de fontes luminosas, podendo ser uma lmpada
(iluminaoartificial),ouumespelhoquereflitaaluzsolar(iluminaonatural).
Condensador distribui regularmente, no campo visual do microscpio, a luz refletida pelo
espelho.
Diafragmaregulaaintensidadeluminosanocampovisualdomicroscpio.
Devidoaestescomponentesseremdealtaprecisoeporqueomicroscpiouminstrumento
caro,requercuidadosespeciaisdetransporte,utilizaoemanuteno.

ProfundidadedeCampodoMO
Quandoseutilizaomicroscpio,podemseobservardetalhescomtrsdimenses,ou
seja, com largura, comprimento e profundidade. Por exemplo, numa preparao com dois
cabelos cruzados de modo que no se encontrem num plano comum: um encontrase num
planomaisabaixoqueooutro.Estadiferenadeplanosvisualizadaaolhonu,masquando
observadanomicroscpiopodeserverificadaadiferenadeplanos.
Quandoseobservanitidamentecertoplano,aquelesqueseencontraremacimaouabaixodo
planofocadonumadistnciamaiordoqueadeprofundidadedecampoficamdesfocados,ou
seja, possvel visualizar, mas de modo pouco ntido. Isto significa que o campo do
microscpio tem, tambm, certa profundidade, no sendo
possvel focar simultaneamente dois planos diferentes. Como
se sabe, a profundidade de campo do microscpio muito
pequena, o que implica que as amostras examinadas no
microscpiodevemterumaespessurapequena.
Aoperaodefocagem tantomais delicadaquantomenor
for a distncia focal do sistema, ou seja, quanto maior for a
ampliao,maisdelicadaserafocagememenosntidoficaroplanoquenoestiverfocado.
Devido a isto, importante que, durante a observao, o parafuso micromtrico seja
constantemente regulado de modo a ser possvel visualizar nitidamente os detalhes de
diferentesplanos,visualizandotodososcamposexistentes,umdecadavez.
Relaoentreareaobservadaeaampliaoutilizada
A medida do campo do microscpio pode ser feita com a ajuda do parafuso
micromtricooudaocular.Areadasuperfcieobservadaatravsdomicroscpiosempre

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relativamenterestritaedependedaampliaoutilizada.Areadomaterialobservadovariana
razo inversa da ampliao que se utiliza. Para ampliaes maiores, a rea observada
apenasdeumafraodemilmetro.Areduoprogressivadareaobservada,noentanto,
acompanhadadeumaumentodedetalhes.Asmaioresampliaespermitemaobservaode
reasrestritas,masrevelampormenoresnodetectadoscompequenasampliaes.Tambm
amostras de dimenses superiores s da rea do campo no podem ser completamente
visualizadas. Podese ento concluir que se deve iniciar a observao utilizando pequenas
ampliaes, que permitam captar uma imagem global da amostra. A preparao deve ser
percorrida nos vrios sentidos a fim de se localizar a zona de maior interesse. Dessa zona
selecionamseoselementosdemaiorimportncia,centrandoos,esdepoissedevepassara
objetivas de maiores ampliaes. Estas permitiro observar detalhadamente os pormenores
desejadosdapreparaoemcausa.
Contrastenomicroscpiopticoerepresentaodaimagem

AanlisedamicroestruturaemMOgeralmenterealizadaemumasuperfciepolida,

que pode ser obtida com um polimento mecnico, qumico e/ou eletroltico. O contraste no
MOpodeocorrernaturalmentepeladiferenaentreainteraopticadosdiferentesmicro
constituintes(Fig.3).
(a)

(b)

(c)

25m

36 m

50m

Figura3Micrografiaptica(luzrefletida)deumaseopolida(semataque)deumferrofundido
nodular,ondeocontrastedaspartculasesfricas(ndulos)ocorrepelaabsorodeluzdafasegrafita.Amesma
micrografiaapresentadaemtrsaumentos:(a)400x(=10mm/25m);(b)280x(=10mm/36m);(c)200x(=10
mm/50m)(adaptadodeMetalsHandbook,v.9).

