De Chimborazo Facultad De Mecnica Escuela De Ingeniera Mecnica
INGENIERA DE MATERIALES II TEMA:
DIFRACCIN DE RAYOS X
ALUMNO: PATRICIO ROJAS
6747
SEMESTRE: SEXTO B
FECHA: 28-10-2016
Riobamba-Ecuador
LA DIFRACCIN DE RAYOS X ES UNA HERRAMIENTA EXPERIMENTAL
PODEROSSIMA USADA POR INGENIEROS DE MATERIALES PARA IDENTIFICAR
ELEMENTOS, ALEACIONES Y COMPUESTOS. BREVEMENTE EXPLICAR SU
FUNCIONAMIENTO Y LA IMPORTANCIA DE LA ESTRUCTURA CRISTALINA PARA UTILIZAR DICHA TECNOLOGA (MAX. 500 PALABRAS). La difraccin de los rayos x sirve para determinar la estructura atmica detallada de un material y la posicin de los tomos, iones o molculas que lo conforman debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto fsicas y qumicas de dicho material, un claro ejemplo que podemos plantear es la cristalizacin del carbono el grafito y el diamante los cuales tiene propiedades totalmente distintas pero son similares en su composicin qumica. Existen tres mtodos de difraccin de rayos x: ley de Bragg, mtodo de laue, mtodo de Deby-Scherrer, algunas de las aplicaciones de la difraccin de rayos x tenemos: identificar sustancias cristalinas desconocidas, control de calidad de materias primas y productos terminados, determinacin de transformaciones de fase, determinacin del grado de orden estructural, determinacin de imperfecciones cristalinas POR FAVOR DESCRIBIR CUALES SON LOS DEFECTOS INTRNSECOS Y EXTRNSECOS EN UNA ESTRUCTURA CRISTALINA Los defectos cristalinos son los que dan las propiedades a la materia como deformacin plstica, resistencia a la rotura, conductividad elctrica, trmica, etc. Los defectos intrnsecos son los que se presentan en forma natural en otras palabras se encuentran en materiales puros esto es propio de cada material esto obedece a que los cristales se preparan a altas temperaturas, a bajas temperaturas algunos defectos se van perdiendo siempre existirn defectos a menos que el enfriamiento sea considerablemente lento, se produce por el salto de sus propios tomos. Los defectos extrnsecos son los defectos que se producen en el exterior como las impurezas que presenta el material. Los defectos tambin pueden ser originados mediante la induccin en la red de un tomo/ion diferente en una posicin intersticial o bien reemplazando a uno de los que constituyen el cristal. DEFINIR LA ENERGA LIBRE DE GIBBS Y SU IMPORTANCIA EN LOS DEFECTOS PUNTUALES Los defectos puntuales afectan localmente a pequeos grupos de tomos dentro de la red cristalina como su nombre indica es la presencia o ausencia de un tomo o ion. La energa libre de Gibbs se refiere a la energa de solidificacin a altas temperaturas, y ocasiona que se creen vacancias de acuerdo a la energa aplicada mientras ms energa se le aplique ms vacancias existir. El transporte de materia ocurre de las regiones de potencial qumico ms alto a las regiones de potencial qumico inferior.