Professional Documents
Culture Documents
La intensidad de luz puede pensarse como compuesta por dos partes: i) una
promediada en el tiempo; y ii) otra variable (o fluctuante) en el tiempo.
Figura: a) Esquema de un equipo para medicin de DLS y ELS. b) Fotografa del equipo
Brookhaven Instruments Inc.
El equipo consta de una fuente de luz lser de He-Ne (0 = 632.8 nm), el cual incide
sobre la muestra a analizar, que se encuentra convenientemente termostatizada mediante
un bao a temperatura controlada. Un detector constituido por un tubo fotomultiplicador
montado sobre un brazo mvil permite obtener mediciones de la intensidad de luz
dispersada a los r comprendidos entre 20 y 160.
En la siguiente figura se muestra esquemticamente la medicin de DLS y de la
funcin de autocorrelacin (ACF) asociada.
1
N s N s
G ( 2) ( k ) = lim
Ns
I s ( t ) I s ( t + k )
; (k = 1, ..., M)
(16)
t =1
2
G ( 2) ( k ) = G( 2) 1 + g (1) ( k ) ; (k = 1,, M)
(17)
= I ( r ) 2 .
Suspensiones Monodispersas
Para el caso de partculas esfricas monodispersas de dimetro D0, y bajo la
condicin de dispersin de luz simple (sin interaccin entre las partculas), g(1)(k)
presenta un decaimiento exponencial, segn:
g (1) ( k ) = e k = e
k
D0
(k= 1,, M)
(18)
con
= dt q 2
dt =
q=
kB T
3 D0
4 nm 0
sin
2
(19.b)
(19.c)
nm 0 k B T
sin 2 ( / 2 )
(19.d)
k B T q 2 16
=
3
3
(19.a)
La mayor parte de la nube estar dentro del shear plane y por lo tanto el radio
hidrodinmico ser mayor que el radio de la partcula compacta.
Si se agrega una sal inerte, se aumenta la fuerza inica, entonces se comprime la
parte difusa de la doble capa elctrica y por tanto el efecto antedicho puede eliminarse.
Sin embargo, la adicin de sales disminuye la estabilidad del ltex y pueden formarse
agregados. (Estos ltimos pueden detectarse observando la intensidad de luz dispersada
promediada en el tiempo).
A continuacin se presentan resultados de simulacin, donde se muestran los
efectos sobre la ACF, de variaciones en el dimetro de partcula, la temperatura de
medicin y el ngulo de deteccin.
Ntese que:
a) Como se mostr anteriormente, las mediciones de dimetros ms pequeos deben
efectuarse con mayor velocidad de adquisicin de datos para la funcin de
autocorrelacin.
b) Las mediciones a distintos ngulos proveen de informacin diferente, debindose
analizar para cada problema en particular si se justifica medir a mltiples ngulos, y
en tal caso a cules.
c) La variacin de la temperatura modifica en forma apreciable la ACF, por lo que es
muy importante medir a temperatura controlada (constante y conocida con
precisin). La variacin de T, afecta a la viscosidad y ambas al coeficiente de
difusin traslacional.
Suspensiones Polidispersas
Para partculas polidispersas la interpretacin de las mediciones es ms difcil. La
ACF es la suma de exponenciales decrecientes ponderadas por la intensidad de luz
dispersada de las partculas de cada tamao. La informacin sobre la PSD debe
obtenerse por resolucin de un problema inverso.
Para ltex polidispersos, la ecn. (18) se generaliza segn:
g ( 1 ) ( k ) = k r
r
( r ) k
Di
(19)
h r ( D i ) ; k = 1, , M
i =1
h r ( D i ) = C I ( r , D i ) f ( D i )
(20)
DDLS =
h( Di )
i =1
N
h( Di )
Di
i =1
f (D ) C (D )
i =1
N
i =1
f ( Di ) C I ( Di )
Di
(21)
Dado que C I = C I ( r , Di ) depende no solo del dimetro de partcula, sino tambin del
ngulo de deteccin, entonces DDLS adopta distintos valores a distintos r, es decir que es
un dimetro promedio dependiente del ngulo de observacin. Adems, dicho dimetro
no se corresponde con ningn dimetro medio absoluto Da,b , excepto para
partculas Rayleigh donde DDLS = D6,5 .
9
Clculo de CI
De acuerdo a la teora de Mie, y considerando luz de longitud de onda 0 en el vaco, el
coeficiente CI representa la intensidad de luz dispersada a un ngulo r (por unidad de
intensidad de luz incidente) por una partcula de dimetro Di e ndice de refraccin
n p 0 = n p ( 0 ) , inmersa en un medio homogneo de ndice de refraccin n m 0 = n m ( 0 ) .