Muitas vezes, entretanto, uma superfcie polida apresentase com brilho especular

homogneo(semcontraste),oquefaznecessriorevelarosmicroconstituintespormeiode

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umataque,quepodeserqumico,trmico,poranodizao,entreoutrastcnicas(Figs.4e
5).

Uma imagem de uma micrografia sempre deve estar com o aumento indicado. A

melhorrepresentaopormeiodeumabarradeaumentocomaindicaodovalorrealque
elarepresenta(Figs.3a5).Porexemplo,umabarrade10mm(10.000m)comindicaode
10 m, mostra que um aumento de 1.000 vezes. Esta representao melhor do que a
indicao direta do aumento (por ex., escrever 1.000 x na legenda), pois se a imagem for
ampliadaoureduzida,ocomprimentodabarravariarnamesmaproporo.

200 m

Figura4(a)EsquemadegrospolidoseatacadosquandoobservadosemM.O.(b)Esquemadaseo
destesgrosmostrandocomoaluzinteragecomassuperfciesdosgroscomdiferentesrugosidadesdecorrentes
dadiferenadeataquecausadapelavariaodaorientaocristalogrfica.(c)Fotomicrografiadeumaseopolida
eatacadadeumlatopolicristalinocomaumentode60x(=12mm/200m)(adaptadodeCallister,Mater.Sc.&
Eng.).

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Tubo
lentes

Figura5(a)Esquemadaseodeumcontornodegromostrandocomoaluzrefletenosulco(ranhura)
nasuperfciecausadapeloataquedocontornodegro.(b)Fotomicrografiadeumaseopolidaeatacadadeuma
amostrapolicristalinadeumaligaferrocromocomaumentode100x(=10mm/100m)(adaptadodeCallister,
Mater.Sc.&Eng.).

NOTA:Quandofornecessriovariarotamanhodeumaimagemdeumamicrografia,

mantenha a mesma proporo na altura e na largura da imagem. JAMAIS varie

desproporcionalmenteaimagem,poisistoincorreremadulteraodamicroestrutura(Fig.6).
(a)

(b)

36m

36m

(d)

(c)

36 m

36 m

Figura6Exemplodeampliaoincorretadaimagem.(a)Imagemdemicrografiapticacorretadeuma
seopolidaeatacadadeumaligacobreberlio,mostrandogrosequiaxiais.(b)mesmaimagemmostradaem(a)
INCORRETAcomampliaoapenaslateral,mostrandogrosalongadosartificialmente.(c)fotomicrografia
corretadamesmaimagemde(a)comcercade20%deaumento(nalarguraenaaltura).(d)fotomicrografia
corretadamesmaligade(a)apsreduode11%naespessuraporlaminaoafrio,ondeosgrosesto
alongadosnadireodelaminao(adaptadodeMetalsHandbook,v.9).

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Determinaodafraovolumtricadesegundafase

A anlise microestrutural quantitativa (ou genericamente estereologia) relaciona

medidasrealizadasemumplanocomascaractersticastridimensionaisnovolumedomaterial.
No caso da determinao da quantidade de uma segundafase em um material multifsico
isotrpico(mesmascaractersticasemtodasasdirees),afraodepontos(deumagrade
teste)ouafraodereadestafasedeterminadanoplanodeanliseequivalesuafraono
volume. Para a determinao da frao de pontos, utilizase uma grade (ou retculo) com
nmerototaldens(cruzamentos),NT,conhecido,quesobrepostasobreaimagemdeuma
micrografia.Emseguida,contaseaquantidadedensquecaemdentrodafaseanalisada(Fig.
7). No caso do n cair na interface entre duas fases, considerase somente n na
contagem. A frao em volume (ou volumtrica), VV, da fase analisada igual frao em
pontos,PP,quecalculadapor:

VV Pp

NP

NT

(2)

onde,NPasomadonmerodensqueestodentroounabordadafasequantificada.

