MICROSCOPIO ELECTRONICO

1) OBJETIVOS:
-Realizar un estudio del microscopio electrnico de transmisin y de
barrido.
-Aprender el manejo apropiado del Microscopio Electronico de barrido
de Emision de Campo (FESEM).

2) INTRODUCCIN:
El lmite de aumentos de microscopio ptico es de aproximadamente
2000 dimetros. Algunos elementos estructurales son demasiado
finos o pequeos para su observacin mediante microscopia ptica.
En estas circunstancias se utiliza el microscopio electrnico, capaz de
conseguir muchos ms aumentos.
La imagen de la estructura investigada se genera utilizando
haces de electrones en lugar de radiacin lumnica. De acuerdo con la
mecnica cuntica, un electrn de elevada velocidad acta como una
onda, con longitud de onda inversamente proporcional a su velocidad.
Los electrones, acelerados mediante altos voltajes, pueden conseguir
longitudes de onda del orden de 0.003 nm (3 pm). Estos
microscopios tienen grandes aumentos y elevado poder resolutivo
como consecuencia de la corta longitud de onda del haz de
electrones. Lentes magnticas focalizan el haz de electrones y forman
la imagen. La geometra de los componentes del microscopio es,
esencialmente, igual que la del ptico. Existe la microscopia
electrnica de transmisin y de reflexin.

3) FUNDAMENTO TEORICO:
a.- Microscopia electrnica de transmisin:
La imagen formada en un microscopio electrnico de transmisin
(TEM) est formada por un haz de electrones que atraviesa una
probeta. Se observan detalles de la microestructura interna; los
contrastes de la imagen se consiguen por diferencias del haz
difractado o dispersado por varios elementos de la microestructura o
defecto.
Teniendo en cuenta que los materiales solidos absorben los haces de
electrones, la probeta se debe preparar de forma muy delgada para
asegurar, asi, la transmisin del haz incidente a travs de ella. El haz
transmitido se proyecta en una pantalla fluorescente o pelcula

fotogrfica a fin de conseguir la imagen. Con el microscopio de

transmisin, frecuentemente utilizado para el estudio de las
dislocaciones, se logran aproximadamente 1 000 000 de aumentos.

Figura 1: (a) Aspecto que ofrecen, al ser observados mediante microscopio

ptico, los granos pulidos y atacados. (b) Seccion transversal de estos
granos mostrando la variacin del ataque y de la textura superficial como
consecuencia de las diferentes orientaciones cristalogrficas. (c)
Fotomicrografia de una probeta de laton pollicristalino, x60 (Fotografia
cortesa de J.E. Burke, General Electric Co.)

Estructura:
Debido a que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que
la de la luz visible, pueden mostrar estructuras mucho ms pequeas.
Las partes principales de un microscopio electrnico de transmisin son:

Can de electrones, que emite los electrones que chocan o

atraviesan el espcimen (dependiendo que tipo de microscopio
electrnico es), creando una imagen aumentada.

Lentes magnticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz

de electrones, ya que las lentes convencionales utilizadas en los
microscopios pticos no funcionan con los electrones.

Sistema de vaco es una parte muy importante del microscopio

electrnico. Debido a que los electrones pueden ser desviados por las
molculas del aire, se debe hacer un vaco casi total en el interior de un
microscopio de estas caractersticas.

Placa fotogrfica o pantalla fluorescente que se coloca detrs

del objeto a visualizar para registrar la imagen aumentada.

Sistema de registro que muestra la imagen que producen los

electrones, que suele ser un ordenador.

El microscopio electrnico de transmisin emite un haz de electrones

dirigido hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones
rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una
imagen aumentada de la muestra.

b.- Microscopia electrnica de barrido:

El microscopio electrnico de barrido (SEM) es una reciente
innovacin llamada a ser herramienta de investigacin
extremadamente til. La superficie de la probeta a examinar se barre
con un haz de electrones y el haz reflejado de electrones (backscattered) se recoge y se muestra con la misma velocidad de barrido
en un tubo de rayos catdicos (una pantalla similar a la TV). La
imagen que aparece en la pantalla, que puede fotografiarse,
representa las caractersticas de la probeta. La superficie debe ser
elctricamente conductora, independientemente de que este o no
pulida y atacada. Son posibles aumentos de 10 a 50 00 dimetros,
con gran profundidad de campo. Equipado con accesorios, consigue el
anlisis qumico elemental cualitativo y semicuantitativo de reas
superficiales muy localizadas.

Figura 2: (a) Seccin de un lmite de grano y el surco superficial producido

por ataque; se muestran las caractersticas de la luz reflejada en la vecindad
del surco. (b) Fotomicrografa de la superficie, pulida y atacada, de una
probeta policristalina de una aleacin de hierro-cromo, cuyos lmites de

grano aparecen oscuros. X100. (Fotografa cortesa de L. C. Smith y C,

Brady, The National Bureau of Standards, Washington, DC.)

Comparacin de tipos de microscopios:

Figura 3: Comparacin de la formacin de la imagen en un microscopio de

transmisin ptica, un microscopio electrnico de transmisin (TEM),
un microscopio electrnico de barrido (SEM) y un tubo de rayos
catdicos (CRT) de pantalla de TV.

Esquema general de un microscopio Electrnico:

Figura 4: (1) carcasa, (2) emisor de electrones, (3) electrones, (4) ctodo, (5)
nodo, (6) Lente condensador, (7) muestra analizada, (8) Lente objetivo, (9)
Lente proyector, (10) Detector (sensor o pelcula fotogrfica).

El examen microscpico constituye una herramienta extremadamente

til para el estudio y la caracterizacin de materiales.

Figura 5: Microscopio electrnico de barrido de emisin de campo (Foto

cortesa de la facultad de ciencias de la Universidad Nacional de Ingeniera Per).

4) APLICACIONES EN DISTINTAS AREAS:

En el estudio de los circuitos integrados se suele utilizar el
microscopio electronico debido a una curiosa propiedad: Como el
campo elctrico modifica la trayectoria de los electrones, en un
circuito integrado en funcionamiento, visto bajo el microscopio
electronico, se puede apreciar el potencial al que esta cada elemento
del circuito.
La cristalografa de electrones es un mtodo utilizado para determinar
la disposicin de atomos en solidos a travs de un microscopio
electronico de transmisin. Este mtodo se utiliza en muchas
situaciones donde no se puede usar cristalografa de rayos X y fue
inventado por Aaron Klug.
5) CONCLUSIONES:
- Se entendieron los principios que hacen funcionar al microscopio
electronico de transmisin y de barrido
6) BIBLIOGRAFIA:
- William, D. Callister, Jr. Inroduccion a la ciencia e ingeniera de los
materiales.
- https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_electronico_de_transmision
- https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_electronico_de_barrido