Para luz polarizada perpendicularmente con respecto al plano de dispersin, el coeficiente
CI se calcula como:
2
C I ( Di , r ) = 0
2
4
n=1
2n + 1
n ( n + 1)
[a
n ( r ) + bn n ( r )
(22.a)
i = 1, N; r = 1, , R
donde an y bn se corresponden con las definiciones mostradas en el tratamiento de
turbidimetra; y n ( r ) y n ( r ) estn asociadas a las funciones de Legendre Pn1 ( r ) ,
mediante:
n ( r ) =
n ( r ) =
Pn1 ( r )
(22.b)
sen ( r )
dPn1 ( r )
(22.c)
d r
n
m0
C I ( Di , r ) =
0
m 2 1
0
D6
i
2
2
+
m
0
(23)
10
Ntese que para Di = 25 nm [Fig. a)], CI posee la misma amplitud a todo r (rgimen
de Rayleigh). Por el contrario, para Di = 550 nm [Fig. b)], existe una gran dependencia del
CI con r , con mayores amplitudes a los r comprendidos entre 0 y 45. Adems, existe
una diferencia sustancial, que alcanza aproximadamente 8 rdenes de magnitud a
11
12
La intensidad dispersada es una funcin muy fuerte del tamao y, para partculas
grandes, tambin del ngulo. Ntese que puede ser difcil detectar las partculas ms
pequeas, a menos que estn en muy alta concentracin.
El peso relativo de las partculas de distintos tamaos vara notablemente con el ngulo
de deteccin. Para partculas grandes, CI es mucho mayor a ngulos de deteccin
menores. Por tal motivo, las mediciones a ngulos bajos resaltan la presencia de las
partculas ms grandes.
En general, para estimar PSDs anchas se requiere del conocimiento del ndice de
refraccin de las partculas ( n p 0 ), para transformar las PSDs basadas en la intensidad (
PLIDs) en PSDs basadas en el nmero o peso. En cambio, n p 0 no se requiere para
estimar las PSDs en los siguientes casos:
PSDs con todos sus dimetros en la regin de Rayleigh-Debye (D < 300 nm).
13
Ntese que, en general, la tcnica de DLS ser capaz de detectar pequeas fracciones
de partculas grandes. Sin embargo, presentar inconvenientes para detectar partculas
chicas.
En lo que sigue, se muestra el resultado experimental correspondiente a un patrn de
PS, que aparece contaminado con una pequea fraccin de partculas de mayor tamao
(probablemente proveniente de la formacin de agregados).
14
A efectos de estimar la PSD (en lugar de la PLID), si se introduce la ecn. (20) en la ecn.
(19), resulta:
g ( k ) = k r
(1)
r
i =1
( r ) k
Di
C I ( r , D i ) f ( D i ) ; k = 1, , M
(24)
g r = k r A r f + g
(25)
15
tcnica de regularizacin.
Frecuentemente, las mediciones de DLS se utilizan slo para determinar un dimetro
promedio a cada ngulo r, al cual se lo denomina D DLS ( r ) . Estos dimetros pueden
calcularse a travs del denominado mtodo de los cumulantes (Koppel, 1972), el cual
consiste bsicamente en aproximar el logaritmo de g ( 1 ) ( k ) , con un polinomio en k. As,
r
G ( 2 ) ( )
k
ln r
1 = ln 0.5 g ( 1 ) ( k
r
G (2)
, r
) = ln[ 0.5 ] 1 ( r ) k +
(26.a)
+
2 ( r )
2
k2
3 ( r )
6
k3 + ...
y por lo tanto:
( )
( )
ln g ( 1 ) ( k ) = 1 ( r ) k + 2 r k2 3 r k3 + ...
r
2
6
(26.b)
1 ( r ) = ( r ) =
( r )
= d t ( r ) q 2
DDLS ( r )
(27)
d t = dt , z ).
Por otro lado, el cumulante de segundo orden, 2 ( r ) , puede utilizarse para obtener
una medida de la polidispersidad de la distribucin, y viene dado por:
2 ( r ) = Q ( r ) [ ( r )] 2
(28)
La PSD estimada presenta una forma bimodal y se la compara con la obtenida por
dispersin de luz elstica (esttica, ELS: SLS). La siguiente tabla presenta algunos
dimetros medios calculados a partir de la PSD estimada. Ntese que, debido a la
bimodalidad de la PSD estimada, se observa una gran diferencia en los dimetros medios
resultantes. Adems, cuando se supuso a la PSD como monodispersa, se obtuvo un
dimetro medio que result D1,0 < D DLS < D 4,3 .
Table: Average diameters [nm] of the latex for PSA, calculated from the PSD estimations
Measurement technique
D1,0
D 4,3
D 6, 3
D 6,5
295
368
390
413
ELS (monodisperse)
358
358
358
358
234
434
487
538
DLS (monodisperse)
344
344
344
344
18
19
D1,0
D 4,3
D 6,3
D 6, 5
ELS+T
302
371
396
420
MDLS
302
360
383
407
20
21
I ( r ) = k I N p C I ( r , D 0 ) ; r = 1, , R
(29)
donde k I es una constante. Una ventaja de ELS respecto de T, es que slo se mide a
una longitud de onda (0) simple y por lo tanto los ndices de refraccin del medio ( n m 0 ) y
de las partculas ( n p 0 ) slo deben conocerse a 0.
Para el caso de ltex polidispersos, de distribucin de tamaos dada por f ( D i ) , la
ecuacin anterior puede generalizarse mediante:
I ( r ) = k I N p
C I ( r , D i ) f ( D i )
; r = 1, , R
(30)
i =1
Cuando se analizan las tcnicas de dispersin de luz estudiadas (T, DLS, ELS), se
observa que ellas presentan algunas cuestiones en comn. Entre ellas, se pueden
mencionar a las siguientes:
22
23