(a)

100m

(b)

200m

Figura7Fotomicrografiasdeferrofundidonodularcomgradestestesobrepostas,ondeoscrculosem
corazulindicamnsdentrodondulodegrafita(contagemde1n)eoscrculosemcorlaranjaindicamnsna
interfaceentreonduloeamatriz(contagemde1/2n):em(a)agradede3x3(NT=9)eem(b)agradede
6x8(NT=48).ConformeEquao1,afraovolumtricadendulosdegrafitaem(a)de11,1%emvolume
[VV=PP=(2*)/9]eem(b)de13,5%emvolume[VV=PP=(1*+6*1)/48](adaptadodeMetalsHandbook,v.9).

Nota:Agradetesteusadadeveterlinhasequidistantesefinas,edevemsecontarapenasos
ns,ignorandoorestantedaslinhas.

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Paraadeterminaodafraoemrea,emgeral,utilizaseumprogramadeanlisede

imagens que determina a quantidade de pixels da rea de uma dada fase em relao
quantidadetotaldepixelsdareadeanlise.Avantagemdestetipodeanlisequesepode
obter, alm da frao volumtrica da fase, o tamanho mdio e a distribuio de tamanhos.
UmprogramadeusolivreoImageJ(http://rsbweb.nih.gov/ij/)quebastanteamigvele,pormeio
dosdiversostutoriaisdisponveisnestesite(http://rsbweb.nih.gov/ij/docs/examples/index.html)possvel
realizaranalisesdafraodereaedistribuiodetamanhodegro.
Nota: Para determinao da frao volumtrica por meio da frao em pontos e frao em
rea,nonecessrioconheceroaumentodaimagem,masparadeterminaodotamanho
dasegundafasenecessriosaberoaumento.
Determinaodotamanhodegro

O contorno de gro um defeito cristalino no qual h um desajuste atmico

decorrente do encontro dos gros cristalinos adjacentes com diferentes orientaes

cristalogrficas(Fig.8).

Figura8Seqnciadesolidificaoesquemticadeumcompostopuro,ondeosncleosformados(a)
crescemnolquido(b)eaofinaldasolidificaoformaseummaterialpolicristalinocominmerosgroscristalinos
comdiferentesorientaescristalogrficas(c),sendoquearegiodedesajusteentredoisgrosadjacentesdefineo
contornodegro(d).Notequecadaquadradoem(a)a(c)correspondeaumaclulaunitriaearegiode
desajusteentredoisgrosadjacentes(larguradocontornodegro)estexageradaem(c)(Callister,Mater.Sc.&
Eng.).

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Em decorrncia da medio do tamanho de gro ser realizado na seo plana

necessrioindicaromtodopeloqualeledeterminado.Lembresequeumplanodovolume
em um material com gros isotrpicos corta os gros em diferentes sees, no
necessariamentepelamaiorlargura(oudimetro).

Um dosprincipaismtodosempregadosparadeterminaodo tamanhode gro o

mtododointerceptolinear,ondesedeterminaolivrecaminhomdioparaseencontrarum
contorno de gro. Neste mtodo, uma linha teste (ou crculo teste) de comprimento
conhecido, LT, sobreposta sobre a micrografia e o nmero de interceptos que cruzam os
contornos de gro, NL, contado. O tamanho de gro definido como comprimento de
interceptomdio,l,calculadopor:

LT

NL

(3)

(1)
(2)
(3)
(4)

(a)

(5)

30m

(b)

Figura9Fotomicrografiade(a)aluminatranslcida(Yoshimura)e(b)deumaligamonofsica(Metals
Handbook,v.9).Em(a),osvaloresdenmerodeinterceptosquecruzamoscontornosdegro,NL,paraaslinhas
teste1,2,3,4e5so,respectivamente,7,8,10,7e10.Comooaumentode333x(=10mm/30m),o
comprimentodalinhateste,LT,de180m(=60mm/333).Assim,osvaloresdecomprimentodeinterceptolinear
mdio,l(Eq.2),paraaslinhasteste1,2,3,4e5so,respectivamente,25,7,22,5,18,0,25,7e18,0m,oque
resultaemumvalormdiodesviopadrode22,03,9m.Em(b)ovalordeLT(permetrodacircunferncia)
de2,5mmeNL,18,oqueresultaeml=139m.

Outromtodoparadeterminaodotamanhodegroomtodoplanimtrico.Neste
caso, determinase a rea mdia da seo do gro no plano e calculase o dimetro mdio
equivalente,supondoseoredonda.Paraisto,contaseonmerodegros,NG,contidosem
umareatestedereaconhecida,AT,ecalculaseareamdiadaseodogro, A ,por:

AT

NG

(4)

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eodimetromdiodaseodogro, d ,por:

4A

(5)

Nocasodosgrosquenoestointeiramenteinseridosnareateste,isto,queso
cortadospelasbordasquedefinemareateste,considerasecadagrocortadocomosendo
gro, independente se ele ocupa uma pequena ou grande rea. Para haver preciso na
contagem,devemsemarcarosgroscontadosparanocontarumgromaisdeumavezou
deixar de contar algum gro. De preferncia, conte inicialmente os gros das bordas, que
valemgro,edepoisconteosgrosinternos(Fig.10).

(a)

30m

(b)

Figura10Fotomicrografiasidnticasdealuminatranslcida(igualadaFig.10a)mostrando,noladoesquerdo,os
grosmarcadosparacontagemdonmerodegros,NG,pelomtodoplanimtrico(oscrculosvermelhosindicam
osgrosdasbordas,33nototal,easdemaiscoresindicamosgrosinternos,60nototal;notequeacada10gros
2
internosfoitrocadaacorparafacilitaracontagem).Sendoareatestede36.200m (200m de largura e 181
m de altura),areamdiadaseodogro, A ,de473m2[=36.200m2/(33* +60)]eodimetromdio
daseodogro, d ,de24,5m(Eq.5).

Nota: Um dos principais problemas da determinao do tamanho de gro est relacionado

comaqualidadedarevelaodoscontornosdegro,poisoataquepodenorevelartodosos
contornos. Uma dica que o contorno de gro sempre comea e acaba em outro contorno.
NotequenamicrografiadaFigura11ahvrioscontornosdegronoatacadosoulevemente
atacados. J na Figura 11b, as setas sugerem haver um contorno de gro ligando os dois
contornosdegrocomformabicuda.Umaobservaominuciosaindicahaverumcontorno,
mas,cuidado,poispartculasdesegundafasetambmpodemterefeitosimilar

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LT5

(a)

30m

(b)

30m

Figura11Fotomicrografiasdeseespolidaseatacadasdeligasferrosilciomostrandocontornosde
gromalreveladospeloataque.

2. Objetivos do Experimento:
1. Conhecimentodoprincipiodefuncionamentoelimitaesdomicroscpioptico;

2. Analisedemicroestruturas:determinaodetamanhomdiodegroequantificao
defasesadicionais.

3Roteiroexperimental
Materiais
MicroscpioticoOlympus(algunscomsistemadeaquisiodeimagens)
Lupa
LminadeVidro
Massademodelar(calafetar)
PrensaManual
Rgua
Amostradeaozincado
Amostradeao1010embutidoembaquelite
AmostradeZnO,tambmembutidoembaquelite
TubosdeAluminadediferentesdimetros
Pastilhasdealuminatranslcidas

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O experimento desta aula compreende duas etapas principais: (a) Manipulao do

microscpio ptico; e (b) Observao de diferentes micrografias. Cada uma das etapas
descritaemdetalhesaseguir:
(a)Manipulaodomicroscpioptico
1. Reconhecimento de todas as partes que compem o microscpio ptico. Acompanhe as
explicaes do professor. Cuidado ao manipular as lentes objetivas, para trabalhar com
diferentesaumentos,atrocadelentesdeveserfeitanabaseondeasmesmasestofixadas
(Revlver) e no na prpria lente; A seguir temos um desenho esquemtico extrado do
manualdomicroscpioBX41MLEDdaOlympus.

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CaractersticasdasLentesObjetivaseOculares
2.Montagemdasamostras:
Inicialmente, a superfcie da amostra limpa com lcool e seca no secador (j
realizadopelotcnico);
Aamostrafixadasobreabasedebaqueliteousobrealminadevidrocommassa
de modelar. Para que a superfcie da amostra fique paralela ao suporte, deve ser
usadaumaprensamanual;
Coloqueaamostranaplatinadomicroscpioptico.
3.Sempreinicieaobservaocomalenteobjetivademenoraumento,posicioneofocodeluz
sobre uma regio da amostra onde possa ter um contraste e inicie o processo de
aproximao/foco da amostra utilizando o ajuste macromtrico e, em seguida, o
micromtrico. Cuidado para no tocar a superfcie da amostra com a lente ocular, pois isto
podedanificarseriamenteouinutilizaralente.

(b)Observaodediferentesmicrografias
1) Anlise de uma amostra de ao zincado a olho nu. Utilizando uma rgua, tente estimar o
tamanhomdiodosgrosdasuperfciedestachapa.
2)Analiseaamostradetubodealuminatranslcida:
Nesta parte do experimento, voc utilizar o microscpio tico e a Lupa, ou
estreomicroscpio, para observar tubos de aluminas translcida de dois diferentes
dimetros.Paraisso,monteosdoistubosdealuminaemduaslaminasdevidroefocalizenos
dois instrumentos. Faa o mesmo procedimento para diferentes aumentos. Registre no
microscpiopticocomaquisiodeimagens,algumasimagensquepermitamvocentender
asdiferenasentreaLupaeoMOeaquestodaprofundidadedecampo/foco(otcnicoouo
professoriroexplicarofuncionamentodoprogramadeaquisiodeimagens).
Note: usual obter fotomicrografias de pelo menos dois aumentos: um de baixo aumento
mostrandoascaractersticasgeraisdamicrografia(porex.,homogeneidade/heterogeneidade
da microestrutura); e um de grande aumento mostrando detalhes da microestrutura. Se for

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necessrio, obtenha mais fotomicrografias no mesmo aumento ou em diferentes aumentos.

Noseesqueamdeanotarosaumentosutilizadosemcadaimagem(depreferncianonome
do arquivo). A finalidade desta anlise descrever qualitativamente as microestruturas das
amostras.
3)Paraquantificaodamicroestrutura,humaamostradeZnOparadeterminaodafrao
de poros e uma outra amostra de ao 1010 para determinao tamanho de gro. Obtenha
pelomenos3fotomicrografiasdecadaamostra.Depois,paraaamostradeao,determineo
tamanhodegropelosmtodosdeinterceptolineareplanimtricoecompareosresultados
dosdoismtodos;nocasodaamostracomporosidaderesidualdesinterizao,determinea
fraovolumtricadosporospelomtododagrade.Useoaumentomaisadequadoeprocure
umaregiodaamostraondeosgrosestejambemntidosparacapturarasimagens.
4) Obtenha duas micrografias da superfcie de um disco de alumina translcida e utilize os
mtodosdeinterceptolineareplanimtricoparadeterminarotamanhodegro.Compareos
doismtodos.
5) Para a elaborao do relatrio, se possvel utilize um software grfico, como o ImageJ
(http://rsbweb.nih.gov/ij/,paraoclculodostamanhosdegrosedasfraesvolumtricasdeporos
dasimagensobtidasecomparecomosresultadosdosoutrosmtodos.
Comente:
Qualadiferenaentreutilizaralupaestreoeomicroscpioptico?
Oquesepodeconcluirsobreaanlisedeamostrasnoplanasnomicroscpioptico?
4Referncias
1. PhysicalmethodsformaterialscharacterizationP.E.J.Flewitt,R.K.Wild,Inst.of
PhysicsPublishing(1994).
2. SitedaZeiss:http://www.zeiss.com/micro.
3. ASMHandbook,v.9MetallographyandMicrostructures.Ed.K.Millsetal.MaterialsPark:
ASMInternational,1985

4. WilliamD.Callister,Jr.MATERIALSSCIENCEANDENGINEERING:AnIntroductionJohnWiley&
Sons,Inc.,NewYork,NY,1991.

5. ManualdeInstruesOlympusBX41MLEDeBX51MLEDSystemMetallurgical
Microscope